JP2001045379A - 画像処理装置および方法 - Google Patents

画像処理装置および方法

Info

Publication number
JP2001045379A
JP2001045379A JP11218349A JP21834999A JP2001045379A JP 2001045379 A JP2001045379 A JP 2001045379A JP 11218349 A JP11218349 A JP 11218349A JP 21834999 A JP21834999 A JP 21834999A JP 2001045379 A JP2001045379 A JP 2001045379A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
unit
image processing
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11218349A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4265038B2 (ja
Inventor
Shinichi Yoshimura
真一 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP21834999A priority Critical patent/JP4265038B2/ja
Priority to US09/624,718 priority patent/US6881940B1/en
Publication of JP2001045379A publication Critical patent/JP2001045379A/ja
Priority to US11/003,815 priority patent/US7119318B2/en
Priority to US11/100,906 priority patent/US6982404B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4265038B2 publication Critical patent/JP4265038B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 リアルタイムで映像信号を演算処理できるよ
うにする。 【解決手段】 受光部51に入射された赤外光は、タイ
ミングジェネレータから供給されるリセットパルスに同
期して光電変換され、タイミングジェネレータから供給
される受光部転送パルスに同期して増幅部52に出力さ
れる。増幅部52に入力された信号は、タイミングジェ
ネレータから供給される増幅部駆動パルスに同期して、
後段の装置での処理に必要なレベルにまで増幅され、演
算部53に出力される。演算部53に入力された信号
は、記憶部61に一時記憶され、比較部62より2値化
信号として、演算制御部からの演算選択信号により指定
された所定の演算が施され、出力部54に出力される。
出力部54に入力された信号は、水平走査回路からの選
択信号に同期して、共通信号線42を介して画素信号と
して出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像処理装置およ
び方法に関し、特に、撮像する被写体からの光を受光す
る素子毎に、受光した光を光電変換して得られた信号を
所定の規則で演算し、リアルタイムで画像信号を演算処
理できるようにした画像処理装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】画像信号を演算する技術が普及しつつあ
る。この技術は、例えば、画像信号を演算することによ
って、被写体の立体画像を求める場合に利用される。
【0003】このような画像信号の演算は、CCD(Charge
Coupled Device)のような撮像素子を用いるとき、演算
に必要な複数の信号を得るのに、繰り返し被写体を撮像
し、それらをフレームメモリのような記憶装置に蓄積し
た後、その蓄積された信号を読み出して実行されてい
た。
【0004】また、リアルタイムの形状測定を実現する
方法および装置として、特公平6-25653号公報に示され
るような「非走査型撮像素子」も考えられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、繰り返
し被写体を撮像する時、1回の撮像に、例えば、33.3ms
ecまたは16.6msecの時間を要することになるので、この
撮像に要する時間が上限となり、それ以上高速で画像情
報の演算結果を得ることができないという課題があっ
た。
【0006】また、画像情報を演算するために繰り返し
撮像をしなければ演算結果が得られないので、リアルタ
イムで演算結果が得られないという課題があった。
【0007】特公平6-25653号公報に開示されている非
走査型撮像素子の場合、撮像素子上に並んだ各画素の出
力を独立して扱うため、各画素からの出力信号線を共通
化することができず、さらに各画素に対する記憶手段が
素子内に持たされていないので、各画素が独立に動作す
るという「非走査型」の特徴を失い、リアルタイムでの
処理ができないという課題があった。
【0008】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、撮像する被写体からの光を受光する素子毎
に、受光した光を光電変換して得られた画像信号を所定
の規則に従ってリアルタイムで演算させるようにするも
のである。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の画像処
理装置は、光学エリアの各素子毎に入射する光を受光
し、光電変換する受光手段と、各素子毎に受光手段で光
電変換された信号を所定の規則で演算する演算手段と、
各素子毎に演算手段の演算結果を出力する出力手段と、
複数の素子毎に出力手段より演算結果が出力されるタイ
ミングを調整するタイミング調整手段とを含むことを特
徴とする。
【0010】前記演算手段には、光電変換された異なる
タイミングの複数の信号を、逐次記憶する記憶手段をさ
らに設けることができる。
【0011】前記演算手段には、記憶手段により記憶さ
れた複数の信号を組み合わせて比較演算を実行させるこ
とができる。
【0012】前記比較演算には、信号の最大値または最
小値を求める演算を含めさせることができる。
【0013】前記出力手段には、タイミング調整手段に
より調整されたタイミングで演算結果を各素子の列また
は行毎に出力させることができる。
