JP2000065641A - 分光光度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 スリット円盤の原点検出に誤検出がなく、安
価で再現性の良い制御ができる分光光度計を提供する。 【解決手段】 まず、原点検出開始の信号を制御パネル
を操作して送る。ステッピングモータ１５はスリット円
盤１７を高速で順方向に回転する。スリット円盤１７に
覆設されたフォトインタラプタ１６が原点検出位置１８
（切り欠き）を粗検出する。粗検出してからその原点検
出位置１８（切り欠き）の幅以内で順方向にスリット円
盤１７を数パルス回転させる。次に逆方向にスリット円
盤１７を低速で回転させる。そして原点検出位置１８
（切り欠き）を細検出する。原点検出位置１８（切り欠
き）を細検出してから順方向に低速で回転させる。原点
検出位置１８（切り欠き）を細検出すれば、ステッピン
グモータ１５は停止し、スリット円盤１７は原点に精度
よく確実に停止する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分光光度計に関
し、特に分光光度計に使われているスリット円盤の位置
設定の自動化に関する。

【０００２】

【従来の技術】紫外及び可視領域で測定しようとする試
料の成分を、イオンや分子の光吸収物質に変え、光を照
射して吸収される光の量から成分の濃度を求める分光光
度計が広く使われている。図４はその中の一つであるダ
ブルビーム分光光度計を示している。図においてＤ２ラ
ンプ１またはＷランプ２からの光は、凹面ミラー１２で
反射され、フィルタ３を通り、入射スリット４でビーム
幅が設定され、分光素子である凹面グレーティング５に
入射する。すなわちこの分光素子としては旧来のプリズ
ムに代わって、この凹面グレーティング（回折格子）５
が常用されている。この凹面グレーティング５は、凹面
上に極めて精巧に等間隔に刻まれた溝を持った透過面ま
たは反射面からなり、紫外可視用には１ｍｍ当たり１，
０００本程度の溝を持つものが良く使われている。そし
て、入射スリット４からの光は凹面グレーティング５で
分光され、出射スリット６のスリット幅で制限されて単
色光となる。この単色光は、設定波長を最大強度として
短、長波長の両方に広がりを持ち、この半値幅をバンド
幅と称するが、このバンド幅が小さいほど測定値が被測
定試料の吸収スペクトルの真値に近づく。バンド幅が測
定試料の吸収スペクトルバンド幅の１／１０以下であれ
ば、測定値はほとんど真値であると見ることができる。
また、この単色光の強度は、バンド幅の２乗に比例する
から、バンド幅を狭くすると想像以上に光量が弱くな
り、ひいては測光値が不安定となる原因にもなる。出射
スリット６からの単色光は、光カット部７の回転ミラー
８により２方向に振り分けられ、一つはミラー１１で反
射され対照試料１０を透過しＩｏ強度になる。もう一つ
は被測定試料９を透過しＩｔ強度になる。このＩｔはミ
ラー１１で反射され格子ミラー１３でＩｏと合成され、
凹面ミラー１２により反射され、検知器１４で検知され
る。分光光度計では図４に示すように、分光素子である
凹面グレーティング５の前と後にそれぞれ入射スリット
４と出射スリット６を設け、被測定試料９と対照試料１
０に入る単色光の光量や帯域幅を設定するのに使用され
ている。これらのスリット４、６の制御を自動化するた
め、図３に示すような機構が使われている。すなわち、
スリット１９を刻んだスリット円盤１７をステッピング
モータ１５に取り付け、回転させることで目的とするス
リット１９に設定している。指定したステップ数で再現
性良く設定するためには、スリット円盤１７の回転スタ
ートになる原点を決めておく必要がある。このためスリ
ット１９を刻んだスリット円盤１７の外周に原点検出位
置１８（切り欠き）を設け、フォトインタラプタ１６
（以後ＰＩ１６と呼ぶ）で検出し、スリット円盤１７の
原点として目的のスリット１９までのパルス数を指定し
制御するようにしている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来の分光光度計は以
上のように構成されているが、原点検出位置１８（切り
欠き）を検出する時、ステッピングモータ１５を１ステ
ップづつ送り、ＰＩ１６の信号をチェックしながら行な
っている。１ステップ送った時、ステッピングモータ１
５の保持トルクがスリット円盤１７を保持するのに十分
大きくないと、止めた瞬間からしばらく回転方向に振動
する。原点検出位置１８（切り欠き）部分で振動すると
ＰＩ１６の検出信号もスリット円盤１７が振動している
間不安定な状態になり、原点を誤検出してしまうという
問題があった。このようにスリット円盤１７が振動する
という問題点を解決するためには、回転体の重量を下げ
慣性モーメントを小さくするか、回転を止めるのに十分
なトルクを持つ大きなステッピングモータを使用する
か、あるいは振動が収まるまで待機する必要がある。い
ずれの方法もコストの上昇や性能低下そして効率低下を
もたらす要因になっていた。

