JP2001102316A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2001102316A5
JP2001102316A5 JP1999277045A JP27704599A JP2001102316A5 JP 2001102316 A5 JP2001102316 A5 JP 2001102316A5 JP 1999277045 A JP1999277045 A JP 1999277045A JP 27704599 A JP27704599 A JP 27704599A JP 2001102316 A5 JP2001102316 A5 JP 2001102316A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group iii
growth method
crystal growth
iii nitride
metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1999277045A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001102316A (ja
JP3929657B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP27704599A external-priority patent/JP3929657B2/ja
Priority to JP27704599A priority Critical patent/JP3929657B2/ja
Priority to US09/590,063 priority patent/US6592663B1/en
Publication of JP2001102316A publication Critical patent/JP2001102316A/ja
Priority to US10/601,301 priority patent/US7250640B2/en
Publication of JP2001102316A5 publication Critical patent/JP2001102316A5/ja
Priority to US11/408,656 priority patent/US7508003B2/en
Publication of JP3929657B2 publication Critical patent/JP3929657B2/ja
Application granted granted Critical
Priority to US12/367,013 priority patent/US8591647B2/en
Priority to US14/057,690 priority patent/US20140044970A1/en
Priority to US14/619,237 priority patent/US9869033B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【特許請求の範囲】
【請求項1】
反応容器内で、低融点かつ高蒸気圧の金属融液中あるいは金属融液表面において、少なくともIII族金属元素を含む物質と少なくとも窒素元素を含む物質とから、III族金属元素と窒素元素とにより構成されるIII族窒化物を結晶成長させることを特徴とする結晶成長方法。
【請求項2】
請求項1記載の結晶成長方法において、低融点かつ高蒸気圧の金属融液中或いは金属融液表面に、III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物もしくは化合物からIII族金属成分が供給されることを特徴とする結晶成長方法。
【請求項3】
請求項2記載の結晶成長方法において、III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物もしくは化合物を、反応容器の外部より供給することを特徴とする結晶成長方法。
【請求項4】
請求項2記載の結晶成長方法において、III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物もしくは化合物が、低融点かつ高蒸気圧の金属融液中に含まれていることを特徴とする結晶成長方法。
【請求項5】
請求項2乃至請求項4のいずれか一項に記載の結晶成長方法において、III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物もしくは化合物が、III族窒化物結晶が成長する領域とは空間的に分離した領域に存在することを特徴とする結晶成長方法。
【請求項6】
請求項5記載の結晶成長方法において、III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物もしくは化合物が存在する領域の温度と、III族窒化物結晶が成長する領域の温度とが異なっていることを特徴とする結晶成長方法。
【請求項7】
請求項2乃至請求項6のいずれか一項に記載の結晶成長方法において、III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物もしくは化合物が、III族窒化物結晶が成長する温度付近で分解あるいは溶融もしくは金属融液中に溶解することを特徴とする結晶成長方法。
【請求項8】
請求項2乃至請求項7のいずれか一項に記載の結晶成長方法において、III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物もしくは化合物が、III族金属元素と他の元素とにより構成される合金であることを特徴とする結晶成長方法。
【請求項9】
請求項1乃至請求項8のいずれか一項に記載の結晶成長方法において、低融点かつ高蒸気圧の金属がアルカリ金属であることを特徴とする結晶成長方法。
【請求項10】
請求項9記載の結晶成長方法において、低融点かつ高蒸気圧の金属であるアルカリ金属がNaであることを特徴とする結晶成長方法。
【請求項11】
請求項1乃至請求項10のいずれか一項に記載の結晶成長方法を用いてIII族窒化物結晶の結晶成長を行うことを特徴とする結晶成長装置。
【請求項12】
請求項1乃至請求項10のいずれか一項に記載の結晶成長方法を用いて結晶成長させたIII族窒化物結晶。
【請求項13】
請求項12記載のIII族窒化物結晶を用いて作製された半導体デバイス。
【請求項14】
III族金属元素とアルカリ金属とを含む混合融液を保持する工程と、
窒素元素を含む物質を前記混合融液に供給する工程とを備えるIII族窒化物結晶の製造方法。
【請求項15】
前記混合融液中または前記混合融液表面でIII族窒化物結晶を成長させる工程をさらに備える、請求項14に記載のIII族窒化物結晶の製造方法。
【請求項16】
前記混合融液を保持する容器内の圧力を調整する工程をさらに備える、請求項14または請求項15に記載のIII族窒化物結晶の製造方法。
【請求項17】
