JP2000117630A - ウェーハ面取り装置のドレッシング工具及びそのドレッシング工具を用いたウェーハ面取り装置のドレッシング機構 - Google Patents

ウェーハ面取り装置のドレッシング工具及びそのドレッシング工具を用いたウェーハ面取り装置のドレッシング機構

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JP2000117630A
JP2000117630A JP28931898A JP28931898A JP2000117630A JP 2000117630 A JP2000117630 A JP 2000117630A JP 28931898 A JP28931898 A JP 28931898A JP 28931898 A JP28931898 A JP 28931898A JP 2000117630 A JP2000117630 A JP 2000117630A
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Japan
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dressing
wafer
dressing tool
tool
chuck table
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JP28931898A
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English (en)
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Ichiro Katayama
一郎 片山
Masatami Iwaki
正民 岩城
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ウェーハ面取り装置の砥石を簡単にドレッシン
グすることができるウェーハ面取り装置のドレッシング
工具及びそのドレッシング工具を用いたウェーハ面取り
装置のドレッシング機構の提供。 【解決手段】ドレッシング工具1は、ウェーハ面取り装
置のチャックテーブルで吸着保持可能であり、外周から
ドレッシングストーン2が突出して設けられている。ウ
ェーハ面取り装置の砥石をドレッシングするときは、ド
レッシング工具1をチャックテーブルに吸着保持させ
る。そして、回転する砥石に向けてチャックテーブルを
移動させ、その砥石にドレッシングストーン2を押し当
てる。これにより砥石がドレッシングされる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェーハ面取り装置
のドレッシング工具及びそのドレッシング工具を用いた
ウェーハ面取り装置のドレッシング機構に係り、特にウ
ェーハ面取り装置の砥石をドレッシングするウェーハ面
取り装置のドレッシング工具及びそのドレッシング工具
を用いたウェーハ面取り装置のドレッシング機構に関す
る。
【0002】
【従来の技術】インゴットの状態からワイヤソー等の切
断機でスライスされたウェーハは、その割れや欠けを防
止するために周縁を面取り加工される。そして、この面
取り加工は専用のウェーハ面取り装置を用いて行なわれ
る。ウェーハ面取り装置は、回転可能な砥石と、ウェー
ハを保持するチャックテーブルとを備えており、チャッ
クテーブルに保持されて回転するウェーハの周縁を回転
する砥石に押し当てることにより、ウェーハの周縁を面
取り加工する。
【0003】ところで、上述したようにウェーハの面取
り加工は砥石による研削加工であるので、研削が進行し
てゆくうちに砥石には目詰まりが生じてくる。この砥石
の目詰まりは研削面に悪影響を及ぼすため、ウェーハ面
取り装置では定期的に砥石をドレッシングするようにし
ている。そして、このドレッシングは、オペレータがド
レッシングストーンを手で持ちながら回転する砥石に押
し当てることにより実施している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、オペレ
ータが手動で実施するドレッシングは大変危険を伴い、
また習熟を要するため個人差が大きく定量的なドレッシ
ングができないという欠点があった。目詰まりしたら砥
石を交換するという方法もあるが、砥石の交換には時間
がかかり、その間まったく加工ができないのでスループ
ットが低下するという欠点がある。また、ドレッシング
すれば再び使用できるものを交換してしまうので、経済
性が悪くランニングコストが高くなるという欠点もあ
る。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、ウェーハ面取り装置の砥石を簡単にドレッシ
ングすることができるウェーハ面取り装置のドレッシン
グ工具及びそのドレッシング工具を用いたウェーハ面取
り装置のドレッシング機構を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は前
記目的を達成するために、ウェーハ面取り装置のチャッ
クテーブルに保持可能な基板と、前記基板の外周部から
突出して設けられ、ウェーハ面取り装置の砥石に当接さ
れて該砥石をドレッシングするドレッシングストーン
と、からなることを特徴とする。
【0007】本発明によれば、ドレッシング工具はウェ
ーハ面取り装置のチャックテーブルに装着して砥石をド
レッシングする。すなわち、ドレッシング工具を保持さ
せたチャックテーブルと砥石とを相対的に近づけること
により、基板に設けられたドレッシングストーンが砥石
に当接して砥石をドレッシングストーンする。また、請
求項4に係る発明は前記目的を達成するために、回転す
る砥石と、チャックテーブルに保持されて回転するウェ
ーハとを相対的に近づけて、該ウェーハの周縁を面取り
加工するウェーハ面取り装置のドレッシング機構におい
て、該ドレッシング機構は、前記チャックテーブルで保
持可能な基板と、該基板の外周部から突出して設けら
れ、前記砥石に当接されて該砥石をドレッシングするド
レッシングストーンと、からなるドレッシング工具と、
前記ドレッシング工具が収納されるドレッシング工具収
納手段と、前記ドレッシング工具収納手段から前記ドレ
ッシング工具を前記チャックテーブルに搬送するととも
に、該チャックテーブルから前記ドレッシング工具を前
記ドレッシング工具収納手段に搬送するドレッシング工
具搬送手段と、からなり、前記ドレッシング工具搬送手
段によって前記ドレッシング工具を前記チャックテーブ
ルに搬送し、該ドレッシング工具で前記砥石をドレッシ
ングしたのち、前記ドレッシング工具搬送手段によって
前記ドレッシング工具を前記チャックテーブルから前記
ドレッシング工具収納手段に搬送することを特徴とす
る。
【0008】本発明によれば、自動で砥石のドレッシン
グを行なうことができる。すなわち、砥石をドレッシン
グする場合は、まず、ドレッシング工具搬送手段によっ
てドレッシング工具収納手段に収納されているドレッシ
ング工具をチャックテーブルに搬送する。チャックテー
ブルは、その搬送されたドレッシング工具を保持して砥
石をドレッシングする。ドレッシング終了後は、再びド
レッシング工具搬送手段によってドレッシング工具収納
手段に搬送し収納する。これにより、自動で砥石をドレ
ッシングすることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
係るウェーハ面取り装置のドレッシング工具及びそのド
レッシング工具を用いたウェーハ面取り装置のドレッシ
ング機構の好ましい実施の形態について詳説する。図
1、図2は、それぞれ本発明に係るドレッシング工具の
実施の形態の構成を示す平面図と側面図である。また、
図3は本実施の形態のドレッシング工具の組立図であ
る。同図に示すように、ドレッシング工具1は、ドレッ
シングストーン2、ベースプレート3、ホルダ4及びバ
ランスウェイト5を主要構成部材としている。
