JP2000049212A - 基板位置検出装置 - Google Patents

基板位置検出装置

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JP2000049212A
JP2000049212A JP21775698A JP21775698A JP2000049212A JP 2000049212 A JP2000049212 A JP 2000049212A JP 21775698 A JP21775698 A JP 21775698A JP 21775698 A JP21775698 A JP 21775698A JP 2000049212 A JP2000049212 A JP 2000049212A
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JP
Japan
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substrate
contact
glass substrate
opening
detecting
Prior art date
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JP21775698A
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English (en)
Inventor
Matsuo Nose
松男 野瀬
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Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】基板の材質や端部形状の影響を受けずに基板の
位置ずれを正確に検出できると共に、設置時の調整作業
を簡単にし、かつ設置場所の制約もそれほど受けないよ
うにする。 【解決手段】基板搬送ロボット4aによって基板Wを開
口Gを有する処理室5aに搬入する際の基板Wの横ずれ
を検出する基板位置検出装置において、前記基板Wの接
触を検出する1対の接触センサ1、2を、前記処理室5
aの開口Gの手前の基板Wの搬送経路の両側の位置に、
基板Wの幅よりも広くかつ前記開口Gの開口幅より狭い
間隔で配設するとともに、前記1対の接触センサ1、2
の検出信号に基づいて基板の横ズレを検出する横ズレ検
出手段3を備えるようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハ、
ガラス基板等の基板を開口を有する処理室に搬送する際
に基板の横ずれを検出する基板位置検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4に液晶パネルの製造システムの一例
を示す。このシステムでは、人手または無人搬送車など
によって、ガラス基板がクリーンルームCR内の作業台
Dに配置された収納カセットC1〜C3に一時的に収納さ
れる。収納カセットC1〜C3内では、複数枚のガラス基
板が段状に格納される。この格納されたガラス基板は、
搬送ロボット4aによって取り出され、その後ワーク搬
入チャンバ(ロードロック)5aを介してマルチチャン
バ型の処理装置に搬送される。
【0003】ロードロック5aに運ばれたガラス基板は
トランスファチャンバT内の搬送ロボット4bによって
複数のプロセスチャンバP1〜P5に適宜搬入され、これ
らプロセスチャンバP1〜P5で成膜などの所要の加工処
理が実行される。加工処理後のガラス基板は搬送ロボッ
ト4bによってワーク搬出チャンバ(ロードロック)5
bに搬入される。
【0004】その後、ガラス基板は、搬送ロボット4a
によってロードロック5bから取り出され、収容カセッ
トC1〜C3に再収容される。収容カセットC1〜C3に収
容された加工処理後のガラス基板は、人手あるいは無人
搬送車によって外部に運ばれる。
【0005】トランスファチャンバT、プロセスチャン
バP1〜P5およびワーク搬入搬出チャンバ5a,5bは
真空状態に保たれており、ワーク搬入搬出チャンバ5
a,5b→トランスファチャンバT→プロセスチャンバ
P1〜P5の順に真空度が高くなるようになっている。
【0006】このようなシステムにおいては、人手また
は無人搬送車などによってガラス基板が収納カセットC
1〜C3へ収納される際、カセット内でガラス基板が定位
置からずれて格納される場合がある。このような状態
で、ガラス基板が搬送ロボット4aによって収納カセッ
トC1〜C3からロードロック5aに搬送された場合、ガ
ラス基板をワーク搬入チャンバ5aのゲートに衝突させ
て破損させたり落下させたりする虞がある。
【0007】そこで、通常、上記のようなシステムにお
