FI117808B - Anordning och förfarande för mätning av gashalt - Google Patents

Anordning och förfarande för mätning av gashalt Download PDF

Info

Publication number
FI117808B
FI117808B FI20041194A FI20041194A FI117808B FI 117808 B FI117808 B FI 117808B FI 20041194 A FI20041194 A FI 20041194A FI 20041194 A FI20041194 A FI 20041194A FI 117808 B FI117808 B FI 117808B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
light
measuring
optical
lens element
measuring object
Prior art date
Application number
FI20041194A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20041194A0 (sv
FI20041194A (sv
Inventor
Reino Keraenen
Original Assignee
Vaisala Oyj
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vaisala Oyj filed Critical Vaisala Oyj
Priority to FI20041194A priority Critical patent/FI117808B/sv
Publication of FI20041194A0 publication Critical patent/FI20041194A0/sv
Priority to JP2007531779A priority patent/JP4807803B2/ja
Priority to EP05786137.9A priority patent/EP1789772B1/en
Priority to US11/661,914 priority patent/US7405827B2/en
Priority to PCT/FI2005/000387 priority patent/WO2006030059A1/en
Publication of FI20041194A publication Critical patent/FI20041194A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI117808B publication Critical patent/FI117808B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N21/09—Cuvette constructions adapted to resist hostile environments or corrosive or abrasive materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N2021/0389—Windows
    • G01N2021/0396—Oblique incidence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/063—Illuminating optical parts
    • G01N2201/0636—Reflectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/063—Illuminating optical parts
    • G01N2201/0638—Refractive parts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/064—Stray light conditioning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Claims (14)

