JP2000207052A - 遅延固定ル―プの初期ロックタイム短縮装置及び方法 - Google Patents

遅延固定ル―プの初期ロックタイム短縮装置及び方法

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JP2000207052A JP161A JP2000000161A JP2000207052A JP 2000207052 A JP2000207052 A JP 2000207052A JP 161 A JP161 A JP 161A JP 2000000161 A JP2000000161 A JP 2000000161A JP 2000207052 A JP2000207052 A JP 2000207052A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 発生したスキューの除去のために、短時間内
にDLLの初期動作の完了が可能な遅延固定ループの初
期ロックタイム短縮装置及び方法を提供する。 【解決手段】 基準クロック生成手段と、入力された内
部クロックに単位遅延と多段遅延とを与え入力された内
部クロックと単位遅延及び多段遅延された内部クロック
の位相を基準クロック提供手段から提供された基準クロ
ックの位相とを比較する位相比較手段と、比較結果に応
じ遅延量を選択するシフトコントロール手段と、シフト
コントロール手段の出力により内部クロックを遅延させ
る遅延手段と、遅延されたクロックに相応する遅延クロ
ックモデルを位相比較手段に内部クロックとして提供す
る遅延クロックモデリング手段とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明はDDR(doubl
e data rate)SDRAM(Synchro
nous Random Access Memor
y)のように高速に動作するメモリデバイス等に用いら
れる遅延固定ループ(delay locked lo
op以下簡単に"DLL"という)に関し、特に遅延固定
ループの初期ロックタイム(lock time)を効
果的に減少させる短縮装置及び方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、DLLはある信号に対して時間
上でスキュー(skew)が発生する場合にこれを補正
するものであって、最近のDDR SDRAMのような
高速に動作するメモリデバイス(memory dev
ice)分野で同期信号として使用するクロック(cl
ock)のスキューなどの問題点を補完するために必要
となる機能である。
【0003】従来は基準クロック(reference
external clock)と比較しながら、ス
キューが発生した内部クロック(skewed int
ernal clock)に対して一定の単位遅延(u
nit delay)のみを反復的に与えながら、前記
基準クロックと内部クロックとの間のスキューが前記単
位遅延量より小さくなるまで比較動作を反復し、遅延固
定ループDLLの初期動作を遂行した。
【0004】しかし、上述のような場合は、単位遅延素
子(unit delay)を利用して反復的になんど
も遅延させながら、その都度補正された結果を確認する
方法を取っていたため、必然的にその反復回数が多くな
りDLLの初期ロックタイム(initial loc
ktime)に長時間を要するという短所があった。例
えば、0.2nsecの単位遅延素子を採用していると
仮定する時、8クロックごとに前記遅延固定ループの位
相比較部を作動させる既存のメカニズムで8nsecの
遅延動作を遂行するためには、少なくとも40回の反復
動作、すなわち320クロック経過後にはじめてその動
作を完了できることになる。
【0005】特に、上述のような従来技術は、高速で動
作するデバイスではさらに致命的な悪影響を及ぼすこと
は明らかである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明
は、前記のような従来の諸問題を解決するために案出さ
れたものであって、その目的は、発生したスキュー除去
のために、基準クロックまたは対象内部クロックに対し
て単位遅延とともに、多段遅延を反復的に併行して実行
しながら補正結果を確認して、短い時間内にDLLの初
期動作を完了することが可能な遅延固定ループの初期ロ
ックタイム短縮装置及び方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の装置は、基準クロックと内部クロックとの
間のスキューを除去するための遅延固定ループDLLの
初期ロックタイム短縮装置において、基準クロック生成
