JP6164546B1 - 測量方法及び測量装置 - Google Patents
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Abstract
Description
1つの壁面上にある第1〜第4の点の座標を求める第1の工程と,
前記第1の工程に続いて,前記第1,第2,及び第3の点を含む第1の面,前記第2,第3,及び第4の点を含む第2の面,前記第3,第4,及び第1の点を含む第3の面,及び前記第4,第1,及び第2の点を含む第4の面を特定する第2の工程と,
前記第2の工程に続いて,前記第1の面と前記第4の点との第4の距離δ4,前記第2の面と前記第1の点との第1の距離δ1,前記第3の面と前記第2の点との第2の距離δ2,及び前記第4の面と前記第3の点との第3の距離δ3を求める第3の工程と,
前記第3の工程に続いて,前記第1,第2,第3,及び第4の距離δ1〜δ4のうちの最大の値δmaxを評価値とする第4の工程と,
前記第4の工程に続いて,前記評価値δmaxが予め決められた閾値δth未満の場合,前記第1〜第4の面のいずれかを前記壁面を特定する特定面とする第5の工程を有するものである。
前記壁面が少なくとも1つのコーナーを有する場合,
前記ノンプリズム式トータルステーションに対する前記コーナーの方向角と高度角を求める工程と,
前記方向角,前記高度角,及び前記特定面から前記角の座標を求める工程,を有する。
前記壁面が少なくとも1つのエッジを有する場合,
前記エッジに含まれる少なくとも2つの第1と第2のエッジポイントのそれぞれについて,前記ノンプリズム式トータルステーションに対する方向角と高度角を求める工程と,
前記第1と第2のエッジポイントの方向角及び高度角と前記特定面から,前記第1と第2のエッジポイントの座標を求める工程,を有する。
図1は,本発明の測量方法に使用するノンプリズム方式のトータルステーション10を示す。トータルステーション10は,一般のトータルステーションと同様に,レーザを使って距離を測定する測距機能,望遠鏡の視準方向(方向角,高度角)を測定する測角機能,測定された距離と角度を使って観測点(望遠鏡の視準点)の三次元座標データを取得する座標演算機能,及び観測点の三次元座標を使って各種演算を行う特殊機能を有する。
トータルステーション10を使って行われる各種測量には,平坦な面(例えば,建物の壁面)を特定する測量(以下,「面測量」という。)と,その平坦な面のコーナー(角部)やエッジ(縁部)を特定する測量(以下,それぞれ「コーナー測量」,「エッジ測量」という。)が含まれる。以下,面測量,コーナー測量,及びエッジ測量について説明する。
面測量を建物の壁面に適用した場合を例に説明する。図1に示すように,測量の対象となる建物31は外見上平坦な壁面32を有するものとする。通常,外見上平坦な壁面であっても,厳密には歪みや凹凸を有する。例えばコンクリート構造物の場合,歪みは型枠の歪みに起因する。タイル外壁の場合,タイルとタイルの間の目地が窪みになる。したがって,レーザ(観測点)が壁面の窪みや突起に当たることがあり,その場合,壁面32上の3点の座標データをもって特定される面が実際の壁面32を正確に表しているとは言い難い。この問題に対処するため,本発明の面測量は,特定された面が実際の壁面を正確又はほぼ正確に表しているか否かを判断するための評価機能を有する。以下,この評価機能を面測量と共に説明する。
面測量において,オペレータは,対象建物31が見える位置にノンプリズム方式のトータルステーション10を設置する。次に,オペレータは,トータルステーション10を起動し,トータルステーション10の器械点(x0,y0,z0’)と,器械点から基準点(h0)までの高さ(器械高)を求める。器械点の座標と器械高から,基準点の座標(x0,y0,z0)(z0=z0’+h0)が計算できる。
面測量の対象とする領域(壁面全体又は壁面の一部分)を決め,該領域に含まれる4つの計測点P1(第1の点),P2(第2の点),P3(第3の点),P4(第4の点)を望遠鏡で視準し,4点の座標(x1,y1,z1),(x2,y2,z2),(x3,y3,z3),(x4,y4,z4)を得る。
制御装置22は,面測量プログラムにしたがって,計測点P1,P2,P3,P4の座標(x1,y1,z1),(x2,y2,z2),(x3,y3,z3),(x4,y4,z4)を使い,点P1,P2,P3を結ぶ第1の面の面方程式〔数式1〕,点P2,P3,P4を結ぶ第2の面の面方程式〔数式2〕,点P3,P4,P1を結ぶ第3の面の面方程式〔数式3〕,点P4,P1,P2を結ぶ第4の面の面方程式〔数式4〕を求める。具体的には,以下に示す面方程式の係数(a1,b1,c1,d1・・・a4,b4,c4,d4)を計算する。
