JP2000019198A - 加速度センサ - Google Patents

加速度センサ

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JP2000019198A
JP2000019198A JP10196520A JP19652098A JP2000019198A JP 2000019198 A JP2000019198 A JP 2000019198A JP 10196520 A JP10196520 A JP 10196520A JP 19652098 A JP19652098 A JP 19652098A JP 2000019198 A JP2000019198 A JP 2000019198A
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Masanori Amemori
雅典 雨森
Jun Mizuno
潤 水野
Yoshitaka Kanai
義隆 金井
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Zexel Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な構成により、錘体と電極との間隔を確
実に一定に保持し、出力特性の安定化及び信頼性の向上
を図る。 【解決手段】 中央支持柱6から延設されたトーション
バー7a,7bは、錘体3に一体となっており、中央支
持柱6の両端面は、第1及び第2のガラス基板1,2に
接合されることで、錘体3は、トーションバー7a,7
bにより第1及び第2のガラス基板1,2の間で変位可
能となっている。そして、錘体3には、複数の副貫通孔
9a〜9dが穿設されると共に、この副貫通孔9a〜9
dには、それぞれ副支持柱10a〜10dが遊貫され、
その両端面は、第1及び第2のガラス基板1,2に接合
されており、これら副支持柱10a〜10dにより、第
1及び第2のガラス基板1,2の間隔が確実に一定に保
持されるようになっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、車両等の移動体等
において用いられるいわゆる加速度センサに係り、特
に、加速度、角速度及び角加速度の検出を可能とするセ
ンサの信頼性向上のため構造の改良を図ったものに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のセンサとしては、例え
ば、特開平8−178952号公報や特開平8−304
45号公報等に示されたものが公知・周知となってい
る。これらの従来のセンサは、2枚のガラス基板の間
に、シリコンを用いてなる錘体を回動及び変位可能に設
けてなるもので、2枚のガラス基板及び錘体が、いわば
三層構造をなすように配された点において共通するもの
である。そして、かかる構成を有してなるセンサは、例
えば、加速度の作用による錘体の変位が、ガラス基板に
配設された電極と錘体との間の静電容量変化として出力
されるようになっているものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の従来
のセンサにおいて、錘を2枚のガラス基板に支持する部
位は、錘と同じシリコン部材から形成されており、2枚
のガラス基板との接合は、例えば、その接合部分を所定
の高温(例えば400℃程度)に加熱した状態におい
て、公知・周知のいわゆる陽極接合法を用いて行われる
ことが多い。しかしながら、ガラス基板とシリコンとの
接合においては、両者の熱膨張係数が異なるために、室
温に戻った際に歪みを生じてしまうという不都合があ
る。
【0004】すなわち、図8及び図9には、上述のよう
にいわゆる3層構造を有する従来センサの一構成例が示
されており、同図を参照しつつ説明すれば、2枚のガラ
ス基板1,2には、枠体4と、錘体3′を支持する支持
柱6とが接合されて、支持柱6から延設されたトーショ
ンバー7a,7bによって錘体3′が回動及び変位可能
に設けられたものとなっている。かかる構成を有するセ
ンサにおいて、陽極接合法による接合処理が終了し、接
合部分の温度が室温に戻ると、ガラス基板1,2と枠体
4及び支持柱6を形成するシリコンとの熱膨張係数の違
いに起因して、枠体4や支持柱6と接合されていないガ
ラス基板1,2の部位が外側に凸状に変形するような歪
みを生ずることがある(図9参照)。かかるガラス基板
1,2の変形は、本来一定に保持されるべき錘体3′と
ガラス基板1,2に形成された電極(図示せず)との間
隔を変えることとなり、出力誤差を招き、信頼性を損ね
るという問題を生ずる。
【0005】本発明は、上記実状に鑑みてなされたもの
で、簡易な構成により、錘体と電極との間隔を確実に一
定に保持することができ、出力特性の安定した信頼性の
高い加速度センサを提供するものである。本発明の他の
目的は、過度の衝撃による錘体の大きな振れに起因する
破損を防止することができ、堅牢な加速度センサを提供
することにある。本発明の他の目的は、空気の粘性によ
