JP2000111482A - ゴム製品の検査方法及び装置 - Google Patents

ゴム製品の検査方法及び装置

Info

Publication number
JP2000111482A
JP2000111482A JP10278648A JP27864898A JP2000111482A JP 2000111482 A JP2000111482 A JP 2000111482A JP 10278648 A JP10278648 A JP 10278648A JP 27864898 A JP27864898 A JP 27864898A JP 2000111482 A JP2000111482 A JP 2000111482A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
rubber
rubber product
image
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10278648A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3330089B2 (ja
Inventor
Masamichi Sudo
真通 須藤
Moriaki Sudo
盛皓 須藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daikyo Seiko Ltd
Original Assignee
Daikyo Seiko Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daikyo Seiko Ltd filed Critical Daikyo Seiko Ltd
Priority to JP27864898A priority Critical patent/JP3330089B2/ja
Priority to CA002273833A priority patent/CA2273833C/en
Priority to US09/329,390 priority patent/US6628379B1/en
Priority to EP99111427A priority patent/EP0990891B1/en
Priority to DK99111427.3T priority patent/DK0990891T3/da
Publication of JP2000111482A publication Critical patent/JP2000111482A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3330089B2 publication Critical patent/JP3330089B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 加硫成形するゴム製品の内部欠陥を検査でき
る検査方法及び装置を得る。 【構成】 ゴム製品は透光性のゴム材料からなること;
この透光性ゴム製品に光を照射し、該ゴム製品を透過し
た光を撮像するステップ;及びこの透過光の像から、ゴ
ム製品の内部欠陥の有無を判定するステップ;を有する
ゴム製品の検査方法。反射光による表面欠陥の有無の検
査方法も併用できる。本発明方法を簡単名装置構成で実
施できる検査装置を合わせて提案する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は、医薬品用ゴム栓、医療用具用ゴ
ム栓、あるいはゴムシートのようなゴム製品の欠陥を検
査する方法及び装置に関する。
【0002】
【従来技術およびその問題点】医療用具用や医薬品用の
ゴム栓は、異物汚染を防止する安全衛生上の要求から、
その外観の傷や汚れ等の表面欠陥だけでなく、内部に異
物が埋め込まれている等の内部欠陥も問題とされてい
る。表面欠陥は、非能率である点を除けば、目視検査で
も検出可能であるが、内部欠陥は目視検査では検出でき
ない。
【0003】
【発明の目的】本発明は、ゴム製品の内部欠陥を検査で
きる検査方法及び装置を得ることを目的とする。また、
本発明は、ゴム製品の内部欠陥と表面欠陥を同時に検査
できる検査方法及び装置を得ることを目的とする。
【0004】
【発明の概要】本発明は、加硫成形するゴム製品の内部
欠陥を検査する方法の態様においては、ゴム製品は透光
性のゴム材料からなること;この透光性ゴム製品に光を
照射し、該ゴム製品を透過した光を撮像するステップ;
及びこの透過光の像から、ゴム製品の内部欠陥の有無を
判定するステップ;を有することを特徴としている。
【0005】また本発明は、ゴム製品の内部欠陥だけで
なく表面欠陥を検査する方法の態様においては、ゴム製
品は透光性のゴム材料からなること;この透光性ゴム製
品に光を照射し、該ゴム製品を透過した光を撮像するス
テップ;この透光性ゴム製品に光を照射し、該ゴム製品
で反射した光を撮像するステップ;透過光の像から、ゴ
ム製品の内部欠陥の有無を判定するステップ;及び反射
光の像から、ゴム製品の表面欠陥の有無を判定するステ
ップ;を有することを特徴としている。
【0006】本発明は、装置の態様においては、透光性
ゴム材料を加硫成形したゴム製品を載置する透光性テー
ブル;この透光性テーブルの上下にそれぞれ配置された
透過光用照明光源と反射光用照明光源;及び透光性テー
ブルの反射光用照明光源の側に配置された、透過光用照
明光源で照明されゴム製品を透過した光束、及び反射光
用照明光源で照明されゴム製品で反射した光束を撮像す
るCCDカメラ;を備えたことを特徴としている。この
装置によれば、反射光用、透過光用の照明光源に対し、
CCDカメラを共通に用いることができ、装置構成を簡
単にすることができる。この装置では、透過光用照明光
源と反射光用照明光源は、タイミングをずらせてオンす
るのが実際的である。勿論、透過光用、反射光用の照明
光源は、CCDカメラに感度を有する光であれば、可視
