JP2000101932A

JP2000101932A - 画像処理装置、自動焦点検出装置、補正装置、補正方法及び記憶媒体

Info

Publication number: JP2000101932A
Application number: JP10269656A
Authority: JP
Inventors: Yasushi Noda; 裕史野田
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1998-09-24
Filing date: 1998-09-24
Publication date: 2000-04-07
Anticipated expiration: 2018-09-24
Also published as: US7283163B1; JP3927702B2

Abstract

(57)【要約】【課題】光電変換部から出力される信号に対してノイ
ズを除去することを課題とする。【解決手段】画素を含む光電変換部と、前記画素にお
ける任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報によって
前記画素からの信号に対してノイズ補正を行うノイズ補
正手段とを有する画像処理装置を提供する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、精度のよい信号を
得ることを目的とした画像処理装置、自動焦点検出装
置、補正装置、補正方法及び記録媒体に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、自動焦点検出や被写体等の撮影の
ための光電変換装置ノイズ除去方式として例えば、以下
のものがあった。

【０００３】カメラなどにおける自動焦点検出装置の構
成は、光束が測距光学系に入射し、複数のラインセンサ
が配置された光電変換装置上に像を結び、光電変換装置
の出力を測距検出装置（一般的には光電変換装置との入
出力制御プログラムと焦点検出演算プログラムを内蔵し
たマイクロプロセッサ）に入力して測距結果を得る、と
いうようになっている。

【０００４】従来の自動焦点検出装置に使用することが
できる光電変換装置のノイズ補正には、特開平９−２６
５４０のように、複数のラインセンサが被写体の異なる
部分を見る時、各ラインセンサの一部に光が当たらない
ような暗電流検出部を設けて暗電流分の補正量を求め、
ラインセンサの光量積分時間（蓄積時間）に応じて各ラ
インセンサごとに暗電流補正を行う、というラインセン
サにＣＣＤを用いた暗電流補正や、特開平１０−１９０
０３８のように、エリアセンサのそれぞれの画素で発生
した電荷を反転増幅して蓄積する時のゲインを決定する
負荷ＭＯＳトランジスタを出力線一本につき複数個設
け、センサのアンプＭＯＳトランジスタと組み合わせて
固定パターンノイズが最も小さくなる負荷ＭＯＳトラン
ジスタを選んで使用する、というハードウエア上の工夫
によって固定パターンノイズを低減させるというものが
あった。

【０００５】また、被写体等の撮影に使用できる光電変
換装置のノイズ補正として特開平６−２５３２１７のよ
うに、稼働時に光電変換装置に光束の入射がある状態と
ない状態が交互に生じることを利用して、光束の入射が
ない状態での光電変換装置の出力を記憶し、光束の入射
がある状態での出力との差をとることで暗電流成分の補
正を行うものがあった。

【０００６】ここで、暗電流とは光電変換装置への入射
光と関係なく蓄積時間に比例して生じる誤差出力のこと
を言い、固定パターンノイズとは入射光および蓄積時間
に関係なく光電変換装置の画素ごとに固有の誤差出力の
ことを言う。ここで、図１５に、上記で示した光電変換
装置の画素の違いや蓄積時間の変化に応じて暗電流と固
定パターンノイズがどのように変化するかを模式的に表
す。

【０００７】図１５の画素１〜画素ｎは光電変換装置の
画素を示す。横軸は蓄積時間を示す。縦軸は光電変換装
置の誤差出力を示す。固定パターンノイズは蓄積時間の
長短に関係なく一定の誤差を出力している。画素の違い
により、固定パターンノイズの大きさは異なる。暗電流
は蓄積時間が長い程大きくなる。蓄積時間に比例して増
加する暗電流の大きさは画素ごとに異なる。しかし蓄積
時間が０に近ければどの画素でも暗電流は無視できる程
小さくなる。

【０００８】また、図３に上記で示した光電変換装置の
画素毎の固定パターンノイズのレベルと不良チップと判
定される閾値レベルＦＰＮｓの関係を示す。ＦＰＮｓ
は、固定パターンノイズのバラツキが０からこの値の間
に収まっていないと、以降の処理に誤差が引き継がれ、
カメラのＡＦ動作によって写真撮影をしたときピンぼけ
が発生する可能性がある、という判定を行う基準とな
る。従来の焦点検出装置では光電変換装置の固定パター
ンノイズのバラツキがＦＰＮｓ以下であるものを選別し
て使用している。その結果画素間の固定パターンノイズ
のバラツキ範囲が狭く、固定パターンノイズについて
は、光源変換装置の複数の画素からなる画素列に対して
同一の補正値を用いて補正するだけで充分であった。例
えば図１５の従来例のように、画素間で固定パターンノ
イズは同一とみなせ、画素毎に異なる補正値を用意する
のは暗電流補正のみでよかった。

【０００９】又、その他被写体等を撮影するための光電
変換装置の１例として、従来以下のようなものが存在し
た。図１６において、まず回路構成について説明する。
５１は画素、５２は垂直走査回路、５３は画素からの光
信号と画素のノイズ信号が加わった信号を蓄積する容
量、５４は画素のノイズ信号を蓄積する容量、５５、５
６は画素からの信号を容量５３，５４に転送するための
転送MOSトランジスタ、５７，５８は、容量５３，５４
に蓄積された信号を水平出力線５９、６０に転送するた
めの転送MOSトランジスタ、６１は水平走査回路、６２
は２つの信号の差分を得るための差分回路である。

【００１０】次に動作について説明する。まず画素をリ
セットし、そしてリセット後のノイズ信号（N）をを容
量５４に転送する。次に、蓄積を行うことにより、画素
には光信号（S）にノイズ信号（N）が加わった信号が存
在していることになる。そしてその信号を容量５７に転
送する。容量５７には信号S＋Nが、容量５８には信号N
が蓄積されており、それらの信号を水平出力線５９、６
０にそれぞれ読み出す。最後に差分回路６２で、（S+
N）−Nが実行されノイズ信号Nが除去された、光信号Sの
みの信号が出力される。

【００１１】このような、ノイズ除去の方式は画素が１
次元に配列された光電変換装置でも従来行われている。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例で示したノイズ除去方式でもノイズの除去は可能で
あるが、高精度な信号が必要な場合に、十分でない場合
が生じる。そこで本発明では、さらに高精度な信号を得
るための新たなノイズの除去の方式を提案するものであ
る。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明は上記述べた課題
を解決するために、請求項１のように画素を含む光電変
換部と、前記画素における任意の２つ以上の蓄積時間で
のノイズ情報によって前記画素からの信号に対してノイ
ズ補正を行うノイズ補正手段とを有する画像処理装置を
提供する。

【００１４】また、請求項１において、前記画素は複数
有することを特徴とする。

【００１５】さらにまた、請求項１又は２のいずれか１
項において、前記ノイズ情報を蓄積する蓄積手段を有す
ることを特徴とする画像処理装置を提供する。

【００１６】さらにまた、請求項１乃至請求項３のいず
れか１項において、前記光電変換手段における蓄積時間
を計測する計測手段を有することを特徴とする画像処理
装置を提供する。

