JPH0917594A - X線撮影装置 - Google Patents
X線撮影装置Info
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- JPH0917594A JPH0917594A JP18864295A JP18864295A JPH0917594A JP H0917594 A JPH0917594 A JP H0917594A JP 18864295 A JP18864295 A JP 18864295A JP 18864295 A JP18864295 A JP 18864295A JP H0917594 A JPH0917594 A JP H0917594A
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Abstract
ぼけの影響がない最適なX線像を撮影する。 【構成】 X線制御装置31において、検診台11、X
線管球12、イメージインテンシファイア14の位置関
係から求めた拡大率と、焦点サイズとから半影ぼけの大
きさを計算し、これと撮影すべきデジタル画像の1ピク
セルのイメージインテンシファイア14の受像面での大
きさとを比較して、焦点サイズを決定し、焦点選択回路
35を制御して、X線管球12の焦点のサイズを切り換
える。
Description
はデジタル式のX線撮影装置に関し、特に、複数の異な
る焦点サイズを持つX線管球を具備するX線撮影装置に
関する。
などに記録するアナログ式と、イメージインテンシファ
イアとテレビカメラとを用いてX線画像信号を得てこれ
をデジタル画像に変換して記録するデジタル式とがあ
る。そして、これらのX線撮影装置で、焦点サイズが異
なる複数の焦点を持ち、それらを切り換えることのでき
るX線管球を備えたものが用いられている。
流すことができるので、露出時間を短くできるが、半影
ぼけが大きくなり、撮影像の鮮鋭度は落ちる。とくに、
X線幾何学系において、X線焦点から被写体までの距離
と撮像面までの距離とで決まる拡大率が大きい場合に半
影ぼけが大きくなるので問題となる。他方、焦点サイズ
が小さい場合は半影ぼけは小さいが、流す管電流を大き
くすることはできず、そのため露出時間は長くなり、被
写体に動きがあると、その動きによるぼけが生じる。
(管電圧など)を大きくして撮影するため、大きなX線
焦点を選び、大電流・短時間撮影を行なう。逆に被写体
が薄くてX線条件が小さい場合や拡大率が大きいとき
は、動きによるぼけを無視して、小焦点・小電流・長時
間撮影とする。
は、オペレータの手動操作にたよっていた。すなわち、
オペレータが、X線条件や拡大率、被写体厚さ、動きの
ある被写体であるかどうか等の種々の条件を勘案して、
X線焦点サイズを決定し、それを選択するよう操作して
いる。
ようにオペレータがX線焦点サイズを選び手動で設定す
るのでは非常に面倒であり、適切な設定を行なうにはオ
ペレータの熟練を要し、しかも設定ミスも生じやすい、
という問題がある。
大率等によらず、半影ぼけが最も少ない最適なX線像の
撮影を自動的に行なうことができるように改善した、X
線撮影装置を提供することを目的とする。
め、この発明によるX線撮影装置においては、複数のサ
イズの異なるX線焦点を有するX線発生手段と、X線焦
点のサイズと拡大率とから半影ぼけの大きさを算出する
手段と、該算出された半影ぼけの大きさと撮影すべき画
像の解像度とを比較して焦点サイズを決定する手段と、
上記X線発生手段の焦点サイズを決定された焦点サイズ
に切り換える手段とが備えられることが特徴となってい
る。
以下ならば画像の鮮鋭度に影響を与えない。そこで、半
影ぼけの大きさを、X線焦点のサイズと拡大率とから半
影ぼけの大きさを算出し、これと撮影すべき画像の解像
度とを比較することにより、画像に悪影響を与えない焦
点のサイズが分かる。画像に悪影響を与えない最も大き
な焦点サイズを用いれば、より大電流で、より短時間の
撮影が可能となり、良好な画像を撮影することができ
る。
図面を参照しながら詳細に説明する。図1において、被
写体10が検診台11に載せられており、X線管球12
からコリメータ13を介してX線が照射されるようにな
っている。被写体10を透過したX線はイメージインテ
ンシファイア(I.I.)14に入射し、X線透過像が
可視光の像に変換される。この可視光像は光学系15お
よび絞り装置16を経てテレビカメラ17に導かれ、画
像信号が得られる。このX線画像信号は画像処理装置2
1を経て画像モニター装置22に送られ、X線透視像が
表示される。画像処理装置21は、入力された画像信号
をデジタル画像データに変換して種々の画像処理を行な
うものである。記録装置23は撮影画像の記録を行な
う。
を制御することによって、検診台11の高さやX線管球
12の高さをコントロールする。また、コリメータ13
のリーフの開き量が、X線制御装置31の制御下でコリ
メータ駆動装置33によって制御される。X線管球12
にはX線電源装置34から高電圧などが供給される。こ
のX線管球12は、この実施例では大・中・小の3つの
サイズの焦点を備えるもので、それらが焦点選択回路3
5により選択される。X線制御装置31は上記のほか、
これらのX線電源装置34や焦点選択回路35、絞り装
置16などを制御する。さらにX線制御装置31は、イ
メージインテンシファイア14を制御してその視野サイ
ズを切り換える。
像を表示していわゆるX線透視を行ない、オペレータが
その表示画像の観察により適当なタイミングを捉えてX
線撮影を行なう。この透視時には、画像処理装置21か
らX線画像信号の輝度信号が送られ、X線制御装置31
によってこの輝度が一定になるようにX線条件(管電圧
など)を調整する自動輝度調整が行なわれる。そのた
め、被写体10の厚さが厚い場合には、X線管電圧が高
められるなど、その厚さに適したX線条件が自動的に設
定される。
れると、その透視条件に応じて撮影時の焦点が選択され
る。これはX線制御装置31の内部で図2に示すような
手順で行なわれる。まず透視条件が所定のしきい値(A
とする)と比較される。これがA以上のときは、被写体
が厚い場合であるから、このときは半影ぼけよりも被写
体の動きによるぼけを少なくするため、大電流・短時間
撮影を行なうべく、大焦点を選択する。
焦点サイズを「中」に選択し、 Xh=(M−1)・Xf の計算を行なう。ここでXhは半影ぼけの大きさ、Xf
は焦点サイズである。Mは拡大率であり、X線管球12
の高さ、被写体10(検診台11)の高さ、およびイメ
ージインテンシファイア14の高さから求めた、X線焦
点から被写体10までの距離と、X線焦点からイメージ