【0010】ドレッシングストーン2は、矩形の板状に
形成されており、その厚さはウェーハ面取り装置で面取
り加工するウェーハWと同じ厚さに形成されている。ベ
ースプレート3(基板に相当)は前記ドレッシングスト
ーン2を保持する部材であり、ウェーハ面取り装置で面
取り加工するウェーハWと同じ形状に形成されている。
すなわち、ウェーハ面取り装置で面取り加工するウェー
ハWと同じ直径の円盤状に形成されており、その周縁の
一部にオリフラOFが形成されている。オリフラOFの
中央部にはオリフラOFに対して直交するように矩形状
のドレッシングストーン取付凹部3Aが形成されてお
り、このドレッシングストーン取付凹部3Aに前記ドレ
ッシングストーン2が嵌め込まれる。なお、このドレッ
シングストーン取付凹部3Aの厚さは、ドレッシングス
トーン2の厚さよりもやや薄く形成されている。
【0011】ホルダ4(ドレッシングストーン保持手段
に相当)は、前記ドレッシングストーン取付凹部3Aに
取り付けられたドレッシングストーン2をベースプレー
ト3に固定する部材である。このホルダ4は、前記ドレ
ッシングストーン取付凹部3Aの上部を覆うように取り
付けられ、ベースプレート3の裏面から4本の皿ビス
6、6、…によってビス止めされる。前記ドレッシング
ストーン取付凹部3Aに嵌め込まれたドレッシングスト
ーン2は、このビス止めしたホルダ4によって上面部を
押圧されることによりベースプレート3に固定される。
【0012】なお、皿ビス6がベースプレート3の裏面
から突出しないように、ベースプレート3に形成された
ビス穴3B、3B、…は皿座ぐりされている。したがっ
て、ドレッシングストーン2がベースプレート3に取り
付けられても、ベースプレート3の裏面は平坦になって
いる。バランスウェイト5は、前記ドレッシングストー
ン2をベースプレート3に取り付けることにより生じる
ベースプレート3のアンバランスを解消するための部材
である。このバランスウェイト5は矩形の板状に形成さ
れており、前記ホルダ4と対称位置に取り付けられる。
そして、ベースプレート3の裏面から4本の皿ビス7、
7、…によってビス止めされる。なお、前記同様に皿ビ
ス7がベースプレート3の裏面から突出しないように、
ベースプレート3に形成されたビス穴3C、3C、…は
皿座ぐりされている。
【0013】前記のごとく構成された本実施の形態のド
レッシング工具1の作用は次の通りである。まず、本実
施の形態のドレッシング工具1が適用されるウェーハ面
取り装置200について簡単に説明する。図4(a)
は、ウェーハ面取り装置200の要部の構成を示す側面
図である。砥石スピンドル202に装着された砥石20
4は、図示しない砥石駆動モータに駆動されることによ
り回転する。一方、テーブルスピンドル206に取り付
けられたチャックテーブル208は、図示しないテーブ
ル駆動モータに駆動されることにより回転する。また、
このチャックテーブル208は、図示しない昇降機構に
よって垂直方向に昇降移動するとともに、図示しない送
り機構によって水平方向に前後移動する。
【0014】このウェーハ面取り装置200においてウ
ェーハWの面取り加工は、まず、チャックテーブル20
8上にウェーハWを位置決めして載置し、該チャックテ
ーブル208でウェーハWを吸着保持する。次いで、ウ
ェーハWの位置と砥石204の溝204Aの位置とを位
置合わせし、砥石204を高速回転させる。次いで、そ
の回転する砥石204に向けてチャックテーブル208
を送り、砥石204の溝204AにウェーハWの周縁を
押し当てる。そして、チャックテーブル208をゆっく
りと回転させる。これにより、ウェーハWの周縁が砥石
204の溝204Aに研削されて面取り加工される。
【0015】次に、上記のウェーハ面取り装置200の
砥石204を本実施の形態のドレッシング工具1を用い
てドレッシングする方法について説明する。まず、図4
(b)に示すように、チャックテーブル208上にドレ
ッシング工具1を位置決めして載置する。すなわち、互
いの中心が一致するようにドレッシング工具1をチャッ
クテーブル208上に載置する。
【0016】次に、ドレッシングストーン2の位置決め
を行なう。すなわち、まず、ドレッシングストーン2が
砥石204の方向に向くようにチャックテーブル208
を所定量回転させる。次いで、ドレッシングストーン2
の位置と砥石204の溝204Aの位置とが一致するよ
うにチャックテーブル208を上下方向に移動させる。
これにより、ドレッシングストーン2が所定のドレッシ
ング位置に位置決めされる。
【0017】次に、砥石204を高速回転させる。そし
て、この高速回転する砥石204に向けてチャックテー
ブル208を送る。これにより、回転する砥石204の
溝204Aにドレッシングストーン2が当接し、砥石2
04の溝204Aがドレッシングされる。ドレッシング
終了後は、チャックテーブル208を原点位置に復帰さ
せ、砥石204の回転を停止させる。そして、チャック
テーブル208の吸着を解除し、チャックテーブル20
8上からドレッシング工具1を回収する。
【0018】このように、本実施の形態のドレッシング
工具1によれば、ウェーハ面取り装置200のチャック
テーブル208に装着して砥石204のドレッシングを
行なうことができる。したがって、オペレータはドレッ
シング工具1のセッティングのみを行なえばよく、簡単
かつ安全にドレッシングを実施することができる。ま
た、セッティング後は自動でドレッシングすることがで
きるので、人手による場合に比べ個人差が出ることがな
く、常に定量的なドレッシングを行なうことができる。
【0019】なお、本実施の形態では、ベースプレート
3がウェーハWと同じ形状に形成されているが、チャッ
クテーブル208に保持できる形状であれば、この形状
に限定されるものではない。たとえば、オリフラなしの
真円形状や六角形状、四角形状に形成してもよい。ま
た、本実施の形態では、ドレッシングストーン2はベー
スプレート3の一か所にのみ取り付けられているが、複
数箇所に取り付けてもよい。
【0020】さらに、本実施の形態では、ドレッシング
ストーン2はベースプレート3に着脱自在に取り付けら
れているが、接着等により一体化してもよい。なお、ド
レッシングストーン2を着脱自在とすることにより、ド
レッシングストーン2が磨耗した場合はドレッシングス
トーン2のみを交換すればよいので、きわめて経済的に
なる。
【0021】なお、本実施の形態では、砥石204の溝
形状がV字型の砥石(総型砥石)をドレッシングする場
合について説明したが、図5に示すように、断面台形状
の溝205Aを有する砥石205をドレッシングする場
合にも本実施の形態のドレッシング工具1を適用するこ
とができる。この場合、まず同図(a)に示すように、
溝205Aの上側テーパ面205aにドレッシングスト
ーン2を押し当ててドレッシングし、次いで、同図
(b)に示すように、溝205Aの下側テーパ面205
bにドレッシングストーン2を押し当ててドレッシング
する。
【0022】次に、上述したドレッシング工具を用いた
ウェーハ面取り装置の自動ドレッシング機構について説
明する。この自動ドレッシング機構をウェーハ面取り装
置に組み込むことにより、砥石のドレッシングを全自動
で行なうことができる。図6は、自動ドレッシング機構
が組み込まれたウェーハ面取り装置10の構成を示す平
面図であり、図7は、その斜視図である。
【0023】図6及び図7に示すように、ウェーハ面取
り装置10は、供給回収部12、測定搬送部14、測定
部16、加工部18、洗浄部20、加工搬送部22及び
ドレッシング工具収納部24から構成されている。ま
ず、供給回収部12の構成について説明する。供給回収
部12では、面取り加工するウェーハWをウェーハカセ
ット30から供給するとともに、面取り加工されたウェ
ーハWをウェーハカセット30に回収する。このウェー
ハ供給回収部12は、図6に示すように、4台のカセッ
トテーブル32、32、…と、1台の供給回収ロボット
