JP2000095544A - ガラス組成物、それを用いたペ−スト、絶縁体、fpd用隔壁および絶縁層 - Google Patents
ガラス組成物、それを用いたペ−スト、絶縁体、fpd用隔壁および絶縁層Info
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- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ガラス組成物、それを用いたペ−スト、絶縁
体、FPD用隔壁および絶縁層を提供する。 【解決手段】ガラス成分として、B2O315〜45モル
%と、ZnO15〜45モル%と、BaO、SrO、C
aOおよびMgOからなる群より選ばれた1種または2
種以上の酸化物15〜40モル%と、BaF2、Ca
F2、SrF2、MgF2およびAlF3からなる群より選
ばれた1種または2種以上のフッ化物10〜30モル%
と、Na2O、K2O、Li2Oからなる群より選ばれた
1種または2種以上のアルカリ酸化物0〜10モル%と
を含む混合体を焼成してなるガラス組成物と、ジルコ
ン、アルミナ、シリカ、チタニア、ムライト、βユ−ク
リプタイト、コ−ディエライト、βスポデユメンおよび
フォルステライト等からなる群より選ばれた1種または
2種以上のセラミックフィラ−を含む混合体をペ−スト
とし、このペ−ストを焼成してなる絶縁体、またこの絶
縁体により形成されたFPD用隔壁および同じくこの絶
縁体により形成されたFPD用絶縁層。
体、FPD用隔壁および絶縁層を提供する。 【解決手段】ガラス成分として、B2O315〜45モル
%と、ZnO15〜45モル%と、BaO、SrO、C
aOおよびMgOからなる群より選ばれた1種または2
種以上の酸化物15〜40モル%と、BaF2、Ca
F2、SrF2、MgF2およびAlF3からなる群より選
ばれた1種または2種以上のフッ化物10〜30モル%
と、Na2O、K2O、Li2Oからなる群より選ばれた
1種または2種以上のアルカリ酸化物0〜10モル%と
を含む混合体を焼成してなるガラス組成物と、ジルコ
ン、アルミナ、シリカ、チタニア、ムライト、βユ−ク
リプタイト、コ−ディエライト、βスポデユメンおよび
フォルステライト等からなる群より選ばれた1種または
2種以上のセラミックフィラ−を含む混合体をペ−スト
とし、このペ−ストを焼成してなる絶縁体、またこの絶
縁体により形成されたFPD用隔壁および同じくこの絶
縁体により形成されたFPD用絶縁層。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、PDP(plas
madisplaypanel:プラズマデイスプレイ
パネル)、PALC(plasma addresse
d liquidcrystal display)等
のFPD(flat panel display)用
隔壁および絶縁層に好適なガラス・セラミック組成物お
よびこれを用いた絶縁体に関するものである。
madisplaypanel:プラズマデイスプレイ
パネル)、PALC(plasma addresse
d liquidcrystal display)等
のFPD(flat panel display)用
隔壁および絶縁層に好適なガラス・セラミック組成物お
よびこれを用いた絶縁体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のガラス・セラミック混合
体組成物として、ガラス粉末が、70〜95重量%、耐
火物フィラ−が5〜30重量%、耐熱顔料が0〜10重
量%を含むものが開示されている(特開平3−1703
46)。このガラス成分は、55〜65重量%のPb
O、0〜5重量%のB2O3、15〜25重量%のSiO
2、0.5〜5重量%のAl2O3、0.5〜15重量%
の(SnO2+TiO2)、0.5〜10重量%の(Mg
O+CaO+SrO+BaO)、0.1〜5重量%のL
a2O3からなる。しかし、上記従来のガラス組成物で
は、Pb成分を含有するため、ガラス組成物の密度が大
きくなり、このガラス組成物をPDPのガラス基板上の
隔壁として使用した場合、ガラス基板の重量が増大する
問題点や、環境汚染の原因となる問題点があった。ガラ
ス基板の重量が増大すると、ガラス基板の焼成時にガラ
ス基板に反りが発生し易くなる、即ちガラス基板の焼成
工程において加熱むらを防止するために、ガラス基板を
下から数カ所で点支持しているが、上記従来のガラス組
成物では、隔壁の比誘電率が10〜12程度で比較的大
きいため、電気信号が近隣の配線に漏洩し、画像にクロ
スト−クが生じ易い問題点があった。更に上記従来のガ
ラス組成物においては、PDP隔壁若しくは絶縁層とし
ての使用中(プラズマ減圧雰囲気下にて)に金属Pbが
析出し、放電特性が低下する問題点があった。Pb成分
を含まないガラスとして、耐イオン放電衝撃性低軟化温
度ガラス(特開昭48−43007)やプラズマディス
プレイパネル(特開平8−301631)が開示されて
いる。上記特開昭48−43007号公報に示された耐
イオン放電衝撃性低軟化温度ガラスでは、30〜43重
量%の無水硼酸(B2O3)、18〜33重量%の五酸化
バナジウム(V2O5)、17〜22重量%の酸化亜鉛
(ZnO)、8〜12重量%の酸化ナトリウム(Na2
O)を主成分とし、これに6重量%以下の珪酸(SiO
2)、5重量%以下のアルミナ(Al2O3)、4重量%
以下の酸化ジルコニウム(ZrO2)のうち少なくとも
1種を含有させたことを特徴とする。この耐イオン放電
衝撃性低軟化温度ガラスでは、一般に使用される窓ガラ
ス板と略同じ熱膨張係数と窓ガラス板より低い軟化温度
を有するため、ひび割れ等を生じることなく窓ガラスに
均一に融着する。またガスイオン等の放電による衝撃に
より解離等の変化を生じ易い酸化鉛(PbO)や酸化ビ
スマス(Bi2O3)等の重金属酸化物を全く含有しない
ため、PDPのガラス基板の被膜用ガラス等の長時間に
わたりガスイオンの放電衝撃を受ける部分に使用しても
ガスイオン放電特性に全く影響を生じることがなく、被
膜の黒化および透明度の変化等の劣化を生じることもな
い。一方、上記特開平8−301631号公報に示され
たプラズマディスプレイでは、相対向するガラス基板間
のディスプレイの各画素間に隔壁が形成され、この隔壁
がP2O5系ガラスからなるガラス粉末と、低膨張セラミ
ック粉末とからなるガラスセラミック組成物の焼成物か
らなることを特徴とする。このプラズマディスプレイパ
ネルでは、ガラスセラミック組成物が20〜70重量%
のガラス粉末と、30〜80重量%の低膨張セラミック
粉末からなり、ガラス粉末が25〜35モル%のP
2O5、0〜50モル%のZnO、0〜70モル%のSn
O、0〜10モル%のLi2O、0〜10モル%のNa2
O、0〜10モル%のK2O、0〜20モル%の(L2O
+Na2O、+K2O)、0〜10モル%のMgO、0〜
10モル%のCaO、0〜10モル%のSrO、0〜1
0モル%のBaO、0〜20モル%の(MgO+CaO
+SrO+BaO)、0〜10モル%のB2O3、0〜1
0モル%のAl2O3からなる。このように構成されたプ
ラズマディスプレイパネルでは、隔壁の比誘電率が7〜
10の間であり、Pbを含有する隔壁と比較して、表示
のクロスト−クを低減できる。また隔壁にPb成分を含
有しないため、密度が小さく、大型のPDPに最適であ
る。更に熱膨張係数が通常のPDP用ガラス基板に整合
しているため、PDPのガラス基板上に隔壁を形成した
際に反りがなく、下地のオ−バコ−トにクラックが入っ
たりすることがなく、ガラス基板も割れ難くなる。
体組成物として、ガラス粉末が、70〜95重量%、耐
火物フィラ−が5〜30重量%、耐熱顔料が0〜10重
量%を含むものが開示されている(特開平3−1703
46)。このガラス成分は、55〜65重量%のPb
O、0〜5重量%のB2O3、15〜25重量%のSiO
2、0.5〜5重量%のAl2O3、0.5〜15重量%
の(SnO2+TiO2)、0.5〜10重量%の(Mg
O+CaO+SrO+BaO)、0.1〜5重量%のL
a2O3からなる。しかし、上記従来のガラス組成物で
は、Pb成分を含有するため、ガラス組成物の密度が大
きくなり、このガラス組成物をPDPのガラス基板上の
隔壁として使用した場合、ガラス基板の重量が増大する
問題点や、環境汚染の原因となる問題点があった。ガラ
ス基板の重量が増大すると、ガラス基板の焼成時にガラ
ス基板に反りが発生し易くなる、即ちガラス基板の焼成
工程において加熱むらを防止するために、ガラス基板を
下から数カ所で点支持しているが、上記従来のガラス組
成物では、隔壁の比誘電率が10〜12程度で比較的大
きいため、電気信号が近隣の配線に漏洩し、画像にクロ
スト−クが生じ易い問題点があった。更に上記従来のガ
ラス組成物においては、PDP隔壁若しくは絶縁層とし
ての使用中(プラズマ減圧雰囲気下にて)に金属Pbが
析出し、放電特性が低下する問題点があった。Pb成分
を含まないガラスとして、耐イオン放電衝撃性低軟化温
度ガラス(特開昭48−43007)やプラズマディス
プレイパネル(特開平8−301631)が開示されて
いる。上記特開昭48−43007号公報に示された耐
イオン放電衝撃性低軟化温度ガラスでは、30〜43重
量%の無水硼酸(B2O3)、18〜33重量%の五酸化
バナジウム(V2O5)、17〜22重量%の酸化亜鉛
(ZnO)、8〜12重量%の酸化ナトリウム(Na2
O)を主成分とし、これに6重量%以下の珪酸(SiO
2)、5重量%以下のアルミナ(Al2O3)、4重量%
以下の酸化ジルコニウム(ZrO2)のうち少なくとも
1種を含有させたことを特徴とする。この耐イオン放電
衝撃性低軟化温度ガラスでは、一般に使用される窓ガラ
ス板と略同じ熱膨張係数と窓ガラス板より低い軟化温度
を有するため、ひび割れ等を生じることなく窓ガラスに
均一に融着する。またガスイオン等の放電による衝撃に
