JP2000269561A - 複合構造体 - Google Patents

複合構造体

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JP2000269561A
JP2000269561A JP11076751A JP7675199A JP2000269561A JP 2000269561 A JP2000269561 A JP 2000269561A JP 11076751 A JP11076751 A JP 11076751A JP 7675199 A JP7675199 A JP 7675199A JP 2000269561 A JP2000269561 A JP 2000269561A
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needle
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needles
metal oxide
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JP11076751A
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Hidetoshi Saito
秀俊 齋藤
Yoshitomo Ueda
致知 植田
Hideo Kinoshita
秀雄 木下
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Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】従来の熱変換素子よりも、熱変換の効率が著し
く高く、変換速度も速い熱変換素子を提供する。 【解決手段】基板41の一方の面に多数の針状体42が
形成された剣山状部材4を作製する。基板41はAl2
3 単結晶板であり、針状体42は酸化亜鉛(半導体)
である。この剣山状部材4の針状体42の先端に、金属
製の板状体2を接触させて、導電性ペースト等により固
定する。基板41の裏面には電極板3を固定する。この
電極板3と針状体42の成長時に生じた酸化亜鉛の薄膜
43を、電気的に確実に接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属的または半導
体的な導電性を示す金属酸化物からなる第1部材と、金
属または半導体からなる第2部材との組合せでペルチェ
効果を発現する、熱変換素子用の複合構造体に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】2種類の金属または半導体を接合した接
合体に電流を流すと、その接合部に発熱または吸熱が生
じる。この現象はペルチェ効果と称される。このペルチ
ェ効果を利用して電流を熱に変換する熱変換素子は、小
型で簡易な加熱や冷却を行う素子として従来より開発さ
れている。
【0003】このような熱変換素子には、熱変換の効率
を高くすることと、熱変換の変換速度を速くすることが
求められている。熱変換の効率を高くする方法として
は、熱変換素子を構成する2部材の接合面積の、熱変換
素子の単位体積当たりの大きさを大きくする方法が挙げ
られる。従来の熱変換素子では、両方の部材が膜状や板
状に形成されているため、単位体積当たりの2部材の接
合面積を大きくする方法としては、膜状や板状の接合体
を多数積層する方法がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、膜状や
板状の接合体を多数積層する方法で単位体積当たりの接
合面積を大きくすることには限界がある。また、熱変換
素子が、膜状や板状に形成された2部材の接合体が多数
積層されている構造であると、積層方向の中央部側に位
置する接合体で変換された熱が周囲に拡散し難くなっ
て、熱変換の変換速度が遅くなる恐れがある。
【0005】本発明は、従来の熱変換素子よりも、熱変