いては、収納カセットC1〜C3でのガラス基板の位置ズ
レを検出し、この検出結果に応じて搬送ロボット4aの
ハンドによるガラス基板の把持位置を補正したり、ロボ
ット4aの搬送経路を補正したりして、ガラス基板を収
納カセットC1〜C3とワーク搬入チャンバ5aとの間で
各種機器と干渉を発生させることなく搬送できるように
制御している。
【0008】しかしこのような制御によっても、ワーク
搬入搬出チャンバ5aのゲートでのガラス基板の接触事
故を完全になくすことはできず、何らかの対策が望まれ
ていた。
【0009】特開平8−31913号公報には、透光性
基板の横ズレをセンサを用いて実際に検出する技術が開
示されている。
【0010】この従来技術においては、発光ダイオード
およびフォトトランジスタから成るフォトインタラプタ
を透光性基板の搬送経路中心を挟んで対向する位置にそ
れぞれ1個ずつ配置している。2個のフォトインタラプ
タの間隔は透光性基板の幅より若干広く設定する。透光
性基板に位置ズレが生じると、何れか一方のフォトイン
タラプタの光軸を透光性基板が横切るので、そのときの
フォトトランジスタの検出信号の変化を検出すること
で、透光性基板の位置ズレを検出することができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来技術では、透光部と受光部とに分離された光学式のセ
ンサによって透光性基板の位置ズレを検出するようにし
ているので、センサの設置時に光軸の調整を行わなけれ
ばならず、煩雑である。
【0012】また、上記従来技術では、透光性基板を透
過する光量の変化を捉えて基板の有無を判断するように
しているので、非検出時には受光部での受光光量が安定
している必要がある。しかし、透光性基板としてガラス
基板が用いられる場合、ガラスの材質によって透過率が
異なり、またガラス基板端の形状によっては(R面取
り、C面取り、面取りなしなどの場合がある)受光光量
の変化パターンも異なるので、上記従来技術では、ガラ
ス基板の材質、形状などによって検出手法を種々に調整
する必要がある。
【0013】また、上記従来技術では、透受光方式を用
いているので、透光性基板を挟んで上下に透受光器の設
置スペースが必要となり、他の設置機器との兼ね合いか
ら設置場所の制約を受けるという問題もある。
【0014】この発明はこのような実情に鑑みてなされ
たもので、基板の材質や端部形状の影響を受けずに基板
の位置ずれを正確に検出できると共に、設置時の調整作
業を簡単にし、かつ設置場所の制約もそれほど受けない
基板位置検出装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段及び作用効果】請求項1に
対応する発明では、基板搬送ロボットによって基板を開
口を有する処理室に搬入する際の基板の横ずれを検出す
る基板位置検出装置において、前記基板の接触を検出す
る1対の接触センサを、前記処理室の開口の手前の基板
の搬送経路の両側の位置に、基板の幅よりも広くかつ前
記開口の開口幅より狭い間隔で配設するとともに、前記
1対の接触センサの検出信号に基づいて基板の横ズレを
検出する横ズレ検出手段を備えるようにしている。
【0016】この請求項1に対応する発明では、処理室
の開口の手前の基板の搬送経路の両側の位置に、基板の
幅よりも広くかつ前記開口の開口幅より狭い間隔で1対
の接触センサを配設する。搬送される基板が何れかの接
触センサに接触すると接触センサから検出信号が出力さ
れるので、これにより基板の横ずれを検出することがで
きる。
【0017】接触センサを用いているので、基板の材質
や端部の形状などの影響を受けることなく安定して基板
の横ずれを検出することができる。さらに、接触式であ
るため、基板がセンサと接触する位置を容易に確認する
ことができ、センサ設置時の調整作業が容易となる。ま
た、接触式であるので、上方または下方の何れかに設置
スペースがあればよいので、設置場所の制約が従来に比
べ少なくなる。
【0018】請求項2に対応する発明では、請求項1の
発明において、前記接触センサは断面円形状の検出プロ
ーブを有し、前記基板と前記接触センサとの接触は点接
触であることを特徴とする。
【0019】この請求項2の発明では、基板と接触式セ
ンサとの接触が点接触になるようにして、接触面積がで
きるだけ小さくなるようにしている。これにより、基板
と接触式センサとの接触によるパーティクルの発生を極
力抑えることができる。
【0020】請求項3に対応する発明では、請求項1の
発明において、前記接触センサは、前記基板よりも低い
硬度の検出プローブを有することを特徴としている。
【0021】したがってこの発明では、基板と接触セン
サとの接触による基板の破損を防止するとともに、基板
