JP2000221037A - 自動測量機と3次元測定方法 - Google Patents

自動測量機と3次元測定方法

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JP2000221037A
JP2000221037A JP11021137A JP2113799A JP2000221037A JP 2000221037 A JP2000221037 A JP 2000221037A JP 11021137 A JP11021137 A JP 11021137A JP 2113799 A JP2113799 A JP 2113799A JP 2000221037 A JP2000221037 A JP 2000221037A
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measurement
points
plane
angle
distance
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JP11021137A
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English (en)
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Masahiro Oishi
政裕 大石
Katsumi Yanai
勝巳 柳井
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Topcon Corp
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Topcon Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means

Abstract

(57)【要約】 [目的] 本発明は、反射プリズム等を用いないで対象
物までの距離を測定するノンプリズム型の自動測量装置
と3次元測定方法等に関するものであり、特に、距離、
角度データ等から任意の3次元の座標位置、距離、面積
等を演算することのできる自動測量装置と3次元測定方
法等を提供することを目的とする。 [構成] 本発明は、ノンプリズム測定が可能な光波距
離計が、測角部と測距部とを有し、認識用演算処理手段
が、画像処理により測定対象物を認識し、測角部と測距
部とは、測定対象物の測定点を含む平面α上の少なくと
も3点の特定点までの距離、角度を測定し、測角部が、
測定点への角度を測角し、演算部が、特定点までの距
離、角度から平面αを特定する式を決定すると共に、測
定点への角度から測定点を結ぶ直線の式を決定し、更
に、平面αと直線の交点に相当する測定点を演算するこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、距離測定のための
特定の反射手段(反射プリズム等)を用いないで対象物
までの距離を測定するノンプリズム型の自動測量装置と
3次元測定方法等に関するものであり、特に、距離、角
度データ等から任意の3次元の座標位置、距離、面積等
を演算することのできる自動測量装置と3次元測定方法
等に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の自動測量装置は、必要なポイント
に置かれた反射プリズムを利用して視準測定を行い、計
測を実施していた。例えば、建築物を測定する場合に
は、予め定められた測定位置、建築物の角部、窓枠の角
部等に反射プリズムを設置する。そして、自動測量装置
を概略建築物の方向に向けて測定を開始する。
【0003】自動測量装置は、所定の範囲を走査する様
に視準望遠鏡を回動させ、所定の位置に配置された反射
プリズムを順次検出する。この視準望遠鏡はモータによ
る駆動手段によって鉛直回転及び水平回転が可能になっ
ており、任意の位置で自動的に視準することができる。
そして、視準望遠鏡を回転させる鉛直回転軸及び水平回
転軸には、角度検出器が取り付けられており、回転させ
た視準望遠鏡の方向が検出可能に構成されている。
【0004】視準望遠鏡からは、所定の位置に配置され
た反射プリズムに対して走査光が照射されている。この
走査光が反射プリズムで反射されると、再び視準望遠鏡
に入射される様に構成されており、この反射光が受光素
子で受光信号に変換される。そして、鉛直回転軸及び水
平回転軸に取り付けられた角度検出器の角度信号から、
視準望遠鏡の方向が特定される。更に光波測距装置によ
り、反射プリズムまでの距離が計測され、反射プリズム
までの位置が特定される。
【0005】そして、求める測定値は、既地点である自
動測量装置の位置に基づいて、平面座標系の地図上に変
換される様になっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の自動測量装置は、測定対象の所定の位置に、予め反射
プリズムを設置しなければならず、複数回、多数の測定
点を測定する場合には利点もあるが、1回の測定で終了
する測量作業の場合には、無駄が多く、作業効率が悪い
という問題点があった。
【0007】更に、建物やトンネル等の断面等の様に建
築物の外形を測定する場合には、外部の露出点に反射プ
リズムを設置しなければならず、危険を伴うという問題
点があった。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題に鑑み
案出されたもので、測角部と測距部とを有し、ノンプリ
ズム測定が可能な光波距離計と、画像処理により測定対
象物を認識するための認識用演算処理手段とを備えた自
動測量機であって、測角部と測距部とは、測定対象物の
測定点を含む平面α上の少なくとも3点の特定点までの
距離、角度を測定し、前記測角部が、測定点への角度を
測角し、演算部が、特定点までの距離、角度から平面α
を特定する式を決定すると共に、前記測定点への角度か
ら該測定点を結ぶ直線の式を決定し、更に、前記平面α
と前記直線の交点に相当する測定点を演算する様に構成
されていることを特徴としている。
【0009】また本発明の認識用演算処理手段は、フィ
ルタリング操作によりエッジを強調し、一定の配列で並
んだ測定点を抽出して測定対象物を認識する構成にする
こともできる。