換の効率が著しく高く、変換速度も速い熱変換素子を提
供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、金属的または半導体的な導電性を示す金
属酸化物からなる第1部材と、金属または半導体からな
る第2部材とが接合されている、熱変換素子用の複合構
造体であって、第1部材は、隙間を開けて並列に配置さ
れている多数の針状体であり、第2部材は、前記針状体
の先端に接触させて設けた板状体であることを特徴とす
る複合構造体を提供する。
【0007】本発明の複合構造体によれば、第1部材と
第2部材との接合部が針状体の本数分だけ存在するた
め、第1部材と第2部材の両方が膜状や板状である場合
と比較して、2部材の単位体積当たりの接合面積を著し
く大きくすることができる。また、この複合構造体を熱
変換素子の2部材の接合体とした場合には、熱変換によ
り生じた熱が周囲に拡散し易い。したがって、本発明の
複合構造体を2部材の接合体として使用した熱変換素子
は、熱変換の効率が従来の熱変換素子より高く、変換速
度も速いものとなる。
【0008】本発明の複合構造体において、針状体の断
面の円換算径は0.01μm以上0.05μm以下であ
ることが好ましい。針状体の配置密度は、100μm2
当たり10本以上10000本以下であることが好まし
い。円換算径とは、例えば画像解析を利用した従来公知
の方法で測定された断面積を、円周率πで除した値の平
方根を2倍した値である。
【0009】針状体の断面形状は円形、略円形、多角
形、略多角形等、いずれであってもよい。また、断面積
は、長さ方向全体で同じであっても、途中で変化するも
のであってもよい。但し途中で変化する場合には、隣り
合う針状体同士が接触しないことが好ましい。針状体の
断面の円換算径に対する長さの比は1以上であることが
好ましい。針状体の中心軸は相互に平行であることが好
ましい。針状体をなす金属酸化物は、単結晶であること
が好ましい。針状体(金属酸化物結晶)は相互に平行
に、且つ結晶軸が同一方向に存在していることが好まし
い。
【0010】本発明の複合構造体において、針状体は、
例えば、空気中の酸素または水と反応して酸化物を形成
する金属化合物を原材料として用い、所定圧力の空気が
存在する空間に設置された基板の面に、この金属化合物
の気体および/または微粒子を向かわせて、金属酸化物
を基板面上にエピタキシャル成長させる方法によって得
ることができる。この場合には、基板を設置する空間の
圧力を、大気圧にすることが好ましい。また、原材料と
して使用する金属化合物は、揮発性の高いものであるこ
とが好ましい。
【0011】この方法により、基板と金属酸化物からな
る多数の針状体とで構成され、針状体が基板面から垂直
に延びていて、隣り合う針状体同士に隙間を有する剣山
状部材が得られる。この方法により得られる針状体の断
面の円換算径は、0.01μm以上10000μm以下
となる。針状体の配置密度は、基板面の100μm2
たり0.01本以上10000本以下となる。なお、針
状体の断面の円換算径および配置密度は、製造条件の設
定などにより所定径および所定密度に制御される。
【0012】本発明の複合構造体においては、剣山状部
材の針状体が倒れたり折れたりすることを防止するため
に、隣り合う針状体同士の隙間の基板側の部分を合成樹
脂やエラストマー等で埋めることが好ましい。この隙間
を埋める材料として使用可能な材料としては、熱可塑性
樹脂、熱硬化性樹脂、エラストマー、およびシアノアク
リレートのような瞬間接着剤等の有機物質、または、ガ
ラスやセラミックス等の無機物質が挙げられる。
【0013】本発明の複合構造体は、熱変換素子を構成
する2部材の接合体として使用される。第1部材は金属
的または半導体的な導電性を示す金属酸化物で構成する
が、第2部材としては、高いペルチェ効果を得るため
に、第1部材との仕事関数の差(フェルミ順位の差)が
例えば0.5eV以上であるもの、好ましくは1eV以
上であるものを使用する。
【0014】第1部材をなす金属酸化物としては、Si
