JP2000200449A - 光学的記憶媒体及びその処理方法と光学的記憶媒体処理装置 - Google Patents
光学的記憶媒体及びその処理方法と光学的記憶媒体処理装置Info
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Abstract
ける記録時のレーザパワーをライトやイレーズの回数等
の使用頻度に左右されないように厳密に制御可能にし
て、信頼性の高い高密度記録を可能にすることにある。 【解決手段】 本発明は、光学的記憶媒体の処理方法
において、光ビームのパワー調整を行う光学的記憶媒体
のパワー調整領域に対して、記録又は消去を行うパワー
より高いパワーの光ビームを複数回繰り返し照射する高
パワー処理を行うことを特徴とする。また、高パワーに
て光ビームを照射すると同時に所定方向の磁界を印加す
ることを特徴とする。
Description
情報の記録と再生を行う光学的記憶媒体及びその光学的
記憶装置に関する。
て、相変化型、光磁気型等のディスク状あるいはカード
/テープ状の光記憶媒体が脚光を浴びている。
媒体上にサブミクロンオーダーの記録ピットを作ること
により、これまでの外部記憶媒体であるフロッピーディ
スクやハードディスクに比べ、格段に記録容量を増大さ
せることが可能となる。
磁気ディスクにおいては、情報の書替えが10万回以上
可能であり、今後の発展がますます期待されている。
面で540MBや640MBの記憶容量を有するものが
開発されている。
1枚の記憶容量が約1MBであり、光ディスク1枚でフ
ロッピーディスク540枚又は640枚分の記憶容量を
持つことを意味する。このように、光ディスクは記録密
度の非常に高い書替え可能な記憶媒体である。
備え、光ディスクの記録密度を現在よりも更に高くする
必要がある。記録密度を高くするためには、媒体上に更
に多くのマークを記録させなければならない。そのため
には、現在よりもマークを更に小さくし、マークとマー
クの間隔も詰めていく必要がある。
合、レーザ光の波長を現在の685nmよりも更に短く
する必要があるが、実用化を考慮した場合、現行の波長
685nmでマークサイズを小さくしなければならな
い。
ーを制御することによってビーム径よりも小さなマーク
を形成することは可能である。しかし、再生について
は、ビーム径よりも小さなマークを再生すると、隣のマ
ークとのクロストークが大きくなり、最悪の場合、再生
ビームの中に隣のマークまで入ってしまい、実用性を考
慮した場合、非常に難しい。
さなマークを再生する方法として光磁気超解像技術(M
SR:Magnetically induced Super Resolution )が考
案されている。これには、FAD(Front Apature Detec
tion) 方式とRAD(Rear Apature Detection)方式の2
つの方法がある。
に初期化磁石(Initializing Magnet)232を用いて再
生層216の磁化方向を一定方向に揃える初期化を行
い、再生時の再生レーザパワーを若干高くしてリード
し、リードビームのレーザスポット234による媒体加
熱の温度分布に依存し、再生層216には初期磁化情報
が残っているマスク部236と初期磁化情報が消去され
て記録層220の磁化情報が転写される開口部238が
形成される。
磁化情報は、光学磁気効果(カー効果あるいはファラデ
ー効果)によって光学的な信号に変換されることでデー
タが再生される。
み出しているトラック214のマーク228に対し、次
に読み出すマーク230は、再生層216の初期磁化情
報によるマスク部236の形成で転写されないため、記
録マークがレーザスポット234より小さくとも、クロ
ストークは発生せず、ビーム径よりも小さなマークを再
生することができる。
分以外の記録層220の領域は初期化された再生層21
6によってマスクされた状態になっているので、隣のマ
ークからのマーク干渉が発生せず、更にマーク間隔を詰
めることができ、また、隣接するトラックからのクロス
トークを抑えることもできるので、トラックピッチも詰
めることができ、現行の波長685nmを用いても高密
度化を行うことが可能となる。
ッチ層(中間層)、記録層からなる光磁気記録媒体層の
希土類−遷移金属系膜材料及び光磁気記憶媒体の製造方
法等については、特開平7−244877号、特開平9
−147436号、特開平10−134429号等に詳
細が開示されている。
うな高密度記録を行う光学的記憶媒体を駆動する光学的
記憶装置にあっては、記録時のレーザーパワーを厳密に
制御しなければ、適切な記録動作ができないという問題
がある。
憶媒体の感度が変化し、記録時のレーザーパワーの制御
がうまくいかず、記録エラーの発生率が大きくなるとい
う問題が判明した。
てなされたもので、光学的記憶媒体の各領域における記
録時のレーザパワーをライトやイレーズの回数に左右さ
れないように厳密に制御可能にして、信頼性の高い高密
度記録を可能にする光学的記憶媒体及びその処理方法及
び光学的記憶媒体処理装置を提供することを目的とす
る。
体の処理方法において、光ビームのパワー調整を行う前
記光学的記憶媒体のパワー調整領域に対して、記録又は
消去を行うパワーより高いパワーの光ビームを複数回繰
り返し照射する高パワー処理を行うことを特徴とする。
を照射することでアクセスする光学的記憶媒体処理装置
において、前記光学的記憶媒体の所定の位置に所定のパ
ワーの光ビームを照射させる光学ヘッドと、光ビームの
パワー調整を行うパワー調整領域に前記光学ヘッドによ
り光ビームを位置付け、前記パワーを記録又は消去を行
うパワーより高いパワーに制御して、高パワーの光ビー
ムを前記光学ヘッドにより前記パワー調整領域に対して
照射させる高パワー処理を制御する高パワー処理制御手
段とを少なくとも備えてなることを特徴とする。
体の製造直後の初期状態における感度特性から、ライト
やイレーズを複数回繰り返した後の飽和状態における感
度特性に変化させることが可能になる。つまり、ライト
やイレーズを複数回繰り返しても感度シフト(最適記録
パワーの変動)が生じることがなく、媒体の記録の際の
最適記録パワーを厳密に制御することが可能になる。
る方が良いが、高パワー処理を行う処理時間が数千分と
かかる。そこで、本願発明では、特に、光ビームのパワ
ーを調整するパワー調整領域はパワーを厳密に測定する
のに使用される事に着目し、感度シフトが発生しないよ
うにパワー調整領域だけに高パワー処理を行って処理時
間の短縮を図っている。
樹脂である場合、媒体全体や全トラックを長時間加熱す
ると、クラックが発生し使用できない媒体となってしま
うが、本発明は必要最低限の領域に高パワー処理を行う
ので、クラック発生を防止できる効果がある。
ーにて光ビームを照射すると同時に、所定方向の磁界を
印加することを特徴とする。また、磁界の所定方向は消
去方向であり、光学的記憶媒体に対して消去方向の磁界
を印加しながら高パワーにて光ビームを照射することに
より、高パワーイレーズを行うことを特徴とする。
磁界を印加しながら光ビームで加熱することにより、光
磁気記憶媒体の磁性膜の磁化状態が記録又は消去状態に
変化し、それが複数回繰り返し行われる為に確実に飽和
状態に移行させることが可能である。
ーティファイを実行する際に高パワー処理を行うことを