前記混合融液を保持する容器内の温度を調整する工程をさらに備える、請求項14から請求項16のいずれか1項に記載のIII族窒化物結晶の製造方法。
【請求項18】
前記III族金属元素は、ガリウムであり、
前記アルカリ金属は、ナトリウムである、請求項14から請求項17のいずれか1項に記載のIII族窒化物結晶の製造方法。
【請求項19】
前記窒素元素を含む物質は、窒素ガスである、請求項14から請求項18のいずれか1項に記載のIII族窒化物結晶の製造方法。
【請求項20】
III族窒化物結晶からなる基板を備える半導体デバイス。
【請求項21】
当該半導体デバイスは、光デバイスである、請求項20に記載の半導体デバイス。
【請求項22】
当該半導体デバイスは、電子デバイスである、請求項20の記載の半導体デバイス。
【請求項23】
III族金属元素とアルカリ金属とを含む混合融液を保持する反応容器と、
III族窒化物結晶が成長する領域を加熱する第1の加熱装置と、
前記III族金属元素と他の元素とにより構成される混合物または化合物が存在する領域を加熱する第2の加熱装置とを備え、
前記第1および第2の加熱装置は、それぞれ、前記III族窒化物結晶が成長する領域および前記混合物または化合物が存在する領域を異なる温度に加熱する、結晶成長装置。
JP27704599A 1999-06-09 1999-09-29 結晶成長方法およびiii族窒化物結晶の製造方法 Expired - Lifetime JP3929657B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27704599A JP3929657B2 (ja) 1999-09-29 1999-09-29 結晶成長方法およびiii族窒化物結晶の製造方法
US09/590,063 US6592663B1 (en) 1999-06-09 2000-06-08 Production of a GaN bulk crystal substrate and a semiconductor device formed on a GaN bulk crystal substrate
US10/601,301 US7250640B2 (en) 1999-06-09 2003-06-13 Production of a GaN bulk crystal substrate and a semiconductor device formed on a GaN bulk crystal substrate
US11/408,656 US7508003B2 (en) 1999-06-09 2006-04-20 Production of a GaN bulk crystal substrate and a semiconductor device formed thereon
US12/367,013 US8591647B2 (en) 1999-06-09 2009-02-06 Production of a GaN bulk crystal substrate and a semiconductor device formed thereon
US14/057,690 US20140044970A1 (en) 1999-06-09 2013-10-18 PRODUCTION OF A GaN BULK CRYSTAL SUBSTRATE AND A SEMICONDUCTOR DEVICE FORMED ON A GaN BULK CRYSTAL SUBSTRATE
US14/619,237 US9869033B2 (en) 1999-06-09 2015-02-11 Production of a GaN bulk crystal substrate and a semiconductor device formed on a GaN bulk crystal substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27704599A JP3929657B2 (ja) 1999-09-29 1999-09-29 結晶成長方法およびiii族窒化物結晶の製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006172448A Division JP2007001858A (ja) 2006-06-22 2006-06-22 結晶製造装置、iii族窒化物結晶および半導体デバイス

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001102316A JP2001102316A (ja) 2001-04-13
JP2001102316A5 true JP2001102316A5 (ja) 2006-03-30
JP3929657B2 JP3929657B2 (ja) 2007-06-13

Family

ID=17578026

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27704599A Expired - Lifetime JP3929657B2 (ja) 1999-06-09 1999-09-29 結晶成長方法およびiii族窒化物結晶の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3929657B2 (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002319545A (ja) * 2001-04-20 2002-10-31 Mitsubishi Cable Ind Ltd GaN系結晶の製造方法および結晶成長用基材
JP4640899B2 (ja) * 2001-06-28 2011-03-02 株式会社リコー Iii族窒化物結晶成長装置
US7001457B2 (en) 2001-05-01 2006-02-21 Ricoh Company, Ltd. Crystal growth method, crystal growth apparatus, group-III nitride crystal and group-III nitride semiconductor device
US6949140B2 (en) 2001-12-05 2005-09-27 Ricoh Company, Ltd. Crystal growth method, crystal growth apparatus, group-III nitride crystal and group-III nitride semiconductor device
US7220311B2 (en) 2002-11-08 2007-05-22 Ricoh Company, Ltd. Group III nitride crystal, crystal growth process and crystal growth apparatus of group III nitride