2 、Fe2 3 、Fe3 4 、Bi12GeO20、K3
Li2 Nb5 15、LiNbO3 、PbTiO3 、PZ
T、PLZT、Ta2 5 、BeO、In2 3 、IT
O、La2 2 S、ZnO、WO3 、CrO2 、Bi2
3 、TiO2 が挙げられる。第2部材をなす金属とし
ては、Ar、Al、Au、Cd、Co、Cr、Cu、F
e、Ga、Ir、Mn、Mo、Nb、Ni、Os、P
b、Pd、Pt、Re、Rh、Ru、Sb、Se、S
i、Sn、Ta、Te、Ti、V、W、Zn、Zr等が
挙げられる。
【0015】第2部材をなす半導体としては、第1部材
をなす金属酸化物として挙げたIn 2 3 、ZnO、T
iO2 やSi、SiC、SiN、SiGe、SiSn、
InP、GaAs、GaAlAs、GaN、GaP、I
nGaAsP、ZnS、ZnTe、AlGaAs等が挙
げられる。なお、第1部材および第2部材の両方が金属
酸化物である場合には、互いに種類の異なる金属酸化物
を使用する。[剣山状部材の作製方法]基板と金属酸化
物からなる多数の針状体とで構成された前記剣山状部材
を得るための、上述の方法について、以下に詳述する。
【0016】この方法は、原材料である金属化合物を
気体化および/または微粒子化する工程と、気体化お
よび/または微粒子化された金属化合物を、所定圧力の
空気が存在する空間に設置された基板の面に向かわせる
工程と、この金属化合物を空気中の酸素または水と反
応させて、金属酸化物からなる多数の針状体を基板面上
にエピタキシャル成長させる工程とで構成される。
【0017】原材料である金属化合物としては、空気中
の酸素または水と反応して目的とする金属酸化物が形成
されるものを使用する。このような金属化合物として
は、例えばアルコキシド類、配位子として、アセチ
ルアセトン、エチレンジアミン、ビピペリジン、ビピラ
ジン、シクロヘキサンジアミン、テトラアザシクロテト
ラデカン、エチレンジアミンテトラ酢酸、エチレンビス
(グアニド)、エチレンビス(サリチルアミン)、テト
ラエチレングリコール、アミノエタノール、グリシン、
トリグリシン、ナフチリジン、フェナントロリン、ペン
タンジアミン、ピリジン、サリチルアルデヒド、サリチ
リデンアミン、ポルフィリン、チオ尿素などから選ばれ
る1種あるいは2種以上を有する錯体、配位子とし
て、カルボニル基、アルキル基、アルケニル基、フェニ
ルあるいはアルキルフェニル基、オレフィン基、アリー
ル基、シクロブタジエン基をはじめとする共役ジエン
基、シクロペンタジエニル基をはじめとするジエニル
基、トリエン基、アレーン基、シクロヘプタトリエニル
基をはじめとするトリエニル基などから選ばれる1種あ
るいは2種以上を有する、各種の有機金属化合物および
ハロゲン化有機金属化合物が挙げられる。
【0018】この中でも、アセチルアセトンを配位子と
して有する錯体およびアルコキシド類がより好ましく用
いられる。の工程が金属化合物を気体化する工程であ
る場合には、の工程では、蒸発圧が十分高くなる温度
に金属化合物を加熱することを行う。この加熱温度は使
用する金属化合物によって異なるが、例えば30℃以上
600℃以下、50℃以上300℃以下とする。使用す
る金属化合物が、アルコキシド類やアセチルアセトンを
配位子として有する錯体である場合には、80〜180
℃とすることが好ましい。
【0019】の工程が金属化合物を微粒子化する工程
である場合には、の工程では、金属化合物を蒸気圧が
十分高くなる温度に加熱して気体化した後、得られた金
属化合物の蒸気を冷却するか、金属化合物を液状で噴霧
するか、金属化合物を固体の状態で擦り潰すことを行
う。の工程では、系内に、酸素や水を存在させない
か、その存在量を極めて少なくしておくことが好まし
い。このようにしないと、の工程で金属化合物と酸素
または水との反応が生じ、配管に詰まりが生じたり、所
望の形態の金属酸化物が基板面上に形成されない恐れが
ある。ただし、使用する金属化合物の酸素および水との
反応速度が極めて遅い場合には、の工程で系内に酸素
