JP2000059172A - セラミックレゾネータ - Google Patents
セラミックレゾネータInfo
- Publication number
- JP2000059172A JP2000059172A JP10224791A JP22479198A JP2000059172A JP 2000059172 A JP2000059172 A JP 2000059172A JP 10224791 A JP10224791 A JP 10224791A JP 22479198 A JP22479198 A JP 22479198A JP 2000059172 A JP2000059172 A JP 2000059172A
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- JP
- Japan
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- piezoelectric element
- capacitor element
- ceramic resonator
- linear expansion
- capacitor
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 圧電素子とコンデンサ素子とを略平行に相対
させて配置し、リード端子を含む立上り高さを低く抑え
ながらも、クラックが圧電素子の基板に生ずるのを防
ぎ、耐熱衝撃性に優れたセラミックレゾネータを構成す
る。 【解決手段】 圧電素子1とコンデンサ素子2とを略平
行に相対させて配置すると共に、振動空間6を圧電素子
の振動部周囲に設けて圧電素子1とコンデンサ素子2と
を絶縁樹脂7で樹脂モールドするセラミックレゾネータ
で、線膨張係数の差が少ない圧電素子1とコンデンサ素
子2とを組み合わせる。
させて配置し、リード端子を含む立上り高さを低く抑え
ながらも、クラックが圧電素子の基板に生ずるのを防
ぎ、耐熱衝撃性に優れたセラミックレゾネータを構成す
る。 【解決手段】 圧電素子1とコンデンサ素子2とを略平
行に相対させて配置すると共に、振動空間6を圧電素子
の振動部周囲に設けて圧電素子1とコンデンサ素子2と
を絶縁樹脂7で樹脂モールドするセラミックレゾネータ
で、線膨張係数の差が少ない圧電素子1とコンデンサ素
子2とを組み合わせる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイコン電子機器
においてクロック信号発生用の発振回路等として用いら
れるセラミックレゾネータの改良に関するものである。
においてクロック信号発生用の発振回路等として用いら
れるセラミックレゾネータの改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、セラミックレゾネータは三成分
系ジルコン・チタン酸鉛系のセラミック材料で形成され
た基板による圧電素子と、チタン酸バリウム系や鉛系
(リラクサ系)を誘電体材料で形成された基板によるコン
デンサ素子とを備え、圧電素子には入出力用のリード端
子を取り付けると共に、コンデンサ素子にはグランド用
のリード端子を取り付け、また、振動空間を圧電素子の
振動部周囲に設けて圧電素子とコンデンサ素子とを絶縁
樹脂で樹脂モールドすることにより等価回路を形成する
よう構成されている。
系ジルコン・チタン酸鉛系のセラミック材料で形成され
た基板による圧電素子と、チタン酸バリウム系や鉛系
(リラクサ系)を誘電体材料で形成された基板によるコン
デンサ素子とを備え、圧電素子には入出力用のリード端
子を取り付けると共に、コンデンサ素子にはグランド用
のリード端子を取り付け、また、振動空間を圧電素子の
振動部周囲に設けて圧電素子とコンデンサ素子とを絶縁
樹脂で樹脂モールドすることにより等価回路を形成する
よう構成されている。
【0003】従来、そのセラミックレゾネータにおいて
はリード端子を含む立上り高さを低く抑えるべく、圧電
素子とコンデンサ素子とを略平行に相対させて配置する
ものが知られている(実開昭63−131414号)。
はリード端子を含む立上り高さを低く抑えるべく、圧電
素子とコンデンサ素子とを略平行に相対させて配置する
ものが知られている(実開昭63−131414号)。
【0004】このセラミックレゾネータにおいては、温
度変化の激しい環境下にある車装部品用等として使用す
ると、圧電素子が発振動作不良を来し易い。
度変化の激しい環境下にある車装部品用等として使用す
ると、圧電素子が発振動作不良を来し易い。
【0005】その原因を検討したところ、各素子が線膨
張係数の異なる基板で構成されており、また、圧電素子
とコンデンサ素子とが略平行に相対配置されているた
め、コンデンサ素子を構成する基板の膨張応力によるス
