JPH04183443A - Ｘ線のｃｔ装置のプリアンプ増幅率設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、Ｘ線検出器からの出力信号を増幅するプリア
ンプの増幅率を設定するＸ＃ＩＣＴ装置のプリアンプ増
幅率設定方法に関するものである。

［従来の技術］ 従来、ＸＩＣＴ装置において、Ｘ線検出器の出力信号を
増幅するプリアンプの増幅率は、被検体撮影部位に応じ
て予め決められた標準的な値に、例えば頭部ならば１．
２倍、胴部ならば２．０倍というように一律に設定し、
断層像撮影してぃた（第６図参照）。

［発明が解決しようとする課題］ 上記従来技術では、被検体撮影部位に応じて１対１の対
応関係をもってプリアンプ増幅率を設定しているので、
上記撮影部位かその増幅率を決めた際の大きさにほぼ等
しい場合には適切なプリアンプ出力が得られる（第７図
参照）。

しかしそうでない場合には、プリアンプの増幅　−率が
大き過ぎてデータのオーバフローを起こしく第８図参照
）、アーチファクトを生じさせたり、上記増幅率が小さ
過ぎて（第９図参照）、プリアンプ出力のＳＮ比が低下
するという問題点かあった。

なお第７図〜第９図において、１はＸ線管、２はＸ線検
出器、３は撮影領域、４は被検体撮影部位、５はプリア
ンプ、６はプリアンプ出力（計測データ）である。

本発明の目的は、プリアンプの増幅率を、太き過ぎたり
小さ過ぎたすせず、常に最適な値に設定できるＸ線ＣＴ
装置のプリアンプ増幅率設定方法を提供することにある
。

［課題を解決するための手段］ 上記目的は、Ｘ＃！検出器からの出力信号を増幅するプ
リアンプの増幅率を、断層像撮影前の被検体撮影部位へ
のＸ線曝射による投影データに基づいて設定することに
より達成される。

［作　用コ まず、断層像撮影前の被検体撮影部位への短時間Ｘ線曝
射（ブリ曝射）による投影データを得る。

このブリ曝射投影データを得たら、これと、予め得てお
いた、撮影領域に何ら（被検体も）ない状態での投影デ
ータ（エアー出力）とを比較する。

この際、両投形データ間で差の生じたチャンネルの範囲
で被検体撮影部位の大きさが、また、その差の大小によ
り被検体撮影部位のＸ線吸収量が把握できる。

したがって上記比較データ（エアー出力は予め得である
ので実際にはブリ曝射の投影データ）にて、プリアンプ
の増幅率を、常に最適な値に、すなわちオーバフローし
ない範囲内で大きく設定できる。

これにより、続いて行われる断層像撮影では１、アーチ
ファクトを生じさせず、かつＳＮ比のよい画像が得られ
ることになる。

［実施例］ 以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第１図
は、本発明によるＸＩＣＴ装置のプリアンプ増幅率設定
方法の一例を示すシーケンス図である。第６図の従来方
法のシーケンス図と比較して分かるように、従来は、撮
影部位を決定すると、その時点でプリアンプの増幅率が
決定（設定）されるもので、その増幅率で断層像が撮影
される。

一方、本発明方法では、撮影部位が決定された後、その
部位に対して一度ブリ曝射を行い、その投影データによ
り予め被検体撮影部位の大きさ、Ｘ線吸収量を把握し、
最適なプリアンプ増幅率が決定（設定）されるもので、
その増幅率で断層像の撮影に入るものである。

上記被検体撮影部位の大きさは、撮影領域に、何もない
ときのプリアンプ出力（エアー出力。−般的には、ＣＴ
装置設置時やＣＴ装置始動時に必ず得られる。これによ
るデータをキャリブレーションデータという。）と被検
体があるとき（ブリ曝射時）のプリアンプ出力との差が
生じたチャンネル範囲で知ることができる。また、上記
被検体撮影部位のＸ線吸収量は、撮影領域に、何もない
ときのプリアンプ出力（エアー出力）と被検体があると
き（ブリ曝射時）のプリアンプ出力との差の大きさで知
ることかできる。

