JP2000333936A - Ｘ線撮影装置 - Google Patents
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 表示画像に生じるカンタムノイズを低減させ
ることが可能な技術を提供すること。 【解決手段】 被検体にＸ線ビームを照射するＸ線源の
照射面側に配置され、前記Ｘ線源から照射されるＸ線ビ
ームの一部を遮蔽し、照射視野範囲を制限するＸ線絞り
を有し、前記被検体を介して前記Ｘ線源に対向配置され
る撮像手段で前記被検体のＸ線像を撮像し表示させるＸ
線撮影装置において、前記Ｘ線絞りの照射視野情報に基
づいて、前記Ｘ線像中の絞り位置に該当する遮蔽領域を
所定の画素値に変換する変換手段を具備し、該遮蔽領域
を所定の画素値に変換したＸ線像を表示させる。
ることが可能な技術を提供すること。 【解決手段】 被検体にＸ線ビームを照射するＸ線源の
照射面側に配置され、前記Ｘ線源から照射されるＸ線ビ
ームの一部を遮蔽し、照射視野範囲を制限するＸ線絞り
を有し、前記被検体を介して前記Ｘ線源に対向配置され
る撮像手段で前記被検体のＸ線像を撮像し表示させるＸ
線撮影装置において、前記Ｘ線絞りの照射視野情報に基
づいて、前記Ｘ線像中の絞り位置に該当する遮蔽領域を
所定の画素値に変換する変換手段を具備し、該遮蔽領域
を所定の画素値に変換したＸ線像を表示させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線撮影装置に関
し、特に、Ｘ線照射時におけるにカンタムノイズの低減
に有効な技術に関するものである。
し、特に、Ｘ線照射時におけるにカンタムノイズの低減
に有効な技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のＸ線撮影装置は、Ｘ線源とＸ線検
出器とが対向配置されて撮像系が構成されていた。Ｘ線
検出器は、Ｘ線像を光学像に変換するＸ線Ｉ．Ｉ．（Ｘ
線イメージインテンシファイア）と、光学像を電気信号
すなわち画像信号に変換するテレビカメラとから構成さ
れていた。
出器とが対向配置されて撮像系が構成されていた。Ｘ線
検出器は、Ｘ線像を光学像に変換するＸ線Ｉ．Ｉ．（Ｘ
線イメージインテンシファイア）と、光学像を電気信号
すなわち画像信号に変換するテレビカメラとから構成さ
れていた。
【０００３】従来のＸ線撮影装置では、Ｘ線源から測定
対象に照射されたＸ線ビームは、まず、被測定対象を透
過した後にＸ線Ｉ．Ｉ．で光学像に変換されていた。Ｘ
線Ｉ．Ｉ．から出力された光学像は、テレビカメラでア
ナログの画像信号に変換されていた。この画像信号は、
Ａ／Ｄ変換器でデジタルの画像信号（画像データ）に変
換された後に、画像処理回路でフィルタ処理、輪郭強調
等の周知の画像処理が施されていた。画像処理後の画像
データは、Ｄ／Ａ変換器でアナログの画像信号に変換さ
れた後に、表示装置に出力されてＸ線像として表示され
ていた。
対象に照射されたＸ線ビームは、まず、被測定対象を透
過した後にＸ線Ｉ．Ｉ．で光学像に変換されていた。Ｘ
線Ｉ．Ｉ．から出力された光学像は、テレビカメラでア
ナログの画像信号に変換されていた。この画像信号は、
Ａ／Ｄ変換器でデジタルの画像信号（画像データ）に変
換された後に、画像処理回路でフィルタ処理、輪郭強調
等の周知の画像処理が施されていた。画像処理後の画像
データは、Ｄ／Ａ変換器でアナログの画像信号に変換さ
れた後に、表示装置に出力されてＸ線像として表示され
ていた。
【０００４】このとき、従来のＸ線撮影装置では、Ｘ線
源の前面すなわち照射面側にＸ線絞りと称されるＸ線ビ
ームの遮蔽機構が配置されていた。このＸ線絞りは、た
とえば、Ｘ線ビームの中心軸と直交するＸ軸及びＹ軸で
規定されるＸＹ平面すなわちＸ線照射面内におけるＸ軸
方向のＸ線ビームの広がりを規制する２枚の遮蔽板と、
Ｙ軸方向のＸ線ビームの広がりを規制する２枚の遮蔽板
とから構成されていた。
源の前面すなわち照射面側にＸ線絞りと称されるＸ線ビ
ームの遮蔽機構が配置されていた。このＸ線絞りは、た
とえば、Ｘ線ビームの中心軸と直交するＸ軸及びＹ軸で
規定されるＸＹ平面すなわちＸ線照射面内におけるＸ軸
方向のＸ線ビームの広がりを規制する２枚の遮蔽板と、
Ｙ軸方向のＸ線ビームの広がりを規制する２枚の遮蔽板
とから構成されていた。
【０００５】検者は、この４枚の遮蔽板の挿入位置を調
整することによって、Ｘ線ビームの広がりすなわち不必
要な個所へのＸ線の照射を抑制し、被測定対象の被曝量
を低減させていた。
整することによって、Ｘ線ビームの広がりすなわち不必
要な個所へのＸ線の照射を抑制し、被測定対象の被曝量
を低減させていた。
【０００６】従って、従来のＸ線撮影装置では、表示装
置に表示されるＸ線像は、Ｘ線絞りの４枚の遮蔽板で規
定された形状すなわちＸ線絞りから出射されるＸ線ビー
ム形状の部分と、Ｘ線絞りによってＸ線が遮蔽された部
分とが同一画面上に一体に表示されていた。
置に表示されるＸ線像は、Ｘ線絞りの４枚の遮蔽板で規
定された形状すなわちＸ線絞りから出射されるＸ線ビー
ム形状の部分と、Ｘ線絞りによってＸ線が遮蔽された部
分とが同一画面上に一体に表示されていた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明者は、前記従来
技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。
技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。
【０００８】従来のＸ線撮影装置では、前述するよう
に、Ｘ線源から照射されたＸ線ビームは、Ｘ線絞りの４
枚の遮蔽板によって広がりが抑えられた状態で被測定対
象に照射されていた。被測定対象を透過したＸ線ビーム
は、Ｘ線検出器でＸ線画像として撮影され、画像処理回
路での画像処理の後に、アナログ信号に変換されて表示
装置にそのまま表示されていた。
に、Ｘ線源から照射されたＸ線ビームは、Ｘ線絞りの４
枚の遮蔽板によって広がりが抑えられた状態で被測定対
象に照射されていた。被測定対象を透過したＸ線ビーム
は、Ｘ線検出器でＸ線画像として撮影され、画像処理回
路での画像処理の後に、アナログ信号に変換されて表示
装置にそのまま表示されていた。
【０００９】しかしながら、Ｘ線絞りによってＸ線ビー
ムが遮蔽された個所は、本来ならば信号変化レベルがな
いので黒色に表示されることとなるべきであるが、Ａ／
Ｄ変換に伴う量子化雑音によって、粒状に見える粒状雑
音が生じ、表示画像の画質すなわち視認性が低下してし
まうという問題があった。また、肺野部等の特にＸ線吸
収率の低い個所を撮影対象とした場合には、Ａ／Ｄ変換
に伴う量子化雑音であるエッジビジネスと称されるＸ線
絞りの縁の位置が変動しているように見えてしまうとい