手段と、入力された内部クロックに単位遅延と多段遅延
(multiple delay)とを与え、前記入力
された内部クロックと、単位遅延された内部クロック及
び多段遅延された内部クロックの位相を前記基準クロッ
ク提供手段から提供される基準クロックの位相と比較す
る位相比較手段と、前記位相比較手段の比較結果に応じ
て遅延量を選択するシフトコントロール手段と、前記シ
フトコントロール手段の出力に応じて前記内部クロック
を遅延させる遅延手段と、前記遅延手段により遅延され
たクロックに相応する遅延クロックモデルを前記位相比
較手段に内部クロックとして提供する遅延クロックモデ
リング手段とを含むことを特徴とする。
【0008】また、本発明の装置は、基準クロックと内
部クロックとの間のスキューを除去するための遅延固定
ループDLLの初期ロックタイム短縮装置において、基
準クロック提供手段と、前記基準クロック提供手段から
提供された基準クロックに単位遅延と多段遅延とを与
え、前記基準クロックと、単位遅延された基準クロック
及び多段遅延された基準クロックの位相が入力された内
部クロックの位相とを比較する位相比較手段と、前記位
相比較手段の比較結果に応じて遅延量を選択するシフト
コントロール手段と、前記シフトコントロール手段の出
力に応じて前記基準クロックを遅延させる遅延手段と、
前記遅延手段により遅延されたクロックに相応する遅延
クロックモデルを前記位相比較手段に内部クロックとし
て提供する遅延クロックモデリング手段とを含むことを
特徴とする。
【0009】さらに、前記の目的を達成するため、本発
明の遅延固定ループDLLの初期ロックタイム短縮方法
は、基準クロックまたは内部クロックのいずれかを遅延
させてスキューを除去するための遅延固定ループDLL
の初期ロックタイム短縮方法において、前記基準クロッ
ク及び内部クロックを入力する第1ステップと、前記内
部クロックと前記基準クロックとの比較結果、遅延手段
の遅延量が過多の場合、現在の遅延量を単位遅延量だけ
減少させる第2ステップと、前記内部クロックと前記基
準クロックとの比較結果、前記遅延手段の遅延量が不足
の場合、遅延量を増加させ、単位遅延量または所定の多
段遅延量の内許容されるいずれかの遅延量だけ増加させ
る第3ステップと、前記基準クロック及び内部クロック
間の位相差が前記単位遅延による位相差より小さくなる
時まで前記第1ステップないし第3ステップを繰り返し
遂行する第4ステップとを含むことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面を参照して本
発明の実施例を詳細に説明する。
【0011】図1は、本発明における遅延固定ループの
初期ロックタイム短縮装置の構成を概略的に示したブロ
ック図であり、符号10はクロック生成部、20は遅延
クロックモデリング部、30は位相比較部、40はシフ
トコントロール部、50は遅延部、60は信号駆動部を
各々示したものである。
【0012】本発明による遅延固定ループの初期ロック
タイム短縮装置は、図1に示したように、外部から入力
されたクロックを利用して基準クロックを提供するクロ
ック生成部10と、このクロック生成部10から提供さ
れる基準クロックと、入力された内部クロックの位相を
比較して基準クロックまたは内部クロックに対して単位
遅延とともに、多段遅延を併行して実行しながら位相を
比較する位相比較部30と、この位相比較部30の比較
結果に応じて遅延量を選択するシフトコントロール部4
0と、NANDゲート及びインバータ等により構成され
る遅延チェーン(delay chain)を具備して
おり、前記シフトコントロール部40から出力される制
御信号に応じて選択された遅延量だけ遅延させる遅延部
50と、前記遅延部50により遅延された現在のクロッ
クに相応する遅延クロックモデルを前記位相比較部30
に提供する遅延クロックモデリング部20と、前記遅延
部50から印加されるクロックを外部に出力するための
DLLクロック駆動部60とを含んで構成される。
【0013】また、図1の位相比較部についての細部構
成一実施例を図2に示した。図面において、31、3
3、及び35は位相比較器であり、32は単位遅延器で
あり、34は多段遅延器であり、36はバーストシフト
制御ユニットである。
【0014】図2を参照して説明すると、前記位相比較
部30は、入力される前記基準クロック及び内部クロッ
クを直接比較して出力する第1位相比較器31と、前記
入力される内部クロックに対して所定の単位遅延を与え
る単位遅延器32と、前記基準クロックと、単位遅延さ
れた内部クロックとを比較して出力する第2位相比較器
33と、前記入力される内部クロックに対して多段遅延
を与える多段遅延器34と、前記基準クロックと多段遅
