JPH0371778A

JPH0371778A - Ｘ線診断装置

Info

Publication number: JPH0371778A
Application number: JP2205923A
Authority: JP
Inventors: Heinz Horbaschek; ハインツ、ホルバシエク
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1989-08-03
Filing date: 1990-07-31
Publication date: 1991-03-27
Also published as: US5048067A; EP0411189B1; EP0411189A1; DE58904515D1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、高電圧発生器によって駆動されるＸ線源と、
空撮影（有効情報のない撮影）の際に得られて記憶され
たビデオ信号とその後に行われて記憶されたビデオ信号
とを生成するためのＸ線イメージインテンシファイア−
テレビジョン系と、演算手段とを備えたＸ線診断装置に
関する。

この種のＸ線診断装置はＸ線イメージインテンシファイ
ア−テレビジョン系の擾乱パターンを除去するために使
用される。

〔従来の技術］ドイツ連邦共和国特許出願公開第３１３９３３１号公報
（特開昭５８−７５９８７号公報）には、擾乱パターン
を抑制するために、ビデオ信号の補正を行うＸ線テレビ
装置が記載されている。患者の所望の撮影または透視の
開始前に、Ｘ線源としてのＸ線管が短時間起動されてＸ
線イメージインテンシファイアが患者なしで露光され、
それゆえＸ線イメージインテンシファイアの入力螢光面
には有効情報が得られない。Ｘ線イメージインテンシフ
ァイアの出力像は感光層の不均一性のために例えば擾乱
パターンを含むが、この出力像はテレビジボンカメラに
よって撮影され、画像メモリに格納される。引き続いて
行われる撮影または透視の際、記憶されている像は現在
の像から減算され、それによって擾乱パターンが補償さ
れる。このＸ線テレビ装置においてはしかしながらＸ線
イメージインテンシファイア−テレビジタン系の擾乱パ
ターンしか除去できない。

Ｘ線によって対象物を透視する際、減衰法則に基づいて
高密度の対象物部位では像の量子Ｓ／Ｎ比は微少密度の
像部位よりも小さいことが期待される。さらに、散乱Ｘ
線のノイズ成分によって高密度領域ではＳ／Ｎ比が悪化
することが考えられる。

ドイツ連邦共和国特許出願公開第３５００８１２号公報
により、所望密度の対象物区域ではＸ線を通過させそし
て透明領域では輝度をプレフィルタリングによって強く
減衰させる半透明絞りが対象物適応形Ｘ線フィルタとし
て使用されるＸ線診断装置は公知である。これによって
同様に受信器システムの動特性に関する要求も低減する
。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、この方法における欠点は、Ｘ線像ではも
はや対象物内に存在する自然散乱の減衰差を検知するこ
とが出来ないことである０例えば肺撮影を評価する際、
この像悪化は像の診断適格性にネガティブに影響し得る
。さらに、プレフィルタリングを正確に対象物に整合さ
せることは実際上不可能であるので、像内にはしばしば
擾乱パターンが生じる。

そこで、本発明は、プレフィルタリングによってＸ線強
度の減衰に差が生しても後から再び実際の減衰値を検出
し得るように、冒頭で述べた種類のＸ線診断装置を構成
することを課題とする。

〔課題を解決するための手段〕

このような課題を解決するために、本発明は、ｘＳａ源
にはフィルタ手段が付設され、演算手段はテレビジョン
系と高電圧発生器とに接続されて、フィルタ手段が挿入
された際にＸ線撮影の実際の減衰値を算出することを特
徴とする。

本発明によるＸ線診断装置によれば、フィルタ手段によ
って対象物に一般的に存在する透明度差が軽減され、そ
れゆえ均一な量子Ｓ／Ｎ比が得られる。さらに、演算手
段によって解剖学に相当する通常の輝度値が検出され、
それゆえ接続されたモニターにはフィルタリングの°“
悪”影響がもはや存在しない通常のＸ線撮影が現れる。

フィルタ手段がプレフィルタリング機能を有すること、
例えば経過フィルタ、異なる減衰率を有するフィルタを
有することは有利であることが証明されている。演算手
段は高電圧発生器から与えられるＫＶ値とフィルタ手段
の材料とに基づいて実際の絶対減衰値を像点毎に検出す
るように構成されていると、Ｘ線像を正確に再構成する
ことができる。

演算手段は減衰係数に基づいて減衰値を像点毎に検出す
るように構成されていると、Ｘ線診断装置の構成が簡単
になる。演算手段が高電圧発生器と空撮影用メモリ手段
とに接続された第１の演算ユニットを有すると、第１の
減衰値が検出さ得る。

演算手段が高電圧発生器と有効撮影用メモリ手段とに接
続された第２の演算ユニットを有すると、有効撮影の減
衰値から第２の減衰係数を像点毎に検出することができ
る。演算ユニットより与えられた減衰係数から、フィル
タの無いときの対象物像に相当し実際の減衰値を有する
像を検出する第３の演算ユニットが設けられると、高速
処理が可能になる。演算手段が位置周波数ローパスフィ
ルタを有すると、高位置周波数に対するＳ／Ｎ比は悪化
しない。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。

第１図にはＸ線管２に給電する高電圧発生器１を備えた
本発明によるＸ線診断装置が図示されている。Ｘ線管２
は、患者３を透過してＸ線イメージインテンシファイア
４の入力螢光面に入射するＸ線束を送出する。Ｘ線イメ
ージインテンシファイア４の出力螢光面には光学要素５
を介してテレビジランカメラ６が結合されており、この
テレビジ３ンカメラ６の出力ビデオ信号は処理回路内に
配置された２個の画像メモリ７．８に供給される。