特徴とする。
陥等の検出を行い初期欠陥リスト情報(PDL)を媒体
に書き込む処理であり、媒体に情報を最も最初に書き込
む処理である。この処理の際に、高パワー処理を行って
おけば最適記録パワーを厳密に制御した後にこの書き込
み処理を行うことになり、信頼性の高い記録が可能にな
る。
に光学的記憶媒体の回転数を通常使用する回転数より低
い回転数にすることを特徴とする。従って、媒体加熱時
間が長くなり、パワーをそれほど高くしなくてすむ。
尚、回転数の設定によっては、所望の媒体加熱温度(記
録層のキュリー点以上)が得られれば、通常の記録や消
去のパワーと同じ位にしても良い。
機能を通常の設定よりも緩和することを特徴とする。従
って、高パワー処理中に生じるオフトラック(エラー)
の検出精度を下げて、軽微なエラーによる処理中断を防
止し、処理時間の短縮を図る。データ領域にユーザデー
タを記録しているわけではないので、多少検出精度を下
げても問題は無いという理由からである。
いて、光ビームを照射することで情報の記録を繰り返し
行う光学的記記憶媒体に対して、記録又は消去を行うパ
ワーより高いパワーの光ビームを照射すると同時に所定
方向の磁界を印加する高パワー磁界印加処理を複数回繰
り返しを行うことを特徴とする。
状態における感度特性から、ライトやイレーズを複数回
繰り返した後の飽和状態における感度特性に変化させる
ことが可能になる。特に、光磁気記憶媒体に対して、磁
界を印加しながら光ビームで加熱することにより、光磁
気記憶媒体の記録層の磁化状態が記録又は消去状態に変
化し、それが複数回繰り返し行われる為に確実に飽和状
態に移行させることが可能である。
複数回繰り返しても感度シフト(最適記録パワーの変
動)が生じることがなく、媒体の記録の際の最適記録パ
ワーを厳密に制御することが可能になる。
対して実施しても良いし、パワー調整領域等の記録頻度
が多い領域に対してのみ実施するものである。
置において、パワー調整領域に高パワー処理がなされた
光学的記憶媒体に対する情報の記録に先立って、前記パ
ワー調整領域に対して記録を行って最適記録パワーを決
定するパワー調整処理手段と、前記パワー調整処理手段
にて得られた前記パワー調整領域の最適記録パワーを所
定の感度補正量にて補正したパワーを、情報記録領域に
対して情報の記録を行う際の最適記録パワーとするパワ
ー処理手段とを少なくとも備えてなることを特徴とす
る。
高パワー処理した記憶媒体に対して、パワー調整の為の
テストライトにより得られた最適記録パワーを、情報を
記録する情報記録領域の媒体感度特性や温度特性に応じ
て定められた感度補正量により補正することで、情報記
録領域の最適記録パワーを得ることができ、信頼性の高
い記録が可能になる。
録パワーと初期状態の時の最適記録パワーとの範囲内で
かつ所定の条件を満たすパワーが情報記録領域の最適記
録パワーになるように、感度補正量は定められてなるこ
とを特徴とする。
いるので、その領域の感度シフトは飽和状態である。情
報記録領域はその使用頻度によって感度シフトが初期状
態から飽和状態までのものまであり、最適記録パワーも
ばらついている。
態の領域と飽和状態の領域の両方に対して十分なパワー
が得られるように情報記録領域の最適記録パワーを決め
ておく。
の時と飽和状態の時の最適記録パワーを予めそれぞれ測
定しておき、パワー調整領域の最適記録パワーに対する
ずれ量を求めることができる為である。このずれ量を感
度補正量として予め定めておく。
情報記録領域の最適パワーを求めることができる。
感度補正量を環境温度に応じて変更することも可能であ
る。さらに、感度補正量を厳密に制御する為に、感度補
正量を前記光学的記憶媒体の各ゾーンに応じて変更する
こともできる。感度補正量を厳密に制御する為に、感度
補正量を記録エラー時のリトライ時に一定量加算または
減算して変更することもできる。
とで情報の記録を繰り返し行う光学的記憶媒体におい
て、キュリー点を超える温度で複数回繰り返し加熱処理
された加熱処理領域が各ゾーンにそれぞれ設けられてい
ることを特徴とする。
態になっている加熱処理領域が設けられているので、そ
こを各ゾーンのパワーを決定する為のパワー調整領域と
して使用したり、記録又は消去が頻繁に行われる特定領
域として使用することで、頻繁なエラー発生を防止でき
る。
に分割管理される複数の領域であり、ゾーンCAVやゾ
ーンCLVの制御のためのゾーンである。
樹脂である場合、媒体全体や全トラックを長時間加熱す
ると、クラックが発生し使用できない媒体となってしま
うが、本発明は媒体全体ではなく加熱処理が必要な領域
を加熱処理領域として設けているので、クラック発生を
防止でき、効率的に媒体を作成できる効果がある。
け、高パワー処理を行った旨を示す情報を記録すること
を特徴とする。
無くなる。
ディスクドライブの回路ブロック図である。本発明の光
ディスクドライブは、コントローラ10とエンクロージ
ャ12で構成される。
の全体的な制御を行うMPU14、上位装置との間でコ
マンド及びデータのやり取りを行うインタフェースコン
トローラ16、光ディスク媒体へのライトデータのフォ
ーマット処理とリードデータに対するECC処理を行う
フォーマッタ18、MPU14,インタフェースコント
ローラ16及びフォーマッタ18で共用されるバッファ
メモリ20を備える。
してエンコーダ22とレーザダイオード制御回路24が
設けられ、レーザダイオード制御回路24の制御出力は
エンクロージャ12側の光学ユニットに設けたレーザダ
イオードユニット30に与えられている。レーザダイオ
ードユニット30はレーザダイオードとモニタ用の受光
素子を一体に備える。
されている128〜640MBの光磁気記憶媒体の他、
超解像方式の高記録密度の、FAD方式光磁気録媒体
(以下「FAD媒体」という)、やRAD方式の光磁気
記憶媒体(以下RAD媒体」という)等を媒体交換によ
り使用することができる。
の有無に対応してデータを記録するピットポジション記
録(PPM記録)、又はマークのエッジ即ち前縁と後縁
をデータに対応させるパルス幅記録(PWM記録)を採
用している。また媒体の記録フォーマットは、複数ゾー
ンに分割したZCAV(ゾーン角速度一定)とする。
ローディングした際には、まず媒体のID部をリード
し、そのエンボスピット間隔からMPU14において媒
体の種別を認識し、種別結果をフォーマッタ18に通知
することで、媒体容量とPPM又はPWM記録に対応し
たフォーマット処理を行うことになる。
ては、デコーダ26、リードLSI回路28が設けられ
る。リードLSI回路28に対しては、エンクロージャ
12に設けたディテクタ32によるレーザダイオード3
0からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ3
4を介してID信号及びMO信号として入力されてい
る。
ィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びPL
L等の回路機能が設けられ、入力したID信号及びMO
信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコ
ーダ26に出力している。またスピンドルモータ40に
よる媒体の記録方式としてゾーンCAVを採用している