【0010】そして本発明の認識用演算処理手段が、フ
ィルタリング操作によりエッジを強調し、テンプレート
マッチングにより測定対象物を認識する構成にすること
もできる。
【0011】更に本発明の測定対象物が立体物であり、
平面αは、前記立体物の一面であり、測定点が平面α上
の角部である構成にすることもできる。
【0012】また本発明は測定点が2点であり、演算部
が、2点の3次元座標を演算すると共に、この2点間の
距離を演算する構成にすることもできる。
【0013】そして本発明は、測定点が少なくとも3点
であり、演算部が、少なくとも3点の3次元座標を演算
し、これらの点が囲む面積を演算する構成にすることも
できる。
【0014】また本発明は、測定対象物の方向を地図情
報から入力する構成にすることもできる。
【0015】更に本発明の3次元測定方法は、認識用演
算処理手段が、画像処理により測定対象物を認識する第
1工程と、この測定対象物の測定点を含む平面α上の少
なくとも3点を特定し、原点から特定点である少なくと
も3点との距離、角度を測定する第2工程と、この第2
工程で得られた距離データと角度データを利用して、平
面αを特定する式を決定する第3工程と、前記原点から
前記測定点を視準して測角し、前記原点から該測定点を
結ぶ直線の式を決定する第4工程と、前記第3工程で得
られた平面αを特定する式と、前記第4工程で得られた
前記原点から該測定点を結ぶ直線の式との交点である測
定点を演算する第5工程とから構成されている。
【0016】そして本発明の第1工程の認識用演算処理
手段が、フィルタリング操作によりエッジを強調し、一
定の配列で並んだ測定点を抽出して測定対象物を認識す
る構成にすることもできる。
【0017】また本発明の第1工程の認識用演算処理手
段が、フィルタリング操作によりエッジを強調し、テン
プレートマッチングにより測定対象物を認識する構成に
することもできる。
【0018】更に本発明の原点が、測量機の設置点であ
る構成にすることもできる。
【0019】そして本発明の測定対象物が立体物であ
り、平面αは、前記立体物の一面であり、測定点が平面
α上の角部である構成にすることもできる。
【0020】また本発明の測定点が2点であり、更に、
2点の3次元座標を演算し、この2点間の距離を演算す
る第5工程を加えた構成にすることもできる。
【0021】更に本発明の測定点が少なくとも3点であ
り、更に、少なくとも3点の3次元座標を演算し、これ
らの点が囲む面積を演算する第5工程を加えた構成にす
ることもできる。
【0022】そして本発明の3次元測定方法は、認識用
演算処理手段が、画像処理により測定対象物を認識する
第1工程と、この測定対象物の測定点を含む平面α上の
少なくとも3点を特定し、原点から特定点である少なく
とも3点との距離、角度を測定する第2工程と、測定対
象物の測定点を含む平面β上の少なくとも3点を特定
し、原点から特定点である少なくとも3点との距離、角
度を測定する第3工程と、前記第2工程で得られた距離
データと角度データを利用して、平面αを特定する式を
決定する第4工程と、前記第3工程で得られた距離デー
タと角度データを利用して、平面βを特定する式を決定
する第5工程と、前記原点から前記測定点を視準して測
角し、前記原点から該測定点を結ぶ直線の式を決定する
第6工程と、前記第4工程で得られた平面αを特定する
式と、前記第6工程で得られた前記原点から該測定点を
結ぶ直線の式との交点である測定点を演算する第7工程
と、前記第5工程で得られた平面βを特定する式と、前
記第6工程で得られた前記原点から該測定点を結ぶ直線
の式との交点である測定点を演算する第8工程とからな
り、平面α上の測定点と平面β上の測定点との少なくと
も2点が共通して構成されている。
【0023】また本発明の原点が、測量機の設置点であ
る構成にすることもできる。
【0024】そして本発明は特定点が4点以上であり、
最小2乗法により平面を特定する構成にすることもでき
る。
【0025】更に本発明は、測定対象物の方向を地図情
報から入力する構成にすることもできる。
【0026】また本発明のプログラムを固定させたメモ
リカード、フロッピディスク、CD、DVD、MO等の
電子的記憶媒体は、画像処理により測定対象物を認識
し、測定対象物の測定点を含む平面α上の少なくとも3
点の特定点までの角度を測定させ、測距部を、測定対象
物の測定点を含む平面α上の少なくとも3点の特定点ま
での距離を測定させ、前記測角部を、測定点への角度を
測定させ、演算部を、特定点までの距離、角度から平面
αを特定する式を決定すると共に、前記測定点への角度
から該測定点を結ぶ直線の式を決定し、更に、前記平面
αと前記直線の交点に相当する測定点を演算させるため
の手順等が記載されて構成されている。
【0027】そして本発明のプログラムを固定させたメ
モリカード、フロッピディスク、CD、DVD、MO等
の電子的記憶媒体は、画像処理により測定対象物を認識
し、測角部を、測定対象物の測定点を含む平面α上の少
なくとも3点の特定点までの角度及び測定対象物の測定
点を含む平面β上の少なくとも3点の特定点までの角度
とを測定させ、測距部を、測定対象物の測定点を含む平
面α上の少なくとも3点の特定点までの距離及び測定対
象物の測定点を含む平面β上の少なくとも3点の特定点
までの距離とを測定させ、前記測角部を、測定点への角
度を測定させ、演算部を、特定点までの距離、角度から
平面αを特定する式と平面βを特定する式を決定すると
共に、前記測定点への角度から該測定点を結ぶ直線の式
を決定し、更に、前記平面α又は平面βと、前記直線の
交点に相当する測定点を演算させるための手順が記載さ
れて構成されている。
【0028】また本発明は、平面α上の測定点と平面β
上の測定点との少なくとも2点が共通している構成する
こともできる。
【0029】更に本発明は、測定対象物が立体物であ
り、平面αは、前記立体物の一面であり、測定点が平面
α上の角部である構成にすることもできる。
【0030】そして本発明は、測定点が2点であり、演
算部が、2点の3次元座標を演算すると共に、この2点
間の距離を演算する構成にすることもできる。
【0031】また本発明は、測定点が少なくとも3点で
あり、演算部が、少なくとも3点の3次元座標を演算
し、これらの点が囲む面積を演算する構成にすることも
できる。
【0032】
