JPS5836327B2 - X線撮影装置 - Google Patents
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- JPS5836327B2 JPS5836327B2 JP51002191A JP219176A JPS5836327B2 JP S5836327 B2 JPS5836327 B2 JP S5836327B2 JP 51002191 A JP51002191 A JP 51002191A JP 219176 A JP219176 A JP 219176A JP S5836327 B2 JPS5836327 B2 JP S5836327B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
- G03B42/021—Apparatus for direct X-ray cinematography
- G03B42/023—Apparatus for indirect X-ray cinematography, i.e. by taking pictures on ordinary film from the images on the fluorescent screen
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/548—Remote control of the apparatus or devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はX線イメージインテンシファイア(以下I,
I,と略称する)を用いてX線撮影するI.I,間接撮
影用X線撮影装置に係り、特にI, I.間接撮影の性
能向上に関するものである。
I,と略称する)を用いてX線撮影するI.I,間接撮
影用X線撮影装置に係り、特にI, I.間接撮影の性
能向上に関するものである。
従来、I, I,間接撮影は第1図に示すような構成で
撮影される。
撮影される。
即ち、X線発生器1がらX線が被写体2に曝射され、被
写体2で変調されたX線像は散乱X線を除去するグリッ
ド3を通過しI.I,4に入射する。
写体2で変調されたX線像は散乱X線を除去するグリッ
ド3を通過しI.I,4に入射する。
I.I,4でX線像は明るい光の像に変換され、この光
の像をレンズ系5で取り出し光学カメラ6でフイルム上
に撮影する。
の像をレンズ系5で取り出し光学カメラ6でフイルム上
に撮影する。
このようにして被写体2のX線写真がフィルムに撮影さ
れる。
れる。
このI, I.間接撮影の撮影チャンスを選ぶため、レ
ンズ系5より光をテレビジョンヵメラ7に送りモニタ8
でモニタしながら撮影するようになっている。
ンズ系5より光をテレビジョンヵメラ7に送りモニタ8
でモニタしながら撮影するようになっている。
この光学カメラ6で撮影されたフィルム像は次に述べる
ように、像の周辺部の黒化度が薄くなり極端な場合ほと
んど写らないという欠点があり非常に不具合である。
ように、像の周辺部の黒化度が薄くなり極端な場合ほと
んど写らないという欠点があり非常に不具合である。
この欠点の原因には4つの原因がある。
1つはX線発生器1からのX線の強度分布が一様でない
。
。
即ち、第2図に示すように、X線はX線管11の陰極1
3から電子14が陽極15に衝突してX線を発生する。
3から電子14が陽極15に衝突してX線を発生する。
このように、X線管11の管軸方向に陰極13、陽極1
5が順次配置されるため、管軸方向に対して陽極面が傾
斜して非対称な配置となる。
5が順次配置されるため、管軸方向に対して陽極面が傾
斜して非対称な配置となる。
従って、発生したX線も管軸方向、即ち点18〜16〜
17の方向のX線強度分布は点16に対して非対称とな
る。
17の方向のX線強度分布は点16に対して非対称とな
る。
また、周辺部、例えば点18,17は点16に比べX線
発生源より遠い。
発生源より遠い。
一般に、X線強度は途中での減衰がない場合距離の2乗
の反比例して減少する。
の反比例して減少する。
また、最周辺はX線管11の出口19の太きさにより決
まる。
まる。
そのため、X線強度分布は口のように片側の周辺部が非
常に弱く、点16について非対称な分布となる。
常に弱く、点16について非対称な分布となる。
2つ目は第3図に示すように、I.I.4によるもので
、I.I,4の入力面に一様な強度分布のX線が入射し