るダンピングを抑圧し、高い周波数での応答性の良好な
加速度センサを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
る加速度センサは、対向する平面側に電極が配設された
2つの絶縁基板の間に、半導体部材からなる錘体が、外
部から作用する力に応じて、前記電極との間隔が変化す
るように設けられてなる加速度センサにおいて、前記錘
体を貫通し、端面が前記2枚の絶縁基板に接合された複
数の支持柱を設けてなるものである。
【0007】かかる構成においては、2つの絶縁基板の
間に、複数の支持柱を設けることで、従来に比して2つ
の絶縁基板に接合される部材の面積を増すようにして、
製造後における2つの絶縁基板の歪みが抑圧されるよう
にしたものである。
【0008】加速度センサは、より具体的には、例え
ば、2つの絶縁基板の間に、半導体部材からなる錘体が
トーションバーを中心に回動及び変位可能に設けられて
なると共に、前記2つの絶縁基板に配設された電極と前
記錘体との間の静電容量が出力可能に構成されてなるも
のである。また、錘体は、半導体部材を用いて枠状に形
成されてなる枠体が、2つの絶縁基板に接合されてお
り、この枠体の内部に錘体が配設されるものである。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図1乃至図7を参照しつつ説明する。なお、以下に説
明する部材、配置等は本発明を限定するものではなく、
本発明の趣旨の範囲内で種々改変することができるもの
である。最初に、図1及び図2を参照しつつ第1の構成
例について説明する。なお、説明の都合上、図1に示さ
れたように、加速度センサの横方向(同図において紙面
左右方向)をX軸とし、加速度センサの縦方向(同図に
おいて紙面上下方向)をY軸とし、このXY軸に直交す
る方向の軸をZ軸と定義し、他の図においてもこれに準
するものとする。また、図8及び図9に示された従来セ
ンサと同一の構成要素については、同一の符号を用いる
こととする。
【0010】まず、この加速度センサの全体構成を概括
的に述べれば、この加速度センサは、2つの絶縁基板と
しての第1及び第2のガラス基板1,2の間に、半導体
部材、例えばシリコンからなる錘体3、枠体4等が挟持
されるように設けられて、いわば3層構造を形成してな
るものである(図2参照)。そして、この加速度センサ
は、一般に静電容量型と称され、検出出力として静電容
量が得られるようになっているものである。
【0011】以下、具体的にその構成を説明すれば、ま
ず、枠体4は、半導体部材、例えばシリコンを用いて、
そのXY平面に現れる形状が大凡いわゆる枠状に形成さ
れてなるもので、第1及び第2のガラス基板1,2の周
縁部分に接合されるようになっている(図2参照)。そ
して、この枠体4の内側には、錘体3が、Y軸方向にお
いてやや一方の側部へ偏って配設されると共に、錘体3
と枠体4との間に、第1乃至第3の電極接続柱5a〜5
cがX軸方向において適宜な間隔を隔てて配設されてい
る(図1参照)。
【0012】錘体3は、全体が半導体部材、例えばシリ
コンを用いて平板状に形成されてなるもので、後述する
ようにその中央に設けられた中央支持柱6及びトーショ
ンバー7a,7bを介して第1及び第2のガラス基板
1,2の間において、トーションバー7a,7bを中心
にした回動及び変位が可能なように設けられたものとな
っている。この錘体3は、Z軸方向の厚みが、先の枠体
4に比してやや小さく設定されたものとなっており、第
1及び第2のガラス基板1,2との間に、所定の間隙が
生ずるようになっている(図2参照)。
【0013】この錘体3の中央には、中央支持柱6及び
トーションバー7a,7bが錘体3に対して一体に設け
られている。すなわち、錘体3の中央には、中央支持柱
6及びトーションバー7a,7bを設けるために、適宜
な大きさの中央貫通孔8が穿設されており、この中央貫
通孔8の略中央に、中央支持柱6が設けられている(図
1及び図2参照)。この中央支持柱6は、Z軸方向の厚
みが、先の枠体4のそれと同一に設定されたものとなっ
ており、Z軸方向の両端面は、それぞれ第1及び第2の
ガラス基板1,2に、例えば、いわゆる陽極接合法を用
いて接合されるようになっている(図2参照)。中央支
持柱6は、XY平面の形状が、大凡十字状であって、特
に、Y軸方向がX軸方向に比して長めに設定されたもの
となっている(図1参照)。
【0014】そして、中央支持柱6のY軸方向で対向す
る一組の側面部分からトーションバー7a,7bが延設
されて、その端部が錘体3に接合されており(図1参
照)、中央支持柱6及びトーションバー7a,7bは、
錘体3と一体形成されるようになっているものである。
トーションバー7a,7bは、そのXZ平面における断
面形状が、矩形状に形成されてなるもので、より具体的
には、このトーションバー7a,7bは、Z軸方向の長
さに比してX軸方向が細幅に設定されたものとなってい
る。また、トーションバー7a,7bは、Z軸方向の長
さが、錘体3のZ軸方向の厚みと同一となっている(図