【発明の実施の形態】以上の様に構成された本発明は、
ノンプリズム測定が可能な光波距離計が、測角部と測距
部とを有し、認識用演算処理手段が、画像処理により測
定対象物を認識し、測角部と測距部とは、測定対象物の
測定点を含む平面α上の少なくとも3点の特定点までの
距離、角度を測定し、測角部が、測定点への角度を測角
し、演算部が、特定点までの距離、角度から平面αを特
定する式を決定すると共に、測定点への角度から測定点
を結ぶ直線の式を決定し、更に、平面αと直線の交点に
相当する測定点を演算することができる。
【0033】また本発明の認識用演算処理手段は、フィ
ルタリング操作によりエッジを強調し、一定の配列で並
んだ測定点を抽出して測定対象物を認識することもでき
る。
【0034】そして本発明の認識用演算処理手段が、フ
ィルタリング操作によりエッジを強調し、テンプレート
マッチングにより測定対象物を認識することもできる。
【0035】また本発明の測量機の測定対象物は立体物
であり、平面αは、立体物の一面であり、測定点が平面
α上の角部にすることもできる。
【0036】更に本発明の測量機の測定点は2点であ
り、演算部が、2点の3次元座標を演算すると共に、こ
の2点間の距離を演算することもできる。
【0037】また本発明の測量機の測定点は少なくとも
3点であり、演算部が、少なくとも3点の3次元座標を
演算し、これらの点が囲む面積を演算することもでき
る。
【0038】そして本発明は、測定対象物の方向を地図
情報から入力することもできる。
【0039】更に本発明の3次元測定方法は、認識用演
算処理手段が、画像処理により測定対象物を認識し、測
定対象物の測定点を含む平面α上の少なくとも3点を特
定し、原点から特定点である少なくとも3点との距離、
角度を測定し、距離データと角度データを利用して、平
面αを特定する式を決定し、原点から測定点を視準して
測角し、原点から測定点を結ぶ直線の式を決定し、平面
αを特定する式と、原点から測定点を結ぶ直線の式との
交点である測定点を演算することができる。
【0040】また本発明は、認識用演算処理手段が、フ
ィルタリング操作によりエッジを強調し、一定の配列で
並んだ測定点を抽出して測定対象物を認識することもで
きる。
【0041】そして本発明は、認識用演算処理手段が、
フィルタリング操作によりエッジを強調し、テンプレー
トマッチングにより測定対象物を認識することもでき
る。
【0042】また本発明の原点が、測量機の設置点とす
ることもできる。
【0043】そして本発明の測定対象物は立体物であ
り、平面αは、立体物の一面であり、測定点が平面α上
の角部とすることもできる。
【0044】また本発明は測定点が2点であり、更に、
2点の3次元座標を演算し、この2点間の距離を演算す
ることもできる。
【0045】更に本発明は、測定点が少なくとも3点で
あり、更に、少なくとも3点の3次元座標を演算し、こ
れらの点が囲む面積を演算することもできる。
【0046】そして本発明は、認識用演算処理手段が、
画像処理により測定対象物を認識し、測定対象物の測定
点を含む平面α上の少なくとも3点を特定し、原点から
特定点である少なくとも3点との距離、角度を測定し、
測定対象物の測定点を含む平面β上の少なくとも3点を
特定し、原点から特定点である少なくとも3点との距
離、角度を測定し、距離データと角度データを利用し
て、平面αを特定する式を決定し、距離データと角度デ
ータを利用して、平面βを特定する式を決定し、原点か
ら測定点を視準して測角し、原点から測定点を結ぶ直線
の式を決定し、平面αを特定する式と、原点から測定点
を結ぶ直線の式との交点である測定点を演算し、平面β
を特定する式と、原点から測定点を結ぶ直線の式との交
点である測定点を演算し、平面α上の測定点と平面β上
の測定点との少なくとも2点が共通している。
【0047】更に本発明の原点が、測量機の設置点とす
ることもできる。
【0048】また本発明の特定点は4点以上であり、最
小2乗法により平面を特定することもできる。
【0049】また本発明は、測定対象物の方向を地図情
報から入力することもできる。
【0050】そして本発明の電子的記憶媒体は、画像処
理により測定対象物を認識し、測角部を、測定対象物の
測定点を含む平面α上の少なくとも3点の特定点までの
角度を測定させ、測距部を、測定対象物の測定点を含む
平面α上の少なくとも3点の特定点までの距離を測定さ
せ、測角部を、測定点への角度を測定させ、演算部を、
特定点までの距離、角度から平面αを特定する式を決定
すると共に、測定点への角度から測定点を結ぶ直線の式
を決定し、更に、平面αと直線の交点に相当する測定点
を演算させるための手順等が記載されている。
【0051】更に本発明の電子的記憶媒体は、画像処理
により測定対象物を認識し、測角部を、測定対象物の測
定点を含む平面α上の少なくとも3点の特定点までの角
度及び測定対象物の測定点を含む平面β上の少なくとも
3点の特定点までの角度とを測定させ、測距部を、測定
対象物の測定点を含む平面α上の少なくとも3点の特定
点までの距離及び測定対象物の測定点を含む平面β上の
少なくとも3点の特定点までの距離とを測定させ、測角
部を、測定点への角度を測定させ、演算部を、特定点ま
での距離、角度から平面αを特定する式と平面βを特定
する式を決定すると共に、測定点への角度から測定点を
結ぶ直線の式を決定し、更に、平面α又は平面βと、直
線の交点に相当する測定点を演算させるための手順等が
記載されている。
【0052】そして本発明の電子的記憶媒体は、平面α
上の測定点と平面β上の測定点との少なくとも2点を共
通とすることもできる。
【0053】また本発明の電子的記憶媒体は、測定対象
物が立体物であり、平面αは、立体物の一面であり、測
定点が平面α上の角部とすることもできる。
【0054】更に本発明の電子的記憶媒体は、測定点が
2点であり、演算部を、2点の3次元座標を演算すると
共に、この2点間の距離を演算させる手順等が記載され
ている。
【0055】そして本発明の電子的記憶媒体は、測定点
が少なくとも3点であり、演算部が、少なくとも3点の
3次元座標を演算し、これらの点が囲む面積を演算させ
る手順等が記載されている。
【0056】
【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【0057】図1は、本実施例の自動測量機1000を
