JP2000164606A - 半導体装置製造用治具 - Google Patents

半導体装置製造用治具

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JP2000164606A JP10332140A JP33214098A JP2000164606A JP 2000164606 A JP2000164606 A JP 2000164606A JP 10332140 A JP10332140 A JP 10332140A JP 33214098 A JP33214098 A JP 33214098A JP 2000164606 A JP2000164606 A JP 2000164606A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 フレーム基体へのサブストレートの位置決め
および保持能力を向上して、半導体装置の製造時におけ
る試験・組立等の精度を常に高レベルに維持することが
できるようにする。 【解決手段】 フレーム基体2のサブストレート載置面
10の複数箇所にマグネット4を嵌合埋設し、サブスト
レート載置面10上に被せる磁着性を有するフレームカ
バー体3をマグネット4に吸引、固定することでサブス
トレートS周縁部を挟持固定するように構成する。マグ
ネット4は、サブストレート載置面10に相当するフレ
ーム基体2裏面部の複数箇所に穿設した収納穴5に嵌挿
し、封止材6にて封緘する。また、フレーム基体2のサ
ブストレート載置面10の四隅に位置決め用の規制ピン
7を植設し、該規制ピン7にサブストレートS周縁部の
通孔8を挿通し、サブストレート載置面10上に被せる
フレームカバー体3の通孔9に規制ピン7を挿通してサ
ブストレートSを挟持する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、主としてフィルム
タイプのサブストレートのCSP製造、およびBGAパ
ッケージ製造時等に使用され、例えば半導体装置の製造
時における試験・組立等の治具として使用される所謂I
Cキャリア等の半導体装置製造用治具に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、各種の半導体製造分野で使用され
る半導体装置製造用治具は、プローブ試験終了後のデバ
イスをパッケージに組み立てる工程として、例えばフィ
ルムタイプのサブストレートのCSP製造工程、および
BGAパッケージ製造工程等における、LSIチップを
パッケージの台座上に接着するダイボンディング作業、
LSIチップのボンディング用パッドとパッケージのリ
ードとの間を金属細線で接続するワイヤーボンディング
作業、その他一部ボール付け作業等に使用されている。
また、これらの製造工程に際し各工程間のキュアも含ま
れるため、当該半導体装置製造用治具は、実際にキュア
にも使用されている。
【0003】すなわち、この種の従来の半導体装置製造
用治具の一例としては、例えば図6、図7に示すよう
に、ステンレス製のフレーム基体100の上の縁部に植
設した複数の位置決め用の規制ピン101に、例えばL
SIチップ等の複数の半導体装置102が実装されるフ
ィルムタイプの撓曲柔軟性を有するサブストレート10
3を、人手作業により、その周縁部に開穿形成した通孔
104を挿通させてフレーム基体100上に位置決め載
置させておき、また例えば規制ピン101に挿通させる
通孔107によって位置決めさせることでサブストレー
ト103の上にステンレス製の薄板状のフレームカバー
体105を被せて半導体装置102を露出させた状態に
してサブストレート103を保持しておくものである。
このとき、図7に示すように、フレームカバー体105
の両端に折曲形成した折曲保持片部106を直角に対し
予め僅かに小さな角度でさらに内側に折り曲げること
で、両折曲保持片部106の拡開に対してのバネ性を付
与させておき、該折曲保持片部106によってフレーム
基体100の両端を挟み込むようクリップ状にして取り
付けられるのである。尚、図示を省略したが、フレーム
カバー体105は、フレーム基体100に比し幅員を狭
く形成して規制ピン101に嵌め合わさせずに、サブス
トレート103を折曲保持片部106によって単に挟む
ものとすることもある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の治具においては、クリップ状に取り付けられる
フレームカバー体105を介してのフレーム基体100