トレスが圧電素子を構成する基板に作用することから、
クラックが圧電素子の基板に生ずることによるものと判
った。
張係数の異なる基板で構成されており、また、圧電素子
とコンデンサ素子とが略平行に相対配置されているた
め、コンデンサ素子を構成する基板の膨張応力によるス
トレスが圧電素子を構成する基板に作用することから、
クラックが圧電素子の基板に生ずることによるものと判
った。
【0006】その欠点を除去するには、圧電素子とコン
デンサ素子とを略平行に相対配置させないで、各素子の
位置を上下にズラせて各リード端子に半田付け固定すれ
ばよい。然し、これでは上述した場合とは逆に、リード
端子を含む立上り高さが高くなってしまうところから好
ましくない。
デンサ素子とを略平行に相対配置させないで、各素子の
位置を上下にズラせて各リード端子に半田付け固定すれ
ばよい。然し、これでは上述した場合とは逆に、リード
端子を含む立上り高さが高くなってしまうところから好
ましくない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、圧電素子と
コンデンサ素子とを略平行に相対させて配置することに
よりリード端子を含む立上り高さを低く抑えながらも、
クラックが圧電素子の基板に生ずるのを防げ、耐熱衝撃
性に優れたセラミックレゾネータを提供することを目的
とする。
コンデンサ素子とを略平行に相対させて配置することに
よりリード端子を含む立上り高さを低く抑えながらも、
クラックが圧電素子の基板に生ずるのを防げ、耐熱衝撃
性に優れたセラミックレゾネータを提供することを目的
とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
セラミックレゾネータにおいては、圧電素子とコンデン
サ素子とを略平行に相対させて配置すると共に、振動空
間を圧電素子の振動部周囲に設けて圧電素子とコンデン
サ素子とを絶縁樹脂で樹脂モールドするもので、線膨張
係数の差が少ない圧電素子とコンデンサ素子とを組み合
わせることにより構成されている。
セラミックレゾネータにおいては、圧電素子とコンデン
サ素子とを略平行に相対させて配置すると共に、振動空
間を圧電素子の振動部周囲に設けて圧電素子とコンデン
サ素子とを絶縁樹脂で樹脂モールドするもので、線膨張
係数の差が少ない圧電素子とコンデンサ素子とを組み合
わせることにより構成されている。
【0009】本発明の請求項2に係るセラミックレゾネ
ータにおいては、線膨張係数の差が5ppm/℃以下と
なる圧電素子とコンデンサ素子とを組み合わせることに
より構成されている。
ータにおいては、線膨張係数の差が5ppm/℃以下と
なる圧電素子とコンデンサ素子とを組み合わせることに
より構成されている。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して説明す
ると、図1はセラミックレゾネータの内部構造を示すも
ので、圧電素子1とコンデンサ素子2とを略平行に相対
させて配置し、入出力用のリード端子3,4を圧電素子
1の両端部に半田付け固定すると共に、グランド用のリ
ード端子5をコンデンサ素子2の中央位置に半田付け固
定することにより構成されている。また、この圧電素子
1とコンデンサ素子2とは振動空間6を圧電素子1の振
動部周囲に設けてエポキシ等の絶縁樹脂7で樹脂モール
ドすることにより構成されている。
ると、図1はセラミックレゾネータの内部構造を示すも
ので、圧電素子1とコンデンサ素子2とを略平行に相対
させて配置し、入出力用のリード端子3,4を圧電素子
1の両端部に半田付け固定すると共に、グランド用のリ
ード端子5をコンデンサ素子2の中央位置に半田付け固
定することにより構成されている。また、この圧電素子
1とコンデンサ素子2とは振動空間6を圧電素子1の振
動部周囲に設けてエポキシ等の絶縁樹脂7で樹脂モール
ドすることにより構成されている。
【0011】圧電素子1は三成分系ジルコン・チタン酸
鉛系のセラミック材料で形成された基板10を備え、そ
の基板10の略中央で相対する電極11,12を主両表
面に設けることにより構成されている。また、コンデン
サ素子2は鉛系の誘電体材料で形成された基板20を備
え、共通電極21を基板20の片表面中央に設けると共
に、一対の対向電極22,23を基板20の他表面端部
寄りに設けることにより構成されている。
鉛系のセラミック材料で形成された基板10を備え、そ
の基板10の略中央で相対する電極11,12を主両表
面に設けることにより構成されている。また、コンデン
サ素子2は鉛系の誘電体材料で形成された基板20を備
え、共通電極21を基板20の片表面中央に設けると共
に、一対の対向電極22,23を基板20の他表面端部
寄りに設けることにより構成されている。
【0012】その圧電素子1とコンデンサ素子2とは、