示す図である。
【0058】自動測量機1000は、望遠鏡100と、
望遠鏡100を垂直面内に回動可能に支持するための支
持部材200と、望遠鏡100を水平面内に回動可能に
するための基盤部300と、望遠鏡100を回動させる
ための第1の駆動手段400と、基盤部300に形成さ
れ、支持部材200を回動させるための第2の駆動手段
500と、データコレクタ2000等の外部記憶表示装
置と接続するための入出力端子600とから構成されて
いる。
【0059】第1の駆動手段400は、第1の減速手段
410と高低用モータ420とから構成されている。第
2の駆動手段500は、第2の減速手段510と水平用
モータ520とから構成されている。
【0060】図2は、本実施例の自動測量機1000と
データコレクタ2000の電気的構成を示す図である。
【0061】自動測量機1000は、距離測定のための
特定の反射手段(反射プリズム等)を必要としない距離
測定が可能なノンプリズム型光波距離計700と、目標
物の像を電気信号に変換するための固体撮像素子810
と、この固体撮像素子810を駆動させるための撮像素
子駆動手段820と、固体撮像素子810の出力信号を
増幅するためのプリアンプ830と、認識用演算処理手
段840と、マイクロコンピュータ900と、高低用モ
ータ420、水平用モータ520等のモータを駆動する
ための駆動回路910と、高低用エンコーダ920と、
水平用エンコーダ930とから構成されている。
【0062】またノンプリズム型光波距離計700は、
基本的にプリズム型と類似の構造であるため、反射プリ
ズムを使用した測定ができ、反射プリズムを使用する場
合には、より長距離の測定を行うことができる。
【0063】次に図3及び図4に基づいて、自動測量機
1000の構成を詳細に説明する。
【0064】望遠鏡100は、測定点に設置された目標
物の像を形成するためのもので、望遠鏡光学系110を
備えている。望遠鏡光学系110は、対物レンズ111
とコリメートレンズ112とから構成されている。望遠
鏡100は、軸部材120により支持部材200に回動
可能に軸止されており、垂直面内(上下方向)に回動さ
せることができる。この軸部材120は第1の駆動手段
400に連結されている。即ち、軸部材120に形成さ
れた歯部と、第1の減速手段410の歯車とが噛合する
様に構成されており、高低用モータ420の回転力を、
第1の減速手段410を介して軸部材120に伝達する
様になっており、望遠鏡100を上下方向,に回動させ
ることができる。
【0065】また軸部材120には、高低用エンコーダ
920が連結されており、望遠鏡100の上下方向の回
転角を検出することができる様に構成されている。
【0066】そして支持部材200の下端部には、回転
中心軸210が形成されており、基盤部300に挿入係
止されている。従って支持部材200は、基盤部300
に対して水平面内に回動可能となっている。なお支持部
材200には、望遠鏡100が取り付けられているの
で、望遠鏡100も、基盤部300に対して水平面内に
回動可能とされている。
【0067】コリメートレンズ112の合焦点には、固
体撮像素子810が配置されている。この固体撮像素子
810は撮像素子に該当するもので、目標物の像を電気
信号に変換するためのものである。本実施例では、CC
Dによる撮像素子が採用されているが、光電変換できる
素子であれば、何れの受光素子を採用することができ
る。なお、対物レンズ111とコリメートレンズ112
とは合焦光学系に該当するものである。
【0068】なお本実施例では、図4に示す様に合焦機
構130が装備されている。この合焦機構130は、対
物レンズ111を固定するための対物レンズ枠131
と、コリメートレンズ112を固定するためのコリメー
トレンズ枠132と、コリメートレンズ枠132を回動
させるための合焦用モータ133とからなっている。
【0069】合焦用モータ133を回動させることによ
り、対物レンズ111を前後に移動させることができ
る。即ち、固体撮像素子810に結像させる合焦動作を
電気的に行うことができる。なお合焦機構130は、オ
ートフォーカスにすることも可能である。
【0070】基盤部300は支持部材200を回動自在
に固定するためのもので、支持部材200の回転中心軸
210が挿入係止されており、望遠鏡100を水平面内
に回動させることができる。
【0071】基盤部300には第2の駆動手段500が
形成されており、水平用モータ520が固定されてい
る。第2の減速手段510を介して、支持部材200の
回転中心軸210に伝達する様になっており、支持部材
200を水平面内に回動させることができる。
【0072】また回転中心軸210には、水平用エンコ
ーダ930が連結されており、望遠鏡100及び支持部
材200の水平方向の回転角を検出することができる様
になっている。
【0073】更に基盤部300の外壁部には、データコ
レクタ2000と連結するための入出力端子600が形
成されている。この入出力端子600は、接続手段に該
当するものである。
【0074】そして基盤部300の下端には、水準装置
310が設けられており、三脚に自動測量機1000を
固定すると共に、自動測量機1000を水平に保つ様に
調整することができる。
【0075】なお自動測量機1000にはノンプリズム
型光波距離計700が内臓されている。この光波距離計
700は、測定点に設置された目標物に対して、光を送
出し、目標物からの反射光を受光し、この光の発光時間
と反射光の受光時間の時間差により、目標物までの距離
を測定するものである。なお距離測定の演算には、マイ
クロコンピュータ900を使用してもよく、光波距離計
700独自に演算処理手段を備えてもよい。
【0076】ノンプリズム型光波距離計700には、パ
ルス半導体レーザーが使用され、レーザー駆動回路によ
りパルス駆動される様になっている。光源からの光パル
スは、コリメータレンズを介して発光側ファイバーに導
かれ、プリズムに入射される。そして、プリズムで反射
された光パルスは、対物レンズを通過して、測定対象物
に向けて射出される。
【0077】測定対象物で反射された光パルスは、対物
レンズを通過した後、プリズムで反射され、受光側ファ
イバーに入射する。そして導かれた光パルスは、受光レ
ンズを介して受光素子に入射される。
【0078】そして対物レンズは、有効径が数十mmで