う現象が生じ、表示画像の視認性がさらに低下してしま
うという問題があった。
ムが遮蔽された個所は、本来ならば信号変化レベルがな
いので黒色に表示されることとなるべきであるが、Ａ／
Ｄ変換に伴う量子化雑音によって、粒状に見える粒状雑
音が生じ、表示画像の画質すなわち視認性が低下してし
まうという問題があった。また、肺野部等の特にＸ線吸
収率の低い個所を撮影対象とした場合には、Ａ／Ｄ変換
に伴う量子化雑音であるエッジビジネスと称されるＸ線
絞りの縁の位置が変動しているように見えてしまうとい
う現象が生じ、表示画像の視認性がさらに低下してしま
うという問題があった。
【００１０】なお、以下の説明では、Ａ／Ｄ変換（量子
化）に伴う雑音を総称して「カンタムノイズ」と記す。
化）に伴う雑音を総称して「カンタムノイズ」と記す。
【００１１】本発明の目的は、表示画像に生じるカンタ
ムノイズを低減させることが可能な技術を提供すること
にある。
ムノイズを低減させることが可能な技術を提供すること
にある。
【００１２】本発明の他の目的は、診断効率を向上させ
ることが可能な技術を提供することにある。
ることが可能な技術を提供することにある。
【００１３】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【００１５】（１）被検体にＸ線ビームを照射するＸ線
源の照射面側に配置され、前記Ｘ線源から照射されるＸ
線ビームの一部を遮蔽し、照射視野範囲を制限するＸ線
絞りを有し、前記被検体を介して前記Ｘ線源に対向配置
される撮像手段で前記被検体のＸ線像を撮像し表示させ
るＸ線撮影装置において、前記Ｘ線絞りの照射視野情報
に基づいて、前記Ｘ線像中の絞り位置に該当する遮蔽領
域を所定の画素値に変換する変換手段を具備し、該遮蔽
領域を所定の画素値に変換したＸ線像を表示させる。
源の照射面側に配置され、前記Ｘ線源から照射されるＸ
線ビームの一部を遮蔽し、照射視野範囲を制限するＸ線
絞りを有し、前記被検体を介して前記Ｘ線源に対向配置
される撮像手段で前記被検体のＸ線像を撮像し表示させ
るＸ線撮影装置において、前記Ｘ線絞りの照射視野情報
に基づいて、前記Ｘ線像中の絞り位置に該当する遮蔽領
域を所定の画素値に変換する変換手段を具備し、該遮蔽
領域を所定の画素値に変換したＸ線像を表示させる。
【００１６】（２）前述した（１）に記載のＸ線撮影装
置において、前記撮像手段で撮像したＸ線像をデジタル
画像に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該デジタル画像に変
換されたＸ線像に対して補正処理を行う補正手段と、該
補正処理後のＸ線像をアナログのＸ線像に変換するＤ／
Ａ変換手段とを具備し、前記変換手段はＡ／Ｄ変換後の
デジタル画像に対して、前記遮蔽領域を所定の画素値に
変換する手段からなる。
置において、前記撮像手段で撮像したＸ線像をデジタル
画像に変換するＡ／Ｄ変換手段と、該デジタル画像に変
換されたＸ線像に対して補正処理を行う補正手段と、該
補正処理後のＸ線像をアナログのＸ線像に変換するＤ／
Ａ変換手段とを具備し、前記変換手段はＡ／Ｄ変換後の
デジタル画像に対して、前記遮蔽領域を所定の画素値に
変換する手段からなる。
【００１７】（３）前述した（１）もしくは（２）に記
載のＸ線撮影装置において、前記変換手段は、前記Ｘ線
絞りの照射視野に対するＸ線像中における遮蔽領域の大
きさを格納するテーブルを具備し、前記Ｘ線絞りの照射
視野に基づいて前記テーブルを検索し、前記Ｘ線像中の
絞り位置に該当する遮蔽領域を所定の画素値に変換す
る。
載のＸ線撮影装置において、前記変換手段は、前記Ｘ線
絞りの照射視野に対するＸ線像中における遮蔽領域の大
きさを格納するテーブルを具備し、前記Ｘ線絞りの照射
視野に基づいて前記テーブルを検索し、前記Ｘ線像中の
絞り位置に該当する遮蔽領域を所定の画素値に変換す
る。
【００１８】前述した（１）〜（３）の手段によれば、
Ｘ線絞りの照射視野情報に基づいて、Ｘ線像中の絞り位
置に該当する遮蔽領域を所定の画像でマスクした画像を
Ｘ線像すなわち表示画像として表示するので、Ｘ線絞り
の遮蔽部分に生じた変換前のＸ線像のカンタムノイズを
容易に除去することができる。従って、表示画像の画質
を向上させることができる。
Ｘ線絞りの照射視野情報に基づいて、Ｘ線像中の絞り位
置に該当する遮蔽領域を所定の画像でマスクした画像を
Ｘ線像すなわち表示画像として表示するので、Ｘ線絞り
の遮蔽部分に生じた変換前のＸ線像のカンタムノイズを
容易に除去することができる。従って、表示画像の画質
を向上させることができる。
【００１９】その結果、医師等によるＸ線画像を用いた
診断効率を向上することができる。
診断効率を向上することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、本発明について、発明の実
施の形態（実施例）とともに図面を参照して詳細に説明
する。
施の形態（実施例）とともに図面を参照して詳細に説明
する。
【００２１】なお、発明の実施の形態を説明するための
全図において、同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。
全図において、同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。
【００２２】図１は本発明の一実施の形態のＸ線撮影装
置の概略構成を説明するための図であり、１はＸ線管球
（Ｘ線源）、２はテーブル、３は被検体、４はＸ線イメ
ージインテンシファイア（Ｘ線Ｉ．Ｉ．）、５はディス
トリビュータ、６はテレビカメラ、７はＡ／Ｄ変換器、
８は演算器、９は第一の画像メモリ、１０は表示階調調
整部、１１は表示用メモリ、１２はＤ／Ａ変換器、１３
はモニタ、１４は操作卓、１５はＸ線制御装置、１６は
Ｘ線絞り、１７はコントローラ、１８はマスク位置制御
手段、１９は第二の画像メモリ、２０は画像加算手段を
示す。ただし、マスク位置制御手段１８、第二の画像メ
モリ１９、画像加算手段２０及びＸ線絞り１６を除く他
の構成は、従来と同様の構成となるので、その詳細な説
明は省略する。また、本実施の形態のＸ線撮影装置で
は、マスク位置制御手段１８と画像加算手段２０とで変
換手段を構成する。
置の概略構成を説明するための図であり、１はＸ線管球
（Ｘ線源）、２はテーブル、３は被検体、４はＸ線イメ
ージインテンシファイア（Ｘ線Ｉ．Ｉ．）、５はディス
トリビュータ、６はテレビカメラ、７はＡ／Ｄ変換器、
８は演算器、９は第一の画像メモリ、１０は表示階調調
整部、１１は表示用メモリ、１２はＤ／Ａ変換器、１３
はモニタ、１４は操作卓、１５はＸ線制御装置、１６は
Ｘ線絞り、１７はコントローラ、１８はマスク位置制御
手段、１９は第二の画像メモリ、２０は画像加算手段を
示す。ただし、マスク位置制御手段１８、第二の画像メ