ことから、リードLSI回路28に対してはMPU14
より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロッ
ク周波数の切替制御が行われている。
ーダ26の復調方式は、フォーマッタ18による媒体種
別に応じPPM記録とPWM記録の変調及び復調方式に
切り替えられる。
2側に設けた温度センサ36の検出信号が与えられてい
る。MPU14は、温度センサ36で検出した装置内部
の環境温度に基づき、レーザダイオード制御回路24に
おけるリード、ライト、イレーズの各発光パワーを最適
値に制御する。MPU14は、ドライバ38によりエン
クロージャ12側に設けたスピンドルモータ40を制御
する。
CAVであることから、スピンドルモータ40を例えば
3214rpm、3600rpm、4200rpm、4
500rpm等の媒体の種類や容量に応じて定められた
一定速度で回転させる。
エンクロージャ12側に設けた磁界印加部44を制御す
る。磁界印加部44は装置内にローディングされたMO
カートリッジのビーム照射側と反対側に配置されてお
り、記録時、消去時及び再生時に媒体に外部磁界を供給
する。磁界印加部44としては通常、電磁石を使用する
が、これ以外に本発明の校正処理により決定された最適
磁界が得られる永久磁石でもよいし、更には電磁石と永
久磁石を組合わせたものであってもよい。
は、FAD媒体については再生磁界Hrであり、RAD
媒体については初期化磁界Hiである。更に再生時の磁
界印加部44による外部磁界は、本発明にあってはMP
U14の処理機能として実現される再生磁界校正部によ
り常に最適磁界に校正されている。
ド30からのビームの位置決めを行うためのサーボコン
トローラとしての機能を有する。このため、エンクロー
ジャ12側の光学ユニットに媒体からのビーム戻り光を
受光する4分割ディテクタ46を設け、FES検出回路
(フォーカスエラー信号検出回路)48が、4分割ディ
テクタ46の受光出力からフォーカスエラー信号E1を
作成してDSP15に入力している。ここで4分割ディ
テクタ46の受光部46a,46b,46c,46dの
受光信号をEa,Eb,Ec,Edとすると、フォーカ
スエラー信号E1は、 E1=(Ea+Ec)−(Eb+Ed) として検出される。
15に与えられ、DSP15で実現される自動焦点制御
部でフォーカスエラー信号E1を最小とするフォーカス
アクチュエータ56のフィードバック制御が行われる。
は、制御ループをオフした状態で対物レンズの位置を順
次移動しながら最適フォーカス点となるオフセット値
(目標値)を求め、この最適フォーカス点のオフセット
値を自動焦点制御ループに設定し、オフセット値で決ま
る対物レンズの位置(最適フォーカス点)を基準にフォ
ーカスエラー信号E1を最小とするようにフィードバッ
ク制御される。
値の位置決めとしては、トラッキングエラー信号E2が
最大となるレンズ位置、RF再生信号が最大となるレン
ズ位置、及び4分割ディテクタ46の総和信号が最大と
なるレンズ位置の3つがある。
検出回路)50は、4分割ディテクタ46の受光出力か
らトラッキングエラー信号E2を作成し、DSP15に
入力している。即ち、トラッキングエラー信号E2は、
4分割ディテクタ46の受光部46a,46b,46
c,46dの受光信号をEa,Eb,Ec,Edとする
と、 E2=(Ea+Eb)−(Ec+Ed) となる。トラッキングエラー信号E2はTZC回路(ト
ラックゼロクロス検出回路)45に入力され、トラック
ゼロクロスパルスE3を作成してDSP15に入力して
いる。
しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検
出するレンズ位置センサ52が設けられ、そのレンズ位
置検出信号(LPOS)E4をDSP15に入力してい
る。
イバ54,58,62を介してフォーカスアクチュエー
タ56、レンズアクチュエータ60及びVCM64を制
御駆動している。
ャの概略は図2のようになる。図2において、ハウジン
グ66内にはスピンドルモータ40が設けられ、スピン
ドルモータ40の回転軸のハブに対しインレットドア6
8側よりMOカートリッジ70を挿入することで、内部
のMO媒体72がスピンドルモータ40の回転軸のハブ
に装着されるローディングが行われる。
のMO媒体72の下側には、VCM64により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ76が設けら
れている。
載され、固定光学系78に設けている半導体レーザから
のビームをプリズム82を介して入射し、MO媒体72
の媒体面にビームスポットを結像している。
2に示したフォーカスアクチュエータ56により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ60によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ76
に搭載している対物レンズ80の位置が、図1のレンズ
位置センサ52により検出される。
光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号を0
とし、アウタ側への移動とインナ側への移動に対しそれ
ぞれ異なった極性の移動量に応じたレンズ位置検出信号
E4を出力する。更にMO媒体72のビーム照射面の反
対側に相対して半径方向に長い磁界印加部44が配置さ
れる。また磁界印加部44としては、キャッジ76に搭
載され、MO媒体72のビーム照射位置に対して外部磁
界を印加するスライド構造のものであってもよい。
のMSR光磁気記憶媒体のダブルマスクRAD方式を使
用した例で述べる。MSR媒体の構成は、特開平10−
134429号等で開示されているような、ポリカーボ
ネート基板311上に、下地層(SiN)、再生層31
5(GdFeCo)及びスイッチ層(中間層316)
(GdFe又はGdFeCo)、記録層320(TbF
eCo)、保護層(SiN)が順次形成されたものを用
いる。尚、図18では、下地層、保護層は簡略化して示
されている。
生磁界331は同じ方向であり、消去磁界332はそれ
と逆方向の磁界が与えられる。それぞれの磁界は、20
0〜500Oeの間で制御される。
332を媒体に印加し、記録層320の磁化方向を下向
きに揃えておく。そして、記録パワーの光ビームと記録
磁界333を印加して記録層320の磁化方向を上向き
のもの下向きのものを混在させることで信号の記録を行
う。
作原理は、光磁気記憶媒体に再生パワーの光ビームと再
生磁界331を印加することで行われる。光ビームの移
動方向に対して前方側となる低温領域(略100℃より
も低い領域)では中間層と記録層の交換結合力が弱く、
中間層の磁化が再生磁界の方向(上方向)に揃う。そし
て、中間層と再生層の交換結合力により再生層の磁化方
向に下向きに揃って記録層の磁化方向をマスクする働き
をする(フロントマスク)。
域)は中間層のキュリー温度を超えた領域であり、中間
層と再生層との交換結合力が切れている。これにより、
再生層の磁化方向は再生磁界の磁化方向の上向きに揃
い、記録層の磁化方向をマスクする働きをする(リアマ
スク)。
(略100℃〜略180℃の領域)では、中間層を介し
て記録層と再生層との交換結合力により、記録層の磁化