【0014】請求項6に記載の画像処理方法は、光学エ
リアの各素子毎に入射する光を受光し、光電変換する受
光ステップと、各素子毎に受光ステップの処理で光電変
換された信号を所定の規則で演算する演算ステップと、
各素子毎に演算ステップの処理の演算結果を出力する出
力ステップと、複数の素子毎に出力ステップの処理で演
算結果が出力されるタイミングを調整するタイミング調
整ステップとを含むことを特徴とする。
【0015】請求項1に記載の画像処理装置および請求
項6に記載の画像処理方法においては、光学エリアの各
素子毎に入射された光が、光電変換され、各素子毎に光
電変換された信号が所定の規則で演算され、各素子毎に
演算結果が出力される。
【0016】
【発明の実施の形態】図1は、本発明を適用した画像処
理装置1の一実施の形態を示すブロック図である。画像
処理装置1のシステム制御部11は、パタン投光部1
2、イメージャ15、映像信号処理部16、距離センサ
17、および形状データ処理部18の動作を制御する。
【0017】パタン投光部12は、システム制御部11
からの指令に基づいて、距離計測に必要なパタンの赤外
光を被写体2に向けて照射する。このパタン光として
は、距離センサ17の計測原理に基づいてスリット光や
グリッド光などが用いられる。
【0018】レンズ13は、被写体からの光を集光し、
プリズム14に導入する。プリズム14は、レンズ13
から入射された光を可視光と赤外光に分光する。すなわ
ち、被写体からの光には、可視光の他に、上述のパタン
投光部12から照射された赤外光の被写体からの反射光
があるため、これを可視光と赤外光に分光し、可視光を
イメージャ15に、赤外光を距離センサ17に、それぞ
れ出射する。
【0019】イメージャ15は、CCD(Charge Coupled D
evice)やCMOS(Complementary MetalOxide Semiconducto
r)などからなり、システム制御部11からの同期信号や
制御信号に基づいて、プリズム14から入射された可視
光から色の情報を抽出し、映像信号として映像信号処理
部16に出力する。
【0020】映像信号処理部16は、システム制御部1
1からの同期信号や制御信号に基づいて、イメージャ1
5から入力される映像信号に、ゲイン調整やカラー調整
処理を施した後、必要に応じてアナログ信号またはデジ
タル信号に変換し、カラー映像信号として計算機19に
出力する。
【0021】距離センサ17は、プリズム14から入射
された赤外光を受光し、システム制御部11からの同期
信号や制御信号に基づいて、この受光した赤外光を2値
化信号として処理し、形状データ処理部18に出力す
る。尚、距離センサ17については、詳細を後述する。
【0022】形状データ処理部18は、システム制御部
11からの同期信号や制御信号に基づいて、距離センサ
17から入力された2値化信号から赤外光の強度がピー
クとなるタイミングを求め、その強度から三角測量の原
理で被写体2までの距離を算出し、被写体2の3次元的
形状を演算する。そして、形状データ処理部18は、演
算結果を形状データ信号として計算機19に出力する。
【0023】計算機19は、映像信号処理部16から供
給されたカラー映像信号と、形状データ処理部18から
供給された形状データ信号にコンピュータグラフィクス
処理を施し、CRT(Cathode Ray Tube)やLCD(Liquid Crys
tal Display)などからなるモニタ3に出力したり、ま
た、外部記憶装置4に出力し、そのデータを蓄積させ
る。
【0024】次に、図2と図3を参照して、距離センサ
17の詳細について説明する。距離センサ17は、大別
して2つのタイプがある。第1のタイプは、光学エリア
31の水平方向に並んだ画素41を順次走査して、各画
素41からの出力信号を取り出して処理を実行するタイ
プであり、第2のタイプは、光学エリア31の垂直方向
にならんだ画素41を順次走査して、各画素からの出力
信号を取り出して処理するタイプである。図2は、前者
のタイプの距離センサ17の構成を表しており、図3
は、後者のタイプの距離センサ17の構成を表してい
る。
【0025】最初に、図2を参照して、水平走査型タイ
プの距離センサ17について説明する。
【0026】光学エリア31は、演算機能を備えた複数
の画素41から構成されており、画素41が、マトリク
ス状にn×m個(=水平方向の数×垂直方向の数)並べら
れている。各画素41は、受光した光量に応じた信号
を、タイミングジェネレータ32から出力されるリセッ
トパルスおよび受光部転送パルスに基づいて演算し、そ
の演算結果を、水平走査回路33aから供給される選択
信号に基づいて、共通信号線42を介して水平方向に出
力回路34に出力する。尚、画素41については、詳細
を後述する。
【0027】タイミングジェネレータ32は、システム
制御部11からの制御信号に基づいて、制御パルスを水
平走査回路33aおよび出力回路34に供給すると共
に、増幅部駆動パルス、リセットパルスおよび受光部転
送パルスを発生し、光学エリア31の各画素41に供給
する。
【0028】水平走査回路33aは、タイミングジェネ
レータ32から供給される制御パルスに基づいて、クリ
アパルス、記憶部転送パルス、比較部駆動パルス、およ
び選択信号を発生し、光学エリア31の各画素41に供
給する。
【0029】出力回路34は、タイミングジェネレータ
32からの制御パルスに同期して、光学エリア31の各
画素41からの出力信号を共通信号線42を介して受信
し、形状データ処理部18に出力する。
【0030】演算制御部35は、システム制御部11か
らの制御信号に対応して、各画素41の演算部53の記
憶部61のマトリクス回路72(図6)に、実行させる
演算処理を選択する(指定する)演算選択信号を供給す
る。尚、演算部53の記憶部61のマトリクス回路72
については、詳細を後述する。
【0031】図3に示す垂直走査型タイプの距離センサ
17においては、図2に示す水平走査型タイプの距離セ
ンサ17の水平走査回路33aに代えて、垂直走査回路
33bが設けられており、それにより駆動された各画素
41の出力は、共通信号線42を介して垂直方向に出力
回路34に供給されている。その他の構成は、図2にお
ける場合と同様である。
【0032】次に図4を参照して、画素41の詳細につ
いて説明する。図4には、図2に示されている共通信号
線42に接続されるn個の画素41a乃至41nが示さ
れている。ここでは、1つの画素41aの構成だけが示
されているが、その他の画素41b乃至41nも同様に
構成されている。このことは、図3の距離センサ17の
場合についても同様である。
【0033】画素41aの受光部51は、例えば、フォ