2参照)。また、このトーションバー7a,7bの両端
部は、中央貫通孔8の内壁に接合されるようにして錘体
3と一体となっており、このような構造によって、錘体
3は、トーションバー7a,7bを中心に回動及びZ軸
方向での変位が可能とされている。
【0015】さらに、錘体3には、先の中央貫通孔8の
周囲に、そのXY平面形状が矩形状の4つの副貫通孔9
a〜9dが穿設されている。すなわち、この第1の構成
例においては、中央貫通孔8の一方の脇に、2つの副貫
通孔9a,9bがY軸方向で適宜な間隔を隔てて設けら
れ、また、中央貫通孔8の他方の脇に、2つの副貫通孔
9c,9dが同様にY軸方向で適宜な間隔を隔てて設け
られている(図1参照)。そして、各々の副貫通孔9a
〜9d内においては、半導体部材、例えばシリコンを用
いて角柱状に形成されてなる副支持柱10a〜10d
が、副貫通孔9a〜9dの内壁と適宜な間隙を介して配
設されている(図1及び図2参照)。すなわち、副支持
柱10a〜10dは、副貫通孔9a〜9dに遊貫された
ものとなっている。この副支持柱10a〜10dは、そ
のZ軸方向の長さが先の枠体4のそれと同一に設定され
てなるもので、Z軸方向の両端面は、それぞれ第1及び
第2のガラス基板1,2に接合されたものとなってい
る。
【0016】第1乃至第3の電極接続柱5a〜5cは、
第1及び第2のガラス基板1,2に配設された電極(図
示せず)と外部との接続のために設けられたもので、半
導体部材、例えばシリコンを用いて柱状に形成されてな
るものである。これら、第1乃至第3の電極接続柱5a
〜5cのZ軸方向の長さは、先の枠体4のそれと同一に
設定されたものとなっている。
【0017】一方、第1及び第2のガラス基板1,2に
は、先の錘体3の平面部分と対向する適宜な大きさの電
極(図示せず)が、それぞれ少なくとも一つづつ配設さ
れており、それぞれ錘体3との間で、いわゆる平行板コ
ンデンサが形成されるようにしてある。なお、これら電
極においては、先の副貫通孔9a〜9dに対向する部位
は、副貫通孔9a〜9dのXY平面形状と同様な形状に
切り欠いておくのが好適である。これらの電極は、例え
ば、先の第1及び第2の電極接続柱5a,5bの端面に
接続されるようになっている。そして、例えば第1のガ
ラス基板1には、第1乃至第3の電極接続柱5a〜5c
の端面に臨む位置に、孔(図示せず)が穿設されてお
り、この孔には、金属材が充填されて、それぞれ第1乃
至第3の電極接続柱5a〜5cと電気的に導通するよう
になっている。この金属材充填の際には、図示されない
リード線が、一部外部へ出るようにして埋設されるよう
になっており、このリード線を介して、第1及び第2の
ガラス基板1,2に配設された電極が外部の回路へ接続
可能とされて、錘体3との静電容量が出力可能とされて
いる。
【0018】上述した構成の加速度センサを製造する場
合、その製造工程において、特に、枠体4、中央支持柱
6、副支持柱10a〜10d並びに第1乃至第3の電極
接続柱5a〜5cと、第1及び第2のガラス基板1,2
との接合は、例えば、公知・周知のいわゆる陽極接合法
を用いるのが好適である。この陽極接合法は、概略的に
言えば、第1及び第2のガラス基板1,2を所定の高温
に熱した状態において、所定の負の電圧を印加する一
方、錘体3等をなすシリコン部材を接地又は所定の電圧
に保持することで、両者の界面に作用するいわゆる静電
力を利用して接合を行わしめるものである。
【0019】また、中央貫通孔8や副貫通孔9a〜9d
の形成、中央支持柱6やトーションバー7a,7bさら
に、副支持柱10a〜10d等の形成には、例えば、ド
ライエッチングが好適である。なお、ウェットエッチン
グを用いて中央支持柱6や副支持柱10a〜10dを形
成する場合には、(110)面を有するシリコンウエハ
を用いれば、垂直な側壁を有した柱を得ることができる
が、柱の短手軸方向の断面(例えば、図1におけるXY
平面における形状)は、菱形となる。
【0020】かかる構成において、例えば、加速度がZ
軸方向で作用したとする。錘体3は、慣性力により、加
速度が作用したとは反対の方向に変位し、錘体3が近接
した側に位置する第1又は第2のガラス基板1,2の電
極(図示せず)と錘体3との間の静電容量は、錘体3の
変位量、すなわち加速度の大きさに応じて増加する一
方、反対側に位置する電極(図示せず)と錘体3との間
の静電容量は、錘体3の変位量、すなわち加速度の大き
さに応じて減少することとなる。したがって、それぞれ
の静電容量を、図示されない外部の回路において検出
し、その差を得ることで加速度の大きさを知ることがで
き、また、それぞれの静電容量の大小関係により、加速
度が何れの方向に作用したかを判定することが可能とな
る。
【0021】それ故、錘体3と、電極が配設された第1
及び第2のガラス基板1,2との間隔は、極力一定に保
持されることが、出力特性の安定した信頼性のある加速
度センサを提供するために必要とされるが、従来の加速
度センサにおいては、第1及び第2のガラス基板1,2
に接合されるのは、枠体4と中央支持柱6並びに第1乃