方向が再生層に転写されており、開口部(アパチャー)
を形成している。
クのダブルマスクが形成されるので、磁気光学的出力を
検出した場合に、トラック314上に位置するレーザス
ポット334内において温度が低い領域と高い領域とが
マスクとして働き、これらの領域では光磁気信号を読出
すことはなく、中間の温度領域だけで光磁気信号を読出
すことができる。
点を検証したところ、イレーズ、ライトを繰り返してい
くと、最適な記録レーザーパワーが変化する(以後感度
シフトするともいう)現象が生じていることが判明し
た。
ライトされていない初期状態には、記録レーザーパワー
Pと記録後の記録元データと再生データの不一致の関係
が図3(A)の曲線140のような特性を示すとする。
感度シフトの無い場合はイレーズ、ライトの回数を重ね
ても特性140は横軸方向の移動は生じない。
期にて記録レーザーパワーPと再生データの不一致の関
係が特性140であってもイレーズ、ライト回数が14
3の矢印向きに増えていくに従い特性141のようにシ
フトしていき最終的に特性142の状態になり、特性1
42の状態に達するとイレーズ、ライトを繰り返しても
これ以上感度シフトはしなくなる(飽和状態)という挙
動を示す。
数が最も少なくなる最適記録レーザーパワーも初期状態
ではPiが最適であるがイレーズ、ライトを繰り返すに
従い次第に低くなり最終的に約5万回でPsの飽和状態
に達する。
トラックの感度シフトが無い初期状態で、記録レーザー
パワー校正処理(以下テストライトとともいう)を行う
と最適記録レーザーパワーPt1である。特性151の
ように、感度シフトが飽和したデータトラック、例えば
FAT領域(ファイルアロケーションテーブル領域)で
は、Pd1が最適な記録レーザーパワー値となる。
ーパワーPt1から差分ΔP1を減算した値が飽和状態
のデータトラックの最適記録バワーPd1として計算で
きる。そこで、図3(C)の161の特性のように、頻
繁に使用され5万回以上イレーズ、ライトを繰り返され
たテストトラックでテストライトを行い得られた最適記
録レーザーパワーPt2で上記の補正計算をすると、デ
ータトラックの最適記録バワーはPc=Pd2−ΔP1
である。
用で感度シフトが無いデータトラックの記録を行う場
合、ベストはPd2であり、最低でもPdmin の値で
記録しなければ規定の不一致数Nthを満足しない。し
かし、計算値Pcはそれよりも大幅に小さい記録レーザ
ーパワー値であり、不一致数が大幅に悪化してしまう。
を書き込む時の記録レーザーパワーを決定するテストト
ラックの使用頻度が一律でないため、またデータトラッ
クも特定領域は頻繁に使用される一方でまったく使用さ
れない領域が存在するために、感度がどの場所でも一定
で無いことが原因で記録エラーが発生することが究明さ
れた。
間イレーズ、ライト、リードしていると最初のうちは交
替領域の増加は少ないがテストライトトラックの感度シ
フトが進むに連れてテストライトによって得られる最適
記録パワー値とデータトラックの最適記録パワー値との
間の差が大きくなっていく。
味しエラーリトライが何度も入り、交替処理が生じたり
して、交替領域の消耗やアクセス速度の低下が生じると
いう問題に発展する。
媒体を使用する時、予め媒体を通常使用時より高いパワ
ーを照射する高パワー処理を繰り返し感度シフトを飽和
させておくことで、上記問題を解決する。また、その際
に、媒体に所定方向の磁界を印加する。以下の実施例で
は、イレーズ方向の磁界を媒体に印加しているが、ライ
ト方向の磁界を媒体に印加しても同様である。
いが、図3のようにU字型のカーブを描くということ
は、媒体自体の最適記録パワーの幅、つまりマージンが
あまり無いということである。このマージンを確保する
必要から本願は成されたものである。
究明されていないが、媒体の記録層のキュリー温度を超
える温度に媒体を加熱し、また磁界を印加することで、
媒体の記録層の特性に何らかの変化が生じて、それらを
繰り返すこと(複数回でなく所定の連続時間であっても
良い)で感度シフトが飽和状態に移行していくようであ
る。
ックに照射するだけでなく、媒体の記録層のキュリー温
度を超える温度に加熱するような手段、例えば、オーブ
ンを使って温度調整しながら、高パワー処理しても同様
の作用効果を得ることができると考えられる。 (感度シフトと記録レーザパワーの関係)図4(A)は
MSR媒体にてイレーズ、ライトを繰り返した場合の記
録感度シフトの様子を示す。曲線170は通常使用時の
レザーパワー値の場合であり、初期状態で最適記録レー
ザーパワーはPiであったが、イレーズ、ライトを繰り
返すに従い感度が高感度側にシフトしていき、最終的に
は飽和値Psにて最適記録レーザーパワーのシフトはほ
ぼ無くなる。
時のレーザーパワー値、媒体の回転数等によって変化す
る。例えば通常のユーザ(ホスト)がイレーズコマンド
で行うイレーズ動作時よりも20%の高パワーでイレー
ズを行うと図4の特性171に示すように200回でP
sに達するというように感度シフトを加速することがで
きる。例えば、通常動作時内周で7mW外周で10mW
とした時、高パワー処理時内周9mW外周12mWにパ
ワーを設定すれば、高パワーの光ビームを得ることがで
きる。
げる程、繰り返し回数を減らすことが予想され、処理時
間を短縮することができる。
り、スピンドルモータ40の回転数を通常使用状態(ユ
ーザがリード/ライトする時の回転数)よりも遅くする
ことでも同様な効果が得られる。例えば、レーザパワー
を変えないで行う場合なら、レーザパワーアップの割合
分回転数を下げるように制御することで、同様の効果を
期待できる。
R媒体の場合通常の記録再生時に3214rpmでスピ
ンドルモータ40を駆動しているので、高パワー処理時
には、2570rpmに低下させることになる。
ば、繰り返し回数を減らすことが予想され、処理時間を
短縮することができる。
度以上に媒体加熱できれば良いので、回転数を遅くして
レーザの照射時間を長くすれば、レーザパワーを高パワ
ーにしたのと同様な作用があるという原理である。
ることも可能である。
すると媒体にクラックが生じる場合がある。そこで、本
実施例では、通常の光ディスクドライブの使用条件を変
えるだけで高パワー処理を行い実現している。
光ビームを追従させ、高パワー処理を行う最終トラック
の最終のセクタに対するアクセスが終了したら、トラッ
クジャンプを行って高パワー処理を行う最初のトラック
最初のセクタに戻るという動作を繰り返し行うことで達
成している。
オードユニット30をそれほど大きなパワーで駆動する
必要が無く、レーザダイオードユニット30の負荷を減
らすことも可能になる。
フトをもつ光記憶媒体を使用する場合は、製造時または
媒体の不良個所を調べるサーティファイ時に、最適記録
レーザーパワーが図3(A)のPsの値になる迄の回数
テストトラックまたはテストトラックTとデータトラッ
クDの両方を通常使用時より高パワーにてイレーズを、
情報の記録に先立って行う。この時のイレーズ条件はD
Cイレーズ、高周波重畳イレーズかは問わない。
トを行う際に実行するものであり、ユーザ(ホスト)が
通常行うフォーマット処理やリード/ライトコマンドと
は、別の特殊コマンドで光ディスクドライブが高パワー
処理を行うことになる。
に高パワー処理可能な機能を入れてカスタマイズした記