34から構成されている。
【0024】4台のカセットテーブル32、32、…
は、装置本体の左端に直列して配置されており、このカ
セットテーブル32、32、…上にウェーハWが多数枚
収納されたウェーハカセット30、30、…がセットさ
れる。供給回収ロボット34は、カセットテーブル3
2、32、…にセットされた各ウェーハカセット30か
らウェーハWを1枚ずつ取り出して測定搬送部14に供
給するとともに、面取り加工されたウェーハWを測定搬
送部14からウェーハカセット30に収納する。この供
給回収ロボット34の搬送アーム36は、上面部に図示
しない吸着パッドを有しており、この吸着パッドでウェ
ーハWの下面を真空吸着してウェーハWを保持する。ま
た、この供給回収ロボット34の搬送アーム36は、タ
ーンテーブル38上を前後移動するとともに、ターンテ
ーブル38が回転することにより旋回し、ターンテーブ
ル38が上下動することにより昇降移動する。さらに、
この供給回収ロボット34の搬送アーム36は、ターン
テーブル38が図中Y方向にスライド移動することによ
り、4台のカセットテーブル32、32、…に沿ってス
ライド移動する。すなわち、この供給回収ロボット34
の搬送アーム36は、ウェーハWを保持した状態で前
後、左右、昇降移動及び旋回することができ、この動作
を組み合わせることによりウェーハWの搬送を行う。
【0025】次に、測定搬送部14の構成について説明
する。測定搬送部14は、供給回収部12と測定部16
との間におけるウェーハWの搬送を行うとともに、ドレ
ッシング工具収納部24と加工搬送部22との間におけ
るドレッシング工具1の搬送を行う。この測定搬送部1
4には測定搬送ロボット40が備えられている。測定搬
送ロボット40は、上下一対からなる搬送アーム42
A、42Bを備えており、各搬送アーム42A、42B
は、それぞれその上面部に図示しない吸着パッドを有し
ている。各搬送アーム42A、42Bは、この吸着パッ
ドでウェーハW又はドレッシング工具1の下面部を真空
吸着して保持する。また、この測定搬送ロボット40の
搬送アーム42A、42Bは、ターンテーブル44上を
前後移動するとともに、ターンテーブル44が回転する
ことにより旋回し、ターンテーブル44が上下動するこ
とにより昇降移動する。すなわち、この測定搬送ロボッ
ト40の搬送アーム42A、42Bは、ウェーハW又は
ドレッシング工具1を保持した状態で前後移動、昇降移
動及び旋回することができ、この動作を組み合わせるこ
とによりウェーハW又はドレッシング工具1の搬送を行
う。なお、以下の説明では、必要に応じて上側の搬送ア
ーム42Aを『第1搬送アーム42A』と呼び、下側の
搬送アーム42Bを『第2搬送アーム42B』と呼ぶ。
【0026】次に、測定部16の構成について説明す
る。測定部16は前測定装置46を備えており、該前測
定装置46は面取り加工するウェーハW及びドレッシン
グ工具1の前測定を行う。この前測定装置46は、図6
及び図7に示すように、測定テーブル50、プリセンタ
リングセンサ52、厚さセンサ54、プリアライメント
センサ56及びファインアライメントセンサ58から構
成されている。
【0027】測定テーブル50は、回転及び上下動自在
に構成されており、ウェーハW又はドレッシング工具1
の裏面部を吸着保持して回転させる。プリセンタリング
センサ52は、測定搬送ロボット40によって測定テー
ブル50に搬送されるウェーハW又はドレッシング工具
1の概略中心位置を測定する。厚さセンサ54は、ウェ
ーハWの厚さを測定する。プリアライメントセンサ56
は、ウェーハWの外周に形成されているノッチ又はオリ
フラの概略位置を検出するとともに、ドレッシング工具
1に備えられているドレッシングストーン2の概略位置
を検出する。ファインアライメントセンサ58は、ノッ
チ付きウェーハWに対しては、ウェーハWの直径、中心
位置、ノッチ位置及びノッチ深さを測定する。また、オ
リフラ付きウェーハWに対しては、ウェーハWのA直
径、B直径、中心位置及びオリフラ位置を測定する。ま
た、ドレッシング工具1に対しては、ドレッシング工具
1の中心位置とドレッシングストーン2の位置及び長さ
を検出する。
【0028】以上のように構成された前測定装置46で
は、次のようにしてウェーハW又はドレッシング工具1
の前測定を行う。まず、ウェーハWを前測定する場合に
ついて説明する。測定搬送部14の測定搬送ロボット4
0は、供給回収部12からウェーハWを受け取ると、そ
のウェーハWを厚さセンサ54に向けて搬送する。この
搬送過程でウェーハWがプリセンタリングセンサ52を
通過し、これにより、ウェーハWの概略中心位置が測定
される。そして、その測定された概略中心位置情報に基
づいて搬送アーム42A、42Bの移動が制御され、ウ
ェーハWの中心が厚さセンサ54の測定位置に位置す
る。厚さセンサ54は、そのウェーハWの中心部の厚さ
を測定する。
【0029】中心厚さの測定が終了すると、搬送アーム
42A、42Bが所定量後退する。この結果、ウェーハ
Wの中心が測定テーブル50の中心と略一致する。搬送
アーム42A、42Bは、測定テーブル50にウェーハ
Wを受け渡したのち、所定量後退して測定テーブル50
上から退避する。ウェーハWを受け取った測定テーブル
50は、ウェーハWを所定の回転速度で回転させる。回
転が安定すると、プリアライメントセンサ56が、その
ウェーハWのノッチの概略位置を測定する(オリフラ付
きウェーハWの場合は、オリフラの概略位置を測定す
る。)。
【0030】また、これと同時にファインアライメント
センサ58が、ウェーハWの直径を測定してウェーハW
の中心位置を正確に求める(オリフラ付きウェーハWの
場合は、A直径を測定してウェーハWの中心位置を正確
に求める。)。また、測定テーブル50に保持されたウ
ェーハWは、その外周部が厚さセンサ54の測定位置に
位置するので、厚さセンサ54が、そのウェーハWの外
周部の厚さを測定する。
【0031】以上の各測定が終了すると、測定テーブル
50の回転が停止する。そして、プリアライメントセン
サ56の測定結果に基づいて、測定テーブル50が所定
量回転して、ノッチが所定のノッチ測定位置に移動する
(オリフラ付きウェーハWの場合は、オリフラが所定の
オリフラ測定位置に移動する。)。ノッチがノッチ測定
位置に位置すると、測定テーブル50がゆっくりとウェ
ーハWを回転させる。そして、その回転するウェーハW
に対して、ファインアライメントセンサ58がノッチ位
置とノッチ深さを正確に測定する(オリフラ付きウェー
ハWの場合は、オリフラ位置とB直径を正確に測定す
る。)。
【0032】以上一連の工程を経ることにより、前測定
装置46によるウェーハWの前測定が終了する。次に、
ドレッシング工具1を前測定する場合について説明す
る。測定搬送部14の測定搬送ロボット40は、供給回
収部12からドレッシング工具1を受け取ると、そのド
レッシング工具1を厚さセンサ54に向けて搬送する。
この搬送過程でドレッシング工具1がプリセンタリング
センサ52を通過し、これにより、ドレッシング工具1
の概略中心位置が測定される。そして、その測定された
概略中心位置情報に基づいて搬送アーム42A、42B
の移動が制御され、ドレッシング工具1の中心が測定テ
ーブル50の中心と略一致する。搬送アーム42A、4
2Bは、測定テーブル50にドレッシング工具1を受け
渡したのち、所定量後退して測定テーブル50上から退
避する。
【0033】ドレッシング工具1を受け取った測定テー
ブル50は、ドレッシング工具1を所定の回転速度で回
転させる。回転が安定すると、プリアライメントセンサ
56が、そのドレッシング工具1に備えられたドレッシ
ングストーン2の概略位置を測定する。また、これと同
時にファインアライメントセンサ58が、ドレッシング
工具1の中心位置を正確に求める。
【0034】以上の各測定が終了すると、測定テーブル
50の回転が停止する。そして、プリアライメントセン
サ56の測定結果に基づいて、測定テーブル50が所定