延された内部クロックとを比較して出力する第3位相比
較器35と、前記第3位相比較器の比較結果の出力に応
じて前記遅延手段で多段のシフトを発生可能に支援する
バーストシフト制御ユニット36とにより構成される。
【0015】図4の(a)、(b)及び(c)を参照し
て本発明の初期ロックタイム短縮装置の動作を以下に説
明する。
【0016】本発明における初期ロックタイム短縮装置
は、基準クロックと入力された内部クロックのエッジを
比較して2クロック間に存在するスキュー(図4の
(a)における△t1)を除去するものである。
【0017】すなわち、基準クロックまたは対象内部ク
ロックに対して単位遅延と多段遅延をともに遂行しなが
ら、直前の遅延動作が反映された内部クロック信号と前
記基準クロックエッジとの間の時間差(以下"Δt2"と
省略する、図4の(b)参照)が前記2つの遅延動作に
よる遅延量(以下"Δtsum"と省略する、Δtsu
=Δtunit + Δtmulti)より大きければ前記
Δtsumだけ内部クロックをさらに遅延させて、もし
Δt2がΔtsumより小さければΔtuni だけさ
らに遅延させる。そしてこのような動作が、直前遅延動
作が反映された内部クロック信号と前記基準クロックの
エッジとの間の時間差(以下簡単に"Δt3"とする、図
4の(c)参照)がΔtunitよりも小さくなるまで
繰り返すようにすることで、短時間の内にDLLの初期
動作を完了可能とする。
【0018】例えば、前記Δtsumが4個の単位遅延
素子遅延量(0.2nsec×4)に該当すると仮定す
る時、8クロックごとに前記遅延固定ループの位相比較
部を作動させるメカニズムで8nsecの遅延動作を遂
行するためには、10回の反復動作、すなわち80クロ
ック(従来のDLLの初期動作時間と比較して1/4に
短縮される)の内にその動作が完了されることになる。
【0019】次に、本発明における遅延固定ループ初期
ロックタイム短縮方法について遂行過程の一実施例につ
き図3を参照して説明する。
【0020】まず、位相比較部30に基準クロックと内
部クロックが各々入力されると(段階71)、内部クロ
ックが基準クロックよりおそいか否かを比較する(段階
72)。
【0021】前記内部クロックと前記基準クロックとの
比較の結果、内部クロックが基準クロックよりおそけれ
ば、すなわち遅延量が過多の場合、遅延部50の遅延チ
ェーンを直前より一単位遅延だけ左にシフトさせ、単位
遅延量だけ遅延量を減少させた後(段階73)、再度比
較する(段階72)。
【0022】また、前記内部クロックと前記基準クロッ
クとの比較の結果、内部クロックが基準クロックより早
ければ、すなわち遅延量が不足の場合、その時点より単
位遅延時間だけさらに遅延されたクロックモデルを生成
する(段階74)。
【0023】その後、再度生成されたクロックモデルが
前記基準クロックよりおそいか否かを確認して(段階7
5)、それでも早ければ多段遅延時間mだけさらに遅延
されたクロックモデルを生成した後(段階76)に、再
びそのクロックモデルが前記基準クロックよりおそいか
否かを確認する(段階77)。
【0024】もし、この時点においても提供されたクロ
ックモデルがおそければ、すなわち遅延量が不足である
場合、直前より多段遅延時間m+1だけ前記遅延部の遅
延チェーンを左にシフトさせた(段階79)後、前記内
部遅延クロックが基準クロックより遅いか否かの比較過
程(段階72)に戻る。
【0025】これに対し、前記多段遅延時間mだけさら
に遅延されたクロックモデルが基準クロックより早い場
合、すなわち単位遅延量だけ付加されると、遅延量が不
足し、多段遅延量だけ付加されると、遅延量が過多とな
る場合には、直前より単位遅延時間だけ前記遅延部の遅
延チェーンを右にシフトさせた(段階78)後、前記比
較過程(段階72)に戻って上述の動作が反復されるこ
ととなる。
【0026】このようにして、内部クロックが基準クロ
ックより早く(すなわち、遅延量が不足して)、現在よ
り単位遅延時間だけさらに遅延させたクロックモデルを
生成した(段階74)後に、これを基準クロックと比較
すると(段階75)、前記基準クロックより遅くなる場
合に(すなわち、遅延量が過多であるとき)、DLLの
初期動作が完了する。
【0027】上述した実施例では、基準クロックを固定
させたまま、対象クロックを遅延させながら比較する場
合についてのみ詳細に説明しているが、当該分野の通常
の知識を有する者であれば、前記対象クロックを固定さ
せてその代りに前記基準クロックを遅延させながら両ク
ロック間のスキューを除去可能であることは容易に想到
できる。また、前記多段遅延の遅延量も本発明が適用さ
れる回路環境及び設計者の意図によって適切に変更して
