JPH062370Y2 - 濃度校正用x線量検出器 - Google Patents
濃度校正用x線量検出器Info
- Publication number
- JPH062370Y2 JPH062370Y2 JP1987024549U JP2454987U JPH062370Y2 JP H062370 Y2 JPH062370 Y2 JP H062370Y2 JP 1987024549 U JP1987024549 U JP 1987024549U JP 2454987 U JP2454987 U JP 2454987U JP H062370 Y2 JPH062370 Y2 JP H062370Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- image
- ray dose
- dose detector
- density
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本考案は、X線撮像の分野で利用される。
本考案は、X線管とイメージ・インテンシファイア
(I.I)を用いてX線像を撮影するDSA(Digi
tal Subtraction Angiograp
hy)装置、またはDR(Digital Radio
graphy)装置に適用可能な濃度校正用X線量検出
器に関する。
(I.I)を用いてX線像を撮影するDSA(Digi
tal Subtraction Angiograp
hy)装置、またはDR(Digital Radio
graphy)装置に適用可能な濃度校正用X線量検出
器に関する。
(ロ)従来技術 DSA装置とは、造影剤注入前後のX線像を差引いて主
に血管像を撮像し、デジタル処理により表示するもので
ある。
に血管像を撮像し、デジタル処理により表示するもので
ある。
また、DR装置とは、X線管と検出器を固定して、天板
を定速で走査させるなど、他の走査モードもあるが、X
線をばく射し、同様にX線像をデジタル処理により表示
するものである。
を定速で走査させるなど、他の走査モードもあるが、X
線をばく射し、同様にX線像をデジタル処理により表示
するものである。
(ハ)考案が解決しようとする問題点 a.撮影中にX線管の管電圧KVp、管電流mAが時間
的に変化するので、X線量が変化し、撮像ごとにその濃
度が変わる。
的に変化するので、X線量が変化し、撮像ごとにその濃
度が変わる。
とくに、DSAでは、撮影時刻の違う像を引き算するの
で、サブトラクション像ごとに濃度が変化する。
で、サブトラクション像ごとに濃度が変化する。
b.X線をパルス照射する場合、特に上述の問題が顕著
となる。
となる。
c.現在DSA装置は、TVカメラを使用してX線イメ
ージ・インテンシファイア(XRII)の出力像を読み
出している。
ージ・インテンシファイア(XRII)の出力像を読み
出している。
この装置は今のところ血管の位置、形状及び血流の動特
性を見るのに使われている。いわば定性的な測定であ
る。将来、TVカメラをフォトダイオード・アレイ、C
CDに置き換えたり、散乱線除去法を取り入れ、濃度の
差を検出して病変を発見するような定量的測定に広がる
可能性があり、この場合特にX線量の変化による濃度変
化が問題になってくる d.現在、X線量の変動を押さえるため価格の高い定電
圧X線発生装置を用いている。
性を見るのに使われている。いわば定性的な測定であ
る。将来、TVカメラをフォトダイオード・アレイ、C
CDに置き換えたり、散乱線除去法を取り入れ、濃度の
差を検出して病変を発見するような定量的測定に広がる
可能性があり、この場合特にX線量の変化による濃度変
化が問題になってくる d.現在、X線量の変動を押さえるため価格の高い定電
圧X線発生装置を用いている。
本考案の目的は、X線管からのX線量を検出して、初期
基準画像の撮影時のX線量と実画像の撮影時のそれとの
比を計算し、実画像の濃度を校正するための濃度校正用
X線量検出器を提供することである。
基準画像の撮影時のX線量と実画像の撮影時のそれとの
比を計算し、実画像の濃度を校正するための濃度校正用
X線量検出器を提供することである。
(ニ)問題点を解決するための手段 前記した目的は、X線スペクトル補正用フィルターと、
X線発光体と、X線減衰体と、光電検出素子とを具有
し、X線イメージ・インテンシファイアと等価な特性を
付与することにより、達成できる。
X線発光体と、X線減衰体と、光電検出素子とを具有
し、X線イメージ・インテンシファイアと等価な特性を
付与することにより、達成できる。
(ホ)作用 X線イメージ・インテンシファイアの出力像を直接検出
することにより、濃度を校正することが提案されるが、
その検出位置ではスペースが限られ、またその出力像と
かぶる恐れもあるので、X線管と被写体間に配置できる
もので、X線イメージ・インテンシファイア程の高価な
ものでなく、しかしイメージ・インテンシファイアと同
等な作用を奏するように構成する。
することにより、濃度を校正することが提案されるが、
その検出位置ではスペースが限られ、またその出力像と
かぶる恐れもあるので、X線管と被写体間に配置できる
もので、X線イメージ・インテンシファイア程の高価な
ものでなく、しかしイメージ・インテンシファイアと同