た場合でもその出力の光の分布は第3図口のように周辺
部が弱い分布となる。
、I.I,4の入力面に一様な強度分布のX線が入射し
た場合でもその出力の光の分布は第3図口のように周辺
部が弱い分布となる。
即ち、第3図イでX線管21より同じ強さのX線22,
23が曝射されたとする。
23が曝射されたとする。
X線はI,I,4の中のI,I.管球の入力窓24を通
過して入力げい光面基板25を通り、人力げい光面26
に達し、X線が光に変換される。
過して入力げい光面基板25を通り、人力げい光面26
に達し、X線が光に変換される。
更に、図より分かるように、X線22は入力窓に垂直に
入射するがX線23は斜めに入射するため、X線透過の
距離が長くなり、ガラスの厚さの増加と重って、X線2
2に比べX線23の減衰は太きい。
入射するがX線23は斜めに入射するため、X線透過の
距離が長くなり、ガラスの厚さの増加と重って、X線2
2に比べX線23の減衰は太きい。
次に、入力げい光面26に入射した場合、X線22は入
力げい光而26に垂直に入射するが、X線23は斜めに
入射するため、入力けい光面26で発光する場所が広が
り解像度が低下する。
力げい光而26に垂直に入射するが、X線23は斜めに
入射するため、入力けい光面26で発光する場所が広が
り解像度が低下する。
従って、入力げい光面26の膜厚を周辺部ほど薄くする
必要があり、X線の光への変換効率が悪くなる。
必要があり、X線の光への変換効率が悪くなる。
更に、I,I,4は出力画像が糸巻歪になるため、周辺
部は中心部より拡大され、単位面積当りの光量がへり周
辺部が暗くなる。
部は中心部より拡大され、単位面積当りの光量がへり周
辺部が暗くなる。
以上のように、I, I.4は第3図口に示すように周
辺部が中心部に比べ暗く、その明るさは中心部の約60
%位になるのが多い。
辺部が中心部に比べ暗く、その明るさは中心部の約60
%位になるのが多い。
3つ目はレンズ系5によるもので、I, I,間接撮影
には第4図に示すようなタンデムレンズ系を使用する。
には第4図に示すようなタンデムレンズ系を使用する。
このレンズ系はI,I.4側のレンズ36でI,I,4
の光を平行光線にし、レンズ37でフイルム上に結像さ
せる。
の光を平行光線にし、レンズ37でフイルム上に結像さ
せる。
中心部31は点38に、周辺部32は点39に結像する
。
。
中心部31の光はレンズ36で立体角330部分の光を
採光するのに対し、周辺部32の光は立体角340部分
が採光される。
採光するのに対し、周辺部32の光は立体角340部分
が採光される。
立体角34は立体角33より小さく、かつ立体角の中心
線が光源32の光源而に対する垂匝から傾いているので
、周辺部32よりの採光量は中心部31より少な《、ま
た周辺部32よりの光はレンズ36で平行にされる時、
レンズ36,37の軸と平行にはならないので、レンズ
37で千行光の端の部分がレンズ37からはずれ点39
に結像に寄与しない。
線が光源32の光源而に対する垂匝から傾いているので
、周辺部32よりの採光量は中心部31より少な《、ま
た周辺部32よりの光はレンズ36で平行にされる時、
レンズ36,37の軸と平行にはならないので、レンズ
37で千行光の端の部分がレンズ37からはずれ点39
に結像に寄与しない。
このようにしてレンズ系5においても周辺部の光量は少
なくなり第3図口のように周辺部の暗い分布となる。
なくなり第3図口のように周辺部の暗い分布となる。
従って、これらが総合されるため光学カメラ6のフイル
ム上の光量は周辺部は可成少なくなり、第5図に示すよ
うに、例えばフィルム像イの軸43〜44については、
口図のように、軸41〜42についてぱハ図のようにな
る。
ム上の光量は周辺部は可成少なくなり、第5図に示すよ
うに、例えばフィルム像イの軸43〜44については、
口図のように、軸41〜42についてぱハ図のようにな
る。
4つ目には被写体2によるもので、例えば同じ厚さの被
写体2では周辺部は被写体2を斜めに通ることにより、
X線の減衰が大きく周辺部がより暗くなる。
写体2では周辺部は被写体2を斜めに通ることにより、
X線の減衰が大きく周辺部がより暗くなる。
また、医療診断で良く用いられる胃部のX線撮影がある
が、この場合、胃を中心に写すと胃盤部が周辺部に位置
し、胃の下端がこの部に重なり、X線透過率が悪くなり
、この部分の周辺部が更に暗《なる。
が、この場合、胃を中心に写すと胃盤部が周辺部に位置
し、胃の下端がこの部に重なり、X線透過率が悪くなり
、この部分の周辺部が更に暗《なる。
