ES2273795T3 - Metodo y dispositivo para modificar la distribucion de irradiancia de una fuente de radiacion. - Google Patents

Metodo y dispositivo para modificar la distribucion de irradiancia de una fuente de radiacion. Download PDF

Info

Publication number
ES2273795T3
ES2273795T3 ES01660072T ES01660072T ES2273795T3 ES 2273795 T3 ES2273795 T3 ES 2273795T3 ES 01660072 T ES01660072 T ES 01660072T ES 01660072 T ES01660072 T ES 01660072T ES 2273795 T3 ES2273795 T3 ES 2273795T3
Authority
ES
Spain
Prior art keywords
radiation
source
plates
radiation source
target surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
ES01660072T
Other languages
English (en)
Inventor
Jaakko Hyvarinen
Folke Stenman
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Endeas Oy
Original Assignee
Endeas Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Endeas Oy filed Critical Endeas Oy
Application granted granted Critical
Publication of ES2273795T3 publication Critical patent/ES2273795T3/es
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V9/00Elements for modifying spectral properties, polarisation or intensity of the light emitted, e.g. filters
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V13/00Producing particular characteristics or distribution of the light emitted by means of a combination of elements specified in two or more of main groups F21V1/00 - F21V11/00
    • F21V13/02Combinations of only two kinds of elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Planar Illumination Modules (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Radiation-Therapy Devices (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)

Abstract

Método para modificar la distribución de irradiación de una fuente de radiación, en cuyo método - la fuente de radiación (1) se utiliza para dirigir la radiación a una superficie objetivo (6) esencialmente plana, caracterizado porque - entre la fuente de radiación (1) y la superficie objetivo (6), diversas placas (4), que son esencialmente no difusoras y que tienen una absorción menor del 75% de la radiación y que tienen espacios entre las mismas, se sitúan más cerca de la fuente de radiación (1) que de la superficie objetivo (6), a efectos de utilizar la reflexión y absorción de las placas (4) para atenuar la radiación a las áreas deseadas.