憶媒体製造装置として構成しても良い。
ユーザ(ホスト)の指示によらずに、高パワー処理を行
うようにMPUの処理ファームを構成しても良い。
処理機能で高パワー処理が行えるようにした装置で実現
した例を述べている。
ラックの媒体全体に対して高パワー処理を行うと数千時
間を要してしまう為、処理時間短縮の為、各ゾーン毎に
数トラックしかないテストトラックだけ行うことにす
る。
た方が、媒体全体の領域で感度シフトが無くなるという
効果があることは言うまでもない。
ーイレーズ処理を行う場合のフローチャートである。サ
ーティファイとは、媒体の製造時における不良個所を調
べ、その場所を媒体上の初期欠陥リスト(PDL)領域
に記録することである。その後、検出された不良箇所は
その場所を媒体上の2次欠陥リスト(SDL)領域に記
録する。
イト可能な状態にするためのロード処理を行い、ステッ
プS2でロードされた媒体の特定領域をリードしてステ
ップS3でこのデータ中の予め決められた場所の値によ
って、以前に高パワーイレーズが行われたかどうか判断
する。
領域、例えば、媒体のフォーマット情報やPDL、SD
L等のコントロール情報が記録されるコントロールトラ
ック(図17(A)C)の所定のセクタに記録してお
く。
れていないと判断された場合はステップS4で全テスト
トラックの高パワーイレーズを行い、テストトラックの
高パワーイレーズが行われていると判断された場合はス
テップS7のサーティファイのみを実行し終了する。
のテストトラックの高パワーイレーズ処理が正常終了か
判断して、正常終了でない場合は終了する。ステップS
5で正常終了と判断された場合は、ステップS6でテス
トトラックの高パワーイレーズを実行した情報を媒体に
残すために、前記の特定領域に前もって定められた値を
書き込み、S7にて媒体のサーティファイ動作を行い本
動作を終了する。
使用頻度が異なることで記録パワー感度が異なりテスト
ライトを行う場所によって異なる最適パワーが得られる
場合があったが、テストライトを行う場所によらずほぼ
同じ最適パワーが求められるようになった。ゆえに、テ
ストライトにより得られる最適パワーの信頼性が向上で
きる。
の処理について記述しているが、通常の媒体のロード
時、コマンド待ち時間や記録エラー検出の際のリトライ
時等にこの高パワー処理を行っても良い。
限データトラックの記録レーザーパワーを決定するテス
トライトに使用するテストトラックの感度シフトによる
影響は無くすことができる。
体のユーザが通常使用しない特定領域(図17(A)の
コントロール領域C等)に残しておき、何度もこの処理
が行われないようにする判断等に使用する。
ボ制御でのエラーが発生するとイレーズ処理ができなく
なるので最も発生頻度の高く、かつ媒体の傷、光ディス
クドライブ間の検出レベル差が有るトラッキングエラー
検出規格を通常使用時よりも緩和しておく。ここでは、
MPUが、高パワー処理を行う時に、TES検出回路5
0のオフトラックスライスレベルを高めに(振幅の半値
の53%を75%へ)設定する。
クの感度シフトが無くなるので図4(B)の曲線181
の状態にあり、記録するのに最適な記録レーザーパワー
はPsなのでテストライトを行った場合この値が求めら
れる。
レーザーパワーは図4の曲線180のように感度シフト
が無い場所と特性181のように感度シフトが飽和して
いる場所が有るのでPiからPsの範囲である。
感度シフトが無い場合と、特性180に示すように感度
シフトがある場合で不一致数の所定の閾値Nthを満足
するPaが存在する。
録レーザーパワーPsにPaとPsの差分(感度補正
量)ΔPaを加算することで、データトラックの感度シ
フト無し、また飽和している両方の場所(データトラッ
クの使用頻度による感度の異なる場所)で、不一致数の
所定の閾値Nthを満足するデータトラックの記録レー
ザーパワーを得ることができる。 (記録レーザパワー校正処理)図6は、図17(A)、
(B)のRAD媒体を例にとって図1の光ディスクドラ
イブのMPU14の処理機能として実現される記録レー
ザーパワー設定部の駆動で発生される記録レーザーパワ
ーを最適値に校正するための記録レーザーパワー校正処
理の機能ブロック図である。
実現される記録レーザーパワー校正部100には、校正
タイミング判定部102、校正処理部104、記録レー
ザーパワー格納テーブル106、及び記録レーザーパワ
ー設定部108が設けられている。校正タイミング判定
部102は、レジスタ群110に格納されている設定内
容に応じて記録レーザーパワー校正処理の処理タイミン
グを設定して校正処理部104を起動する。
体投入検出、装置内温度、上位割込要求、リトライ指示
のレジスタ登録が行われており、これらレジスタ内容を
校正タイミング判定部102で読み込んで校正処理部1
04を起動する。例えば校正タイミング判定部102に
あっては、装置の電源投入に伴う初期化診断時、処理記
憶媒体の装置投入によるローディング検出時、装置内温
度の変化が所定値以上となった時、全体の校正処理から
の経過時間を監視して所定の校正有効時間を経過した
時、再生エラーが発生してリトライ処理を行う時などで
ある。
して出荷する際の工場立上げ時にディップスイッチ等の
セットで校正タイミング判定部102により校正処理部
104の校正処理を起動しても良い。また上位装置から
のコマンド指示により、校正タイミング判定部102は
校正処理部104を起動できる。
上位装置からリードまたはライトなどの上位割り込み要
求を受けると、そのとき校正処理部104が処理中か否
かチェックし、もし校正処理中であれば校正処理を一旦
中断し、上位割込要求によるアクセスを優先させ、割込
要求処理終了後に再び校正処理部104を中断した時点
から再開させるようになる。
部102より校正処理の起動要求を受けて動作し、レー
ザーダイオードユニット30に流す駆動電流を段階的に
変化させることで記録レーザーパワーを変えながら、再
生部から得られる再生信号より再生状態を判定し、記録
可能状態となった最適記録レーザーパワーを求めて、記
録レーザーパワー格納テーブル106に格納する。
パワーの校正処理は光記憶媒体のゾーン毎または数ゾー
ン毎に行われ、ゾーン毎に最適な記録レーザーパワーを
記録レーザーパワー格納テーブル106に登録する。
06であり、例えば光記憶媒体はゾーン番号iに示すよ
うに11ゾーンに分けられており、各ゾーン毎に記録レ
ーザーパワー校正処理で求めた最適記録レーザーパワー
Pz1 〜Pz11が格納されている。この最適記録レーザ
ーパワー校正処理を行うトラックは、各ゾーンの境界の
最先頭トラックもしくは最終トラックとすることが望ま
しい。
クで記録レーザーパワーの校正処理を行うことは、図6
の記録レーザーパワー設定部108で記録レーザーパワ
ー格納テーブル106を参照して任意のゾーンの中の特
定トラックの最適記録レーザーパワーを与える記録レー
ザーパワーを直線補間により算出する際の演算処理を簡
単にするためである。
レーザーパワー校正処理の手順であり、横軸に段階的に
変化させる記録レーザーパワーPをとっており、縦軸に
再生データのビット比較による不一致数をとっている。
再生データの不一致数は、直線114に示す形を持つ。
即ち記録レーザーパワーPが低いと不一致数が大きく、
この状態で記録レーザーパワーPを増加し記録、再生す