至第3の電極接続柱5a〜5cのみであった。そのた
め、これら枠体4と中央支持柱6並びに第1乃至第3の
電極接続柱5a〜5cと、第1及び第2のガラス基板
1,2とが公知・周知のいわゆる陽極接合により接合さ
れた後、接合時の高温の状態から室温に戻された状態と
なると、ガラスとシリコンとの熱膨張係数の違いに起因
して、第1及び第2のガラス基板1,2の特に枠体4と
中央支持柱6に接合されていない部位が歪みを生じ易か
った。すなわち、例えば図9に示されたように、第1及
び第2のガラス基板1,2は、外側に凸状に変形し、第
1及び第2のガラス基板1,2と錘体3との間隔、ひい
ては電極と錘体3との間隔が所望の値とならないという
不都合を生ずるものであった。
【0022】これに対して、本発明の実施の形態におけ
る加速度センサにおいては、先の副支持柱10a〜10
dが設けられてあるため、いわゆる陽極接合法による接
合処理が終了し、接合処理の際に高温に晒された部位が
室温に戻り、ガラスとシリコンとの熱膨張係数の違いに
起因して、第1及び第2のガラス基板1,2が変形しよ
うとしても、副支持柱10a〜10dによりそのような
変形が極力抑えられ、第1及び第2のガラス基板1,2
と、錘体3の間隔が略所望の大きさに保持されることと
なる。
【0023】また、この加速度センサに、外部から通常
とは異なる何らかの過度の衝撃が加わり、例えば、錘体
3がX軸方向に変位するような場合、従来とは異なり、
副支持柱10a〜10dによりX軸方向での錘体3の動
きが制限されるため、錘体3が必要以上に動いて枠体4
に激突し、破損するようなことが防止されるようになっ
ている。
【0024】次に、第2の構成例について、図3を参照
しつつ説明する。なお、図1及び図2に示された第1の
構成例と同一の構成要素については、同一符号を付して
その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明
することとする。この第2の構成例は、先に図1及び図
2において示された第1の構成例における副貫通孔9a
〜9d及び副支持柱10a〜10dの形状を違えたもの
で、その配置は、基本的に第1の構成例と同一のもので
ある。すなわち、第2の構成例における副貫通孔11a
〜11dは、その内壁面が円筒状となるように錘体3A
に穿設されており、各々の副貫通孔11a〜11d内
に、副支持柱12a〜12dが配設されている。副支持
柱12a〜12dは、半導体部材、例えばシリコンを用
いて円柱状に形成されてなるもので、それぞれの端面
は、それぞれ第1及び第2のガラス基板1,2に接合さ
れたものとなっている。なお、この副支持柱12a〜1
2dの機能については、上述した第1の構成例と変わる
ところがないので、その詳細な説明は省略する。
【0025】次に、第3の構成例について、図4を参照
しつつ説明する。なお、図1及び図2に示された第1の
構成例と同一の構成要素については、同一符号を付して
その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明
することとする。この第3の構成例は、先に図1及び図
2において示された第1の構成例における副貫通孔9a
〜9d及び副支持柱10a〜10dの数を違えたもので
ある。すなわち、この第3の構成例においては、XY平
面形状が矩形状の6つの副貫通孔13a〜13fが錘体
3Bに穿設されている。これら6つの副貫通孔13a〜
13fは、中央貫通孔8の一方の脇に3つの副貫通孔1
3a〜13cが、Y軸方向で適宜な間隔を隔てて設けら
れ、中央貫通孔8の他方の脇に3つの副貫通孔13d〜
13fが、同様にY軸方向で適宜な間隔を隔てて設けら
れたものとなっている。そして、これら副貫通孔13a
〜13fの内側に、副支持柱14a〜14fがそれぞれ
配設されて、そのZ軸方向の端面が第1及び第2のガラ
ス基板1,2とそれぞれ接合されている。
【0026】かかる構成において、副支持柱14a〜1
4fの基本的な機能は、第1の構成例と基本的に変わる
ことろがないが、副支持柱14a〜14fが第1の構成
例よりも多く配設されたことに伴い、第1及び第2のガ
ラス基板1,2の変形が第1の構成例に比してより抑圧
されるものとなる。
【0027】次に、第4の構成例について、図5を参照
しつつ説明する。なお、図1及び図2に示された第1の
構成例と同一の構成要素については、同一符号を付して
その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明
することとする。この第4の構成例は、先に図1及び図
2において示された第1の構成例における副貫通孔9a
〜9d及び副支持柱10a〜10dの形状を違えたもの
である。すなわち、まず、この第4の構成例における副
貫通孔15a〜15dは、そのXY平面における形状
が、いわゆるL字状に形成されて、錘体3Cに穿設され
ている。そして、副支持柱16a〜16dも、そのXY
平面の形状が副貫通孔15a〜15dと同様にいわゆる
L字状に形成されて、副貫通孔15a〜15d内に、副
