JPH0414542B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0414542B2 JPH0414542B2 JP57168822A JP16882282A JPH0414542B2 JP H0414542 B2 JPH0414542 B2 JP H0414542B2 JP 57168822 A JP57168822 A JP 57168822A JP 16882282 A JP16882282 A JP 16882282A JP H0414542 B2 JPH0414542 B2 JP H0414542B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- control slit
- rays
- subject
- intensifier tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 25
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 12
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 241000226585 Antennaria plantaginifolia Species 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005180 public health Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は医療診断用Ｘ線撮影に使用して好適
なＸ線撮影装置に関する。
なＸ線撮影装置に関する。
従来、Ｘ線像増強管（Ｘ線イメージインテンシ
フアイア）を用いたＸ線撮影装置は第１図に示す
ように構成され、Ｘ線発生器１、Ｘ線グリツド
２、Ｘ線像増強管３、光学系４及び光学カメラ５
からなり、使用時にはＸ線発生器１とＸ線グリツ
ド２の間に被写体６が位置する。
フアイア）を用いたＸ線撮影装置は第１図に示す
ように構成され、Ｘ線発生器１、Ｘ線グリツド
２、Ｘ線像増強管３、光学系４及び光学カメラ５
からなり、使用時にはＸ線発生器１とＸ線グリツ
ド２の間に被写体６が位置する。
動作時には、Ｘ線発生器１でＸ線を発生し、被
写体６に投射する。この被写体６を透過したＸ線
は、Ｘ線グリツド２を通過してＸ線像増強管３に
入射する。尚、Ｘ線グリツド２は被写体６で生じ
た散乱Ｘ線のＸ線像増強管３への入射を減らすた
め、散乱Ｘ線を減少させる機能を有する。そし
て、Ｘ線像増強管３に入射したＸ線に光に変えら
れ、ここで被写体６の透過Ｘ線像は光学像に変え
られる。この光学像を光学系４を通して光学カメ
ラ５のフイルム７上に撮影することにより、Ｘ線
撮影する。
写体６に投射する。この被写体６を透過したＸ線
は、Ｘ線グリツド２を通過してＸ線像増強管３に
入射する。尚、Ｘ線グリツド２は被写体６で生じ
た散乱Ｘ線のＸ線像増強管３への入射を減らすた
め、散乱Ｘ線を減少させる機能を有する。そし
て、Ｘ線像増強管３に入射したＸ線に光に変えら
れ、ここで被写体６の透過Ｘ線像は光学像に変え
られる。この光学像を光学系４を通して光学カメ
ラ５のフイルム７上に撮影することにより、Ｘ線
撮影する。
一般にＸ線撮影は被写体６のわずかは組織の変
化を検出し、組織の状態を判断しようとするもの
であるから、コントラストの良い鮮鋭フイルム像
を得ることが必要である。ところが、従来のＸ線
撮影装置では、第１図に示すように被写体６で発
生する散乱Ｘ線を除去するようにＸ線グリツド２
を用いているが、被写体６のＸ線照射域が広いた
め、多量の散乱Ｘ線が発生し、Ｘ線グリツド２で
除去しても可成り残り、Ｘ線像のコントラストを
悪くしている。更にＸ線像増強管３は管内の各所
での光の拡散及び反射のため、像のコントラスト
を大巾に劣化させる。これらの要因によりコント
ラストが劣化するのが、この装置の大きな欠点で
ある。
化を検出し、組織の状態を判断しようとするもの
であるから、コントラストの良い鮮鋭フイルム像
を得ることが必要である。ところが、従来のＸ線
撮影装置では、第１図に示すように被写体６で発
生する散乱Ｘ線を除去するようにＸ線グリツド２
を用いているが、被写体６のＸ線照射域が広いた
め、多量の散乱Ｘ線が発生し、Ｘ線グリツド２で
除去しても可成り残り、Ｘ線像のコントラストを
悪くしている。更にＸ線像増強管３は管内の各所
での光の拡散及び反射のため、像のコントラスト
