JP2001084343A - 非接触icカード及びicカード通信システム - Google Patents

非接触icカード及びicカード通信システム

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JP2001084343A
JP2001084343A JP26215199A JP26215199A JP2001084343A JP 2001084343 A JP2001084343 A JP 2001084343A JP 26215199 A JP26215199 A JP 26215199A JP 26215199 A JP26215199 A JP 26215199A JP 2001084343 A JP2001084343 A JP 2001084343A
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JP
Japan
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chip
card
contact
antenna
insulating substrate
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Nobuhito Suzutani
信人 鈴谷
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ICチップ実装部の接続信頼性を高めると共
に通信特性を維持させることができ、また、高い機械的
強度を維持する非接触ICカードを提供する。 【解決手段】 ICチップ14が搭載された基材となる
絶縁基板11主面の周辺部に形成されたアンテナコイル
12は、アンテナ部と、ICチップの下に形成配置され
たICチップの実装端子部13、13′とを有してお
り、ICチップの実装端子部がアンテナ部よりも薄く形
成されている。ICチップ接続部の信頼性の維持と、ア
ンテナ部の高い通信特性の維持とを両立させることがで
きる。アンテナコイルを絶縁基板周辺に沿って配置させ
ることによりICカ−ドの機械的強度を大きくさせるこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体メモリ素子
をICチップとして使用する非接触ICカ−ドに関する
ものであり、とくに非接触ICカードに形成されたアン
テナコイルの構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図9は、従来の非接触ICカードの平面
図、図10は、図9に示す非接触ICカードのAーA′
線に沿う部分の断面図である。ICカード基材となる四
角形の絶縁基板1は、ポリイミド樹脂やエポキシ樹脂な
どの合成樹脂から構成されている。絶縁基板1は、横約
5.5mm、縦約8.5mm程度のカード状になってい
る。絶縁基板1主面には銅又はアルミニウムなどからな
る楕円形状のアンテナコイル2が主面中央部分に接着剤
6により接着されている。ICチップ4は、アンテナコ
イル2の外部の適宜の位置に形成されている。ICチッ
プ4は、アンテナコイル2の一端及び他端に形成された
ICチップ接続端子8、8′の上にNCP(Non Conduct
ive Paste)や異方性導電性接着剤などの接着剤5により
絶縁基板1に接続されている。図に示すように、ICチ
ップ4と絶縁基板1との間に存在するバンプ9及びIC
チップ接続端子8、8′は、異方性導電性接着剤5に囲
まれている。ICチップ4にはアルミニウムパッドなど
の接続電極(図示しない)にバンプ9が形成されており
このバンプ9がICチップ接続端子8、8′に接合され
ている。
【0003】アンテナコイル2の両端に形成されたIC
チップ接続端子8、8′は、近接してICチップ4に接
続されているので、他端及びその近傍のコイル導体は、
同じ導体を越えて一端に近接されなければならない。し
たがって、その互いの接触を避けるために、裏面導体7
に接続される。裏面導体7は、絶縁基板1に形成された
2つの貫通孔(図示しない)に埋め込まれた接続配線に
より、他端及びその近傍のコイル導体とその他の部分の
コイル導体とを電気的に接続している。現在、テレフォ
ンカードや定期券に用いられる非接触ICカ−ドは、ア
ンテナコイルとなる導体を主面に形成配置されている。
この導体は、ICカ−ド基材である絶縁基板上ではどの
位置においても均一な厚さになっている。導体を形成す
るには、銅箔などの金属箔をエッチングして形成する
か、スパッタリングや導電ペーストを塗布する方法を採
用しているので、通常はどの部分も均一に形成されるの
が一般的である。情報伝達が非接触となる非接触ICカ
−ドにおいては、リ−ダライタ−との通信距離を延ばす
手段の一つにアンテナコイルの電気抵抗を少なくするこ
とが挙げられる。導体の電気抵抗は、その断面積に反比
例するので、非接触ICカ−ドのアンテナコイル部は、
とくに、線幅を太く、厚さを厚くする必要がある。