設計可能であることを容易に想到できるものである。
【0028】本発明の技術思想については、上記好まし
い実施例によって具体的に記述したが、上記実施例はそ
の説明のためのものであって、これに限定されるもので
はなく、本発明の技術分野の通常の専門家であれば本発
明の技術思想の範囲内で種々の形態にて実施が可能であ
り、本発明はこれらを含むものである。
【0029】
【発明の効果】上述のように本発明は、基準クロックと
比較される対象クロックとの間のスキューを除去する補
正において、その補正速度を加速化させることによっ
て、DLLの初期動作を短時間内に完結可能にし、充分
な初期動作マージンを確保するだけでなく、DLL補正
(correction)範囲が大きい場合にもこれを
短時間内に安定的に遂行可能とすることで、本装置及び
方法を採用するデバイス(device)の高速動作性
能を顕著に向上させる優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における遅延固定ループの初期ロックタ
イム短縮装置の構成を概略的に示したブロック図であ
る。
【図2】図1における位相比較部の細部についての一実
施例を示す構成図である。
【図3】本発明における遅延固定ループ初期ロックタイ
ム短縮方法の一実施例を示す遂行フローチャートであ
る。
【図4】(a)は本発明における初期ロックタイム短縮
装置の動作を示すクロックタイミング図である。(b)
は本発明における初期ロックタイム短縮装置の((a)
に続く)動作を示すクロックタイミング図である。
(c)は本発明における初期ロックタイム短縮装置の
((b)に続く)動作を示すクロックタイミング図であ
る。
【符号の説明】
10 クロック生成部 20 遅延クロックモデリング部 30 位相比較部 40 シフトコントロール部 50 遅延部 60 駆動部 31、33、35 位相比較器 32 単位遅延器 34 多段遅延器 36 バーストシフト制御ユニット

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準クロックと内部クロックとの間のス
    キューを除去するための遅延固定ループ(DLL)の初
    期ロックタイム短縮装置において、 基準クロック生成手段と、 入力された内部クロックに単位遅延と多段遅延(mul
    tiple delay)とを与え、前記入力された内
    部クロックと、単位遅延された内部クロック及び多段遅
    延された内部クロックの位相を前記基準クロック提供手
    段から提供される基準クロックの位相と比較する位相比
    較手段と、 前記位相比較手段の比較結果に応じて遅延量を選択する
    シフトコントロール手段と、 前記シフトコントロール手段の出力に応じて前記内部ク
    ロックを遅延させる遅延手段と、 前記遅延手段により遅延されたクロックに相応する遅延
    クロックモデルを前記位相比較手段に内部クロックとし
    て提供する遅延クロックモデリング手段とを含むことを
    特徴とする遅延固定ループの初期ロックタイム短縮装
    置。
  2. 【請求項2】 前記位相比較手段は、 入力される前記基準クロック及び内部クロックをそのま
    ま比較して出力する第1位相比較器と、 前記入力される内部クロックに対して所定の単位遅延を
    与える単位遅延器と、 前記基準クロックと、単位遅延された内部クロックとを
    比較して出力する第2位相比較器と、 前記入力される内部クロックに対して多段遅延を与える
    多段遅延器と、 前記基準クロックと、多段遅延された内部クロックとを
    比較して出力する第3位相比較器と、 前記第3位相比較器の比較結果出力に応じて前記遅延手
    段で多段のシフトを発生可能に支援するバーストシフト
    制御ユニットとを含むことを特徴とする請求項1記載の
    遅延固定ループの初期ロックタイム短縮装置。
  3. 【請求項3】 前記遅延手段から印加される遅延クロッ
    クを外部に出力するためのDLLクロック駆動手段をさ
    らに含むことを特徴とする請求項1または2記載の遅延
    固定ループの初期ロックタイム短縮装置。
  4. 【請求項4】 基準クロックと内部クロックとの間のス
    キューを除去するための遅延固定ループDLLの初期ロ
    ックタイム短縮装置において、 基準クロック提供手段と、 前記基準クロック提供手段から提供された基準クロック
    に単位遅延と多段遅延とを与え、前記基準クロックと、
    単位遅延された基準クロック及び多段遅延された基準ク
    ロックの位相が入力された内部クロックの位相とを比較