【０００４】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、低トルクのステッピングモータ１５
で、慣性モーメントの大きなスリット円盤１７でも、振
動の影響を受けずに原点検出位置１８（切り欠き）の誤
検出がなく、安価で再現性の良い制御ができる分光光度
計を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め本発明の分光光度計は、分光素子の前後にスリット円
盤を設け、そのスリット円盤のスリット位置をスリット
円盤に覆設されたフォトインタラプタの信号によりステ
ッピングモータで自動制御する分光光度計において、ス
リット円盤を順方向に高速回転させフォトインタラプタ
が回転スタート原点を粗検出した後、スリット円盤を順
方向に数パルス送り、その後低速度で逆方向に送り、フ
ォトインタラプタが回転スタート原点を細かく検出する
（以下細検出という）と、再びスリット円盤を低速度で
順方向に送り、フォトインタラプタが回転スタート原点
を検出すると、ステッピングモータがスリット円盤を停
止させる制御回路を備えることを特徴とする。

【０００６】本発明の分光光度計は上記のように構成さ
れており、高速回転で回転スタート原点をフォトインタ
ラプタで粗検出し、その後数ステップ同一方向に送り、
続いて逆方向に低速回転で原点を細検出し、再び低速で
原点に戻る。このように粗検出と細検出の組み合わせで
原点検出を行なうので、高速での原点検出がスリット円
盤の振動により誤検出される可能性を排除し、低速での
細検出と組み合わせることで検出精度が向上する。

【０００７】

【発明の実施の形態】本発明の分光光度計の一実施例を
図１を参照しながら説明する。分光光度計の構成は従来
の図４に示すものと同様の構成で、Ｄ２ランプ１または
Ｗランプ２からの光は、凹面ミラー１２で反射され、フ
ィルタ３を通り、入射スリット４でビーム幅が設定さ
れ、分光素子である凹面グレーティング５に入射する。
この凹面グレーティング５は、凹面上に極めて精巧に等
間隔に刻まれた溝を持った反射面からなり、紫外可視用
には１ｍｍ当たり１，０００本程度の溝を持つものが使
われる。そして、入射スリット４からの光は凹面グレー
ティング５で分光され、出射スリット６のスリット幅で
制限されて単色光となる。この単色光の半値幅であるバ
ンド幅が測定試料の吸収スペクトルバンド幅の１／１０
以下になるように、入射スリット４の幅が設定されてお
り、測定値はほとんど真値として見なせる。また、この
単色光の強度はバンド幅の２乗に比例するから、バンド
幅を狭くすると想像以上に光量が弱くなるので、測定系
の感度レベルに合わせて入射スリット４の幅が設定され
ている。出射スリット６からの単色光は、光カット部７
の回転ミラー８により２方向に振り分けられ、一つはミ
ラー１１で反射され対照試料１０を透過しＩｏ強度にな
る。もう一つは被測定試料９を透過しＩｔ強度になる。
このＩｔはミラー１１で反射され格子ミラー１３でＩｏ
と合成され、凹面ミラー１２により反射され、検知器１
４で検知される。