を大巾に劣化させる。これらの要因によりコント
ラストが劣化するのが、この装置の大きな欠点で
ある。
このため従来の装置は、Ｘ線撮影に要するＸ線
量が非常に少なく、従つてＸ線発生器１の負荷が
少ないのは勿論のこと、被写体６の被曝Ｘ線量が
非常に少なく、公衆衛生上、大変好ましいにも拘
らず、第２図に示すようなＸ線像増強管３のない
装置がもつばら使われている。即ち、Ｘ線発生器
１で発生したＸ線を被写体６に投射し、透過した
Ｘ線はＸ線グリツド２を通過し、螢光面８，９に
より光に変換、この光をフイルム１０に露光す
る。このＸ線撮影装置では、第１図のようにＸ線
像増強管３がないので、この分だけコントラスト
の劣化が少ない。しかし、Ｘ線像増強管３を用い
ていないので、装置の感度が低く、大量のＸ線が
必要となり、従つて被写体６の被曝Ｘ線量が多い
といつ欠点がある。
量が非常に少なく、従つてＸ線発生器１の負荷が
少ないのは勿論のこと、被写体６の被曝Ｘ線量が
非常に少なく、公衆衛生上、大変好ましいにも拘
らず、第２図に示すようなＸ線像増強管３のない
装置がもつばら使われている。即ち、Ｘ線発生器
１で発生したＸ線を被写体６に投射し、透過した
Ｘ線はＸ線グリツド２を通過し、螢光面８，９に
より光に変換、この光をフイルム１０に露光す
る。このＸ線撮影装置では、第１図のようにＸ線
像増強管３がないので、この分だけコントラスト
の劣化が少ない。しかし、Ｘ線像増強管３を用い
ていないので、装置の感度が低く、大量のＸ線が
必要となり、従つて被写体６の被曝Ｘ線量が多い
といつ欠点がある。
この発明の目的は、コントラストを著しく向上
したＸ線撮影装置を提供することである。
したＸ線撮影装置を提供することである。
この発明は、Ｘ線発生器、Ｘ線像増強管及び光
学カメラを備え上記Ｘ線発生器とＸ線像増強管と
の間に被写体を置くように構成されたＸ線撮影装
置において、上記Ｘ線発生器と上記被写体との間
にＸ線の照射領域を扇状に制限するＸ線制御スリ
ツトを設けると共に、上記光学カメラ内のフイル
ムの前に又は電気的撮像素子の前に露光領域を制
限する露光制御スリツトを設け、且つＸ線制御ス
リツトと上記露光制御スリツトが同期して動作す
るＸ線撮影装置である。
学カメラを備え上記Ｘ線発生器とＸ線像増強管と
の間に被写体を置くように構成されたＸ線撮影装
置において、上記Ｘ線発生器と上記被写体との間
にＸ線の照射領域を扇状に制限するＸ線制御スリ
ツトを設けると共に、上記光学カメラ内のフイル
ムの前に又は電気的撮像素子の前に露光領域を制
限する露光制御スリツトを設け、且つＸ線制御ス
リツトと上記露光制御スリツトが同期して動作す
るＸ線撮影装置である。
この発明のＸ線撮影装置は第３図に示すように
構成され、従来例と同一箇所は同一符号を付す
と、Ｘ線発生器１、Ｘ線グリツド２、Ｘ線像増強
管３、光学系４及び光学カメラ５が順次所定間隔
で配列されている。更にこの発明では、上記Ｘ線
発生器１の前方にＸ線の照射領域を扇状に制限す
るＸ線制御スリツト１１が設けられ、又、上記光
学カメラ５内にはフイルム７前面に露光領域を制
御する露光制御スリツト１２が設けられている。
尚、図中６は被写体である。
構成され、従来例と同一箇所は同一符号を付す
と、Ｘ線発生器１、Ｘ線グリツド２、Ｘ線像増強
管３、光学系４及び光学カメラ５が順次所定間隔
で配列されている。更にこの発明では、上記Ｘ線
発生器１の前方にＸ線の照射領域を扇状に制限す
るＸ線制御スリツト１１が設けられ、又、上記光
学カメラ５内にはフイルム７前面に露光領域を制
御する露光制御スリツト１２が設けられている。
尚、図中６は被写体である。
さて動作時には、Ｘ線発生器１で発生したＸ線
は、Ｘ線制御スリツト１１でＸ線の照射域が扇状
に制限される。第４図は被写体６をＸ線発生器１
の方向から見た図であり、細長い領域１３がＸ線
制御スリツト１１を通してＸ線が照射される部
分、領域１４，１５がＸ線が照射されないように
Ｘ線制御スリツト１１で遮蔽された部分である。
このスリツト状に照射されたＸ線は被写体６を透
過し、Ｘ線グリツド２で散乱Ｘ線を除去されてＸ
線像増強管３に入射する。このＸ線像増強管３で
光学像に変えられ、光学系４を通して光学カメラ
５に入射する。この光はフイルム７に達する直前
に露光制御スリツト１２によりフイルム７面の露
光域を第５図のように制御する。第５図はカメラ
５のフイルム７面及び露光制御スリツト１２面を
Ｘ線像増強管３側より見た図であり、フイルム７
面上に露光制御スリツト１２の遮蔽部分と光を通