ると不一致数が減少し、下向きの肩となる部分を過ぎる
と記録レーザーパワーPの変化に対し略一定の不一致数
を維持する。
させ記録、再生するとある値を越えた時点から再び不一
致数が増加を始める。このような記録レーザーパワーP
に対する不一致数の特性曲線114に対し、記録レーザ
ーパワーとしては、不一致数が最低値を保っているフラ
ットな部分の略中央の点124付近に設定することが望
ましい。
度を例えば室温25℃に設定して実験的に得られ、この
特性114における記録レーザーパワーPを増加しなが
ら記録、再生し得られた不一致数の所定の閾値Nthに
低下する点118の記録レーザーパワーP2を記録レー
ザーパワーの初期値として設定しておく。
114の肩の手前の点118に対応して設定した記録レ
ーザーパワー初期値Pから所定値ずつ段階的に増加させ
ていけばよいが、特性114は温度により横軸方向にシ
フトすることから、そのときの装置温度によっては記録
レーザーパワー初期値P2は必ずしも特性114の肩の
点118に対応していない。
理にあっては、記録レーザーパワー初期値P2に対し所
定値dPだけ低くした記録レーザーパワーP1を最低値
として段階的(dpずつ)に記録レーザーパワーPを増
加させる。
に対しdP だけ低い値を記録レーザーパワー校正処理の
最低値とすることで、温度により特性114が記録レー
ザーパワー方向にシフトしても記録レーザーパワーの校
正処理の開始位置を特性の肩を過ぎた不一致数が閾値N
thより多い部分に設定でき、ここから記録レーザーパ
ワーを段階的に増加させることで確実に特性114にお
ける肩の部分を検出することができる。
P1より段階的に記録レーザーパワーを増加させ記録、
再生を行いながらそのときの不一致数を求め、不一致数
が閾値Nth以下となる点と、また閾値Nth以上とな
る点直前の点を検出し、その時の記録レーザーパワーの
加算平均を取ることで与えられる点Pgを特性曲線11
4の最適記録レーザーパワーとする。
ーとして図6の記録レーザーパワー格納テーブル106
に登録する。
に記録レーザーパワーを強くし過ぎるとレーザーダイオ
ード素子を破壊してしまう恐れが有ることから、校正処
理に使用する記録レーザーパワーPには上限記録レーザ
ーパワーPmax が設定されている。
108で校正処理が終了した後に行われる通常の記録処
理で実行される記録レーザーパワー格納テーブル106
にゾーン単位に格納した記録レーザーパワーから実際の
アクセストラックに対応した記録レーザーパワーを直線
補間により求める処理を表している。
対しては、レジスタ郡112によって媒体種別、装置内
温度T、ライトコマンドに基づいたトラック番号HH、
セクタ番号SS、更にゾーン番号Ziがレジスタ設定し
ており、記録レーザーパワー設定部108はこれらのレ
ジスタ郡112の設定情報に基づいた直線補間によりア
クセス位置に必要な最適記録レーザーパワーを演算し
て、記録レーザーパワー信号E13を出力する。
jが指定されたときの最適記録レーザーパワーPjの直
線補間による算出原理である。まずこの実施形態にあっ
ては、アクセス対象となったゾーンZiの先頭トラック
番号TRiについて記録レーザーパワー格納テーブル1
06に最適記録レーザーパワーPiが登録されており、
次のゾーンZi+1 の先頭位置のトラック番号TRi+1 に
ついても同様にして最適記録レーザーパワーPi+1 が登
録されている。
TRjの最適記録レーザーパワーPjは、次の直線補間
の式により算出できる。mはゾーンZiの先頭トラック
TRiから最終トラックTRieまでのディファレンス
(トラック本数)である。 Pj =Pi +{(Pi+1−Pi )}・{(TRj −TRi )/m} ・・・(1) なお図9にあっては、各ゾーンの先頭トラック番号にお
ける最適記録レーザーパワーを記録レーザーパワー格納
テーブル106に登録しているが、各ゾーンの最終トラ
ックであってもよいし、もしくはゾーンの中央トラック
であってもよい。
部108により求められる媒体のアクセス位置に対応し
た最適記録レーザーパワーを与える装置内温度Tによる
補正処理の特性図である。図10は、横軸の装置内温度
Tに対し図9の直線補間で求めたアクセス位置に対応し
た最適記録レーザーパワーを補正する温度補正係数Kt
の特性である。この温度補正係数Ktは、 Kt=A・T+B で与えられ、負の温度係数を一般に持っている。そして
温度補正係数Ktは装置内温度25℃のときをKt=
1.0としている。この図10で与えられる補正温度係
数Ktを用いた最適記録レーザーパワーPの補正は、 P=P{1−Kt×(T−25℃)} として算出する。
為の補正値ΔPaを加算してデータ領域を記録する最適
パワーに設定する。
存する場合は前記の記録レーザーパワーの記録トラック
による直線近似や装置温度による補正を行っても良い。
0の処理機能を備えた本発明の光学的記憶装置の処理を
説明する。図11は本発明の光学的記憶装置の全体的な
処理のフローチャートである。まず装置電源を投入する
と、ステップS1で初期化及び自己診断処理を行い、ス
テップS2で媒体の投入を待つ。この状態で媒体を投入
すると、ステップS3に進み、ディスク起動処理を行
う。
2のフローチャートに示すようになる。まずステップS
1で媒体のロードを行って、図2に示したようにスピン
ドルモータにセットして一定速度で回転する。続いてス
テップS2で校正要求フラグFLをセットする。続いて
ステップS3で現在時刻を初期化し、更にステップS4
で現在の装置内温度Tを検出して起動時にレーザダイオ
ードの発光パワーや磁界印加部による再生磁界を決める
ために必要な処理を終了する。
ディスク起動処理が済むと、ステップS4に進み、上位
装置からのアクセス要求の有無をチェックする。
ングによりディスク起動処理を行っても、その時点では
発光パワー及び再生磁界の校正処理は行わず、ディスク
起動処理の通知を受けた上位装置から最初に発行される
校正指示コマンドを受けて最初の発光パワー及び再生磁
界の校正処理を行うようにしている。
初に受けるアクセス要求は校正指示コマンドであり、ス
テップS5で校正の必要性を判断し、ステップS6で必
要性有りとなったら、ステップS7でライトパワー、イ
レーズパワー、リードパワーなどの発光パワーの校正処
理を行い、ステップS8で再生磁界校正処理を行う。
た場合には、ステップS10に進んでライト要求が判別
され、ステップS11以降のライト処理を行う。このラ
イト処理にあっては、ステップS11でまず校正処理中
か否かチェックする。校正処理中であればステップS1
2で校正処理を一旦中断し、ステップS13でライト処
理を行う。
の有無をチェックする。もしライトエラーがあれば、記
録レーザーパワー校正処理を実行した後に、リトライ処
理を行う。なお、この時にデータトラックの記録レーザ
ーパワーの感度シフト補正分ΔPaの値を一定の範囲で
加算、減算してリトライを行っても良い。リトライ処理
にてライトエラーがなければ、校正処理中断を行ったか
否かチェックし、もし校正処理を中断していれば、中断
した時点から校正処理を再開する。
判断されれば、ステップS16で媒体排出の有無をチェ
ックし、媒体排出の要求を確認し排出要求が有れば媒体
を排出後ステップS2に戻って次の媒体投入を待って同
様な処理を繰り返す。ステップS16にて媒体排出がな