等な作用を奏するように構成する。
(ヘ)実施例 本考案の好適な実施例は、図面に基づいて説明される。
第1図はその1実施例を示した全体の概略構成ブロック
図である。
図である。
この図では、X線DSA装置に本考案による検出器10
が付加されている。
が付加されている。
図示されているDSA装置において、X線管30、被写
体32、XRII34、レンズ系36、TVカメラ38
a、アンプ、A/D変換器40、複数のメモリ42、C
PUないし画像演算処理部44、D/A変換器46、モ
ニター48、ハードコピー装置50が図示されている。
体32、XRII34、レンズ系36、TVカメラ38
a、アンプ、A/D変換器40、複数のメモリ42、C
PUないし画像演算処理部44、D/A変換器46、モ
ニター48、ハードコピー装置50が図示されている。
DSA装置により、造影剤注入前のX線像(マスク像)
を撮像し、これを基準画像としてメモリ42の1つに入
れておく。造影剤注入後のX線像をある時間ごとに撮像
し、これからマスク像を差し引いて画像処理後、モニタ
ー48に表示される。
を撮像し、これを基準画像としてメモリ42の1つに入
れておく。造影剤注入後のX線像をある時間ごとに撮像
し、これからマスク像を差し引いて画像処理後、モニタ
ー48に表示される。
ところで、前述したように各X線像は異なる時刻に撮像
されたものであり、X線管のKVp、mA変化のため異
なるX線量で撮像されている。
されたものであり、X線管のKVp、mA変化のため異
なるX線量で撮像されている。
このため、サブトラクション像は時間経過に伴いその濃
度が変化する。パルス照射撮像の場合は特にこの濃度変
化が著しく、像が見づらいとともに濃度変化を検出して
行なう定量的な測定はできない。
度が変化する。パルス照射撮像の場合は特にこの濃度変
化が著しく、像が見づらいとともに濃度変化を検出して
行なう定量的な測定はできない。
本考案によれば、X線量検出器10によりX線量をモニ
ターし、そのデータを使って各X線像の濃度が校正され
る。
ターし、そのデータを使って各X線像の濃度が校正され
る。
本考案によるX線量検出器10は、XRII34のX線
応答特性と同様の特性を持つことが必要である。
応答特性と同様の特性を持つことが必要である。
しかしながら、XRII34をもう一つ使うのは幾何学
的にも、価格的にも困難であるのでXRII34を模擬
した検出器を構成する。
的にも、価格的にも困難であるのでXRII34を模擬
した検出器を構成する。
第2図の図示実施例によれば、X線量検出器10は、X
線スペクトル補正用フィルター10a、X線フィルム用
スクリーン10b、鉛ガラス10c及びフォトダイオー
ド10dからなる。
線スペクトル補正用フィルター10a、X線フィルム用
スクリーン10b、鉛ガラス10c及びフォトダイオー
ド10dからなる。
被写体を透過したX線スペクトルは部位、厚さ等により
変化する。これを補正するためAl、CuなどのX線ス
ペクトル補正用フィルター10aにより被写体相当のス
ペクトル変化をさせる。
変化する。これを補正するためAl、CuなどのX線ス
ペクトル補正用フィルター10aにより被写体相当のス
ペクトル変化をさせる。
X線フィルム用スクリーン10bは、XRII34のC
sI/Naスクリーンに相当するものでX線により発光
する。発光量がX線量に比例する。他の発光体を用いる
こともできる。
sI/Naスクリーンに相当するものでX線により発光
する。発光量がX線量に比例する。他の発光体を用いる
こともできる。
鉛ガラス10cは、XRII34の真空スペースに対応
するもので、X線が直接フォトダイオード10dに入射
し信号が生じるのを防ぐ。もし信号が生じた場合、この
応答特性はXRII34のものと相当違うものになる。
直接X線を防ぐには、鉛ガラス6mm厚程度で十分であ
る。
するもので、X線が直接フォトダイオード10dに入射
し信号が生じるのを防ぐ。もし信号が生じた場合、この
応答特性はXRII34のものと相当違うものになる。
直接X線を防ぐには、鉛ガラス6mm厚程度で十分であ
る。
フォトダイオード10dは、鉛ガラス10cを通過して
きたスクリーン10bの発光で出力信号を生じる。これ
はTVカメラ38a、第3図に図示された1次元フォト
ダイオード・アレイ38b、または第4図に示すように
CCD38cに対応する。
きたスクリーン10bの発光で出力信号を生じる。これ
はTVカメラ38a、第3図に図示された1次元フォト
ダイオード・アレイ38b、または第4図に示すように
CCD38cに対応する。
1次元フォトダイオード・アレイを用いたDSA(第3
図)及びCCDを用いたDSA(第4図)はまだ実用に
なっていないが、実用期においてはダイナミックレンジ
が広く(S/Nが良い)、コンパクトであるので、散乱
線防止法と共に用いて低ノイズ定量測定に用いられる可
能性がある。この場合、特に本考案の校正用検出器が効
果的である。
図)及びCCDを用いたDSA(第4図)はまだ実用に
なっていないが、実用期においてはダイナミックレンジ
が広く(S/Nが良い)、コンパクトであるので、散乱
線防止法と共に用いて低ノイズ定量測定に用いられる可
能性がある。この場合、特に本考案の校正用検出器が効
果的である。
なお、X線スペクトル補正用フィルター10aは実状に