より解離等の変化を生じ易い酸化鉛(PbO)や酸化ビ
スマス(Bi2O3)等の重金属酸化物を全く含有しない
ため、PDPのガラス基板の被膜用ガラス等の長時間に
わたりガスイオンの放電衝撃を受ける部分に使用しても
ガスイオン放電特性に全く影響を生じることがなく、被
膜の黒化および透明度の変化等の劣化を生じることもな
い。一方、上記特開平8−301631号公報に示され
たプラズマディスプレイでは、相対向するガラス基板間
のディスプレイの各画素間に隔壁が形成され、この隔壁
がP2O5系ガラスからなるガラス粉末と、低膨張セラミ
ック粉末とからなるガラスセラミック組成物の焼成物か
らなることを特徴とする。このプラズマディスプレイパ
ネルでは、ガラスセラミック組成物が20〜70重量%
のガラス粉末と、30〜80重量%の低膨張セラミック
粉末からなり、ガラス粉末が25〜35モル%のP
2O5、0〜50モル%のZnO、0〜70モル%のSn
O、0〜10モル%のLi2O、0〜10モル%のNa2
O、0〜10モル%のK2O、0〜20モル%の(L2O
+Na2O、+K2O)、0〜10モル%のMgO、0〜
10モル%のCaO、0〜10モル%のSrO、0〜1
0モル%のBaO、0〜20モル%の(MgO+CaO
+SrO+BaO)、0〜10モル%のB2O3、0〜1
0モル%のAl2O3からなる。このように構成されたプ
ラズマディスプレイパネルでは、隔壁の比誘電率が7〜
10の間であり、Pbを含有する隔壁と比較して、表示
のクロスト−クを低減できる。また隔壁にPb成分を含
有しないため、密度が小さく、大型のPDPに最適であ
る。更に熱膨張係数が通常のPDP用ガラス基板に整合
しているため、PDPのガラス基板上に隔壁を形成した
際に反りがなく、下地のオ−バコ−トにクラックが入っ
たりすることがなく、ガラス基板も割れ難くなる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の特
開昭48−43007号公報に示された耐イオン放電衝
撃性低軟化温度ガラスでは、V2O5を含むため、茶色に
着色され、反射率が低下する不具合があった。また上記
従来の特開平8−301631号公報に示されたプラズ
マディスプレイでは、P2O5を含むため、耐水性が悪い
問題点があった。上記従来の特開平8−301631号
公報に示されたプラズマディスプレイでは、ガラスの熱
膨張係数がガラス基板に対して大きいので、熱膨張係数
をガラス基板と整合させるために、セラミックフィラ−
を多量に添加しなければならず、焼成後の構造が多孔質
になり、強度が低下し放電特性も低下する問題点があっ
た。本発明の目的は、FPDのガラス基板に反りを発生
させず、かつFPDの画像にクロスト−クを発生させず
に、反射率を向上できるガラス・セラミック組成物、そ
れを用いたペ−スト、絶縁体、FPD用隔壁および絶縁
層を提供することである。本発明の別の目的は、強度お
よび放電特性を低下させずに、熱膨張係数を低くして熱
膨張係数をFPDガラス基板と整合させることができ、
かつガラス基板より軟化点を低くできるガラス・セラミ
ック組成物、それを用いたペ−スト、絶縁体、FPD用
隔壁および絶縁層を提供することである。
開昭48−43007号公報に示された耐イオン放電衝
撃性低軟化温度ガラスでは、V2O5を含むため、茶色に
着色され、反射率が低下する不具合があった。また上記
従来の特開平8−301631号公報に示されたプラズ
マディスプレイでは、P2O5を含むため、耐水性が悪い
問題点があった。上記従来の特開平8−301631号
公報に示されたプラズマディスプレイでは、ガラスの熱
膨張係数がガラス基板に対して大きいので、熱膨張係数
をガラス基板と整合させるために、セラミックフィラ−
を多量に添加しなければならず、焼成後の構造が多孔質
になり、強度が低下し放電特性も低下する問題点があっ
た。本発明の目的は、FPDのガラス基板に反りを発生
させず、かつFPDの画像にクロスト−クを発生させず
に、反射率を向上できるガラス・セラミック組成物、そ
れを用いたペ−スト、絶縁体、FPD用隔壁および絶縁
層を提供することである。本発明の別の目的は、強度お
よび放電特性を低下させずに、熱膨張係数を低くして熱
膨張係数をFPDガラス基板と整合させることができ、
かつガラス基板より軟化点を低くできるガラス・セラミ
ック組成物、それを用いたペ−スト、絶縁体、FPD用
隔壁および絶縁層を提供することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】請求項1に係わる発明
は、ガラス成分として、B2O320〜45モル%と、Z
nO15〜45モル%と、BaO、SrO、CaOおよ
びMgOからなる群より選ばれた1種または2種以上の
酸化物15〜40モル%と、BaF2、CaF2、SrF
2、MgF2およびAlF3からなる群より選ばれた1種
または2種以上のフッ化物10〜30モル%と、Na2
O、K2O、Li2Oからなる群より選ばれた1種または
2種以上のアルカリ酸化物0〜20モル%とを含むする
ガラス組成物である。この請求項1に記載されたガラス
組成物では、ガラス成分を上記範囲内で夫々混合する
と、焼成温度が低くなって、軟化点も低くなる。更にア
ルカリ酸化物を添加することにより、焼成温度、軟化点
をより低くすることができる。また上記ガラス成分に密
度の大きいPb成分を含まないため、重量を軽減でき、
環境を汚染することもない。請求項2に係わる発明は、
ガラス成分として、B2O315〜45モル%と、ZnO
15〜45モル%と、BaO、SrO、CaOおよびM
gOからなる群より選ばれた1種または2種以上の酸化
物15〜40モル%と、BaF2、CaF2、SrF2、
MgF2およびAlF3からなる群より選ばれた1種また
は2種以上のフッ化物10〜30モル%と、Na2O、
K2O、Li2Oからなる群より選ばれた1種または2種
以上のアルカリ酸化物0〜20モル%とを含むガラス組
成物と;ジルコン、アルミナ、シリカ、チタニア、ムラ
イト、βユ−クリプタイト、コ−デイエライト、βスポ
デュメンおよびフォルステライト等からなる群より選ば
れた1種または2種以上のセラミックフィラ−類を含む
ガラス・セラミック混合体組成物である。請求項3に係
わる発明は、請求項2記載のガラス・セラミック混合体
組成物を30〜95重量%と、有機バインダ0.3〜1
5重量%と、溶剤と可塑剤と分散剤3〜70重量%を含
むペ−ストである。請求項4に係わる発明は、請求項3
記載のペ−ストを焼成してなる絶縁体であって、ガラス
の軟化点が低いので、絶縁体の焼成温度を低くすること
が出来る。またセラミックフィラ−の添加によって反射
率の高い絶縁体を得ることが出来る。請求項5に係わる
発明は、請求項4記載の絶縁体により形成されたFPD
用隔壁である。請求項6に係わる発明は、請求項4記載
の絶縁体により形成されたFPD用絶縁層である。
は、ガラス成分として、B2O320〜45モル%と、Z
nO15〜45モル%と、BaO、SrO、CaOおよ
びMgOからなる群より選ばれた1種または2種以上の
酸化物15〜40モル%と、BaF2、CaF2、SrF
2、MgF2およびAlF3からなる群より選ばれた1種
または2種以上のフッ化物10〜30モル%と、Na2
O、K2O、Li2Oからなる群より選ばれた1種または
2種以上のアルカリ酸化物0〜20モル%とを含むする
ガラス組成物である。この請求項1に記載されたガラス
組成物では、ガラス成分を上記範囲内で夫々混合する
と、焼成温度が低くなって、軟化点も低くなる。更にア
ルカリ酸化物を添加することにより、焼成温度、軟化点
をより低くすることができる。また上記ガラス成分に密
度の大きいPb成分を含まないため、重量を軽減でき、
環境を汚染することもない。請求項2に係わる発明は、
ガラス成分として、B2O315〜45モル%と、ZnO
15〜45モル%と、BaO、SrO、CaOおよびM
gOからなる群より選ばれた1種または2種以上の酸化
物15〜40モル%と、BaF2、CaF2、SrF2、
MgF2およびAlF3からなる群より選ばれた1種また
は2種以上のフッ化物10〜30モル%と、Na2O、
K2O、Li2Oからなる群より選ばれた1種または2種
以上のアルカリ酸化物0〜20モル%とを含むガラス組
成物と;ジルコン、アルミナ、シリカ、チタニア、ムラ
イト、βユ−クリプタイト、コ−デイエライト、βスポ
デュメンおよびフォルステライト等からなる群より選ば
れた1種または2種以上のセラミックフィラ−類を含む
ガラス・セラミック混合体組成物である。請求項3に係
わる発明は、請求項2記載のガラス・セラミック混合体
組成物を30〜95重量%と、有機バインダ0.3〜1
5重量%と、溶剤と可塑剤と分散剤3〜70重量%を含
むペ−ストである。請求項4に係わる発明は、請求項3
記載のペ−ストを焼成してなる絶縁体であって、ガラス
の軟化点が低いので、絶縁体の焼成温度を低くすること
が出来る。またセラミックフィラ−の添加によって反射
率の高い絶縁体を得ることが出来る。請求項5に係わる
発明は、請求項4記載の絶縁体により形成されたFPD
用隔壁である。請求項6に係わる発明は、請求項4記載
の絶縁体により形成されたFPD用絶縁層である。
【0005】この請求項5に記載されたFPD用隔壁ま
たは請求項6に記載されたFPD用絶縁層では、上記ガ
ラス組成物とセラミックフィラ−との混合体に有機バイ
ンダを含むセラミックグリ−ンリブまたはセラミックグ
リ−ンシ−トを焼成することにより、上記リブまたはシ
−トが隔壁または絶縁層になる。或いはガラス組成物、
セラミックフィラ−および有機バインダに有機溶媒を加
えて、ペ−スト化しスクリ−ン印刷したのち、乾燥後セ
ラミックグリ−ンリブまたはセラミックグリ−ン層を焼
成することにより、セラミック隔壁または絶縁層が形成
できる。この時の焼成温度はガラス基板の軟化点より1
00℃以上低いため、ガラス基板に反り等は生じない。