や水を共存させてもよい。
【0020】の工程では、金属化合物の気体および/
または微粒子のみをそのまま基板面に向かわせてもよい
し、キャリヤガスを用いて金属化合物の気体および/ま
たは微粒子を積極的に移動させ、キャリアガスとの混合
状態でノズルから基板面に吹き付けてもよい。この場合
のキャリアガスの流量は、の工程の温度や基板を設置
する空間の雰囲気によってその最適値が異なる。
【0021】基板の設置空間が室温、常圧雰囲気である
場合には、キャリアガスの流量を、空間体積値が20/
分以下となるようにすることが好ましく、5/分以下と
なるようにすることがより好ましい。ここで、空間体積
値とは、キャリアガスの流量R(1分当たりの体積)
と、の工程で金属化合物を気体化および/または微粒
子化させる加熱槽(キャリアガスが導入される空間)の
体積Vとの比(R/V)に相当する。
【0022】キャリアガスは、原材料の金属化合物と反
応しないものであれば特に限定されない。具体例とし
て、窒素ガスやヘリウム、ネオン、アルゴン等の不活性
ガス、炭酸ガス、有機弗素ガス、あるいはヘプタン、ヘ
キサン等の有機物質等が挙げられる。これらのうちで、
安全性、経済性の上から不活性ガスが好ましい。特に窒
素ガスが経済性の面より最も好ましい。
【0023】キャリアガスを用いて、金属化合物をノズ
ルから基板面に吹き付ける方法を採用する場合は、ノズ
ルの吹き出し口と基板面との距離を所定範囲内とするこ
とが好ましい。この範囲は、吹き出し口の開口部の長軸
(断面が長方形である場合には長辺の長さ、正方形であ
る場合には1辺の長さ)をL、吹き出し口と基板面との
距離をKとしたときに、その比(K/L)が0.01以
上1以下となるようにすることが好ましく、0.05以
上0.7以下となるようにすることがより好ましく、
0.1以上0.5以下となるようにすることがさらに好
ましい。この比(K/L)が1を超えると、の工程で
金属化合物が金属酸化物に変換される効率が低くなる。
【0024】基板の設置空間の雰囲気は、減圧下、常圧
下、あるいは加圧下のいずれでもよい。しかしながら、
高度な減圧下、例えば超真空下であると、酸化物単結晶
の成長速度が遅く、生産性に劣るため好ましくない。加
圧下で実施する場合、酸化物単結晶のの成長速度に関し
ては問題ないが、加圧するための設備が必要となって好
ましくない。したがって、基板の設置空間の雰囲気は、
0.001〜20atmとすることが好ましく、0.1
〜10atmとすることがより好ましく、常圧とするこ
とが最も好ましい。
【0025】の工程で使用する基板をなす材料として
は、例えば、酸化アルミニウムのような金属酸化物の単
結晶、半導体の単結晶、セラミック、シリコンを含む金
属、ガラス、プラスチックが挙げられる。ガラス板やプ
ラスチック板を使用する際は、表面が配向処理されてい
るものが好ましい。これらの中で好ましく用いられる基
板材料は、シリコンを含む金属、金属酸化物、及びZn
Te、GaP、GaAs、InP等の半導体単結晶であ
る。
【0026】金属酸化物や半導体の単結晶からなる基板
を使用する場合には、基板の単結晶種として、その格子
定数が、基板面上にエピタキシャル成長させる金属酸化
物(針状体)の結晶種の格子定数と近いものを選択する
ことが好ましい。格子定数の測定は、広角X線回折法等
の従来公知の方法で行うことができる。基板をなす単結
晶種としては、針状体をなす単結晶種の基板との接触面
の格子定数(A)と、基板をなす単結晶種の針状体との
接触面の格子定数(B)との比(A/B)が、0.8以
上1.2以下となるものを選択することが好ましい。こ
の比(A/B)が0.9以上1.1以下となるものを選
択することがさらに好ましく、0.95以上1.05以
下となるものを選択することが特に好ましい。
【0027】基板をなす単結晶種として特に好ましく用
いられるものは、シリコンや、酸化アルミニウム、酸化
マグネシウム、SrTiO3 等の金属酸化物である。基
板は、一種類以上の単結晶からなるものであっても、多