1. Anordning for mätning av gashalt, vilken anordning omfattar 5. en ljussändare (1), varmed koherent ljus kan sändas till ett mätobjekt (3), - en mottagare (2), varmed det ljus som passerat mätobjektet (3) kan detekteras, och 10. optiska organ (4, 5, 6), varmed ljussändarens (1) ljusintensitet kan riktas mot mottagaren (2), . * kännetecknad av att - de optiska organen omfattar ett linselement (4), genom vilket bade det sända och 15 det mottagna ljuset är anordnat att passera och vars optiska axel är anordnad väsentligen sned i förhällande till mätobjektets (3) längsaxel, varvid vinklama för de optiska gränsytomas normaler blir sneda i förhällande till mätsignalen, * - linselementet (4) utgör bade ett brytande och reflekterande element, och • · · *::: 20 ··· · * *“*ϊ - linselementet (4) avskiljer mätobjektet (3) frän de komponenter (1, 2, 5) som är benägna att skadas, nedsmutsas och nötas. • · · * · · · • · « * · * · **·
2. Anordning i enlighet med patentkrav 1, kännetecknad av att de optiska organen . .·. 25 bestär av linselementet (4), pä vars första sida en ljuskälla (1) är anordnad, frän vilken *·* ljusets passage är anordnad att löpa genom linselementet (4) till en spegel (5) pä dess • · · .* . motsatta vägg, och härifrän vidare genom mätobjektet (3) till en spegel (6) och härifrän ♦ * · vidare via mätobjektet (3) äter genom linselementet (4) till detektom (2) pä dess andra • ♦ • sida. ··· 30 * « ♦ ·· ·· • · 117808
3. Anordning i enlighet med patentkrav 1 eller 2, kännetecknad av att linselementet (4) uppvisar en plan vägg pä mätobjektets (3) sida och är konvex pä detektoms (2) sida.
4. Anordning i enlighet med nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknad av att 5 ljusets passage är anordnad i en ätminstone 10 graders vinkel i förhällande till normalema till de optiska elementens plana ytor (7).
5. Anordning i enlighet med nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknad av att linskompononentens (4) optiska axel är anordnad sned i förhällande till en mätkanal (3), 10 företrädesvis i en ca 60 graders vinkel i forhallande till mätkanalens längsaxel.
6. Anordning i enlighet med nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknad av att ljussändaren (1) och mottagaren (2) är anordnade i närheten av varandra pä motstäende sidor av sarrnna optiska komponent (4). 15
7. Anordning i enlighet med nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknad av att den optiska komponent (4) som fungerar som ett fönster hos en mätkammare används som intem spegel och konvex lins, och den optiska komponentens (4) optiska axel är . / anordnad signifikant sned i förhällande tili mätkanalens (3) längsaxel. 20 *·· • · · .
8. Förfarande för mätning av gashalt, vid vilket förfarande • 1· • · · · « • · t.t - koherent ljus sänds tili ett mätobjekt (3), * 1 1 1 i • · • 1 • · · 25. ljuset styrs medelst optiska organ (4, 5,6), och • · 1 • · 1 * · · .1·1. - det ljus som passerat mätobjektet (3) detekteras, • · 1 • · • 1 · ··1 ! kännetecknat av att ···1·' • · 30 ··· • · '···] - de optiska organen omfattar ett linselement (4), genom vilket bäde det sända ♦ · · 1· och det mottagna ljuset är anordnat att passera och vars optiska axel anordnas 117808 väsentligen sned i förhällande till mätobjektets (3) längsaxel, varvid vinklama för de optiska gränsytomas normalcr blir sneda i förhällande tili mätsignalen, - linselementet (4) används som bäde ett brytande och reflekterande element, ooh 5. linselementet (4) används för att avskilja mätobjektet (3) frän de komponenter (1,2,5) som är benägna att skadas, nedsmutsas och nötas.
9. Förfarande i enlighet med patentkrav 8, kännetecknad av att de optiska organen 10 bestär av linselementet (4), pä vars första sida en ljuskälla (1) är anordnad, frän vilken ljusets passage är anordnad att löpa genom linselementet (4) tili en spegel (5) pä dess motsatta vägg, och härifrän vidare genom mätobjektet (3) tili en spegel (6) och härifrän vidare via mätobjektet (3) äter genom linselementet (4) tili detektom (2) pä dess andra sida. 15 ' ' ;
10. Förfarande i enlighet med patentkrav 8 eller 9, kännetecknat av att linselementet (4) väljs pä sä sätt, att det uppvisar en pian vägg pä mätobjektets (3) sida och är konvex pä detektoms (2) sida. | • · · '"j 20
11. Förfarande i enlighet med nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknat av • · · # 1 * . att ljusets passage anordnas i en ätminstone 10 graders vinkel i förhällande tili • · . normalema tili de optiska elementens plana ytor (7). • · • · ·
12. Förfarande i enlighet med nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknat av 25 att linskomponentens (4) optiska axel är anordnad sned i förhällande tili en mätkanal . ,·, (3), företrädesvis i en ca 60 graders vinkel i förhällande tili mätkanalens längsaxel, ···1 e · 1 • · • # ··· .1
, 13. Förfarande i enlighet med nägot av de föregäende patentkraven, kännetecknat av • '#1 ‘ ! att ljussändaren (1) och mottagaren (2) är anordnade i närheten av varandra pä mot- • · • 30 stäende sidor av samma optiska komponent (4). • · • ♦ • · · · • · · * ·· • · 117808
14. Förfarande i enlighet med nägot av de foregäende patentkraven, kännetecknat av att den optiska komponent (4) som fungerar som ett fonster hos en mätkammare an-vänds som intem spegel och konvex lins, och den optiska komponentens (4) optiska axel anordnas signifikant sned i forhällande tili mätkanalens (3) längsaxel. ··· IMt • · · • · a ···,' ····· • a a a a a a 1 - • aa ···♦ • aa • · ♦ · • · a a 1 a • a·..-. ··1 • a1 ♦ ♦ a#·;.··· • • a • aa'. • aa • a • • •aa# -··;'·'· ... • a· • · • · • a a a • · « • 1· • ·
FI20041194A 2004-09-14 2004-09-14 Anordning och förfarande för mätning av gashalt FI117808B (sv)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20041194A FI117808B (sv) 2004-09-14 2004-09-14 Anordning och förfarande för mätning av gashalt
JP2007531779A JP4807803B2 (ja) 2004-09-14 2005-09-08 ガス含有量測定装置及び方法
EP05786137.9A EP1789772B1 (en) 2004-09-14 2005-09-08 Gas content measuring apparatus and method
US11/661,914 US7405827B2 (en) 2004-09-14 2005-09-08 Gas content measuring apparatus and method
PCT/FI2005/000387 WO2006030059A1 (en) 2004-09-14 2005-09-08 Gas content measuring apparatus and method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20041194A FI117808B (sv) 2004-09-14 2004-09-14 Anordning och förfarande för mätning av gashalt
FI20041194 2004-09-14

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20041194A0 FI20041194A0 (sv) 2004-09-14
FI20041194A FI20041194A (sv) 2006-03-15
FI117808B true FI117808B (sv) 2007-02-28

Family

ID=33041532

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20041194A FI117808B (sv) 2004-09-14 2004-09-14 Anordning och förfarande för mätning av gashalt

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7405827B2 (sv)
EP (1) EP1789772B1 (sv)
JP (1) JP4807803B2 (sv)
FI (1) FI117808B (sv)
WO (1) WO2006030059A1 (sv)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5343356B2 (ja) * 2008-01-07 2013-11-13 セイコーエプソン株式会社 原子発振器
EP2508869B1 (de) 2011-04-05 2015-10-14 Sick Ag Konzentrationsmessgerät, Konzentrationsmessanordnung und Konzentrationsmessverfahren
EP2711688B1 (en) 2011-05-20 2020-09-02 HORIBA, Ltd. Measuring unit and gas analyzing apparatus
US8661896B2 (en) 2011-07-26 2014-03-04 Mine Safety Appliances Company Protective enclosure for use with a sensor for detecting an analyte
WO2015194133A1 (ja) * 2014-06-19 2015-12-23 日本電気株式会社 演算装置、演算装置の制御方法、及び、演算装置の制御プログラムが記録された記憶媒体
DE202020101292U1 (de) 2020-03-10 2021-06-16 Sick Ag Gaskonzentrationsmessgerät