量回転してドレッシングストーン2がドレッシングスト
ーン測定位置に移動する。ドレッシングストーン2がド
レッシングストーン測定位置に位置すると、測定テーブ
ル50がゆっくりとドレッシング工具1を回転させる。
そして、その回転するドレッシング工具1に対して、フ
ァインアライメントセンサ58がドレッシングストーン
2の位置及び長さを正確に測定する。
【0035】以上一連の工程を経ることにより、前測定
装置46によるドレッシング工具1の前測定が終了す
る。次に、加工部18の構成について説明する。加工部
18ではウェーハWの面取り加工を行う。この加工部1
8は、図6〜図9に示すように、ウェーハ送り装置7
0、外周研削装置72及びノッチ研削装置74から構成
されている。
【0036】ウェーハ送り装置70は、ウェーハWを吸
着保持するチャックテーブル76を有しており、該チャ
ックテーブル76は、図示しない駆動手段に駆動されて
前後方向(Y軸方向)、左右方向(X軸方向)及び上下
方向(Z軸方向)の各方向に移動するとともに、チャッ
クテーブル駆動モータ77に駆動されて中心軸(θ軸)
回りに回転する。
【0037】外周研削装置72は、外周モータ78に駆
動されて回転する外周スピンドル80を有しており、こ
の外周スピンドル80にウェーハWの外周を面取り加工
する外周研削砥石82が装着される。外周研削砥石82
はその外周面にウェーハWに要求される面取り形状に対
応した溝が形成されており(総形砥石)、この溝にウェ
ーハWの外周又はオリフラを押し当てることにより、外
周又はオリフラが面取り加工される。
【0038】ノッチ研削装置74は、ノッチモータ84
に駆動されて回転するノッチスピンドル86を有してお
り、このノッチスピンドル86にウェーハWのノッチを
面取り加工するノッチ研削砥石88が装着される。ノッ
チ研削砥石88は、その外周面にノッチに要求される面
取り形状に対応した溝が形成されており(総形砥石)、
この溝にウェーハWのノッチを押し当てることにより、
ノッチが面取り加工される。
【0039】前記のごとく構成された加工部18では、
次のようにしてウェーハWを面取り加工する。なお、ウ
ェーハWは、その外周部(円形の部分)と、オリフラ部
又はノッチ部を加工する場合では、それぞれ加工方法が
異なるので、それぞれの場合に分けて説明する。始め
に、ウェーハWの外周を面取り加工する場合について説
明する。まず、チャックテーブル76上にウェーハWを
載置し、その載置されたウェーハWをチャックテーブル
76で吸着保持する。次に、外周モータ78を駆動して
外周研削砥石82を高速回転させる。次に、チャックテ
ーブル76を外周研削砥石82に向けて移動させる。チ
ャックテーブル76が所定量移動することにより、ウェ
ーハWの外周が外周研削砥石82の溝に当接するので、
その位置でチャックテーブル76の移動を停止する。次
に、チャックテーブル駆動モータ77を駆動してチャッ
クテーブル76を回転させる。この結果、ウェーハWの
外周が外周研削砥石82に研削されて面取り加工され
る。
【0040】次に、ウェーハWのオリフラOFを面取り
加工する場合について説明する。まず、外周モータ78
を駆動して外周研削砥石82を高速回転させる。次に、
チャックテーブル76を外周研削砥石82に向けて移動
させる。これにより、オリフラの部分が外周研削砥石8
2の溝に当接するので、その位置でチャックテーブル7
6の移動を停止する。次に、チャックテーブル76をオ
リフラに沿って移動させる。これにより、ウェーハWの
オリフラが外周研削砥石82に研削されて面取り加工さ
れる。
【0041】次に、ウェーハWのノッチを面取り加工す
る場合について説明する。まず、ノッチモータ84を駆
動してノッチ研削砥石88を高速回転させる。次に、チ
ャックテーブル76をノッチ研削砥石88に向けて移動
させる。これにより、ノッチの部分がノッチ研削砥石8
8の溝に当接するので、その位置でチャックテーブル7
6の移動を停止する。次に、チャックテーブル76をノ
ッチの形状に沿って移動させる。すなわち、ノッチは通
常V字状に形成されているので、V字を描くようにチャ
ックテーブル76を移動させる。これにより、ウェーハ
Wのノッチがノッチ研削砥石88に研削されて面取り加
工される。
【0042】次に、洗浄部20の構成について説明す
る。洗浄部20では面取り加工されたウェーハW、及び
ドレッシングを実施したドレッシング工具1の洗浄を行
う。この洗浄部20は、図6及び図7に示すように、ス
ピン洗浄装置90とウェーハ昇降装置92とから構成さ
れている。スピン洗浄装置90は、ウェーハW又はドレ
ッシング工具1をスピン洗浄する。ウェーハW又はドレ
ッシング工具1は、洗浄テーブル94に吸着保持されて
回転し、この回転するウェーハW又はドレッシング工具
1に向けて図示しないノズルから洗浄液が噴射されてウ
ェーハW又はドレッシング工具1が洗浄される。また、
洗浄が終了したウェーハW又はドレッシング工具1は、
回転されたままエアが噴射されて乾燥される。
【0043】ウェーハ昇降装置92は、スピン洗浄装置
90によって洗浄・乾燥されたウェーハW又はドレッシ
ング工具1を昇降移動自在な昇降アーム96によって所
定高さの位置まで搬送する。このウェーハ昇降装置92
の昇降アーム96は、先端下部に吸着パッド98を備え
ており、この吸着パッド98でウェーハW又はドレッシ
ング工具1の上面を真空吸着してウェーハW又はドレッ
シング工具1を保持する。
【0044】次に、加工搬送部22の構成について説明
する。加工搬送部22は、測定部16と加工部18との
間、加工部18と洗浄部20との間、及び、洗浄部20
と測定搬送部14との間のウェーハW又はドレッシング
工具1の搬送を行う。この搬送部22は、図6及び図7
に示すように、供給用トランスファー100と回収用ト
ランスファー102とから構成されている。
【0045】供給用トランスファー100は、測定部1
6の前測定装置46で前測定されたウェーハW又はドレ
ッシング工具1を加工部18のチャックテーブル76に
搬送する。この供給用トランスファー100は、水平ガ
イド104に沿って移動する供給用水平スライドブロッ
ク106と、その供給用水平スライドブロック106上
に旋回及び上下動自在に設けられた供給用トランスファ
ーアーム108とから構成されている。
【0046】供給用トランスファーアーム108は、先
端下部に吸着パッド110を備えており、この吸着パッ
ド110でウェーハW又はドレッシング工具1の上面を
真空吸着して保持する。回収用トランスファー102
は、加工部18で面取り加工されたウェーハW又はドレ
ッシング工具1を洗浄部20の洗浄テーブル94上に搬
送するとともに、洗浄部20で洗浄・乾燥されたウェー
ハW又はドレッシング工具1を測定搬送部14の測定搬
送ロボット40に搬送する。この回収用トランスファー
102は、水平ガイド104に沿って移動する回収用水
平スライドブロック112と、その回収用水平スライド
ブロック112上に上下動自在に設けられた回収用トラ
ンスファーアーム116とから構成されている。
【0047】回収用トランスファーアーム116は、先
端下部に第1吸着パッド118を有するとともに、先端
上部に一対の第2吸着パッド120、120を有してい
る。加工部18で面取り加工されたウェーハW、又は加
工部18でドレッシングを実施したドレッシング工具1
は、その上面部を第1吸着パッド118に吸着保持され
て洗浄部20の洗浄テーブル94上に搬送される。ま
た、洗浄部20で洗浄・乾燥されたウェーハW又はドレ
ッシング工具1は、その下面部を第2吸着パッド120
に吸着保持されて測定搬送部14の測定搬送ロボット4
0に搬送される。
【0048】なお、回収用トランスファー116と供給
用トランスファー108とは、互いに抵触しないように
上下方向に所定の間隔をもって配設されている。したが
って、回収用トランスファー116の第1吸着パッド1
18と第2吸着パッド120は、供給用トランスファー
108の吸着パッド110の真下に位置することができ