の破損によるパーティクルの発生を少なくすることが可
能になる。
【0022】請求項4に対応する発明では、請求項1の
発明において、前記接触式センサは、前記基板の搬送経
路の上方か、あるいは下方かのいずれか一方のスペース
を用いて配備されることを特徴としている。
【0023】この発明では、基板の搬送経路の上方ある
いは下方の何れか一方のスペースを用いて接触センサを
配備しているので、接触式センサを設ける場所の制約を
少なくすることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下この発明の実施形態を添付図
面に従って詳細に説明する。
【0025】図1は、本発明に実施形態である基板位置
検出装置が設置された図4のロードロック5a近傍の構
成を示すものである。
【0026】図1において、ガラス基板Wは、搬送ロボ
ット4aのハンドHによって把持された状態で、ワーク
搬入チャンバ(ロードロック)5aに形成された開閉可
能なゲートGを介してロードロック5aに搬入される。
【0027】ロードロック5aのゲートGの前方には、
1対の接触センサ1、2が配設され、これらの接触セン
サ1、2によってガラス基板WのゲートGに対する位置
ズレを検出する。接触センサ1、2は、図2にも示すよ
うに、基板Wの搬送経路(両端をL1とL2にて示す)を
挟んで対向するように配備され、これら接触センサ1、
2の間隔hは、ゲートGの幅D2よりも狭く、かつガラ
ス基板Wの幅D1よりも広く設定されている。したがっ
て、ガラス基板Wがこれら接触センサ1、2に接触する
ことなく接触センサ1、2の間を通過することができれ
ば、ガラス基板WはゲートGの左右端部に接触すること
なくロードロック5a内に搬入することができる。
【0028】接触センサ1、2は、細い検出プローブ1
a、2aと、所要の検出回路などが内蔵されたセンサ本
体1b、2bとを各々備えており、これら検出プローブ
1a、2aにガラス基板Wが接触すると、検出信号が接
触センサ1、2から出力される。すなわち、接触センサ
1、2は検出プローブ1a、1bに対する物体の接触を
電流変化、電圧変化、磁気変化などとして捉えて検出信
号を出力するものである。
【0029】検出プローブ1a、1bは、細い断面円形
状の線体で構成されているので、ガラス基板Wとの接触
は点接触となる。したがって、センサ側の検出プローブ
のガラス基板との接触面積を小さくすることができ、ガ
ラス基板Wとの接触によって発生するパーティクル(塵
埃)を極力抑えることができ、クリーンルームの空気を
汚れを抑えることができる。
【0030】また、検出プローブ1a、2aを、ガラス
基板Wの硬度よりもその硬度が低い樹脂材料などで被覆
するようにすれば、ガラス基板Wとの接触によるガラス
基板Wの破損を防止するとともに、ガラス基板Wからの
パーティクルの発生を抑制することができる。
【0031】なお、接触センサ1、2は、検出プローブ
1a、1bのみがガラス基板Wが通過する高さ位置に介
在していれば、センサ本体1b,2bはガラス基板Wの
搬送経路の下方側あるいは上方側の何れに配設するよう
にしてもよい。このようにすることで、ガラス基板Wの
搬送経路の上方かあるいは下方のいずれか一方にスペー
スを用いて接触センサを配置することができるので、接
触センサ1、2を設ける場所の制約を少なくすることが
できる。
【0032】接触センサ1、2の検出信号S1,S2はコ
ントローラ3に入力される。コントローラ3は搬送ロボ
ット4aの駆動制御を行なうもので、接触センサ1、2
の何れかから検出信号が入力されると、これをガラス基
板WのゲートGに対する許容できない位置ズレとして検
出し、制御信号S0に基づき搬送ロボット4aを緊急停
止させる。
【0033】かかる構成において、図1に示すように、
ガラス基板Wは、搬送ロボット4aのハンドHによって
把持され、ロードロック5aのゲートGに向けて搬送さ
れているとする。
【0034】この際、ガラス基板Wの横ズレが少なく、
ガラス基板Wは接触センサ1、2の検出プローブ1a、
2a間を正常に通過できたとする。この場合には、図3
(a)に示すように、センサ1、2の検出信号S1、S2は
オンとはならない。したがって、この場合には、コント
ローラ3は特に何の動作も行わない。
【0035】しかし、ガラス基板Wの横ズレが大きく
て、例えば一方の接触センサ2の検出プローブ2aにガ
ラス基板が接触したとする。この場合、図3(b)に示す
ように、ガラス基板Wが接触センサ3に接触した時点で
接触センサ2の検出信号S2がオンになる。コントロー
ラ3では、このように何れか接触センサ1、2の検出信
号がオンになると、この時点で搬送ロボット4aに対し
て緊急停止指令S0を出力し、搬送ロボット4aを速や
かに減速停止させる。この結果、ガラス基板Wが大きく