トダイオードなどの受光素子からなり、プリズム14か
ら入射される赤外光を受光し、タイミングジェネレータ
32から供給されるリセットパルスに基づいて、その受
光した赤外光を光電変換し、タイミングジェネレータ3
2から供給される受光部転送パルスに基づいて、その信
号を増幅部52に出力する。
【0034】増幅部52は、タイミングジェネレータ3
2から供給される増幅部駆動パルスに同期して、受光部
51から入力される信号を後段の装置での処理に必要な
レベルにまで増幅し、演算部53に出力する。
【0035】演算部53は、記憶部61および比較部6
2を有しており、増幅部52より入力された信号を、演
算制御部35からの演算選択信号により指定された所定
の演算を施して、2値化信号として出力部54に出力す
る。尚、記憶部61および比較部62については、詳細
を後述する。
【0036】出力部54は、水平走査回路33aからの
選択信号に同期して、共通信号線42を介して演算部5
3から入力された信号を画素信号として、出力回路34
に出力する。
【0037】ここで、演算部53の記憶部61および比
較部62の説明にあたり、演算部53の2値化信号の演
算について先に説明する。
【0038】受光部51で、受光された光量に対応する
信号が増幅部52で増幅され、演算部53に入力される
が、その赤外光強度のサンプリング信号s(k)が、図5に
示すように、サンプリングの時刻kと共に変化するもの
とする。このとき、時刻kが変化する毎に、赤外光強度
のサンプリング信号は、以下の様に示される。
【0039】s(k−3),s(k−2),s(k−1),s(k),s(k−
1),s(k−2),s(k−3)…… ただし、kよりもk−1の方が時間的に前の値を示してい
るものとする。
【0040】この時、赤外光の強度がピークとなる時刻
を検出するための関数として以下の式(1)に示すよう
な変位差を示す関数g(k)を考える。
【0041】 g(k)={s(k)+s(k−1)}−{s(k−2)+s(k−3)}……(1) この関数g(k)は、サンプリング信号s(k)をほぼ微分する
ことに対応しており、赤外光強度のサンプリング信号s
(k)が、大きいほど正の大きな値を取るものと仮定する
と、g(k)>0の時、赤外光強度のサンプリング信号s(k)
は、時刻の変化に対して、増加していることを示し、逆
にg(k)<0の時、赤外光強度のサンプリング信号s(k)の
強度は、時刻の変化に対して減少していることを示すこ
とになる。
【0042】従って、このg(k)が、正の値から負の値に
変化した時刻kが、赤外光強度のサンプリング信号がピ
ークを呈する時刻となる。
【0043】そこで、図5に示すように、赤外光強度の
サンプリング信号s(k)のノイズを考慮し、関数g(k)に所
定のレベルのバイアスを加算した以下の式(2)に示さ
れる関数f(k)により、上記と同様の手法で赤外光強度の
サンプリング信号のピークを検出した時刻を求めること
ができる。
【0044】 f(k)={s(k)+s(k−1)}−{s(k−2)+s(k−3)}+BIAS……(2) 図5に示されるように、f(k)は、赤外光強度s(k)の変化
に対応して変化し、図5中f(k)の値が、正の値から負の
値に変化するゼロレベルとの交点の時刻kが、赤外光強
度s(k)がピークを呈するタイミングを示めすことにな
る。尚、図5では、赤外光強度s(k)のピークは、サンプ
リング時刻(k−2)であり、時刻kに対してずれがある
が、これは、関数f(k)により一義的に定まる一定のずれ
となるので、算出した時刻に対して一定のオフセットを
掛けることにより正確な赤外光強度のサンプリング信号
s(k)のピーク値を取る時刻kを求めることができる。
【0045】演算部53は、上記の関数f(k)の値が正ま
たはゼロのとき0、負のとき1、となる2値化信号を出力
回路34に出力する。出力回路34は、この2値化信号
を出力信号として、後段の形状データ処理部18に出力
する。後段の形状データ処理部18は、この2値化信号
により求められる赤外光強度のピークとなるサンプリン
グの時刻から赤外光強度のピークを求め、この赤外光強
度から被写体までの距離を三角測量と同様の原理で算出
する。
【0046】次に、図6を参照して、この演算部53の
記憶部61および比較部62について説明する。
【0047】記憶部61の記憶セル71a乃至71d
は、水平走査回路33aからサンプリング同期信号に同
期して送られるクリアパルスCLR1乃至CLR4に基づいて、
増幅部52から入力される信号を赤外光強度のサンプリ
ング信号として順次記憶する。
【0048】すなわち、例えば、ある時刻kにおいて、
記憶セル71aには、s(k)、記憶セル71bには、s(k
−1)、記憶セル71cには、s(k−2)、記憶セル71d
には、s(k−3)が、それぞれ記憶されていたとすると、
次の時刻k+1では、最も古い信号を記憶している記憶セ
ル71dに対して、水平走査回路33aからクリアパル
スCLR4が送られ、これに同期して前のサンプリング信号
であるs(k−3)が消去される。そして、その直後に、水
平走査回路33aから送られる受光部転送パルスに同期
して、増幅部52からの信号が入力されて、新しい赤外
光強度のサンプリング信号であるs(k+1)が、記憶セル7
1dに記憶される。以下サンプリングの時刻kが変化す
る毎に、同様に最も古い赤外光強度のサンプリング信号
を記憶している記憶セルに、新たな赤外光強度のサンプ
リング信号が、順次書き換えられて、記憶されていく。
【0049】各記憶セル71a乃至71dに記憶された
赤外光強度のサンプリングの信号は、マトリクス回路7
2に並列に出力される。
【0050】マトリクス回路72は、演算制御部35か
らの演算選択信号に基づいて、スイッチ81a乃至84
a,81b乃至84b,81c乃至84c,および81
d乃至84dをオンオフさせる。すなわち、ここで、各
記憶セル71a乃至71dから出力される信号を信号V1
乃至V4とし、ある時刻kにおいて、例えば、記憶セル7
1aには、s(k)、記憶セル71bには、s(k−1)、記憶
セル71cには、s(k−2)、記憶セル71dには、s(k−
3)が、それぞれ記憶されているものとすると、演算すべ
き関数f(k)は、以下の式(3)で表される。
【0051】 f(k)={s(k)+s(k−1)}−{s(k−2)+s(k−3)}+BIAS……(3) すなわち、 f(k)=V1+V2−V3−V4+BIAS……(4) となる。
【0052】そして、次のサンプリング時刻k+1では、
記憶セル71dに記憶されている最も古い時刻k−3の赤
外光強度のサンプリング信号s(k−3)が、s(k+1)に置き