インテンシファイア14の受像面までの距離との比であ
る。
イズXhが画像マトリクスの1ピクセルのサイズ(イメ
ージインテンシファイア14の受像面上でのサイズ)よ
り小さければ、半影ぼけは画像の鮮鋭度に影響を与えな
い。ところで、画像マトリクスの1ピクセルの、イメー
ジインテンシファイア14の受像面上でのサイズは、視
野サイズをIs(inch)、マトリクスサイズをMs
とすると、 (Is・25.4)/Ms で求められる。したがって、半影ぼけのサイズXhとこ
れとを比較して、前者が小さければそのまま中焦点を選
択する。逆に、半影ぼけのサイズXhが上記の計算で求
めた1ピクセルサイズ以上のときは、最小の焦点サイズ
を選択することになる。
れ、イメージインテンシファイア14、テレビカメラ1
7等によってX線透過像の画像信号が得られる。この画
像信号は画像処理装置21内に取り込まれてデジタル画
像データに変換され、その内部のメモリに格納された上
で、記録装置23に出力されて記録される。
デジタル画像データに変換せずにアナログの画像信号の
まま記録する方式や、フィルムをイメージインテンシフ
ァイア14の前面に送り込んで撮影する方式などの場合
でも、上記のようにして焦点を自動的に切り換えること
ができる。これらの場合にはピクセルサイズの代わりに
画像の解像度を用いて計算を計算を行なう(なおピクセ
ルサイズも画像の解像度の一種である)。
点が自動的に選択されたとき、その焦点でのX線管球の
負荷を計算して、過負荷にならないよう制御する(過負
荷のときは焦点を1段階大きくする)ようにしてもよ
い。また、拡大率の計算は検診台11の高さに所定の補
正を施したものを用いてもよい。
この発明のX線撮影装置によれば、被写体厚さや拡大率
あるいは画面の大きさ等によらず、つねに、最適X線焦
点サイズを自動的に選択することができ、半影ぼけが最
も少ない最適なX線像を撮影することができる。
ト。
Claims (1)
- 【請求項1】 複数のサイズの異なるX線焦点を有する
X線発生手段と、X線焦点のサイズと拡大率とから半影
ぼけの大きさを算出する手段と、該算出された半影ぼけ
の大きさと撮影すべき画像の解像度とを比較して焦点サ
イズを決定する手段と、上記X線発生手段の焦点サイズ
を決定された焦点サイズに切り換える手段とを備えるこ
とを特徴とするX線撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18864295A JP3465424B2 (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | X線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18864295A JP3465424B2 (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | X線撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0917594A true JPH0917594A (ja) | 1997-01-17 |
JP3465424B2 JP3465424B2 (ja) | 2003-11-10 |
Family
ID=16227293
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18864295A Expired - Fee Related JP3465424B2 (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | X線撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3465424B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003086027A1 (fr) * | 2002-04-05 | 2003-10-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Appareil, systeme et procede d'ajustement de tube a rayons x |
JP2007255951A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Ratoc System Engineering Co Ltd | X線検査装置 |
KR20200018201A (ko) * | 2018-08-10 | 2020-02-19 | 도시바 아이티 앤 콘트롤 시스템 가부시키가이샤 | X선 촬상 장치 |
-
1995
- 1995-06-30 JP JP18864295A patent/JP3465424B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003086027A1 (fr) * | 2002-04-05 | 2003-10-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Appareil, systeme et procede d'ajustement de tube a rayons x |
JP2007255951A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Ratoc System Engineering Co Ltd | X線検査装置 |
JP4601571B2 (ja) * | 2006-03-20 | 2010-12-22 | ラトックシステムエンジニアリング株式会社 | X線検査装置 |
KR20200018201A (ko) * | 2018-08-10 | 2020-02-19 | 도시바 아이티 앤 콘트롤 시스템 가부시키가이샤 | X선 촬상 장치 |
JP2020027101A (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | X線撮像装置 |
CN110873721A (zh) * | 2018-08-10 | 2020-03-10 | 东芝It·控制系统株式会社 | X射线摄像装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3465424B2 (ja) | 2003-11-10 |
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