Description

Método y dispositivo para modificar la distribución de irradiancia de una fuente de radiación.
La presente invención se refiere a un método para modificar la distribución de irradiancia de una fuente de radiación según el preámbulo de la reivindicación 1.
La invención también se refiere a un dispositivo para modificar la distribución de irradiancia de una fuente de radiación.
En especial una de las realizaciones preferentes de la invención se refiere a uniformizar la distribución de irradiancia de una fuente de radiación sobre una gran superficie objetivo plana.
En muchas aplicaciones, especialmente en aplicaciones de exposición fotográfica y de calefacción, la iluminación uniforme de un gran plano es una característica altamente deseable e incluso necesaria. Por ejemplo, la intensidad de irradiación desde una fuente puntual isotrópica que incide sobre una superficie plana responde a la fórmula
(1)I= I_{0}\ cos^{3} (\theta)
en la que \theta es el ángulo de incidencia de la iluminación con el plano e I_{0} la irradiancia sobre el eje de simetría del patrón de iluminación circular mientras que, para conseguir una desviación de intensidad de menos de \pm5% sobre un área plana de 1,6 m de diámetro, la fuente puntual debe estar situada a una distancia de 4,3 m. La fórmula correspondiente para una fuente de luz de superficie lambertiana es
(2)I= I_{0}\ cos^{4} (\theta)
siendo la distancia para la misma desviación de intensidad 5,0 m. En la práctica, la lámpara misma se puede aproximar con la fórmula de fuente puntual y el reflector de la lámpara con la fórmula de fuente de luz de superficie lambertiana.
Tradicionalmente, se ha generado iluminación uniforme, por ejemplo, por medio de una serie de fuentes de luz, utilizando un reflector cuidadosamente diseñado situado detrás de la fuente de luz (por ejemplo, las patentes US 3.763.348 y 4.027.151), por medio de un sistema de lentes cuidadosamente diseñado entre la fuente de luz y el plano (por ejemplo, la patente US 5.555.190) y también escaneando el plano con la fuente de luz.
El documento DE 197 54 931 describe una lámpara con un difusor. En este documento, las pérdidas de energía en el difusor son esenciales.
En muchas aplicaciones, el uso de una serie de fuentes de luz que incorporan sistemas de iluminación plano a plano es demasiado voluminoso, caro y consume mucha energía. El defecto principal de los reflectores traseros, incluso diseñados muy cuidadosamente, es que la distribución de iluminación generada es muy sensible a las dimensiones de la fuente de luz y del reflector, y especialmente a la posición de la fuente de luz en relación al reflector. Esto se aplica también al uso de sistemas de lentes cuidadosamente diseñados, tales como sistemas de lentes que son, además, demasiado caros en muchas aplicaciones. El método de escaneo es adecuado únicamente para un limitado número de aplicaciones y se necesita un complejo mecanismo para realizar la operación de escaneo.
La presente invención está destinada a superar los inconvenientes de las técnicas descritas anteriormente y a conseguir un tipo de método y dispositivo completamente nuevos para modificar la distribución de energía de una fuente de radiación.
El objetivo de la invención se consigue utilizando una combinación de placas no absorbentes y/o absorbentes para atenuar la irradiación de las áreas cercanas al eje óptico reflejando de nuevo y/o absorbiendo la radiación incidente en esa región y, adicionalmente, para utilizar una placa difusora opcional para difundir la luz incidente desde la fuente de luz y redirigir la luz reflejada de nuevo desde la pila de placas hacia el difusor en una distribución angular más
amplia.
Más específicamente, el método según la invención está caracterizado por lo que se ha expuesto en la parte caracterizante de la reivindicación 1 y el dispositivo por lo que se ha expuesto en la parte caracterizante de la reivindicación 7.
La invención ofrece beneficios significativos.