上述のように,4つの計測点P1,P2,P3,P4が同一平面上に位置するとは限らない。例えば,壁面のゆがみ等により,図4に示すように,点P4は他の3つの点P1,P2,P3を結んで形成される三角形P1P2P3の面上に存在しないことがある(図4(b)参照)。同様に,点P2は他の3つの点P3,P4,P1を結んで形成される三角形P3P4P1の面上に存在しないことがある(図4(c)参照)。図4(b),(c)において,点P4から三角形P1P2P3の平面に下した垂線の長さがδ4,点P2から三角形P3P4P1の平面に下した垂線の長さがδ2で,それぞれ示されている。
制御装置22は,面測量プログラムにしたがって,垂線の長さδ1,δ2,δ3,δ4のうち,最大の値を有する垂線長を評価値δMAXとする。
制御装置22は,面測量プログラムにしたがって,記憶装置24に記憶されている閾値δTHを読み出す。閾値δTHは,測量対象に応じて適宜決定される。制御装置22は,閾値δTHと評価値δMAXとを比較し,評価値δMAXが閾値δTH以上であれば,入出力部13の表示部(例えば,液晶画面)17に所定の警告(例えば,「測定不能」)を表示させる。
評価値δMAXが閾値δTH未満の場合,制御装置22は,面測量プログラムにしたがって,式(1)〜(4)のいずれかを領域の面方程式とする。
コーナーの座標を得るコーナー測量を説明する。
オペレータが入出力部13のコーナー測量キー18を押す。これにより,制御装置22が記憶装置24に記憶されているコーナー測量プログラムが起動し,上述した工程1〜5を実行し,壁面32内の領域に設定された4つの計測点P1,P2,P3,P4の座標(x1,y1,z1),(x2,y2,z2),(x3,y3,z3),(x4,y4,z4)を取得し,壁面32を特定する面方程式を得る。図示するように,計測点P1,P2,P3,P4は,4つのコーナーP10,P20,P30,P40の近くに設けることが好ましい。すでに計測点P1,P2,P3,P4を使った面測量の座標データが記憶装置24に記憶されている場合,記憶された計測点の座標及び面方程式がコーナー測量に利用できる。
次に,オペレータが望遠鏡14でコーナーP10,P20,P30,P40を視準する。各コーナーを視準した状態で,オペレータが測定キー16を押すと,制御装置22は,コーナー測量プログラムにしたがって,視準軸の方向角α10,α20,α30,α40及び高度角h10,h20,h30,h40と,基準点の座標(x0,y0,z0)をもとに,基準点とコーナーを結ぶ方向ベクトル〔数式(9),(10),(11),(12)〕を求める。具体的には,以下の数式9〜12に示す値a10,b10,c10,・・・a40,b40,c40)を計算する。
制御装置22は,コーナー測量プログラムにしたがって,工程7で特定した面方程式〔例えば,数式(1),(2),(3),(4)のいずれか〕と数式13〜16を用いて,コーナーP10,P20,P30,P40の座標(x10,y10,z10),(x20,y20,z20),(x30,y30,z30),(x40,y40,z40)をそれぞれ求め,記憶装置24に記させる。
コーナーP10とコーナーP20を結ぶ上エッジ,コーナーP20とコーナーP30を結ぶ右エッジ,コーナーP30とコーナーP40を結ぶ下エッジ,及びコーナーP40とコーナーP10を結ぶ左エッジを特定するエッジ測量を説明する。
制御装置22は,エッジ測量プログラムにしたがって,上述した工程1〜5を実行し,壁面32内の領域に設定された4つの計測点P1,P2,P3,P4の座標(x1,y1,z1),(x2,y2,z2),(x3,y3,z3),(x4,y4,z4)を取得し,壁面32を特定する面方程式を得る。図示するように,計測点P1,P2,P3,P4は,4つのコーナーの近くに設けることが好ましい。すでに計測点P1,P2,P3,P4を使った面測量又はコーナー測量の座標データが記憶装置24に記憶されている場合,記憶された計測点の座標及び面方程式が利用できる。また,制御装置22は,エッジ測量プログラムにしたがって,上述の工程6〜9を実行し,コーナーP10,P20,P30,P40の座標(x10,y10,z10),(x20,y20,z20),(x30,y30,z30),(x40,y40,z40)をそれぞれ求め,記憶装置24に記憶させる。
コーナーP10,P20,P30,P40の座標(x10,y10,z10),(x20,y20,z20),(x30,y30,z30),(x40,y40,z40)の座標から,コーナーP10とコーナーP20を結ぶ上エッジ(上縁)E12の直線方程式〔数式(17)〕,コーナーP20とコーナーP30を結ぶ右エッジ(右縁)E23の直線方程式〔数式(18)〕,コーナーP30とコーナーP40を結ぶ下エッジ(下縁)E34の直線方程式〔数式(19)〕,及びコーナーP40とコーナーP10を結ぶ左エッジ(左縁)E41の直線方程式〔数式(20)〕が求まる。