応じていろいろな材質、厚さを選ぶことができる。
応じていろいろな材質、厚さを選ぶことができる。
また、スクリーン10bについてもX線応答特性に似せ
るため、種々の発光体材質、厚さを選ぶことができる。
るため、種々の発光体材質、厚さを選ぶことができる。
実施例では、X線を効率良く減衰させるため鉛ガラスを
用いたが発光体からの光を透過させX線を減衰させるも
のがあれば、例えば厚ガラス、ファイバー等も利用でき
る。
用いたが発光体からの光を透過させX線を減衰させるも
のがあれば、例えば厚ガラス、ファイバー等も利用でき
る。
フォトダイオードについては、DSAに用いられる撮像
素子の種類により全体としてX線応答特性が近似するよ
うに他の光検出素子(例えばP.M.T.)を用いるこ
ともできる。
素子の種類により全体としてX線応答特性が近似するよ
うに他の光検出素子(例えばP.M.T.)を用いるこ
ともできる。
(ト)効果 a.X線像の濃度を常に一定にすることができる。
b.濃度変化を利用した定量的測定に対応できる。
c.非常に安価にXRIIのX線応答特性を模擬でき
る。
る。
d.高価な定電圧装置を使わなくても3相、単相の装置
でもDSAを使うことができる。
でもDSAを使うことができる。
第1図は本考案の適用例を示した全体構成ブロック図、
第2図は本考案の1実施例を示した構成ブロック図、第
3図はTVカメラに代えて1次元フォトダイオード使っ
た適用例示図、第4図は2次元CCDを使った適用例示
図である。 10はX線量検出器、30はX線管、34はX線イメー
ジ・インテンシファイア(XRII)、38は撮像器、
44はCPUないし画像演算処理器である。
第2図は本考案の1実施例を示した構成ブロック図、第
3図はTVカメラに代えて1次元フォトダイオード使っ
た適用例示図、第4図は2次元CCDを使った適用例示
図である。 10はX線量検出器、30はX線管、34はX線イメー
ジ・インテンシファイア(XRII)、38は撮像器、
44はCPUないし画像演算処理器である。
Claims (1)
- 【請求項1】X線スペクトル補正用フィルターと、X線
発光体と、X線減衰体と、光電検出素子とからなりX線
管・被写体間に配置され、光電検出値のデータから基準
画像と対比して実画像の濃度を校正するために使用され
ることを特徴とする、濃度校正用X線量検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987024549U JPH062370Y2 (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 濃度校正用x線量検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987024549U JPH062370Y2 (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 濃度校正用x線量検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63133100U JPS63133100U (ja) | 1988-08-31 |
JPH062370Y2 true JPH062370Y2 (ja) | 1994-01-19 |
Family
ID=30823882
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987024549U Expired - Lifetime JPH062370Y2 (ja) | 1987-02-20 | 1987-02-20 | 濃度校正用x線量検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH062370Y2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57163885A (en) * | 1982-03-05 | 1982-10-08 | Hitachi Ltd | Radiation detector |
JPS5962035A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-09 | 株式会社島津製作所 | X線断層撮影装置 |
-
1987
- 1987-02-20 JP JP1987024549U patent/JPH062370Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57163885A (en) * | 1982-03-05 | 1982-10-08 | Hitachi Ltd | Radiation detector |
JPS5962035A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-09 | 株式会社島津製作所 | X線断層撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63133100U (ja) | 1988-08-31 |
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