【0004】一方、異方性導電性接着剤等を用いた半導
体装置の実装技術においては、半導体装置(IC)が実
装される基板と半導体装置との間を狭くした方が接続部
の信頼性が高くなるという報告がなされている(回路実
装学会誌Vol.12 No.7(1997)P.47
3「異方導電接着フィルムによるペアチップ実装」参
照)。この報告によると、Auワイヤバンプおよび異方
導電接着フィルムを用いたフリップチップ実装構造で
は、接続高さを制御することにより十分な耐温度サイク
ル性を確保できることが判明した。なおHiPMでの信
頼性試験においても500サイクル試験後でも接続が保
たれ品質に問題のないことを確認している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】基板と半導体装置との
間を狭くするには、半導体素子(ICチップ)にあらか
じめ形成されているAuバンプの高さを低くすることが
考えられるが、導体がAl箔やAgペ−ストからなるも
の等の柔らかい材質である場合は、バンプが導体に埋ま
りこみ、したがって、Auバンプを用いて基板とICチ
ップ間をコントロ−ルすることが出来ない。そのため、
導体厚さを低くすることにより、基板とICチップ間を
コントロ−ルする必要がある。以上のことから、非接触
ICカ−ドの導体厚は、実装信頼性を向上させるために
はICチップの接続端子を薄くするのが良いが、通信特
性を維持するためには電気抵抗を小さくするためにアン
テナコイルを厚くする必要があるという問題が発生す
る。また、非接触ICカードは、とくにICテレホンカ
ードなどに用いられるが、このような用途には、例え
ば、ズボンのポケットに入れて尻の下に敷いた時破損を
生じないようにカードの弾性を維持しながら機械的強度
に耐えるような構造にすることが必要であるが、一般に
このようなカードが高い機械的強度を維持することは非
常に困難である。本発明は、このような事情によりなさ
れたものであり、ICチップ実装部の接続信頼性を高め
ると共に通信特性を維持させることができ、また、高い
機械的強度を維持する非接触ICカードを提供する。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、ICチップが
搭載された基材となる絶縁基板主面の周辺部に形成され
たアンテナコイルがアンテナ部と、ICチップの下に形
成配置されたICチップの実装端子部とを有しており、
さらに、ICチップの実装端子部がアンテナ部よりも薄
く形成されていることを特徴としている。 (1)非接触ICカードは、ICカ−ドの基材となるポ
リイミド樹脂やエポキシ樹脂などの絶縁基板と、前記絶
縁基板上にエッチング、印刷等に形成された電磁誘導に
より情報伝達を行うアンテナコイルとなる導体と、シス
テム全体の主制御部、変復調器、メモリ等を内蔵したI
Cチップと、このICチップとアンテナコイルを電気的
に接続する異方性導電性接着剤、NCP等と、基材、導
体及びICチップを表裏面から張り付ける保護シートを
具備している。そして、このアンテナコイルは、アンテ
ナ部とICチップ接続端子部とからなり、アンテナコイ
ルの導体厚さをICチップ接続端子部では薄く、アンテ
ナ部では厚くすることにより、アンテナ部の電気抵抗を
小さく維持することができる。アンテナコイルをこのよ
うに構成することにより、ICチップ接続部の信頼性の
維持と、アンテナ部の高い通信特性の維持とを両立させ
ることができる。さらに、アンテナコイルをカード周辺
に配置すればICカードの機械的強度も大きくなる効果
もある。
【0007】(2) ICチップ接続部の信頼性維持
と、アンテナ部の高い通信特性の維持とを両立させるた
めに、前記(1)とは異なり、アンテナコイルを構成す
るICチップの接続端子部及びアンテナ部を共に薄く、
厚さを均一にし、且つアンテナ幅を大きくし、しかもコ
イルピッチ幅を従来より小さくして、アンテナ部の電気
抵抗を小さくする。また、アンテナコイルを絶縁基板周
辺に沿って配置させることによりICカ−ドの機械的強
度を大きくさせることができる。すなわち、本発明の四
角形状の絶縁基板と、前記絶縁基板の主面上に搭載され
たICチップと、前記絶縁基板主面の周辺部に形成され
たアンテナコイルとを備え、前記アンテナコイルは、ア
ンテナ部と前記ICチップの下に形成配置された前記I
Cチップの実装端子部とを有しており、前記ICチップ
の実装端子部は、前記アンテナ部よりも薄いことを第1
の特徴としている。前記アンテナコイルは、前記四角形
状の絶縁基板の各辺に沿って形成されているようにして
も良い。前記ICチップは、このICチップに形成され
ているバンプ電極を介して前記実装端子に電気的に接続
されており、前記ICチップと前記絶縁基板とは接着剤
により接合され、且つ前記ICチップ底面の前記絶縁基
板上の高さは、前記アンテナ部の前記絶縁基板上の高さ
と実質的に等しいようにしても良い。
【0008】また、本発明の四角形状の絶縁基板と、前
記絶縁基板の主面上に搭載されたICチップと、前記絶
縁基板主面の周辺部に形成されたアンテナコイルとを備