結晶からなるものであってもよい。非晶部と結晶部を同
時に有する一種類以上の半結晶性物質からなるものであ
ってもよい。また、これらの混合物であってもよい。し
かしながら、一種類の単結晶からなるものが最も好まし
い。
【0028】この場合、基板の表面は単結晶の特定の面
になっていることが好ましい。具体的には、例えば、基
板面上にエピタキシャル成長させる金属酸化物が酸化チ
タンであって、基板が酸化マグネシウム基板である場合
には、基板表面の結晶面を(100)面とすることが好
ましい。また、基板面上にエピタキシャル成長させる金
属酸化物が酸化亜鉛であって、基板がシリコン基板であ
る場合には、基板表面の結晶面を(111)面とするこ
とが、基板が酸化アルミニウム基板である場合には基板
表面の結晶面を(0001)面とすることが、基板がS
rTiO3 基板である場合には基板表面の結晶面を(0
01)面とすることが好ましい。
【0029】基板と基板に成長させる針状体(金属酸化
物)が異なる材料の場合には、基板の表面に、先ず成長
させる金属酸化物の薄膜が生じ、この薄膜の上に針状体
が形成される。の工程で基板面上に形成される金属酸
化物の状態は、主に、基板温度と原材料である金属化合
物の過飽和度によって決定される。
【0030】基板温度は原材料の基板面での拡散距離を
決定する因子であり、この拡散距離によって単位面積当
たりの金属酸化物結晶の数、すなわち核生成密度が決定
される。一般に、基板温度が高いと核生成密度は小さく
なって、単位面積当たりの金属酸化物結晶の数が小さく
なる。基板温度が低いと核生成密度は大きくなって、単
位面積当たりの金属酸化物結晶の数が大きくなる。した
がって、基板温度は、必要とする針状体の形成密度に応
じて設定すればよい。この基板温度としては、例えば、
0℃以上800℃以下が好ましく、20℃以上800℃
以下がより好ましく、100℃以上700℃以下がさら
に好ましい。
【0031】金属化合物の過飽和度は結晶晶癖を決定す
る因子であり、この結晶晶癖で金属酸化物結晶の径およ
び長さ、すなわちアスペクト比が決定される。一般に、
過飽和度が低いと、金属酸化物結晶は、基板面に垂直な
方向よりも水平な方向に成長する傾向にあるため、アス
ペクト比が小さくなる。過飽和度が高いと、金属酸化物
結晶は、基板面に水平な方向よりも垂直な方向に成長す
る傾向にあるため、アスペクト比が大きくなる。
【0032】金属酸化物結晶のアスペクト比を1以上と
するためには、過飽和度を1%以上とすることが好まし
い。また、この過飽和度は10%以上とすることがより
好ましく、20%以上とすることがさらに好ましい。こ
の場合の過飽和度の定義は、[(実際の蒸気圧−平衡蒸
気圧)/平衡蒸気圧]×100である。の工程で、金
属化合物を空気中の酸素または水と反応させて、金属酸
化物からなる多数の針状体を基板面上にエピタキシャル
成長させるための最適な反応時間は、反応条件や使用す
る原材料の種類に応じて異なる。例えば、原材料として
亜鉛アセチルアセトネートを用いた場合は、通常の室
温、常圧雰囲気下では10分以上とすることが好まし
い。さらに好ましくは30分以上、特に好ましくは1時
間以上である。また、原材料としてテトライソプロポキ
シチタネートを用いた場合は、通常の室温、常圧雰囲気
下では3分以下とすることが好ましく、90秒以下とす
ることがさらに好ましい。
【0033】金属酸化物が基板面上でエピタキシャル成
長しているかどうかは、通常のX線回折法により確認す
ることができる。特に、基板と針状体(金属酸化物結
晶)との面内方位関係を、φスキャン法で観察する方法
を採用することが好ましい。金属酸化物結晶の結晶軸が
同一方向にある(結晶軸方位が揃っている)ことが好ま
しい。例えば、X線ロッキング曲線法において測定され
る結晶軸方位のゆらぎが10度以内であることが好まし
く、5度以内であることがさらに好ましい。[熱変換素
子の作製方法]本発明の複合構造体を備えた熱変換素子
は、例えば以下のようにして作製される。