以上のように、I, I.間接撮影装置は画像の周辺部
が暗くなる欠点を有している。
が暗くなる欠点を有している。
これを改良するため、従来も次のような試みがなされて
いる。
いる。
しかし、この試みはいずれも被写体2へのX線曝射量を
増加させ、また画像をボケさせる欠点があった。
増加させ、また画像をボケさせる欠点があった。
特に、被写体2が人体の場合例えば胃のX線撮影等の場
合、X線曝射が増えることは、遺伝への悪影響、白血病
、寿命短縮が生じ、非常に好ましくない。
合、X線曝射が増えることは、遺伝への悪影響、白血病
、寿命短縮が生じ、非常に好ましくない。
即ち、I,I,40入力面24のガラス厚さを中心部を
厚くして中心部のX線透過率を悪くして、周辺部のX線
透過率を相対に良くする方法が従来行なわれているが、
この場合は、フィルム中心部でほぼ同じ明るさを得るた
めに全体のX線曝射量を増さなければならない。
厚くして中心部のX線透過率を悪くして、周辺部のX線
透過率を相対に良くする方法が従来行なわれているが、
この場合は、フィルム中心部でほぼ同じ明るさを得るた
めに全体のX線曝射量を増さなければならない。
また、入力面中心部におけるX線吸収量が増すため、物
体にX線が衝突し発生する散乱X線が増加し、この散乱
X線により入力げい光面26が励起され画像のコントラ
ストが低下する。
体にX線が衝突し発生する散乱X線が増加し、この散乱
X線により入力げい光面26が励起され画像のコントラ
ストが低下する。
また、I,I,4の出力げい光面の中心部のメタルバッ
クのアルミニウム膜厚を厚くして中心部の電子の透過率
を悪くし、中心部の輝度を暗くして一様化することもで
きるが、この場合も、曝射X線量が増加し、また、入力
面中心部が不必要に明るくなるため、管内の反射光量が
不必要に多くなり、画像のコントラストを悪くする。
クのアルミニウム膜厚を厚くして中心部の電子の透過率
を悪くし、中心部の輝度を暗くして一様化することもで
きるが、この場合も、曝射X線量が増加し、また、入力
面中心部が不必要に明るくなるため、管内の反射光量が
不必要に多くなり、画像のコントラストを悪くする。
次に、レンズ系での周辺光量低下を防ぐため、第4図の
レンズ36と37の間にレンズ絞り(レンズの口径より
小さい穴の開いたマスク)を入れて、I.i,側レンズ
36の平行光の周辺部を削ることにより、カメラレンズ
37で中心部31の光に対して周辺部32の光のレンズ
37で削ラれる割合いを少なくすることができる。
レンズ36と37の間にレンズ絞り(レンズの口径より
小さい穴の開いたマスク)を入れて、I.i,側レンズ
36の平行光の周辺部を削ることにより、カメラレンズ
37で中心部31の光に対して周辺部32の光のレンズ
37で削ラれる割合いを少なくすることができる。
この場合、フィルムに達する光量が全体に減るので、X
線曝射を増さなければならない。
線曝射を増さなければならない。
このように、従来行われている方法では被写体2のX線
被曝および画質の点で欠点があった。
被曝および画質の点で欠点があった。
本発明はこれらの欠点を除去し、従来以上に均一な画質
を得るX線撮影装置を提供することを目的とする。
を得るX線撮影装置を提供することを目的とする。
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
第6図は本発明の一実施例で、X線発生器51で発生し
たX線は場所により異なる減衰率のフィルタ52を通っ
てX線の強度分布をフイルム上で中心部と周辺部の明る
さの差が小さくなるように修正される。
たX線は場所により異なる減衰率のフィルタ52を通っ
てX線の強度分布をフイルム上で中心部と周辺部の明る
さの差が小さくなるように修正される。
このX線が被写体53を通りX線像となり、グリッド5
4で散乱X線を除去し、I. I. 5 5に入射する
。
4で散乱X線を除去し、I. I. 5 5に入射する
。
このX線像はI. I.5 5で光の像に変換され、レ
ンズ系56を通し、テレビジョンカメラ58でモニタ5
9に写しモニタし、撮影チャンスを選んでレンズ系56
を通し、光学カメラ57でフイルムに撮影する。
ンズ系56を通し、テレビジョンカメラ58でモニタ5
9に写しモニタし、撮影チャンスを選んでレンズ系56
を通し、光学カメラ57でフイルムに撮影する。
即ち、第6図に示すように、X線発生器のX線源からX
線イメージインテンシファイアのX線入射而に至る間の
X線透過率が場所により異なる減衰率のフィルタ52(