え、前記アンテナコイルは、アンテナ部と前記ICチッ
プの下に形成配置された前記ICチップの実装端子部と
を有しており、前記ICチップの実装端子部の幅は、前
記アンテナ部の幅より狭く、前記アンテナコイルの導体
間の幅は、前記アンテナ部の導体幅より狭く形成され、
且つ前記アンテナコイルは、前記四角形状の絶縁基板の
各辺に沿って形成されていることを第2の特徴としてい
る。本発明のICカ−ド通信システムは、非接触ICカ
−ドと、リーダライタとを具備し、前記非接触ICカ−
ドは、上記のいづれかに記載された非接触ICカードを
用い、前記非接触ICかは、アンテナコイルを介して電
磁誘導により前記リーダライタと信号の授受を行うこと
を特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して発明の実施
の形態を説明する。まず、図1、図2、図7及び図8を
参照して第1の実施例を説明する。図1は、本発明の非
接触ICカ−ドの平面図、図2は、本発明の非接触IC
カ−ドのICチップ実装部の断面図(図1のA−A′線
に沿う部分の断面図)、図7は、図1に用いられたアン
テナコイルのアンテナ抵抗と通信距離との関係を示す特
性図、図8は、ICカ−ド通信システムの概略断面図で
ある。非接触ICカードは、エポキシ樹脂やポリイミド
樹脂などの絶縁体からなる絶縁基板11、アルミニウム
や銅など導体からなるアンテナコイル12、アンテナコ
イル12の一部を構成し、ICチップ14と異方性導電
性接着剤、NCP等の接着剤15を用いて電気的に接続
されるICチップ接続端子13、13′、ICチップ1
4、絶縁基板11にアンテナコイル12を貼り付ける接
着剤16とで構成されている。ICカードのサイズは、
例えば、短辺が54mm、長辺が85.6mm、厚さが
0.76mmである。絶縁基板1主面には銅又はアルミ
ニウム(Al)などからなるアンテナコイル12が接着
剤16により接着されている。ICチップ14は、アン
テナコイル12の内部の適宜の位置に形成されている。
【0010】ICチップ14は、アンテナコイル12の
一端及び他端に形成されたICチップ接続端子13、1
3′の上に異方性導電性接着剤、NCP等の接着剤15
により絶縁基板11に接続されている。図に示すよう
に、ICチップ14と絶縁基板1との間に存在するバン
プ19及びICチップ接続端子13、13′は、異方性
導電性接着剤、NCP等の接着剤15に囲まれている。
ICチップ14にはアルミニウムパッドなどの接続電極
(図示しない)にバンプ19が形成されており,このバ
ンプ19がICチップ接続端子13、13′に接合され
ている。アンテナコイル12の両端に形成されたICチ
ップ接続端子13、13′は、近接してICチップ14
に接続されているので、他端及びその近傍のコイル導体
は、同じ導体を越えて一端に近接されなければならな
い。したがって、その互いの接触を避けるために、裏面
導体17に接続される。裏面導体17は、絶縁基板11
に形成された2つの貫通孔に埋め込まれた接続配線によ
り、他端及びその近傍のコイル導体とその他の部分のコ
イル導体とを電気的に接続している。アンテナ部のコイ
ル導体は、厚さが30μm、導体幅が1.75mmであ
る。アンテナ部の導体間の距離は1.75mm、コイル
部の外周から絶縁基板の辺までの距離(d)は2.45
mmである。導体の配線ピッチは、3.25mmであ
る。なお、この実施例では、配線ピッチは、2.45〜
3.25mmにするのが適当である。また、Al導体の
厚さを30μm以上にすると、ICカード表面にラミネ
ートした後カードに凹凸が残るので好ましくない。
【0011】テレフォンカードや定期券に用いられる非
接触ICカ−ドは、アンテナコイルとなる導体を主面に
形成配置されている。この導体は、ICカ−ド基材であ
る絶縁基板上ではどの位置においても均一な厚さになっ
ている。導体を形成するには銅箔などの金属箔をエッチ
ングして形成するか、スパッタリングや導電ペーストを
塗布する方法を採用しているので、通常はどの部分も均
一に形成されるのが一般的である。したがって、この実
施例ではICチップ接続端子部は、エッチングにより薄
くするか、アンテナコイルの形成をアンテナ部とICチ
ップ接続端子部に2つに分けて行うのが適当である。情
報伝達が非接触となる非接触ICカ−ドにおいては、リ
−ダライタ−との通信距離を延ばす手段の一つにアンテ
ナコイルの電気抵抗を少なくすることが挙げられる。導
体の電気抵抗は、その断面積に反比例するので、非接触
ICカ−ドのアンテナコイル部は、とくに、線幅を太
く、厚さを厚くする必要がある。一方、異方性導電性接
着剤、NCP等の接着剤を用いた半導体装置の実装技術
においては、前述のように半導体装置が実装される基板
と半導体装置との間を狭くした方が接続部の信頼性が高
くなることはあきらかである。
【0012】この実施例では、アンテナコイル12を形
成する導体の中でICチップ14の下に配置されたIC
チップ接続端子13、13′の部分が他の部分より薄く