光でなくともよい。
【0007】本発明方法及び装置では、透光性ゴム材料
からなるゴム製品は全て検査可能であるが、少なくと
も、透光性ゴム材料からなる医療用具用ゴム栓、医薬品
用ゴム栓、あるいはゴムシートを検査することができ
る。
【0008】
【発明の実施形態】図示実施形態は、透光性ゴム材料か
らなるゴム製品として、基板11上に、該基板11と一
体に加硫成形した多数の医療用具用あるいは医薬品用の
ゴム栓12を例示している。透光性ゴム材料は、各種知
られているが、これらから医療用具用あるいは医薬品用
として適したものを適宜使用する。基板11及びゴム栓
12を形成するゴム材料には、無機系の補強剤や着色剤
を使用することがあるが、透光性を高めるため、これら
は使用しないことが望ましい。
【0009】多数のゴム栓12を有する基板11は、基
板11を下方にして、透光性テーブル13上に載置され
る。透光性テーブル13は、光を照射したときゴム栓1
2に均等に照射光を当てることができるものであれば、
形態は問わない。また、透光性テーブル13が移動可能
であるか否かも問わない。
【0010】この透光性テーブル13の上下にはそれぞ
れ、反射光用照明光源20と、透過光用照明光源21と
が配置されている。この反射光用と透過光用の照明光源
20と21はそれぞれ、図示例では、環状で中心部が空
間のリングライトからなっており、反射光用照明光源2
0の中心中空部には、CCDカメラ30が設けられてい
る。このCCDカメラ30は、反射光用照明光源20を
出て、基板11及びゴム栓12で反射した反射光と、透
過光用照明光源21を出て、基板11及びゴム栓12を
透過した透過光とをそれぞれ受光できるように配置され
ている。CCDカメラ30は、画像判定回路31に接続
され、画像判定回路31には欠陥表示装置32が接続さ
れている。画像のパターン認識に用いるCCDカメラ3
0自体は周知である。
【0011】上記構成の本装置は、反射光用と透過光用
の照明光源20と21をタイミングをずらせてオンし
(発光させ)、CCDカメラ30で撮像し、画像判定回
路31で画像判定を行うことにより、ゴム栓12の表面
欠陥と内部欠陥を検査することができる。すなわち、図
2に示すように、反射光用照明光源20を発光させて照
明光を基板11及びゴム栓12に当て、基板11及びゴ
ム栓12で反射した光をCCDカメラ30で撮像するス
テップと、図1に示すように、透過光用照明光源21を
発光させて照明光を基板11及びゴム栓12に当て、基
板11及びゴム栓12を透過した光をCCDカメラ30
で撮像するステップとをタイミングを異ならせて実行す
る。
【0012】画像判定回路31には、予め、表面欠陥も
内部欠陥もない基板11とゴム栓12を用いた反射光に
よる像(反射光無欠陥像)と、透過光による像(透過光
無欠陥像)とをそれぞれ記憶しておく。画像判定回路3
1は、図3に模式的に示すように、この反射光無欠陥像
40と、検査のために撮像した反射光によるゴム栓12
の反射光検査像40X、及び透過光無欠陥像41と、検
査のために撮像した透過光によるゴム栓12の透過光検
査像41Xとをそれぞれ比較し、パターン認識技術によ
って、欠陥の有無を判定する。例えば、反射光検査像4
0Xまたは透過光検査像41Xに、図3に示す欠陥X
X、YYが存在すれば、そのゴム栓12は表面欠陥、ま
たは内部欠陥があるとして、欠陥表示装置32により表
示される。このようなパターン認識技術自体は、確立さ
れている。
【0013】以上の検査結果に基づき、表面欠陥、内部
欠陥ともに存在しないと判断されたゴム栓12は、次の
ステージで、基板11から切断分離され、製品となる。
欠陥が存在すると判定されたゴム栓12は、廃棄処分に
される。
【0014】欠陥の表示は、表面欠陥、内部欠陥の別に
表示することも、別なく表示することも可能である。表
面欠陥、内部欠陥のいずれかが存在すると、そのゴム栓
12は上述のように、通常は廃棄処分されるから、別に
表示する必要はないが、例えば、いずれかの欠陥、例え
ば表面欠陥が修復可能であれば、別に表示することがで
きる。別に表示すれば、ゴム栓の加硫成形ラインのどこ
に欠陥があるかを知るための一助とすることができる。
【0015】以上は、最も簡単な装置構成を例に本発明
を説明したものであるが、種々の発展形が可能である。
例えば、CCDカメラ30によるゴム栓12の撮像を透
光性テーブル13を移動させながら行う、1回の撮像で
複数のゴム栓12を撮像する、欠陥を有するゴム栓12
にプリンタで印字する、欠陥を有するゴム栓12を次の
ステージで基板11から切断除去し、次のステップで良
品を切断する、等である。
【0016】また、基板11とゴム栓12の透過特性、
反射特性によっては、反射光用と透過光用の照明光源2
0と21の発振波長を異ならせてもよい。
【0017】以上の実施形態では、基板11側の表面欠
陥は検査していない。基板11の表面(図1、図2の裏
面)の表面欠陥も問題とする場合には、該表面に反射光
用光源からの光を当て、その反射光をCCDカメラで撮
像して同様の画像判定を行えばよい。
【0018】
【発明の効果】本発明方法によれば、ゴム製品の内部欠
陥を検査することができる。また、同時に表面欠陥も検
査することができるので、トータルな検査が可能であ
る。本発明装置によれば、本発明方法を簡単な装置構成
で実行することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるゴム製品の検査方法及び装置を示
す概念図である。
【図2】図1の装置による別の検査ステップを示す概念
図である。
【図3】透過光画像(または反射光画像)と正常画像と
のサンプル例を示す模式図である。
【符号の説明】
11 基板 12 ゴム栓 13 透光性テーブル 20 反射光用照明光源 21 透過光用照明光源 30 CCDカメラ 31 画像判定回路 32 欠陥表示装置 40 反射光無欠陥像 40X 反射光検査像 41 透過光無欠陥像 41X 透過光検査像