    する位相比較手段と、 前記位相比較手段の比較結果に応じて遅延量を選択する
    シフトコントロール手段と、 前記シフトコントロール手段の出力に応じて前記基準ク
    ロックを遅延させる遅延手段と、 前記遅延手段により遅延されたクロックに相応する遅延
    クロックモデルを前記位相比較手段に内部クロックとし
    て提供する遅延クロックモデリング手段とを含むことを
    特徴とする遅延固定ループの初期ロックタイム短縮装
    置。
  5. 【請求項5】 前記位相比較手段は、 入力される前記基準クロック及び内部クロックをそのま
    ま比較して出力する第1位相比較器と、 前記入力される基準クロックに対して所定の単位遅延を
    与える単位遅延器と、 前記内部クロックと、単位遅延された基準クロックとを
    比較して出力する第2位相比較器と、 前記入力される基準クロックに対して多段遅延を与える
    多段遅延器と、 前記内部クロックと、多段遅延された基準クロックとを
    比較して出力する第3位相比較器と、 前記第3位相比較器の比較結果出力に応じて前記遅延手
    段で多段のシフトを発生可能に支援するバーストシフト
    制御ユニットとを含むことを特徴とする請求項1または
    3記載の遅延固定ループの初期ロックタイム短縮装置。
  6. 【請求項6】 前記遅延手段から印加される遅延クロッ
    クを外部に出力するためのDLLクロック駆動手段をさ
    らに含むことを特徴とする請求項1又は4記載の遅延固
    定ループの初期ロックタイム短縮装置。
  7. 【請求項7】 基準クロックまたは内部クロックのいず
    れかを遅延させてスキューを除去するための遅延固定ル
    ープ(DLL)の初期ロックタイム短縮方法において、 前記基準クロック及び内部クロックを入力する第1ステ
    ップと、 前記内部クロックと前記基準クロックとの比較結果、遅
    延手段の遅延量が過多の場合、現在の遅延量を単位遅延
    量だけ減少させる第2ステップと、 前記内部クロックと前記基準クロックとの比較結果、前
    記遅延手段の遅延量が不足の場合、遅延量を増加させ、
    単位遅延量または所定の多段遅延量の内許容されるいず
    れかの遅延量だけ増加させる第3ステップと、 前記基準クロック及び内部クロック間の位相差が前記単
    位遅延による位相差より小さくなる時まで前記第1ステ
    ップないし第3ステップを繰り返し遂行する第4ステッ
    プとを含むことを特徴とする遅延固定ループの初期ロッ
    クタイム短縮方法。
  8. 【請求項8】 前記第2ステップは、 前記内部クロックが前記基準クロックよりおそいか否か
    を判断する第1過程と、 前記遅延手段の遅延チェーンを前記単位遅延だけ遅延減
    少方向にシフトする第2過程とを含むことを特徴とする
    請求項7記載の遅延固定ループの初期ロックタイム短縮
    方法。
  9. 【請求項9】 前記第3ステップは、 前記単位遅延時間だけさらに遅延されたクロックモデル
    を提供する第3過程と、 前記第3過程で提供されたクロックモデルが前記基準ク
    ロックより早いか否かを確認し、早い場合多段遅延m時
    間だけ遅延されたクロックモデルを提供する第4過程
    と、 前記第4過程で提供されたクロックモデルが基準クロッ
    クより早いか否かを確認して、遅い場合前記遅延手段の
    遅延チェーンを遅延増加方向に前記単位遅延時間だけシ
    フトし、早い場合前記単位遅延及び多段遅延時間m+1
    だけシフトする第5過程とを含むことを特徴とする請求
    項7または8記載の遅延固定ループの初期ロックタイム
    短縮方法。
JP2000000161A 1998-12-30 2000-01-04 遅延固定ループの初期ロックタイム短縮方法 Expired - Fee Related JP4497436B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005348119A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Seiko Epson Corp 半導体装置、サンプリングパルス生成回路及び受信回路
JP2007311009A (ja) * 2006-05-15 2007-11-29 Hynix Semiconductor Inc 減少した面積を有するdllとこれを含む半導体メモリ装置及びそのロッキング動作方法