また上記隔壁または絶縁層の熱膨張係数はガラス基板の
熱膨張係数と概略同一になるため、ガラス基板の反りを
更に制御できる。上記隔壁または絶縁層の比誘電率が4
〜7程度と比較的小さくなるので、電気信号が近隣の配
線に漏洩することはなく、画像にクロスト−クが発生し
ない。更にガラス成分へのセラミックフィラ−成分の添
加量は比較的少量で済むので、焼成後の強度および放電
特性が低下することもない。
たは請求項6に記載されたFPD用絶縁層では、上記ガ
ラス組成物とセラミックフィラ−との混合体に有機バイ
ンダを含むセラミックグリ−ンリブまたはセラミックグ
リ−ンシ−トを焼成することにより、上記リブまたはシ
−トが隔壁または絶縁層になる。或いはガラス組成物、
セラミックフィラ−および有機バインダに有機溶媒を加
えて、ペ−スト化しスクリ−ン印刷したのち、乾燥後セ
ラミックグリ−ンリブまたはセラミックグリ−ン層を焼
成することにより、セラミック隔壁または絶縁層が形成
できる。この時の焼成温度はガラス基板の軟化点より1
00℃以上低いため、ガラス基板に反り等は生じない。
また上記隔壁または絶縁層の熱膨張係数はガラス基板の
熱膨張係数と概略同一になるため、ガラス基板の反りを
更に制御できる。上記隔壁または絶縁層の比誘電率が4
〜7程度と比較的小さくなるので、電気信号が近隣の配
線に漏洩することはなく、画像にクロスト−クが発生し
ない。更にガラス成分へのセラミックフィラ−成分の添
加量は比較的少量で済むので、焼成後の強度および放電
特性が低下することもない。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を詳し
く説明する。本発明の絶縁体は、ガラス組成物とセラミ
ックフィラ−とを含む混合体に有機バインダ、溶剤、必
要に応じて、可塑剤、分散剤を混合したペ−ストを焼成
することにより形成される。上記ガラス組成物として
は、B2O3を15〜45モル%と、ZnOを15〜45
モル%と、BaO、SrO、CaOおよびMgOからな
る群より選ばれた1種または2種以上の酸化物を15〜
40モル%とBaF2、CaF2、SrF2、MgF2およ
びAlF3からなる群より選ばれた1種または2種以上
のフッ化物を10〜30モル%とNa2O、K2O、Li
2Oからなる群より選ばれた1種または2種以上のアル
カリ酸化物0〜20モル%とを含む。B2O3を15〜4
5モル%の範囲に限定したのは、15モル%未満では、
ガラスにならず軟化点も高い不具合があり、45モル%
を超えると、耐水性が悪い不具合があるからであり、B
2O3は25〜40モル%であることが更に好ましい。ま
たZnOを15〜45モル%の範囲に限定したのは、1
5モル%未満では、軟化点が高い不具合があり、45モ
ル%を超えても軟化点が高い不具合があり、ZnOは2
0〜40モル%であることが更に好ましい。またBa
O、SrO、CaOおよびMgOからなる群より選ばれ
た1種または2種以上の酸化物を15〜40モル%の範
囲に限定したのは、15モル%未満では、軟化点が高い
不具合があり、40モル%を超えるとガラスにならない
不具合があるからであり、この酸化物は20〜35モル
%であることが更に好ましい。更にBaF2、CaF2、
SrF2、MgF2およびAlF3からなる群より選ばれ
た1種または2種以上のフッ化物を10〜30モル%の
範囲に限定したのは、10モル%未満では軟化点が高い
不具合があり、30モル%を超えるとガラスにならない
不具合があるからであり、このフッ化物は12〜25モ
ル%であることがさらに好ましい。また、Na2O、K2
O、Li2Oからなる群より選ばれた1種または2種以
上のアルカリ酸化物の含有量を0〜20モル%と限定し
たのは、20モル%を超えても軟化点を下げる効果が少
ないので、その値を0〜20モル%に定めた。またセラ
ミックフィラ−としては、ジルコン、アルミナ、シリ
カ、チタニア、ムライト、βユ−クリプタイト、コ−デ
ィエライト、βスポデュメン、およびフォルステライト
からなる群より選ばれた1種または2種以上のセラミッ
クを含む。ガラス成分にセラミックフィラ−成分を混合
するのは、例えば上記ガラス成分を用いたPDP用隔壁
をガラス基板上に形成する場合、この隔壁の熱膨張係数
とガラス基板の熱膨張係数とを整合させるためと反射率
の向上である。
く説明する。本発明の絶縁体は、ガラス組成物とセラミ
ックフィラ−とを含む混合体に有機バインダ、溶剤、必
要に応じて、可塑剤、分散剤を混合したペ−ストを焼成
することにより形成される。上記ガラス組成物として
は、B2O3を15〜45モル%と、ZnOを15〜45
モル%と、BaO、SrO、CaOおよびMgOからな
る群より選ばれた1種または2種以上の酸化物を15〜
40モル%とBaF2、CaF2、SrF2、MgF2およ
びAlF3からなる群より選ばれた1種または2種以上
のフッ化物を10〜30モル%とNa2O、K2O、Li
2Oからなる群より選ばれた1種または2種以上のアル
カリ酸化物0〜20モル%とを含む。B2O3を15〜4
5モル%の範囲に限定したのは、15モル%未満では、
ガラスにならず軟化点も高い不具合があり、45モル%
を超えると、耐水性が悪い不具合があるからであり、B
2O3は25〜40モル%であることが更に好ましい。ま
たZnOを15〜45モル%の範囲に限定したのは、1
5モル%未満では、軟化点が高い不具合があり、45モ
ル%を超えても軟化点が高い不具合があり、ZnOは2
0〜40モル%であることが更に好ましい。またBa
O、SrO、CaOおよびMgOからなる群より選ばれ
た1種または2種以上の酸化物を15〜40モル%の範
囲に限定したのは、15モル%未満では、軟化点が高い
不具合があり、40モル%を超えるとガラスにならない
不具合があるからであり、この酸化物は20〜35モル
%であることが更に好ましい。更にBaF2、CaF2、
SrF2、MgF2およびAlF3からなる群より選ばれ
た1種または2種以上のフッ化物を10〜30モル%の
範囲に限定したのは、10モル%未満では軟化点が高い
不具合があり、30モル%を超えるとガラスにならない
不具合があるからであり、このフッ化物は12〜25モ
ル%であることがさらに好ましい。また、Na2O、K2
O、Li2Oからなる群より選ばれた1種または2種以
上のアルカリ酸化物の含有量を0〜20モル%と限定し
たのは、20モル%を超えても軟化点を下げる効果が少
ないので、その値を0〜20モル%に定めた。またセラ
ミックフィラ−としては、ジルコン、アルミナ、シリ
カ、チタニア、ムライト、βユ−クリプタイト、コ−デ
ィエライト、βスポデュメン、およびフォルステライト
からなる群より選ばれた1種または2種以上のセラミッ
クを含む。ガラス成分にセラミックフィラ−成分を混合
するのは、例えば上記ガラス成分を用いたPDP用隔壁
をガラス基板上に形成する場合、この隔壁の熱膨張係数
とガラス基板の熱膨張係数とを整合させるためと反射率
の向上である。
【0007】この実施の形態では、上記せるペ−ストの
各成分の配合比は、ガラス組成物およびセラミックフィ
ラ−を30〜70重量%、有機バインダを15〜3重量
%、溶媒を55〜27重量%であることが好ましい。溶
媒は常温での揮発性が比較的小さい有機溶媒であること
が必要であり、タ−ピネオ−ル、プチルカルビト−ル、
アセテ−トまたはエ−テル等が挙げられる。ペ−ストを
このように構成することにより所定の粘度を有するペ−
ストを得ることができ、ガラス基板上に形成されたセラ
ミックキャピラリリブのだれを抑制して焼成することに
よりセラミックリブを精度良く形成することができる。
各成分の配合比は、ガラス組成物およびセラミックフィ
ラ−を30〜70重量%、有機バインダを15〜3重量
%、溶媒を55〜27重量%であることが好ましい。溶
媒は常温での揮発性が比較的小さい有機溶媒であること
が必要であり、タ−ピネオ−ル、プチルカルビト−ル、
アセテ−トまたはエ−テル等が挙げられる。ペ−ストを
このように構成することにより所定の粘度を有するペ−
ストを得ることができ、ガラス基板上に形成されたセラ
ミックキャピラリリブのだれを抑制して焼成することに
よりセラミックリブを精度良く形成することができる。
【0008】この実施の形態では、上記ガラス・セラミ
ック混合体を焼成することによりセラミックリブ(PD
P用隔壁)が形成される。このセラミックリブの形成方
法を図1に基づいて説明する。第一の実施の形態の場
合、セラミックリブは図1に示すように、ペ−ストを基
板10表面に塗布してペ−スト膜11を形成し、ブレ−
ド12周辺の少なくとも一部に形成されたくし歯12b
をペ−スト膜11につき刺した状態でブレ−ド12また
は基板10を一定方向に移動することにより基板10表
面にセラミックキャピラリリブ13を形成する方法であ
る。くし歯12bをペ−スト膜11につき刺した状態で
ブレ−ド12または基板10を一定方向に移動すること
により、基板10表面に形成された膜11のブレ−ド1
2のくし歯12bに対する箇所のペ−スト11は、くし
歯12bの隙間に移動するか、若しくは掃き取られ、く
し歯12bの隙間に位置する膜11のみが基板10上に
残存して、基板10表面にセラミックキャピラリリブ1
3が形成される。
ック混合体を焼成することによりセラミックリブ(PD
P用隔壁)が形成される。このセラミックリブの形成方
法を図1に基づいて説明する。第一の実施の形態の場
合、セラミックリブは図1に示すように、ペ−ストを基
板10表面に塗布してペ−スト膜11を形成し、ブレ−
ド12周辺の少なくとも一部に形成されたくし歯12b
をペ−スト膜11につき刺した状態でブレ−ド12また
は基板10を一定方向に移動することにより基板10表
面にセラミックキャピラリリブ13を形成する方法であ
る。くし歯12bをペ−スト膜11につき刺した状態で
ブレ−ド12または基板10を一定方向に移動すること
により、基板10表面に形成された膜11のブレ−ド1
2のくし歯12bに対する箇所のペ−スト11は、くし