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 加硫成形するゴム製品の内部欠陥を検査
    する方法であって、上記ゴム製品は透光性のゴム材料か
    らなること; この透光性ゴム製品に光を照射し、該ゴム製品を透過し
    た光を撮像するステップ;及びこの透過光の像から、ゴ
    ム製品の内部欠陥の有無を判定するステップ;を有する
    ことを特徴とするゴム製品の検査方法。
  2. 【請求項2】 加硫成形するゴム製品の表面欠陥及び内
    部欠陥を検査する方法であって、 上記ゴム製品は透光性のゴム材料からなること;この透
    光性ゴム製品に光を照射し、該ゴム製品を透過した光を
    撮像するステップ;この透光性ゴム製品に光を照射し、
    該ゴム製品で反射した光を撮像するステップ;上記透過
    光の像から、ゴム製品の内部欠陥の有無を判定するステ
    ップ;及び上記反射光の像から、ゴム製品の表面欠陥の
    有無を判定するステップ;を有することを特徴とするゴ
    ム製品の検査方法。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の検査方法におい
    て、ゴム製品は、医薬品用ゴム栓、医療用具用ゴム栓ま
    たはゴムシートであるゴム製品の検査方法。
  4. 【請求項4】 透光性ゴム材料を加硫成形したゴム製品
    を載置する透光性テーブル;この透光性テーブルの上下
    にそれぞれ配置された透過光用照明光源と反射光用照明
    光源;及び上記透光性テーブルの反射光用照明光源の側
    に配置された、上記透過光用照明光源で照明されゴム製
    品を透過した光束、及び反射光用照明光源で照明されゴ
    ム製品で反射した光束を撮像するCCDカメラ;を備え
    たことを特徴とするゴム製品の検査装置。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の検査装置において、透過
    光用照明光源と反射光用照明光源は、タイミングをずら
    せてオンされるゴム製品の検査装置。
  6. 【請求項6】 請求項4または5記載の検査装置におい
    て、ゴム製品は、医薬品用ゴム栓、医療用具用ゴム栓ま
    たはゴムシートであるゴム製品の検査装置。
JP27864898A 1998-09-30 1998-09-30 ゴム製品の検査方法及び装置 Expired - Lifetime JP3330089B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27864898A JP3330089B2 (ja) 1998-09-30 1998-09-30 ゴム製品の検査方法及び装置
CA002273833A CA2273833C (en) 1998-09-30 1999-06-09 Method and apparatus for inspection of rubber product
US09/329,390 US6628379B1 (en) 1998-09-30 1999-06-10 Method and apparatus for inspection of rubber product
EP99111427A EP0990891B1 (en) 1998-09-30 1999-06-11 Method for inspection of rubber product
DK99111427.3T DK0990891T3 (da) 1998-09-30 1999-06-11 Fremgangsmåde til inspektion af et gummiprodukt