モリ１９、画像加算手段２０及びＸ線絞り１６を除く他
の構成は、従来と同様の構成となるので、その詳細な説
明は省略する。また、本実施の形態のＸ線撮影装置で
は、マスク位置制御手段１８と画像加算手段２０とで変
換手段を構成する。
【００２３】図１において、Ｘ線絞り１６は、たとえ
ば、Ｘ線管球１から照射されるＸ線ビームの中心軸と垂
直をなすＸ軸及びＹ軸方向のＸ線ビームの広がり（照射
視野）を規制するための４枚の遮蔽板（Ｘ軸方向及びＹ
軸方向にそれぞれ２枚ずつで構成される）と、該遮蔽板
を指示位置に移動させる周知の移動機構と、各遮蔽板の
位置を検出するための周知の位置検出器とから構成され
る。すなわち、本実施の形態では、Ｘ線制御装置１５か
らの制御出力に基づいて移動機構が遮蔽板位置を移動さ
せる。このとき、遮蔽板の移動に伴って位置検出器から
遮蔽板の位置情報がＸ線制御装置１５に出力される。従
って、Ｘ線制御装置１５は各遮蔽板に配置される位置検
出器からの位置情報に基づいて、移動機構を駆動するこ
とによって、各遮蔽板の位置を制御し、操作卓１４から
入力されたＸ線条件にあったＸ線ビームの広がりを制御
する。
ば、Ｘ線管球１から照射されるＸ線ビームの中心軸と垂
直をなすＸ軸及びＹ軸方向のＸ線ビームの広がり（照射
視野）を規制するための４枚の遮蔽板（Ｘ軸方向及びＹ
軸方向にそれぞれ２枚ずつで構成される）と、該遮蔽板
を指示位置に移動させる周知の移動機構と、各遮蔽板の
位置を検出するための周知の位置検出器とから構成され
る。すなわち、本実施の形態では、Ｘ線制御装置１５か
らの制御出力に基づいて移動機構が遮蔽板位置を移動さ
せる。このとき、遮蔽板の移動に伴って位置検出器から
遮蔽板の位置情報がＸ線制御装置１５に出力される。従
って、Ｘ線制御装置１５は各遮蔽板に配置される位置検
出器からの位置情報に基づいて、移動機構を駆動するこ
とによって、各遮蔽板の位置を制御し、操作卓１４から
入力されたＸ線条件にあったＸ線ビームの広がりを制御
する。
【００２４】マスク位置制御手段１８は、Ｘ線絞り１６
を構成する４枚の遮蔽板位置と撮影画像上におけるＸ線
ビームの遮蔽位置（遮蔽マスク位置）との関係を格納す
るテーブルと、コントローラ１７を介して入力されるＸ
線絞り１６の位置情報すなわち各遮蔽板の位置情報に基
づいて、撮影画像に加算する遮蔽マスク（マスク画像）
を生成するマスク画像生成手段とからなる。従って、本
実施の形態では、マスク位置制御手段１８は、本実施の
形態のＸ線撮影装置を構成する情報処理装置上で動作す
るマスク画像生成プログラムと、該情報処理装置が有す
る磁気ディスク装置等に格納されるテーブルとから構成
可能である。ただし、テーブルの詳細については、後述
する。
を構成する４枚の遮蔽板位置と撮影画像上におけるＸ線
ビームの遮蔽位置（遮蔽マスク位置）との関係を格納す
るテーブルと、コントローラ１７を介して入力されるＸ
線絞り１６の位置情報すなわち各遮蔽板の位置情報に基
づいて、撮影画像に加算する遮蔽マスク（マスク画像）
を生成するマスク画像生成手段とからなる。従って、本
実施の形態では、マスク位置制御手段１８は、本実施の
形態のＸ線撮影装置を構成する情報処理装置上で動作す
るマスク画像生成プログラムと、該情報処理装置が有す
る磁気ディスク装置等に格納されるテーブルとから構成
可能である。ただし、テーブルの詳細については、後述
する。
【００２５】第二の画像メモリ１９は、本実施の形態の
Ｘ線撮影装置を構成する情報処理装置が有する主メモリ
上に確保された周知の画像メモリであり、マスク位置制
御手段１８で生成されたマスク画像を一時的に格納す
る。第二の画像メモリ１９に格納されたマスク画像は、
画像加算手段２０からの読み出し信号に基づいて、順次
読み出される。
Ｘ線撮影装置を構成する情報処理装置が有する主メモリ
上に確保された周知の画像メモリであり、マスク位置制
御手段１８で生成されたマスク画像を一時的に格納す
る。第二の画像メモリ１９に格納されたマスク画像は、
画像加算手段２０からの読み出し信号に基づいて、順次
読み出される。
【００２６】画像加算手段２０は、表示用メモリ１１に
格納されるＸ線画像と、第二の画像メモリ１９に格納さ
れるマスク画像とを加算する周知の加算手段であり、加
算後の画像を表示画像として、Ｄ／Ａ変換器１２に出力
する。
格納されるＸ線画像と、第二の画像メモリ１９に格納さ
れるマスク画像とを加算する周知の加算手段であり、加
算後の画像を表示画像として、Ｄ／Ａ変換器１２に出力
する。
【００２７】ただし、本実施の形態のＸ線撮影装置で
は、Ｘ線管球１、Ｘ線絞り１６、Ｘ線Ｉ．Ｉ．４、ディ
ストリビュータ５、テレビカメラ６及びＡ／Ｄ変換器７
によって撮影系が構成される。また、演算器８、画像メ
モリ９、階調調整部１０及び表示用メモリ１１によっ
て、画像処理回路が構成される。 （全体構成及び動作）次に、図１に基づいて本実施の形
態のＸ線撮影装置の動作を説明する。
は、Ｘ線管球１、Ｘ線絞り１６、Ｘ線Ｉ．Ｉ．４、ディ
ストリビュータ５、テレビカメラ６及びＡ／Ｄ変換器７
によって撮影系が構成される。また、演算器８、画像メ
モリ９、階調調整部１０及び表示用メモリ１１によっ
て、画像処理回路が構成される。 （全体構成及び動作）次に、図１に基づいて本実施の形
態のＸ線撮影装置の動作を説明する。
【００２８】本実施の形態のＸ線撮影装置の撮影動作の
開始は、操作卓１４からの撮影開始指示であり、操作卓
１４から入力された撮影条件に基づいて、当該操作卓１
４から各部の動作を制御するコントローラ１７に制御信
号が出力される。
開始は、操作卓１４からの撮影開始指示であり、操作卓
１４から入力された撮影条件に基づいて、当該操作卓１
４から各部の動作を制御するコントローラ１７に制御信
号が出力される。
【００２９】コントローラ１７は、制御信号に基づい
て、Ｘ線制御装置１５を制御してＸ線絞り１６の４枚の
遮蔽板位置を指示された位置に移動させる。このとき、
コントローラ１７はマスク位置制御手段１８にもＸ線絞
り１６の各遮蔽板の位置情報を出力する。
て、Ｘ線制御装置１５を制御してＸ線絞り１６の４枚の
遮蔽板位置を指示された位置に移動させる。このとき、
コントローラ１７はマスク位置制御手段１８にもＸ線絞
り１６の各遮蔽板の位置情報を出力する。
【００３０】次に、コントローラ１７は、Ｘ線管球１に
所定の管電圧及び管電流を供給する。このとき、Ｘ線管
球１は、管電圧及び管電流に応じた波長及び出力のＸ線
を発生し、前面すなわち照射面側からＸ線ビームとして
照射する。
所定の管電圧及び管電流を供給する。このとき、Ｘ線管
球１は、管電圧及び管電流に応じた波長及び出力のＸ線
を発生し、前面すなわち照射面側からＸ線ビームとして
照射する。
【００３１】Ｘ線管球１から照射されたＸ線ビームは、
前面に配置されたＸ線絞り１６によってＸ線照射視野が
制限され、テーブル２を透過した後に被検体３に照射さ