En comparación con la técnica anterior, la invención permite una reducción sustancial de la distancia entre la fuente de luz y el plano a iluminar. Esta característica permite, en particular, dispositivos de pruebas de paneles solares más pequeños que producen ahorros considerables en utilización de espacio. Especialmente cuando se utilizan elementos principalmente transparentes para igualar el patrón de luz, las pérdidas de energía luminosa son mínimas. Además, la distancia más corta entre la fuente de luz y el área objetivo permite el uso de fuentes de luz de más baja energía.
A continuación, la invención se examinará con mayor detalle ejemplificando realizaciones, con referencia a los dibujos adjuntos, en los que:
la figura 1 es una vista lateral en sección transversal de un dispositivo según la invención;
la figura 2 es un gráfico que muestra la distribución de irradiación según una realización de la invención, en el que se muestra la irradiancia relativa desde la fuente de luz sin elementos absorbentes y utilizando tres elementos absorbentes.
La figura 3 es un gráfico que muestra la distribución de irradiación según una segunda realización de la invención.
A continuación, la explicación de la idea básica de la invención utiliza un modelo teórico de una fuente puntual, sin reflector tras la fuente. Se realizan comentarios adicionales en relación a los aspectos a considerar e incluir, cuando se diseña un sistema práctico.
La presente invención utiliza una combinación adecuada de placas puramente reflectantes y placas parcialmente absorbentes situadas entre la fuente de luz y el plano. Estas placas se dimensionan para reflejar de nuevo y/o atenuar desde la combinación fuente de luz/difusor de manera selectiva como una función de la dirección. Por ejemplo, el vidrio de sosa libre de hierro y el policarbonato son materiales adecuados para fabricar estas placas. En aire, una única placa de vidrio reflejará el 8% de la luz que le llega y una placa de policarbonato el 10%. Cuando se utiliza una fuente puntual, las placas deben ser de forma circular y deben estar situadas central y perpendicularmente sobre el mismo eje, que proviene de la fuente de luz. Las placas se pueden situar a cualquier distancia entre ellas para modificar la irradiancia pero, dado que se puede conseguir el mismo objetivo ajustando el diámetro y grosor de las placas, en la práctica se sitúan cerca unas de otras. Para asegurar la reflexión en cada superficie, se debe dejar un pequeño espacio de aire entre las placas. Si se utilizan placas de grosor no uniforme, la distancia de la pila de placas y el diámetro máximo de la placa mayor se determina por el hecho de que la luz con un elevado ángulo de incidencia no debe ser reflejada totalmente. En el caso de vidrio y policarbonato, el ángulo en el que tiene lugar la reflexión total es en torno a 45º. Las placas, por ejemplo, pueden ser curvadas en los bordes para disminuir el ángulo de incidencia.
El número total y los diámetros de las placas se determinan considerando los requisitos para una irradiación uniforme del lugar y la necesidad de atenuar la densidad de irradiación dada por las fórmulas (1) y (2). Utilizando la aproximación teórica de fuente puntual y las placas de vidrio, habrá un escalón del 8% en la intensidad de irradiación en la superficie plana debido al borde de una única placa. En un sistema real, la fuente de luz es de tamaño finito, lo que se debe tener en cuenta aparte. Una consecuencia de esto es que los escalones de intensidad se suavizan, debido al hecho de que la fuente de luz se vuelve "visible" gradualmente por detrás de los bordes de las placas. Por ejemplo, cuando se utiliza una fuente puntual, la irradiación sobre un plano, en un ángulo de incidencia de 45º, es sólo el 35% de la intensidad a un ángulo de 0º. Doce placas de vidrio con diámetros definidos utilizando la fórmula (1) suavizarán la variación mínima de la iluminación plana por debajo del 9%. Si se utilizan placas de policarbonato, se puede conseguir una variación de iluminación mínima del 10% con nueve placas.