JP2008181651A (ja) * 2001-11-07 2008-08-07 Samsung Electronics Co Ltd Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7564283B1 (en) 1998-06-22 2009-07-21 Xilinx, Inc. Automatic tap delay calibration for precise digital phase shift
KR100521418B1 (ko) * 1999-12-30 2005-10-17 주식회사 하이닉스반도체 지연고정루프에서 짧은 록킹 시간과 높은 잡음 제거를갖는 딜레이 제어기
JP2001291388A (ja) * 2000-04-05 2001-10-19 Nec Corp Dll回路、それを使用する半導体装置及びタイミング生成方法
US7187742B1 (en) * 2000-10-06 2007-03-06 Xilinx, Inc. Synchronized multi-output digital clock manager
US6901013B2 (en) 2001-06-05 2005-05-31 Micron Technology, Inc. Controller for delay locked loop circuits
US7245540B2 (en) * 2001-06-05 2007-07-17 Micron Technology, Inc. Controller for delay locked loop circuits
JP2003032104A (ja) * 2001-07-12 2003-01-31 Mitsubishi Electric Corp Dll回路とその制御方法
KR100424182B1 (ko) * 2001-12-21 2004-03-24 주식회사 하이닉스반도체 지터 특성을 개선한 지연 고정 루프 회로
US6944738B2 (en) * 2002-04-16 2005-09-13 Sun Microsystems, Inc. Scalable design for DDR SDRAM buses
DE10330796B4 (de) * 2002-10-30 2023-09-14 Hynix Semiconductor Inc. Registergesteuerter Delay Locked Loop mit Beschleunigungsmodus
US6999547B2 (en) * 2002-11-25 2006-02-14 International Business Machines Corporation Delay-lock-loop with improved accuracy and range
US6859109B1 (en) 2003-05-27 2005-02-22 Pericom Semiconductor Corp. Double-data rate phase-locked-loop with phase aligners to reduce clock skew
US7466723B2 (en) * 2004-06-29 2008-12-16 Intel Corporation Various methods and apparatuses for lane to lane deskewing
TWI330785B (en) 2004-08-31 2010-09-21 Via Tech Inc A method for detecting the capture range of the data strobe
KR100594297B1 (ko) * 2004-10-12 2006-06-30 삼성전자주식회사 외부 클럭 신호의 주파수에 순응하는 발진기를 이용하는지연 동기 루프 및 방법
US7282972B2 (en) * 2005-07-29 2007-10-16 Micron Technology, Inc. Bias generator with feedback control
JP4775141B2 (ja) 2005-09-29 2011-09-21 株式会社ハイニックスセミコンダクター 遅延固定ループ回路
KR100863016B1 (ko) * 2007-05-31 2008-10-13 주식회사 하이닉스반도체 동작 모드 설정 장치, 이를 포함하는 반도체 집적 회로 및반도체 집적 회로의 제어 방법
KR100902050B1 (ko) 2007-06-26 2009-06-15 주식회사 하이닉스반도체 전원 제어 장치 및 이를 포함하는 dll 회로
KR101196706B1 (ko) * 2009-10-29 2012-11-07 에스케이하이닉스 주식회사 지연 고정 루프 회로를 포함하는 반도체 집적 회로