【００１７】さらにまた、請求項１乃至請求項４のいず
れか１項において、前記ノイズ補正手段は、前記画素に
おける任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報にもと
ずいて蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報と、蓄積
時間に依存しないノイズのノイズ情報を算出する算出手
段を含む画像処理装置を提供する。

【００１８】さらにまた、請求項５において、前記ノイ
ズ補正手段は、前記画素からの信号から蓄積時間に依存
するノイズの信号及び蓄積時間に依存しないノイズの信
号を差分することを特徴とする画像処理装置を提供す
る。

【００１９】さらにまた、複数の画素を含む光電変換部
と、前記画素における蓄積時間に依存しないノイズのノ
イズ情報と蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報とを
それぞれ蓄積した蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積され
たそれぞれのノイズ情報によって光電変換部からの信号
に対してノイズ補正を行うノイズ補正手段とを有するこ
とを特徴とする画像処理装置を提供する画像処理装置を
提供する。

【００２０】さらにまた、請求項７において、前記画素
における蓄積時間を計測する計測手段を有することを特
徴とする画像処理装置を提供する。

【００２１】さらにまた、請求項７又は請求項８のいず
れか１項において、前記ノイズ補正手段は、前記画素か
らの信号から蓄積時間に依存するノイズの信号及び蓄積
時間に依存しないノイズの信号を差分することを特徴と
する画像処理装置を提供する。

【００２２】さらにまた、請求項１０のように、複数の
画素を含む光電変換装部と、前記画素における任意の２
つ以上の蓄積時間でのノイズ情報によって前記画素から
の信号に対してノイズ補正を行うノイズ補正手段と、前
記ノイズ補正手段によって補正された信号に基づいて測
距演算を行う測距演算手段を有することを特徴とする自
動焦点検出装置を提供する。

【００２３】さらにまた、請求項１１のように、複数の
画素を含む光電変換装部と、前記画素における蓄積時間
に依存しないノイズのノイズ情報と蓄積時間に依存する
ノイズのノイズ情報とをそれぞれ蓄積した蓄積手段と、
前記蓄積手段に蓄積されたそれぞれのノイズ情報によっ
て光電変換装置からの信号に対してノイズ補正を行うノ
イズ補正手段と、前記ノイズ補正手段によって補正され
た信号に基づいて測距演算を行う測距演算手段を有する
ことを特徴とする自動焦点検出装置を提供する。

【００２４】さらにまた、請求項１０又は請求項１１の
いずれか１項において、光電変換部は複数の画素が２次
元上に配列されたエリアセンサ部が２次元上に複数配置
されていることを特徴とする自動焦点検出装置を提供す
る。

【００２５】さらにまた、請求項１３のように光電変換
部の画素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ
情報によって前記画素からの信号に対してノイズ補正を
行うノイズ補正手段とを有することを特徴とする補正装
置を提供する。

【００２６】さらにまた、請求項１３において、前記画
素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報に
もとずいて蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報と、
蓄積時間に依存しないノイズのノイズ情報を算出する算
出手段と、前記画素からの信号から蓄積時間に依存する
ノイズの信号及び蓄積時間に依存しないノイズの信号を
差分する差分手段とを有する補正装置を提供する。

【００２７】さらにまた、請求項１５のように光電変換
部の画素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ
情報によって前記画素からの信号に対してノイズ補正を
行う工程を有することを特徴とする補正方法を提供す
る。

【００２８】さらにまた、請求項１５において、前記画
素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報に
もとずいて蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報と、
蓄積時間に依存しないノイズのノイズ情報を算出する工
程と、前記画素からの信号から蓄積時間に依存するノイ
ズの信号及び蓄積時間に依存しないノイズの信号を差分
する工程とを有する補正方法を提供する。

【００２９】さらにまた請求項１７のように光電変換部
の画素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情
報によって前記画素からの信号に対してノイズ補正を行
う工程を含むプログラムを記憶可能な記憶媒体を提供す
る。

【００３０】さらにまた、請求項１７において、前記画
素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報に
もとずいて蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報と、
蓄積時間に依存しないノイズのノイズ情報を算出する工
程と、前記画素からの信号から蓄積時間に依存するノイ
ズの信号及び蓄積時間に依存しないノイズの信号を差分
する工程とを含むプログラムを記憶可能な記録媒体を提
供する。

【００３１】

【発明の実施の形態】近年、オートフォーカスカメラで
撮影画面上の焦点検出可能な領域を広げる為にエリアＡ
Ｆという図４のようなものが登場している。図５の従来
の焦点検出装置の光電変換装置が直線状に画素を並べた
ラインセンサ７１を複数用いた光電変換装置70を用いて
いるるのに対し、エリアＡＦでは画素列を平面上に密集
させたエリアセンサ31を用いた光電変換装置30によっ
て、撮影画面上の広い領域（エリア）で測距を可能にす
るものである。ところで、エリアＡＦに使用する光電変
換装置は本発明の実施例においては特開平10−１９００
３８と同様の反転増幅型ＣＭＯＳセンサを複数配置した
構成になっている。このエリアセンサ31は従来のライン
センサと比べてワンチップ上の画素数が多くなってい
る。このため、光電変換装置のチップ生産工程のさまざ
まな制約により各画素の固定パターンノイズの出力レベ
ルのバラツキが大きくなる傾向にある。図２と図３の比
較で示されるように、従来画素毎に差が少なかった固定
パターンノイズのバラツキが以下の理由により大きくな
る問題がある。

【００３２】図４と図５を用いて、本実施例のエリアＡ
Ｆセンサと従来例の３点ＡＦセンサの比較を行う。エリ
アＡＦでは図４（ａ）のような多数の測距領域を持ち、
３点ＡＦでは図５（ａ）のように３つの測距領域を持
つ。図４（ｂ）、図５（ｃ）は、それぞれエリアセンサ
31とラインセンサ71の配置及び、画素の配列を示すもの
である。図４（ｂ）では碁盤の目状に、図５（ｂ）では
直線状に画素を配置している。（ｃ）は測距画素列の並
びを示している。図４（ｃ）は測距画素列Ａ１〜Ａｎま
でのｎ本の画素列がＢ１〜Ｂｎと対応し多数の測距領域
を構成していることを示している。図５（ｃ）は３つの
測距領域からなり中央はａ２、ｂ２、ｃ１、ｄ１の４本
の画素列、両脇はａ１、ｂ１とａ３、ｂ３の各２本の画
素列で測距領域を構成していることを示している。

【００３３】ＡＦの対象となる被写体像が測距光学系に
よりセンサ上に像を結ぶと、各画素で光電変換により光
量に応じた電荷を発生する。この時すべての測距画素列
で蓄積時間（センサをリセットしてから光電変換を終了
するまでの時間）を同じにすると、被写体像の明るさが
測距領域毎に大きく異なる場合、蓄積時間内に入射した
光量が不足して電荷が足りなかったり、逆に光量が多過
ぎて電荷を蓄積するメモリがあふれてしまったりする。
そこで、蓄積時間は各測距画素列毎に決めるのが一般的
である。例えば、図５（ａ）で右側の測距領域には日向
の家の白い壁が、左側には木陰の黒い鉄棒があるような
場合、左右の測距領域で明るさが大きく異なるので、右
側の測距領域を担当するａ３、ｂ３画素列の蓄積時間は
短く、左側の測距領域を担当するａ１、ｂ１画素列の蓄
積時間は長く、という制御がセンサ内の蓄積制御回路に
より行われる。蓄積制御回路は、画素列内の各画素の電
位の最高値と最小値の差をモニタし、差が一定以上にな
ると蓄積完了信号を発する。または、最長蓄積時間に達
すると蓄積を打ち切る。