あって焦点距離が100mm程度のものが使用される。
これは、発光光源であるパルス半導体レーザーの発光部
の広がり角に由来するものであり、発光する光の拡り角
を小さくし、効率よく対物レンズから射出させるため
に、ある程度の立体角をカバーする必要があるからであ
る。
【0079】そして対物レンズから測定対象物に向けて
射出されたパルス光は、発光側ファイバーの直径が有限
の大きさを持つことから、遠方に行く程広がることにな
る。例えば、対物レンズ9500の焦点距離を100m
mとするとし、発光側ファイバーの直径は、100μm
とすれば、100mの距離だけ離れると、100mmに
広がることとなる。
【0080】以上の様に、ノンプリズム型光波距離計7
00は、測定対象物に当たる測定光束の大きさが数10
mm以上の大きさとなってしまうので、測定対象物の表
面の点を測定するものではなく、実際には、面を測定し
ていることとなる。そのため、建物の角部等の測定は不
安定になり、面の測定が基本となる。
【0081】ここで自動測量機1000の動作を詳細に
説明する。
【0082】固体撮像素子810で撮像された画像は、
画像信号に変換され、プリアンプ830で増幅された
後、認識用演算処理手段840に入力される。
【0083】この認識用演算処理手段840が、内蔵さ
れている画像処理ソフトの実行により、目標対象物の抽
出がなされ、この抽出結果に基づいて測量が行われる。
【0084】「目標対象物が望遠鏡100の視野内に収
まらない場合」
【0085】一般的に望遠鏡100の倍率は高く、目標
対象物が、ビル等の比較的大きな建物等の場合には、望
遠鏡100の視野内に収まらない場合が多い。
【0086】まず図5に示す様に、水平方向及び鉛直方
向に走査させて、固体撮像素子810より画像信号を生
成させる。
【0087】そして、プリアンプ830で増幅された固
体撮像素子810の出力信号を認識用演算処理手段84
0に入力し、サンプリングした後、A/D変換してデジ
タル映像信号に変換する。そして認識用演算処理手段8
40では、画像信号を2値画像に変換させる。本実施例
の2値化には、固定しきい値による2値化が行われてい
るが、局所的な2値化を行うこともできる。
【0088】次に認識用演算処理手段840では、フィ
ルタリング処理を行い、エッジの強調を行う。エッジの
強調には、本実施例では、差分フィルタが使用されてい
る。この差分フィルタは、特定画像の近傍の階調値の微
分又は差分を用いた演算方法により、画像中のエッジを
強調するものである。
【0089】この差分フィルタには、線形フィルタと非
線形フィルタがあるが、本実施例では、線形1次元空間
微分フィルタが採用されている。近傍画像(マスク)も
適宜定められるが、本実施例では、3*3マスクで線形
1次元空間微分フィルタを構成している。
【0090】次に図6に示す様に、エッジを強調した濃
淡パターンから目標対象物の角部を抽出し、角部の画像
位置と視準角度とから、視準方向を特定する。
【0091】この動作を繰り返し、一定の配列で並んだ
測定点を抽出し、目標対象物である建物を特定する。次
に、建物平面の3点の距離を測定して、平面を特定する
ことができる。この3次元測定については、後に詳述す
る。
【0092】なお、目標対象物が建物である場合には、
建物の角部が、望遠鏡100の視野内に入る様に、望遠
鏡100を回転駆動させる。
【0093】そしてエッジを強調するフィルタリング操
作を行い、抽出した建物の角部と、視準中心との偏差を
求めることにより、建物の角部の位置を特定することが
できる。
【0094】「目標対象物が望遠鏡100の視野内に収
まる場合」
【0095】目標対象物が図7に示す様に、望遠鏡10
0の視野内に収まる場合には、テンプレートマッチング
を使用することができる。テンプレートマッチングは、
入力パターンと、予め記憶している標準パターンとを重
ね、最も一致した標準パターンを入力パターンの識別結
果にするものである。
【0096】即ち、目標対象物の形状に略一致する複数
のテンプレートを複数記憶し、目標対象物の画像が、テ
ンプレートのパターンと一致した時、目標対象物の概略
画像と位置とが特定される。
【0097】処理方法は前述した方法と同様であり、ま
ず、固体撮像素子810の出力信号を認識用演算処理手
段840に入力し、エッジを強調するフィルタリング操
作を行い、この濃淡パターンにテンプレートマッチング
を施し、目標対象物の概略画像と位置とを特定する。
【0098】この動作を繰り返し、目標対象物である建
物が有する平面の大きさ、面積、傾斜等を算出するため
の測量値を得ることができる。
【0099】なお、テンプレートマッチングを行う際に
は、複数の大きさのテンプレートパターンを記憶させる
か、或いは、目標対象物が視準内に収まる様にズーム機
構を設けることが望ましい。
【0100】そして、目標対象物を望遠鏡100を向か
わせる方法には、手動により目標対象物に向かわせる方
法と、データコレクタ2000等の外部記憶表示装置に
地図情報を表示させ、この地図情報の基づいて表示され
ている地図上に、目標対象物の測定位置を指示させるこ
ともできる自動による方法がある。なお、自動による方
法の場合には、地図情報の方向と、実際の方向とを対応
させる必要がある。
【0101】次に、自動測量機1000に接続するデー
タコレクタ2000を説明する。データコレクタ200
0は、自動測量機1000で計測された距離、角度等の
測量データ、及び固体撮像素子810で撮像された映像
を記憶するためのメモリ2100と、自動測量機100
0の固体撮像素子810で撮像された映像及び測量デー
タを表示するための表示器2200と、キーボード23
00と、データコレクタ用CPU2400とから構成さ
れている。
【0102】データコレクタ2000のデータコレクタ
用CPU2400と、自動測量機1000のマイクロコ
ンピュータ900とは、適宜のインターフェースを介し
て接続される。この際、データコレクタ2000のケー
ブル2500を自動測量機1000の入出力端子600
に連結することにより、接続を行う様になっている。
【0103】表示器2200は液晶ディスプレイ等から
構成されており、プリアンプ830を介して自動測量機
1000の固体撮像素子810と接続されている。この
接続も、上述のケーブル2500を使用して、自動測量
機1000の入出力端子600に連結することにより行