るようにされている。
【0049】以上のように構成された加工搬送部22で
は、その供給用トランスファーアーム108と回収用ト
ランスファーアーム116が、図10に示すように、
『ウェーハ受取位置』、『加工部受渡位置』、『待機位
置』及び『洗浄部受渡位置』の間を移動してウェーハW
の搬送を行う。なお、具体的な搬送方法については後に
詳述する。
【0050】次に、ドレッシング工具収納部24の構成
について説明する。ドレッシング工具収納部24はドレ
ッシング工具1を収納する。このドレッシング工具収納
部24は、図6及び図7に示すように、カセットテーブ
ル122を有しており、このカセットテーブル122上
にドレッシング工具1が複数収納されたドレッシング工
具収納用カセット124がセットされる。ドレッシング
工具1は、測定搬送部14の測定搬送ロボット40によ
ってドレッシング工具収納用カセット124から取り出
される。また、ドレッシングを終えたドレッシング工具
1は、測定搬送ロボット40によってドレッシング工具
収納用カセット124に収納される。
【0051】前記のごとく構成された本実施の形態のウ
ェーハ面取り装置10の作用は次の通りである。まず、
通常運転モード、すなわち、ウェーハWを面取り加工す
る場合について説明する。なお、以下の説明ではノッチ
付きウェーハWを面取り加工する場合について説明す
る。
【0052】図6に示すように、まず、供給回収ロボッ
ト34が1台のウェーハカセット30から1枚のウェー
ハWを取り出す。そして、その取り出したウェーハWを
測定搬送ロボット40の第2搬送アーム42Bに受け渡
す。なお、このウェーハWの受け渡しは、次のように行
われる。初期状態において、測定搬送ロボット40の搬
送アーム42A、42Bは、所定の待機位置(図6に示
す位置)に位置して待機している。供給回収ロボット3
4の搬送アーム36は、ウェーハカセット30からウェ
ーハWを取り出すと、所定のウェーハ受渡位置(図6に
示す位置)に移動する。
【0053】供給回収ロボット34の搬送アーム36が
ウェーハ受渡位置に移動すると、この供給回収ロボット
34の搬送アーム36に対向するように測定搬送ロボッ
ト40の搬送アーム42A、42Bが所定量旋回する。
そして、この旋回した測定搬送ロボット40の搬送アー
ム42A、42Bに対して供給回収ロボット34の搬送
アーム36が所定量前進し、測定搬送ロボット40の第
2搬送アーム42BにウェーハWを受け渡す。
【0054】ウェーハWを受け渡した供給回収ロボット
34の搬送アーム36は所定量後退する。一方、測定搬
送ロボット40の搬送アーム42A、42Bは所定量旋
回して、元の待機位置に復帰する。これにより、ウェー
ハWの受け取りが完了する。この状態において、測定搬
送ロボット40の搬送アーム42A、42Bは、前測定
装置46の厚さ測定センサ54と対向するように位置す
る。
【0055】ウェーハWを受け取った測定搬送ロボット
40は、搬送アーム42A、42Bを前進させて、ウェ
ーハWを前測定装置46に搬送する。そして、この搬送
過程でプリセンタリングセンサ52を通過することによ
り、ウェーハWの概略中心位置が測定される。前測定装
置46に搬送されたウェーハWは、まず、厚さセンサ5
4によって中心部の厚さが測定される。そして、その測
定後、測定テーブル50に受け渡される。ウェーハWを
受け渡した測定搬送ロボット40の搬送アーム42A、
42Bは後退して測定テーブル50上から退避する。
【0056】一方、ウェーハWが受け渡された測定テー
ブル50は、ウェーハWを回転させ、この回転するウェ
ーハWに対して、プリアライメントセンサ56がノッチ
の概略位置を測定するとともに、ファインアライメント
センサ58がウェーハWの直径を測定し、ウェーハ中心
位置を正確に求める。また、これと同時に厚さセンサ5
4がウェーハWの外周部の厚さを測定する。
【0057】以上の各測定が終了すると、測定テーブル
50が回転を一時停止する。そして、プリアライメント
センサ58の測定結果に基づいて所定量回転し、ノッチ
を所定のノッチ測定位置に位置させる。ノッチがノッチ
測定位置に位置すると、測定テーブル50がゆっくりと
ウェーハWを回転させる。そして、その回転するウェー
ハWに対してファインアライメントセンサ58がノッチ
位置を正確に測定する。また、これと同時にノッチ深さ
を測定する。測定終了後、測定テーブル50は回転を停
止する。
【0058】以上により、ウェーハWの前測定が終了す
る。そして、この測定結果に基づいてウェーハWの位置
決めが行われる。位置決めは、次のようにして行われ
る。まず、測定テーブル50を所定量回転させてノッチ
を所定方向に向ける。なお、ノッチの位置は前測定の結
果から知ることができるので、測定テーブル50の回転
量は、この前測定の測定結果に基づいて決定する。
【0059】次に、チャックテーブル76を所定の原点
位置からX−Y方向に所定量移動させる。これは、次述
する供給用トランスファーアーム108によってウェー
ハWを測定テーブル50からチャックテーブル76に搬
送した際に、チャックテーブル76の中心とウェーハW
の中心が一致するようにするためである。ここで、原点
位置は次のように設定されている。すなわち、中心が測
定テーブル50の中心と一致しているウェーハWを供給
用トランスファーアーム108によってチャックテーブ
ル76に搬送した場合に、チャックテーブル76の中心
とウェーハWの中心とが一致する位置にチャックテーブ
ル76の原点位置は設定されている。
【0060】なお、ウェーハWの中心位置は、前測定の
結果から知ることができるので、チャックテーブル76
の移動量は、この前測定の測定結果に基づいて決定す
る。以上によりウェーハWの位置決めが終了する。そし
て、この位置決め終了後、測定テーブル50からチャッ
クテーブル76にウェーハWが搬送される。搬送は、次
のように行われる。
【0061】上記の位置決め中、供給用トランスファー
アーム108は、図10に示すウェーハ受取位置に位置
して待機している。一方、回収用トランスファーアーム
116は待機位置で待機している。位置決めが終了する
と、供給用トランスファーアーム108が時計回りの方
向に90°旋回する。これにより、図10に2点破線で
示すように、供給用トランスファーアーム108の吸着
パッド110が、測定テーブル50の上方に位置する。
供給用トランスファーアーム108は所定量下降して測
定テーブル50上のウェーハWを受け取り、その後再び
所定量上昇する。そして、反時計回りの方向に90°旋
回してウェーハ受取位置に復帰する。ウェーハ受取位置
に復帰した供給用トランスファーアーム108は、水平
ガイド104に沿ってスライド移動することにより、図
10に示す加工部受渡位置に移動する。
【0062】加工部受渡位置には、前記のごとく所定位
置に位置決めされたチャックテーブル76が待機してい
るので、供給用トランスファーアーム108は所定量下
降して、チャックテーブル76にウェーハWを受け渡
す。ウェーハWを受け渡した供給用トランスファーアー
ム108は、再び所定量上昇し、その後、水平ガイド1
04に沿ってスライド移動することにより、再びウェー
ハ受渡位置に移動する。
【0063】一方、チャックテーブル76は、その受け
渡されたウェーハWを真空吸着によって吸着保持する。
ここで、チャックテーブル76に保持されたウェーハW
は、上述した位置決め操作によって、その中心がチャッ
クテーブル76の中心と一致した状態で保持されるとと
もに、ノッチが所定方向に位置した状態で保持される。
したがって、改めて位置決めする必要がなく、そのまま
加工を開始することができる。加工部18は、チャック
テーブル76でウェーハWを吸着保持したのち、そのウ
ェーハWの面取り加工を開始する。
【0064】ここで、加工部18がウェーハWの面取り
加工を行っているうちに、測定部16の前測定装置46
では、次に加工部18で面取り加工するウェーハWの前
測定をあらかじめ行っておく。また、これと同時に回収