歯12bの隙間に移動するか、若しくは掃き取られ、く
し歯12bの隙間に位置する膜11のみが基板10上に
残存して、基板10表面にセラミックキャピラリリブ1
3が形成される。
【0009】第二の実施の形態の場合、セラミックリブ
は図2に示すように、ペ−ストを基板10表面に塗布し
てペ−スト膜11を形成し、ブレ−ド12周辺の少なく
とも一部に形成されたくし歯12bをペ−スト膜11に
つき刺した状態でブレ−ド12または基板10を一定方
向に移動することにより基板10表面にセラミックキャ
ピラリ層22とこのセラミックキャピラリ層(絶縁層)
22上にセラミックキャピラリリブ23(隔壁)を形成
する方法である。くし歯12bの先端を基板10表面か
ら所定の高さ浮上するようにペ−スト膜11につき刺し
た状態でブレ−ド12を移動するか、または基板10を
一定方向に移動させることにより、基板10表面から所
定の高さまでのペ−ストは基板表面上に残存してセラミ
ックキャピラリ層22を形成し、このセラミックキャピ
ラリ層22より上方のペ−ストであってブレ−ド12の
くし歯12bに対する箇所はくし歯12bの隙間に移動
するか、若しくは掃き取られ、くし歯12bの隙間に位
置するペ−ストのみがセラミックキャピラリ層22上に
残存して、セラミックキャピラリ層22上にセラミック
キャピラリリブ23を形成される。
は図2に示すように、ペ−ストを基板10表面に塗布し
てペ−スト膜11を形成し、ブレ−ド12周辺の少なく
とも一部に形成されたくし歯12bをペ−スト膜11に
つき刺した状態でブレ−ド12または基板10を一定方
向に移動することにより基板10表面にセラミックキャ
ピラリ層22とこのセラミックキャピラリ層(絶縁層)
22上にセラミックキャピラリリブ23(隔壁)を形成
する方法である。くし歯12bの先端を基板10表面か
ら所定の高さ浮上するようにペ−スト膜11につき刺し
た状態でブレ−ド12を移動するか、または基板10を
一定方向に移動させることにより、基板10表面から所
定の高さまでのペ−ストは基板表面上に残存してセラミ
ックキャピラリ層22を形成し、このセラミックキャピ
ラリ層22より上方のペ−ストであってブレ−ド12の
くし歯12bに対する箇所はくし歯12bの隙間に移動
するか、若しくは掃き取られ、くし歯12bの隙間に位
置するペ−ストのみがセラミックキャピラリ層22上に
残存して、セラミックキャピラリ層22上にセラミック
キャピラリリブ23を形成される。
【0010】また、第三の実施の形態の場合、図3に示
すように、厚膜印刷法によりガラス基板30上にセラミ
ックリブ34を形成しても良い。この方法では、ガラス
基板30の表面に上記ペ−ストを厚膜印刷法により所定
のパタ−ンで位置合わせをして重ね塗りした後に乾燥
し、ペ−スト膜31を形成する。この工程を多数回繰り
返してペ−スト膜31を所定の高さに形成した後に焼成
することにより、セラミックリブ34がガラス基板30
上に所定の間隔をあけて形成される。
すように、厚膜印刷法によりガラス基板30上にセラミ
ックリブ34を形成しても良い。この方法では、ガラス
基板30の表面に上記ペ−ストを厚膜印刷法により所定
のパタ−ンで位置合わせをして重ね塗りした後に乾燥
し、ペ−スト膜31を形成する。この工程を多数回繰り
返してペ−スト膜31を所定の高さに形成した後に焼成
することにより、セラミックリブ34がガラス基板30
上に所定の間隔をあけて形成される。
【0011】また、第四の実施の形態の場合、セラミッ
クリブは図4に示すように、サンドブラスト法によりガ
ラス基板30上にセラミックリブ44を形成しても良
い。この方法では、ガラス基板30の表面全体に上記ペ
−ストを厚膜法で塗布し、乾燥することにより、或いは
上記ペ−ストから作製されたセラミックグリ−ンテ−プ
を積層することにより、所定の高さのパタ−ン形成層4
1を形成した後、このパタ−ン形成層41を感光性フィ
ルム42で被覆し、更にこのフィルム42上をマスク4
3で覆って、露光、現像を行うことにより所定のパタ−
ンのレジスト層46を形成する。次にこのレジスト層4
6の上方からサンドブラスト処理を施してセル47とな
る部分を取り除くことにより、パタ−ン形成層41がセ
ラミックグリ−ンリブ48となる。更に剥離剤等を用い
て上記レジスト層46を除去した後に焼成することによ
り、セラミックリブ44がガラス基板30上に所定の間
隔をあけて形成される。
クリブは図4に示すように、サンドブラスト法によりガ
ラス基板30上にセラミックリブ44を形成しても良
い。この方法では、ガラス基板30の表面全体に上記ペ
−ストを厚膜法で塗布し、乾燥することにより、或いは
上記ペ−ストから作製されたセラミックグリ−ンテ−プ
を積層することにより、所定の高さのパタ−ン形成層4
1を形成した後、このパタ−ン形成層41を感光性フィ
ルム42で被覆し、更にこのフィルム42上をマスク4
3で覆って、露光、現像を行うことにより所定のパタ−
ンのレジスト層46を形成する。次にこのレジスト層4
6の上方からサンドブラスト処理を施してセル47とな
る部分を取り除くことにより、パタ−ン形成層41がセ
ラミックグリ−ンリブ48となる。更に剥離剤等を用い
て上記レジスト層46を除去した後に焼成することによ
り、セラミックリブ44がガラス基板30上に所定の間
隔をあけて形成される。
【0012】本発明のペ−ストは、ガラス・セラミック
混合粉末30〜95重量%と、有機バインダ0.3〜1
5重量%と、溶剤と可塑剤と分散剤3〜70重量%を含
むものである。ペ−ストをこのように配合することによ
り、粘度が1000〜500,000cpsのペ−スト
を得ることが出来、基板10上に形成されたセラミック
キャピラリリブのだれを抑制してセラミックキャピラリ
リブを精度良く形成する。なお、ペ−ストの粘度は、
5,000〜500,000cpsが好ましく、10,
000〜300,000cpsが更に好ましい。
混合粉末30〜95重量%と、有機バインダ0.3〜1
5重量%と、溶剤と可塑剤と分散剤3〜70重量%を含
むものである。ペ−ストをこのように配合することによ
り、粘度が1000〜500,000cpsのペ−スト
を得ることが出来、基板10上に形成されたセラミック
キャピラリリブのだれを抑制してセラミックキャピラリ
リブを精度良く形成する。なお、ペ−ストの粘度は、
5,000〜500,000cpsが好ましく、10,
000〜300,000cpsが更に好ましい。
【0013】上記、実施の形態では、本発明の絶縁体に
よりPDP用隔壁13、23、34、44およびPDP
用絶縁層22を形成したが、PALC用隔壁およびPA
LC用絶縁層を形成しても良い。
よりPDP用隔壁13、23、34、44およびPDP
用絶縁層22を形成したが、PALC用隔壁およびPA
LC用絶縁層を形成しても良い。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を比較例と共に詳しく
説明する。 [実施例1]B2O3を30モル%と、ZnOを20モル
%と、BaOを25モル%とLi2Oを5モル%とMg
F2を20モル%とを含むガラス粉末(ガラス組成物)
を70重量%用意し、セラミックフィラ−として平均粒
径5.0μmのβユ−クリプタイト粉末を20重量%用
意し、両者を十分に混合した。上記ガラス粉末は具体的
には、B2O3としてH3BO3、ZnOはそのまま、Ba
OとしてBaCO3、Li2OとしてはLi2CO3を、M
gF2はそのままを夫々所定の成分になるように混合
し、大気中で1100℃にて30分間溶解して白金皿に
流し出し、固化した後に粉砕して(平均粒径3〜5μ
m)得た。この混合粉末と有機バインダであるエチルセ
ルロ−スと溶媒であるαテレピネオ−ルとを重量比で5
0/5/45の割合で配合し、十分に混練してペ−スト
を得た。このようにして得られたペ−ストを実施例1と
した。なお、以下の実施例2〜29および比較例1〜8
のガラス粉末も、上記と同様にB2O3としてH3BO3、
ZnOはそのまま、酸化物であるBaO、SrO、Ca
O、MgO、Na2O、K2OまたはLi2OとしてBa
CO3、SrCO3、CaCO3、MgCO3、NaCO3、
K2CO3、またはLi2CO3、フッ化物であるMg
F2、CaF2、SrF2、MgF2またはAlF3はその
ままを夫々所定の成分になるように混合し、大気中で1
100℃にて30分間溶解して白金皿に流し出し、固化
した後に粉砕して(平均粒径3〜5μm)得た。
説明する。 [実施例1]B2O3を30モル%と、ZnOを20モル
%と、BaOを25モル%とLi2Oを5モル%とMg
F2を20モル%とを含むガラス粉末(ガラス組成物)
を70重量%用意し、セラミックフィラ−として平均粒
径5.0μmのβユ−クリプタイト粉末を20重量%用
意し、両者を十分に混合した。上記ガラス粉末は具体的
には、B2O3としてH3BO3、ZnOはそのまま、Ba
OとしてBaCO3、Li2OとしてはLi2CO3を、M
gF2はそのままを夫々所定の成分になるように混合
し、大気中で1100℃にて30分間溶解して白金皿に
流し出し、固化した後に粉砕して(平均粒径3〜5μ
m)得た。この混合粉末と有機バインダであるエチルセ
ルロ−スと溶媒であるαテレピネオ−ルとを重量比で5
0/5/45の割合で配合し、十分に混練してペ−スト
を得た。このようにして得られたペ−ストを実施例1と
した。なお、以下の実施例2〜29および比較例1〜8
のガラス粉末も、上記と同様にB2O3としてH3BO3、
ZnOはそのまま、酸化物であるBaO、SrO、Ca
O、MgO、Na2O、K2OまたはLi2OとしてBa
CO3、SrCO3、CaCO3、MgCO3、NaCO3、
K2CO3、またはLi2CO3、フッ化物であるMg
F2、CaF2、SrF2、MgF2またはAlF3はその
ままを夫々所定の成分になるように混合し、大気中で1
100℃にて30分間溶解して白金皿に流し出し、固化