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27864898A JP3330089B2 (ja) 1998-09-30 1998-09-30 ゴム製品の検査方法及び装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000111482A true JP2000111482A (ja) 2000-04-21
JP3330089B2 JP3330089B2 (ja) 2002-09-30

Family

ID=17600216

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27864898A Expired - Lifetime JP3330089B2 (ja) 1998-09-30 1998-09-30 ゴム製品の検査方法及び装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6628379B1 (ja)
EP (1) EP0990891B1 (ja)
JP (1) JP3330089B2 (ja)
CA (1) CA2273833C (ja)
DK (1) DK0990891T3 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004219122A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Dainippon Printing Co Ltd 異物不良の検査装置および検査方法
JP2008096310A (ja) * 2006-10-12 2008-04-24 Asahi Rubber:Kk ゴム成形体のスリット検査装置及びゴム成形体のスリット検査方法
JP2018146239A (ja) * 2017-03-01 2018-09-20 Hoya株式会社 欠陥検査装置、および欠陥検査装置の製造方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10126185B4 (de) * 2001-05-30 2007-07-19 Robert Bosch Gmbh Prüfkörper für optoelektronische Bildanalysesysteme
US6532064B1 (en) * 2001-10-16 2003-03-11 Baader-Canpolar Inc. Automatic inspection apparatus and method for simultaneous detection of anomalies in a 3-dimensional translucent object
US7142295B2 (en) * 2003-03-05 2006-11-28 Corning Incorporated Inspection of transparent substrates for defects
US7339664B2 (en) * 2004-09-29 2008-03-04 General Electric Company System and method for inspecting a light-management film and method of making the light-management film
US7551274B1 (en) * 2007-02-28 2009-06-23 Lite Sentry Corporation Defect detection lighting system and methods for large glass sheets
US20100195096A1 (en) * 2009-02-04 2010-08-05 Applied Materials, Inc. High efficiency multi wavelength line light source
JP4796160B2 (ja) * 2009-02-27 2011-10-19 三菱重工業株式会社 薄膜の検査装置及び検査方法
CN101532958B (zh) * 2009-04-28 2010-08-18 南京航空航天大学 基于光电传感器的浓缩乳胶中干胶含量测量方法及系统
TWI484164B (zh) * 2012-05-11 2015-05-11 Machvision Inc Optical re - inspection system and its detection method
US10126247B2 (en) 2015-07-30 2018-11-13 Zeon Chemicals L.P. Rubber crumb inspection system
CN106442383B (zh) * 2016-09-13 2019-03-19 广西电网有限责任公司电力科学研究院 一种电力系统防污闪rtv涂料的老化程度实时监测方法
JP7370265B2 (ja) * 2020-01-30 2023-10-27 株式会社ディスコ 加工方法及び加工装置
DE102021101152A1 (de) 2021-01-20 2022-07-21 Lippert Gmbh & Co. Kg Verfahren zur optischen Detektion von Fehlern in keramischen Artikeln