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5255097Y2 (sv) * 1973-02-09 1977-12-13
JPS5492789A (en) * 1977-12-29 1979-07-23 Fujitsu Ltd Gas analytical method by infrared ray
WO1984000217A1 (en) * 1982-06-25 1984-01-19 Oskar Oehler Light collector device and utilization thereof for spectroscopy
JP2875291B2 (ja) * 1989-08-07 1999-03-31 株式会社タツノ・メカトロニクス ガス検出器
JPH03226653A (ja) * 1990-01-31 1991-10-07 Mitsubishi Electric Corp ガス絶縁電気機器
US5201220A (en) 1990-08-28 1993-04-13 Schlumberger Technology Corp. Apparatus and method for detecting the presence of gas in a borehole flow stream
FR2671872B1 (fr) 1991-01-17 1993-04-02 Secomam Sa Spectrophotometre portatif pour l'etude in situ du spectre d'absorption d'une substance.
US5216535A (en) * 1991-06-17 1993-06-01 Fellows William G Optical deflection device
US5448071A (en) * 1993-04-16 1995-09-05 Bruce W. McCaul Gas spectroscopy
JPH0712721A (ja) * 1993-06-23 1995-01-17 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 遠隔測定可能な分光分析装置
US5949537A (en) 1996-04-18 1999-09-07 American Air Liquide Inc. In-line cell for absorption spectroscopy
EP0938658A1 (de) 1996-11-15 1999-09-01 Optosens Optische spektrokopie Und Sensortechnik Gmbh Verfahren und vorrichtung zur kombinierten absorptions- und reflektanzspektroskopie
JP3411779B2 (ja) 1997-03-28 2003-06-03 アンリツ株式会社 ガス濃度測定装置
JP2002506968A (ja) * 1998-03-07 2002-03-05 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 光学センサ
JPH11271217A (ja) 1998-03-20 1999-10-05 Hoechst Reseach & Technology Kk 光学的センサ
JPH11287631A (ja) 1998-03-31 1999-10-19 Lintec Corp 観測装置
US6091504A (en) 1998-05-21 2000-07-18 Square One Technology, Inc. Method and apparatus for measuring gas concentration using a semiconductor laser
JP3371816B2 (ja) * 1998-07-31 2003-01-27 株式会社島津製作所 粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置
DE19840345B4 (de) 1998-09-04 2004-09-30 Dräger Medical AG & Co. KGaA Verfahren und Vorrichtung zum quantitativen Aufspüren eines vorgegebenen Gases
JP2002039942A (ja) * 2000-07-25 2002-02-06 Japan Radio Co Ltd 同位体分析装置
GB0213326D0 (en) 2002-06-11 2002-07-24 Edinburgh Instr Gas sensors
JP2004294214A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Nippon Soken Inc ガス検出装置
JP4029794B2 (ja) * 2003-07-29 2008-01-09 Ｔｏｔｏ株式会社 エアロゾル粒子濃度測定方法、装置およびそれを備える複合構造物作製装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008513756A (ja) 2008-05-01
JP4807803B2 (ja) 2011-11-02
US20080002205A1 (en) 2008-01-03
EP1789772A1 (en) 2007-05-30
EP1789772A4 (en) 2012-05-16
US7405827B2 (en) 2008-07-29
EP1789772B1 (en) 2015-11-11
WO2006030059A1 (en) 2006-03-23
FI20041194A0 (sv) 2004-09-14
FI20041194A (sv) 2006-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107850535B (zh) 气体监测仪
US10073029B2 (en) Sample measurement pool
US9110153B2 (en) Measuring device with a reduced share of stray light
EP0896216A2 (en) Method and apparatus for infrared sensing of gas
US7488942B2 (en) Gas sensors
KR20130101055A (ko) 적외선 검출 시스템용 듀어 조립체
CA2269791A1 (en) Multiple-gas ndir analyzer
FI117808B (sv) Anordning och förfarande för mätning av gashalt
JP2009515159A (ja) レーザ放射源
KR20010110748A (ko) 분석 장치
FI116804B (sv) Optisk granskning av materialstyckenas ytor öppna åt olika riktningar
US7054004B2 (en) Capillary array and capillary array photodetector
US10094775B2 (en) Sensor arrangement for determining turbidity
US7851762B2 (en) Optical analysis device
JP3822840B2 (ja) 粒子径分布測定装置
JPH0835926A (ja) 試料セル
JP2002358583A (ja) 火災検知器
US20060256351A1 (en) Measuring instrument, in particular for transmission measurement in vaccuum system
KR102400468B1 (ko) 입자계수용 광학계
JP4186185B2 (ja) 物体検出方法
EP0846260B1 (en) High temperature light scattering measurement device
JP7575286B2 (ja) 煙感知器
KR102540641B1 (ko) 능동 열화상 비파괴 검사용 광학식 균등 열부하 투사장치
JP2019082456A (ja) 光学式センサチップ及び光学式ガスセンサ
CN216386779U (zh) 拉曼光谱检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 117808

Country of ref document: FI