した後に粉砕して(平均粒径3〜5μm)得た。
【0015】[実施例2]ガラス粉末が実施例1のMg
F2に替えてSrF2を20モル%含むことを除いて、実
施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例2とした。
F2に替えてSrF2を20モル%含むことを除いて、実
施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例2とした。
【0016】[実施例3]ガラス粉末が実施例1のMg
F2に替えてCaF2を20モル%含むことを除いて、実
施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例3とした。
F2に替えてCaF2を20モル%含むことを除いて、実
施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例3とした。
【0017】[実施例4]ガラス粉末が実施例1のMg
F2に替えてAlF3を20モル%含むことを除いて、実
施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例4とした。
F2に替えてAlF3を20モル%含むことを除いて、実
施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例4とした。
【0018】[実施例5]ガラス粉末が、B2O3を25
モル%と、ZnOを20モル%と、BaOを40モル%
と、Li2Oを5モル%とCaF2を10モル%とを含む
ことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例5とした。
モル%と、ZnOを20モル%と、BaOを40モル%
と、Li2Oを5モル%とCaF2を10モル%とを含む
ことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例5とした。
【0019】[実施例6]ガラス粉末が、B2O3を45
モル%と、ZnOを15モル%と、BaOを15モル%
とCaF2を25モル%とを含むことを除いて、実施例
1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実
施例6とした。
モル%と、ZnOを15モル%と、BaOを15モル%
とCaF2を25モル%とを含むことを除いて、実施例
1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実
施例6とした。
【0020】[実施例7]ガラス粉末が、B2O3を15
モル%と、ZnOを45モル%と、BaOを15モル%
とNa2Oを15モル%とCaF2を10モル%とを含む
ことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例7とした。
モル%と、ZnOを45モル%と、BaOを15モル%
とNa2Oを15モル%とCaF2を10モル%とを含む
ことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例7とした。
【0021】[実施例8]ガラス粉末が、B2O3を20
モル%と、ZnOを25モル%と、BaOを15モル%
と、K2Oを20モル%と、CaF2を20モル%とを含
むことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成
した。このペ−ストを実施例8とした。
モル%と、ZnOを25モル%と、BaOを15モル%
と、K2Oを20モル%と、CaF2を20モル%とを含
むことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成
した。このペ−ストを実施例8とした。
【0022】[実施例9]ガラス粉末が、B2O3を30
モル%と、ZnOを20モル%と、CaOを25モル%
と、Li2Oを5モル%とCaF2を20モル%とを含む
ことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例9とした。
モル%と、ZnOを20モル%と、CaOを25モル%
と、Li2Oを5モル%とCaF2を20モル%とを含む
ことを除いて、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例9とした。
【0023】[実施例10]ガラス粉末が、実施例9の
CaOに替えてをSrOを25モル%含むことを除い
て、実施例9と同様にしてペ−ストを形成した。このペ
−ストを実施例10とした。
CaOに替えてをSrOを25モル%含むことを除い
て、実施例9と同様にしてペ−ストを形成した。このペ
−ストを実施例10とした。
【0024】[実施例11]ガラス粉末が、実施例9の
CaOに替えてをMgOを25モル%含むことを除い
て、実施例9と同様にしてペ−ストを形成した。このペ
−ストを実施例11とした。
CaOに替えてをMgOを25モル%含むことを除い
て、実施例9と同様にしてペ−ストを形成した。このペ
−ストを実施例11とした。
【0025】[実施例12]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、BaOを5モル%とSrOを10
モル%と、CaOを10モル%と、Li2Oを5モル%
と、CaF2を20モル%とを含むガラス粉末を60重
量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平均粒径
4.5μmのアルミナ粉末を40重量%用意し、両者を
十分に混合した。上記以外は、実施例1と同様にしてペ
−ストを形成した。このペ−ストを実施例12とした。
nOを20モル%と、BaOを5モル%とSrOを10
モル%と、CaOを10モル%と、Li2Oを5モル%
と、CaF2を20モル%とを含むガラス粉末を60重
量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平均粒径
4.5μmのアルミナ粉末を40重量%用意し、両者を
十分に混合した。上記以外は、実施例1と同様にしてペ
−ストを形成した。このペ−ストを実施例12とした。
【0026】[実施例13]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、BaOを10モル%とSrOを5
モル%と、MgOを10モル%と、Na2Oを5モル%
と、BaF2を20モル%とを含むガラス粉末を60重
量%用意したことを除いて、実施例12と同様にしてペ
−ストを形成した。このペ−ストを実施例13とした。
nOを20モル%と、BaOを10モル%とSrOを5
モル%と、MgOを10モル%と、Na2Oを5モル%
と、BaF2を20モル%とを含むガラス粉末を60重
量%用意したことを除いて、実施例12と同様にしてペ
−ストを形成した。このペ−ストを実施例13とした。
【0027】[実施例14]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、BaOを10モル%とSrOを5
モル%と、CaOを5モル%と、MgOを5モル%と、
K2Oを5モル%と、SrF2を20モル%とを含むガラ
ス粉末を60重量%用意したことを除いて、実施例12
と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実施
例14とした。
nOを20モル%と、BaOを10モル%とSrOを5
モル%と、CaOを5モル%と、MgOを5モル%と、
K2Oを5モル%と、SrF2を20モル%とを含むガラ
ス粉末を60重量%用意したことを除いて、実施例12
と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実施
例14とした。
【0028】[実施例15]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、BaOを10モル%とCaOを1
0モル%と、MgOを10モル%と、Na2Oを10モ
ル%と、AlF3を10モル%とを含むガラス粉末を6
0重量%用意したことを除いて、実施例12と同様にし
てペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例15とし
た。
nOを20モル%と、BaOを10モル%とCaOを1
0モル%と、MgOを10モル%と、Na2Oを10モ
ル%と、AlF3を10モル%とを含むガラス粉末を6
0重量%用意したことを除いて、実施例12と同様にし
てペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例15とし
た。
【0029】[実施例16]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、CaOを15モル%と、MgOを
5モル%と、K2Oを10モル%と、BaF2を5モル%
と、CaF2を10モル%と、AlF3を5モル%とを含
むガラス粉末を60重量%用意したことを除いて、実施
例12と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例16とした。
nOを20モル%と、CaOを15モル%と、MgOを
5モル%と、K2Oを10モル%と、BaF2を5モル%
と、CaF2を10モル%と、AlF3を5モル%とを含
むガラス粉末を60重量%用意したことを除いて、実施
例12と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−スト
を実施例16とした。
【0030】[実施例17]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、SrOを5モル%と、CaOを1
0モル%と、MgOを5モル%と、Li2Oを10モル