へのサブストレート103の着脱に対し、バネ性を有す
るフレームカバー体105の着脱操作自体が非常に面倒
であるために撓曲柔軟性を有するサブストレート103
を装着させるのに非常に手間がかかるものであった。ま
た、サブストレート103自体が薄膜状で非常に大きな
撓曲柔軟性を有し、しかもフレームカバー体105の両
端の折曲保持片部106の間のフレーム基体100上に
あるサブストレート103の中間部分はいずれによって
も保持されない僅かに面接触が保たれる状態にある。そ
のため、サブストレート103の一部が浮いて撓んでし
まい位置ズレが生じる結果、半導体装置の製造時におけ
る試験・組立等に精度上の支障が生じてしまう等の問題
点を有していた。
【0005】そこで、本発明は、叙上のような従来存し
た諸事情に鑑み創出されたもので、フレーム基体へのサ
ブストレートの着脱固定を容易なものとし、またフレー
ム基体に対するサブストレートの載置時での正確な位置
決めを確保させることでフレーム基体へのサブストレー
トの保持能力を向上させ、半導体装置の製造時における
試験・組立等に際する精度を常に高レベルに維持できる
ようにした半導体装置製造用治具を提供することを目的
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ため、本発明にあっては、半導体製造において半導体装
置Pが実装されるサブストレートSの周縁部を保持させ
て位置決め固定させるフレーム状の半導体装置製造用治
具1であって、フレーム状のサブストレート載置面10
にマグネット4を配したフレーム基体2と、サブストレ
ート載置面10上に載置された透磁性を有するサブスト
レートSを介してフレーム基体2のマグネット4に吸引
されながら当該サブストレートSの周縁部を挟持して位
置決めさせるようサブストレート載置面10上に被せら
れる磁着性を有するフレームカバー体3とから成るもの
としてある。また、フレーム基体2は、サブストレート
載置面10に相当する箇所に複数または載置面状のマグ
ネット4を嵌合埋設または重合接着等により付設させて
成るものとすることができる。あるいは、フレーム基体
2は、サブストレート載置面10に相当する裏面部の複
数箇所に収納穴5を穿設し、該収納穴5にマグネット4
を嵌挿させ、封止材6にて封緘させて成るものとするこ
とができる。そして、フレーム基体2のサブストレート
載置面10には、その四隅の少なくともいずれか1つ
に、サブストレートSの周縁部に開穿形成してある通孔
8が挿通されてサブストレートSを位置決めさせる位置
決め用の規制ピン7を植設すると共に、サブストレート
載置面10上に被せられるフレームカバー体3に規制ピ
ン7が挿通される通孔9を開穿形成した構成とすること
ができる。さらに、フレーム基体2のサブストレート載
置面10は、フレーム基体2に対し段差部20を介して
凹状の薄肉の段差面となって形成され、該段差面状のサ
ブストレート載置面10内にマグネット4を嵌合埋設さ
せて構成することができる。
【0007】以上のように構成された本発明に係る半導
体装置製造用治具1において、磁着性を有するフレーム
カバー体3は、フレーム基体2のサブストレート載置面
10上に載置されたサブストレートS上に被せられ、該
サブストレートSを介してフレーム基体2のマグネット
4に吸引され、サブストレートSの周縁部を均一な面圧
接状態となして挟持固定させる。また、サブストレート
載置面10に相当する箇所にマグネット4を付設させて
成るフレーム基体2は、サブストレート載置面10上に
サブストレートSを安定して固定させる。また、フレー
ム基体2のサブストレート載置面10に相当する裏面部
の収納穴5にマグネット4が嵌挿埋設されることによ
り、サブストレート載置面10には、何等の障害もなく
サブストレートSを載置させる。しかも、マグネット4
が嵌挿されている収納穴5を封止材6にて封緘させ、フ
レーム基体2からのマグネット4の脱落を防止させる。
そして、フレーム基体2のサブストレート載置面10の
四隅の少なくともいずれか1つに植設された位置決め用
の規制ピン7にサブストレートSの周縁部の通孔8が挿
通された状態でサブストレートSを載置させ、フレーム
カバー体3の通孔9に規制ピン7が挿通される状態とな
って該サブストレートS面上にフレームカバー体3が被
せられ、フレーム基体2とフレームカバー体3との間に
挟持されたサブストレートSを確実に位置決めさせる。
さらに、マグネット4を嵌合埋設させてある段差面状の
サブストレート載置面10内にサブストレートSを載置