なっている。このように、ICチップ接続端子部分を薄
くすることにより図2の縦の方向に発生する異方性導電
性接着剤、NCP等の接着剤15の熱膨張、熱収縮の繰
り返しに起因するICチップ接続部の信頼性低下を少な
くすることができる。それと同時に、アンテナ部を厚く
することにより、アンテナコイル12の電気抵抗を低く
することができる。アンテナ部の導体厚さを適宜の値に
設定することにより、ICチップ接続部の実装信頼性
と、非接触ICカ−ドの通信距離の拡張を同時に達成さ
せることが出来る。
【0013】アンテナコイルを形成する導体には、銅
(Cu)、アルミニウム(Al)、銀(Ag)ペ−スト
等が使用される。非接触ICカ−ドの通信特性は、コイ
ルのインダクタンス、巻き数、コイルの大きさ、コイル
配線ピッチ、コンデンサ容量、抵抗等々に依存する。電
気抵抗以外の要素を最適化し、導体材料にAlを使用し
た場合、アンテナコイルのアンテナ部の導体厚さ(図2
のh12)が30μm、導体幅(図1のt1 )が1.5m
mの条件で、アンテナ部の電気抵抗は、0.4Ω程度に
なる。アンテナ部の厚さ(h12)を60μmにした場
合、アンテナコイル部の電気抵抗は、0.2Ωになる。
ICチップ接続端子13、13′の導体厚さ(図1のh
11)は、Auバンプの低さの限度が15μm程度である
ことから、15〜20μmが最適と考えられる。また、
アンテナコイル12は、絶縁基板11の各辺に沿って形
成され、辺端から3mm以下の距離(図1のd)だけ離
れており、実質的に各辺端に一致している。これは、3
mm以上離れると、ICカードの剛性が弱くなるからで
ある。
【0014】次に、図7及び図8を参照してICカ−ド
通信システムを説明する。図8に示すようにこの通信シ
ステムは、非接触ICカ−ドがそのアンテナコイルを介
して電磁誘導によりリーダライタと信号の授受を行うこ
とに特徴がある。リーダライタのアンテナコイルに交流
電圧を発生させ、絶縁基板11をカードとするICカ−
ドをリーダライタに所定の距離(D)だけ近付けると、
磁場の変化によりICカ−ドのアンテナコイルに起電力
が発生する(ICチップ14内部の変換回路により交流
電圧はデジタル信号、定電圧に変換される)。この様な
非接触ICカ−ドは、従来磁気カードであったテレフォ
ンカードに用いてデータ改ざん防止を図ったり、定期券
に用いて定期入れなどのケースに入れたままで改札を通
ることができるなどの使い勝手が向上する。図7は、リ
ーダライタと非接触ICカ−ドとの距離(D)のアンテ
ナ抵抗依存性を示す特性図である。アンテナ抵抗の低い
銅箔アンテナに可変抵抗を取り付け、アンテナ抵抗が高
いときの通信距離を測定したものである。アンテナ抵抗
が高くなるとともに通信距離(D)は短くなり、アンテ
ナ抵抗は通信距離に大きく影響される。
【0015】次に、図3及び図4を用いて第2の実施例
を説明する。図3は、本発明の非接触ICカ−ドの平面
図、図4は、本発明の非接触ICカ−ドのICチップ実
装部の断面図である(図2のA−A′線に沿う部分の断
面図)。非接触ICカードは、エポキシ樹脂やポリイミ
ド樹脂などの絶縁体からなる絶縁基板21、アルミニウ
ムや銅など導体からなるアンテナコイル22、アンテナ
コイル22の一部を構成し、ICチップ24と異方性導
電性接着剤、NCP等の接着剤25を用いて電気的に接
続されるICチップ接続端子23、23′、ICチップ
24、絶縁基板21にアンテナコイル22を貼り付ける
接着剤26とで構成されている。ICカードのサイズ
は、例えば、短辺が54mm、長辺が85.6mm、厚
さが0.76mmである。アンテナコイル22の両端に
形成されたICチップ接続端子23、23′は、近接し
てICチップ24に接続されているので、他端及びその
近傍のコイル導体は、同じ導体を越えて一端に近接され
なければならない。したがって、その互いの接触を避け
るために、裏面導体27に接続される。裏面導体27
は、絶縁基板21に形成された2つの貫通孔に埋め込ま
れた接続配線により、他端及びその近傍のコイル導体と
その他の部分のコイル導体とを電気的に接続している。
【0016】この実施例ではアンテナコイルは第1の実
施例よりも太く、導体のうちICチップ接続端子の厚さ
がアンテナコイルと同一に形成されている。作用は第1
の実施例と同様であるが、導体の高さがアンテナコイル
部とIC実装部共に同一にあるので、1つの導体層を同
じ厚さにするので第1の実施例よりは容易に形成され
る。そして、従来の簡潔な技術でICチップの接続部の
実装信頼性と、非接触ICカ−ドの通信距離の拡張を同
時に達成させることができる。第1の実施例と同様アン
テナコイルを設計する上で電気抵抗以外の要素を最適化
し、導体材料にアルミニウムを使用した場合、ICチッ
プ接続端子、アンテナコイル部の導体厚さを第1の実施
例ICチップの接続部の値である20μmにした場合、
アンテナコイル幅を2.25mmにすれば、アンテナコ
イル部の電気抵抗は0.4Ωとなり、第1の実施例と同
様の可能性を持ったアンテナコイルを形成することがで