%と、SrF2を10モル%と、MgF2を10モル%と
を含むガラス粉末を60重量%用意したことを除いて、
実施例12と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−
ストを実施例17とした。
nOを20モル%と、SrOを5モル%と、CaOを1
0モル%と、MgOを5モル%と、Li2Oを10モル
%と、SrF2を10モル%と、MgF2を10モル%と
を含むガラス粉末を60重量%用意したことを除いて、
実施例12と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−
ストを実施例17とした。
【0031】[実施例18]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、CaOを30モル%と、Li 2O
を5モル%と、MgF2を10モル%と、AlF3を5モ
ル%とを含むガラス粉末を60重量%用意したことを除
いて、実施例12と同様にしてペ−ストを形成した。こ
のペ−ストを実施例18とした。
nOを20モル%と、CaOを30モル%と、Li 2O
を5モル%と、MgF2を10モル%と、AlF3を5モ
ル%とを含むガラス粉末を60重量%用意したことを除
いて、実施例12と同様にしてペ−ストを形成した。こ
のペ−ストを実施例18とした。
【0032】[実施例19]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、CaOを25モル%と、Na 2O
を5モル%と、BaF2を10モル%と、MgF2を5モ
ル%と、AlF3を5モル%とを含むガラス粉末を60
重量%用意したことを除いて、実施例12と同様にして
ペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例19とし
た。
nOを20モル%と、CaOを25モル%と、Na 2O
を5モル%と、BaF2を10モル%と、MgF2を5モ
ル%と、AlF3を5モル%とを含むガラス粉末を60
重量%用意したことを除いて、実施例12と同様にして
ペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例19とし
た。
【0033】[実施例20]B2O3を30モル%と、Z
nOを20モル%と、SrOを20モル%と、K2Oを
5モル%と、Li2Oを5モル%と、CaF2を5モル%
と、SrF2を5モル%と、MgF2を5モル%と、Al
F3を5モル%とを含むガラス粉末を60重量%用意し
たことを除いて、実施例12と同様にしてペ−ストを形
成した。このペ−ストを実施例20とした。
nOを20モル%と、SrOを20モル%と、K2Oを
5モル%と、Li2Oを5モル%と、CaF2を5モル%
と、SrF2を5モル%と、MgF2を5モル%と、Al
F3を5モル%とを含むガラス粉末を60重量%用意し
たことを除いて、実施例12と同様にしてペ−ストを形
成した。このペ−ストを実施例20とした。
【0034】[実施例21]B2O3を36モル%と、Z
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、Li 2O
を5モル%と、Na2Oを5モル%と、CaF2を10モ
ル%とを含むガラス粉末を50重量%用意し、セラミッ
クフィラ−粉末として平均粒径3.2μmのチタニア粉
末を50重量%用意し、両者を十分に混合した。上記以
外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成した。この
ペ−ストを実施例21とした。
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、Li 2O
を5モル%と、Na2Oを5モル%と、CaF2を10モ
ル%とを含むガラス粉末を50重量%用意し、セラミッ
クフィラ−粉末として平均粒径3.2μmのチタニア粉
末を50重量%用意し、両者を十分に混合した。上記以
外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成した。この
ペ−ストを実施例21とした。
【0035】[実施例22]B2O3を36モル%と、Z
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、Li 2O
を5モル%と、Na2Oを5モル%と、CaF2を10モ
ル%とを含むガラス粉末を70重量%用意し、セラミッ
クフィラ−粉末として平均粒径1.2μmのジルコン粉
末を45重量%用意し、両者を十分に混合した。上記以
外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成した。この
ペ−ストを実施例22とした。
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、Li 2O
を5モル%と、Na2Oを5モル%と、CaF2を10モ
ル%とを含むガラス粉末を70重量%用意し、セラミッ
クフィラ−粉末として平均粒径1.2μmのジルコン粉
末を45重量%用意し、両者を十分に混合した。上記以
外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成した。この
ペ−ストを実施例22とした。
【0036】[実施例23]B2O3を36モル%と、Z
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、Li 2O
を5モル%と、Na2Oを5モル%と、CaF2を10モ
ル%とを含むガラス粉末を80重量%用意し、セラミッ
クフィラ−粉末として平均粒径4.3μmのシリカ粉末
を35重量%用意し、両者を十分に混合した。上記以外
は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ
−ストを実施例23とした。
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、Li 2O
を5モル%と、Na2Oを5モル%と、CaF2を10モ
ル%とを含むガラス粉末を80重量%用意し、セラミッ
クフィラ−粉末として平均粒径4.3μmのシリカ粉末
を35重量%用意し、両者を十分に混合した。上記以外
は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ
−ストを実施例23とした。
【0037】[実施例24]B2O3を36モル%と、Z
nOを24モル%と、BaOを10モル%と、Li 2O
を20モル%と、CaF2を10モル%とを含むガラス
粉末を70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末とし
て平均粒径3.7μmのムライト粉末を30重量%用意
し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と同
様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例2
4とした。
nOを24モル%と、BaOを10モル%と、Li 2O
を20モル%と、CaF2を10モル%とを含むガラス
粉末を70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末とし
て平均粒径3.7μmのムライト粉末を30重量%用意
し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と同
様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例2
4とした。
【0038】[実施例25]B2O3を36モル%と、Z
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、CaF2
を20モル%とを含むガラス粉末を80重量%用意し、
セラミックフィラ−粉末として平均粒径6.7μmのβ
スポデュメン粉末を25重量%用意し、両者を十分に混
合した。上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを
形成した。このペ−ストを実施例25とした。
nOを24モル%と、BaOを20モル%と、CaF2
を20モル%とを含むガラス粉末を80重量%用意し、
セラミックフィラ−粉末として平均粒径6.7μmのβ
スポデュメン粉末を25重量%用意し、両者を十分に混
合した。上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを
形成した。このペ−ストを実施例25とした。
【0039】[実施例26]B2O3を36モル%と、Z
nOを24モル%と、BaOを15モル%と、K2Oを
5モル%と、CaF2を20モル%とを含むガラス粉末
を80重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平
均粒径4.9μmのコ−ジェライト粉末を30重量%用
意し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と
同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例
26とした。
nOを24モル%と、BaOを15モル%と、K2Oを
5モル%と、CaF2を20モル%とを含むガラス粉末
を80重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平
均粒径4.9μmのコ−ジェライト粉末を30重量%用
意し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と
同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実施例
26とした。