れる。被検体３を透過したＸ線（透過Ｘ線像）は、Ｘ線
Ｉ．Ｉ．４に入射し光学像に変換される。
前面に配置されたＸ線絞り１６によってＸ線照射視野が
制限され、テーブル２を透過した後に被検体３に照射さ
れる。被検体３を透過したＸ線（透過Ｘ線像）は、Ｘ線
Ｉ．Ｉ．４に入射し光学像に変換される。
【００３２】Ｘ線Ｉ．Ｉ．４から出力された光学像は、
出力面側に配置されたディストリビュータで集光された
後に、テレビカメラ６に入射される。テレビカメラ６
は、入射された光学像をアナログの電気信号の変化すな
わちアナログのＸ線画像に変換し、Ａ／Ｄ変換器７に出
力する。
出力面側に配置されたディストリビュータで集光された
後に、テレビカメラ６に入射される。テレビカメラ６
は、入射された光学像をアナログの電気信号の変化すな
わちアナログのＸ線画像に変換し、Ａ／Ｄ変換器７に出
力する。
【００３３】Ａ／Ｄ変換器７は、テレビカメラ６から出
力されるアナログの電気信号を順次デジタル信号に変換
し、演算器８に出力する。
力されるアナログの電気信号を順次デジタル信号に変換
し、演算器８に出力する。
【００３４】実施の形態１の演算器８は、周知のフィル
タ処理及び輪郭強調等を行う画像処理回路として機能す
る。従って、演算器８は、入力されたデジタルのＸ線画
像であるＸ線画像データに対して、操作卓１４から指示
されたフィルタ処理及び輪郭強調等を行い、得られたＸ
線画像データを第一の画像メモリ９に一旦格納する。
タ処理及び輪郭強調等を行う画像処理回路として機能す
る。従って、演算器８は、入力されたデジタルのＸ線画
像であるＸ線画像データに対して、操作卓１４から指示
されたフィルタ処理及び輪郭強調等を行い、得られたＸ
線画像データを第一の画像メモリ９に一旦格納する。
【００３５】第一の画像メモリ９に格納されたＸ線画像
データは、モニタ１３の表示周期で読み出された後に、
表示階調調整部１０に出力される。表示階調調整部１０
は、読み出したＸ線画像データに対して、操作卓１４で
指示された明るさ調整とコントラスト調整とを行う。表
示階調調整部１０から出力されたＸ線画像データは、表
示用メモリ１１に一旦格納される。表示用メモリ１１
は、撮影画像の撮影周期とモニタ１３の表示周期との調
整を行うと共に、表示に必要となる１枚分のＸ線画像デ
ータの格納及び出力を行う。
データは、モニタ１３の表示周期で読み出された後に、
表示階調調整部１０に出力される。表示階調調整部１０
は、読み出したＸ線画像データに対して、操作卓１４で
指示された明るさ調整とコントラスト調整とを行う。表
示階調調整部１０から出力されたＸ線画像データは、表
示用メモリ１１に一旦格納される。表示用メモリ１１
は、撮影画像の撮影周期とモニタ１３の表示周期との調
整を行うと共に、表示に必要となる１枚分のＸ線画像デ
ータの格納及び出力を行う。
【００３６】Ｘ線絞り１６の各遮蔽板の位置情報、使用
するＸ線Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード
等の情報がコントローラ１７から入力されたマスク位置
制御手段１８は、図示しないテーブルから使用するＸ線
Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード等の条件
に合致するテーブルデータを選択する。次に、マスク位
置制御手段１８は、選択されたテーブルデータに基づい
て、撮影画像に加算するブラックマスクの幅Ｒすなわち
撮影画像の端部からＸ線絞り１６の各遮蔽板の縁部まで
の距離Ｒを推定する。この後、マスク位置制御手段１８
は、推定された縁部までの距離Ｒすなわち遮蔽領域の情
報に基づいて、撮影画像すなわち表示用メモリ１１に格
納されるＸ線画像データに加算するためのマスク画像を
生成する。マスク位置制御手段１８は、生成したマスク
画像を、一旦、第二の画像メモリ１９に格納する。ただ
し、マスク位置制御手段１８によるマスク画像は、表示
用メモリに格納される画素値をＸ線絞り１６の遮蔽板に
相当する部分では黒色表示の画素値に変換する値を有す
る画像データである。
するＸ線Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード
等の情報がコントローラ１７から入力されたマスク位置
制御手段１８は、図示しないテーブルから使用するＸ線
Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード等の条件
に合致するテーブルデータを選択する。次に、マスク位
置制御手段１８は、選択されたテーブルデータに基づい
て、撮影画像に加算するブラックマスクの幅Ｒすなわち
撮影画像の端部からＸ線絞り１６の各遮蔽板の縁部まで
の距離Ｒを推定する。この後、マスク位置制御手段１８
は、推定された縁部までの距離Ｒすなわち遮蔽領域の情
報に基づいて、撮影画像すなわち表示用メモリ１１に格
納されるＸ線画像データに加算するためのマスク画像を
生成する。マスク位置制御手段１８は、生成したマスク
画像を、一旦、第二の画像メモリ１９に格納する。ただ
し、マスク位置制御手段１８によるマスク画像は、表示
用メモリに格納される画素値をＸ線絞り１６の遮蔽板に
相当する部分では黒色表示の画素値に変換する値を有す
る画像データである。
【００３７】一方、本実施の形態では、マスク画像とＸ
線画像データとを画像加算器２０で加算することによっ
て、遮蔽板によってＸ線ビームが遮蔽された個所の画素
値を黒色表示の画素値に変換する必要がある。従って、
本実施の形態では、マスク位置制御手段１８が生成する
マスク画像は、マスク位置に相当する部分では負の画素
値を有し、その他の部分では、０（ゼロ）の画素値を有
する。
線画像データとを画像加算器２０で加算することによっ
て、遮蔽板によってＸ線ビームが遮蔽された個所の画素
値を黒色表示の画素値に変換する必要がある。従って、
本実施の形態では、マスク位置制御手段１８が生成する
マスク画像は、マスク位置に相当する部分では負の画素
値を有し、その他の部分では、０（ゼロ）の画素値を有
する。
【００３８】画像加算手段２０は、モニタ１３のフレー
ムレートで表示用メモリ１１からＸ線画像データを読み
出すと共に、第二の画像メモリ１９からブラックマスク
画像を読み出す。画像加算手段２０は、読み込んだＸ線
画像データとブラックマスク画像との画素値を各画素毎
に加算し、その結果を順次Ｄ／Ａ変換器１２に出力す
る。ただし、画像加算手段２０は、加算後の画素値が０
（ゼロ）以下となる個所の画素値は、０（ゼロ）に変換
した後に、Ｄ／Ａ変換器１２に出力する。
ムレートで表示用メモリ１１からＸ線画像データを読み
出すと共に、第二の画像メモリ１９からブラックマスク
画像を読み出す。画像加算手段２０は、読み込んだＸ線
画像データとブラックマスク画像との画素値を各画素毎