きる。第1及び第2の実施例共にコイル配線ピッチは
3.25mmなので第2の実施例の図3のt2 =2.2
5mmも可能である。
【0017】この実施例では、アンテナコイルを形成す
る導体の中でICチップの下に配置されたICチップ接
続端子の部分と他の部分とは同じように薄く形成されて
いる。このように、ICチップ接続端子部分を薄くする
ことにより図2の縦の方向に発生する異方性導電性接着
剤15の熱膨張、熱収縮の繰り返しに起因するICチッ
プ接続部の信頼性低下を少なくすることができる。それ
と同時に、アンテナ部を幅広くすることにより、アンテ
ナコイル12の電気抵抗を低くすることができる。アン
テナ部の導体厚さを適宜の値に設定することにより、I
Cチップ接続部の実装信頼性と、非接触ICカ−ドの通
信距離の拡張を同時に達成させることが出来る。また、
アンテナコイルは、絶縁基板の各辺に沿って形成され、
辺端から1mm以下の距離(図3のd)だけ離れてお
り、実質的に各辺端に一致している。このように、アン
テナコイルは、絶縁基板の周辺に沿って形成されている
ので、絶縁基板に対する強度が補強され、非接触ICカ
ードとして有効性が向上する。
【0018】次に、図5及び図6を参照して第3の実施
例を説明する。図5は、本発明の非接触ICカ−ドの平
面図、図6は、本発明の非接触ICカ−ドのICチップ
実装部の断面図である(図5のA−A′線に沿う部分の
断面図)。非接触ICカードは、エポキシ樹脂やポリイ
ミド樹脂などの絶縁体からなる絶縁基板31、アルミニ
ウムや銅など導体からなるアンテナコイル32、アンテ
ナコイル32の一部を構成し、ICチップ34と異方性
導電性接着剤、NCP等の接着剤35を用いて電気的に
接続されるICチップ接続端子33、33′、ICチッ
プ34、絶縁基板31にアンテナコイル32を貼り付け
る接着剤36とで構成されている。ICカードのサイズ
は、例えば、短辺が54mm、長辺が85.6mm、厚
さが0.76mmである。絶縁基板31主面にはCu又
はAlなどからなるアンテナコイル32が接着剤36に
より接着されている。ICチップ34は、アンテナコイ
ル32の内部の適宜の位置に形成されている。ICチッ
プ34は、アンテナコイル32の一端及び他端に形成さ
れたICチップ接続端子33、33′の上に異方性導電
性接着剤、NCP等の接着剤35により絶縁基板11に
接続されている。図に示すように、ICチップ34と絶
縁基板31との間に存在するバンプ39及びICチップ
接続端子33、33′は、異方性導電性接着剤35に囲
まれている。
【0019】ICチップ34にはアルミニウムパッドな
どの接続電極(図示しない)にバンプ39が形成されて
おり,このバンプ39がICチップ接続端子33、3
3′に接合されている。アンテナコイル32の両端に形
成されたICチップ接続端子33、33′は、近接して
ICチップ34に接続されているので、他端及びその近
傍のコイル導体は、同じ導体を越えて一端に近接されな
ければならない。したがって、その互いの接触を避ける
ために、裏面導体37に接続される。裏面導体37は、
絶縁基板31に形成された2つの貫通孔に埋め込まれた
接続配線により、他端及びその近傍のコイル導体とその
他の部分のコイル導体とを電気的に接続している。
【0020】この実施例では、アンテナコイル32を形
成する導体の中でICチップ34の下に配置されたIC
チップ接続端子33、33′の部分が他の部分より薄く
なっている。このように、ICチップ接続端子部分を薄
くすることにより図6の縦の方向に発生する異方性導電
性接着剤35の熱膨張、熱収縮の繰り返しに起因するI
Cチップ接続部の信頼性低下を少なくすることができ
る。それと同時に、アンテナ部を厚くすることにより、
アンテナコイル32の電気抵抗を低くすることができ
る。アンテナ部の導体厚さを適宜の値に設定することに
より、ICチップ接続部の実装信頼性と、非接触ICカ
−ドの通信距離の拡張を同時に達成させることが出来
る。この実施例の特徴は、ICチップ34にバンプ39
とともにダミーバンプ38を形成することに特徴があ
る。このようなダミーバンプ38を形成することによ
り、ICチップ34が直接接することがなく、ICチッ
プ34の面が搭載すべき絶縁基板31と平行を保つこと
ができるので、カード特性を安定させることができる。
【0021】
【発明の効果】本発明は、アンテナコイル導体のうち、
ICチップ実装端子部を薄くし、ICチップ実装部の接
続信頼性を上げ、同時にアンテナ部を厚くすることによ
り通信特性を上げることができる(請求項1乃至請求項
3)。また、アンテナコイル導体のうち、アンテナ部と
ICチップ実装端子部とを均一の薄さにし、これに伴い
アンテナ部の幅と厚さ掛けたアンテナ部断面積が請求項
1乃至請求項3と少なくとも同じになるようにアンテナ
部の幅を広げることにより、IC実装部の接続信頼性と
アンテナ部の通信特性を両立させることができる(請求
項4)。また、本発明は、上記非接触ICカ−ドを用い
た通信システムにおいて、システム全体の信頼性、通信