La figura 1 muestra un dispositivo típico según la invención que comprende una fuente de luz, en este caso un tubo de descarga circular (1), detrás del que se sitúa un reflector (2). En la figura, la intensidad de la fuente de luz se dirige, por lo tanto, a la derecha, hacia el plano (6) objetivo, que es en este caso un panel solar (6). Los difusores (3) se sitúan lo más cerca posible del tubo de descarga (1) y están destinados a igualar la intensidad del tubo de descarga (1) en el campo cercano. Un tubo difusor (5) rodea los difusores (3). El uso de difusores es opcional en relación a esta invención. La radiación que atraviesa el difusor (3) final (el situado más a la derecha) avanza hacia las placas reflectantes (4), transparentes y absorbentes, que se encuentran separadas entre sí para asegurar la reflexión desde cada superficie separadamente. La forma de las placas reflectantes (4) (vistas, por ejemplo, desde el plano objetivo -6-) depende de la forma de la fuente de luz. En el caso de una fuente puntual teórica de luz, las placas (4) serían circulares. En el caso de una fuente alargada, por ejemplo, las placas serían ovaladas, con la forma exacta determinada por la geometría específica de la disposición.
Los difusores (3) pueden ser necesarios, especialmente en el caso de una fuente de luz que no posee simetría rotacional. La geometría del reflector (2) puede incluso obviar la necesidad de difusores (3) para convertir una distribución no rotacionalmente simétrica desde la unidad tubo de descarga (1)/reflector (2) a una distribución rotacionalmente simétrica.
Una distribución de irradiancia rotacionalmente simétrica puede ser modificada de cualquier manera deseada con la ayuda de las placas (4) apiladas en forma cónica. En este caso, el término forma cónica se refiere a la forma de la sección transversal de la pila de placas (4). De acuerdo con la figura 1, la mayor placa de esta pila es la más cercana a la fuente (1), pero, según la invención, el orden mutuo de las placas en la pila se puede elegir libremente según exigencias ópticas o constructivas. También, en principio, la pila de elementos absorbentes se puede sustituir por una única placa absorbente de grosor variable.
Las dimensiones relacionales en una realización de la invención son las siguientes:
a:
diámetro del reflector (2)
b:
diámetro de la fuente de luz (1)
c:
distancia entre la fuente (1) y el último difusor (3)
d:
distancia entre la fuente (1) y la primera placa (4)
e:
distancia ente la fuente (1) y el objetivo (6)
f:
diámetro del difusor (3)
g:
diámetro de la placa mayor (4)
-
c esencialmente menor que a
-
d menor que el 50% de e, típicamente el 5-20% de e, más típicamente en torno al 10% de e
-
f mayor que b, típicamente menor que 2a
-
g mayor que b, típicamente menor que 2a
Lo mostrado a continuación es una descripción de una implementación de la invención, que es una versión ligeramente modificada de la solución de la figura 1. Este ejemplo difiere de la figura 1 en que existen únicamente dos difusores.
El diámetro del reflector (2) es de 150 mm. El tubo circular (1) tiene un diámetro exterior de 70 mm y un grosor (diámetro de tubo) de 10 mm, siendo la distancia entre el tubo de descarga (1) y el reflector (2) de 20 mm. El tubo del difusor (5) tiene un diámetro interno de 150 mm y una superficie interna blanca mate. La distancia entre el tubo de descarga (1) y el difusor (3) más cercano es de 30 mm, siendo la distancia entre el segundo difusor más cercano (3) y el tubo de descarga (1) de 50 mm (únicamente dos difusores). El tubo difusor (5) termina en el segundo difusor (difiriendo de esta manera de la solución de la figura 1). La distancia entre el tubo de descarga (1) y las placas absorbentes (4) es de 220 mm. El material para las placas (4) es Schott NG12 pero se puede utilizar cualquier material de absorción adecuada. Las placas (4) tienen las siguientes dimensiones (la primera placa es la más cercana al tubo de descarga -1-):
placa: diámetro 150 mm, grosor 1,5 mm
placa: diámetro 100 mm, grosor 2,0 mm
placa: diámetro 70 mm, grosor 3,0 mm
El espacio entre las placas (4) es aproximadamente 0,5 mm.
En una medición experimental, el sistema especificado anteriormente se situó para crear una distancia de 240 cm entre el tubo de descarga (1) y el área objetivo (6). Se estudió una región circular de diámetro 180 cm en el área objetivo. El dispositivo crea un patrón circular simétrico con la mayor irradiancia en el centro. Sin las placas (4) reflectantes y absorbentes, la diferencia en iluminación entre el área central y el área de los bordes del círculo de prueba era de aproximadamente el 35%, pero se redujo al 6% cuando se utilizaron las placas (4) reflectantes y absorbentes.