に加算し、その結果を順次Ｄ／Ａ変換器１２に出力す
る。ただし、画像加算手段２０は、加算後の画素値が０
（ゼロ）以下となる個所の画素値は、０（ゼロ）に変換
した後に、Ｄ／Ａ変換器１２に出力する。
【００３９】Ｄ／Ａ変換器１２では、入力された加算後
の画素値を順次アナログ信号レベルすなわちアナログの
Ｘ線画像である表示用のＸ線画像である表示画像に変換
し、モニタ１３の表示面上に表示させる。
の画素値を順次アナログ信号レベルすなわちアナログの
Ｘ線画像である表示用のＸ線画像である表示画像に変換
し、モニタ１３の表示面上に表示させる。
【００４０】図２は本実施の形態のＸ線撮影装置におけ
る表示画像の一例を示した図である。ただし、図２に示
す表示画像は、従来の表示画像の表示範囲と画像加算器
２０によって撮影画像上に加算されたマスク部分との位
置関係を明確に示すために、従来の表示画像範囲を白枠
で示す。
る表示画像の一例を示した図である。ただし、図２に示
す表示画像は、従来の表示画像の表示範囲と画像加算器
２０によって撮影画像上に加算されたマスク部分との位
置関係を明確に示すために、従来の表示画像範囲を白枠
で示す。
【００４１】図２の表示画像から明らかなように、本実
施の形態のＸ線撮影装置では、Ｘ線Ｉ．Ｉ．４、ディス
トリビュータ５及びテレビカメラ６で構成されたＸ線検
出器（撮像手段）の視野範囲の内で、Ｘ線ビームが遮蔽
された部分には、たとえば、視野の端部から距離Ｒまで
のマスク画像が挿入される。 （テーブルの構成）次に、図３に本実施の形態のテーブ
ルの概略構成を説明するための図を示し、以下、図３に
基づいて、本実施の形態のテーブルの構成について説明
する。
施の形態のＸ線撮影装置では、Ｘ線Ｉ．Ｉ．４、ディス
トリビュータ５及びテレビカメラ６で構成されたＸ線検
出器（撮像手段）の視野範囲の内で、Ｘ線ビームが遮蔽
された部分には、たとえば、視野の端部から距離Ｒまで
のマスク画像が挿入される。 （テーブルの構成）次に、図３に本実施の形態のテーブ
ルの概略構成を説明するための図を示し、以下、図３に
基づいて、本実施の形態のテーブルの構成について説明
する。
【００４２】図３に示すように、本実施の形態のテーブ
ル３０１は、絞りの位置とブラックマスクの横幅の関係
を示すもので、絞りの位置は図４のＬの幅であり、ブラ
ックマスクの横幅は図２のＲを表している。なお、本実
施の形態のＸ線撮影装置では、後述するように、Ｘ線絞
り１６の有する４枚の遮蔽板それぞれについて、各遮蔽
板の移動量とＸ線検出器で撮影されるＸ線像に投影され
る各遮蔽板の投影位置との関係を直線近似するための変
数ａ，ｂを格納することとしたが、これに限定されるこ
とはなく、二次元以上の曲線によって近似してもよいこ
とはいうまでもない。 （マスク画像の生成手順）次に、図３に基づいて、本実
施の形態のマスク位置制御手段１８におけるマスク画像
の生成手順を説明する。
ル３０１は、絞りの位置とブラックマスクの横幅の関係
を示すもので、絞りの位置は図４のＬの幅であり、ブラ
ックマスクの横幅は図２のＲを表している。なお、本実
施の形態のＸ線撮影装置では、後述するように、Ｘ線絞
り１６の有する４枚の遮蔽板それぞれについて、各遮蔽
板の移動量とＸ線検出器で撮影されるＸ線像に投影され
る各遮蔽板の投影位置との関係を直線近似するための変
数ａ，ｂを格納することとしたが、これに限定されるこ
とはなく、二次元以上の曲線によって近似してもよいこ
とはいうまでもない。 （マスク画像の生成手順）次に、図３に基づいて、本実
施の形態のマスク位置制御手段１８におけるマスク画像
の生成手順を説明する。
【００４３】まず、マスク画像生成手段は、コントロー
ラ１７から入力された使用するＸ線Ｉ．Ｉ．４の種別及
びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード等に基づいて、テーブル３０
１内を検索し、条件に合致するテーブルデータを選択す
る。
ラ１７から入力された使用するＸ線Ｉ．Ｉ．４の種別及
びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード等に基づいて、テーブル３０
１内を検索し、条件に合致するテーブルデータを選択す
る。
【００４４】次に、マスク画像生成手段は、選択したテ
ーブルデータに格納される変数ａ，ｂと、コントローラ
１７から入力された各遮蔽板の位置情報（移動距離）と
から、撮影画像上における各遮蔽板の辺縁部の位置、す
なわち、撮影画像の端部から各遮蔽板の辺縁部までの距
離に相当する距離Ｒを各遮蔽板毎に推定する。前述する
ように、テーブルデータに格納される変数ａ，ｂは、各
遮蔽板毎に異なることとなるので、各遮蔽板毎の変数
ａ，ｂがテーブルデータに格納されている。たとえば、
遮蔽板が４枚の場合には、テーブルデータに格納される
変数ａ，ｂは、それぞれ各遮蔽板に対応するａ1，ａ2，
ａ3，ａ4並びにｂ1，ｂ2，ｂ3，ｂ4からなる。
ーブルデータに格納される変数ａ，ｂと、コントローラ
１７から入力された各遮蔽板の位置情報（移動距離）と
から、撮影画像上における各遮蔽板の辺縁部の位置、す
なわち、撮影画像の端部から各遮蔽板の辺縁部までの距
離に相当する距離Ｒを各遮蔽板毎に推定する。前述する
ように、テーブルデータに格納される変数ａ，ｂは、各
遮蔽板毎に異なることとなるので、各遮蔽板毎の変数
ａ，ｂがテーブルデータに格納されている。たとえば、
遮蔽板が４枚の場合には、テーブルデータに格納される
変数ａ，ｂは、それぞれ各遮蔽板に対応するａ1，ａ2，
ａ3，ａ4並びにｂ1，ｂ2，ｂ3，ｂ4からなる。
【００４５】次に、マスク画像生成手段は、使用するＸ
線Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード等に基
づいて、Ｘ線検出器の撮影範囲を特定する。
線Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．Ｉ．４のモード等に基
づいて、Ｘ線検出器の撮影範囲を特定する。
【００４６】次に、マスク画像生成手段は、各遮蔽板に
対応する距離ＲとＸ線検出器の撮影範囲とからマスク画
像の領域を特定する。
対応する距離ＲとＸ線検出器の撮影範囲とからマスク画
像の領域を特定する。
【００４７】次に、マスク画像生成手段は、マスク画像
の領域内の画素値を負の画素値に設定すると共に、他の
領域の画素値を０（ゼロ）に設定し、該マスク画像を第
二の画像メモリ１９に出力する。 （テーブルの作成手順）図４は本実施の形態のＸ線絞り
の遮蔽板とＸ線検出器の撮影範囲との関係を説明するた
めの図であり、図５はテーブルにおける変数ａ，ｂの決
定方法を説明するための図である。ただし、図５の
（ａ）はＸ線検出器に設定した画素で計測される画素値
と、遮蔽板の移動距離との関係を説明するための図であ
り、図５の（ｂ）は図５の（ａ）に示す画素値の微分値