ければ、ステップS17で装置停止指示の有無をチェッ
クした後、ステップS4に戻り、次の上位のアクセス要
求を待って同様な処理を繰り返す。
があった場合には、ステップS14に進んでリード要求
を判断し、ステップS15でリード処理を行うようにな
る。
正の必要性判断処理のフローチャートである。校正の必
要性判断処理にあっては、まずステップS1で現在時刻
を読み込み、ステップS2で光ディスクドライブの起動
から前回の校正処理までの時間Aを算出する。ステップ
S3では、起動からの時間Aを予め定めた一定時間例え
ば20秒で割ることで、単位時間数Bに変換する。
8未満、即ち起動から最初のテストライトまでの時間A
が160秒未満か否かチェックする。160秒未満であ
ればステップS5に進み、単位時間数Bは4未満か、即
ち時間Aは80秒未満か否かチェックする。
場合には、ステップS6で単位時間数Bを3、即ち時間
Aを60秒にクリップして、ステップS7に進む。ステ
ップS5で時間Aが80秒未満であった場合には、その
ままステップS7に進む。ステップS7では、前回の校
正処理で決定されている最適値(発光パワー及び記録レ
ーザーパワー)の使用を保証する有効時間Cを算出す
る。
位時間数)とする。但し、有効時間の最大値は160秒
にリミットされる。この結果、校正処理で決定された最
適値を保証する有効時間Cは、起動から最初の校正処理
までの時間Aが160秒未満であれば2B に対応した時
間に設定される。160秒を超えた場合には、一定の有
効時間C=160秒に固定される。
クドライブにローディングした媒体の媒体温度が装置内
温度に安定するまでに掛かる時間に応じて可変させてい
る。即ち、媒体をローディングした直後の初期段階にあ
っては、媒体と装置内の温度の間には差があることか
ら、この段階では装置内温度に基づいた校正は有効にで
きないことから、起動時には校正処理は行わない。
度経過すると装置内の温度に平衡してくる。そこで光デ
ィスクドライブ起動後の最初に上位装置からライトコマ
ンドが発行されたタイミングに同期して最初の校正処理
を行う。起動後、上位装置からライトコマンドが発行さ
れるタイミングは様々であることから、図13のステッ
プS1〜S7において、起動から最初の発光調整までの
時間Aを求め、この時間Aから次回以降の校正タイミン
グ判別のための有効時間Cを決めるようにしている。
らば、ステップS8で、有効判定時刻Dを前回のテスト
ライト時刻に算出した有効時間Cを加えた時刻として算
出する。そしてステップS9で、現在時刻が有効判定時
刻Dを超えたか否か判定する。現在時刻が有効判定時刻
Dを超えていれば、ステップS14に進んで校正処理フ
ラグをオンし、図11のステップS6にリターンする。
に達していない場合には、ステップS13で校正処理フ
ラグをオフとする。またステップS4で単位時間Bが8
以上即ち160秒以上の場合には、ステップS10に進
み、現在時刻から前回の校正処理時刻を引いた時間が1
時間未満か否かチェックする。
温度を読み込み、ステップS12で前回温度に対し現在
温度が±3℃の範囲内か否かチェックする。3℃以内で
あれば、ステップS13で校正処理フラグをオフし、校
正処理は行わない。
変動があった場合には、ステップS14で校正調整フラ
グをオンし、校正処理を実行する。またステップS10
で現在時刻と前回の校正処理時刻との差が1時間以上の
場合には、ステップS14で強制的に校正処理フラグを
オンして校正処理を実行する。なお、この校正処理の必
要性判断処理で設定されている各閾値時間は必要に応じ
て適宜に定めることができる。
図6の記録レーザーパワー校正部100の校正処理部1
04による記録レーザーパワー校正処理のフローチャー
トである。まずステップS1で、ゾーン番号Z=0、ト
ラック番号TR=0に初期化した後、ステップS2で測
定トラックにシークし、ステップS3で記録レーザーパ
ワーの初期値に対応したPをセットする。
ットする。この記録レーザーパワーの低めのセットは、
記録レーザーパワーの初期値Pから所定値dPを差し引
く。その結果、図8の記録レーザーパワーP1を最初に
レーザーダイオード制御回路24にセットして校正処理
を開始することになる。続いてステップS5で、記録レ
ーザーパワーを変化させて測定する回数を確認する為の
変数iに1をセットする。
ーザーパワーでテストパターンをテストトラックの測定
位置に記録し、レーザダイオードに対し再生パワーを、
再生磁界に所定の再生磁界を発生する電流値を設定して
テストライトしたテストパターンを読み出す。そしてス
テップS7で再生確認処理を行う。
とする。
記録データ(テストパターン)とをビット単位に比較し
た不一致数(ビット誤り個数)が所定値以下となったこ
とを検出して再生可能と判断する。
C処理部において、再生データに対するECC誤り訂正
数が所定値以下となったことを検出して再生可能と判断
する。
する判断方法、例えばエラーレートの計測等であっても
よい。ステップS7で再生確認処理を行ったならば、ス
テップS8で記録レーザーパワーPiと不一致数Eri
を図15に示す再生確認テーブルに格納し、ステップS
9で記録レーザーパワーPにdPを加算、iに1を加算
する。
ーパワーPが限界パワーを超えた場合には異常終了とす
る。ステップ11でiが測定測定する回数nを超えてい
ない場合はステップ6からの動作を繰り返す。
ている場合はステップ12で前記再生確認テーブルの不
一致数からテストトラックでの最適記録レーザーパワー
を算出する。この計算をする時には図15の再生確認テ
ーブルを使う。
測定番号iに示すように11回に分けられており、ステ
ップ6からステップ11の繰り返しの処理にて各記録レ
ーザーパワーPiとその記録レーザーパワーにて記録し
た後再生した場合の不一致数Eriが格納されている。
致数が減少して閾値Nth以下となる点と、例えばEr
2、再び増加して閾値Nth以上となる直前の点、例えば
Er9、を求めこのそれぞれの不一致数に対応する記録
レーザーパワーの相加平均Pgは Pg=(P9+P2)/2 を計算することで求められ、これがテストトラックを記
録するのに最適な記録レーザーパワーである。この最適
記録レーザーパワーPgを図7の記録レーザーパワー格
納テーブルのPzZに記憶する。
ーンが判別されるまで、ステップS15でゾーン番号と
トラック番号を更新し、これを繰り返す。即ち、ゾーン
番号はZ=Z+1と1つ増やし、またそのときトラック
番号TRは1ゾーン当たりのトラック数mを加えて次の
ゾーンの先頭トラック番号に更新して、ステップS2で
測定トラックにシークすることになる。
正処理が終了した後に通常のライト処理で行われる図6
の記録レーザーパワー設定部108によるアクセス位置
に対応した最適記録レーザーパワー設定処理のフローチ
ャートである。
るトラック番号TRjからゾーン番号Ziを算出し、ス
テップS2で、ゾーン番号Ziより記録レーザーパワー
格納テーブル106を参照して対応するゾーンのゾーン
先頭トラック番号TRiの記録レーザーパワーPiを取
り込む。
の最終トラック番号TRieの記録レーザーパワーPi
eを取り込み、ステップS4で先頭トラックから最終ト
ラックまでのトラック本数を求め、(1)式に従った直
線補間により記録レーザーパワーPjを算出する。
0の特性に従って温度補正係数Ktを算出する。続いて