用トランスファーアーム116が加工部受渡位置に移動
して待機している。加工部18で一連の面取り加工(外
周とノッチの面取り加工)が終了すると、チャックテー
ブル76は加工部受渡位置に移動する。チャックテーブ
ル76は加工部受渡位置に移動すると、既に待機してい
た回収用トランスファーアーム116が所定量下降し
て、チャックテーブル76からウェーハWを受け取り上
昇する。回収用トランスファーアーム116は、この
後、水平ガイド104に沿ってスライド移動することに
より、図10に示す洗浄部受渡位置に移動する。
【0065】洗浄部受渡位置に移動した回収用トランス
ファーアーム116は、そこで所定距離下降して、スピ
ン洗浄装置90の洗浄テーブル94にウェーハWを受け
渡す。そして、受け渡したのち、再び所定距離上昇し、
その後、水平ガイド104に沿ってスライド移動するこ
とにより、図10に示す待機位置に移動する。一方、ウ
ェーハWを受け取ったスピン洗浄装置90は、回収用ト
ランスファーアーム116の上昇後、そのウェーハWの
洗浄・乾燥を開始する。
【0066】ここで、上記のようにスピン洗浄装置90
においてウェーハWの洗浄・乾燥が行われている間、上
記同様の工程を経て次に面取りされるウェーハWが加工
部18に供給される。そして、そのウェーハWの面取り
加工が行われる。すなわち、加工部18と洗浄部20に
おいて同時にウェーハWの処理が行われる。スピン洗浄
装置90でウェーハWの洗浄・乾燥が終了すると、ウェ
ーハ昇降装置92の昇降アーム96が所定量下降して、
洗浄テーブル94からウェーハWを受け取る。ウェーハ
Wを受け取った昇降アーム96は、ウェーハWを保持し
たまま所定量上昇して元の位置に復帰する。
【0067】一方、加工部18で次のウェーハWの面取
り加工が終了すると、上記同様の手順によって回収用ト
ランスファーアーム116が、そのウェーハWをチャッ
クテーブル76から受け取り、洗浄テーブル94に搬送
する。ここで、この洗浄テーブル94の上方には、先に
スピン洗浄装置90で洗浄されたウェーハWが、ウェー
ハ昇降装置92の昇降アーム96に保持された状態で待
機しているので、回収用トランスファーアーム116
は、加工部18から搬送したウェーハWをスピン洗浄装
置90に受け渡したのち、所定量上昇して、そのウェー
ハWを昇降アーム96から受け取る。この際、回収用ト
ランスファーアーム116は、その先端上部に設けられ
ている吸着パッド120、120でウェーハWの裏面を
吸着保持して受け取る。ウェーハWを受け取った回収用
トランスファーアーム116は所定量下降し待機位置に
移動する。
【0068】ここで、上記のように加工部18で面取り
加工されたウェーハWが回収用トランスファーアーム1
16によってスピン洗浄装置90に搬送されると、加工
部18では次に面取り加工するウェーハWのアライメン
トが行われる。そして、そのアライメントが終了する
と、供給用トランスファーアーム108が測定部16の
前測定装置46から加工部18のチャックテーブル76
にウェーハWを搬送する。加工部18では、チャックテ
ーブル76でウェーハWを受け取ったのち、ウェーハW
の面取り加工を開始する。
【0069】一方、ウェーハWをチャックテーブル76
に搬送した供給用トランスファーアーム108はウェー
ハ受取位置に移動する。これと同時に待機位置に位置し
ていた回収用トランスファーアーム116がウェーハ受
取位置に移動する。供給用トランスファーアーム108
と回収用トランスファーアーム116がウェーハ受取位
置に移動すると、測定搬送ロボット40の搬送アーム4
2A、42Bが時計回りの方向に90°旋回する。この
結果、測定搬送ロボット40の搬送アーム42A、42
Bが回収用トランスファーアーム116に保持されたウ
ェーハWと対向するように位置する。測定搬送ロボット
40の搬送アーム42A、42Bは、この後、回収用ト
ランスファーアーム116に保持されたウェーハWに向
かって所定量前進する。そして、第1搬送アーム42A
で、その回収用トランスファーアーム116に保持され
たウェーハWを受け取り、再び後退する。搬送アーム4
2A、42Bは、この後、反時計回りの方向に90°旋
回して元の位置に復帰する。
【0070】一方、ウェーハWを受け渡した回収用トラ
ンスファーアーム116は、水平ガイド104に沿って
スライド移動することにより加工部受渡位置に移動す
る。また、前測定装置46の測定テーブル50上には、
次に面取り加工するウェーハWが待機しており(位置決
め処理された状態で待機している。)、供給用トランス
ファーアーム108は、この測定テーブル50からウェ
ーハWを受け取る。そして、回収用トランスファーアー
ム116が加工の終了したウェーハWを回収した後、供
給用トランスファーアーム108が、その受け取ったウ
ェーハWを加工部18に搬送する。加工部18では、そ
の搬送されたウェーハWの面取り加工を行う。
【0071】さらに、供給回収部12では、供給回収ロ
ボット34が次に面取り加工するウェーハWをウェーハ
カセット30から取り出し、所定のウェーハ受渡位置で
待機している。供給用トランスファーアーム108が前
測定装置46から加工部18にウェーハWを搬送する
と、測定搬送ロボット40の搬送アーム42A、42B
は、この供給回収ロボット34の搬送アーム36に対向
するように所定量旋回する。そして、この旋回した測定
搬送ロボット40の搬送アーム42A、42Bに対して
供給回収ロボット34の搬送アーム36が所定量前進
し、測定搬送ロボット40の第2搬送アーム42Bにウ
ェーハWを受け渡す。
【0072】第2搬送アーム42BにウェーハWを受け
渡した供給回収ロボット34の搬送アーム36は、一度
所定量後退したのち所定量上昇する。そして、再び所定
量前進して測定搬送ロボット40の第1搬送アーム42
Aに保持されている面取り加工済のウェーハWを受け取
る。面取り加工済のウェーハWを受け取った供給回収ロ
ボット34の搬送アーム36は、所定量後退したのち所
定量旋回する。そして、そのウェーハWを取り出した時
と同じウェーハカセット30の位置に移動して、取り出
したときと同じ位置にウェーハWを収納する。
【0073】一方、新たに加工するウェーハWを受け取
った測定搬送ロボット40の搬送アーム42A、42B
は、所定量旋回したのち所定量前進して前測定装置46
にウェーハWを搬送する。通常運転モードによるウェー
ハWの処理は以上の通りであり、上記の工程を繰り返し
実施することにより、ウェーハカセット30内に収納さ
れているウェーハWを順次処理してゆくことができる。
【0074】ところで、ウェーハWの面取り加工は、上
述したように砥石による砥粒加工なので、処理枚数が増
えてゆくに連れて砥石(外周研削砥石82及びノッチ研
削砥石88)に目詰まり等が生じて砥石の切れ味が低下
してくる。そこで、定期的に砥石をドレッシングする必
要がある。以下に、この砥石をドレッシングする方法に
ついて説明する。
【0075】まず、オペレータはウェーハ面取り装置1
0の運転状態を通常運転モードからドレッシング実施モ
ードに切り換える。これにより、ウェーハWの処理が一
時停止し、次のようにしてドレッシングが実施される。
まず、測定搬送部14の測定搬送ロボット40(ドレッ
シング工具搬送手段に相当)が、ドレッシング工具収納
カセット124(ドレッシング工具収納手段に相当)か
らドレッシング工具1を取り出す。そして、そのドレッ
シング工具1を前測定装置46に搬送する。
【0076】前測定装置46は、そのドレッシング工具
1の中心位置とドレッシングストーン2の位置及び長さ
を測定し、アライメントを実施する。すなわち、ドレッ
シング工具1をチャックテーブル76上に移送した際、
ドレッシング工具1の中心がチャックテーブル76の中
心と一致するようにチャックテーブル76を移動させる
とともに、ドレッシングストーン2が所定のドレッシン
グ実施位置(外周研削砥石82と対向する位置)に位置
するように測定テーブル50を回転させる。