各基板10,20の材質から線膨張係数の差が少ないも
のとして組み合されている。このうち、圧電素子1は三
成分系ジルコン・チタン酸鉛系のセラミック材料で形成
する基板10の材質から0.5ppm/℃程度の線膨張
係数を有し、コンデンサ素子2は鉛系の誘電体材料で形
成する基板20の材質から3〜4.9ppm/℃程度の
線膨張係数を有するよう構成されている。
各基板10,20の材質から線膨張係数の差が少ないも
のとして組み合されている。このうち、圧電素子1は三
成分系ジルコン・チタン酸鉛系のセラミック材料で形成
する基板10の材質から0.5ppm/℃程度の線膨張
係数を有し、コンデンサ素子2は鉛系の誘電体材料で形
成する基板20の材質から3〜4.9ppm/℃程度の
線膨張係数を有するよう構成されている。
【0013】このように構成するセラミックレゾネータ
では、圧電素子1とコンデンサ素子2とが略平行に相対
配置され、また、振動空間6を圧電素子の振動部周囲に
設けて絶縁樹脂7で樹脂モールドされていても、圧電素
子1とコンデンサ素子2とが線膨張係数の差の少ないも
のに構成されているため、温度変化の激しい環境下で用
いられても、クラックが圧電素子1の基板10に生ずる
ことがない。
では、圧電素子1とコンデンサ素子2とが略平行に相対
配置され、また、振動空間6を圧電素子の振動部周囲に
設けて絶縁樹脂7で樹脂モールドされていても、圧電素
子1とコンデンサ素子2とが線膨張係数の差の少ないも
のに構成されているため、温度変化の激しい環境下で用
いられても、クラックが圧電素子1の基板10に生ずる
ことがない。
【0014】その有効性を確認するべく、次の試料1〜
4を作製した。この試料中、圧電素子としてはいずれ
も、三成分系ジルコン・チタン酸鉛系のセラミック材料
から形成された基板の材質により0.5ppm/℃程度
の線膨張係数を有するものを用いた。
4を作製した。この試料中、圧電素子としてはいずれ
も、三成分系ジルコン・チタン酸鉛系のセラミック材料
から形成された基板の材質により0.5ppm/℃程度
の線膨張係数を有するものを用いた。
【0015】コンデンサ素子としてはチタン酸バリウム
系の誘電体材料から7.5〜13.0ppm/℃程度の
線膨張係数を有するものを構成できるが、試料1の場合
は13.0ppm/℃、試料2の場合は8ppm/℃の
線膨張係数を有するコンデンサ素子を用いた。また、鉛
系(リラクサ系)の誘電体材料から3.0〜7.5ppm
/℃程度の線膨張係数を有するものを構成できるが、試
料3の場合は4.9ppm/℃、試料4の場合は3.0
ppm/℃の線膨張係数を有するコンデンサ素子を用い
た。
系の誘電体材料から7.5〜13.0ppm/℃程度の
線膨張係数を有するものを構成できるが、試料1の場合
は13.0ppm/℃、試料2の場合は8ppm/℃の
線膨張係数を有するコンデンサ素子を用いた。また、鉛
系(リラクサ系)の誘電体材料から3.0〜7.5ppm
/℃程度の線膨張係数を有するものを構成できるが、試
料3の場合は4.9ppm/℃、試料4の場合は3.0
ppm/℃の線膨張係数を有するコンデンサ素子を用い
た。
【0016】その各試料20個分について、−55℃/
+125℃のヒートサイクルによる熱衝撃試験を行い、
クラック発生の有無を検査した。この各試料のクラック
発生率(%)は、次の表で示す通りであった。
+125℃のヒートサイクルによる熱衝撃試験を行い、
クラック発生の有無を検査した。この各試料のクラック
発生率(%)は、次の表で示す通りであった。
【0017】
【表1】
【0018】この表から判るように、試料1の場合はコ
ンデンサ素子と圧電素子との線膨張係数の差が12.5
ppm/℃と大きいところから、クラックが50サイク
ルで発生した。また、試料2の場合もコンデンサ素子と
圧電素子との線膨張係数の差が7.5ppm/℃と未だ
大きいため、クラックが100サイクルで発生した。
ンデンサ素子と圧電素子との線膨張係数の差が12.5
ppm/℃と大きいところから、クラックが50サイク
ルで発生した。また、試料2の場合もコンデンサ素子と
圧電素子との線膨張係数の差が7.5ppm/℃と未だ
大きいため、クラックが100サイクルで発生した。
【0019】それに対し、試料3,4の場合はコンデン
サ素子と圧電素子との線膨張係数の差が4.4ppm/
℃、2.5ppm/℃と5ppm/℃以下であることか
ら、200サイクル以上でも、クラックの発生が見られ
なかった。これにより、耐熱衝撃性に優れるセラミック
レゾネータを構成するには線膨張係数の差が5ppm/
℃以下になる圧電素子とコンデンサ素子とを組み合わせ
ればよいことが確認できた。
サ素子と圧電素子との線膨張係数の差が4.4ppm/
℃、2.5ppm/℃と5ppm/℃以下であることか
ら、200サイクル以上でも、クラックの発生が見られ