と遮蔽板の移動距離との関係を示す図である。
の領域内の画素値を負の画素値に設定すると共に、他の
領域の画素値を０（ゼロ）に設定し、該マスク画像を第
二の画像メモリ１９に出力する。 （テーブルの作成手順）図４は本実施の形態のＸ線絞り
の遮蔽板とＸ線検出器の撮影範囲との関係を説明するた
めの図であり、図５はテーブルにおける変数ａ，ｂの決
定方法を説明するための図である。ただし、図５の
（ａ）はＸ線検出器に設定した画素で計測される画素値
と、遮蔽板の移動距離との関係を説明するための図であ
り、図５の（ｂ）は図５の（ａ）に示す画素値の微分値
と遮蔽板の移動距離との関係を示す図である。
【００４８】図４に示すように、本実施の形態の絞り装
置１６は、たとえば、Ｘ線ビームの中心軸と直交すると
共に、互いに直交するＸ軸及びＹ軸に沿って移動する第
一〜第四の遮蔽板４０１〜４０４を有する。ただし、点
線で示す範囲４０５は、Ｘ線検出器の撮影範囲を示す。
置１６は、たとえば、Ｘ線ビームの中心軸と直交すると
共に、互いに直交するＸ軸及びＹ軸に沿って移動する第
一〜第四の遮蔽板４０１〜４０４を有する。ただし、点
線で示す範囲４０５は、Ｘ線検出器の撮影範囲を示す。
【００４９】また、本実施の形態のＸ線絞り１６の有す
る第一〜第四の遮蔽板４０１〜４０４の内、第一の遮蔽
板４０１と第二の遮蔽板４０２とは、それぞれＸ軸に対
して平行に移動する。また、第一の遮蔽板４０１と第二
の遮蔽板４０２との外周部（辺縁部）の内で、Ｘ線ビー
ムの照射範囲すなわちＸ線検出器の撮影範囲４０５内に
位置する辺は、Ｙ軸に水平であり、かつ、Ｘ軸に直交す
る構成となっている。同様に、第三の遮蔽板４０３と第
四の遮蔽板４０４とは、それぞれＹ軸に対して平行に移
動する。また、第三の遮蔽板４０３と第四の遮蔽板４０
４との外周部の内で、Ｘ線ビームの照射範囲すなわちＸ
線検出器の撮影範囲４０５内に位置する辺は、Ｘ軸に水
平であり、かつ、Ｙ軸に直交する構成となっている。従
って、本実施の形態では、第一〜第四の遮蔽板４０１〜
４０４が遮蔽するＸ線ビームの幅は、たとえば、第一の
遮蔽板４０１の場合では、第一の遮蔽板４０１のＸ軸方
向の移動距離に対するＸ線検出器の撮影範囲におけるＸ
線ビームの遮蔽幅Ｒを調べることによって、特定するこ
とができる。
る第一〜第四の遮蔽板４０１〜４０４の内、第一の遮蔽
板４０１と第二の遮蔽板４０２とは、それぞれＸ軸に対
して平行に移動する。また、第一の遮蔽板４０１と第二
の遮蔽板４０２との外周部（辺縁部）の内で、Ｘ線ビー
ムの照射範囲すなわちＸ線検出器の撮影範囲４０５内に
位置する辺は、Ｙ軸に水平であり、かつ、Ｘ軸に直交す
る構成となっている。同様に、第三の遮蔽板４０３と第
四の遮蔽板４０４とは、それぞれＹ軸に対して平行に移
動する。また、第三の遮蔽板４０３と第四の遮蔽板４０
４との外周部の内で、Ｘ線ビームの照射範囲すなわちＸ
線検出器の撮影範囲４０５内に位置する辺は、Ｘ軸に水
平であり、かつ、Ｙ軸に直交する構成となっている。従
って、本実施の形態では、第一〜第四の遮蔽板４０１〜
４０４が遮蔽するＸ線ビームの幅は、たとえば、第一の
遮蔽板４０１の場合では、第一の遮蔽板４０１のＸ軸方
向の移動距離に対するＸ線検出器の撮影範囲におけるＸ
線ビームの遮蔽幅Ｒを調べることによって、特定するこ
とができる。
【００５０】すなわち、図４に示すように、Ｘ線検出器
の撮影範囲４０５の内で、遮蔽板４０１〜４０４の移動
方向に平行（Ｘ線検出器の入射面上に投影されるＸ軸及
びＹ軸）となる位置に複数個のサンプル点を設け、遮蔽
板４０１〜４０４の移動に伴う各サンプル点におけるＸ
線の検出値を計測することによって、遮蔽板４０１〜４
０４の移動距離と該遮蔽板４０１〜４０４によって遮蔽
されるＸ線ビームの幅Ｒとの関係を特定することが可能
となる。
の撮影範囲４０５の内で、遮蔽板４０１〜４０４の移動
方向に平行（Ｘ線検出器の入射面上に投影されるＸ軸及
びＹ軸）となる位置に複数個のサンプル点を設け、遮蔽
板４０１〜４０４の移動に伴う各サンプル点におけるＸ
線の検出値を計測することによって、遮蔽板４０１〜４
０４の移動距離と該遮蔽板４０１〜４０４によって遮蔽
されるＸ線ビームの幅Ｒとの関係を特定することが可能
となる。
【００５１】具体的には、各遮蔽板４０１〜４０４の移
動に伴って、各遮蔽板４０１〜４０４によって遮蔽され
るＸ線ビームの幅が変化することとなる。その結果、Ｘ
線検出器の入射面上に設定した各サンプル点におけるＸ
線の入射量が各遮蔽板４０１〜４０４の順次変化するこ
ととなる。従って、本実施の形態では、遮蔽板４０１の
移動距離と、各サンプル点の内でＸ線ビームを検出した
サンプル点の位置との関係とを計測し、その関係を直線
近似することによって、遮蔽板４０１〜４０４の移動距
離とＸ線ビームの遮蔽幅であるブラックマスク幅との関
係を特定し、テーブル３０１に格納する。
動に伴って、各遮蔽板４０１〜４０４によって遮蔽され
るＸ線ビームの幅が変化することとなる。その結果、Ｘ
線検出器の入射面上に設定した各サンプル点におけるＸ
線の入射量が各遮蔽板４０１〜４０４の順次変化するこ
ととなる。従って、本実施の形態では、遮蔽板４０１の
移動距離と、各サンプル点の内でＸ線ビームを検出した
サンプル点の位置との関係とを計測し、その関係を直線
近似することによって、遮蔽板４０１〜４０４の移動距
離とＸ線ビームの遮蔽幅であるブラックマスク幅との関
係を特定し、テーブル３０１に格納する。
【００５２】次に、図５に基づいて、各サンプル点にお
けるＸ線ビームの検出方法を説明する。ただし、図５は
Ｘ線検出器の入射面上に設定したサンプル点４０６にお
ける画素値及びその微分値と遮蔽板の移動距離との関係
を説明するための図である。また、図５に示す遮蔽板４
０１の移動方向は、矢印で示すＸ軸のプラス方向であ
る。
けるＸ線ビームの検出方法を説明する。ただし、図５は
Ｘ線検出器の入射面上に設定したサンプル点４０６にお
ける画素値及びその微分値と遮蔽板の移動距離との関係
を説明するための図である。また、図５に示す遮蔽板４
０１の移動方向は、矢印で示すＸ軸のプラス方向であ
る。
【００５３】遮蔽板４０１を順次Ｘ軸のプラス方向に移
動することによって、遮蔽板４０１による撮影範囲４０
５に対するＸ線ビームの遮蔽幅Ｌが減少する。すなわ
ち、図４中に斜線で示すＸ線ビームの通過領域が拡大す
ることとなる。従って、サンプル点４０６における計測
値すなわち画素値の変化は、図５の（ａ）に示すよう
に、遮蔽板４０１の移動量がＲ１以上になると計測され
るＸ線量が徐々に増加し、移動量がＲ２以上になると計
測されるＸ線量は一定となる。すなわち、遮蔽板４０１
の辺縁部では、Ｘ線ビームが回折されるので、図５の
（ａ）に示すように、移動量がＲ１〜Ｒ２にかけて徐々
に画素値が増加する。
動することによって、遮蔽板４０１による撮影範囲４０