一つの壁面上にある第1〜第4の点の座標を求める第1の工程と,
前記第1の工程に続いて,前記第1の点,第2の点,及び第3の点を含む一つの面を特定する第2の工程と,
前記第2の工程で特定された面と前記第4の点との距離δを求める第3の工程と,
前記距離δが予め決められた閾値δth以上か否か判断する第4の工程と,
前記距離δが前記予め決められた閾値δth以上の場合,前記第1の工程に戻り,前記距離δが前記予め決められた閾値δth未満の場合,前記第2の工程で特定した面が前記壁面を表す面とする第5の工程,を有する測量方法を含む。
本発明の測量方法を実施するトータルステーションを用いて,鉄塔の一部を構成している部材(図7に示す山形鋼)の板幅を計測した。上述した方法にしたがって,対象の部材表面における5つの点(P1,P2,P3,P4,P5)の座標を求めるとともにそれらの座標を使って板幅を計算した。結果を表1に示す。
11:下部構造(整準台)
12:上部構造
13:入出力部
14:望遠鏡
15:面測量キー
16:測定キー
17:表示部
18:角測量キー
20:コンピュータ
21:中央処理装置
22:制御装置
23:演算装置
24:記憶装置
25:入力装置
26:出力装置
31:建物
32:壁面
Claims (5)
- 1つの壁面上にある第1〜第4の点の座標を求める第1の工程と,
前記第1の工程に続いて,前記第1,第2,及び第3の点を含む第1の面,前記第2,第3,及び第4の点を含む第2の面,前記第3,第4,及び第1の点を含む第3の面,及び前記第4,第1,及び第2の点を含む第4の面を特定する第2の工程と,
前記第2の工程に続いて,前記第1の面と前記第4の点との第4の距離δ4,前記第2の面と前記第1の点との第1の距離δ1,前記第3の面と前記第2の点との第2の距離δ2,及び前記第4の面と前記第3の点との第3の距離δ3を求める第3の工程と,
前記第3の工程に続いて,前記第1,第2,第3,及び第4の距離δ1〜δ4のうちの最大の値δmaxを評価値とする第4の工程と,
前記第4の工程に続いて,前記評価値δmaxが予め決められた閾値δth未満の場合,前記第1〜第4の面のいずれかを前記壁面を特定する特定面とする第5の工程を有する,測量方法。 - 前記第4の工程に続いて,前記評価値δmaxが予め決められた閾値δth以上の場合,前記第1の工程に戻る第6の工程を有する,請求項1の測量方法。
- ノンプリズム式トータルステーションを使って前記第1〜第4の点の座標を求める請求項2の測量方法。
- 前記壁面が少なくとも1つのコーナーを有する場合,
前記ノンプリズム式トータルステーションに対する前記コーナーの方向角と高度角を求める工程と,
前記方向角,前記高度角,及び前記特定面から前記コーナーの座標を求める工程,を有することを特徴とする請求項3の測量方法。 - 前記壁面が少なくとも1つのエッジを有する場合,
前記エッジに含まれる少なくとも2つの第1と第2のエッジポイントのそれぞれについて,前記ノンプリズム式トータルステーションに対する方向角と高度角を求める工程と,
前記第1と第2のエッジポイントの方向角及び高度角と前記特定面から,前記第1と第2のエッジポイントの座標を求める工程,を有する請求項3の測量方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3318842A1 (en) * | 2016-11-07 | 2018-05-09 | Kumonos Corporation | Survey method |
CN114353764A (zh) * | 2021-12-13 | 2022-04-15 | 中铁大桥局集团第二工程有限公司 | 一种护筒参数的测量方法及装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000221037A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Topcon Corp | 自動測量機と3次元測定方法 |
JP2004163292A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Topcon Corp | 測量装置と電子的記憶媒体 |
JP2005198334A (ja) * | 2005-02-07 | 2005-07-21 | Hitachi Ltd | デジタルカメラ |