っている。メモリ2100は、測量結果を記憶すると共
に、地図情報を記憶している。更に、自動測量機100
0に所定の測量動作を実行させるソフトウェアとなるプ
ログラムを記憶している。また表示器2200には、表
示用調整回路2221が接続されており、測量結果及び
地図情報を表示することができる。また表示器2200
から自動測量機1000の操作を表示することもでき
る。
【0104】キーボード2300は、指示データ等を入
力するための入力手段に該当するものであり、入力手段
はキーボード2300に限らず、手書き入力装置や、他
の情報処理機器等から入力する様な構成にすることもで
きる。
【0105】また、マイクロコンピュータ900は、後
述する行列式を演算して連立方程式を解いたり、自動測
量機1000全体の制御を司るものである。
【0106】なお、メモリ2100はメモリカード等に
することもでき、電子的記憶媒体に該当するものであ
る。この電子的記憶媒体は、メモリカードに限らず、フ
ロッピディスク、CD、DVD、MO等、何れの外部記
憶媒体を使用することができる。
【0107】キーボード2300は、使用者が命令を入
力したり、必要なデータを入力するためのものである。
表示部2200は、入力された命令やデータをモニタし
たり、演算結果を表示するためのものである。
【0108】次に、本発明の3次元測定原理を詳細に説
明する。
【0109】「原理」
【0110】まず、図8に基づいて本発明の原理を説明
する。まず0点に、ノンプリズム型自動測量機1000
を設置し、測定対象物であるビル6000を測定する場
合を考える。このビル6000は直方体と考えることが
でき、各面は平面であるとすることができる。
【0111】このノンプリズム型自動測量機1000
は、測距と測角が行える一体型の「トータルステーショ
ン」と呼ばれるタイプのものである。なお、ノンプリズ
ム型自動測量機1000の測距部の光軸と、視準系とが
同軸であるとする。
【0112】まず、ビル6000のα面上のA点、B
点、C点を測定する。A点、B点、C点の各点で得られ
るデータは、0点(ノンプリズム型自動測量機1000
の設置点)を原点とした3次元空間上での原点からの距
離、角度のデータとなる。これによりA、B、C各点の
3次元空間上での座標位置を求めることができる。3次
元空間上の3点を含む平面は、一意的に決定されるの
で、測定したA、B、C各点を含むα面は一意的に決定
されることになる。
【0113】0点を原点とした3次元空間上でのA、
B、C各点の座標位置は、次の式で求めることができ
る。
【0114】A点の座標を(x、y、z)とすれ
ば、
【0115】 x=Lエル =L ・・・・・・第1式 z=L
【0116】ここで、エルは A点を視準した時のx方
向の方向余弦 mは A点を視準した時のy方向の方向余弦 nは A点を視準した時のz方向の方向余弦
【0117】となる。
【0118】また、A、B、C各点の座標を
【0119】A:(x、y、z) B:(x、y、z) C:(x、y、z
【0120】とすると、平面であるα面を表す式は以下
の様になる。
【0121】
【数1】
【0122】・・・・・第2式
【0123】次に、位置を測定したい平面の角aを視準
する。この時の角度データから、0点(ノンプリズム型
自動測量機1000の設置点)と視準点aを通る直線の
式は、以下の様に表すことができる。
【0124】 x/エル=y/m=z/n ・・・・・第3式
【0125】ここで、 エルは x方向の方向余弦 mは y方向の方向余弦 nは z方向の方向余弦
【0126】である。
【0127】そして0点(ノンプリズム型自動測量機1
000の設置点)を原点とした視準点aの3次元空間上
の座標は、第2式と第3式とを連立方程式として解くこ
とにより求めることができる。即ち、
【0128】a点のx座標は、
【0129】
【数2】
【0130】・・・・・第4式
【0131】a点のy座標は、
【0132】
【数3】
【0133】・・・・・第5式
【0134】a点のz座標は、
【0135】
【数4】
【0136】・・・・・第6式
【0137】で表すことができる。
【0138】また、0点(ノンプリズム型自動測量機1
000の設置点)から視準点aまでの距離L は、以
下の式で表される。
【0139】 L =(x +y +z 0.5 ・・・・・第7式
【0140】そして、α面上の他の角部であるb、c、
dも同様に3次元座標上の位置を求めることができる。
【0141】以上の様にして、α面上の他の角部である
a、b、c、dの3次元座標上の位置を求めることがで
きる
【0142】更に、α面の辺の長さ、面積等を、a、
b、c、d点の各点の3次元座標を基に計算により求め
ることができる。
【0143】平面であるα面を表す式が得られているの
で、視準時の角度データから間接的に3次元座標の位置
を求めることができるのは、平面の角に限定されること
なく、平面上の任意の点を求めることができる。例え
ば、ビル6000の窓6100は、e点、f点、g点、
h点の4点を測定すれば、その3次元座標を求めること
ができる。
【0144】なお、α面を表す式は、A点、B点、C点
の3点の距離、角度データを用いて演算したが、3点に
限定されるものではなく、4点以上の測定データを使用
し、最小2乗法等を利用することもでき、高精度の測定
を行うこともできる。
【0145】次に図9に示す様に、ノンプリズム型自動
測量機1000の設置点を0点からK点に移動する。そ
してα面と、別の平面であるβ面を測定し、α面と共通
の測定点(点c、点d)を観測すれば、β面を表す式
を、α面を表す式と同一の3次元座標で表す様に変換す
ることができ、β面上のデータとα面上のデータとを、
同一の3次元座標で表すことができる。
【0146】更に、ビル6000の全ての角部を測定す
れば、ビル6000の体積を求めることができる。
【0147】次に、本実施例の動作の一例を図10に基
づいて説明する。
【0148】まずステップ1(以下、S1と略する。)
では、図8のビル6000のα面上のA点、B点、C点
を測定し、光波距離計1000からの距離、角度のデー
タを得る。
【0149】次にS2では上述の第2式を演算して、A
点、B点、C点の3点を含むα面を特定する式を算出す
る。次にS3では、α面の4隅に相当する点a、点b、
点c、点dの4点を視準(測角)する。そしてS4で