ステップS6で、記録レーザーパワーPjを温度係数K
tで補正する。そしてステップS7で、データ領域の感
度シフト補正分のΔPaを加算する。
ク位置また装置温度により影響される場合は前述の記録
レーザパワーと同様に記録レーザパワーと同様に前記ト
ラック位置の直線補間や温度補正を行っても良い。この
ようにすれば、より厳密な記録レーザバワーを得ること
ができ、高密度記録における信頼性が向上する。
データ領域の記録レーザーパワーPjを記録レーザーパ
ワー設定部に出力する。
ズ処理及びテストトラックのテストライトから得られた
記録レーザーパワーをデータトラックの記録レーザーパ
ワーを算出する際の補正方法は、図17(A)(B)の
RAD媒体を例にとっているが、図18のダブルマスク
RAD媒体やFAD媒体にあっても同様である。
媒体は基本的には記録層と再生層を持つものであるが、
それ以外に適宜の補助層を設けた各種のものがあり、い
ずれについてもイレーズ、ライトを繰り返す場合に最適
記録レーザーパワーのシフトが発生する場合は本発明に
より最適なデーター領域の記録レーザーパワーを求める
ことができる。
限らず、磁界を必要としない相変化型光記憶媒体等にお
いても高パワーをかける点だけを利用することで同様に
応用可能である。
区別する為に使用し、テスト領域(パワー測定領域)を
除く、コントロール領域、データ領域等の情報の書き換
えを行う領域を示す広義で使用するものである。尚、テ
スト領域はゾーン毎に設けておき、ゾーン毎にテストラ
イトを行っても良いし、テストライトは一か所とか使用
頻度の高いゾーンのテスト領域のみにして近似により記
録パワーを求めて良い。
タをデータ記録領域兼パワー測定用のテスト領域として
扱うようにしても良い。さらに、テスト領域だけでな
く、データ領域で使用頻度の多いセクタやトラック(F
AT領域等)に対して高パワー処理を施しても良い。
は、使用回数に比例してエラーの発生が多くなるので、
高パワー処理により感度シフトによるエラーの発生を低
下できる。ただし、この場合は、前述したような感度補
正計算をせずに、感度シフトが飽和状態の領域としてテ
スト領域で求めた最適パワーを使用するように制御する
のが良い。
変形可能である。
がイレーズ、ライトを繰り返すことで最適記録レーザー
パワーが変化する(感度シフトする)場合には、媒体を
通常使用時よりも高パワーにてイレーズして感度シフト
を飽和させることができる為、通常使用時の感度シフト
を無くす、または小さくすることができる。
高パワーにてイレーズしてテストトラックの感度シフト
を飽和させておくため、テストトラックの通常使用時の
感度シフトを無くす、または小さくすることができる。
ほぼ無視できるようになるので、テストトラックのテス
トライトによって得られた最適パワーに感度補正量ΔP
aを加算することでデータトラックの感度シフト有り、
無しに関わらず再生データビットの不一致数が閾値Nt
hを満足するデータトラックの記録レーザーパワー値を
求めることができる。
ば、光記憶媒体の各領域において、記録/消去の使用頻
度が異なっても信頼性の高い記録パワーを得ることが可
能になる。
ラーの発生率が低下し、エラーリトライが何度も入り、
交替処理が生じたりして、交替領域の消耗やアクセス速
度の低下が生じるということを防止できる。
する信頼性の高い高密度記録を可能とし、一層の高密度
記録が可能となる。
である。
構造の説明図である。
化である。
化及び感度シフト補正方法である。
理を行う場合のフローチャートである。
の機能ブロック図である。
る。
録レーザーパワーの変化に対する不一致数(再生状態)
の特性図である。
間の説明図である。
補正係数の説明図である。
処理動作のフローチャートである。
つディスク起動処理のフローチャートである。
ートである。
トである。
補間、温度補正処理、感度シフト分補正のフローチャー
トである。
明図である。 (B)RAD方式の再生動作の説明図である。
る。
Claims (9)
- 【請求項1】 光ビームを照射することで情報の記録を
繰り返し行う光学的記憶媒体において、光ビームのパワ
ー調整を行う前記光学的記憶媒体のパワー調整領域に対
して、記録又は消去を行うパワーより高いパワーの光ビ
ームを複数回繰り返し照射する高パワー処理を行うこと
を特徴とする光学的記憶媒体の処理方法。 - 【請求項2】 光ビームを照射することで情報の記録を
繰り返し行う光学的記記憶媒体に対して、記録又は消去
を行うパワーより高いパワーの光ビームを照射すると同
時に所定方向の磁界を印加する高パワー磁界印加処理を
複数回繰り返しを行うことを特徴とする光学的記憶媒体
の処理方法。 - 【請求項3】 前記光学的記憶媒体に照射するパワーを
調整するパワー調整領域に対して前記高パワー磁界印加
処理を行うことを特徴とする請求項2記載の光学的記憶
媒体の処理方法。 - 【請求項4】 光学的記憶媒体に対して光ビームを照射
することでアクセスする光学的記憶媒体処理装置におい
て、 前記光学的記憶媒体の所定の位置に所定のパワーの光ビ
ームを照射させる光学ヘッドと、 光ビームのパワー調整を行うパワー調整領域に前記光学
ヘッドにより光ビームを位置付け、前記パワーを記録又
は消去を行うパワーより高いパワーに制御して、高パワ
ーの光ビームを前記光学ヘッドにより前記パワー調整領
域に対して照射させる高パワー処理を制御する高パワー
処理制御手段と、 を少なくとも備えてなることを特徴とする光学的記憶媒
体処理装置。 - 【請求項5】 前記高パワー処理制御手段は、前記パワ
ー調整領域に対して、高パワーにて光ビームを照射する
と同時に所定方向の磁界を印加する制御を行うことを特
徴とする請求項4記載の光学的記憶媒体処理装置。 - 【請求項6】 前記高パワー処理制御手段は、高パワー
処理を行う際に光ビームのトラック追従状態を検出する
オフトラック検出機能を通常動作時の設定よりも緩和さ
せる制御を行うことを特徴とする請求項4記載の光学的
記憶処理装置。 - 【請求項7】 光学的記憶媒体に対して光ビームを照射
することでアクセスする光学的記憶媒体処理装置におい
て、 パワー調整領域に高パワー処理がなされた光学的記憶媒
体に対する情報の記録に先立って、前記パワー調整領域
に対して記録を行って最適記録パワーを決定するパワー
調整処理手段と、 前記パワー調整処理手段にて得られた前記パワー調整領
域の最適記録パワーを所定の感度補正量にて補正したパ
ワーを、情報記録領域に対して情報の記録を行う際の最
適記録パワーとするパワー処理手段と、 を少なくとも備えてなることを特徴とする光学的記憶媒
体処理装置。 - 【請求項8】 前記感度シフトが飽和状態の時の最適記
録パワーと初期状態の時の最適記録パワーとの範囲内で
かつ所定の条件を満たすパワーが光学的記憶媒体の情報
記録領域の最適記録パワーになるように、前記感度補正
量は定められてなることを特徴とする請求項7記載の光
学的記憶媒体処理装置。 - 【請求項9】 光ビームを照射することで情報の記録を
繰り返し行う光学的記憶媒体において、キュリー点を超
える温度で複数回繰り返し加熱処理された加熱処理領域
が各ゾーンにそれぞれ設けられてなることを特徴とする
光学的記憶媒体。
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