すスリツト部分１６がある。又、円１７は露光制
御スリツト１２がない場合、Ｘ線像増強管３の光
学像全面の写る領域である。そこで、Ｘ線制御ス
リツト１１の照射域１３による光学像の位置と露
光制御スリツト１２の位置を一致させることによ
り、Ｘ線制御スリツト１１により照射された領域
の被写体のＸ線撮影をすることができる。そし
て、両スリツト１１，１２を同期して走査するこ
とにより、被写体全面のＸ線撮影が得られる。
は、Ｘ線制御スリツト１１でＸ線の照射域が扇状
に制限される。第４図は被写体６をＸ線発生器１
の方向から見た図であり、細長い領域１３がＸ線
制御スリツト１１を通してＸ線が照射される部
分、領域１４，１５がＸ線が照射されないように
Ｘ線制御スリツト１１で遮蔽された部分である。
このスリツト状に照射されたＸ線は被写体６を透
過し、Ｘ線グリツド２で散乱Ｘ線を除去されてＸ
線像増強管３に入射する。このＸ線像増強管３で
光学像に変えられ、光学系４を通して光学カメラ
５に入射する。この光はフイルム７に達する直前
に露光制御スリツト１２によりフイルム７面の露
光域を第５図のように制御する。第５図はカメラ
５のフイルム７面及び露光制御スリツト１２面を
Ｘ線像増強管３側より見た図であり、フイルム７
面上に露光制御スリツト１２の遮蔽部分と光を通
すスリツト部分１６がある。又、円１７は露光制
御スリツト１２がない場合、Ｘ線像増強管３の光
学像全面の写る領域である。そこで、Ｘ線制御ス
リツト１１の照射域１３による光学像の位置と露
光制御スリツト１２の位置を一致させることによ
り、Ｘ線制御スリツト１１により照射された領域
の被写体のＸ線撮影をすることができる。そし
て、両スリツト１１，１２を同期して走査するこ
とにより、被写体全面のＸ線撮影が得られる。
この発明によれば、Ｘ線制御スリツト１１と露
光制御スリツト１２とを組合せて用いているの
で、コントラストが著しく向上した。即ち、従来
の装置では第６図ｂに示すように被写体６の撮影
域全体に同時にＸ線１８を照射するので、広い部
分から散乱Ｘ線１９が発生し、透過Ｘ線の強度に
対する散乱Ｘ線の割合が大きく、コントラストを
強く劣化させる。しかし、この発明の装置では、
第６図ａのようにＸ線制御スリツト１１で同時に
Ｘ線を照射する領域をＸ線２０の如く狭く限定す
るので、散乱Ｘ線２１の量も少ない。更に発生し
た散乱Ｘ線２１の多くは、照射した領域に対応す
るＸ線受像面より外れるので、後述のようにこの
発明の装置では散乱Ｘ線に対応する光像はフイル
ム７に露光されずコントラストの劣化を生じな
い。
光制御スリツト１２とを組合せて用いているの
で、コントラストが著しく向上した。即ち、従来
の装置では第６図ｂに示すように被写体６の撮影
域全体に同時にＸ線１８を照射するので、広い部
分から散乱Ｘ線１９が発生し、透過Ｘ線の強度に
対する散乱Ｘ線の割合が大きく、コントラストを
強く劣化させる。しかし、この発明の装置では、
第６図ａのようにＸ線制御スリツト１１で同時に
Ｘ線を照射する領域をＸ線２０の如く狭く限定す
るので、散乱Ｘ線２１の量も少ない。更に発生し
た散乱Ｘ線２１の多くは、照射した領域に対応す
るＸ線受像面より外れるので、後述のようにこの
発明の装置では散乱Ｘ線に対応する光像はフイル
ム７に露光されずコントラストの劣化を生じな
い。
次に露光制御スリツト１２の働きを第７図で説
明する。即ち、第７図ａ，ｂは従来装置のＸ線像
増強管３の出力光像の例で、ａは出力光像をカメ
ラ５の側から見たものであり、ｂはａのｃ−c′断
面で明るさを表わしたものである。そして、Ｘ線
照射の各点に対応する明るさの分布は、散乱Ｘ線
及びＸ線像増強管３の管内での光の拡散・反射の
ため、斜線図形のように対応点を中心に周辺に広
がつた分布となり、これらの分布が互いに重なり
合つて光像を形成する。従つて、非常にコントラ
ストの悪い像となる。ところが、この発明の装置
では、第８図ａ，ｂ，ｃのようになる。即ち、ａ
図は同じＸ線像増強管３の出力像をカメラ５の側
から見たものであり、斜線部分がＸ線制御スリツ
ト１１によつて照射された領域に対応する部分の
光像で、その周辺に散乱Ｘ線２１の光像及びＸ線
像増強管３の内部で光の拡散・反射された光像の
多くが写し出される。従つてａのｃ−c′断面の明
るさ分布の例は、ｂ図のようになる。この明るさ
分布を露光制御スリツト１２で、Ｘ線制御スリツ
ト１１で照射された領域に対応する部分以外を遮
光することによりｃ図のようになる。そして、コ
ントラストを劣化させる散乱Ｘ線２１による光像