KR101875062B1 (ko) * 2012-01-31 2018-07-05 삼성전자주식회사 디바이스 디스커버리 동작을 수행하기 위한 컨트롤 포인트의 장치 및 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1013219A (ja) * 1996-06-27 1998-01-16 Mitsubishi Electric Corp クロック信号のズレを防止する回路
JPH1032487A (ja) * 1996-07-12 1998-02-03 Nippon Steel Corp タイミング信号発生回路
JPH1093429A (ja) * 1996-09-18 1998-04-10 Toshiba Microelectron Corp 遅延回路及びこれを用いたpll回路
JPH10254580A (ja) * 1996-12-18 1998-09-25 Samsung Electron Co Ltd メモリ装置のディジタル遅延同期回路
JPH10285016A (ja) * 1997-04-10 1998-10-23 Fujitsu Ltd 位相比較回路、dll回路および半導体集積回路

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5355037A (en) * 1992-06-15 1994-10-11 Texas Instruments Incorporated High performance digital phase locked loop
US5796673A (en) * 1994-10-06 1998-08-18 Mosaid Technologies Incorporated Delay locked loop implementation in a synchronous dynamic random access memory
US5771264A (en) * 1996-08-29 1998-06-23 Altera Corporation Digital delay lock loop for clock signal frequency multiplication
US6125157A (en) * 1997-02-06 2000-09-26 Rambus, Inc. Delay-locked loop circuitry for clock delay adjustment

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1013219A (ja) * 1996-06-27 1998-01-16 Mitsubishi Electric Corp クロック信号のズレを防止する回路
JPH1032487A (ja) * 1996-07-12 1998-02-03 Nippon Steel Corp タイミング信号発生回路
JPH1093429A (ja) * 1996-09-18 1998-04-10 Toshiba Microelectron Corp 遅延回路及びこれを用いたpll回路
JPH10254580A (ja) * 1996-12-18 1998-09-25 Samsung Electron Co Ltd メモリ装置のディジタル遅延同期回路
JPH10285016A (ja) * 1997-04-10 1998-10-23 Fujitsu Ltd 位相比較回路、dll回路および半導体集積回路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008181651A (ja) * 2001-11-07 2008-08-07 Samsung Electronics Co Ltd Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路
JP2005348119A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Seiko Epson Corp 半導体装置、サンプリングパルス生成回路及び受信回路
JP4561188B2 (ja) * 2004-06-03 2010-10-13 セイコーエプソン株式会社 半導体装置、サンプリングパルス生成回路及び受信回路
JP2007311009A (ja) * 2006-05-15 2007-11-29 Hynix Semiconductor Inc 減少した面積を有するdllとこれを含む半導体メモリ装置及びそのロッキング動作方法

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