【００３４】蓄積時間は、一般にセンサと接続されたマ
イクロプロセッサのタイマ機能を利用して、ＡＦセンサ
に蓄積開始を指示した時刻と蓄積完了信号が送られてき
た時刻の差を求めることで求められる。

【００３５】従来の光電変換装置では蓄積完了信号は測
距領域単位で出力された。すなわち、図５（ｃ）の画素
列ａ１、ｂ１の組、ａ２、ｂ２の組、ａ３、ｂ３の組、
ｃ１、ｄ１の組（各ラインセンサ毎）について各々蓄積
制御回路が備わっており、蓄積完了信号線が４本ライン
センサからマイクロプロセッサの入力ポートに接続さ
れ、マイクロプロセッサはどの入力ポートに蓄積完了信
号が来たかによってどの測距領域の画素列の蓄積が完了
したのかを把握できるようになっていた。

【００３６】ここでエリアＡＦのための光電変換装置の
場合、測距領域の増加に伴って、測距領域毎に蓄積制御
回路から外部に蓄積完了信号線を引き出していると信号
線の数が多くなり過ぎる。従来通りの手段で蓄積完了を
伝えようとすると測距領域の数に比例した数の蓄積制御
回路と信号線が必要となる。測距領域は数十か所以上あ
るから、これはマイクロプロセッサのポート数やセンサ
とマイクロプロセッサ間の通信線の実装面積について考
慮すると、小型化が求められるカメラに用いられる焦点
検出装置向きではない。その為本エリアＡＦでは蓄積制
御回路は全画素列を高速にスキャンして、蓄積完了した
画素列があればその画素列番号を内部に記憶し、蓄積完
了信号を発し、蓄積完了信号を受けたマイクロプロセッ
サからエリアセンサに対して蓄積完了画素列番号を問い
合わせる通信を受け、蓄積完了した測距領域の画素列に
ついての情報を送信する方式にしている。これにより蓄
積制御回路は一つですむ。蓄積完了信号線も１本でよい
ことになる。ただし、多くの画素列をスキャンする必要
があるために画素と隣接して配置されている制御回路が
高速に駆動し、ノイズの発生源となる問題が生じる。

【００３７】従来は画素列が密集していなかったので固
定パターンノイズ除去回路は比較的大きな面積を占めて
実装されており、余裕があった。エリアＡＦのためのエ
リアセンサでは、画素の部分がエリアセンサの面積上の
大部分を占める為、従来のラインセンサのような面積比
率でその他の回路を配置すると、小型化が望まれるカメ
ラなどに内蔵することが困難な大きさになってしまう。
その為、回路の微細化、回路の構成要素の小型化を追求
した結果センサの製造誤差が画素毎の固定パターンノイ
ズのレベルのバラツキに大きく影響を及ぼすこととなっ
た。エリアセンサ量産の際、画素毎の固定パターンノイ
ズの出力レベルの許容バラツキ範囲を従来と同じにして
良品を選別すると、エリアセンサの方がバラツキの大き
いものが多い為、歩留が非常に悪くなり、エリアセンサ
の生産コスト高につながる。ひいては焦点検出装置のコ
スト高につながり、この焦点検出装置を搭載したカメラ
のコストも上昇するという好ましくない事態となる。

【００３８】そこで、許容バラツキ範囲を従来より緩め
て固定パターンノイズが大きいものでも良品とし歩留を
あげるとすると、エリアセンサからの出力に誤差が多い
為、焦点検出装置の測距結果の信頼性が低くなり、焦点
検知装置としての性能が低下してしまうという問題が生
じる。

【００３９】ノイズが混入しない回路構成により問題を
解決することも考えられるが、高集積化の為、画素毎の
光電変換結果のメモリ回路の面積が縮小されコンデンサ
の容量を小さくせざるを得ないことや、蓄積制御回路と
メモリ回路が隣接するなど、小型化への要求を満足する
ために生じる問題であり、ハードウエアで固定パターン
ノイズの量を抑えることは小型化とトレードオフの関係
にある。

【００４０】上記で問題となっている固定パターンノイ
ズは、幸いにして各画素毎に再現性を持って一定である
ような誤差成分である。

【００４１】よって問題点を解決する為に、本実施の形
態では、固定パターンノイズによるバラツキを含んだ光
電変換装置内のエリアセンサからの出力を、演算処理装
置であるマイクロプロセッサを利用してソフトウエア上
で補正することとした。固定パターンノイズは画素毎に
常に一定の出力誤差を持つ、というものであるから、マ
イクロプロセッサがエリアセンサの画素出力を読み込む
時、予めメモリに記憶しておいた該当画素の固定パター
ンノイズ誤差量を用いて、画素データに補正をかけて測
距処理に用いるようにする。これにより、従来のライン
センサより固定パターンノイズのバラツキが大きいエリ
アセンサでも不良チップとしてはじく必要がなくなり、
歩留の低下を抑えることができる。

【００４２】一般に、固定パターンノイズの補正処理と
いうとき、暗電流補正も含まれるような場合があるが、
本実施の形態で問題になっている固定パターンノイズは
暗電流補正とは誤差量のレベルが大きく異なるので、こ
れらをまとめて補正することは補正の精度と補正幅の点
で好ましくないものである。

【００４３】そこで本件では、固定パターンノイズの補
正処理と分離して、各画素毎の暗電流について補正処理
を行う構成をとることにする。

【００４４】その補正処理のため予め、以下の処理を行
って補正情報を不揮発性メモリに作成しておくものとす
る。

【００４５】１）光電変換装置に入射光のない状態での
画素出力を読み込み、各画素の固定パターンノイズ成分
を測定する２）光電変換装置に入射光のない状態での蓄積時間と画
素出力の関係を測定し、これから１）で求めた固定パタ
ーンノイズ成分を取り除いた値を元に各画素の暗電流成
分を求める

【００４６】以上の操作を画素毎に行っておき、その画
素に固有の固定パターン補正情報・暗電流補正情報を作
成し、光電変換装置と組み合わせる制御装置のメモリに
その補正情報を記憶させておくようにする。

【００４７】焦点検知装置で光電変換装置の出力結果を
利用する際には光電変換装置の出力を画素と蓄積時間が
わかるように扱い、上記補正情報から、まず固定パター
ンノイズ成分を求め除去、その後蓄積時間と暗電流の関
係から暗電流成分を求め除去、という補正処理を行い、
光電変換装置からの出力データの精度を向上させる。