画像メモリ７．８は演算手段９を介してモニター１０に
接続されている。

Ｘ線管２のＸ線束路にはＸ線のプレフィルタリングを行
うフィルタ手段１１が配置されている。

このフィルタ手段１１は、フィルタ面に亘って見て異な
る減衰率を有する例えば肺経過フィルタ又はフィルタマ
トリックスから構成され、肺領域ではＸ線がその他のＮ
域よりも強く減衰させられる。

第１の画像メモリ７には空画像、すなわち患者３に関す
る有効情報を持たない画像が格納される。

これによってｘｖＡ硬さが設定されている場合にはフィ
ルタ手段１１の状態に関する情報が得られる。

第２の画像メモリ８には患者３を有する画像が格納され
、それゆえこの第２の画像メモリ８には患者３の減衰値
とフィルタ手段１１の減衰値とが含まれる。

演算手段９はその入力側に２つの演算ユニット１２．１
３を有しており、これらは画像メモリ７．８の出力端に
接続されている。第１の演算ユニット１２は第１の画像
メモリ７に接続されると共に高電圧発生器１にも接続さ
れており、この高電圧発生器７からＫＶ値と例えばフィ
ルタ手段１１の材料を表す値とがこの第１の演算ユニッ
ト１２に与えられる。撮影を行う際の既知ＫＶ値とフィ
ルタ手段１１の材料とに基づいて、空画像について各個
別像点の絶対減衰値のデータが算出され、記憶される。

引き続いて行われる患者３の撮影の際には同様にＫＶ値
とフィルタ手段１１の材料との認識の下に全ての像点に
関する減衰係数が第２の演算ユニット１３にて算出され
る。この第２の演算ユニット１３は第２の画像メモリ８
に接続されると共に、第１の演算ユニット１２を介して
高電圧発生農工に接続されている。

両演算ユニット１２．１３にて検出されたこれらのデー
タつまり減衰係数を用いて、第３の演算ユニット１５に
おいて、フィルタ手段１１による付加的な減衰を有しな
い対象物画像に一致し従って実際の絶対減衰値を表す画
像が算出される。この画像はモニター１０で再生され得
る。

経過フィルタは大きなコントラスト急変を含んでいない
ので、補正信号が位置周波数ローパスフィルタ１４によ
って与えられ、それゆえ高位置周波数に対するＳ／Ｎ比
は悪化しない。

有効情報、すなわち患者３による画像を持つテレビジョ
ンカメラ６の出力信号が直接第２の演算ユニット１３へ
中間メモリを介することなく供給され、それゆえ減衰係
数と実際の減衰値との算出が即座に行われ得る場合には
、この種の装置は透視装置においても使用され得る。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示す概略図である。ｌ・・・高電圧発生器２・・・Ｘ線管３・・・患者４・・・Ｘ線イメージインテンシファイア５・・・光学
要素６・・・テレビジボンカメラ７．８・・・画像メモリ９・・・演算手段１０・・・モニター１１・・・フィルタ手段１２．１３．１５・・・演算ユニット

Claims

【特許請求の範囲】１）高電圧発生器（１）によって駆動されるＸ線源（２
）と、空撮影（有効情報のない撮影）の際に得られて記
憶されたビデオ信号とその後に行われて記憶されたビデ
オ信号とを生成するためのＸ線イメージインテンシファ
イアーテレビジョン系（４〜８）と、演算手段（９）と
を備えたＸ線診断装置において、前記Ｘ線源（２）には
フィルタ手段（１１）が付設され、前記演算手段（９）
は前記テレビジョン系（６〜８）と高電圧発生器（１）
とに接続され、前記フィルタ手段（１１）が挿入された
際にＸ線撮影の実際の減衰値を算出するようになってい
ることを特徴とするＸ線診断装置。２）前記フィルタ手段（１１）はプレフィルタリング機
能を有することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装
置。３）前記フィルタ手段（１１）は経過フィルタ（異なる
減衰率を有するフィルタ）を有することを特徴とする請
求項１または２記載のＸ線診断装置。４）前記演算手段（９）は、前記高電圧発生器（１）か
ら与えられるＫＶ値と前記フィルタ手段（１１）の材料
とに基づいて実際の減衰値を像点毎に検出するように構
成されていることを特徴とする請求項１ないし３の１つ
に記載のＸ線診断装置。５）前記演算手段（９）は、減衰係数に基づいて減衰値
を像点毎に検出するように構成されていることを特徴と
する請求項１ないし４の１つに記載のＸ線診断装置。６）前記演算手段（９）は、第１の減衰値を検出し前記
高電圧発生器（１）と空撮影用メモリ手段（７）とに接
続されている第１の演算ユニット（１２）を有すること
を特徴とする請求項１ないし５の１つに記載のＸ線診断
装置。７）前記演算手段（９）は、前記高電圧発生器（１）と
有効撮影用メモリ手段（８）とに接続され導かれる有効
撮影の減衰値から第２の減衰係数を像点毎に検出する第
２の演算ユニット（１３）を有することを特徴とする請
求項１ないし６の１つに記載のＸ線診断装置。８）前記演算ユニット（１２、１３）より与えられた減
衰係数から、フィルタの無いときの対象物像に相当し実
際の減衰値を有する像を検出する第３の演算ユニット（
１５）が設けられていることを特徴とする請求項１ない
し７の１つに記載のＸ線診断装置。９）前記演算手段（９）は位置周波数ローパスフィルタ
（１４）を有することを特徴とする請求項１ないし８の
１つに記載のＸ線診断装置。