【0040】[実施例27]B2O3を30モル%と、Z
nOを25モル%と、BaOを15モル%と、Na 2O
を5モル%と、CaF2を25モル%とを含むガラス粉
末を75重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として
平均粒径2.9μmのフォルステライト粉末を30重量
%用意し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例
1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実
施例27とした。
nOを25モル%と、BaOを15モル%と、Na 2O
を5モル%と、CaF2を25モル%とを含むガラス粉
末を75重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として
平均粒径2.9μmのフォルステライト粉末を30重量
%用意し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例
1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを実
施例27とした。
【0041】[実施例28]B2O3を30モル%と、Z
nOを25モル%と、BaOを20モル%と、K2Oを
5モル%と、Li2Oを5モル%と、CaF2を15モル
%とを含むガラス粉末を60重量%用意し、セラミック
フィラ−粉末として平均粒径4.3μmのβユ−クリラ
イト粉末を20重量%用意し、両者を十分に混合した。
上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例28とした。
nOを25モル%と、BaOを20モル%と、K2Oを
5モル%と、Li2Oを5モル%と、CaF2を15モル
%とを含むガラス粉末を60重量%用意し、セラミック
フィラ−粉末として平均粒径4.3μmのβユ−クリラ
イト粉末を20重量%用意し、両者を十分に混合した。
上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを実施例28とした。
【0042】[実施例29]B2O3を15モル%と、Z
nOを25モル%と、BaOを30モル%と、CaF2
を30モル%とを含むガラス粉末を30重量%用意し、
セラミックフィラ−粉末として平均粒径3.2μmのチ
タニア粉末を70重量%用意し、両者を十分に混合し
た。上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成
した。このペ−ストを実施例29とした。
nOを25モル%と、BaOを30モル%と、CaF2
を30モル%とを含むガラス粉末を30重量%用意し、
セラミックフィラ−粉末として平均粒径3.2μmのチ
タニア粉末を70重量%用意し、両者を十分に混合し
た。上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成
した。このペ−ストを実施例29とした。
【0043】[比較例1]B2O3を20モル%と、Zn
Oを20モル%と、CaOを45モル%と、CaF2を
15モル%とを含むガラス粉末を作製しようとしたが、
ガラス化で出来なかった。
Oを20モル%と、CaOを45モル%と、CaF2を
15モル%とを含むガラス粉末を作製しようとしたが、
ガラス化で出来なかった。
【0044】[比較例2]B2O3を35モル%と、Zn
Oを45モル%と、SrOを10モル%と、CaF2を
10モル%とを含むガラス粉末を70重量%用意し、セ
ラミックフィラ−粉末として平均粒径4.3μmのジル
コン粉末を30重量%用意し、両者を十分に混合した。
上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを比較例2とした。
Oを45モル%と、SrOを10モル%と、CaF2を
10モル%とを含むガラス粉末を70重量%用意し、セ
ラミックフィラ−粉末として平均粒径4.3μmのジル
コン粉末を30重量%用意し、両者を十分に混合した。
上記以外は、実施例1と同様にしてペ−ストを形成し
た。このペ−ストを比較例2とした。
【0045】[比較例3]B2O3を40モル%と、Zn
Oを10モル%と、MgOを5モル%と、Li2Oを2
5モル%と、CaF2を20モル%とを含むガラス粉末
を70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平
均粒径4.3μmのβユ−クリプタイト粉末を10重量
%用意し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例
1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを比
較例3とした。
Oを10モル%と、MgOを5モル%と、Li2Oを2
5モル%と、CaF2を20モル%とを含むガラス粉末
を70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平
均粒径4.3μmのβユ−クリプタイト粉末を10重量
%用意し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例
1と同様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを比
較例3とした。
【0046】[比較例4]B2O3を20モル%と、Zn
Oを50モル%と、BaOを15モル%と、Na2Oを
5モル%と、MgF2を5モル%とを含むガラス粉末を
70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平均
粒径4.3μmのβスポデュメン粉末を30重量%用意
し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と同
様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを比較例4
とした。
Oを50モル%と、BaOを15モル%と、Na2Oを
5モル%と、MgF2を5モル%とを含むガラス粉末を
70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平均
粒径4.3μmのβスポデュメン粉末を30重量%用意
し、両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と同
様にしてペ−ストを形成した。このペ−ストを比較例4
とした。
【0047】[比較例5]B2O3を10モル%と、Zn
Oを25モル%と、BaOを40モル%と、K 2Oを5
モル%と、SrF2を20モル%とを含むガラス粉末を
作製しようとしたが、ガラス化出来なかった。
Oを25モル%と、BaOを40モル%と、K 2Oを5
モル%と、SrF2を20モル%とを含むガラス粉末を
作製しようとしたが、ガラス化出来なかった。
【0048】[比較例6]B2O3を50モル%と、Zn
Oを25モル%と、BaOを5モル%と、Li2Oを1
0モル%と、CaF2を10モル%とを含むガラス粉末
を70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平
均粒径4.3μmのアルミナ粉末を20重量%用意し、
両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と同様に
してペ−ストを形成した。このペ−ストを比較例6とし
た。
Oを25モル%と、BaOを5モル%と、Li2Oを1
0モル%と、CaF2を10モル%とを含むガラス粉末
を70重量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平
均粒径4.3μmのアルミナ粉末を20重量%用意し、
両者を十分に混合した。上記以外は、実施例1と同様に
してペ−ストを形成した。このペ−ストを比較例6とし
た。
【0049】[比較例7]B2O3を45モル%と、Zn
Oを10モル%と、BaOを20モル%と、K2Oを5
モル%と、Na2Oを5モル%と、Li2Oを5モル%
と、AlF3を10モル%とを含むガラス粉末を70重
量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平均粒径
4.3μmのジルコン粉末を10重量%用意し、両者を
十分に混合した。上記以外は、実施例1と同様にしてペ
−ストを形成した。このペ−ストを比較例7とした。
Oを10モル%と、BaOを20モル%と、K2Oを5
モル%と、Na2Oを5モル%と、Li2Oを5モル%
と、AlF3を10モル%とを含むガラス粉末を70重
量%用意し、セラミックフィラ−粉末として平均粒径
4.3μmのジルコン粉末を10重量%用意し、両者を
十分に混合した。上記以外は、実施例1と同様にしてペ
−ストを形成した。このペ−ストを比較例7とした。
【0050】[比較例8]B2O3を25モル%と、Zn
Oを25モル%と、BaOを15モル%と、CaF2を
35モル%とを含むガラス粉末を作製しようとしたが、
ガラス化出来なかった。
Oを25モル%と、BaOを15モル%と、CaF2を
35モル%とを含むガラス粉末を作製しようとしたが、
ガラス化出来なかった。
【0051】比較試験および評価 実施例1〜29および比較例2〜4、6〜7のペ−スト
を縦×横が夫々25mm×25mmのパタ−ンにガラス
基板上に印刷し、150℃で10分間乾燥後、種々の焼
成温度で焼成し、ガラス基板との密着性が良好で最も低
い焼成温度を、そのガラス組成物およびセラミックフィ
ラ−のペ−ストの焼成温度とした。また5mm×5mm
×20mmのキャビティに上記ペ−ストを流し込み、上
記焼成温度にて焼成し、焼成後に形成されたガラス板の
熱膨張係数(×10-7/℃)および反射率(%)を夫々