【００４８】以下、本実施の形態について詳細に説明す
る。

【００４９】まず、本実施の形態で用いる焦点検出装置
について説明する。

【００５０】図６は自動焦点検出装置を含む一眼レフカ
メラの回路構成を示すブロック図である。

【００５１】図６において、ＰＲＳ32はカメラの制御回
路で、例えば内部にＣＰＵ32a（中央処理装置）、ＲＯ
Ｍ32b、ＲＡＭ32c、ＥＥＰＲＯＭ32d、Ａ／Ｄ変換機能3
2e、計時機能ＴＭ32fを有する１チップのマイクロコン
ピュータである。この制御回路ＰＲＳはＲＯＭに格納さ
れたカメラのシーケンス・プログラムに従って、自動露
出制御機能、自動焦点調節機能、フィルムの巻上げ・巻
戻し等のカメラの一連の動作を行っている。そのため
に、制御回路ＰＲＳは通信用信号ＳＯ，ＳＩ，ＳＣＬ
Ｋ、通信選択信号ＣＬＣＭ，ＣＳＤＲ，ＣＤＤＲなどを
用いて、カメラ本体内の周辺回路およびレンズ内制御装
置と通信を行って、各々の回路やレンズの動作を制御し
たり、Ａ／Ｄ変換入力や割込み入力を受けつけてデータ
を取り込んだり、その動作を変化させたりする。ＲＯＭ
上にはシーケンス・プログラム以外にも周辺装置の制御
データを置くことが可能であり、ＲＯＭにフラッシュメ
モリを採用することで、個々の機器に固有の情報を書き
込み、それに基づいた動作を行うことができるようにな
っている。

【００５２】ＳＯは制御回路ＰＲＳから光電変換装置Ｓ
ＮＳに出力されるデータ信号、ＳＩはＳＮＳからＰＲＳ
に入力されるデータ信号、ＳＣＬＫは信号ＳＯ，ＳＩの
同期クロックである。

【００５３】エリアセンサ31とその制御回路および外部
インタフェイスからなる焦点検出用の光電変換装置ＳＮ
Ｓ30のセンサ駆動回路は、信号ＣＳＤＲが“Ｈ”のとき
選択されて、ＳＯ，ＳＩ，ＳＣＬＫを用いて制御回路Ｐ
ＲＳから制御される。光電変換結果である信号がアナロ
グ値によりＶＩＤＥＯからＰＲＳのＡ／Ｄ変換ポートに
出力され、また蓄積完了の割込み信号は／ＴＩＮＴＥを
経由してＰＲＳの割込み入力ポートに出力される。

【００５４】本実施の形態で使用する光電変換装置SNS3
0における蓄積完了とは、つぎのような条件で生じる。

【００５５】図４のエリアＡＦの例の（ｂ）ようなエリ
アセンサSNS1a〜SNS2b 31上の画素がある時、（ａ）の
ようにエリアＡＦの測距点を配置するとすると、対応す
る測距点で位相差検知式測距を行うための測距画素列の
配置は（ｃ）のようになる。

【００５６】ところでエリアセンサ上には、カメラで撮
影しようとしている被写体像が測距光学系を通って投影
されているため、通常はエリアセンサ上全体での明暗の
差がセンサのダイナミックレンジよりも広くなる傾向に
ある。そこでＣＭＯＳエリアセンサでは（ｃ）の画素列
毎に蓄積完了を検知して蓄積完了信号を出せるようにな
っている。測距点１に対応する画素列Ａ１、Ｂ１の組が
蓄積完了すると、光電変換装置ＳＮＳの内部で画素列Ａ
１、Ｂ１蓄積完了フラグがセットされる。そして／ＴＩ
ＮＴＥ経由で蓄積完了信号がＰＲＳに送られる。ＰＲＳ
はＳＮＳから蓄積完了信号を受けると蓄積完了フラグ情
報を送信するようにＳＮＳに命令を送信し、フラグの状
態から蓄積完了した画素列を判断し、その画素列につい
ての光電変換データをＶＩＤＥＯに出力するようにＳＮ
Ｓを制御する。制御回路ＰＲＳはエリアセンサの各画素
上に形成された被写体像の光量をＡ／Ｄ変換ポートから
アナログ値として受け取り、その値に本発明の補正処理
を加えた後、所定の焦点検出演算を行い、撮影レンズの
デフォーカス量を知る事が出来る。この制御のソフトウ
エア上のシーケンスは後述する。

【００５７】次いで、上記構成によるカメラの自動焦点
調節時の動作について、以下のフローチャートにしたが
って説明する。

【００５８】図６に示した回路に給電が開始されると、
制御回路ＰＲＳは図１２のステップ（０００）から実行
を開始していく。ステップ（００１）において、レリー
ズボタンの第１段階押下によりオンするスイッチＳＷ１
の状態検知を行い、オフならばステップ（００２）へ移
行し、初期化が必要なフラグと変数を初期化する。そし
て、スイッチＳＷ１が再びオンされるのをステップ（０
０１）にて検知する。

【００５９】一方、ステップ（００１）でスイッチＳＷ
１がオンであればステップ（００３）へ移行し、カメラ
の動作を開始する。

【００６０】ステップ（００３）では測光や各種スイッ
チ類の状態検知、表示等の「ＡＥ制御」サブルーチンを
実行する。サブルーチン「ＡＥ制御」が終了すると、次
いでステップ（００４）へ移行する。

【００６１】ステップ（００４）で「ＡＦ制御」サブル
ーチンを実行する。ここではセンサの蓄積、焦点検出演
算、レンズ駆動の自動焦点調節動作を行う。サブルーチ
ン「ＡＦ制御」が終了すると再びステップ（００１）へ
戻り、スイッチＳＷ１がオフするまでステップ（００
３）、（００４）を繰り返し実行していく。

【００６２】以上の繰り返し実行を行っている間に、制
御回路ＰＲＳはレリーズボタンの第２段押下によりオン
するスイッチＳＷ２の状態検知を行い、ＳＷ２が押され
ている場合には、不図示の設定機構により事前に設定さ
れた動作モードに基づき、即座にシャッタ制御を行う処
理に移行して撮影動作を行うか、または（００４）の
「ＡＦ制御」の完了を待って合焦後に撮影動作を行う
が、本実施例では具体的な説明を省略する。

【００６３】撮影動作の完了とともに、通常の動作では
次の撮影に備えてフィルムの巻き上げを行う。フイルム
の巻き上げ動作が完了した状態で次の駒の撮影の為の待
機状態となる。ここで前記ステップ（００１）に戻り、
上記処理を継続する。

【００６４】図１３は前記ステップ（００４）において
実行される「ＡＦ制御」サブルーチンのフローチャート
である。

【００６５】「ＡＦ制御」サブルーチンがコールされる
と、ステップ（０１０）を経て、ステップ（０１１）以
降のＡＦ制御を実行していく。

【００６６】まず、ステップ（０１１）にて「焦点検
出」サブルーチンを実行する。ここでは焦点検出動作の
ための各センサへの像信号の蓄積、読みだしから焦点検
出演算を行う（詳細は後述する）。