換えられるので、演算すべき式は以下の様になる。
【0053】 f(k+1)={s(k+1)+s(k)}−{s(k−1)+s(k−2)}+BIAS……(5) すなわち f(k+1)=V4+V1−V2−V3+BIAS……(6) となる。
【0054】そして、サンプリングの時刻が変化する毎
に以下の4種類の演算が繰り返されることになる。
【0055】 f(k)=V1+V2−V3−V4+BIAS……(7) f(k+1)=V4+V1−V2−V3+BIAS……(8) f(k+2)=V3+V4−V1−V2+BIAS……(9) f(k+3)=V2+V3−V4−V1+BIAS……(10) このように、サンプリング時刻毎に加減算の組み合わせ
を順次変更し、演算を実行することにより、記憶されて
いる信号そのものを記憶セル間で転送する必要が無いの
で、転送の際に生じる信号の劣化などを抑制することが
できる。
【0056】ここで、上記式(7)乃至式(10)の各
々の演算モードは、それぞれモードA乃至Dと定義され
る。
【0057】ここで、図6の説明に戻る。マトリクス回
路72は、演算制御部35から送信されてくる演算選択
信号の演算モードに基づいて、スイッチ81a乃至84
a,81b乃至84b,81c乃至84c,および81
d乃至84dのオンオフを制御する。例えば、サンプリ
ング時刻kのとき、演算制御部35からモードAの演算選
択信号がマトリクス回路72に送信されると、マトリク
ス回路72は、スイッチ81a乃至84aをオンにし、
記憶セル71aに記憶されている信号V1および記憶セル
71bに記憶されている信号V2を比較部62の差動増幅
回路93の正入力に供給し、記憶セル71cに記憶され
ている信号V3および記憶セル71dに記憶されている信
号V4を比較部62の差動増幅回路93の負入力に供給す
る。
【0058】比較部62の負荷91aは、差動増幅回路
93の正入力に、負荷91bは、差動増幅回路93の負
入力に、それぞれ接続されており、記憶セル71a乃至
71dから入力される電流を電圧に変換する。可変電流
源92は、バイアス電流を発生し、差動増幅回路93の
正入力に供給し、記憶セル71a乃至71dのうち、差
動増幅回路93の正入力に入力される信号に、式(7)
乃至式(10)におけるBIASとして加えられる。差動増
幅回路93は、正入力と負入力の差を演算する。
【0059】例えば、記憶部61のマトリクス回路72
に、演算制御部35からモードAの演算選択信号が、入
力された場合、スイッチ81a乃至84aがオンにさ
れ、記憶セル71aに記憶されている信号V1および記憶
セル71bに記憶されている信号V2が比較部62の差動
増幅回路93の正入力に入力される。また、記憶セル7
1cに記憶されている信号V3および記憶セル71dに記
憶されている信号V4が比較部62の差動増幅回路93の
負入力に入力される。従って、差動増幅回路93は、式
(7)の演算を実行することになる。
【0060】尚、本説明の例においては、比較部62に
差動増幅回路93を使用しているが、チョッパ型比較回
路を用いることもできる。
【0061】次に、図7のフローチャートを参照して、
画像処理装置1の動作について説明する。
【0062】ステップS1において、システム制御部1
1からの制御信号に基づいて、パタン投光部12により
パタン光(赤外光)が発生され、被写体2に向けて照射
される。そして、被写体2から反射された赤外光と可視
光が、レンズ13により集光され、プリズム14に入射
される。
【0063】ステップS2において、入射された光は、
プリズム14により可視光と赤外光に分光され、分光さ
れた可視光はイメージャ15に、赤外光は距離センサ1
7に、それぞれ入射される。
【0064】ステップS3において、イメージャ15
は、可視光から色の情報を抽出し、映像信号処理部16
に出力する。映像信号処理部16に入力された色の情報
は、ゲイン調整およびカラー信号処理が施され、カラー
映像信号として計算機19に出力される。一方、距離セ
ンサ17は、その各画素41により赤外光を受光し、そ
の強度のピークを検出可能な2値化信号を生成して形状
データ処理部18に出力する。尚、距離センサ17の画
素41の処理については、後述する。形状データ処理部
18は、距離センサ17からの2値化信号から赤外光の
ピークとなるサンプリング時刻を求め、そのサンプリン
グ時刻に対応する赤外光強度から三角測量の原理によ
り、被写体2までの距離を演算し、形状データ信号とし
て計算機19に出力する。
【0065】ステップS4において、計算機19は、入
力されたカラー映像信号と形状データ信号を合成し、コ
ンピュータグラフィクス処理を施した後、モニタ3に出
力したり、あるいは、外部記憶装置4に出力し、記憶さ
せ、処理が終了される。
【0066】次に、図8のフローチャートおよび図9の
タイミングチャートを参照して、図9のタイミングチャ
ート中のサンプリング時刻k−1において、図2の距離
センサ17の画素41の記憶セル71a乃至71dに、
赤外光強度のサンプリング信号としてV1=s(k−4), V2
=s(k−1), V3=s(k−2), V4=s(k−3)が、記憶されて
いる場合の動作について説明する。
【0067】ステップS11において、サンプリング時
刻k−1の直後にタイミングジェネレータ32から送信さ
れたリセットパルスが、受光部51に入力されると、受
光部51は、受光レベルをリセットし、新たに赤外光の
受光を開始する(図9中、蓄積フェーズ)。
【0068】ステップS12において、受光部51は、
タイミングジェネレータ32からの受光部転送パルス
(図示せず)に同期して、新たに受光した赤外光を光電
変換し、増幅部52に出力する。
【0069】ステップS13において、増幅部52は、
タイミングジェネレータ32からの増幅部駆動パルス
(図示せず)に同期して、受光部51から入力された信
号を、増幅し、演算部53に出力する。
【0070】ステップS14において、演算部53は、
水平走査回路33aからのクリアパルスCLR1(図9)に
同期して、最も古い信号である記憶セル71aの信号s
(k−4)を消去し、続く水平走査回路33aからの記憶部
転送パルスTX1(図9)に同期して、増幅部52からの
信号を記憶セル71aに記憶させる。
【0071】ステップS15において、記憶セル71a
乃至71dは、記憶している信号V1乃至V4をマトリクス
回路72に出力する。
【0072】ステップS16において、マトリクス回路
72は、演算制御部35からの演算選択信号のモードA
の信号に基づいて、スイッチ81a乃至84aをオン
し、記憶セル71a乃至71dから入力される信号V1乃
至V4のうち、信号V1およびV2を比較部62の差動増幅回