【0034】先ず、上記方法により、基板上に多数の針
状体が形成された前記剣山状部材を作製する。次に、使
用した基板が導電性の高いものであれば、この基板を第
1部材側の電極板としてそのまま使用し、剣山状部材の
針状体先端に第2部材をなす板状体を取り付ける。針状
体先端への板状体の取付けは、例えば、各針状体の先端
と板状体との間を導電性ペーストで固定することにより
行うことができる。
【0035】使用した基板が、半導体などの導電率が低
いものである場合は、この基板の裏面(針状体が突出し
ている面とは反対の面)に第1部材側の電極板を設け
る。また、使用した基板が絶縁体である場合は、この基
板の裏面に第1部材側の電極板を設け、この電極板を、
基板に針状体(金属的または半導体的な導電性を有する
金属酸化物)を成長させる際に生じた薄膜に接続する。
あるいは、剣山状部材の隣り合う針状体同士の隙間の基
板側の部分を合成樹脂やエラストマー等で埋めた後に基
板を除去して、この基板が除去された面に電極板を設け
てもよい。
【0036】また、第2部材が金属製の板状体であれ
ば、特に第2部材側の電極板を設けずに、この板状体に
直接配線を行うこともできる。第2部材が半導体製の板
状体である場合には、第2部材に電極板を設けて、この
電極板に配線を接続することが好ましい。このようにし
て、2種類の部材の接合が、隙間を開けて並列に配置さ
れている多数の針状体の先端と、板状体の面とで行われ
ていて、各部材側に電極部を有する熱変換素子が得られ
る。
【0037】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。図1は、本発明の一実施形態に相当する熱変
換素子を示す概略構成図である。図1に示すように、こ
の熱変換素子1は、基板41の一方の面に多数の針状体
(第1部材)42を有する剣山状部材4と、針状体42
の先端に接触させて設けてある板状体(第2部材)2
と、基板41の裏面に固定された電極板3と、板状体2
と電極板3を接続する配線7と、この配線7内に接続さ
れた電源8とで構成されている。また、針状体42の基
端部は合成樹脂6により補強されている。
【0038】この熱変換素子1は以下のようにして作製
される。先ず、以下のようにして剣山状部材4を得る。
この剣山状部材4は、基板41と多数の針状体42とか
らなり、基板41の一方の面から多数の針状体42が垂
直に延びている。また、隣り合う針状体42が接触して
いないため、隣り合う針状体42同士に隙間がある。基
板41はAl2 3 単結晶板からなり、針状体42は酸
化亜鉛からなる。
【0039】この剣山状部材4は、図2に示すような製
造装置を用い、基板41の一方の面に金属酸化物からな
る針状体42を、所定条件でエピタキシャル成長させる
ことによって得られる。この製造装置は、キャリアガス
である窒素の供給源51と、キャリアガスの流量を調整
する流量計52と、原材料である金属化合物を気化する
加熱槽53と、キャリアガスを加熱槽53に導入する配
管54と、加熱槽53で気化された金属化合物を基板4
1に向かわせる配管55と、基板41を加熱状態で保持
する基板ステージ56とで構成されている。配管54に
は液体窒素トラップ57が設けてある。この液体窒素ト
ラップ57は、供給源51から供給されたキャリアガス
中に含まれる液体窒素を除去するものである。
【0040】配管55の先端部には所定形状の吹き出し
口58が接続してあり、この吹き出し口58の開口部5
8aは、配管55からの気体が、基板41の針状体42
を形成する面全体に吹き出されるように形成されてい
る。また、配管55および吹き出し口58はリボンヒー
タで加熱されている。基板ステージ56は、吹き出し口
58と基板41の面との距離Kが、吹き出し口の開口部
58aの長軸Lに対する比(K/L)で0.6となるよ
うに配置されている。
【0041】吹き出し口58および基板ステージ56を
常温の実験室内に配置し、吹き出し口58と基板ステー
ジ56との間の空間を大気圧とした。基板41は、一方
の面が結晶面(0001)に沿うように形成されたもの
