JP2001013222A - 波形生成回路 - Google Patents

波形生成回路

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JP2001013222A
JP2001013222A JP11184350A JP18435099A JP2001013222A JP 2001013222 A JP2001013222 A JP 2001013222A JP 11184350 A JP11184350 A JP 11184350A JP 18435099 A JP18435099 A JP 18435099A JP 2001013222 A JP2001013222 A JP 2001013222A
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JP11184350A
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Tadashi Oishi
正 大石
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Ando Electric Co Ltd
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Ando Electric Co Ltd
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Publication date
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/263Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 出力データとして生成される波形の種類を増
やすと共に、波形の有効利用を図る。 【解決手段】 本発明の波形生成回路はデータセレクタ
(105)と、エッジセレクタ(107、109)とを
含む。データセレクタ(105)は、ビット数が等しい
2つのデータを入力データ(111,113)として入
力し、入力された2つのデータの総ビット数(2N)を
設定値(α)に基づいて2分する。エッジセレクタ(1
07)は、タイミングエッジ(117)に応答して、上
記2分された総ビット数の一方である第1データ(11
5)に対応する波形を出力波形(119)として生成す
る。エッジセレクタ(109)は、タイミングエッジ
(123)に応答して上記2分された総ビット数の他方
である第2データ(121)に対応する波形を出力波形
(125)として生成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は波形生成回路に関
し、特に半導体集積回路のテスタ等に適用され、データ
メモリの格納情報を利用して複数種類の波形を生成する
回路に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路のテスタ等の分野では、
テスト用の波形が必要とされる。この分野では複数種類
のテスト用波形が生成されることが要求される。
【0003】図3は、公知技術としての波形生成回路を
示すブロック構成図である。波形生成回路はパターンメ
モリ(データメモリ)201,203と、エッジセレク
タ205,209とにより構成される。従来の回路構成
では、各パターンメモリ(201,203)の各々に格
納されるデータのデータ幅(Nビット)で表現可能な種
類(2のN乗)の波形が生成される。
【0004】パターンメモリ201及び203は、Nビ
ットのデータを格納する。エッジセレクタ205及び2
09は、Nビットのデータ幅を有するデータ202及び
204を入力する。エッジセレクタ205、エッジセレ
クタ209は、タイミングエッジ207、タイミングエ
ッジ211に応答して各エッジを選択し、2のN乗種類
の波形を出力データ213、出力データ215として各
々生成する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記データ幅(Nビッ
ト)で表現可能な種類以上の波形を生成しようとする場
合、例えば図3に示される波形合成回路219を更に設
け、波形合成することで波形種類を増やすことができ
る。波形合成回路219はORゲート回路として機能し、
出力波形213と出力波形215との論理和に基づいて
出力波形217が生成される。この場合、出力波形21
5のバリエーションは出力波形217のバリエーション
に含まれるため、出力波形217と出力波形215とを
別々に利用できない。
【0006】例えば、集積回路における複数のピンに波
形が供給される場合、多数ビットの波形の供給が求めら
れるピンと、少数ビットの波形の供給で良いピンとがあ
ることが、回路設計者側で予め認識されている場合があ
る。従って、多数ビットがエッジセレクタに入力され、
多数ビットに対応する波形バリエーションが増える一方
で、少数ビットに対応する波形も生成され、利用される
ことが望まれる。
【0007】本発明の目的は、データメモリのデータ幅
に依存せずに、出力波形の種類を増やすことが可能な波
形生成回路を提供する事にある。又、本発明の他の目的
は、2つの出力データのうち、一方から生成される波形
の種類を増加すると共に、他方から生成される波形が上
記一方の波形のバリエーションに含まれず、波形の有効
利用を可能にする波形生成回路を提供する事にある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する為に
本発明の波形生成回路は、複数のデータメモリ(10
1,103)の各々に格納されたNビットデータ(11
1,113)に応答して、各々のNビットデータによる
総ビット数(2N)を不均一に振分ける手段(105)
と、不均一に振分けられた総ビット数のデータ(11
5,121)に基づいて波形を生成する手段(107,
109)とを備える事を特徴とする。
【0009】又、本発明の他の観点において本発明の波