貫通孔15a〜15dの内壁と適宜な間隔を隔てて配設
されている。
【0028】この第4の構成例における副支持柱16a
〜16dの基本的な機能は、先の第1の構成例と同一で
あるが、第1及び第2のガラス基板1,2と接合される
端面の形状を、いわゆるL字状としたことで、第1及び
第2のガラス基板1,2と接合される面積が、第1の構
成例の副支持柱16a〜16dに比して大となり、その
ため、第1及び第2のガラス基板1,2の変形がより効
果的に抑圧されることとなるものである。
【0029】次に、第5の構成例について、図6を参照
しつつ説明する。なお、図1及び図2に示された第1の
構成例と同一の構成要素については、同一符号を付して
その詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明
することとする。この第5の構成例は、先に図1及び図
2において示された第1の構成例における副貫通孔9a
〜9d及び副支持柱10a〜10dの形状を違えたもの
である。すなわち、この第5の構成例における副貫通孔
17a〜17dは、そのXY平面における形状が、円弧
状に形成されたもので、中央貫通孔8の一方の脇に、副
貫通孔17a,17bがY軸方向で適宜な間隔を隔てて
設けられ、中央貫通孔8の他方の脇に、副貫通孔17
c,17dがY軸方向で適宜な間隔を隔てて設けられて
いる。そして、副支持柱18a〜18dは、そのZ軸方
向の両端面が上述の副貫通孔17a〜17dと同様に、
XY平面における形状が円弧状となるように形成され
て、副貫通孔17a〜17dの内壁と適宜な間隔を隔て
て設けられたものとなっている。
【0030】この第5の構成例も先の第4の構成例と同
様に、副支持柱18a〜18dのそれぞれのZ軸方向の
端面の面積が、第1の構成例の場合と比較して大きく設
定されるため、第1及び第2のガラス基板1,2の変形
がより効果的に抑圧されることとなるものである。
【0031】最後に、第6の構成例について、図7を参
照しつつ説明する。なお、図1及び図2に示された第1
の構成例と同一の構成要素については、同一符号を付し
てその詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説
明することとする。この第6の構成例は、先に図1及び
図2において示された第1の構成例における副貫通孔9
a〜9d及び副支持柱10a〜10dの形状を違えたも
のである。すなわち、この第6の構成例における副貫通
孔19a〜19dは、そのXY平面における形状が、長
方形状に形成されたもので、しかも、その長手軸が、錘
体3Eの中心から外方へ延びる放射状の直線を想定した
場合にこの直線に沿うようにして、中央貫通孔8を挟ん
で、その両側にそれぞれ2つづつ設けられたものとなっ
ている。
【0032】そして、副支持柱20a〜20dは、その
Z軸方向の両端面が上述の副貫通孔19a〜19dと同
様に、XY平面における形状が長方形となるように形成
されて、副貫通孔19a〜19dの内壁と適宜な間隔を
隔てて設けられたものとなっている。この第6の構成例
も先の第4の構成例と同様に、副支持柱20a〜20d
のそれぞれのZ軸方向の端面の面積が、第1の構成例の
場合と比較して大きく設定されるため、第1及び第2の
ガラス基板1,2の変形がより効果的に抑圧されること
となるものである。
【0033】なお、上述の説明においては、トーション
バー7a,7bが、いわば両端支持梁として錘体3を支
持するものを前提としたが、錘体3の支持は、このよう
な両端支持梁に限定される必要はなく、例えば、片持は
りによるものであってもよいものである。また、いずれ
の構成例においても共通することであるが、副貫通孔9
a〜9d,11a〜11d,13a〜13d,15a〜
15d,17a〜17d,19a〜19dを設けたこと
により、空気の粘性による錘体3,3A,3B,3C,
3D,3Eに対するダンピング(スクィーズ効果)が低
減され、高い周波数における応答性が向上されることと
なる。すなわち、これは、錘体3,3A,3B,3C,
3D,3Eと第1及び第2のガラス基板1,2との間隔
は、精々10μm程度の大きさであるため、仮に、副貫
通孔9a〜9d,11a〜11d,13a〜13d,1
5a〜15d,17a〜17d,19a〜19dがない
と、この隙間の空気の粘性によって、錘体3,3A,3
B,3C,3D,3Eの動きが抑制され、高い周波数で
の応答性が劣化するが、副貫通孔9a〜9d,11a〜
11d,13a〜13d,15a〜15d,17a〜1
7d,19a〜19dが設けられたことで、空気の流れ
が生じるためである。
【0034】
【発明の効果】以上、述べたように、本発明によれば、
2つの絶縁基板の間に、双方に接合される支持柱を複数
設けるようにしたので、2つの絶縁基板が、双方に接合
された複数の支持柱を介して対向するため、従来と異な
り、製造後に2つの絶縁基板が撓むような歪みが抑圧さ
れ、2つの絶縁基板の間隔が変化することがなく、その
ため、錘体と2つの絶縁基板に配設された電極との間隔
も一定に保持されて、所望の出力特性が得られ、信頼性