なかった。これにより、耐熱衝撃性に優れるセラミック
レゾネータを構成するには線膨張係数の差が5ppm/
℃以下になる圧電素子とコンデンサ素子とを組み合わせ
ればよいことが確認できた。
【0020】上述したセラミックレゾネータにおいて、
圧電素子1とコンデンサ素子2とを略平行に相対させて
組み立てるには、図2で示すようにリード端子3,4、
5として圧電素子1,コンデンサ素子2の保持部を突押
し成形で簡単に設けられる丸棒状の半田引き銅線や条材
加工線を用いるとよい。また、入出力用のリード端子
3,4は圧電素子1として横方向の長さを短く形成でき
ることから圧電素子1の両端部に半田付け固定するとよ
い。
圧電素子1とコンデンサ素子2とを略平行に相対させて
組み立てるには、図2で示すようにリード端子3,4、
5として圧電素子1,コンデンサ素子2の保持部を突押
し成形で簡単に設けられる丸棒状の半田引き銅線や条材
加工線を用いるとよい。また、入出力用のリード端子
3,4は圧電素子1として横方向の長さを短く形成でき
ることから圧電素子1の両端部に半田付け固定するとよ
い。
【0021】そのリード端子のうち、圧電素子1のリー
ド端子3,4には開放側が圧電素子の端部幅より広がっ
て奥に向かい狭くなる略V字状の受け溝3a,4aを軸
上端側の側面に突押し成形するとよい。この受け溝3
a,4aに加えて、リード端子3,4には剛性付与兼バ
ネ性付与部として受け溝3a,4aの直下から軸線を横
向きU字状に折り曲げて外側に張り出す軸曲げ部3b,
4bを設けるとよい。コンデンサ素子2のリード端子5
には、段状の受け部5aを軸上端側の側面に突押し成形
すればよい。
ド端子3,4には開放側が圧電素子の端部幅より広がっ
て奥に向かい狭くなる略V字状の受け溝3a,4aを軸
上端側の側面に突押し成形するとよい。この受け溝3
a,4aに加えて、リード端子3,4には剛性付与兼バ
ネ性付与部として受け溝3a,4aの直下から軸線を横
向きU字状に折り曲げて外側に張り出す軸曲げ部3b,
4bを設けるとよい。コンデンサ素子2のリード端子5
には、段状の受け部5aを軸上端側の側面に突押し成形
すればよい。
【0022】そのリード端子3,4では、圧電素子1の
両端部を受け溝3a、4aに嵌め込むと、圧電素子1の
端部を受け溝3a,4aの奥に向かい狭くなる略V字の
両側面で挟込み保持できるから、図1で示すように圧電
素子1の電極11,12に半田付けまで確実に仮止め固
定できる。また、半田付けは圧電素子1の電極11,1
2と受け溝3a,4aの開放側との間隙に施すことによ
りリード端子3,4を圧電素子1の両端部に電気的,機
械的に確実に接続固定できる
両端部を受け溝3a、4aに嵌め込むと、圧電素子1の
端部を受け溝3a,4aの奥に向かい狭くなる略V字の
両側面で挟込み保持できるから、図1で示すように圧電
素子1の電極11,12に半田付けまで確実に仮止め固
定できる。また、半田付けは圧電素子1の電極11,1
2と受け溝3a,4aの開放側との間隙に施すことによ
りリード端子3,4を圧電素子1の両端部に電気的,機
械的に確実に接続固定できる
【0023】その入出力用のリード端子3,4に対し、
コンデンサ素子2は図1で示すように受け溝3a,4a
を設けた軸上端側の外側面にあてがって半田付けを一対
の対向電極22,23との間隙に施すことにより電気
的,機械的に確実に接続固定できる。また、グランド用
のリード端子5はコンデンサ素子2の共通電極21に段
状の受け部5aであてがって半田付け固定すればよい。
なお、この半田付けに代えて、いずれの個所も導電性の
接着剤で接着固定するようにできる。
コンデンサ素子2は図1で示すように受け溝3a,4a
を設けた軸上端側の外側面にあてがって半田付けを一対
の対向電極22,23との間隙に施すことにより電気
的,機械的に確実に接続固定できる。また、グランド用
のリード端子5はコンデンサ素子2の共通電極21に段
状の受け部5aであてがって半田付け固定すればよい。
なお、この半田付けに代えて、いずれの個所も導電性の
接着剤で接着固定するようにできる。
【0024】
【発明の効果】以上の如く、本発明の請求項1に係るセ
ラミックレゾネータに依れば、線膨張係数の差が少ない
圧電素子とコンデンサ素子とを略平行に相対させて配置
すると共に、振動空間を圧電素子の振動部周囲に設けて
圧電素子とコンデンサ素子とを絶縁樹脂で樹脂モールド
することにより、リード端子を含む立上り高さを低く抑
えながらも、クラックが圧電素子の基板に生ずるのを防
げる、耐熱衝撃性に優れたものとして構成することがで
きる。
ラミックレゾネータに依れば、線膨張係数の差が少ない
圧電素子とコンデンサ素子とを略平行に相対させて配置
すると共に、振動空間を圧電素子の振動部周囲に設けて
圧電素子とコンデンサ素子とを絶縁樹脂で樹脂モールド