Obviamente el dimensionamiento del dispositivo, y particularmente de las placas (4), depende mayormente de la geometría del tubo de descarga (1). Como norma general, sin embargo, la pila de placas (4) debe situarse de manera que el tubo de descarga (1) se encuentra lo más cerca posible del plano objetivo (6), la absorción más intensa se debe utilizar para los rayos que se desplazan cerca del eje óptico, para atenuar la luz en las áreas que reciben las mayores intensidades mediante las leyes de la física (fórmulas 1 y 2).
En esta aplicación, la fuente de la fuente de radiación puede ser de cualquier tipo, tal como un disparador de destellos, una bombilla o una fuente de infrarrojos. No obstante, se encontraron soluciones especialmente ventajosas en relación con los disparadores de destellos creados para probar paneles solares. La fuente de radiación puede emitir radiación tanto continua como pulsada.
En relación con la presente invención la pila de placas (4) puede absorber la radiación hasta un 75% de la radiación total, sin embargo, la máxima absorción típica de la pila es del 5-40% de la radiación incidente.
En relación con la presente invención el término transparente indica cualquier material que sea esencialmente no difusor y que tenga una absorción menor que el 75%.
En la figura 2 se muestra un gráfico en el que sobre el eje horizontal se muestra la distancia (en metros) desde el centro del plano objetivo y sobre el eje vertical se muestra la atenuación de la radiación sobre el plano objetivo. En la figura 2 la línea (10) representa una simulación por ordenador sin elementos absorbentes, la línea (11) una simulación con placas absorbentes con diámetros/grosores de 70 mm/3 mm, 100 mm/2 mm y 150 mm/1,5 mm. La línea (12) representa las mediciones correspondientes a la línea (10) y la línea (13) las mediciones correspondientes a la línea (11) respectivamente. Se aprecia de manera evidente de la figura de las curvas de irradiancia simulada, en comparación con las de medición, que la acción de la invención está representada de manera precisa mediante modelos físicos simples relacionados con la distribución angular de radiación difundida por medio de las placas difusoras.
Según la invención, el orden mutuo de las placas (4) se puede elegir libremente. También se puede cambiar la distancia de las placas (4) desde la fuente (1), así como sus diámetros.
En la figura 3 se muestra un gráfico en el que sobre el eje horizontal se muestra la distancia (en metros) desde el centro del plano objetivo (6) y sobre el eje vertical se muestra la atenuación de la radiación sobre el plano objetivo. En la figura 3 se utilizan tres placas adicionales a la realización de la figura 2, cuyas placas son las siguientes (diámetro/grosor): 100 mm/1 mm, 120 mm/3 mm, 150 mm/6 mm. La línea (14) representa una simulación sin utilizar ningún elementos absorbentes, la línea (15) una simulación con placas absorbentes de diámetro/grosor de 100/1 mm, 120/3 mm, 150/6 mm.
Tal como se puede observar a partir de la figura, el uso de elementos absorbentes más gruesos suaviza ahora la irradiancia hasta un rango +/-2% en la región de 0-900 mm desde el eje. Sin embargo, según las propiedades generales de la invención, virtualmente cualquier tipo de distribución de irradiancia se puede sintetizar utilizando las combinaciones adecuadas de diámetros y grosores de placa. En particular se debe observar que la atenuación deseada como función de la dirección se puede conseguir utilizando una combinación adecuada de placas completamente transparentes y/o parcialmente absorbentes, ya que cada superficie por separado atenúa la radiación a través de la reflexión sin tener en cuenta si el material de la placa absorbe luz o no.
También se debe observar que variando la forma de las placas en la pila es posible conseguir cualesquiera propiedades de simetría deseadas de la distribución de irradiancia.