横ズレしたままの状態で搬送されてロードロック5aの
ゲートGに接触することをを未然に防ぐことができ、ガ
ラス基板を破損させることがない。
【0036】以上説明したように、この実施形態では、
搬送されるガラス基板Wを接触センサ1,2のいずれか
に接触させることで、ガラス基板Wの位置ずれを検出す
るようにしているので、ガラス基板の材質や端部の形状
などの影響を受けることなく安定して基板の位置ずれを
検出することができる。さらに、検出プローブの存在に
よって、ガラス基板をセンサと接触させる位置を容易に
確認することができ、センサ設置時の調整作業が容易と
なる。また、接触式であるので、上方または下方の何れ
かに設置スペースがあればよいので、設置場所の制約が
従来に比べ少なくなる。
【0037】また、上記実施形態では、ガラス基板Wの
位置ずれが検出された場合、搬送ロボット4aの搬送動
作を停止するようにしているので、位置ずれしたガラス
基板Wがロードロック5aのゲートGに衝突して破損し
たり、落下したりするのを防ぐことができる。
【0038】なお、上記実施形態では、接触センサ1,
2は基板Wの搬送経路を挟んで対向ように配備したが、
対向した位置である必要はなく、設置場所などの制約が
ある場合は基板Wの搬送方向にずらせて配備してもよ
い。
【0039】また、上記実施形態では、搬入されるワー
クを液晶パネル用のガラス基板としたが、半導体ウエハ
やフォトマスクなどを搬送する際にも本発明を適用する
ようにしてもよい。
【0040】また、本発明は搬送ロボットによって基板
を開口を有する処理室に搬入するようなシステムであれ
ば、上記実施形態に限らない他の任意のシステムに適用
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板位置検出装置の概略構成図。
【図2】接触センサの配置態様を示す図。
【図3】接触センサの検出信号を示す図。
【図4】マルチチャンバ型の処理システムの概要構成を
示す図。
【符号の説明】
1、2…接触式センサ 3…コントローラ 4a、
4b…搬送ロボット 5a、5b…ロードロック W…基板(ワーク)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3F022 AA08 BB09 CC02 EE05 KK20 MM52 MM67 NN57 QQ01 QQ04 QQ05 3F027 BA02 CA02 DA02 DA21 EA06 FA12 3F059 AA01 AA14 AA16 BA04 BA06 CA05 DA02 DC02 DE06 DE08 GA00 5F031 AA10 CC01 CC12 GG03 GG12 GG13 LL05

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板搬送ロボットによって基板を開口を有
    する処理室に搬入する際の基板の横ずれを検出する基板
    位置検出装置において、 前記基板の接触を検出する1対の接触センサを、前記処
    理室の開口の手前の基板の搬送経路の両側の位置に、基
    板の幅よりも広くかつ前記開口の開口幅より狭い間隔で
    配設するとともに、 前記1対の接触センサの検出信号に基づいて基板の横ズ
    レを検出する横ズレ検出手段を備えるようにしたことを
    特徴とする基板位置検出装置。
  2. 【請求項2】前記接触センサは断面円形状の検出プロー
    ブを有し、前記基板と前記接触センサとの接触は点接触
    であることを特徴とする請求項1記載の基板位置検出装
    置。
  3. 【請求項3】前記接触センサは、前記基板よりも低い硬
    度の検出プローブを有することを特徴とする請求項1記
    載の基板位置検出装置。
  4. 【請求項4】前記接触センサは、前記基板の搬送経路の
    上方側か、あるいは下方側かのいずれか一方スペースを
    用いて配備されることを特徴とする請求項1記載の基板
    位置検出装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7317311B2 (en) 2003-02-04 2008-01-08 Oki Electric Industry Co., Ltd. Wafer handling checker
JP2008210951A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Toshiba Corp 位置検出装置および位置検出方法
JPWO2021161582A1 (ja) * 2020-02-13 2021-08-19

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