形生成回路は分割部(105)と、第1波形部(10
7)及び第2波形部(109)とを含む。分割部(10
5)は、ビット数が等しい2つのデータを入力し、入力
された2つのデータ(111,113)の総ビット数
(2N)を設定値(α)に基づいて2分する。第1波形
部(107)は、第1エッジ信号(117)に応答して
上記2分された総ビット数の一方のデータ(115)を
第1波形(119)として生成する。第2波形部(10
9)は、第2エッジ信号(123)に応答して上記2分
された総ビット数の他方のデータ(121)を第2波形
(125)として生成する。
【0010】この場合、上記設定値(α)の絶対値は、
入力された2つのデータの各ビット数(N)以下の整数
に設定される(|α|≦N)。又、上記総ビット数(2
N)は、上記2分された総ビット数の各々が設定値
(α)に関して相対的(N+α,N−α)となる様に2
分される。
【0011】上記構成とすることにより、2つの出力デ
ータの一方の波形の種類を増やすと共に、他方の波形も
利用できる。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を添付図面と
対応して詳細に説明する。図1は、本発明の実施の形態
に係る波形生成回路を示すブロック構成図である。図1
に示される様に波形生成回路はパターンメモリ101,
103と、データセレクタ105と、エッジセレクタ1
07,109とにより構成される。
【0013】パターンメモリ(データメモリ)101,
103の各々にはどの様な波形を生成すべきかを決める
データが格納される。パターンメモリ101、103に
格納されたデータは、固定長Nビットのデータ幅を有す
る。
【0014】データセレクタ105は、パターンメモリ
101,103の各々に格納されたデータを入力データ
111、113として入力する。データセレクタ105
には、設定値として(α)が設定される。設定値αは、
入力データ111,113のデータ幅(Nビット)以下
の正数として設定される。或いは設定値αの絶対値は、
入力データ111,113のデータ幅以下の整数値に設
定される。
【0015】データセレクタ105は、入力データ11
1,113の総ビット数(2N)を、データメモリ(エ
ッジセレクタ)の数だけ不均一に分割する。本実施の形
態では、2分された総ビット数は、設定値αに関して相
対的となる。即ち各入力データ幅Nは、設定値αに基づ
いて互いにデータ幅が離れ、N+αとN−αとになる。
【0016】エッジセレクタ107は、2分された一方
のデータ(N+αビット)を示す第1データ115を入
力する。タイミングエッジ117は、X本のエッジトリ
ガを含む。エッジセレクタ107には、第1データ11
5に対応する波形が予め対応付けされており、タイミン
グエッジ117に含まれるエッジトリガを選択的に入力
して波形の生成を行う。
【0017】エッジセレクタ107は、その出力段にR
Sフリップフロップ回路を含む。X本のエッジトリガ
が、RSフリップフロップ回路のセット端子及びリセッ
ト端子に選択的に入力される様に予め割当てられる事に
より、第1データ115に予め対応付けされた波形が生
成される。
【0018】従って、第1データ115が(N+α)ビ
ットである場合、エッジセレクタ107は、タイミング
エッジ117に応答して2の(N+α)乗種類の出力波
形(出力データ)119を生成できる。
【0019】同様に、エッジセレクタ109は、2分さ
れた他方のデータ(N−αビット)を示す第2データ1
21を入力する。タイミングエッジ123は、X本のエ
ッジトリガを含む。エッジセレクタ109には、第2デ
ータ121に対応する波形が予め対応付けされており、
タイミングエッジ123に含まれるエッジトリガを選択
的に入力して波形の生成を行う。
【0020】エッジセレクタ109は、その出力段にR
Sフリップフロップ回路を含む。X本のエッジトリガ
が、RSフリップフロップ回路のセット端子及びリセッ
ト端子に選択的に入力される様に予め割当てられる事に
より、第2データ121に予め対応付けされた波形が生
成される。
【0021】従って、第2データ121が(N−α)ビ
ットである場合、エッジセレクタ109は、タイミング
エッジ123に応答して2の(N−α)乗種類の出力波
形(出力データ)125を生成できる。この出力波形1
25は出力波形119のバリエーションに含まれない。
【0022】本実施の形態に係る波形生成回路の動作を
示す。具体例として、入力ビット数N=3、設定値α=
1の場合を示す。例えば、パターンメモリ101から3
ビットデータとして“110”がデータセレクタ105
に入力される。一方パターンメモリ103から3ビット
データとして“010”がデータセレクタ105に入力
される。
【0023】データセレクタ105は、パターンメモリ
101及び103から入力された3ビットデータをマー
ジし、総ビット数(3+3ビット)のデータ“1100
10”を4ビットの第1データ115(“1100”)
と2ビットの第2データ121(“10”)とに2分す
る。
【0024】尚、本実施の形態において、2つの入力デ
ータ“110”と“010”は、単に“110+01
0”の様に上位3ビットと下位3ビットとしてマージさ
れるが、マージする方法は本発明を限定しない。例えば
“1(0)1(1)0(0)”の様に2つの入力データ
を1ビット毎に交互にマージしても良い。又、本実施の
形態において、総ビット数のデータ“110010”
は、単に上位4ビット“1100”と下位2ビット“1
0”に分割されるが、総ビット数を不均一に2分する際
のビット桁の取り方は本発明を限定しない。
【0025】図2は、エッジセレクタ107の動作を示
す図である。図2(A)は、タイミングエッジ117が
エッジセレクタ107に入力される様子が示される。こ
のタイミングエッジ117において、4本のエッジトリ
ガが時間T1、T2、T3及びT4に発生される。エッ
ジセレクタ107は、タイミングエッジ117に応答し
て、第1データ115“1100”に予め対応付けられ
た波形を生成する。