特性に優れている(請求項5及び請求項6)。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の非接触ICカ−ドの平
面図。
【図2】本発明の第1の実施例の非接触ICカ−ドのI
Cチップ実装部の断面図。
【図3】本発明の第2の実施例の非接触ICカ−ドの平
面図。
【図4】本発明の第2の実施例の非接触ICカ−ドのI
Cチップ実装部の断面図。
【図5】本発明の非接触ICカ−ドの平面図。
【図6】本発明の非接触ICカ−ドのICチップ実装部
の断面図。
【図7】リーダライタと非接触ICカ−ドとの距離
(D)のアンテナ抵抗依存性を示す特性図。
【図8】ICカ−ド通信システムの概略断面図。
【図9】従来の非接触ICカ−ドの平面図。
【図10】従来の非接触ICカ−ドのICチップ接続部
の断面図。
【符号の説明】
1、11、21、31・・・絶縁基板、2、12、2
2、32・・・アンテナコイル、4、14、24、34
・・・ICチップ、5、15、25、35・・・異方性
導電性接着剤などの接着剤、6、16、26、36・・
・接着剤、7、17、27、37・・・裏面導体、8、
8′、13、13′、23、23′、33、33′・・
・ICチップ接続端子、 9、19、39・・・バン
プ、 38・・・ダミーバンプ。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 四角形状の絶縁基板と、前記絶縁基板の
    主面上に搭載されたICチップと、前記絶縁基板主面の
    周辺部に形成されたアンテナコイルとを備え、前記アン
    テナコイルは、アンテナ部と前記ICチップの下に形成
    配置された前記ICチップの実装端子部とを有してお
    り、前記ICチップの実装端子部は、前記アンテナ部に
    比較して実質的に薄く形成されていることを特徴とする
    非接触ICカ−ド。
  2. 【請求項2】 前記アンテナコイルは、前記四角形状の
    絶縁基板の各辺に沿って形成されていることを特徴とす
    る非接触ICカード。
  3. 【請求項3】 前記ICチップは、このICチップに形
    成されているバンプ電極を介して前記実装端子に電気的
    に接続されており、前記ICチップと前記絶縁基板とは
    接着剤により接合され、且つ前記ICチップ底面の前記
    絶縁基板上の高さは、前記アンテナ部の前記絶縁基板上
    の高さと実質的に等しいことを特徴とする請求項1又は
    請求項2に記載の非接触ICカード。
  4. 【請求項4】 四角形状の絶縁基板と、前記絶縁基板の
    主面上に搭載されたICチップと、前記絶縁基板主面の
    周辺部に形成されたアンテナコイルとを備え、前記アン
    テナコイルは、アンテナ部と前記ICチップの下に形成
    配置された前記ICチップの実装端子部とを有してお
    り、前記ICチップの実装端子部の幅は、前記アンテナ
    部の幅より狭く、前記アンテナコイルの導体間の幅は、
    前記アンテナ部の導体幅より狭く形成され、且つ前記ア
    ンテナコイルは、前記四角形状の絶縁基板の各辺に沿っ
    て形成されていることを特徴とする非接触ICカード。
  5. 【請求項5】 非接触ICカ−ドと、リーダライタとを
    具備し、前記非接触ICカ−ドは請求項1乃至請求項3
    のいづれかに記載された非接触ICカードを用い、前記
    非接触ICカードはアンテナコイルを介して電磁誘導に
    より前記リーダライタと信号の授受が行われることを特
    徴とするICカ−ド通信システム。
  6. 【請求項6】 非接触ICカ−ドと、リーダライタとを
    具備し、前記非接触ICカ−ドは請求項4に記載された
    非接触ICカードを用い、前記非接触ICカードはアン
    テナコイルを介して電磁誘導により前記リーダライタと
    信号の授受が行われることを特徴とするICカ−ド通信
    システム。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002304608A (ja) * 2001-04-06 2002-10-18 Toppan Printing Co Ltd 非接触式icカード
WO2004023392A1 (ja) * 2002-09-04 2004-03-18 Hitachi, Ltd. Rfidタグ
WO2006106794A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic device having wireless chip
JP2007287062A (ja) * 2006-04-20 2007-11-01 Dainippon Printing Co Ltd 非接触icタグと非接触icタグのicチップ装着検査方法
US7928910B2 (en) 2005-03-31 2011-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic device having wireless chip