は、第4式、第5式、第6式を解くことにより、α面の
4隅に相当する点a、点b、点c、点dの3次元座標を
演算する。更にS5では、点a、点b、点c、点dの各
点間の距離を演算し、S6で、α面の面積(α面の4隅
で形成される面積)を計算することができる。
【0150】従って、図11に示す様に、画像処理と3
次元測定を連結させることにより、自動測量が可能とな
る。
【0151】即ち、S1で固体撮像素子810の出力信
号を認識用演算処理手段840に入力し、サンプリング
した後、A/D変換してデジタル映像信号に変換する。
次にS2では、認識用演算処理手段840が、画像信号
を2値画像に変換させる。
【0152】そしてS3では、認識用演算処理手段84
0が、画像のフィルタリング処理を行い、エッジの強調
を行う。
【0153】次にS4では、認識用演算処理手段840
が、エッジを強調した濃淡パターンから目標対象物の角
部を抽出し、角部の画像位置と視準角度とから、視準方
向を特定する。
【0154】更にS5で、この動作を繰り返し、一定の
配列で並んだ測定点を抽出し、目標対象物である建物を
特定する。
【0155】次にS6で、図10に示す3次元測定を行
い、平面を特定することができる。
【0156】
【効果】以上の様に構成された本発明は、測角部と測距
部とを有し、ノンプリズム測定が可能な光波距離計と、
画像処理により測定対象物を認識するための認識用演算
処理手段とを備えた自動測量機であって、測角部と測距
部とは、測定対象物の測定点を含む平面α上の少なくと
も3点の特定点までの距離、角度を測定し、前記測角部
が、測定点への角度を測角し、演算部が、特定点までの
距離、角度から平面αを特定する式を決定すると共に、
前記測定点への角度から該測定点を結ぶ直線の式を決定
し、更に、前記平面αと前記直線の交点に相当する測定
点を演算する様に構成されているので、角部等の様に測
定困難な所でも、座標等を自動的に測定することができ
るという卓越した効果がある。
【0157】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例である自動測量機1000とデ
ータコレクタ2000を示す図である。
【図2】本発明の実施例の電気的構成を説明する図であ
る。
【図3】本発明の実施例の自動測量機1000を説明す
る図である。
【図4】本発明の実施例の自動測量機1000を説明す
る断面図である。
【図5】本実施例の画像処理における走査方向を説明す
る図である。
【図6】本実施例の画像処理における強調された角部を
説明する図である。
【図7】本実施例の画像処理における視野範囲を説明す
る図である。
【図8】本発明の原理を説明する図である。
【図9】本発明の原理を説明する図である。
【図10】本実施例の作用の一例を示す図である。
【図11】本実施例の作用を示す図である。 100 望遠鏡 110 望遠鏡光学系 111 対物レンズ 112 コリメートレンズ 120 軸部材 130 合焦機構 200 支持部材 210 回転中心軸 300 基盤部 400 第1の駆動手段 410 第1の減速手段 420 高低用モータ 500 第2の駆動手段 510 第2の減速手段 520 水平用モータ 600 入出力端子 700 ノンプリズム型光波距離計 810 固体撮像素子 820 撮像素子駆動手段 830 プリアンプ 840 認識用演算処理手段 900 マイクロコンピュータ 910 駆動回路 920 高低用エンコーダ 930 水平用エンコーダ 1000 自動測量機 2000 データコレクタ

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測角部と測距部とを有し、ノンプリズム
    測定が可能な光波距離計と、画像処理により測定対象物
    を認識するための認識用演算処理手段とを備えた自動測
    量機であって、測角部と測距部とは、測定対象物の測定
    点を含む平面α上の少なくとも3点の特定点までの距
    離、角度を測定し、前記測角部が、測定点への角度を測
    角し、演算部が、特定点までの距離、角度から平面αを
    特定する式を決定すると共に、前記測定点への角度から
    該測定点を結ぶ直線の式を決定し、更に、前記平面αと
    前記直線の交点に相当する測定点を演算する様に構成さ
    れていることを特徴とする自動測量機。
  2. 【請求項2】 認識用演算処理手段が、フィルタリング
    操作によりエッジを強調し、一定の配列で並んだ測定点
    を抽出して測定対象物を認識する請求項1記載の自動測
    量機。
  3. 【請求項3】 認識用演算処理手段が、フィルタリング
    操作によりエッジを強調し、テンプレートマッチングに
    より測定対象物を認識する請求項1記載の自動測量機。
  4. 【請求項4】 測定対象物が立体物であり、平面αは、
    前記立体物の一面であり、測定点が平面α上の角部であ
    る請求項1〜3の何れか1つに記載の自動測量機。
  5. 【請求項5】 測定点が2点であり、演算部が、2点の
    3次元座標を演算すると共に、この2点間の距離を演算
    する請求項1〜4の何れか1つに記載の自動測量機。
  6. 【請求項6】 測定点が少なくとも3点であり、演算部
    が、少なくとも3点の3次元座標を演算し、これらの点
    が囲む面積を演算する請求項1〜5の何れか1つに記載
    の自動測量機。
  7. 【請求項7】 測定対象物の方向を地図情報から入力す
    る請求項1〜6の何れか1つに記載の自動測量機。
  8. 【請求項8】 認識用演算処理手段が、画像処理により
    測定対象物を認識する第1工程と、この測定対象物の測
    定点を含む平面α上の少なくとも3点を特定し、原点か
    ら特定点である少なくとも3点との距離、角度を測定す
    る第2工程と、この第2工程で得られた距離データと角
    度データを利用して、平面αを特定する式を決定する第
    3工程と、前記原点から前記測定点を視準して測角し、
    前記原点から該測定点を結ぶ直線の式を決定する第4工
    程と、前記第3工程で得られた平面αを特定する式と、
    前記第4工程で得られた前記原点から該測定点を結ぶ直
    線の式との交点である測定点を演算する第5工程とから