例えば、第２図に示すように、ブリ曝射時のプリアンプ
出力が、エアー出力の８０％だとすると、断層像撮影時
には、プリアンプ増幅率を、ブリ曝射時の１倍〜１．２
倍に設定する。

また第３図に示すように、ブリ曝射時のプリアンプ出力
が、エアー出力の４０％程度しがない場合は、プリアン
プ増幅率を、ブリ陽射時の２倍に設定する。

以上のようにプリアンプ５の増幅率を設定して断層像を
撮影すれば１、アーチファクトを生じさせず、かつ、Ｓ
Ｎ比のよい画像が得られる。

第４図に示すように、被検体撮影部位４が偏平な場合に
は、その中心部のブリ陽射時のプリアンプ出力とエアー
出力との差が小さいことは、別方向（横方向）からの曝
射時にはプリアンプ出力が大きくなることが予測できる
。したがってこの場合のプリアンプ増幅率は、ブリ陽射
時のプリアンプ出力とエアー出力との差によって求めら
れる値１、　６より小さい値、例えば１．２に設定する
など、プリアンプ増幅率を制限することができる。

なお第２図〜第４図において、第７図と同一符号は同一
部分を示す。またａは、ブリ曝射時のプリアンプ増幅率
を示す。

第５図は本発明方法が適用されたＸ線ＣＴ装置の一例を
示すブロック図である。この第５図において、１〜６は
各々第２図と同様で、スキャナ５０中に備えられている
。５１はＣＰＵ５２及びデータメモリ５３などを備えて
なる画像処理装置である。５４はＸ線制御装置、５５は
スキャナ制御装置である。

図示構成において、まず断層像撮影前の被検体撮影部位
４へのブリ曝射の投影データを得、データメモリ５３に
記録する。このデータメモリ５３には、撮影領域３に何
もない状態での投影データ（エアー出力）が予め格納さ
れており、ＣＰＵ５２は、上記ブリ陽射投影データをこ
の格納データと比較して被検体撮影部位４の大きさとＸ
線吸収量を求める。更にＣＰＵ５２は、求めた被検体撮
影部位４の大きさとＸ線吸収量により、プリアンプ５の
増幅率を常に最適な値に、すなわちオーバフローしない
範囲内で最も大きな値に、設定する。

これにより、続いて行われる断層像撮影では、アーチフ
ァクトを生じさせず、かつＳＮ比のよい画像が得られる
ことになる。

［発明の効果］ 本発明によれば、Ｘ線検出器からの出力信号を増幅する
プリアンプの増幅率を、断層像撮影前の被検体撮影部位
へのＸ線曝射による投影データに基づいて設定するよう
にしたので、プリアンプの増幅率を、大き過ぎたり小さ
過ぎたすせず、常に最適な値に、すなわちオーバフロー
しない範囲内で大きく設定できるという効果がある。

これにより、続いて行われる断層像撮影において、アー
チファクトを生じさせず、かつＳＮ比のよい画像が得ら
れることになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法の一例を示すシーケンス図、第２図
〜第４図は各々本発明方法の具体例の説明図、第５図は
本発明方法が適用されたＸ１ｉＣＴ装置の一例を示すブ
ロック図、第６図は従来方法を示すシーケンス図、第７
図〜第９図は従来方法の問題点の説明図である。 １・・・Ｘ線管、２・・・Ｘ線検出器、３・・・撮影領
域、４・・・被検体撮影部位、５・・・プリアンプ、６
・・・プリアンプ出力（計測データ）、５０・・・スキ
ャナ、５１・・・画像処理装置、５２・・・ＣＰＬ）、
５３・・・データメモリ、５４・・・Ｘ線制御装置、５
５・・・スキャナ制御装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、Ｘ線検出器からの出力信号を増幅するプリアンプの
   増幅率を、断層像撮影前の被検体撮影部位へのＸ線曝射
   による投影データに基づいて設定することを特徴とする
   Ｘ線ＣＴ装置のプリアンプ増幅率設定方法。