路93の正入力に、信号V3およびV4を負入力にそれぞれ
供給する。
【0073】ステップS17において、マトリクス回路
72から正入力に入力された信号V1およびV2に、可変電
流源92から供給されるBIASを加えた信号と、負入力に
入力された信号V3およびV4は、負荷91a,91bによ
り電流から電圧に変換される。比較部62の差動増幅回
路93は、水平走査回路33aからの比較部駆動パルス
(図示せず)に同期して、この信号V1乃至V4およびBIAS
から式(7)の演算を実行する(図9中、演算フェー
ズ)。そして、その演算結果は、出力部54に出力され
る。図9の例では、1が出力されており、受光した赤外
光強度のピークが検出されたことを示している。
【0074】ステップS18において、出力部54は、
水平走査回路33aからの選択信号と同期して(サンプ
リング同期信号のサンプリング時刻k+1に対応する)、
画素信号としての演算結果を共通信号線42を介して、
出力回路34に出力する(図9中、出力フェーズ)。
【0075】ステップS19において、出力回路34
は、タイミングジェネレータ32からの制御パルスに同
期して、画素信号を形状データ処理部18に出力し、処
理を終了する。
【0076】尚、この処理は、図9に示すように、サン
プリング時刻毎に繰り返される。すなわち、上記処理
が、サンプリング時刻k−1の直後のリセットパルスから
演算モードAの蓄積フェーズに入り、クリアパルスCLR4
から演算フェーズに入るが、このとき、サンプリング時
刻kのリセットパルスにより、その次のモードBの演算
の蓄積フェーズに入ることになり、以降これが繰り返さ
れる。
【0077】以上の説明においては、画素41に、受光
部51、増幅部52、演算部53、および出力部54を
設けるようにしたが、図10に示すように、演算部53
および出力部54は、画素41の外部に置くようにして
も良い。図10の例は、図2に対応する距離センサ17
の各画素41の演算部53と出力部54を別置きにした
距離センサ17を示している。
【0078】図10においては、図2の場合と対応する
部分には同一の符号を付してあり、その説明は、適宜省
略する。図10の距離センサ17においては、新たに画
素出力線101と記憶演算エリア102が設けられてい
る。光学エリア31内の各画素41からの画素信号は、
画素出力線101を介して、記憶演算エリア102の各
画素41に対応する記憶部61に出力される。図10に
対応する各画素41には、図4の受光部51および増幅
部52だけが設けられ、それ以降の演算部53と出力部
54からなる部分が、記憶演算エリア102の各画素4
1に対応する記憶部61に設けられており、両者は画素
出力線101に接続されている。このように別置きにす
ることにより、画素41を光学エリア31に効率よく配
置することができる。
【0079】図11は、図10の光学エリア31と記憶
演算エリア102の複数の画素41の処理を示すタイミ
ングチャートである。すなわち、例えば、画素i−1に
ついて図9のサンプリング時刻k,k+1で、演算記憶エリ
ア102の記憶部61は、クリアパルスに同期してデー
タが消去された記憶セル(71a乃至71dのいずれか
古い時刻のデータが記憶されているセル)に、受光部5
1から増幅部52および画素出力線101を介して、転
送パルスに同期して入力された信号を記憶させる。そし
て、その記憶部61に対応する受光部51は、リセット
パルスによりリセットされ、新たに受光を開始する。一
方、記憶セル71a乃至71dに記憶された信号は、演
算制御部35から入力される演算選択信号に基づいて演
算を実行し、出力部54に出力する。そして、出力部5
4は、水平走査回路33aからの選択信号に同期して、
共通信号線42を介して出力回路34に出力する。その
後、次の画素iが、画素i−1と同じサンプリング時刻
k,k+1で、図9に示される処理を実行する。尚、図1
0においては、図2に対応した水平走査型タイプの場合
について説明したが、図3の垂直走査型タイプの場合に
ついても同様である。
【0080】以上の説明においては、画像処理装置に3
次元画像処理を実行させるようにしたが、画像処理装置
は、演算内容を変化させることにより、画像と共に演算
処理が必要な他の処理も実行させることができる。例え
ば、画像情報と共に温度分布を測定するサーモグラフィ
などに応用させても良く、また、上記の3次元画像処理
とサーモグラフィを組み合わせることで、3次元サーモ
グラフィとしても良い。
【0081】上述の様に、各画素41に演算機能を持た
せることにより、リアルタイムでの画像処理が可能とな
る。
【0082】
【発明の効果】請求項1に記載の画像処理装置および請
求項6に記載の画像処理方法によれば、光学エリアの各
素子毎に光電変換された信号を所定の規則で演算するよ
うにしたので、リアルタイムでの画像情報の演算処理が
可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した画像処理装置の構成を示すブ
ロック図である。
【図2】図1の水平走査型の距離センサの構成を示すブ
ロック図である。
【図3】図1の垂直走査型の距離センサの構成を示すブ
ロック図である。
【図4】図2の画素の詳細な構成を示すブロック図であ
る。
【図5】受光される光のピークの演算方法を説明する図
である。
【図6】図4の演算部の詳細な構成を示す図である。
【図7】図1の画像処理装置の動作を説明するフローチ
ャートである。
【図8】図2の画素の動作を説明するフローチャートで
ある。
【図9】図2の画素の動作を説明するタイミングチャー
トである。
【図10】図4の距離センサの他の構成を示すブロック
図である。
【図11】図10の距離センサの動作を説明するタイミ
ングチャートである。
【符号の説明】
1 画像処理装置, 2 被写体, 3 モニタ, 4
外部記憶装置, 11 システム制御部, 12 パ
タン投光部, 13 レンズ, 14 プリズム, 1
5 イメージャ, 16 映像信号処理部, 17 距
離センサ, 18 形状データ処理部, 19 計算
機, 31 光学エリア, 32 タイミングジェネレ
ータ, 33a 水平走査回路, 33b 垂直走査回
路, 34出力回路, 35 演算制御部, 41,4
1a乃至41n 画素, 42共通信号線, 51 受
光部, 52 増幅部, 53 演算部, 54 出力
部, 61 記憶部, 62 比較部, 71a乃至7
1d 記憶セル, 72マトリクス回路, 81a乃至
81d,82a乃至82d,83a乃至83d,84a
乃至84d スイッチ, 91a,91b 負荷, 9
2 可変電流源, 93 差動増幅回路, 101 画
素出力線, 102 記憶演算エリア