であり、この面を上に向けて基板ステージ56に設置し
た。この基板41を基板ステージ56で550℃に加熱
するとともに、加熱槽53内に亜鉛アセチルアセトネー
トを入れて115℃に加熱した。この状態で、供給源5
1から配管54に窒素を1.2dm3 /minで供給す
ることにより、金属化合物の気体と窒素ガスとの混合気
体を、配管55を介して吹き出し口58から基板41の
面に吹き付けた。
【0042】これにより、原材料である金属化合物は、
基板41面上およびその近傍で、空気中の酸素または水
と反応して金属酸化物(酸化亜鉛)となり、この金属酸
化物が基板41面上にエピタキシャル成長する。その結
果、基板41の一方の面上に多数の針状体42が垂直に
延びている剣山状部材4が得られる。ここで、針状体4
2の成長時には、先ず、基板41の表面に酸化亜鉛の薄
膜43が生じ、その後でこの薄膜43の上に針状体42
が形成される。この薄膜43は基板41の端面にも形成
される。
【0043】この方法で得られた剣山状部材4の一例の
電子顕微鏡写真を図3に示す。この図から、剣山状部材
4の針状体42は、基板41面上に高密度に形成されて
いることが分かる。次に、この剣山状部材4の針状体4
2同士の隙間を、基板41側の所定高さ分だけ合成樹脂
6で埋めることにより、剣山状部材4の針状体42の基
端部を補強する。この合成樹脂6としてはポリフェニレ
ンエーテルを用い、ポリフェニレンエーテルの粉末をク
ロロホルムに溶かした10体積%溶液を処理液として用
意した。この処理液に剣山状部材4を所定時間浸漬した
後、処理液から剣山状部材4を取り出して加熱すること
によりクロロホルムを蒸発させる。この作業を、ポリフ
ェニレンエーテルの堆積が針状体42の基端から所定高
さに達するまで繰り返した。
【0044】このようにして得られた剣山状部材4の多
数の針状体42の先端に、基板41より一回り大きな金
属(例えば銅)製の板状体(第2部材)2を、導電性ペ
ーストで固定する。この板状体2は導電性の高い金属板
であるため、その裏面に電極板を設けることなく、この
板状体2に直接配線7を接続している。また、剣山状部
材4の基板41は絶縁体であるため、その裏面に、基板
41より一回り大きな金属(例えば銅)板からなる電極
板3を導電性ペーストで固定する。このとき、薄膜43
の基板41の端面に形成されている部分とその周囲の電
極板3の表面とからなる角部34に、導電性ペーストを
付着させることにより、薄膜43と電極板3とを電気的
に確実に接続する。そして、この電極板3に配線7を接
続する。
【0045】なお、剣山状部材4の多数の針状体42の
先端が揃っていない場合には、合成樹脂6を針状体42
同士の隙間に存在させた後に、針状体42の先端部を切
断して揃えてから、板状体2および電極板3の固定を行
う。これにより、板状体2と電極板3を平行に配置する
ことができる。この実施形態の熱変換素子によれば、第
1部材を多数の針状体42で構成し、その先端に第2部
材をなす板状体2を固定してあるため、第1部材と第2
部材の両方が膜状や板状である場合と比較して、単位体
積当たりの接合面積を著しく大きくすることができると
ともに、熱が周囲に拡散し易い。その結果、この熱変換
素子は、熱変換の効率が高く変換速度の速いものとな
る。また、針状体42の基端部側が合成樹脂6で補強さ
れているため、機械的強度が高いものとなる。
【0046】なお、この実施形態では、第2部材をなす
板状体2を導電性の高い金属製にして、この板状体2に
電極板を設けていない。しかしながら、第2部材をなす
板状体2が半導体である場合には、図4に示すように、
板状体2に電極板9を固定して、この電極板9に配線7
を接続することが好ましい。また、図4は、基板41の
材質が成長させる針状体42と同じ場合を示している。
例えば、酸化亜鉛の基板41上に酸化亜鉛の針状体42
を成長させること等が可能である。
【0047】また、図1の実施形態では、剣山状部材4
を形成する際の基板41として絶縁体であるAl2 3