KR101100476B1 (ko) * 2010-06-29 2011-12-29 나경록 알에프 안테나 내장형 인레이 및 이에 대한 제조방법
WO2012023457A1 (ja) 2010-08-20 2012-02-23 株式会社 東芝 開放電圧制御システム
US11977943B2 (en) 2020-12-22 2024-05-07 Fujifilm Corporation Noncontact communication medium including an antenna coil that is formed on a substrate having a through-hole

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1269412A1 (de) * 2000-03-28 2003-01-02 Lucatron AG Rfid-label mit einem element zur einstellung der resonanzfrequenz
ATE443900T1 (de) * 2000-05-05 2009-10-15 Nxp Bv Datenträger mit mitteln zum ändern der resonanzfrequenz seiner resonanzschaltung
FR2819953B1 (fr) * 2001-01-24 2003-06-13 St Microelectronics Sa Commutateur de puissance a asservissement en di/dt
JP4141857B2 (ja) * 2003-02-18 2008-08-27 日立マクセル株式会社 半導体装置
US20050167797A1 (en) * 2004-01-29 2005-08-04 Advanpack Solutions Pte Ltd Structure package
US7307528B2 (en) * 2004-12-15 2007-12-11 Impinj, Inc. RFID tag design with circuitry for wafer level testing
US7312622B2 (en) * 2004-12-15 2007-12-25 Impinj, Inc. Wafer level testing for RFID tags
US7380190B2 (en) * 2004-12-15 2008-05-27 Impinj, Inc. RFID tag with bist circuits
US7400255B2 (en) 2005-02-28 2008-07-15 Impinj, Inc. Wireless functional testing of RFID tag
US7528724B2 (en) * 2005-02-28 2009-05-05 Impinj, Inc. On die RFID tag antenna
JP4801951B2 (ja) * 2005-08-18 2011-10-26 富士通フロンテック株式会社 Rfidタグ
EP1930844B1 (en) * 2005-09-26 2011-07-13 Panasonic Corporation Noncontact information storage medium and method for manufacturing same
DE102008016274A1 (de) * 2008-03-28 2009-10-01 Smartrac Ip B.V. Chipträger für ein Transpondermodul sowie Transpondermodul
DE102009056122A1 (de) * 2009-11-30 2011-06-01 Smartrac Ip B.V. Verfahren zur Kontaktierung eines Chips
RU2508991C1 (ru) * 2012-12-28 2014-03-10 Олег Умарович Айбазов Бесконтактная чип-карта
JP6679244B2 (ja) * 2015-08-27 2020-04-15 富士通株式会社 Rfidタグ
CN107093621A (zh) * 2016-02-18 2017-08-25 比亚迪股份有限公司 半导体功率器件及其形成方法
FR3073307B1 (fr) * 2017-11-08 2021-05-28 Oberthur Technologies Dispositif de securite tel qu'une carte a puce
US10726323B2 (en) * 2018-05-31 2020-07-28 Toshiba Memory Corporation Semiconductor storage device