５に対するＸ線ビームの遮蔽幅Ｌが減少する。すなわ
ち、図４中に斜線で示すＸ線ビームの通過領域が拡大す
ることとなる。従って、サンプル点４０６における計測
値すなわち画素値の変化は、図５の（ａ）に示すよう
に、遮蔽板４０１の移動量がＲ１以上になると計測され
るＸ線量が徐々に増加し、移動量がＲ２以上になると計
測されるＸ線量は一定となる。すなわち、遮蔽板４０１
の辺縁部では、Ｘ線ビームが回折されるので、図５の
（ａ）に示すように、移動量がＲ１〜Ｒ２にかけて徐々
に画素値が増加する。
【００５４】本実施の形態では、サンプル点４０６にお
ける遮蔽板位置を特定するために、図５の（ｂ）に示す
ように、画素値の変化量を微分し、その微分値が最も大
きくなる時の遮蔽板の移動量すなわち移動位置を、その
サンプル点４０６における移動距離Ｒとする。
ける遮蔽板位置を特定するために、図５の（ｂ）に示す
ように、画素値の変化量を微分し、その微分値が最も大
きくなる時の遮蔽板の移動量すなわち移動位置を、その
サンプル点４０６における移動距離Ｒとする。
【００５５】なお、以上の説明では、第一の遮蔽板４０
１のサンプル点４０６について説明したが、他のサンプ
ル点及び他の遮蔽板４０２〜４０４についても、同様に
して、各サンプル点における遮蔽板４０１〜４０４の移
動距離を求める。
１のサンプル点４０６について説明したが、他のサンプ
ル点及び他の遮蔽板４０２〜４０４についても、同様に
して、各サンプル点における遮蔽板４０１〜４０４の移
動距離を求める。
【００５６】以上説明したように、本実施の形態のＸ線
撮影装置では、コントローラ１７は操作卓１４から入力
されたＸ線の絞り量に応じて、Ｘ線制御装置１５を介し
てＸ線絞り１６に設けられた遮蔽板４０１〜４０４を所
定位置に移動させる。このとき、コントローラ１７は、
計測に使用されるＸ線Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．
Ｉ．４のモード等の情報と共に、各遮蔽板４０１〜４０
４の移動量をマスク位置制御手段１８に出力する。
撮影装置では、コントローラ１７は操作卓１４から入力
されたＸ線の絞り量に応じて、Ｘ線制御装置１５を介し
てＸ線絞り１６に設けられた遮蔽板４０１〜４０４を所
定位置に移動させる。このとき、コントローラ１７は、
計測に使用されるＸ線Ｉ．Ｉ．４の種別及びＸ線Ｉ．
Ｉ．４のモード等の情報と共に、各遮蔽板４０１〜４０
４の移動量をマスク位置制御手段１８に出力する。
【００５７】マスク位置制御手段１８では、コントロー
ラ１７から入力されたＸ線絞り１６を構成する４枚の遮
蔽板３０１〜３０４の位置と予め設定されたテーブル３
０１とに基づいて、マスク画像生成手段が撮影画像上に
おけるＸ線ビームのマスク位置（遮蔽位置）から撮影画
像に加算するマスク画像を生成し、画像加算手段２０に
出力する。
ラ１７から入力されたＸ線絞り１６を構成する４枚の遮
蔽板３０１〜３０４の位置と予め設定されたテーブル３
０１とに基づいて、マスク画像生成手段が撮影画像上に
おけるＸ線ビームのマスク位置（遮蔽位置）から撮影画
像に加算するマスク画像を生成し、画像加算手段２０に
出力する。
【００５８】画像加算手段２０は、マスク位置制御手段
１８から入力されたマスク画像と、表示用メモリ１１か
ら読み出した撮影画像とを加算し、Ｄ／Ａ変換器１２で
画像情報をアナログの表示画像に変換し、モニタ１３の
表示画面上に表示させる。従って、表示画像上において
Ｘ線絞り１６でＸ線ビームが遮蔽された部分には、マス
ク位置制御手段で生成されたマスク画像が表示されるこ
ととなるので、カンタムノイズを低減させることができ
る。その結果、表示画像の画質を向上することとなるの
で、診断効率を向上することができる。
１８から入力されたマスク画像と、表示用メモリ１１か
ら読み出した撮影画像とを加算し、Ｄ／Ａ変換器１２で
画像情報をアナログの表示画像に変換し、モニタ１３の
表示画面上に表示させる。従って、表示画像上において
Ｘ線絞り１６でＸ線ビームが遮蔽された部分には、マス
ク位置制御手段で生成されたマスク画像が表示されるこ
ととなるので、カンタムノイズを低減させることができ
る。その結果、表示画像の画質を向上することとなるの
で、診断効率を向上することができる。
【００５９】なお、本実施の形態のＸ線撮影装置では、
操作卓から入力されたＸ線絞りの位置情報をマスク位置
制御手段１８に出力する構成としたが、Ｘ線絞り１６か
らＸ線制御装置１５に出力される各遮蔽板に配置された
位置検出器からの位置情報マスク位置制御装置１５に出
力する構成としてもよいことはいうまでもない。
操作卓から入力されたＸ線絞りの位置情報をマスク位置
制御手段１８に出力する構成としたが、Ｘ線絞り１６か
らＸ線制御装置１５に出力される各遮蔽板に配置された
位置検出器からの位置情報マスク位置制御装置１５に出
力する構成としてもよいことはいうまでもない。
【００６０】また、本実施の形態では、Ｘ線検出器とし
て、Ｘ線Ｉ．Ｉ．４、ディストリビュータ５及びテレビ
カメラ６からなる周知のテレビカメラシステムとした
が、これに限定されることはなく、たとえば、ＴＦＴ素
子やＣＭＯＳ素子等を用いた二次元Ｘ線検出器等を用い
てもよいことはいうまでもない。
て、Ｘ線Ｉ．Ｉ．４、ディストリビュータ５及びテレビ
カメラ６からなる周知のテレビカメラシステムとした
が、これに限定されることはなく、たとえば、ＴＦＴ素
子やＣＭＯＳ素子等を用いた二次元Ｘ線検出器等を用い
てもよいことはいうまでもない。
【００６１】さらには、本実施の形態のＸ線撮影装置で
は、マスク位置制御手段１８が生成したマスク画像を表
示用メモリ１１に格納されるＸ線画像に加算する構成と
したが、これに限定されることはなく、たとえば、画像
加算手段２０の代わりにデータ削除手段を設け、表示用
メモリ１１に格納される画像データの内で、第二の画像
メモリ１９から読み出されるマスク画像位置の情報を削
除し、削除後の画像情報をＤ／Ａ変換器１２に出力して
もよいことはいうまでもない。
は、マスク位置制御手段１８が生成したマスク画像を表
示用メモリ１１に格納されるＸ線画像に加算する構成と
したが、これに限定されることはなく、たとえば、画像
加算手段２０の代わりにデータ削除手段を設け、表示用
メモリ１１に格納される画像データの内で、第二の画像
メモリ１９から読み出されるマスク画像位置の情報を削
除し、削除後の画像情報をＤ／Ａ変換器１２に出力して
もよいことはいうまでもない。
【００６２】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本
発明は、前記発明の実施の形態に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能で
あることは勿論である。