の高い加速度センサを提供することができる。また、外
部から過度の衝撃が加わった場合にあって、錘体が、複
数の支持柱の軸方向と略直交するような方向へ触れるよ
うな場合にあっても、複数の支持柱がいわゆるストッパ
の機能を果たすため、従来と異なり、大きく横振れして
枠体へ衝突し破損するようなことがなく、堅牢な加速度
センサを提供することができる。さらに、副貫通孔によ
り空気の粘性による錘体に対するダンピング(スクィー
ズ効果)が抑圧され、高い周波数での応答性の向上が図
られるという効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における加速度センサの第
1の構成例における第2層部分の平面図である。
【図2】第1の構成例の加速度センサを図1のA−A線
で切断した際の縦断面図である。
【図3】第2の構成例の加速度センサの第2層部分の平
面図である。
【図4】第3の構成例の加速度センサの第2層部分の平
面図である。
【図5】第4の構成例の加速度センサの第2層部分の平
面図である。
【図6】第5の構成例の加速度センサの第2層部分の平
面図である。
【図7】第6の構成例の加速度センサの第2層部分の平
面図である。
【図8】従来の加速度センサの第2層部分の平面図であ
る。
【図9】従来の加速度センサを図8のB−B線で切断し
た際の縦断面図である。
【符号の説明】
1…第1のガラス基板 2…第2のガラス基板 3…錘体(第1の構成例) 4…枠体 6…中央支持柱 7a,7b…トーションバー 8…中央貫通孔 9a〜9d…副貫通孔(第1の構成例) 10a〜10d…副支持柱(第1の構成例)
フロントページの続き (72)発明者 金井 義隆 埼玉県東松山市箭弓町3−13−26 株式会 社ゼクセル東松山工場内 Fターム(参考) 4M112 AA02 BA07 CA22 CA24 CA36 DA18 EA02 EA13 FA05 FA07 FA20

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対向する平面側に電極が配設された2つ
    の絶縁基板の間に、半導体部材からなる錘体が、外部か
    ら作用する力に応じて、前記電極との間隔が変化するよ
    うに設けられてなる加速度センサにおいて、 前記錘体を貫通し、端面が前記2枚の絶縁基板に接合さ
    れた複数の支持柱を設けたことを特徴とする加速度セン
    サ。
  2. 【請求項2】 錘体には、複数の支持柱の数に対応した
    複数の貫通孔が穿設され、複数の支持柱は、これら複数
    の貫通孔に遊貫せしめられてなることを特徴とする請求
    項1記載の加速度センサ。
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007192621A (ja) * 2006-01-18 2007-08-02 Seiko Instruments Inc 力学量センサ
JP2008292451A (ja) * 2007-01-19 2008-12-04 Stmicroelectronics Srl 酸素吸収剤及び耐膨潤性、耐剥離性及び表面平滑性に優れた脱酸素性容器
JP2011112390A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 加速度センサ
JP2011112392A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 加速度センサ
JP2011112388A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 加速度センサ
JP2011523036A (ja) * 2008-04-29 2011-08-04 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング マイクロメカニカル素子およびマイクロメカニカル素子の作動方法
JP2011174881A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 静電容量型加速度センサ
JP5089807B2 (ja) * 2009-06-03 2012-12-05 アルプス電気株式会社 物理量センサ
JP5223003B2 (ja) * 2009-06-03 2013-06-26 アルプス電気株式会社 物理量センサ
DE102013212915A1 (de) 2012-07-06 2014-01-09 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Inertial sensor
WO2015151946A1 (ja) * 2014-04-03 2015-10-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 加速度センサ
US9261530B2 (en) 2009-11-24 2016-02-16 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Acceleration sensor