    なる3次元測定方法。
  9. 【請求項9】 第1工程は認識用演算処理手段が、フィ
    ルタリング操作によりエッジを強調し、一定の配列で並
    んだ測定点を抽出して測定対象物を認識する請求項8記
    載の3次元測定方法。
  10. 【請求項10】 第1工程は認識用演算処理手段が、フ
    ィルタリング操作によりエッジを強調し、テンプレート
    マッチングにより測定対象物を認識する請求項9記載の
    3次元測定方法。
  11. 【請求項11】 上記原点が、測量機の設置点である請
    求項8〜10の何れか1つに記載の3次元測定方法。
  12. 【請求項12】 測定対象物が立体物であり、平面α
    は、前記立体物の一面であり、測定点が平面α上の角部
    である請求項8〜11の何れか1つに記載の3次元測定
    方法。
  13. 【請求項13】 測定点が2点であり、更に、2点の3
    次元座標を演算し、この2点間の距離を演算する第5工
    程を加えた請求項8〜12の何れか1つに記載の3次元
    測定方法。
  14. 【請求項14】 測定点が少なくとも3点であり、更
    に、少なくとも3点の3次元座標を演算し、これらの点
    が囲む面積を演算する第5工程を加えた請求項8〜13
    の何れか1つに記載の3次元測定方法。
  15. 【請求項15】 認識用演算処理手段が、画像処理によ
    り測定対象物を認識する第1工程と、この測定対象物の
    測定点を含む平面α上の少なくとも3点を特定し、原点
    から特定点である少なくとも3点との距離、角度を測定
    する第2工程と、測定対象物の測定点を含む平面β上の
    少なくとも3点を特定し、原点から特定点である少なく
    とも3点との距離、角度を測定する第3工程と、前記第
    2工程で得られた距離データと角度データを利用して、
    平面αを特定する式を決定する第4工程と、前記第3工
    程で得られた距離データと角度データを利用して、平面
    βを特定する式を決定する第5工程と、前記原点から前
    記測定点を視準して測角し、前記原点から該測定点を結
    ぶ直線の式を決定する第6工程と、前記第4工程で得ら
    れた平面αを特定する式と、前記第6工程で得られた前
    記原点から該測定点を結ぶ直線の式との交点である測定
    点を演算する第7工程と、前記第5工程で得られた平面
    βを特定する式と、前記第6工程で得られた前記原点か
    ら該測定点を結ぶ直線の式との交点である測定点を演算
    する第8工程とからなり、平面α上の測定点と平面β上
    の測定点との少なくとも2点が共通している3次元測定
    方法。
  16. 【請求項16】 上記原点が、測量機の設置点である請
    求項15記載の3次元測定方法。
  17. 【請求項17】 前記特定点が4点以上であり、最小2
    乗法により平面を特定する請求項8〜16の何れか1つ
    に記載の3次元測定方法。
  18. 【請求項18】 測定対象物の方向を地図情報から入力
    する請求項8〜17の何れか1つに記載の3次元測定方
    法。
  19. 【請求項19】 画像処理により測定対象物を認識し、
    測定対象物の測定点を含む平面α上の少なくとも3点の
    特定点までの角度を測定させ、測距部を、測定対象物の
    測定点を含む平面α上の少なくとも3点の特定点までの
    距離を測定させ、前記測角部を、測定点への角度を測定
    させ、演算部を、特定点までの距離、角度から平面αを
    特定する式を決定すると共に、前記測定点への角度から
    該測定点を結ぶ直線の式を決定し、更に、前記平面αと
    前記直線の交点に相当する測定点を演算させるための手
    順等が記載されたプログラムを固定させたメモリカー
    ド、フロッピディスク、CD、DVD、MO等の電子的
    記憶媒体。
  20. 【請求項20】 画像処理により測定対象物を認識し、
    測角部を、測定対象物の測定点を含む平面α上の少なく
    とも3点の特定点までの角度及び測定対象物の測定点を
    含む平面β上の少なくとも3点の特定点までの角度とを
    測定させ、測距部を、測定対象物の測定点を含む平面α
    上の少なくとも3点の特定点までの距離及び測定対象物
    の測定点を含む平面β上の少なくとも3点の特定点まで
    の距離とを測定させ、前記測角部を、測定点への角度を
    測定させ、演算部を、特定点までの距離、角度から平面
    αを特定する式と平面βを特定する式を決定すると共
    に、前記測定点への角度から該測定点を結ぶ直線の式を
    決定し、更に、前記平面α又は平面βと、前記直線の交
    点に相当する測定点を演算させるための手順が記載され
    たプログラムを固定させたメモリカード、フロッピディ
    スク、CD、DVD、MO等の電子的記憶媒体。
  21. 【請求項21】 平面α上の測定点と平面β上の測定点
    との少なくとも2点が共通している請求項19記載のプ
    ログラムを固定させたメモリカード、フロッピディス
    ク、CD、DVD、MO等の電子的記憶媒体。
  22. 【請求項22】 測定対象物が立体物であり、平面α
    は、前記立体物の一面であり、測定点が平面α上の角部
    である請求項19〜21の何れか1つに記載のプログラ
    ムを固定させたメモリカード、フロッピディスク、C
    D、DVD、MO等の電子的記憶媒体。
  23. 【請求項23】 測定点が2点であり、演算部が、2点
    の3次元座標を演算すると共に、この2点間の距離を演
    算する請求項19〜22の何れか1つに記載のプログラ
    ムを固定させたメモリカード、フロッピディスク、C
    D、DVD、MO等の電子的記憶媒体。
  24. 【請求項24】 測定点が少なくとも3点であり、演算
    部が、少なくとも3点の3次元座標を演算し、これらの
    点が囲む面積を演算する請求項19〜23の何れか1つ
    に記載のプログラムを固定させたメモリカード、フロッ
    ピディスク、CD、DVD、MO等の電子的記憶媒体。
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