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE279828C (ja)
US3715476A (en) * 1969-01-16 1973-02-06 Nippon Steel Corp Method and apparatus for detecting pinholes on sheet articles
JPS576307A (en) * 1980-06-13 1982-01-13 Toyota Central Res & Dev Lab Inc Method and apparatus of surface failure inspection of circular member
US4389575A (en) * 1980-07-03 1983-06-21 Sparton Corporation Fabric inspection system
JPS58190707A (ja) * 1982-04-30 1983-11-07 Toyoda Gosei Co Ltd 表面検査方法
DE3611574A1 (de) 1986-04-07 1987-10-08 Georg Markthaler Vorrichtung zur qualitaetskontrolle
JPS6383641A (ja) * 1986-09-29 1988-04-14 Hiyuutec:Kk 欠陥検査方法
DD279828A1 (de) * 1989-02-07 1990-06-20 Ottendorf Okrilla Presswerk Verfahren und vorrichtung zum erkennen von fehlern an pharmazeutischen stopfen
JP3031926B2 (ja) * 1989-09-28 2000-04-10 株式会社ロゼフテクノロジー ゴム製品などのワークの傷検査方法
JP3072998B2 (ja) * 1990-04-18 2000-08-07 株式会社日立製作所 はんだ付け状態検査方法及びその装置
US5197105A (en) * 1990-05-30 1993-03-23 Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Method of reading optical image of inspected surface and image reading system employabale therein
US5329133A (en) * 1991-03-06 1994-07-12 The Furukawa Electric Co., Ltd. Method of automatically determining flaws of an object of examination
JP2795595B2 (ja) * 1992-06-26 1998-09-10 セントラル硝子株式会社 透明板状体の欠点検出方法
FR2697086B1 (fr) 1992-10-20 1994-12-09 Thomson Csf Procédé et dispositif d'inspection de matériau transparent.
JP2910520B2 (ja) 1993-08-02 1999-06-23 住友電装株式会社 ゴム栓の検査装置
JPH07159348A (ja) * 1993-12-10 1995-06-23 Kirin Brewery Co Ltd 医薬品バイアル検査装置
US5666199A (en) * 1994-07-11 1997-09-09 Phillips Petroleum Company Apparatus and process for detecting the presence of gel defects in oriented sheets or films based on polarization detection
JP3178644B2 (ja) * 1995-02-10 2001-06-25 セントラル硝子株式会社 透明板状体の欠点検出方法
KR100532238B1 (ko) * 1997-03-10 2006-02-28 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 박판막 검사방법, 이에 사용되는 장치 및 검사시스템
DE29707985U1 (de) 1997-05-03 1997-07-24 Piller GmbH, 53894 Mechernich Vorrichtung zur optischen Untersuchung von Werkstücken
US5974167A (en) * 1997-06-30 1999-10-26 M.A.Hannarubbercompounding System and method for measuring and controlling the quality of dispersion of filler particles in rubber compounds
US6011620A (en) * 1998-04-06 2000-01-04 Northrop Grumman Corporation Method and apparatus for the automatic inspection of optically transmissive planar objects
JP2000346813A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Kanebo Ltd 物品の表面検査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004219122A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Dainippon Printing Co Ltd 異物不良の検査装置および検査方法
JP2008096310A (ja) * 2006-10-12 2008-04-24 Asahi Rubber:Kk ゴム成形体のスリット検査装置及びゴム成形体のスリット検査方法
JP2018146239A (ja) * 2017-03-01 2018-09-20 Hoya株式会社 欠陥検査装置、および欠陥検査装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CA2273833A1 (en) 2000-03-30
EP0990891B1 (en) 2012-07-11
US6628379B1 (en) 2003-09-30
EP0990891A1 (en) 2000-04-05
JP3330089B2 (ja) 2002-09-30
DK0990891T3 (da) 2012-10-22
CA2273833C (en) 2005-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6757420B2 (en) Inspection device for packages
JP3330089B2 (ja) ゴム製品の検査方法及び装置
JP4227272B2 (ja) 異なる波長の光を用いた物品の検査装置
CN101512322A (zh) 容器检测装置
JP2007064801A (ja) 照明装置及びこれを備えた外観検査装置
JP2006226724A (ja) ラベル検査方法およびその装置
CN107810408B (zh) 针对预成型件的检查设备
WO2016186018A1 (ja) 容器検査装置及び検査方法
JP2003107010A (ja) 透明容器等の充填液中の異物検出装置
CN111830053A (zh) 用于检查容器的透射光检查设备和透射光检查方法
EP1494009A1 (en) Container inspection machine
JP2004117103A (ja) 容器のラベル破れ検査装置
JP2000055816A (ja) 表面欠陥検査装置
EP1111375B1 (en) Inspection device for packages
US6046803A (en) Two and a half dimension inspection system
JP2004037130A (ja) 容器の検査方法
JP2018136268A (ja) プリフォームの胴部の検査装置及び検査方法
JP2004347525A (ja) 半導体チップ外観検査方法およびその装置
WO2024053671A1 (ja) 樹脂成形品の検査方法及び検査装置
JPH07286934A (ja) 液体充填容器の液漏れ検知方法
JP6744240B2 (ja) プリフォームの底部検査装置
JPH06160290A (ja) 異物検査方式および異物検査装置
JP2001272352A (ja) 欠陥検査装置
JP2005024542A (ja) 容器検査機
JPH10142161A (ja) ミラー傷検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020702

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080719

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080719

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100719

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100719

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110719

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110719

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120719

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120719

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130719

Year of fee payment: 11

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term