【００６７】次のステップ（０１２）では現在の選択領
域の中からどの領域を選び、そのデフォーカス量を用い
るかを選択する「領域選択」サブルーチンを実行する。
本実施例では、通常、選択領域が全域、即ち自動選択と
している。なお、図６の各種スイッチＳＷＳ内の選択領
域設定スイッチを押すことにより、選択領域の指定が可
能となっている。また、不図示の視線入力装置により、
撮影者の視線を検知することができるので、撮影者の視
線で選択領域の指定を行うことも可能である。視線入力
については本発明において詳細な説明をすることを略
す。

【００６８】ステップ（０１３）では「レンズ駆動」サ
ブルーチンを実行する。ここでは、ステップ（０１１）
で検出されたデフォーカス量の中で、ステップ（０１
２）で選択された領域のデフォーカス量に基づいてレン
ズ駆動を行う（詳細は後述する）。

【００６９】レンズ駆動完了後はステップ（０１４）よ
り「ＡＦ制御」サブルーチンをリターンする。

【００７０】図１４は前記ステップ（０１１）において
実行されるサブルーチン「焦点検出」のフローチャート
である。

【００７１】このサブルーチンがコールされると、ステ
ップ（１１０）を経て、ステップ（１１１）以降の焦点
検出動作を実行していく。

【００７２】先ず、ステップ（１１１）にて、電源がオ
ンして１回目のＡＦ制御であるか否かを判別し、１回目
である場合にはステップ（１１２）へ移行し、選択セン
サを初期化する。

【００７３】次いでステップ（１１３）でサブルーチン
「蓄積開始」を実行する。このサブルーチンはセンサの
蓄積動作を開始させるルーチンであり、具体的にはセン
サＳＮＳへ蓄積開始命令を送出して、エリアセンサＳＮ
Ｓの蓄積動作を開始させ、それとともに上記センサＳＮ
Ｓからのセンサ蓄積終了信号／TINTEによって制御回路
ＰＲＳが「蓄積完了」を認識できるよう入出力を設定す
るするサブルーチンである。

【００７４】ここで「蓄積開始」サブルーチンについて
説明する。

【００７５】図７に蓄積開始サブルーチンの流れを示
す。蓄積開始サブルーチンが起動されるとステップ（８
００）を経てステップ（８０１）エリアセンサ通信初期
化が行われる。ここでは、光電変換装置ＳＮＳとの通信
状態を初期化する。制御装置ＰＲＳから光電変換装置Ｓ
ＮＳに対して制御信号の送信が可能となり、また光電変
換装置ＳＮＳから制御装置ＰＲＳに向けられた光電変換
処理結果の受信も可能となる状態に設定するようになっ
ている。

【００７６】つぎにステップ（８０２）に進み、光電変
換装置SNSの初期設定を行う。ここでは光電変換装置Ｓ
ＮＳをリセットしたり、ゲインや光電変換結果読み出し
モードなどを設定するが、初期設定条件や設定のための
通信手続などの詳細については本実施例では説明を省略
する。

【００７７】ステップ（８０３）では蓄積タイマＴＭの
初期化を行う。制御装置ＰＲＳに内蔵のタイマを蓄積時
間計測用タイマとして利用するのに適した設定を行う。

【００７８】ステップ（８０４）では蓄積完了割込設定
を行う。光電変換装置ＳＮＳはエリア中の数十画素から
なる測距領域の画素列別に蓄積完了を検知して蓄積完了
信号／ＴＩＮＴＥを利用して制御装置ＰＲＳに割り込み
をかけるように構成されているのでこれを受けつけるた
めである。ステップ（８０４）では制御装置ＰＲＳがこ
の割込信号に反応できるように割り込み許可の設定や蓄
積完了割込の優先順位などを設定する。

【００７９】ステップ（８０５）では蓄積タイマ計測開
始を行う。ステップ（８０３）で初期化したタイマを起
動し、タイマのカウントをスタートさせる。そしてステ
ップ（８０６）で続けてエリアセンサ蓄積開始を行わせ
る。この処理は、エリアセンサに蓄積開始信号を送り、
その直後に制御装置ＰＲＳを蓄積完了割り込みの要求が
あったら割り込みを許可する状態に設定する。これによ
り、制御装置ＰＲＳはエリアセンサＳＮＳが蓄積完了を
報じてきた時に迅速に蓄積完了割込処理を起動すること
ができるようになる。

【００８０】ステップ（８０６）の処理の後、制御装置
はステップ（８０７）を経て、スリープ状態となる。ス
リープ状態とは、スリープ解除の条件が整うまで制御装
置ＰＲＳの動作を一時停止することである。スリープ解
除の条件は、蓄積完了割込み処理からスリープ解除信号
を送られることである。ステップ（８０７）のスリープ
が解除されると、図８ステップ（９００）蓄積完了待ち
スリープのつぎから処理が再開されるようになってい
る。また、蓄積完了が異常に長い時間を要した時のため
に設定しておく不図示の時間切れタイマにより、タイム
アウトエラーとなることである。別に、動作中の電源オ
フや電池切れなど通常動作の流れからはずれることによ
ってもスリープ解除となるが、説明のため本実施例で述
べる処理の流れからはずれる条件については説明を省略
することにする。

【００８１】さて、蓄積を開始した光電変換装置ＳＮＳ
が光電変換結果を出力できるようになると、蓄積終了信
号／ＴＩＮＴＥによって制御装置ＰＲＳに対して割込み
要求を行う。これは、蓄積終了信号を”Ｈ”にすること
で行われる。これにより、制御装置ＰＲＳは図９の蓄積
完了割込みを呼び出す。以下に蓄積完了割込みの処理の
流れを説明する。

【００８２】蓄積終了信号により蓄積完了割込みが起動
されるとステップ（１０００）からの処理が始まる。ス
テップ（１００１）では、蓄積完了信号が発生した時刻
を蓄積時間計測用タイマＴＭから求め、ステップ（８０
５）で記憶しておいた蓄積タイマ計測開始時刻と差を取
ることで蓄積時間を求める。

【００８３】ステップ（１００２）では光電変換装置Ｓ
ＮＳと通信して蓄積完了画素列番号を入手し、これを読
み書き可能なＲＡＭに記憶する。蓄積完了が同時に複数
の画素列で生じていれば、ここで複数の蓄積完了画素列
番号が通信される。

【００８４】ステップ（１００３）ではアナログ信号の
センサ出力ＶＩＤＥＯの値をエリアセンサ入力ポート
（１００８）から読み込む。ステップ（１００２）で複
数の蓄積完了画素列番号を受信している場合、その数に
応じて光電変換装置ＳＮＳから光電変換結果を複数回Ａ
／Ｄ変換して受け取る。画素列毎の光電変換結果のアナ
ログ値をセンサに出力させるには、、光電変換装置ＳＮ
Ｓに対して光電変換結果要求と蓄積完了画素列番号の通
信を行って、ＳＮＳがＶＩＤＥＯに光電変換結果を出力
するようにすればよい。

【００８５】ステップ（１００４）では（１００３）で
得た結果を画素列番号、画素番号、光電変換結果である
Ａ／Ｄ変換値、蓄積時間という構成でＡ／Ｄ結果バッフ
ァ（１００９）に記憶する。