することにより、リード端子を含む立上り高さを低く抑
えながらも、クラックが圧電素子の基板に生ずるのを防
げる、耐熱衝撃性に優れたものとして構成することがで
きる。
【0025】本発明の請求項2に係るセラミックレゾネ
ータに依れば、線膨張係数の差が5ppm/℃以下とな
る圧電素子とコンデンサ素子とを組み合わせることによ
り、クラックが圧電素子の基板に生ずるのを確実に防げ
るため、耐熱衝撃性の極めて優れたものに構成すること
ができる。
ータに依れば、線膨張係数の差が5ppm/℃以下とな
る圧電素子とコンデンサ素子とを組み合わせることによ
り、クラックが圧電素子の基板に生ずるのを確実に防げ
るため、耐熱衝撃性の極めて優れたものに構成すること
ができる。
【図1】本発明に係るセラミックレゾネータを示す断面
図である。
図である。
【図2】同セラミックレゾネータを示す斜視図である。
1 圧電素子 2 コンデンサ素子 6 振動空間 7 絶縁樹脂
Claims (2)
- 【請求項1】 圧電素子とコンデンサ素子とを略平行に
相対させて配置すると共に、振動空間を圧電素子の振動
部周囲に設けて圧電素子とコンデンサ素子とを絶縁樹脂
で樹脂モールドするセラミックレゾネータにおいて、 線膨張係数の差が少ない圧電素子とコンデンサ素子とを
組み合わたことを特徴とするセラミックレゾネータ。 - 【請求項2】 線膨張係数の差が5ppm/℃以下とな
る圧電素子とコンデンサ素子とを組み合わたことを特徴
とする請求項1に記載のセラミックレゾネータ。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10224791A JP2000059172A (ja) | 1998-08-07 | 1998-08-07 | セラミックレゾネータ |
TW088112987A TW427059B (en) | 1998-08-07 | 1999-07-30 | Resonator, piezoelectric resonator and the manufacturing method thereof |
US09/366,282 US6204593B1 (en) | 1998-08-07 | 1999-08-02 | Resonator and piezoelectric resonance device with grooved lead terminals thereof |
EP99115611A EP0978938A3 (en) | 1998-08-07 | 1999-08-06 | Resonator, piezoelectric resonance device, and methods of production thereof |
CN99119798.4A CN1126246C (zh) | 1998-08-07 | 1999-08-07 | 谐振器、压电谐振装置及其制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10224791A JP2000059172A (ja) | 1998-08-07 | 1998-08-07 | セラミックレゾネータ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000059172A true JP2000059172A (ja) | 2000-02-25 |
Family
ID=16819266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10224791A Pending JP2000059172A (ja) | 1998-08-07 | 1998-08-07 | セラミックレゾネータ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000059172A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7432632B2 (en) * | 2006-02-23 | 2008-10-07 | Tdk Corporation | Composite electronic component |
-
1998
- 1998-08-07 JP JP10224791A patent/JP2000059172A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7432632B2 (en) * | 2006-02-23 | 2008-10-07 | Tdk Corporation | Composite electronic component |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020730 |