単結晶板を用い、この基板41の上に酸化亜鉛の針状体
42をエピタキシャル成長させている。このように、基
板41の材質は、成長させる針状体42と異なるもので
あってもよいが、この実施形態のように、基板41が絶
縁体である場合には、基板41の裏面に電極板3を設け
て、この電極板3と針状体42の成長時に生じた薄膜4
3とを電気的に確実に接続する必要がある。この構成で
は、基板41とその表面に生じた薄膜43との間に熱変
換が生じる場合もあるが、この熱変換効率は、針状体4
2と板状体2との間に生じる熱変換効率と比較して著し
く小さいため、特に問題は生じない。
【0048】あるいは、図5に示すように、合成樹脂6
により剣山状部材4の針状体42の基端部を補強した後
に基板41を除去し、この基板が除去された面に電極板
3を固定して、針状体42と電極板3を直接電気的に接
続してもよい。この構成とすると、図1の構成の場合よ
り製造時の手間はかかるが、針状体42と電極板3との
接続がより確実にできる効果がある。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の複合構造
体によれば、従来の熱変換素子よりも、熱変換の効率が
著しく高く、変換速度も速い熱変換素子が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に相当する熱変換素子を示
す概略構成図である。
【図2】剣山状部材を製造するための製造装置を示す概
略構成図である。
【図3】実施形態の方法で得られた剣山状部材の一例を
示す電子顕微鏡写真を複写した図である。
【図4】本発明の別の実施形態に相当する熱変換素子を
示す概略構成図である。
【図5】本発明の別の実施形態に相当する熱変換素子を
示す概略構成図である。
【符号の説明】 1 熱変換素子 2 板状体(第2部材) 3 電極板 4 剣山状部材 6 合成樹脂 7 配線 8 電源 9 電極板 41 基板 42 針状体(第1部材) 51 窒素の供給源 52 流量計 53 加熱槽 54 配管 55 配管 56 基板ステージ 57 液体窒素トラップ 58 吹き出し口 58a 開口部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木下 秀雄 神奈川県川崎市川崎区夜光1丁目3番1号 旭化成工業株式会社内 Fターム(参考) 5F036 AA01 BA33

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属的または半導体的な導電性を示す金
    属酸化物からなる第1部材と、金属または半導体からな
    る第2部材とが接合されている、熱変換素子用の複合構
    造体であって、 第1部材は、隙間を開けて並列に配置されている多数の
    針状体であり、第2部材は、前記針状体の先端に接触さ
    せて設けた板状体であることを特徴とする複合構造体。
  2. 【請求項2】 針状体の断面の円換算径は0.01μm
    以上0.05μm以下であることを特徴とする請求項1
    記載の複合構造体。
  3. 【請求項3】 針状体の配置密度は、100μm2 当た
    り10本以上10000本以下であることを特徴とする
    請求項1または2に記載の複合構造体。
  4. 【請求項4】 針状体は、空気中の酸素または水と反応
    して酸化物を形成する金属化合物を原材料として用い、
    所定圧力の空気が存在する空間に設置された基板の面
    に、この金属化合物の気体および/または微粒子を向か
    わせて、金属酸化物を基板面上にエピタキシャル成長さ
    せることによって得られたものであることを特徴とする
    請求項1〜3のいずれか1項に記載の複合構造体。
  5. 【請求項5】 基板を設置する空間の圧力は大気圧であ
    ることを特徴とする請求項4記載の複合構造体。
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