US7261775B2 (en) 2003-01-29 2007-08-28 Ricoh Company, Ltd. Methods of growing a group III nitride crystal
JP5229103B2 (ja) * 2003-03-25 2013-07-03 株式会社リコー Iii族窒化物の結晶製造方法
JP4457576B2 (ja) * 2003-05-08 2010-04-28 住友電気工業株式会社 Iii−v族化合物結晶およびその製造方法
JP4534631B2 (ja) 2003-10-31 2010-09-01 住友電気工業株式会社 Iii族窒化物結晶の製造方法
JP5212332B2 (ja) * 2003-10-31 2013-06-19 住友電気工業株式会社 Iii族窒化物結晶の製造方法
WO2005064661A1 (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Iii族窒化物結晶の製造方法およびそれにより得られるiii族窒化物結晶ならびにそれを用いたiii族窒化物基板
JP2005194146A (ja) 2004-01-08 2005-07-21 Sumitomo Electric Ind Ltd Iii族窒化物結晶の製造方法
WO2005085503A1 (ja) * 2004-03-09 2005-09-15 Dai Nippon Printing Co., Ltd. コランダム結晶の製造方法
JP2005263511A (ja) * 2004-03-16 2005-09-29 Ricoh Co Ltd Iii族窒化物の結晶成長方法およびiii族窒化物結晶および半導体デバイス
JP4819677B2 (ja) * 2004-03-31 2011-11-24 パナソニック株式会社 Iii族元素窒化物結晶の製造方法、それに用いる製造装置、およびそれらにより得られた半導体素子
EP1741807B1 (en) 2004-04-27 2013-09-25 Panasonic Corporation Apparatus for production of crystal of group iii element nitride and process for producing crystal of group iii element nitride
KR101088924B1 (ko) * 2004-05-19 2011-12-01 유스케 모리 Iii족 질화물 반도체 결정과 그 제조 방법 및 iii족질화물 반도체 디바이스
WO2006003955A1 (ja) * 2004-06-30 2006-01-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 音響光学素子及びそれを用いた光描画装置
JP4603498B2 (ja) 2005-03-14 2010-12-22 株式会社リコー Iii族窒化物結晶の製造方法及び製造装置
CN101175875B (zh) 2005-05-12 2010-12-15 株式会社理光 Ⅲ族氮化物结晶的制造方法及ⅲ族氮化物结晶的制造装置
JP4856934B2 (ja) 2005-11-21 2012-01-18 株式会社リコー GaN結晶
WO2007094126A1 (ja) * 2006-02-13 2007-08-23 Ngk Insulators, Ltd. フラックスからナトリウム金属を回収する方法
US20070215034A1 (en) 2006-03-14 2007-09-20 Hirokazu Iwata Crystal preparing device, crystal preparing method, and crystal
JP4538596B2 (ja) 2006-11-14 2010-09-08 国立大学法人大阪大学 GaN結晶の製造方法
US7708833B2 (en) 2007-03-13 2010-05-04 Toyoda Gosei Co., Ltd. Crystal growing apparatus
JP4956515B2 (ja) * 2008-09-26 2012-06-20 株式会社リコー Iii族窒化物結晶の製造方法
CN104962995B (zh) * 2015-07-23 2017-07-28 北京大学东莞光电研究院 一种氮化物单晶的生长装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001102316A5 (ja)
US7097707B2 (en) GaN boule grown from liquid melt using GaN seed wafers
CN1610138B (zh) Ⅲ族元素氮化物结晶半导体器件
JP3373853B2 (ja) 多層結晶構造及びその製造方法
JP2001058900A5 (ja)
KR20070011476A (ko) Iii족 질화물 반도체 결정과 그 제조 방법 및 iii족질화물 반도체 디바이스
JP2007308364A (ja) 窒化アルミニウム単結晶ブール成長のための方法及び装置
JP2001102316A (ja) 結晶成長方法および結晶成長装置およびiii族窒化物結晶および半導体デバイス
US7087112B1 (en) Nitride ceramics to mount aluminum nitride seed for sublimation growth
JP2002326898A5 (ja)
JP2001064097A (ja) 結晶成長方法および結晶成長装置およびiii族窒化物結晶
KR100772776B1 (ko) 반도체 결정 제조 방법
KR20030015134A (ko) 질화물 반도체 성장의 처리
JP4159303B2 (ja) Iii族窒化物の結晶製造方法およびiii族窒化物の結晶製造装置
JP4014411B2 (ja) Iii族窒化物の結晶製造方法
KR20020095074A (ko) 단결정탄화실리콘박막의 제조방법 및 그 제조장치
JP2003300799A (ja) Iii族窒化物結晶成長方法およびiii族窒化物結晶成長装置
Aoki et al. Single crystal growth of GaN by the temperature gradient Na flux method
JP2002293697A (ja) GaNエピタキシャル層の成長方法
JPH06298600A (ja) SiC単結晶の成長方法
JP2001192299A (ja) 炭化珪素単結晶の製造方法及び製造装置
JP2003160399A (ja) Iii族窒化物結晶の結晶成長方法および結晶成長装置
JP4779848B2 (ja) 第13族金属窒化物結晶の製造方法およびそれを用いた半導体デバイスの製造方法
JPWO2008029827A1 (ja) AlN結晶の製造方法
KR100502467B1 (ko) 활성 질소가스 공급에 의한 지에이엔 단결정 제조장치,제조방법, 그것에 의해 생성되는 지에이엔 단결정