及びＸ線像増強管３の内部での光を拡散・反射に
よる光像の大部分を除去することができるので、
コントラストの劣化が大巾に減少し、鮮鋭な像が
得られる。両スリツト１１，１２を走査すること
により、被写体６の全面の像を得ることができ
る。
明する。即ち、第７図ａ，ｂは従来装置のＸ線像
増強管３の出力光像の例で、ａは出力光像をカメ
ラ５の側から見たものであり、ｂはａのｃ−c′断
面で明るさを表わしたものである。そして、Ｘ線
照射の各点に対応する明るさの分布は、散乱Ｘ線
及びＸ線像増強管３の管内での光の拡散・反射の
ため、斜線図形のように対応点を中心に周辺に広
がつた分布となり、これらの分布が互いに重なり
合つて光像を形成する。従つて、非常にコントラ
ストの悪い像となる。ところが、この発明の装置
では、第８図ａ，ｂ，ｃのようになる。即ち、ａ
図は同じＸ線像増強管３の出力像をカメラ５の側
から見たものであり、斜線部分がＸ線制御スリツ
ト１１によつて照射された領域に対応する部分の
光像で、その周辺に散乱Ｘ線２１の光像及びＸ線
像増強管３の内部で光の拡散・反射された光像の
多くが写し出される。従つてａのｃ−c′断面の明
るさ分布の例は、ｂ図のようになる。この明るさ
分布を露光制御スリツト１２で、Ｘ線制御スリツ
ト１１で照射された領域に対応する部分以外を遮
光することによりｃ図のようになる。そして、コ
ントラストを劣化させる散乱Ｘ線２１による光像
及びＸ線像増強管３の内部での光を拡散・反射に
よる光像の大部分を除去することができるので、
コントラストの劣化が大巾に減少し、鮮鋭な像が
得られる。両スリツト１１，１２を走査すること
により、被写体６の全面の像を得ることができ
る。
又、Ｘ線像増強管３は一般に若干の糸巻形の図
形歪を持つているため、Ｘ線制御スリツト１１の
スリツト巾を一定にして走査すると、場所によつ
てＸ線像増強管３の対応する出力光像の巾が若干
変化する。従つて、露光制御スリツト１２のスリ
ツト巾をＸ線制御スリツト１１のスリツト巾に対
応する光像の巾より若干小さ目にしておくと、露
光制御スリツト１２のスリツト巾をスリツト走査
位置に対応して制御する必要がなく、装置が簡便
になる利点がある。この発明の装置では、Ｘ線像
増強管３を使用しているので、装置のＸ線感度が
高く、被写体６の被曝Ｘ線量は第１図の装置同様
に少ない。
形歪を持つているため、Ｘ線制御スリツト１１の
スリツト巾を一定にして走査すると、場所によつ
てＸ線像増強管３の対応する出力光像の巾が若干
変化する。従つて、露光制御スリツト１２のスリ
ツト巾をＸ線制御スリツト１１のスリツト巾に対
応する光像の巾より若干小さ目にしておくと、露
光制御スリツト１２のスリツト巾をスリツト走査
位置に対応して制御する必要がなく、装置が簡便
になる利点がある。この発明の装置では、Ｘ線像
増強管３を使用しているので、装置のＸ線感度が
高く、被写体６の被曝Ｘ線量は第１図の装置同様
に少ない。
更にこの発明の装置は、被写体６からの散乱Ｘ
線２１の発生する領域が狭く、且つＸ線像を光像
に変換後にも散乱Ｘ線２１による光像の大部分を
除去する機能があるため、Ｘ線制御スリツト１１
のスリツト巾を小さくし、被写体６とＸ線像増強
管３の間隙を広げることにより、容易にＸ線グリ
ツド２を装置から外しても、コントラストの良い
像が得られる。一般にＸ線グリツド２は散乱Ｘ線
２１を大巾に除去するが、同時に必要とする被写
体６の透過Ｘ線も可成り減衰させる。従つて、Ｘ
線グリツド２を外すと装置の感度は大巾に向上す
るので、更に被写体６の被曝Ｘ線量が減少する利
点がある。
線２１の発生する領域が狭く、且つＸ線像を光像
に変換後にも散乱Ｘ線２１による光像の大部分を
除去する機能があるため、Ｘ線制御スリツト１１
のスリツト巾を小さくし、被写体６とＸ線像増強
管３の間隙を広げることにより、容易にＸ線グリ
ツド２を装置から外しても、コントラストの良い
像が得られる。一般にＸ線グリツド２は散乱Ｘ線
２１を大巾に除去するが、同時に必要とする被写
体６の透過Ｘ線も可成り減衰させる。従つて、Ｘ
線グリツド２を外すと装置の感度は大巾に向上す
るので、更に被写体６の被曝Ｘ線量が減少する利
点がある。
第１図及び第２図は従来のＸ線撮影装置を示す
構成図、第３図はこの発明の一実施例に係るＸ線
撮影装置を示す構成図、第４図はＸ線制御スリツ
トでＸ線の照射域を制限した状態を示す正面図、
第５図は露光制御スリツトで露光域を制御した状
態を示す正面図、第６図ａ，ｂはこの発明及び従
来における散乱Ｘ線の発生状態を示す説明図、第