Claims (12)

1. Método para modificar la distribución de irradiación de una fuente de radiación, en cuyo método
- la fuente de radiación (1) se utiliza para dirigir la radiación a una superficie objetivo (6) esencialmente plana,
caracterizado porque
- entre la fuente de radiación (1) y la superficie objetivo (6), diversas placas (4), que son esencialmente no difusoras y que tienen una absorción menor del 75% de la radiación y que tienen espacios entre las mismas, se sitúan más cerca de la fuente de radiación (1) que de la superficie objetivo (6), a efectos de utilizar la reflexión y absorción de las placas (4) para atenuar la radiación a las áreas deseadas.
2. Método, según la reivindicación 1, caracterizado porque las placas se sitúan esencialmente paralelas a la superficie objetivo (6).
3. Método, según las reivindicaciones 1 ó 2, caracterizado porque por lo menos un difusor (3) se sitúa entre la fuente de radiación y las placas.
4. Método, según las reivindicaciones 1, 2 ó 3, caracterizado porque se utiliza un tubo de destellos (1) como fuente de radiación y la superficie objetivo (6) es un panel solar.
5. Método, según cualquiera de las reivindicaciones precedentes, caracterizado porque las placas (4) se disponen en una pila que tiene una forma cónica en sección transversal, entre la fuente de radiación (1) y el plano objetivo (6).
6. Método, según cualquiera de las reivindicaciones precedentes, caracterizado porque la placa (4) más cercana a la fuente (1) se sitúa desde la fuente (1) a una distancia (d) del 5-20%, típicamente a una distancia (d) del 10% de la distancia (e) entre la fuente (1) y el objetivo (6).
7. Dispositivo para modificar la distribución de irradiación de una fuente de radiación, cuyo dispositivo comprende
- una fuente de radiación (1) por medio de la cual se puede dirigir la radiación a una superficie objetivo (6) esencialmente plana, caracterizado porque
- entre la fuente de radiación (1) y la superficie objetivo (6), diversas placas (4), que son esencialmente no difusoras y que tienen una absorción menor del 75% de la radiación y que tienen espacios entre ellas, se sitúan más cerca de la fuente de radiación (1) que de la superficie objetivo (6), a efectos de utilizar la reflexión y absorción de las placas (4) para atenuar la radiación a las áreas deseadas.
8. Dispositivo, según la reivindicación 7, caracterizado porque las placas se sitúan esencialmente paralelas a la superficie objetivo (6).
9. Dispositivo, según las reivindicaciones 7 u 8, caracterizado porque por lo menos un difusor (3) se sitúa entre la fuente de radiación y las placas.
10. Dispositivo, según las reivindicaciones 7, 8 ó 9, caracterizado porque se utiliza un tubo de destellos (1) como fuente de radiación y la superficie objetivo (6) es un panel solar.
11. Dispositivo, según cualquiera de las reivindicaciones precedentes, caracterizado porque las placas (4) se disponen en una pila cónica entre la fuente de radiación (1) y el plano objetivo (6).
12. Dispositivo, según cualquiera de las reivindicaciones precedentes, caracterizado porque la placa (4) más cercana a la fuente (1) se sitúa desde la fuente (1) a una distancia (d) del 5-20%, típicamente a una distancia (d) del 10% de la distancia (e) entre la fuente (1) y el objetivo (6).
ES01660072T 2000-04-28 2001-04-25 Metodo y dispositivo para modificar la distribucion de irradiancia de una fuente de radiacion. Expired - Lifetime ES2273795T3 (es)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20001010A FI108576B (fi) 2000-04-28 2000-04-28 Menetelmä ja laite säteilylähteen säteilyvoimakkuuden jakaantuman muuttamiseksi
FI20001010 2000-04-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ES2273795T3 true ES2273795T3 (es) 2007-05-16

Family

ID=8558311

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES01660072T Expired - Lifetime ES2273795T3 (es) 2000-04-28 2001-04-25 Metodo y dispositivo para modificar la distribucion de irradiancia de una fuente de radiacion.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6811284B2 (es)
EP (1) EP1167875B1 (es)
JP (1) JP4667636B2 (es)
AT (1) ATE344422T1 (es)
DE (1) DE60124180T2 (es)
ES (1) ES2273795T3 (es)
FI (1) FI108576B (es)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011152082A1 (ja) * 2010-06-04 2011-12-08 富士電機株式会社 ソーラーシミュレーターおよび太陽電池検査装置
DE102014105272A1 (de) * 2014-04-14 2015-10-15 Hella Kgaa Hueck & Co. Radarsensor mit Absorber sowie ein Verfahren zur Montage des Absorbers

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE910520C (de) 1936-04-29 1954-05-03 Mitteldeutsche Stahlwerke G M Fahrbares Gegengewicht zum Ausgleich von laengs verschiebbaren Schaufelradauslegern u. dgl.
US3763348A (en) 1972-01-05 1973-10-02 Argus Eng Co Apparatus and method for uniform illumination of a surface
US4027151A (en) 1975-11-18 1977-05-31 Crouse-Hinds Company Luminaire and reflector therefor
US4099864A (en) * 1977-03-11 1978-07-11 Pako Corporation Light source for photographic printer
JPS55144371U (es) * 1979-04-03 1980-10-16
JPS6044076U (ja) * 1983-08-31 1985-03-28 シャープ株式会社 表示装置用ライトボックス
US5128848A (en) * 1989-03-31 1992-07-07 W.C. Heraeus Gmbh Operating light
US5041952A (en) * 1989-07-31 1991-08-20 Intermatic Incorporated Control circuit for a solar-powered rechargeable power source and load
JPH0495923A (ja) * 1990-08-07 1992-03-27 Stanley Electric Co Ltd 照明装置
JPH0599854A (ja) * 1991-10-04 1993-04-23 Mazda Motor Corp 表面状態検査用照明装置
US5432683A (en) * 1993-08-24 1995-07-11 Brown; Douglas Photographic lighting system
US5535021A (en) * 1994-06-06 1996-07-09 Microtek International, Inc. Scanner light diffuser
US5555190A (en) 1995-07-12 1996-09-10 Micro Motion, Inc. Method and apparatus for adaptive line enhancement in Coriolis mass flow meter measurement
DE19754931C1 (de) * 1997-12-10 1999-03-18 Peter Andres Leuchte mit einem Reflektor und einer Diffusorscheibe
JP2000012424A (ja) * 1998-06-18 2000-01-14 Nikon Corp 露光装置及びビーム形状設定装置
US6076942A (en) * 1998-06-30 2000-06-20 Hughes Electronics Corporation Uniformity filter
JP2001356205A (ja) * 2000-06-14 2001-12-26 Inter Action Corp シェーディング補正拡散板

Also Published As

Publication number Publication date
EP1167875B1 (en) 2006-11-02
ATE344422T1 (de) 2006-11-15
US6811284B2 (en) 2004-11-02
EP1167875A2 (en) 2002-01-02
FI108576B (fi) 2002-02-15
FI20001010A (fi) 2001-10-29
DE60124180T2 (de) 2007-09-13
JP4667636B2 (ja) 2011-04-13
DE60124180D1 (de) 2006-12-14
JP2002048717A (ja) 2002-02-15
US20020138214A1 (en) 2002-09-26
EP1167875A3 (en) 2004-01-28
FI20001010A0 (fi) 2000-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2592168T3 (es) Luminaria y sistema de iluminación
ES2353936T3 (es) Conformador de haz luminoso.
ES2474390B1 (es) Modulo de retroiluminación perimetral
US20150029717A1 (en) Shaped microstructure-based optical diffusers for creating batwing and other lighting patterns
JP5814847B2 (ja) 照明装置
TWI526652B (zh) 發光裝置
JP6310285B2 (ja) 発光装置、面光源装置および表示装置
ES2428087T3 (es) Lámpara
RU2562959C2 (ru) Светильник
BRPI0917555B1 (pt) aparelho de iluminação
KR20140082707A (ko) 리플렉터, 조명기구 및 그 용도
JP6347390B2 (ja) 照明装置
JP2016517998A (ja) 照明装置
TWI322868B (es)
ES2273795T3 (es) Metodo y dispositivo para modificar la distribucion de irradiancia de una fuente de radiacion.
KR101059235B1 (ko) 엘이디 전구용 광확산 렌즈
JP2011071093A (ja) 照明器具
US2143148A (en) Light shield
JP2013182710A5 (es)
JP2019046649A (ja) 発光装置、面光源装置および表示装置
KR101340679B1 (ko) 유도 매트릭스 반사면 구조의 고광도 방전 램프용 등기구 반사 갓
ES2895377T3 (es) Iluminación LED urbana y para carreteras de alto confort visual
ES2535140T3 (es) Módulo de iluminación con emisión optimizada, en particular para la iluminación de carreteras
KR20130007931A (ko) 조명 부재 및 조명 부재를 포함하는 조명 장치
KR102388733B1 (ko) 휘도와 조도가 개선된 구조의 일체형 렌즈와 반사부재를 갖는 엘이디 조명장치