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の素子をマトリクス状に配置した光
    学エリアを有する画像処理装置において、 前記光学エリアの各素子毎に入射する光を受光し、光電
    変換する受光手段と、 前記各素子毎に前記受光手段で光電変換された信号を所
    定の規則で演算する演算手段と、 前記各素子毎に前記演算手段の演算結果を出力する出力
    手段と、 前記複数の素子毎に前記出力手段より演算結果が出力さ
    れるタイミングを調整するタイミング調整手段とを含む
    ことを特徴とする画像処理装置。
  2. 【請求項2】 前記演算手段は、前記光電変換された異
    なるタイミングの複数の信号を、逐次記憶する記憶手段
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の画像処
    理装置。
  3. 【請求項3】 前記演算手段は、前記記憶手段により記
    憶された複数の信号を組み合わせて比較演算を実行する
    ことを特徴とする請求項2に記載の画像処理装置。
  4. 【請求項4】 前記比較演算は、前記信号の最大値また
    は最小値を求める演算を含むことを特徴とする請求項3
    に記載の画像処理装置。
  5. 【請求項5】 前記出力手段は、前記タイミング調整手
    段により調整されたタイミングで前記演算結果を前記各
    素子の列または行毎に出力することを特徴とする請求項
    1に記載の画像処理装置。
  6. 【請求項6】 複数の素子をマトリクス状に配置した光
    学エリアを有する画像処理装置の画像処理方法におい
    て、 前記光学エリアの各素子毎に入射する光を受光し、光電
    変換する受光ステップと、 前記各素子毎に前記受光ステップの処理で光電変換され
    た信号を所定の規則で演算する演算ステップと、 前記各素子毎に前記演算ステップの処理の演算結果を出
    力する出力ステップと、 前記複数の素子毎に前記出力ステップの処理で演算結果
    が出力されるタイミングを調整するタイミング調整ステ
    ップとを含むことを特徴とする画像処理方法。
JP21834999A 1999-08-02 1999-08-02 画像処理装置 Expired - Fee Related JP4265038B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21834999A JP4265038B2 (ja) 1999-08-02 1999-08-02 画像処理装置
US09/624,718 US6881940B1 (en) 1999-08-02 2000-07-25 Image processing apparatus and method
US11/003,815 US7119318B2 (en) 1999-08-02 2004-12-02 Image processing apparatus and method
US11/100,906 US6982404B2 (en) 1999-08-02 2005-04-07 Image processing apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21834999A JP4265038B2 (ja) 1999-08-02 1999-08-02 画像処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001045379A true JP2001045379A (ja) 2001-02-16
JP4265038B2 JP4265038B2 (ja) 2009-05-20