【０００８】この入射スリット４および出射スリット６
の位置を自動制御するための機構は従来装置の図３に示
すものと同じであるが、本発明の装置は、分光素子であ
る凹面グレーティング５の入力側と出力側に設けられた
スリット円盤１７の入射スリット４と出射スリット６の
位置設定が、スリット円盤１７に覆設されたフォトイン
タラプタ１６からの検出信号によって、ステッピングモ
ータ１５で自動制御されるアルゴリズムの改良にある。
図２に本装置の制御回路の制御アルゴリズムのフローチ
ャートを示す。図３を参照しながら説明する。まず、装
置の原点検出開始の信号を制御パネル（図示せず）を操
作して装置に送る。ステッピングモータ１５はスリット
円盤１７を高速で順方向に回転する。スリット円盤１７
に覆設されたフォトインタラプタ１６が原点検出位置１
８（切り欠き）を粗検出する。検出しなければこれを繰
り返す。原点検出位置１８（切り欠き）を粗検出してか
らその原点検出位置１８（切り欠き）の幅以内で順方向
にスリット円盤１７を数パルス回転させる。次に逆方向
にスリット円盤１７を低速で回転させる。そして原点検
出位置１８（切り欠き）を細検出する。検出しなければ
これを繰り返す。原点検出位置１８（切り欠き）を細検
出してから順方向に低速で回転させる。原点検出位置１
８（切り欠き）を細検出すれば、ステッピングモータ１
５は停止し、スリット円盤１７は原点検出位置１８（切
り欠き）に精度よく確実に停止する。このように制御フ
ローの前半では、高速でスリット円盤１７を回転させる
ことが可能となり、原点検出がスピードアップされる。
そして検出後数パルス送ることで誤検出が防止できる。
一方、後半では、低速でスリット円盤１７を回転させ、
振動の影響を排除し検出する。この時は数パルス分しか
回転させない。このように高速の粗検出と低速の細検出
を組み合わせた自動制御で、スリット円盤１７の位置制
御を確実に行なうことができる。

【０００９】

【発明の効果】本発明の分光光度計は上記のように構成
されており、スリット円盤制御回路の本アルゴリズムを
利用することにより、原点の誤検出がなくなり、またス
リット円盤１７の回転速度の高速化が可能となり、シス
テム全体をより信頼性が高く、高性能な製品にすること
が可能となる。同じ大きさのスリット円盤１７なら、よ
りトルクの小さい安価なモータでも駆動が可能となり、
回転速度もスピードアップが可能となる。逆に同じモー
タなら、より大きなスリット円盤１７を駆動することが
でき、慣性モーメントを減らすため高価な材料を用いる
必要が無くなる。

【００１０】

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の分光光度計の一実施例を示す図であ
る。

【図２】 図１のスリット円盤の制御フローチャートを
示す図である。

【図３】 分光光度計のスリット円盤の概略を示す図で
ある。

【図４】 従来の分光光度計を示す図である。

【符号の説明】

１…Ｄ２ランプ ２…Ｗランプ ３…フィルタ ４…入射スリッ
ト ５…凹面グレーティング ６…出射スリッ
ト ７…光カット部 ８…回転ミラー ９…被測定試料 １０…対照試料 １１…ミラー １２…凹面ミラ
ー １３…格子ミラー １４…検知器 １５…ステッピングモータ １６…フォトイ
ンタラプタ １７…スリット円盤 １８…原点検出
位置（切り欠き） １９…スリット

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】分光素子の前後にスリット円盤を設け、そ
   のスリット円盤のスリット位置をスリット円盤に覆設さ
   れたフォトインタラプタの信号によりステッピングモー
   タで自動制御する分光光度計において、スリット円盤を
   順方向に高速回転させフォトインタラプタが回転スター
   ト原点を粗検出した後、スリット円盤を順方向に数パル
   ス送り、その後低速度で逆方向に送り、フォトインタラ
   プタが回転スタート原点を細検出すると、再びスリット
   円盤を低速度で順方向に送り、フォトインタラプタが回
   転スタート原点を検出すると、ステッピングモータがス
   リット円盤を停止させる制御回路を備えることを特徴と
   する分光光度計。