【0077】なお、前記測定の結果、ドレッシングスト
ーン2の長さが予め設定された使用限界長さ以下の場合
は(ドレッシングストーン2は使用により磨耗するの
で、徐々に短くなってゆく。)、測定搬送ロボット40
が当該ドレッシング工具1を測定テーブル50から回収
し、新たなドレッシング工具1と交換する。前記のごと
くアライメントが終了すると、供給用トランスファーア
ーム108(ドレッシング工具搬送手段に相当)が測定
テーブル50からチャックテーブル76にドレッシング
工具1を移送する。そして、ドレッシング工具1を移送
した供給用トランスファーアーム108は、ウェーハ受
取位置に移動する。
【0078】一方、ドレッシング工具1が移送されたチ
ャックテーブル76は、そのドレッシング工具1を吸着
保持する。ここで、チャックテーブル76に保持された
ドレッシング工具1は、上述したアライメントによっ
て、その中心がチャックテーブル76の中心と一致した
状態で保持されるとともに、ドレッシングストーン2が
所定のドレッシング実施位置(外周研削砥石82と対向
する位置)に位置した状態で保持される。
【0079】ドレッシング工具1がチャックテーブル7
6に保持されると、まず、外周研削砥石82とドレッシ
ングストーン2との高さ方向の位置合わせが行なわれ
る。次いで、外周研削砥石82が高速回転を開始し、こ
の高速回転する外周研削砥石82に向かってチャックテ
ーブル76が所定距離前進する。この結果、外周研削砥
石82の溝にドレッシングストーン2が当接しドレッシ
ングが行われる。
【0080】外周研削砥石82のドレッシングが終了す
ると、同様の方法でノッチ研削砥石88のドレッシング
が行われる。すなわち、まずノッチ研削砥石88の溝位
置とドレッシングストーン2との位置合わせが行なわれ
る。次いで、ノッチ研削砥石88が高速回転を開始し、
この高速回転するノッチ研削砥石88に向かってチャッ
クテーブル76が所定距離前進する。これにより、ノッ
チ研削砥石88の溝にドレッシングストーン2が当接
し、ノッチ研削砥石88がドレッシングされる。
【0081】外周研削砥石82とノッチ研削砥石88の
ドレッシングが終了すると、待機位置で待機していた回
収用トランスファーアーム116(第2ドレッシング工
具搬送手段に相当)が加工部受渡位置に移動して、チャ
ックテーブル76からドレッシング工具1を回収する。
そして、その回収したドレッシング工具1をスピン洗浄
装置90(ドレッシング工具洗浄手段に相当)に搬送す
る。搬送後、回収用トランスファーアーム116は再び
待機位置に移動する。
【0082】一方、ドレッシング工具1が搬送されたス
ピン洗浄装置90は、そのドレッシング工具1の洗浄を
行なう。すなわち、ドレッシング工具1を回転させなが
ら洗浄液を噴射してスピン洗浄する。一定時間洗浄が行
なわれた後、洗浄液の噴射が停止し、ドレッシング工具
1を回転させたままエアが噴射されてドレッシング工具
1は乾燥される。洗浄・乾燥が終了すると、ウェーハ昇
降装置92の昇降アーム96が所定量下降して、洗浄テ
ーブル94からドレッシング工具1を受け取る。昇降ア
ーム96は、そのまま所定量上昇して元の位置に復帰す
る。
【0083】昇降アーム96が所定量上昇して元の位置
に復帰すると、待機位置で待機していた回収用トランス
ファーアーム116が洗浄部受渡位置に移動する。そし
て、回収用トランスファーアーム116は所定量上昇し
て、昇降アーム96に保持されているドレッシング工具
1を受け取る。ドレッシング工具1を受け取った回収用
トランスファーアーム116は所定量下降し、その後、
ウェーハ受取位置に移動する。
【0084】回収用トランスファーアーム116がウェ
ーハ受取位置に移動すると、測定搬送ロボット40(第
2ドレッシング工具搬送手段に相当)が、その回収用ト
ランスファーアーム116に保持されているドレッシン
グ工具1を受け取る。測定搬送ロボット40は、その受
け取ったドレッシング工具1をドレッシング工具収納カ
セット124の元の位置(取り出したときと同じ位置)
に収納する。
【0085】ドレッシング工具1がドレッシング工具収
納カセット124に収納された段階でドレッシングが終
了する。そして、この終了と同時に運転状態がドレッシ
ング実施モードから通常運転モードに切り替わり、中断
していたウェーハWの加工処理が再開する。以上説明し
たように、本実施の形態のドレッシング工具1を用いた
自動ドレッシング機構をウェーハ面取り装置10に組み
込むことにより、人手を介さずに自動でドレッシングを
行なうことができる。これにより、外周研削砥石82と
ノッチ研削砥石88の切刃を常に良好な切れ味に保つこ
とができ、傷、欠けのない高精度な面取り加工を行なう
ことができるようになる。
【0086】また、本実施の形態のドレッシング工具1
はウェーハWとほぼ同じ形状に形成されているため、既
存のウェーハ搬送機構(測定搬送ロボット40や供給用
トランスファー100、回収用トランスファー102
等)を利用してドレッシング工具1の搬送を行なうこと
ができる。これにより、別途搬送機構を設置する必要が
なくなり、装置のコンパクト化を図ることができる。ま
た、洗浄機構(スピン洗浄装置90等)もウェーハ用の
ものと共用することができるので、別途洗浄機構を設け
る必要がなくなり、装置のコンパクト化を図ることがで
きる。
【0087】なお、装置のコンパクト化を考慮する必要
がない場合は、専用の搬送機構又は洗浄機構を別途設置
してもよい。また、各装置のレイアウトは、本実施の形
態のものに限定されるものではない。なお、本実施の形
態では、ドレッシング工具1はスピン洗浄装置90でス
ピン洗浄した後、ドレッシング工具収納カセット124
に収納するようにしているが、洗浄は行なわずにそのま
まドレッシング工具収納カセット124に収納するよう
にしてもよい。この場合、ドレッシングが収納すると、
回収用トランスファーアーム116がチャックテーブル
76からドレッシング工具1を回収し、そのまま測定搬
送ロボット40にドレッシング工具1を受け渡す。測定
搬送ロボット40は、その受け取ったドレッシング工具
1をドレッシング工具収納カセット124にそのまま収
納する。
【0088】また、本実施の形態では、オペレータがド
レッシング時期を判断して、運転状態を切り換えるよう
にしているが、所定枚数ウェーハWを処理したら自動的
にドレッシング実施モードに切り換わってドレッシング
を実施するように設定すれば、全自動で砥石のドレッシ
ングを行なうことができるようになる。また、ウェーハ
面取り装置10を次のように構成することにより、装置
側で自動的にドレッシング時期を判断してドレッシング
を実施することができるようになる。
【0089】一般に、砥石に目詰まりが生じると、その
目詰まり量に応じて研削抵抗が大きくなる。そこで、こ
の研削抵抗が所定の設定値に達したら、自動的にドレッ
シングを実施するように設定する。研削抵抗は直接測定
する方法もあるが、一般に研削抵抗が変化すると、それ
に応じてチャックテーブル駆動モータ77の電流値が変
化するので、この電流値の変化を利用する。すなわち、
チャックテーブル駆動モータ77の電流値は、研削抵抗
が加わるとチャックテーブル76を一定回転に保とうと
するため、研削抵抗に応じて増加する傾向にある。した
がって、このチャックテーブル駆動モータ77の電流値
が所定の設定値に達したら、自動的にドレッシングを実
施するように設定する。
【0090】図11は、上記のドレッシング判断機構の
構成図である。同図に示すように、チャックテーブル駆
動モータ77に電流を供給する配線130には電流計1
32(研削抵抗検出手段及び電流検出手段に相当)が設
置されている。この電流計132で検出されたチャック
テーブル駆動モータ77の電流値は制御装置134に出
力され、制御装置134は、この測定電流に基づいてド
レッシングの要否を判断する。すなわち、測定電流iが
予め設定した設定電流Iに達したら、運転状態を通常運
転モードからドレッシング実施モードに切り換えてドレ