Family

ID=16718493

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21834999A Expired - Fee Related JP4265038B2 (ja) 1999-08-02 1999-08-02 画像処理装置

Country Status (2)

Country Link
US (3) US6881940B1 (ja)
JP (1) JP4265038B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004045204A1 (ja) * 2002-11-13 2004-05-27 Sony Corporation 固体撮像装置
JP2006217658A (ja) * 2006-04-24 2006-08-17 Sony Corp 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2007267431A (ja) * 2007-07-20 2007-10-11 Sony Corp 固体撮像装置及びその駆動方法
KR100771117B1 (ko) 2005-12-29 2007-10-29 엠텍비젼 주식회사 이미지 센서 및 이의 제어 방법
JP2012134670A (ja) * 2010-12-20 2012-07-12 Nikon Corp 画像演算装置、撮像装置および画像演算プログラム
JP2020171023A (ja) * 2016-03-18 2020-10-15 株式会社半導体エネルギー研究所 電子機器および撮像装置
JP2021506203A (ja) * 2017-12-11 2021-02-18 プロフェシーProphesee イベントベースの画像センサおよびその操作方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI273539B (en) * 2001-11-29 2007-02-11 Semiconductor Energy Lab Display device and display system using the same
JP2006279823A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Fuji Photo Film Co Ltd 撮像装置用通信装置
KR102159996B1 (ko) 2013-12-16 2020-09-25 삼성전자주식회사 이벤트 필터링 장치 및 이를 이용한 동작 인식 장치