JP2011123008A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Nexco-East Engineering Co Ltd | 計測方法および計測プログラムならびに計測装置 |
WO2013035612A1 (ja) * | 2011-09-09 | 2013-03-14 | 日本電気株式会社 | 障害物検知装置、障害物検知方法及び障害物検知プログラム |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004333211A (ja) | 2003-05-01 | 2004-11-25 | Sokkia Co Ltd | トータルステーションの制御装置 |
WO2007032136A1 (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-22 | Kansai Kouji Sokuryou Co., Ltd. | 光学装置、および光学装置を用いて物体の寸法を測定する方法 |
JP5263804B2 (ja) * | 2007-04-20 | 2013-08-14 | 株式会社トプコン | 多点測定方法及び測量装置 |
CN102113306A (zh) * | 2008-03-20 | 2011-06-29 | 惠普开发有限公司 | 基于缩略图的图像质量检查 |
JP5312890B2 (ja) | 2008-10-01 | 2013-10-09 | 西松建設株式会社 | インバート部の掘削管理方法 |
TWI398160B (zh) * | 2009-12-01 | 2013-06-01 | Ind Tech Res Inst | 攝影機校正系統與座標資料產生系統及其方法 |
CN101986350B (zh) * | 2010-10-22 | 2012-03-28 | 武汉大学 | 基于单目结构光的三维建模方法 |
CN102927917B (zh) * | 2012-10-26 | 2016-02-24 | 河北省电力公司电力科学研究院 | 多目铁塔视觉测量方法 |
JP6454573B2 (ja) * | 2015-03-17 | 2019-01-16 | 大成建設株式会社 | トータルステーションを用いた測定方法および段差算出装置 |
CN105241432A (zh) * | 2015-09-28 | 2016-01-13 | 中铁城市规划设计研究院有限公司 | 一种建筑物外立面测量方法 |
JP6164546B1 (ja) * | 2016-11-07 | 2017-07-19 | クモノスコーポレーション株式会社 | 測量方法及び測量装置 |
-
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000221037A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Topcon Corp | 自動測量機と3次元測定方法 |
JP2004163292A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Topcon Corp | 測量装置と電子的記憶媒体 |
JP2005198334A (ja) * | 2005-02-07 | 2005-07-21 | Hitachi Ltd | デジタルカメラ |
JP2011123008A (ja) * | 2009-12-14 | 2011-06-23 | Nexco-East Engineering Co Ltd | 計測方法および計測プログラムならびに計測装置 |
WO2013035612A1 (ja) * | 2011-09-09 | 2013-03-14 | 日本電気株式会社 | 障害物検知装置、障害物検知方法及び障害物検知プログラム |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3318842A1 (en) * | 2016-11-07 | 2018-05-09 | Kumonos Corporation | Survey method |
CN114353764A (zh) * | 2021-12-13 | 2022-04-15 | 中铁大桥局集团第二工程有限公司 | 一种护筒参数的测量方法及装置 |
CN114353764B (zh) * | 2021-12-13 | 2024-04-19 | 中铁大桥局集团第二工程有限公司 | 一种护筒参数的测量方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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