７図及び第８図はそれぞれ従来及びこの発明にお
ける出力光像の明るさを示した特性図である。 １…Ｘ線発生器、２…Ｘ線グリツド、３…Ｘ線
像増強管、４…光学系、５…光学カメラ、６…被
写体、７…フイルム、１１…Ｘ線制御スリツト、
１２…露光制御スリツト。
構成図、第３図はこの発明の一実施例に係るＸ線
撮影装置を示す構成図、第４図はＸ線制御スリツ
トでＸ線の照射域を制限した状態を示す正面図、
第５図は露光制御スリツトで露光域を制御した状
態を示す正面図、第６図ａ，ｂはこの発明及び従
来における散乱Ｘ線の発生状態を示す説明図、第
７図及び第８図はそれぞれ従来及びこの発明にお
ける出力光像の明るさを示した特性図である。 １…Ｘ線発生器、２…Ｘ線グリツド、３…Ｘ線
像増強管、４…光学系、５…光学カメラ、６…被
写体、７…フイルム、１１…Ｘ線制御スリツト、
１２…露光制御スリツト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ Ｘ線発生器、Ｘ線像増強管及び光学カメラを
備え上記Ｘ線発生器とＸ線像増強管との間に被写
体を置くように構成されたＸ線撮影装置におい
て、 上記Ｘ線発生器と上記被写体との間にＸ線の照
射領域を扇状に制限するＸ線制御スリツトを設け
ると共に、上記光学カメラ内のフイルムの前に又
は電気的撮像素子の前に露光領域を制限する露光
制御スリツトを設け、且つＸ線制御スリツトと上
記露光制御スリツトが同期して動作することを特
徴とするＸ線撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57168822A JPS5957638A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | Ｘ線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57168822A JPS5957638A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | Ｘ線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5957638A JPS5957638A (ja) | 1984-04-03 |
| JPH0414542B2 true JPH0414542B2 (ja) | 1992-03-13 |
Family
ID=15875149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57168822A Granted JPS5957638A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | Ｘ線撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5957638A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8401411A (nl) * | 1984-05-03 | 1985-12-02 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Inrichting voor spleetradiografie. |
| JP6506629B2 (ja) * | 2015-01-30 | 2019-04-24 | 松定プレシジョン株式会社 | Ｘ線受光装置およびこれを備えたｘ線検査装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5618842A (en) * | 1979-07-23 | 1981-02-23 | Tokyo Shibaura Electric Co | Xxray device for diagnosis |
| JPS5685328A (en) * | 1979-12-17 | 1981-07-11 | Uni Pitsutsubaagu | Radioactive photographing apparatus |
| JPS5784041A (en) * | 1980-11-13 | 1982-05-26 | Hitachi Medical Corp | X-ray photographing apparatus |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56106706U (ja) * | 1980-01-18 | 1981-08-19 |