US10324107B2 (en) 2014-04-28 2019-06-18 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Acceleration detection device

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007192621A (ja) * 2006-01-18 2007-08-02 Seiko Instruments Inc 力学量センサ
JP2008292451A (ja) * 2007-01-19 2008-12-04 Stmicroelectronics Srl 酸素吸収剤及び耐膨潤性、耐剥離性及び表面平滑性に優れた脱酸素性容器
US8661900B2 (en) 2007-01-19 2014-03-04 Stmicroelectronics S.R.L. Z-axis microelectromechanical device with improved stopper structure
US8596122B2 (en) 2008-04-29 2013-12-03 Robert Bosch Gmbh Micromechanical component and method for operating a micromechanical component
JP2011523036A (ja) * 2008-04-29 2011-08-04 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング マイクロメカニカル素子およびマイクロメカニカル素子の作動方法
JP5089807B2 (ja) * 2009-06-03 2012-12-05 アルプス電気株式会社 物理量センサ
JP5223003B2 (ja) * 2009-06-03 2013-06-26 アルプス電気株式会社 物理量センサ
JP2011112392A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 加速度センサ
JP2011112388A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 加速度センサ
US9261530B2 (en) 2009-11-24 2016-02-16 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Acceleration sensor
JP2011112390A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 加速度センサ
US10126322B2 (en) 2009-11-24 2018-11-13 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Acceleration sensor
JP2011174881A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 静電容量型加速度センサ
DE102013212915A1 (de) 2012-07-06 2014-01-09 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Inertial sensor
US9970956B2 (en) 2012-07-06 2018-05-15 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Inertial sensor
DE102013212915B4 (de) 2012-07-06 2020-01-16 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Trägheitssensor
JPWO2015151946A1 (ja) * 2014-04-03 2017-04-13 日立オートモティブシステムズ株式会社 加速度センサ
US9995762B2 (en) 2014-04-03 2018-06-12 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Acceleration sensor
WO2015151946A1 (ja) * 2014-04-03 2015-10-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 加速度センサ
US10324107B2 (en) 2014-04-28 2019-06-18 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Acceleration detection device

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