させ、さらに段差面上にフレームカバー体3を被せて該
サブストレートSを介してフレーム基体2のマグネット
4に吸引させることで、サブストレートSの周縁部を段
差面内で均一な面圧接状態となして挟持固定させ、サブ
ストレートSの位置決めを確保させる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の実施
の形態を説明するに、図1乃至図3において示される第
1の実施の形態における符号1は、例えばLSIチップ
等の複数の半導体装置Pが実装される透磁性フィルムタ
イプのサブストレートSの周縁部を保持させて位置決め
固定させる例えば高耐熱性・機械的高強度を有する非磁
性材料であるステンレス(SUS)等の金属で形成され
る平面で略矩形状を呈するフレーム状の半導体装置製造
用治具である。
【0009】該半導体装置製造用治具1は、図1、図2
に示すように、フレーム状のサブストレート載置面10
の複数箇所にマグネット4を嵌合埋設させた開口部2A
を有するフレーム基体2と、サブストレート載置面10
上に被せられてフレーム基体2のマグネット4に吸引さ
れながらサブストレートS周縁部を挟持して位置決めさ
せるようサブストレート載置面10のフレーム形状に合
わせて形成され、例えば鉄・ニッケル等を含む磁性体で
形成して磁着性を付与させた開口部3Aを有する薄板状
のフレームカバー体3とから成るものとしてある。すな
わち、フレーム基体2のサブストレート載置面10上に
サブストレートSを載置させ、さらにサブストレートS
の上に磁着性のフレームカバー体3を被せることによ
り、フレームカバー体3は透磁性のサブストレートSを
介してフレーム基体2のマグネット4に吸引されるもの
となってサブストレートS自体を挟持位置決めさせるも
のとしてある。
【0010】また、フレーム基体2は、前後に長い矩形
状で、前後側部、左右側部から略長方形枠状を呈してい
るもので、図2に示すように、サブストレート載置面1
0に相当する裏面部の複数箇所に例えば長手方向に沿っ
ての片側夫々で3箇所にして、且つそれらを対向する位
置にして計6個の円形状の収納穴5を穿設し、該収納穴
5にディスク状のマグネット4を嵌挿させ、さらに円形
状の封止材6にて封嵌固着させてある。尚、本実施の形
態では、フレーム基体2のサブストレート載置面10内
にディスク状のマグネット4を埋設してあるが、これに
限らず、例えば前記収納穴5を矩形状のものとし、これ
に棒状のマグネット4をサブストレート載置面10の長
手方向に沿って埋設させても良い。
【0011】さらに、図3に示すように、フレーム基体
2のサブストレート載置面10上にマグネット4の厚み
相当分の深さの複数の円形状の収納穴5を形成し、該円
形穴5夫々内にディスク状のマグネット4を接着させ、
サブストレート載置面10にマグネット4の上面が面一
状態となって露呈するように構成しても良い。尚、フレ
ーム基体2のサブストレート載置面10上に当該サブス
トレート載置面10の表面積に対応した矩形平面状のマ
グネット4を直接に接着重合しても良い。尚、マグネッ
ト4は、その形状、配置位置、数等は図示例に限定され
るものではなく、その磁着力でフレームカバー体3を吸
引させることによりサブストレートSをしっかり固定さ
せるものとなっていれば良いものである。
【0012】そして、図2に示すように、フレーム基体
2のサブストレート載置面10には、その四隅に位置決
め用の規制ピン7を植設し、該規制ピン7にサブストレ
ートSの周縁部に開穿形成してある通孔8が挿通される
状態でサブストレート載置面10にサブストレートSを
載置させるものとしてある。さらに、サブストレート載
置面10上に被せられるフレームカバー体3には、規制
ピン7を挿通させるための通孔9を開穿形成してある。
【0013】また、フレーム基体2のサブストレート載
置面10の長手方向に沿った両側部には夫々段差11を
介して薄肉のフランジ部12を延設してあり、該フラン
ジ部12にはフレーム基体2を他の製造用・組立用・検
査用の各種機器(図示せず)等に取り付けるための複数
の位置決め用の通孔12Aを配列形成してある。
【0014】さらに、フレームカバー体3の両端には直
角に下方へ折曲形成した折曲保持片部13を形成し、フ
レーム基体2の両端に係架させることで、フレーム基体
2上でのフレームカバー体3の長手方向の位置ズレを防
止するようにしてある。
【0015】尚、前記フレームカバー体3が非磁性体に
よる材料、例えばステンレス(SUS)薄板等で形成さ
れている場合には、フレームカバー体3のサブストレー