以下X線分布修正フィルタと呼ぶ)をX線発生器51と
被写体53との間に設けたことである。
線イメージインテンシファイアのX線入射而に至る間の
X線透過率が場所により異なる減衰率のフィルタ52(
以下X線分布修正フィルタと呼ぶ)をX線発生器51と
被写体53との間に設けたことである。
この装置では前述の従来の欠点が除去される。
即ち、被写体53を通過したX線は全て有効に作用する
。
。
従って、前述のように、周辺部の明るさを中心部に近す
げるために、被写体53の全体へのXM曝射を増加する
必要はなく、周辺部のみ曝射量を増加することにより、
周辺部を明るくすることができる。
げるために、被写体53の全体へのXM曝射を増加する
必要はなく、周辺部のみ曝射量を増加することにより、
周辺部を明るくすることができる。
従って、被写体53のX線被曝は必要最小限で済み、ま
た余分な散乱X線の発生、余分な入力げい光面の発光に
よるコントラスト低下がないという大きな利点がある。
た余分な散乱X線の発生、余分な入力げい光面の発光に
よるコントラスト低下がないという大きな利点がある。
このX線分布修正フィルタの減衰分布を適当に選ぶこと
により、フイルム上の明るさを適当なレベルまで修正す
ることもでき、この場合、X線発生器への負担は比較的
軽視できる。
により、フイルム上の明るさを適当なレベルまで修正す
ることもでき、この場合、X線発生器への負担は比較的
軽視できる。
第7図イ,口,ハはX線分布修正フィルタの例を示す。
即ち、第7図イはX線透過率が場所により変化するよう
にフィルタ材の厚さの分布を中心が厚く、周辺が薄《形
成されたフィルタで、例えばアルミニウム材で中心部を
厚く、例えば3mm、周辺部は薄く例えば0. 5 m
mになるように、X線フィルタのフィルタ材の厚さの分
布を、X線発生器のX線源とX線イメージインテンシフ
ァイアのX線入射面の中心とを結ぶ直線に対して軸対称
形に形成したX線分布修正フィルタであり、I, I,
55、レンズ系56の修正に用いて効果がある。
にフィルタ材の厚さの分布を中心が厚く、周辺が薄《形
成されたフィルタで、例えばアルミニウム材で中心部を
厚く、例えば3mm、周辺部は薄く例えば0. 5 m
mになるように、X線フィルタのフィルタ材の厚さの分
布を、X線発生器のX線源とX線イメージインテンシフ
ァイアのX線入射面の中心とを結ぶ直線に対して軸対称
形に形成したX線分布修正フィルタであり、I, I,
55、レンズ系56の修正に用いて効果がある。
X線分布修正フィルタの厚さはX線の線質、被写体によ
り適当な厚みを選択する必要がある加工の面から球面で
近似させることができる。
り適当な厚みを選択する必要がある加工の面から球面で
近似させることができる。
第7図口はX線発生器21のX線濃度分布のように非対
称な分布を修正するフィルタで、X線透過率を変えるた
めフィルタ材の厚さの変化が一方向にのみあり、一方が
厚く、他方が薄く形成されたもので、例えばアルミニウ
ム材で厚い方3間、薄い方0. 5 mmで、フィルタ
材の厚さが一方向に変化し加工の面からテーパ状に近似
させた楔形のX線分布修正フィルタであり、第γ図イの
場合と同様、X線線質、被写体により厚さを適宜選択す
る必要がある。
称な分布を修正するフィルタで、X線透過率を変えるた
めフィルタ材の厚さの変化が一方向にのみあり、一方が
厚く、他方が薄く形成されたもので、例えばアルミニウ
ム材で厚い方3間、薄い方0. 5 mmで、フィルタ
材の厚さが一方向に変化し加工の面からテーパ状に近似
させた楔形のX線分布修正フィルタであり、第γ図イの
場合と同様、X線線質、被写体により厚さを適宜選択す
る必要がある。
又、第7図ハは第7図イのフィルタと第7図口のフィル
タとよりなる2枚のフィルタを組合わせて一つのX線分
布修正フィルタとして用いたもので、X線発生器5L
I.I.55、レンズ系56の全体を修正することが
できる。
タとよりなる2枚のフィルタを組合わせて一つのX線分
布修正フィルタとして用いたもので、X線発生器5L
I.I.55、レンズ系56の全体を修正することが
できる。
また、前記X線分布修正フィルタにアルミニウム以外の
金属例えば、銅、鉄、鉛等、X線透過率の悪い金属を用
いると、非常に薄いフィルタで間に合うという利点があ
る。
金属例えば、銅、鉄、鉛等、X線透過率の悪い金属を用
いると、非常に薄いフィルタで間に合うという利点があ
る。
この場合、真空蒸着法でフィルタを形成することもでき
るが、厚さの変化量が少なくなるので加工しにくい欠点