-
1982
- 1982-09-28 JP JP57168822A patent/JPS5957638A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5618842A (en) * | 1979-07-23 | 1981-02-23 | Tokyo Shibaura Electric Co | Xxray device for diagnosis |
| JPS5685328A (en) * | 1979-12-17 | 1981-07-11 | Uni Pitsutsubaagu | Radioactive photographing apparatus |
| JPS5784041A (en) * | 1980-11-13 | 1982-05-26 | Hitachi Medical Corp | X-ray photographing apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5957638A (ja) | 1984-04-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6944266B2 (en) | X-ray imaging apparatus | |
| JPH0466147B2 (ja) | ||
| JP3112455B2 (ja) | Ｘ線映像の散乱放射効果補正装置 | |
| DE4235527A1 (de) | Einrichtung zur erfassung medizinischer roentgenbilder mit automatischer belichtung | |
| US5311568A (en) | Optical alignment means utilizing inverse projection of a test pattern/target | |
| US20010041832A1 (en) | Imaging apparatus, imaging system, imaging control method, and storage medium | |
| JPH0815182A (ja) | ｘ線画像システムにおける放射線散乱を補償するための方法 | |
| FR2522489A1 (fr) | Appareil de diagnostic aux rayons x | |
| JPH1033523A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JPS5836327B2 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JPH0678216A (ja) | 放射線画像撮影装置および方法 | |
| JPS60156437A (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| JPH0414542B2 (ja) | ||
| JPH08299316A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP4306021B2 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JP3349004B2 (ja) | Ｘ線画像計測装置 | |
| JP4357612B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
| JP2741236B2 (ja) | 放射線撮影装置の露出補償装置 | |
| JP2002136511A (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JPH04183443A (ja) | Ｘ線のｃｔ装置のプリアンプ増幅率設定方法 | |
| JPS6246172B2 (ja) | ||
| JPH08102396A (ja) | Ｘ線透視撮影装置 | |
| EP0191532A1 (en) | X-ray examining device | |
| JPH05122610A (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JP2003033344A (ja) | ２次元ｘ線検出器を用いたｘ線回転撮影装置 |