ト載置面10に当接する面全体に磁性体層をコーティン
グするかまたは磁性体の薄板を重合させた複層構造によ
り磁着可能な構造となるようにしてある。
【0016】次に、上記した第1の実施の形態の使用の
一例を説明するに、図2に示すように、先ずフレーム基
体2のサブストレート載置面10上に、規制ピン7にサ
ブストレートSの通孔8が挿通されるようにしてサブス
トレートSを載置させる。次いで、載置されたサブスト
レートSの上に、規制ピン7にフレームカバー体3の通
孔9が挿通され、且つ折曲保持片部13がフレーム基体
2の両端に係架されるようにして磁着性のフレームカバ
ー体3を被せる。このとき、フレーム基体2のマグネッ
ト4の磁力が透磁性のあるサブストレートSを通してフ
レームカバー体3に届くので、フレームカバー体3はフ
レーム基体2マグネット4に有効に吸引されてサブスト
レートSを挟持位置決めさせるのである。そして、デバ
イスをパッケージに組み立てる工程として、例えばフィ
ルムタイプのサブストレートのCSP製造工程、および
BGAパッケージ製造工程等における、LSIチップを
パッケージの台座上に接着するダイボンディング作業、
LSIチップのボンディング用パッドとパッケージのリ
ードとの間を金属細線で接続するワイヤーボンディング
作業、その他キュア、一部ボール付け作業等の各種の製
造作業を行なうのである。
【0017】また、図4、図5には第2の実施の形態が
示されており、第1の実施の形態を示した図1乃至図3
と同一の構成部分については同一の符号が付されること
でその詳細な説明は省略されている。この第2の実施の
形態にあっては第1の実施の形態におけるフレーム基体
2のサブストレート載置面10は、厚肉のフレーム基体
2に対し段差部20を介して凹状の薄肉の段差面となっ
て形成されており、該段差面内にマグネット4が嵌合埋
設させているものである。すなわち、図4に示すよう
に、フレーム基体2の開口部2Aの両端にその長手方向
に沿って一対の薄肉の段差面状のサブストレート載置面
10が形成されることにより、載置されるサブストレー
トSの位置ズレを段差部20でもって防止させているの
である。
【0018】また、フレーム基体2のサブストレート載
置面10の端部の1箇所には規制ピン21を突設し、該
規制ピン21にサブストレートSの隅角部に穿設してあ
る通孔22が挿通され、載置されたサブストレートSの
上にフレームカバー体3が被せられる際に、規制ピン2
1にフレームカバー体3の隅角部に穿設した通孔23が
挿通されて位置決めされるようにしてある。尚、第2の
実施の形態における使用例は、前記した第1の実施の形
態の場合と略同様であるのでその詳細な説明を省略す
る。
【0019】
【発明の効果】以上の如く構成された本発明によれば、
フレーム基体2に対してフレームカバー体3をマグネッ
ト4を介して装着させるから、フレーム基体2へのサブ
ストレートSの着脱が容易なものとなり、またフレーム
基体2に対するサブストレートSの載置時での正確な位
置決めを確保させると同時にフレーム基体2へのサブス
トレートSの保持能力を向上させることができ、半導体
装置の製造時における試験・組立等の精度を常に高レベ
ルに維持させることができる。
【0020】すなわち、半導体装置製造用治具1は、フ
レーム状のサブストレート載置面10にマグネット4を
配したフレーム基体2と、該フレーム基体2のマグネッ
ト4に吸引されながらサブストレートS周縁部を挟持し
て位置決めさせるようサブストレート載置面10上に被
せられる磁着性を有するフレームカバー体3とから成る
ので、フレームカバー体3は透磁性を有するサブストレ
ートSを介してフレーム基体2のマグネット4に吸引さ
れることによりサブストレートSの周縁部を均一な面圧
接状態となって挟持固定されるのである。そのため、フ
レーム基体2に対するサブストレートSの載置時での正
確な位置決めを確保させると同時にフレーム基体2への
サブストレートSの保持能力を向上させることができ
る。
【0021】また、フレーム基体2はサブストレート載
置面10に相当する箇所に複数または載置面状のマグネ
ット4を嵌合埋設または重合接着等により付設させて成
るので、サブストレート載置面10上にサブストレート
Sを安定して固定させることができ、フレーム基体2へ
のサブストレートSの保持能力を向上させることができ
る。
【0022】あるいは、フレーム基体2は、サブストレ
ート載置面10に相当する裏面部の複数箇所に収納穴5
を穿設し、該収納穴5にマグネット4を嵌挿させ、封止