もあわせもっているので、金属の材質はフィルタに要求
される外形寸法に応じて適宜選択することができる。
るが、厚さの変化量が少なくなるので加工しにくい欠点
もあわせもっているので、金属の材質はフィルタに要求
される外形寸法に応じて適宜選択することができる。
又、材質はX線透過率および加工のしやすさから決めれ
ばよく、金属に限定されない例えばセラミックでもよい
。
ばよく、金属に限定されない例えばセラミックでもよい
。
第8図はX線分布の修正例を示す。
実線がX線分布修正フィルタを入れない場合、点線がX
線分布修正フィルタで修正した場合である。
線分布修正フィルタで修正した場合である。
第8図イー1は第7図口のX線分布修正フィルタを用い
た場合のX線強度分布を示し、第8図口1は第7図ハの
X線分布修正フィルタを用いた場合のX線強度分布を示
す。
た場合のX線強度分布を示し、第8図口1は第7図ハの
X線分布修正フィルタを用いた場合のX線強度分布を示
す。
第8図イー2、第8図ロー2は夫々第8図イー1、第8
図口−1の場合のフイルム上の出力像の濃度分布で実線
はX線分布修正フィルタを入れない場合、点線はX線分
布修正フィルタを入れた場合を示す。
図口−1の場合のフイルム上の出力像の濃度分布で実線
はX線分布修正フィルタを入れない場合、点線はX線分
布修正フィルタを入れた場合を示す。
第8図口1は中心部のX線強度を周辺部より少なくし、
I,I.55、レンズ系56による周辺部の暗さを修正
することができ、修正の程度はこの中心部の落ち込み具
合で調整される。
I,I.55、レンズ系56による周辺部の暗さを修正
することができ、修正の程度はこの中心部の落ち込み具
合で調整される。
又、第9図に示すように、拡大撮影により画像の鮮鋭度
を良くするため、I, I. 9 5を被写体97から
離して撮影したい場合、例えばI,I,95がI, I
, 9 6の位置にくると、X線分布修正フィルタ93
の位置が前のままではX線分布修正に役立たない。
を良くするため、I, I. 9 5を被写体97から
離して撮影したい場合、例えばI,I,95がI, I
, 9 6の位置にくると、X線分布修正フィルタ93
の位置が前のままではX線分布修正に役立たない。
即ち、I, I, 9 5よりフイルム側の影響を補正
するフィルタ93はそれぞれの場所が、I. I,入射
面のそれぞれの場所に対応し、X線発生器91とI,
I. 9 5の距離の変化で変わらないようにする必要
がある。
するフィルタ93はそれぞれの場所が、I. I,入射
面のそれぞれの場所に対応し、X線発生器91とI,
I. 9 5の距離の変化で変わらないようにする必要
がある。
従って、a/b=c/dとなるように、フィルタ93の
位置は選定する必要がある。
位置は選定する必要がある。
従って、I,I,95の場合に、フィルタ93ならば、
I.I.960時フィルタ94ヘ移動させる必要がある
。
I.I.960時フィルタ94ヘ移動させる必要がある
。
従って、X線発生器91のX線源とI.I.95との間
の距離の変化に応じてフィルタ930通過X線強度分布
を変化する手段として、2枚のフィルタ92,93のう
ち少なくとも一方のフィルタ93を、X線発生器91の
X線源とI,I.95のX線入射面の中心を結ぶ直線の
方向に移動できるようにすることにより、常に黒化度の
均一なフイルムが得られる。
の距離の変化に応じてフィルタ930通過X線強度分布
を変化する手段として、2枚のフィルタ92,93のう
ち少なくとも一方のフィルタ93を、X線発生器91の
X線源とI,I.95のX線入射面の中心を結ぶ直線の
方向に移動できるようにすることにより、常に黒化度の
均一なフイルムが得られる。
又、フィルタ93を移動させる代りに、ターレットに種
々のフィルタを装置して置き順次回転して取り換えても
よい。
々のフィルタを装置して置き順次回転して取り換えても
よい。
このようにすることにより、X線発生器91と被写体9
7間のせまい空間を有効に利用することができる。
7間のせまい空間を有効に利用することができる。
なお、2枚のフィルタ92,93の少なくとも一方のフ
ィルタ93を、近接手動操作または遠隔操作で着脱自在
に、もしくはフィルタの種類交換ができるようにしても
よい。
ィルタ93を、近接手動操作または遠隔操作で着脱自在
に、もしくはフィルタの種類交換ができるようにしても
よい。
又、第10図に示すように、I.I.105の視野をA
106からB107に切換えて用いる場合、視野B10