測定した。上記反射率はガラス基板上にて焼成されたガ
ラス/セラミック膜の可視光(380〜800nm)の
反射率を測定した。これらの結果を表1〜表3に示す。
を縦×横が夫々25mm×25mmのパタ−ンにガラス
基板上に印刷し、150℃で10分間乾燥後、種々の焼
成温度で焼成し、ガラス基板との密着性が良好で最も低
い焼成温度を、そのガラス組成物およびセラミックフィ
ラ−のペ−ストの焼成温度とした。また5mm×5mm
×20mmのキャビティに上記ペ−ストを流し込み、上
記焼成温度にて焼成し、焼成後に形成されたガラス板の
熱膨張係数(×10-7/℃)および反射率(%)を夫々
測定した。上記反射率はガラス基板上にて焼成されたガ
ラス/セラミック膜の可視光(380〜800nm)の
反射率を測定した。これらの結果を表1〜表3に示す。
【0052】
【表1】
【0053】
【表2】
【0054】
【表3】
【0055】表1〜表3から明らかなように、実施例1
〜29では、焼成温度が600℃未満と低かったのに対
し、比較例2〜4、比較例6および7では、焼成温度が
600℃以上と高く、比較例1、5および8では、所定
のガラス成分にてガラス化が出来なかった。
〜29では、焼成温度が600℃未満と低かったのに対
し、比較例2〜4、比較例6および7では、焼成温度が
600℃以上と高く、比較例1、5および8では、所定
のガラス成分にてガラス化が出来なかった。
【0056】また実施例1〜29では、熱膨張係数が
(80〜89)×10-7/℃であったのに対し、比較例
2〜4、比較例6および7では、熱膨張係数が(91〜
105)×10-7/℃であった。実施例1〜29の熱膨
張係数はPDPのガラス基板(ソ−ダ石灰ガラス)の熱
膨張係数が(85×10-7/℃)と概略同一であった。
更に実施例1〜29では、反射率が74〜81%に対し
て、比較例2〜4、6〜7では、反射率が58〜69%
であった。
(80〜89)×10-7/℃であったのに対し、比較例
2〜4、比較例6および7では、熱膨張係数が(91〜
105)×10-7/℃であった。実施例1〜29の熱膨
張係数はPDPのガラス基板(ソ−ダ石灰ガラス)の熱
膨張係数が(85×10-7/℃)と概略同一であった。
更に実施例1〜29では、反射率が74〜81%に対し
て、比較例2〜4、6〜7では、反射率が58〜69%
であった。
【0057】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ガ
ラス組成物のガラス成分として、B2O315〜45モル%
と、ZnO15〜45モル%と、BaO、SrO、Ca
OおよびMgOからなる群より選ばれた1種または2種
以上の酸化物15〜40モル%と、BaF2、CaF2、
SrF2、MgF2およびAlF3からなる群より選ばれ
た1種または2種以上のフッ化物10〜30モル%とN
a2O、K2O、Li2Oからなる群より選ばれた1種ま
たは2種以上のアルカリ酸化物0〜20モル%とを含む
ので、軟化点が低くなって、焼成温度も低くなる。また
上記ガラス成分に密度の大きいPb成分を含まないた
め、重量を軽減でき、環境を汚染せず、使用中における
放電特性の低下もない。また上記ガラス組成物と;ジル
コン、アルミナ、シリカ、チタニア、ムライト、βユ−
クリプタイト、コ−ディエライト、βスポデュメンおよ
びフォルステライト等からなる群より選ばれた1種また
は2種以上のセラミックフィラ−を含む混合体をペ−ス
トとし、このペ−ストを焼成して絶縁体を形成すれば、
ガラスの軟化点が低いので、焼成温度が低い絶縁体を得
ることができる。またセラミックフィラ−の添加によっ
て、白色の反射率の高い絶縁体を得ることができる。ま
た上記絶縁体をFPD用隔壁またはFPD用絶縁体層に
適用すれば、上記ガラス組成物の焼成温度がガラス基板
の軟化点より100℃以上低くなり、上記隔壁または絶
縁層の熱膨張係数がガラス基板の熱膨張係数と概略同一
になるので、ガラス基板に反り等が生じることはない。
電気信号が近隣の配線に漏洩することはなく、画像にク
ロスト−クが発生しない。更にガラス成分へのセラミッ
クフィラ−成分の添加量は比較的少量で済むので、焼成
後の強度が高い。
ラス組成物のガラス成分として、B2O315〜45モル%
と、ZnO15〜45モル%と、BaO、SrO、Ca
OおよびMgOからなる群より選ばれた1種または2種
以上の酸化物15〜40モル%と、BaF2、CaF2、
SrF2、MgF2およびAlF3からなる群より選ばれ
た1種または2種以上のフッ化物10〜30モル%とN
a2O、K2O、Li2Oからなる群より選ばれた1種ま
たは2種以上のアルカリ酸化物0〜20モル%とを含む
ので、軟化点が低くなって、焼成温度も低くなる。また
上記ガラス成分に密度の大きいPb成分を含まないた
め、重量を軽減でき、環境を汚染せず、使用中における
放電特性の低下もない。また上記ガラス組成物と;ジル
コン、アルミナ、シリカ、チタニア、ムライト、βユ−
クリプタイト、コ−ディエライト、βスポデュメンおよ
びフォルステライト等からなる群より選ばれた1種また
は2種以上のセラミックフィラ−を含む混合体をペ−ス
トとし、このペ−ストを焼成して絶縁体を形成すれば、
ガラスの軟化点が低いので、焼成温度が低い絶縁体を得
ることができる。またセラミックフィラ−の添加によっ
て、白色の反射率の高い絶縁体を得ることができる。ま
た上記絶縁体をFPD用隔壁またはFPD用絶縁体層に
適用すれば、上記ガラス組成物の焼成温度がガラス基板
の軟化点より100℃以上低くなり、上記隔壁または絶
縁層の熱膨張係数がガラス基板の熱膨張係数と概略同一
になるので、ガラス基板に反り等が生じることはない。
電気信号が近隣の配線に漏洩することはなく、画像にク
ロスト−クが発生しない。更にガラス成分へのセラミッ
クフィラ−成分の添加量は比較的少量で済むので、焼成
後の強度が高い。
【図1】本発明におけるセラミックキャピラリリブの形
成状態を示す斜視図。
成状態を示す斜視図。
【図2】本発明におけるセラミックキャピラリ層付リブ
の形成状態を示す図1に対応する斜視図。
の形成状態を示す図1に対応する斜視図。
【図3】本発明の第3の実施形態のセラミックリブの形
成を工程順に示す概略断面図。
成を工程順に示す概略断面図。
【図4】本発明の第4の実施形態のセラミックリブの形
成を工程順に示す概略断面図。
成を工程順に示す概略断面図。
10、30 ガラス基板 11、31 ペ−スト膜 12 ブレ−ド 12aエッジ 12bくし歯 13、23、34、44 セラミックキャピラリリブ
(隔壁) 22 セラミックキャピラリ層(絶縁層) 31、41 パタ−ン形成層 42 フィルム 43 マスク 46 レジスト層 47 セル 48 セラミックグリ−ンリブ
(隔壁) 22 セラミックキャピラリ層(絶縁層) 31、41 パタ−ン形成層 42 フィルム 43 マスク 46 レジスト層 47 セル 48 セラミックグリ−ンリブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01B 3/08 H01B 3/08 A H01J 11/02 H01J 11/02 B 17/16 17/16
Claims (6)
- 【請求項1】ガラス成分として、B2O315〜45モル
%と、ZnO15〜45モル%と、BaO、SrO、C
aOおよびMgOからなる群より選ばれた1種または2
種以上の酸化物15〜40モル%と、BaF2、Ca
F2、SrF2、MgF2およびAlF3からなる群より選
ばれた1種または2種以上のフッ化物10〜30モル%
と、Na2O、K2O、Li2Oからなる群より選ばれた
1種または2種以上のアルカリ酸化物0〜20モル%と
を含むことを特徴とするガラス組成物。 - 【請求項2】請求項1記載のガラス組成物と;ジルコ
ン、アルミナ、シリカ、チタニア、ムライト、βユ−ク
リプタイト、コ−ディエライト、βスポデュメンおよび
フォルステライト等からなる群より選ばれた1種または
2種以上のセラミックフィラ−類を含むことを特徴とす
るガラス・セラミック混合体組成物。 - 【請求項3】請求項2記載のガラス・セラミック混合体
組成物を30〜95重量%と、有機バインダ0.3〜1
5重量%と、溶剤と可塑剤と分散剤3〜70重量%を含
むことを特徴とするペ−スト。 - 【請求項4】請求項3記載のペ−ストを焼成してなるこ
とを特徴とする絶縁体。 - 【請求項5】請求項4記載の絶縁体により形成されたこ
とを特徴とするFPD用隔壁。 - 【請求項6】請求項4記載の絶縁体により形成されたこ
とを特徴とするFPD用絶縁層。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP33667598A JP2000095544A (ja) | 1998-07-22 | 1998-11-27 | ガラス組成物、それを用いたペ−スト、絶縁体、fpd用隔壁および絶縁層 |
Applications Claiming Priority (3)
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JP10-206236 | 1998-07-22 | ||
JP20623698 | 1998-07-22 | ||
JP33667598A JP2000095544A (ja) | 1998-07-22 | 1998-11-27 | ガラス組成物、それを用いたペ−スト、絶縁体、fpd用隔壁および絶縁層 |
Publications (1)
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---|---|
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Family Applications (1)
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