【００８６】ステップ（１００５）ではスリープ解除信
号を送る。これはステップ（８０７）でスリープ状態に
なった処理を起動させるためであるが、割込み処理が終
了するまでは割込み処理が優先して実行されるので、続
けてステップ（１００６）が実行される。ステップ（１
００６）では、つぎに蓄積完了割込みがセンサＳＮＳか
らかけられた時の準備として蓄積完了割込みの再設定処
理を行う。ステップ（１００７）で、蓄積完了割込みは
終了となる。

【００８７】この時点で、スリープ解除信号を受けた図
９ステップ（９００）蓄積完了待ちスリープを抜け、ス
テップ（９０１）に進む。ステップ（９０１）はＡ／Ｄ
結果バッファ（１００９）からＡ／Ｄ変換結果を読み込
む。Ａ／Ｄ結果バッファにはステップ（１００４）で書
き込んだように画素列番号とＡ／Ｄ変換値と蓄積時間が
納められているので、これに基づいて以降の処理を行
う。ステップ（９０２）からループが始まる。このルー
プはＡ／Ｄ結果バッファに新しく取り込まれた蓄積完了
画素列の数と同じ回数繰り替えされ、蓄積完了待ちスリ
ープ中に蓄積完了をした画素のデータを全て処理するよ
うにする。

【００８８】ステップ（９０３）では、未処理の蓄積完
了画素列番号のうちの一つに対応するＡ／Ｄ変換結果を
Ａ／Ｄ結果バッファから読み込む。

【００８９】ステップ（９０４）ではその画素列に含ま
れる画素の固定パターンノイズ補正情報と暗電流補正情
報を（９１２）固定パターンノイズ補正情報・暗電流補
正情報のデータベースから読み出す。

【００９０】ステップ（９０５）では、処理中の画素列
番号・画素番号のＡ／Ｄ変換結果に対して、固定パター
ンノイズ補正情報を元に補正を書ける。Ａ／Ｄ変換結果
をＡＤ、固定パターンノイズ補正情報をＦＰＮ、現在処
理中の画素列番号をｉ、画素列中の画素番号をｊとする
と、補正後の値ＡＤ２はＡＤ２〔ｉ，ｊ〕＝ＡＤ〔ｉ，ｊ〕−ＦＰＮ〔ｉ，ｊ〕・・・・・・（式１）となる。

【００９１】つぎにステップ（９０６）で蓄積時間をデ
ータベースから取り出し、これを元にステップ（９０
７）にて暗電流補正を行う。暗電流補正情報をＤＫと
し、蓄積時間をＴＭとし、補正後の値をＡＤ３とする
と、ＡＤ３〔ｉ，ｊ〕＝ＡＤ２〔ｉ，ｊ〕−ＤＫ〔ｉ，ｊ〕・ＴＭ〔ｉ〕・・・・・・（式２）となる。不図示のループによってｊは１から画素列に含
まれる画素数ｍまで１ずつ増加する。これで求められた
一画素列中の全画素の補正後の値ＡＤ３をメモリに保管
しておき、ステップ（９０８）でループ終了となり繰り
返し処理にて全ての新規に蓄積完了した画素列について
補正処理を済ませるようにする。

【００９２】ループが終了すると、ステップ（９０９）
に移行する。ここでは、センサ上の全画素列のＡ／Ｄ変
換結果が補正完了したかどうかを判断する。完了してい
ない場合にはステップ（９００）に進み再び蓄積完了割
込みを待つスリープとなる。完了している場合には、
（９１０）に進み、光電変換Ａ／Ｄ完了して補正処理を
終える。

【００９３】上記の処理をまとめる。

【００９４】エリアセンサ上には明暗のある画像が投影
されているため、明るい部分にある一部の測距領域の画
素列において蓄積完了となっても、依然蓄積を継続中の
暗い部分にあたる画素列があるため、Ａ／Ｄ変換バッフ
ァの蓄積完了画素列番号によりどの画素列が蓄積を完了
したのかを知り、蓄積完了した画素列から順次Ａ／Ｄ変
換結果を読み込み固定パターンノイズと暗電流の補正処
理をする。そしてこの処理を最終的に全画素列が蓄積完
了となるまで処理を繰り返す。

【００９５】以上、（式１）で表される補正が本発明の
固定パターンノイズ補正にあたり、（式２）で表される
補正が暗電流補正にあたる。暗電流補正は時間に比例し
た補正量の変化がある。

【００９６】以上で、ステップ（１１３）は終了し、以
降ステップ（１１４）に進み焦点検出処理からリターン
する。

【００９７】ここで、図９の（900〜910）の処理は光電
変換装置ＳＮＳと同じ装置内にあるＰＲＳで行っている
が、図９の処理を行う装置は、光電変換装置ＳＮＳとは
別々に設け、必要に応じて光電変換装置ＳＮＳと接続で
きるようにしてもよい。

【００９８】また、図９の（900〜910）の処理を行うた
めのプログラムを例えばＣＤ−ＲＯＭや半導体メモリ等
の記憶媒体に記憶しておき、光電変換装置ＳＮＳとＣＰ
Ｕと固体パタ−ンノイズ補正情報と暗電流ノイズ補正情
報を入力したメモリＲＯＭとを含む装置に記憶媒体を介
して処理デ−タを入力して演算させても良い。このよう
に、処理プログラムを記憶した記憶媒体を用いることに
より、後に例えば高速に処理させるプログラムが開発さ
れた場合に、簡単にプログラムの書き換えが出来る利点
が生じる。

【００９９】以降、カメラとしての撮影動作シーケンス
は継続するが、ここでは詳細の説明は省略する。

【０１００】次に、メモリＲＯＭにあらかじめ格納して
おく固定パターンノイズ補正値と暗電流補正値の生成方
法について説明する。

【０１０１】図１０は固定パターンノイズ補正値の生成
を行う手続きについて示した流れ図である。この処理は
制御装置ＰＲＳに行わせるようにしてもよいが、センサ
の固定パターンノイズがわかればよいだけなので前述の
焦点検出処理の一連の流れに含まれる補正処理とは別の
プログラム、別の制御装置を用意して補正値の生成だけ
を行うこともできる。

【０１０２】ここでは、センサＳＮＳから光電変換結果
を受け取るＡ／Ｄ変換制御などの既に説明した処理につ
いて説明の重複を省くため、前述の図１０で説明した蓄
積完了割込みによりＡ／Ｄ結果バッファ（１００９）に
センサＳＮＳからの補正前のデータが既に取得されたと
ころからの流れについて述べる。

【０１０３】固定パターンノイズの測定のためには、上
記蓄積完了割込みの設定及び本サブルーチンを呼び出す
前に光電変換装置ＳＮＳの受光面を均一輝度にしてお
く。例えば光電変換装置ＳＮＳ受光面を遮光した暗黒条
件にしておけば、均一輝度になっているといえる。以下
は光電変換装置ＳＮＳが暗黒条件で行う。ただし、蓄積
は／ＴＩＮＴＥの割込み待ちではなく、１ｍｓ程度のご
く短い時間で終了となるように設定したタイマによるタ
イムアウト条件で終了するものとする。