【0026】図2(B)は、エッジセレクタ107の波
形生成のタイミングを示す図である。4ビットの第1デ
ータ115が入力された場合、エッジセレクタ107が
生成できる波形のバリエーションは16種類(0000
〜1111)である。
【0027】上述された様に、エッジセレクタ107の
出力段にはRSフリップフロップ回路が設けられてお
り、4ビットデータの組合わせと、波形のバリエーショ
ンとが図2(B)に示される様に予め対応づけられてい
る。本具体例では、第1データ115“1100”には
その右側に示される波形が予め対応付けられる。
【0028】即ち、エッジセレクタ107は、第1デー
タ115“1100”に対応する波形を生成する為に、
時間T2のエッジトリガをRSフリップフロップ回路の
セット端子に入力し、時間T3のエッジトリガをリセッ
ト端子に入力する。更に、時間T4のエッジトリガをセ
ット端子に入力する。以上により、第1データ115
“1100”に予め対応づけされた波形が生成される。
【0029】同様に、エッジセレクタ109はタイミン
グエッジ123に応答して第2データ121“10”に
予め対応付けられた出力波形125を生成する。エッジ
セレクタ109には、2ビットデータの組合わせと、波
形のバリエーションとが予め対応付けられている。この
場合、エッジセレクタ109は、第2データ121“1
0”に対応付けされた波形が生成される様に、その出力
段に設けられたRSフリップフロップ回路のリセット端
子及びセット端子の各々にタイミングエッジ123含ま
れるエッジトリガを選択的に入力する。
【0030】尚、本発明において設定値αは予め設定し
ても良いし、リアルタイムで変更しても良い。リアルタ
イムで変更する場合、出力データ(119、125)を
モニタ等で監視しながら、制御部(図示せず)により入
力データ(111、113)とのタイミングを考慮して
データセレクタ105の設定値を変更する。
【0031】又、本実施形態においてエッジセレクタ1
07(109)の出力段にはRSフリップフロップ回路
が適用されるが本発明を限定するものではなく、複数ビ
ットのデータに予め対応付けられた波形(図2(B)参
照)が生成される様にエッジトリガを選択的に入力する
回路であれば良い。
【0032】
【発明の効果】本発明による波形生成回路は、入力デー
タの総ビット数を不均一に振分けるデータセレクタを複
数のデータメモリとこれらの各々に対応するエッジセレ
クタとの間に設ける。従って、生成される波形の種類を
増やしつつ、波形の有効活用が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の波形生成回路を示すブロック構成図
である。
【図2】 本発明の波形生成回路の動作の一部を示すタ
イミングチャート図である。
【図3】 公知技術である波形生成回路を示すブロック
構成図である。
【符号の説明】
101,103,201,203:データメモリ(パタ
ーンメモリ) 105 :データセレクタ 107,109,205,209:エッジセレクタ 219 :波形合成回路 111,113,202,204:入力データ 115 :第1データ 121 :第2データ 117,123,207,211:タイミングエッジ 119,125 :出力データ(出力波
形)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のデータメモリの各々に格納された
    Nビットデータに応答して、前記各々のNビットデータ
    による総ビット数を不均一に振分ける手段と、 前記不均一に振分けられた総ビット数のデータに基づい
    て波形を生成する手段と、を備える事を特徴とする波形
    生成回路。
  2. 【請求項2】 ビット数が等しい2つのデータを入力
    し、前記入力された2つのデータの総ビット数を設定値
    に基づいて2分する分割部と、 第1エッジ信号に応答して、前記2分された総ビット数
    の一方のデータを第1波形として生成する第1波形部
    と、 第2エッジ信号に応答して、前記2分された総ビット数
    の他方のデータを第2波形として生成する第2波形部と
    を備えることを特徴とする波形生成回路。
  3. 【請求項3】 前記総ビット数は、前記2分された総ビ
    ット数の各々が前記設定値に関して相対的となる様に2
    分されることを特徴とする請求項2記載の波形生成回
    路。
  4. 【請求項4】 前記設定値の絶対値は、前記ビット数以
    下の整数であることを特徴とする請求項2又は3記載の
    波形生成回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03119831A (ja) * 1989-10-02 1991-05-22 Mitsubishi Electric Corp データ伝送用信号発生器
JPH04218785A (ja) * 1990-12-19 1992-08-10 Advantest Corp Ic試験装置
US5182558A (en) * 1991-10-25 1993-01-26 Halliburton Geophysical Services, Inc. System for generating correction signals for use in forming low distortion analog signals
US5859605A (en) * 1997-01-24 1999-01-12 Hughes Electronics Corporation Digital waveform generator and method for synthesizing periodic analog waveforms using table readout of simulated Δ- Σ analog-to-digital conversion data

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