7の場合はI,I,105の周辺の落ち込みが少なくな
るので、主としてI,I,105の補正をするフィルタ
103を除いても可成りよい状態である。
106からB107に切換えて用いる場合、視野B10
7の場合はI,I,105の周辺の落ち込みが少なくな
るので、主としてI,I,105の補正をするフィルタ
103を除いても可成りよい状態である。
このように視野を小さくすると、I.I.105の感度
が大巾に低下するので、X線発生器101の負荷を軽減
するためにもフィルタ103を除くことが好ましい。
が大巾に低下するので、X線発生器101の負荷を軽減
するためにもフィルタ103を除くことが好ましい。
従って、視野の切換えに応じてフィルタ103を挿入し
たり、はずしたりするようにすると非常に都合がよい。
たり、はずしたりするようにすると非常に都合がよい。
102はフィルタ、104は被写体である。
なお、散乱X線による被写体の被曝を少なくするためX
線分布修正フィルタは被写体よりできるだけ遠ざけるこ
とが好ましい。
線分布修正フィルタは被写体よりできるだけ遠ざけるこ
とが好ましい。
従ってX線発生器に近い方がよりよい。
以上述べたように本発明によれば、従来の欠点を除去し
て従来以上に均一な画像が得られるX線撮影装置を提供
することができる。
て従来以上に均一な画像が得られるX線撮影装置を提供
することができる。
第1図は従来のX線撮影装置を示す構成説明図、第2図
は従来のX線管のX線分布例を示す説明図、第3図イ,
口は従来のI, I,による周辺部の暗くなる理由の説
明図、第4図は従来のレンズ系による周辺部の暗くなる
理由の説明図、第5図イ,口,ハは従来の光学カメラの
フィルム上の光量分布を説明する図、第6図は本発明X
線撮影装置の一実施例を示す構戒説明図、第7図イ,口
,ハは本発明に係るX線分布修正フィルタの例を示す断
面図、第8図イー1,イー2,ロー1,口−2は本発明
に係るX線分布修正フィルタ前後のX線強度分布例を示
す説明図、第9図及び第10図は夫々本発明X線撮影装
置の他の実施例を示す構成説明図である。 51・・・・・・X線発生器、52・・・・・・X線分
布修正フィルタ、53・・・・・・被写体、54・・・
・・・グリッド、55・・・・・・X線イメージインテ
ンシファイア、56・・・・・・レンズ系、5γ・・・
・・・光学カメラ。
は従来のX線管のX線分布例を示す説明図、第3図イ,
口は従来のI, I,による周辺部の暗くなる理由の説
明図、第4図は従来のレンズ系による周辺部の暗くなる
理由の説明図、第5図イ,口,ハは従来の光学カメラの
フィルム上の光量分布を説明する図、第6図は本発明X
線撮影装置の一実施例を示す構戒説明図、第7図イ,口
,ハは本発明に係るX線分布修正フィルタの例を示す断
面図、第8図イー1,イー2,ロー1,口−2は本発明
に係るX線分布修正フィルタ前後のX線強度分布例を示
す説明図、第9図及び第10図は夫々本発明X線撮影装
置の他の実施例を示す構成説明図である。 51・・・・・・X線発生器、52・・・・・・X線分
布修正フィルタ、53・・・・・・被写体、54・・・
・・・グリッド、55・・・・・・X線イメージインテ
ンシファイア、56・・・・・・レンズ系、5γ・・・
・・・光学カメラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 X線発生器からのX線を被写体に通し、X線イメー
ジインテンシファイアを介して光学カメラで撮影するよ
うにしたX線撮影装置において、X線発生器と被写体と
の間にX線透過率が場所により変化しているX線フィル
タを配設することを特徴とするX線撮影装置。 2 X線フィルタとして、X線透過率が場所により変化
するようにフィルタ材の厚さの分布を中心が厚く、周辺
が薄く形成されることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のX線撮影装置。 3 X線フィルタのフィルタ材の厚さの分布を、X線発
生器のX線源とX線イメージインテンシファイアのX線
入射面の中心とを結ぶ直線に対して軸対称形に形成する
ことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載のX線撮影
装置。 4 X線フィルタとして、X線透過率を変えるためフィ
ルタ材の厚さの変化が一方向にのみあり、?方が厚く、
他方が薄く形成されることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載のX線撮影装置。 5 X線フィルタとして、X線透過率が場所により変化