ッシングを実施する。
【0091】このように、チャックテーブル駆動モータ
77の電流値の変化(研削抵抗の変化)からドレッシン
グの要否を判断することにより、常に最適な時期にドレ
ッシングを実施することができるようになる。これによ
り、必要以上にドレッシングを実施したり、あるいは必
要なときにドレッシングをしなかったりすることがなく
なる。また、これにより砥石を常に一定の切れ味に保つ
ことができるので、面取り加工されたウェーハWの精度
も安定する。
【0092】なお、上記の例ではチャックテーブル駆動
モータ77の電流値を測定して研削抵抗を検出するよう
にしているが、外周モータ78又はノッチモータ84の
電流値を測定して研削抵抗を検出するようにしても同様
である。この場合、図12に示すように、外周モータ7
8に電流を供給する配線136と、ノッチモータ84に
電流を供給する配線138にそれぞれ電流計140、1
42(研削抵抗検出手段及び電流検出手段に相当)を設
置する。そして、この電流計140、142の測定値を
制御装置134に出力するように構成する。制御装置1
34は、この電流計140、142の測定電流に基づい
てドレッシングの要否を判断する。
【0093】なお、砥石には外周研削砥石82とノッチ
研削砥石88があるが、個別にドレッシング時期を判断
してドレッシングを実施するようにしてよいし、また、
一方の研削抵抗が所定の設定値に達したら両方とも実施
するようにしてもよい。
【0094】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るドレ
ッシング工具によれば、個人差のない定量的なドレッシ
ングを簡単に実施することができる。また、本発明に係
るドレッシング工具を用いたドレッシング機構をウェー
ハ面取り装置に組み込むことにより、人手を介さずに安
全にドレッシングを実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】ドレッシング工具の構成を示す平面図
【図2】ドレッシング工具の構成を示す側面図
【図3】ドレッシング工具の組立図
【図4】ドレッシング工具を用いた砥石のドレッシング
方法の説明図
【図5】ドレッシング工具を用いた他の砥石のドレッシ
ング方法の説明図
【図6】ウェーハ面取り装置の全体構成を示す平面図
【図7】ウェーハ面取り装置の全体構成を示す斜視図
【図8】加工部の構成を示す側面図
【図9】加工部の構成を示す斜視図
【図10】加工搬送部の構成を示す平面図
【図11】ドレッシング判断機構の構成図
【図12】他のドレッシング判断機構の構成図
【符号の説明】
1…ドレッシング工具 2…ドレッシングストーン 3…ベースプレート 4…ホルダ 10…ウェーハ面取り装置 12…供給回収部 14…測定搬送部 16…測定部 18…加工部 20…洗浄部 22…加工搬送部 24…ドレッシング工具収納部 30…ウェーハカセット 34…供給回収ロボット 40…測定搬送ロボット 48…後測定装置 76…チャックテーブル 82…外周研削砥石 88…ノッチ研削砥石 90…スピン洗浄装置 108…供給トランスファーアーム 116…回収用トランスファーアーム 124…ドレッシング工具収納カセット 200…ウェーハ面取り装置 204…砥石 208…チャックテーブル W…ウェーハ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェーハ面取り装置のチャックテーブル
    に保持可能な基板と、 前記基板の外周部から突出して設けられ、ウェーハ面取
    り装置の砥石に当接されて該砥石をドレッシングするド
    レッシングストーンと、からなることを特徴とするウェ
    ーハ面取り装置のドレッシング工具。
  2. 【請求項2】 前記基板は、前記ウェーハ面取り装置で
    面取り加工するウェーハと同形状に形成されていること
    を特徴とする請求項1記載のウェーハ面取り装置のドレ
    ッシング工具。
  3. 【請求項3】 前記基板は前記ドレッシングストーンを
    保持するドレッシングストーン保持手段を備え、前記ド
    レッシングストーンは該ドレッシングストーン保持手段
    に着脱自在に取り付けられることを特徴とする請求項1
    記載のウェーハ面取り装置のドレッシング工具。
  4. 【請求項4】 回転する砥石と、チャックテーブルに保
    持されて回転するウェーハとを相対的に近づけて、該ウ
    ェーハの周縁を面取り加工するウェーハ面取り装置のド
    レッシング機構において、 該ドレッシング機構は、 前記チャックテーブルで保持可能な基板と、該基板の外
    周部から突出して設けられ、前記砥石に当接されて該砥
    石をドレッシングするドレッシングストーンと、からな
    るドレッシング工具と、 前記ドレッシング工具が収納されるドレッシング工具収
    納手段と、 前記ドレッシング工具収納手段から前記ドレッシング工
    具を前記チャックテーブルに搬送するとともに、該チャ
    ックテーブルから前記ドレッシング工具を前記ドレッシ
    ング工具収納手段に搬送するドレッシング工具搬送手段
    と、からなり、前記ドレッシング工具搬送手段によって
    前記ドレッシング工具を前記チャックテーブルに搬送
    し、該ドレッシング工具で前記砥石をドレッシングした
    のち、前記ドレッシング工具搬送手段によって前記ドレ
    ッシング工具を前記チャックテーブルから前記ドレッシ
    ング工具収納手段に搬送することを特徴とするウェーハ
    面取り装置のドレッシング機構。
  5. 【請求項5】 前記ドレッシング機構は前記ウェーハの
    研削抵抗を検出する研削抵抗検出手段を備え、該研削抵
    抗検出手段の検出値が予め設定した研削抵抗に達する
    と、前記砥石のドレッシングを実施することを特徴とす
    る請求項4記載のウェーハ面取り装置のドレッシング機
    構。
  6. 【請求項6】 前記研削抵抗検出手段は、前記砥石を回
    転駆動する砥石駆動モータの電流値又は前記チャックテ
    ーブルを回転駆動するチャックテーブル駆動モータの電
    流値を検出する電流検出手段であって、該電流検出手段
    の電流値が予め設定した電流値に達すると、前記ドレッ
    シング機構が前記砥石のドレッシングを実施することを
    特徴とする請求項5記載のウェーハ面取り装置のドレッ
    シング機構。
  7. 【請求項7】 前記ドレッシング機構は、 前記ドレッシング工具を洗浄するドレッシング工具洗浄
    手段と、 前記チャックテーブルから前記ドレッシング工具を前記
    ドレッシング工具洗浄手段に搬送するとともに、前記ド
    レッシング工具洗浄手段から前記ドレッシング工具を前
    記ドレッシング工具収納手段に搬送する第2ドレッシン
    グ工具搬送手段と、を備え、ドレッシングを実施した前
    記ドレッシング工具を前記第2ドレッシング工具搬送手
    段によって前記チャックテーブルから前記ドレッシング
    工具洗浄手段に搬送し、該ドレッシング工具洗浄手段に
    よって前記ドレッシング工具を洗浄したのち、前記第2
    ドレッシング工具搬送手段によって前記ドレッシング工
    具を前記ドレッシング工具洗浄手段から前記ドレッシン
    グ工具収納手段に搬送することを特徴とする請求項4、
    5又は6記載のウェーハ面取り装置のドレッシング機
    構。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI694896B (zh) * 2015-07-30 2020-06-01 日商迪思科股份有限公司 研磨裝置
CN113226639A (zh) * 2018-11-19 2021-08-06 胜高股份有限公司 硅晶片的螺旋倒角加工方法

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