【０１０４】まず、固定パターンノイズ補正値の生成サ
ブルーチンを起動する。これによりステップ（１１０
０）から（１１０１）に至り最小結果変数の初期化を行
う。この値は以降のループで固定パターンノイズの最小
値を保存するための比較として用いるため、少なくとも
光電変換装置ＳＮＳから受け取り得る固定パターンノイ
ズの最大レベル以上の大きな値で初期化しておく。

【０１０５】次にステップ（１１０２）からＡ／Ｄ結果
の読み出しループを開始する。ＡＦセンサの測距画素列
の数が繰り返し回数ｎである。

【０１０６】繰り返し変数ｉは最初が１でループを繰り
返す毎に１ずつ値が増える変数で、固定パターンノイズ
の補正値を測定する画素列の番号を示す。

【０１０７】ステップ（１１０３）では第ｉ画素列の出
力をＡ／Ｄ結果バッファから読み出す。画素列の中には
複数の画素が含まれているのでそれら各画素について読
み出す。ステップ（１１０４）にて最小結果変数の値と
第ｉ画素列の各画素の光電変換値を比較する。ステップ
（１１０５）でその結果に従って条件分岐し、画素の中
に最小結果変数よりも小さな値があれば、ステップ（１
１０６）にて最小結果変数にその値を代入して最小結果
を更新し、最小結果変数の方が小さければ（１１０６）
を処理せずステップ（１１０７）に飛ぶ。（１１０７）
でループ終了となり、以降第ｎ画素列まで（１１０２）
から（１１０７）のループを繰り返す。

【０１０８】上記のループが終了すると、次はステップ
（１１０８）からのループで、同様に１からｎまで増分
を１として処理を行う。

【０１０９】ステップ（１１０９）では再びＡ／Ｄ結果
バッファから第ｉ画素列の出力を一画素ずつ読み出し、
ステップ（１１１０）で各画素の光電変換値から最小結
果変数の値を引いた値を求め、その値を固定パターンノ
イズ補正値を格納する不揮発性メモリである補正情報
（９１２）に記憶する。不揮発性メモリはＥＥＰＲＯ
Ｍ、フラッシュメモリなど書き込み可能なものを想定し
ているが、この部分で直接メモリに書き込まなくとも、
外部の記憶装置にデータを出力して別途ＲＯＭに焼くな
どの作業を行って補正情報（９１２）を作り出してもよ
い。

【０１１０】ステップ（１１１１）はループの終りであ
り、第ｎ画素列までステップ（１１０８）から（１１１
１）の間を繰り返し、全ての画素列の処理が終了したら
ステップ（１１１２）を経て固定パターンノイズ補正値
生成のサブルーチンを終了する。

【０１１１】次に図１１の暗電流補正値の生成について
説明する。

【０１１２】暗電流補正値の生成においては、センサＳ
ＮＳは光を遮断した暗黒条件下に置いておく。これは暗
電流による測定誤差成分だけを得るためである。センサ
ＳＮＳに対する入射光がない条件では蓄積完了せず蓄積
完了割込みによる読み込みができなくなってしまうの
で、蓄積完了割込み処理を呼び出す割込み要因を／ＴＩ
ＮＴＥからの割込み信号入力ではなく、タイマ割込みに
し、一定時間蓄積後光電変換結果を無条件に結果バッフ
ァに読み込むようにしておく。以降の処理は、上記固定
パターンノイズ補正値生成と同様に既にＡ／Ｄ結果バッ
ファに暗電流のみの測定誤差値がＡ／Ｄ変換値として入
っている状態から呼び出されるものとする。

【０１１３】ステップ（１２００）を経てステップ（１
２０１）からｉ＝１からｎまでの増分１のループが始ま
る。ステップ（１２０２）では更にｊ＝１からｍまでの
増分１のループが始まる。ｎはセンサＳＮＳの画素列の
数、ｍは一つの画素列に含まれる画素の数である。ステ
ップ（１２０３）でＡ／Ｄ結果バッファから第ｉ画素列
の蓄積時間を読み出す。ステップ（１２０４）で第ｉ画
素列の第ｊ画素のＡ／Ｄ変換値を読み出す。そしてステ
ップ（１２０５）にて読み出したＡ／Ｄ変換値値から、
補正情報（９１２）より第ｉ画素列の各画素の固定パタ
ーンノイズ補正値を減じた値を求める。ステップ（１２
０６）ではステップ（１２０５）で求めた値を蓄積時間
で割り、その値を暗電流補正値としてメモリに記憶す
る。上記固定パターンノイズの処理と同様に、このメモ
リに記憶する処理は不揮発性メモリとしてＥＥＰＲＯ
Ｍ、フラッシュメモリなど書き込み可能なものを想定し
ているが、直接メモリに書き込まなくとも、外部の記憶
装置にデータを出力して別途ＲＯＭに焼くなどの作業を
行って補正情報（９１２）を作り出すものでもよい。

【０１１４】ステップ（１２０７）でステップ（１２０
２）からのループ、ステップ（１２０８）でステップ
（１２０１）からのループの終端となり、第ｍ画素に達
するまではステップ（１２０２）に戻り、第ｎ画素列に
達するまではステップ（１２０１）にもどりループを繰
り返す。第ｎ画素列を処理した後ステップ（１２０９）
に進み暗電流補正値の生成を終了する。

【０１１５】以上に説明した実施の形態においては、光
電変換装置30が光電変換部に相当し、エリアセンサ31が
エリアセンサ部に相当し、制御回路ＰＲＳ32がノイズ補
正手段に相当している。また、ノイズ情報は、固定パタ
−ンノイズ補正値及び暗電流補正値に相当し、蓄積時間
に依存するノイズのノイズ情報が暗電流補正値に、蓄積
時間に依存しないノイズのノイズ情報が固定パタ−ンノ
イズ補正値に相当している。

【０１１６】上記に述べた実施の形態では、固定パタ−
ンノイズ補正値はセンサSNSが暗黒条件で１ｍｓ程度の
ごく短い蓄積時間での値をA/D変換したものであり、暗
電流補正値は一定時間蓄積後の値をA/D変換した値から
固定パタ−ンノイズ補正値を減じた値を求め、その値を
蓄積時間で割って算出している。しかし、本発明はこれ
に限るものではなく、以下のような方式でもよい。

【０１１７】まず、SNSが暗黒条件で任意の２つの蓄積
時間での値を求めA／D変換する。ここで、２つの蓄積時
間と、それに対応する暗電流の値がわかるため、１ｍｓ
程度でのごく短い蓄積時間での暗電流の値つまり固定パ
タ−ンノイズの値が任意の２つの蓄積時間から外挿する
ことによって算出できる。後は、上記実施例と同様にし
て暗電流補正値を求めることはできる。この場合では、
ノイズ補正値は、任意の２つ以上の暗電流補正値が相当
する。

【０１１８】また、上記に述べた実施の形態では、最初
に暗電流補正値と固定パタ−ン補正値はメモリに記憶し
ているが、メモリを用いずに１フィ−ルド毎に暗電流補
正値と固定パタ−ン補正値を算出してリアルタイムで処
理をしても良い。