するようにフィルタ材の厚さの分布を中心が厚く、周辺
が薄く形成されたフィルタとフィルタ材の厚さの変化が
一方向にのみあり一方が厚く他方が薄く形威されたフィ
ルタとよりなる2枚のフィルタまたは両者を組合せて1
体としたフィルタを用いたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のX線撮影装置。 6 X線フィルタに、X線源とX線イメージインテンシ
ファイアとの間の距離の変化に応じて通過X線強度分布
を変化する手段を設けたことを特徴とする特許請求の範
囲第5項記載のX線撮影装置。 7 X線源とX線イメージインテンシファイアとの間の
距離の変化に応じて通過X線強度分布を変化する手段と
して、2枚のフィルタのうち少なくとも一方のフィルタ
を、X線発生器のX線源とX線イメージインテンシファ
イアのX線入射面の中心を結ぶ直線方向に移動できるよ
うにしたことを特徴とする特許請求の範囲第6項記載の
X線撮影装置。 8 X線源とX線イメージインテンシファイアとの間の
距離の変化に応じて通X線強度分布を変化する手段とし
て、2枚のフィルタのうち少な《とも一方のフィルタを
交換できるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第6項記載のX線撮影装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP51002191A JPS5836327B2 (ja) | 1976-01-10 | 1976-01-10 | X線撮影装置 |
US05/756,003 US4101766A (en) | 1976-01-10 | 1977-01-03 | X-ray image intensifier photofluorography apparatus for correcting the brightness of the output image |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP51002191A JPS5836327B2 (ja) | 1976-01-10 | 1976-01-10 | X線撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5285493A JPS5285493A (en) | 1977-07-15 |
JPS5836327B2 true JPS5836327B2 (ja) | 1983-08-09 |
Family
ID=11522459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP51002191A Expired JPS5836327B2 (ja) | 1976-01-10 | 1976-01-10 | X線撮影装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4101766A (ja) |
JP (1) | JPS5836327B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4499591A (en) * | 1982-11-17 | 1985-02-12 | Gary Hartwell | Fluoroscopic filtering |
US4910759A (en) * | 1988-05-03 | 1990-03-20 | University Of Delaware | Xray lens and collimator |
NL9000896A (nl) * | 1990-04-17 | 1991-11-18 | Philips Nv | Roentgenstraling absorberend filter. |
IT1286819B1 (it) * | 1996-12-11 | 1998-07-17 | Gd Spa | Metodo di misura dell'intensita' di radiazione trasmessa attraverso un corpo |
US6968042B2 (en) * | 2003-09-12 | 2005-11-22 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Methods and apparatus for target angle heel effect compensation |