前記発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本
発明は、前記発明の実施の形態に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能で
あることは勿論である。
【００６３】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。
【００６４】（１）表示画像に生じるカンタムノイズを
低減させることができる。
低減させることができる。
【００６５】（２）診断効率を向上させることができ
る。
る。
【図１】本発明の一実施の形態であるＸ線撮影装置の概
略構成を説明するための図である。
略構成を説明するための図である。
【図２】本実施の形態のＸ線撮影装置のディスプレイ上
に表示した中間調画像の写真である。
に表示した中間調画像の写真である。
【図３】本実施の形態のテーブルの概略構成を説明する
ための図である。
ための図である。
【図４】本実施の形態のＸ線絞りの遮蔽板とＸ線検出器
の撮影範囲との関係を説明するための図である。
の撮影範囲との関係を説明するための図である。
【図５】テーブルにおける変数ａ，ｂの決定方法を説明
するための図である。
するための図である。
１…Ｘ線管球、２…テーブル、３…被検体、４…Ｘ線イ
メージインテンシファイア（Ｘ線Ｉ．Ｉ．）、５…ディ
ストリビュータ、６…テレビカメラ、７…Ａ／Ｄ変換
器、８…演算器、９…第一の画像メモリ、１０…表示階
調調整部、１１…表示用メモリ、１２…Ｄ／Ａ変換器、
１３…モニタ、１４…操作卓、１５…Ｘ線制御装置、１
６…Ｘ線絞り、１７…コントローラ、１８…マスク位置
制御手段、１９…第二の画像メモリ、２０…画像加算手
段、３０１…テーブル、４０１〜４０４…遮蔽板。
メージインテンシファイア（Ｘ線Ｉ．Ｉ．）、５…ディ
ストリビュータ、６…テレビカメラ、７…Ａ／Ｄ変換
器、８…演算器、９…第一の画像メモリ、１０…表示階
調調整部、１１…表示用メモリ、１２…Ｄ／Ａ変換器、
１３…モニタ、１４…操作卓、１５…Ｘ線制御装置、１
６…Ｘ線絞り、１７…コントローラ、１８…マスク位置
制御手段、１９…第二の画像メモリ、２０…画像加算手
段、３０１…テーブル、４０１〜４０４…遮蔽板。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０６Ｆ 15/62 ３９０Ａ Ｆターム(参考） 2G088 EE01 EE27 FF02 FF14 GG09 KK06 KK32 KK35 LL11 LL12 2H013 AB06 4C093 AA01 CA06 CA18 DA03 EA14 EB02 EB13 EB17 EE01 FD01 FD05 FF08 FF16 FF36 FH02 5B057 AA08 BA03 CA02 CA08 CA12 CB01 CB08 CB12 CC03 CE02 DA16 DB02 DB09
Claims (1)
- 【請求項１】 被検体にＸ線ビームを照射するＸ線源の
照射面側に配置され、前記Ｘ線源から照射されるＸ線ビ
ームの一部を遮蔽し、照射視野範囲を制限するＸ線絞り
を有し、前記被検体を介して前記Ｘ線源に対向配置され
る撮像手段で前記被検体のＸ線像を撮像し表示させるＸ
線撮影装置において、 前記Ｘ線絞りの照射視野情報に基づいて、前記Ｘ線像中
の絞り位置に該当する遮蔽領域を所定の画素値に変換す
る変換手段を具備し、該遮蔽領域を所定の画素値に変換
したＸ線像を表示させることを特徴とするＸ線撮影装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15198499A JP4306021B2 (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | Ｘ線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15198499A JP4306021B2 (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | Ｘ線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000333936A true JP2000333936A (ja) | 2000-12-05 |
| JP4306021B2 JP4306021B2 (ja) | 2009-07-29 |
Family
ID=15530526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15198499A Expired - Fee Related JP4306021B2 (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | Ｘ線撮影装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4306021B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007521864A (ja) * | 2004-01-19 | 2007-08-09 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 医療画像に対する柔軟な測定機能を提供する方法及び装置 |
| WO2011086604A1 (ja) * | 2010-01-15 | 2011-07-21 | 株式会社島津製作所 | 放射線断層撮影装置 |
| EP2372395A2 (en) | 2010-03-31 | 2011-10-05 | Fujifilm Corporation | Radiographic imaging system |
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| JPH09182748A (ja) * | 1995-12-28 | 1997-07-15 | Shimadzu Corp | Ｘ線画像処理装置 |
-
1999
- 1999-05-31 JP JP15198499A patent/JP4306021B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| US8454235B2 (en) | 2010-03-31 | 2013-06-04 | Fujifilm Corporation | Radiographic imaging system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4306021B2 (ja) | 2009-07-29 |
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