【０１１９】さらにまた、上記に述べた実施例では、AF
用の光電変換装置を用いてAFのための信号に対してノイ
ズ除去を行っているが、被写体等を撮像するための従来
から存在している例えばMOS型の撮像デバイス等を図６
の光電変換装置ＳＮＳ30の部分に用いて、被写体等を撮
像して画像を得るための信号に対して上記説明したノイ
ズ除去方式を用いてもよい。つまり光電変換部はエリア
AF用の光電変換装置30に限らず光信号を電気信号に変換
できるものであればよい。

【０１２０】さらにまた、上記述べた実施の形態では複
数の画素を配置していたが、画素が１つの場合でもよ
い。つまり画素における少なくとも２つの蓄積時間での
暗電流値を用いているため、従来よりも正確に蓄積時間
依存における暗電流値を求めることができ、正確なノイ
ズ補正が可能となる。

【０１２１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明では画素か
らの信号に対してノイズ補正を行っているので、高精度
な信号を得ることができる。

【０１２２】特に、マイコンのソフトでノイズを補正す
ることにより、柔軟に補正を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施例の画素毎の固定パターンノイズ及び暗
電流と蓄積時間の関係図である。

【図２】光電変換装置のノイズレベルのバラツキを示す
グラフの例である。

【図３】画素が少ない従来の光電変換装置のノイズレベ
ルのバラツキを示すグラフの例である。

【図４】エリアＡＦの測距点配置とセンサ上の画素配列
を示す図である。

【図５】従来の多点ＡＦ（３点）の測距点配置とセンサ
上の画素配列を示す図である。

【図６】一眼レフカメラの回路構成を示すブロック図で
ある。

【図７】光電変換装置の蓄積開始を行う処理の流れ図で
ある。

【図８】光電変換装置からの出力をＡ／Ｄ変換する間に
ループしている蓄積完了待ちスリープの流れ図である。

【図９】蓄積完了で起動される蓄積完了割込ハンドラの
流れ図である。

【図１０】固定パターンノイズ補正値の生成処理の流れ
図である。

【図１１】暗電流補正値の生成処理の流れ図である。

【図１２】カメラ全体のシーケンスフローチャートであ
る。

【図１３】ＡＦ制御サブルーチンのフローチャートであ
る。

【図１４】焦点検出サブルーチンのフローチャートであ
る。

【図１５】従来の画素毎の固定パターンノイズ及び暗電
流と蓄積時間の関係図である。

【図１６】従来のノイズ除去機能を持った光電変換装置
である。

【符号の説明】

３０光電変換装置３１エリアセンサ３２制御回路７０光電変換装置７１ラインセンサ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画素を含む光電変換部と、前記画素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ
情報によって前記画素からの信号に対してノイズ補正を
行うノイズ補正手段とを有する画像処理装置。
【請求項２】請求項１において、前記画素は複数有す
ることを特徴とする。
【請求項３】請求項１又は２のいずれか１項におい
て、前記ノイズ情報を蓄積する蓄積手段を有することを
特徴とする。
【請求項４】請求項１乃至請求項３のいずれか１項に
おいて、前記光電変換手段における蓄積時間を計測する
計測手段を有することを特徴とする。
【請求項５】請求項１乃至請求項４のいずれか１項に
おいて、前記ノイズ補正手段は、前記画素における任意
の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報にもとずいて蓄積
時間に依存するノイズのノイズ情報と、蓄積時間に依存
しないノイズのノイズ情報を算出する算出手段を含む。
【請求項６】請求項５において、前記ノイズ補正手段
は、前記画素からの信号から蓄積時間に依存するノイズ
の信号及び蓄積時間に依存しないノイズの信号を差分す
ることを特徴とする。
【請求項７】複数の画素を含む光電変換部と、前記画素における蓄積時間に依存しないノイズのノイズ
情報と蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報とをそれ
ぞれ蓄積した蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積されたそれぞれのノイズ情報によっ
て光電変換部からの信号に対してノイズ補正を行うノイ
ズ補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】請求項７において、前記画素における蓄
積時間を計測する計測手段を有することを特徴とする。
【請求項９】請求項７又は請求項８のいずれか１項に
おいて、前記ノイズ補正手段は、前記画素からの信号か
ら蓄積時間に依存するノイズの信号及び蓄積時間に依存
しないノイズの信号を差分することを特徴とする。
【請求項１０】複数の画素を含む光電変換装部と、前記画素における任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ
情報によって前記画素からの信号に対してノイズ補正を
行うノイズ補正手段と、前記ノイズ補正手段によって補正された信号に基づいて
測距演算を行う測距演算手段を有することを特徴とする
自動焦点検出装置。
【請求項１１】複数の画素を含む光電変換装部と、前記画素における蓄積時間に依存しないノイズのノイズ
情報と蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報とをそれ
ぞれ蓄積した蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積されたそれぞれのノイズ情報によっ
て光電変換装置からの信号に対してノイズ補正を行うノ
イズ補正手段と、前記ノイズ補正手段によって補正された信号に基づいて
測距演算を行う測距演算手段を有することを特徴とする
自動焦点検出装置。
【請求項１２】請求項１０又は請求項１１のいずれか
１項において、光電変換部は複数の画素が２次元上に配
列されたエリアセンサ部が２次元上に複数配置されてい
ることを特徴とする。
【請求項１３】光電変換部の画素における任意の２つ
以上の蓄積時間でのノイズ情報によって前記画素からの
信号に対してノイズ補正を行うノイズ補正手段とを有す
ることを特徴とする補正装置。
【請求項１４】請求項１３において、前記画素におけ
る任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報にもとずい
て蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報と、蓄積時間
に依存しないノイズのノイズ情報を算出する算出手段
と、前記画素からの信号から蓄積時間に依存するノイズ
の信号及び蓄積時間に依存しないノイズの信号を差分す
る差分手段とを有する補正装置。
【請求項１５】光電変換部の画素における任意の２つ
以上の蓄積時間でのノイズ情報によって前記画素からの
信号に対してノイズ補正を行う工程を有することを特徴
とする補正方法。
【請求項１６】請求項１５において、前記画素におけ
る任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報にもとずい
て蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報と、蓄積時間
に依存しないノイズのノイズ情報を算出する工程と、前
記画素からの信号から蓄積時間に依存するノイズの信号
及び蓄積時間に依存しないノイズの信号を差分する工程
とを有する補正方法。
【請求項１７】光電変換部の画素における任意の２つ
以上の蓄積時間でのノイズ情報によって前記画素からの
信号に対してノイズ補正を行う工程を含むプログラムを
記憶可能な記憶媒体。
【請求項１８】請求項１７において、前記画素におけ
る任意の２つ以上の蓄積時間でのノイズ情報にもとずい
て蓄積時間に依存するノイズのノイズ情報と、蓄積時間
に依存しないノイズのノイズ情報を算出する工程と、前
記画素からの信号から蓄積時間に依存するノイズの信号
及び蓄積時間に依存しないノイズの信号を差分する工程
とを含むプログラムを記憶可能な記録媒体。