US7397904B2 (en) * | 2005-05-11 | 2008-07-08 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Asymmetric flattening filter for x-ray device |
US8073168B2 (en) * | 2006-08-29 | 2011-12-06 | Locksley A. Christian | Compact open baffle speaker system |
JP6021319B2 (ja) * | 2011-12-02 | 2016-11-09 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線診断装置 |
CN102692811A (zh) * | 2012-05-30 | 2012-09-26 | 丹东奥龙射线仪器有限公司 | X射线实时成像图像采集调整装置 |
DE102012219051A1 (de) * | 2012-10-18 | 2014-04-24 | Klinikum Der Universität München | Auswahl eines Strahlungsformfilters |
DE102014203465A1 (de) * | 2014-02-26 | 2015-08-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Auswahl eines Strahlungsformfilters und Röntgenbildgebungssystem |
US10403413B2 (en) * | 2016-09-30 | 2019-09-03 | Varian Medical Systems, Inc. | Beam filter assembly and beam filter positioning device |
CN112205991A (zh) * | 2020-10-14 | 2021-01-12 | 成都理工大学 | 一种x光机阳极足跟效应修正的方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3660664A (en) * | 1970-05-11 | 1972-05-02 | Robert P Pasmeg | Wedge for varying cross-sectional intensity of beam of penetrating radiation |
US3860817A (en) * | 1973-08-10 | 1975-01-14 | Gen Electric | Reducing patient X-ray dose during fluoroscopy with an image system |
DE2358652C3 (de) * | 1973-11-24 | 1979-07-19 | Karl-Heinz 6233 Kelkheim Tetzlaff | Bestrahlungsvorrichtung zur gleichmäßigen Bestrahlung von Bestrahlungsgut mittels elektromagnetischer Strahlung von mehr als 5 keV Energie |
CA1009382A (en) * | 1974-12-18 | 1977-04-26 | Her Majesty In Right Of Canada As Represented By Atomic Energy Of Canada Limited | X-ray beam flattener |
-
1976
- 1976-01-10 JP JP51002191A patent/JPS5836327B2/ja not_active Expired
-
1977
- 1977-01-03 US US05/756,003 patent/US4101766A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4101766A (en) | 1978-07-18 |
JPS5285493A (en) | 1977-07-15 |
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