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0757067A (ja) 1993-08-18 1995-03-03 Toshiba Corp 無線式情報媒体および無線式情報媒体システム
DE4416697A1 (de) * 1994-05-11 1995-11-16 Giesecke & Devrient Gmbh Datenträger mit integriertem Schaltkreis
EP0786357A4 (en) * 1994-09-22 2000-04-05 Rohm Co Ltd CONTACTLESS CHIP CARD AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
JPH09315058A (ja) * 1996-05-30 1997-12-09 Mitsubishi Electric Corp Icカード
JP4108779B2 (ja) * 1996-12-27 2008-06-25 ローム株式会社 回路チップ搭載カードおよび回路チップモジュール
JPH10203066A (ja) * 1997-01-28 1998-08-04 Hitachi Ltd 非接触icカード
JPH1111055A (ja) * 1997-06-20 1999-01-19 Toshiba Corp 無線モジュール及び無線カード
US6073856A (en) * 1997-09-05 2000-06-13 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Noncontact IC device
JP2000090226A (ja) 1998-09-08 2000-03-31 Dainippon Printing Co Ltd Icモジュールの製造方法およびicカードの製造方法
JP2000099673A (ja) 1998-09-17 2000-04-07 Hitachi Maxell Ltd 半導体装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002304608A (ja) * 2001-04-06 2002-10-18 Toppan Printing Co Ltd 非接触式icカード
WO2004023392A1 (ja) * 2002-09-04 2004-03-18 Hitachi, Ltd. Rfidタグ
WO2006106794A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic device having wireless chip
US7928910B2 (en) 2005-03-31 2011-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic device having wireless chip
US8742480B2 (en) 2005-03-31 2014-06-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic device having wireless chip
US9350079B2 (en) 2005-03-31 2016-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic device having wireless chip
US9564688B2 (en) 2005-03-31 2017-02-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Wireless chip and electronic device having wireless chip
JP2007287062A (ja) * 2006-04-20 2007-11-01 Dainippon Printing Co Ltd 非接触icタグと非接触icタグのicチップ装着検査方法
KR101100476B1 (ko) * 2010-06-29 2011-12-29 나경록 알에프 안테나 내장형 인레이 및 이에 대한 제조방법
WO2012023457A1 (ja) 2010-08-20 2012-02-23 株式会社 東芝 開放電圧制御システム
US11977943B2 (en) 2020-12-22 2024-05-07 Fujifilm Corporation Noncontact communication medium including an antenna coil that is formed on a substrate having a through-hole

Also Published As

Publication number Publication date
US6666380B1 (en) 2003-12-23

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