材6にて封嵌させて成るので、サブストレート載置面1
0には何等の障害もなくサブストレートSを載置させる
ことができ、しかも、マグネット4が嵌挿されている収
納穴5を封止材6にて封嵌させてあるので、フレーム基
体2からのマグネット4の脱落が防止できる。
【0023】さらに、フレーム基体2のサブストレート
載置面10には、その四隅の少なくともいずれか1つ
に、サブストレートSの周縁部に開穿形成してある通孔
8が挿通されてサブストレートSを位置決めさせる位置
決め用の規制ピン7を植設すると共に、サブストレート
載置面10上に被せられるフレームカバー体3に規制ピ
ン7が挿通される通孔9を開穿形成したので、フレーム
基体2とフレームカバー体3との間に挟持されたサブス
トレートSを位置ずれを生じさせずに確実に位置決めさ
せることができる。
【0024】また、フレーム基体2のサブストレート載
置面10は、フレーム基体2に対し段差部20を介して
凹状の薄肉の段差面となって形成され、該段差面状のサ
ブストレート載置面10内にマグネット4が嵌合埋設さ
せてあるので、サブストレートSの周縁部を段差面状の
サブストレート載置面10内で均一な面圧接状態となし
て挟持固定させることができ、サブストレートSの位置
決めを十分に確保させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態における分解斜視図
である。
【図2】同じく断面図である。
【図3】同じく他のマグネット付設構成を示す断面図で
ある。
【図4】本発明の第2の実施の形態における分解斜視図
である。
【図5】同じく断面図である。
【図6】従来技術における使用状態の概略を示す分解斜
視図である。
【図7】同じく断面図である。
【符号の説明】
1…半導体装置製造用治具 2…フレーム基
体 2A…開口部 3…フレームカ
バー体 3A…開口部 4…マグネット 5…収納穴 6…封止材 7…規制ピン 8,9…通孔 10…サブストレート載置面 11…段差 12…フランジ部 12A…通孔 13…折曲保持片部 20…段差部 22,23…通
孔 P…半導体装置 S…サブストレ
ート 100…フレーム基体 101…規制ピ
ン 102…半導体装置 103…サブス
トレート 104…通孔 105…フレー
ムカバー体 106…折曲保持片部 107…通孔

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体製造において半導体装置が実装さ
    れるサブストレートの周縁部を保持させて位置決め固定
    させるフレーム状の半導体装置製造用治具であって、フ
    レーム状のサブストレート載置面にマグネットを配した
    フレーム基体と、サブストレート載置面上に載置された
    透磁性を有するサブストレートを介してフレーム基体の
    マグネットに吸引されながら当該サブストレートの周縁
    部を挟持して位置決めさせるようサブストレート載置面
    上に被せられる磁着性を有するフレームカバー体とから
    成ることを特徴とする半導体装置製造用治具。
  2. 【請求項2】 フレーム基体は、サブストレート載置面
    に相当する箇所に複数または載置面状のマグネットを嵌
    合埋設または重合接着等により付設させて成る請求項1
    記載の半導体装置製造用治具。
  3. 【請求項3】 フレーム基体は、サブストレート載置面
    に相当する裏面部の複数箇所に収納穴を穿設し、該収納
    穴にマグネットを嵌挿させ、封止材にて封緘させて成る
    請求項1または2記載の半導体装置製造用治具。
  4. 【請求項4】 フレーム基体のサブストレート載置面に
    は、その四隅の少なくともいずれか1つに、サブストレ
    ートの周縁部に開穿形成してある通孔が挿通されてサブ
    ストレートを位置決めさせる位置決め用の規制ピンを植
    設すると共に、サブストレート載置面上に被せられるフ
    レームカバー体に規制ピンが挿通される通孔を開穿形成
    した請求項1乃至3のいずれか記載の半導体装置製造用
    治具。
  5. 【請求項5】 フレーム基体のサブストレート載置面
    は、フレーム基体に対し段差部を介して凹状の薄肉の段
    差面となって形成され、該段差面状のサブストレート載
    置面内にマグネットを嵌合埋設させてある請求項1乃至
    4のいずれか記載の半導体装置製造用治具。
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