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3441761B2 (ja) * 1993-05-28 2003-09-02 キヤノン株式会社 イメージセンサ
JPH07105342A (ja) * 1993-09-30 1995-04-21 Oki Electric Ind Co Ltd 画像処理装置
JP3415248B2 (ja) 1994-02-23 2003-06-09 富士通株式会社 セルフリフレッシュ回路、半導体記憶装置及びセルフリフレッシュ方法
JPH08125502A (ja) * 1994-10-28 1996-05-17 Canon Inc 半導体装置とこれを用いた半導体回路、相関演算装置、a/d変換器、d/a変換器、及び信号処理システム
JPH08204567A (ja) * 1995-01-31 1996-08-09 Canon Inc 半導体装置とこれを用いた半導体回路、相関演算装置、a/d変換器、d/a変換器及び信号処理システム
JPH11220736A (ja) * 1998-01-30 1999-08-10 Canon Inc 画像処理装置および方法、記録媒体
JP3571909B2 (ja) * 1998-03-19 2004-09-29 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその製造方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004045204A1 (ja) * 2002-11-13 2004-05-27 Sony Corporation 固体撮像装置
CN100336382C (zh) * 2002-11-13 2007-09-05 索尼株式会社 固态成像装置
US7639296B2 (en) 2002-11-13 2009-12-29 Sony Corporation Solid state imaging apparatus
KR100771117B1 (ko) 2005-12-29 2007-10-29 엠텍비젼 주식회사 이미지 센서 및 이의 제어 방법
JP2006217658A (ja) * 2006-04-24 2006-08-17 Sony Corp 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2007267431A (ja) * 2007-07-20 2007-10-11 Sony Corp 固体撮像装置及びその駆動方法
JP4506794B2 (ja) * 2007-07-20 2010-07-21 ソニー株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2012134670A (ja) * 2010-12-20 2012-07-12 Nikon Corp 画像演算装置、撮像装置および画像演算プログラム
JP2020171023A (ja) * 2016-03-18 2020-10-15 株式会社半導体エネルギー研究所 電子機器および撮像装置
US11330213B2 (en) 2016-03-18 2022-05-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device and electronic device
JP2021506203A (ja) * 2017-12-11 2021-02-18 プロフェシーProphesee イベントベースの画像センサおよびその操作方法
JP7242697B2 (ja) 2017-12-11 2023-03-20 プロフェシー イベントベースの画像センサおよびその操作方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20050178951A1 (en) 2005-08-18
US20050097152A1 (en) 2005-05-05
US7119318B2 (en) 2006-10-10
US6881940B1 (en) 2005-04-19
US6982404B2 (en) 2006-01-03
JP4265038B2 (ja) 2009-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11457168B2 (en) Image sensor and image capturing apparatus
US6982404B2 (en) Image processing apparatus and method
JP5778931B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP6275334B2 (ja) 赤外線撮像装置及び固定パターンノイズデータの更新方法
JP2010074243A (ja) 固体撮像装置、撮像装置
JP7310606B2 (ja) 二次元フリッカ測定装置及び二次元フリッカ測定方法
WO2003000136A1 (en) X-ray image diagnosing device, and x-ray image data correcting method
JP2001045381A (ja) 画像処理装置および方法、並びに媒体
JP2021044623A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP2006319826A (ja) 固体撮像装置
JP2016058877A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP2009077047A (ja) 電子カメラ
JP4090984B2 (ja) デジタルカメラ及び固体撮像装置
JPH0628399B2 (ja) カメラにおける自動追尾装置
JP2009060589A (ja) 撮像装置
CN114599999A (zh) 移动量估计装置、移动量估计方法、移动量估计程序以及移动量估计系统
JP4337281B2 (ja) 撮像装置及び3次元形状計測装置
RU87854U1 (ru) Устройство формирования изображения
JP3261004B2 (ja) シェーディング補正方式
JP3757573B2 (ja) 振れ補正機能付きカメラ
KR100892416B1 (ko) 스테레오 카메라를 구비한 네트워크 기반 지능형 서비스로봇의 영상 출력 장치
JPH09152377A (ja) 赤外線撮像装置
JPH10333022A (ja) 焦点検出装置
JPH07255014A (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP2007104270A (ja) 信号処理ユニット、及びデジタルカメラ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060310

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081024

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081030

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090105

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090127

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090209

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120227

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130227

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees