ES2202394T3 - Procedimiento y dispositivo para ampliar el campo de medicion de los sitemas speckle en las mediciones de dilatacion. - Google Patents

Procedimiento y dispositivo para ampliar el campo de medicion de los sitemas speckle en las mediciones de dilatacion.

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ES2202394T3 ES96106540T ES96106540T ES2202394T3 ES 2202394 T3 ES2202394 T3 ES 2202394T3 ES 96106540 T ES96106540 T ES 96106540T ES 96106540 T ES96106540 T ES 96106540T ES 2202394 T3 ES2202394 T3 ES 2202394T3
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Andreas Dr.-Ing. Ettemeyer
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    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • G01B11/161Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge by interferometric means
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Abstract

LA INVENCION SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO Y UN DISPOSITIVO PARA EL AUMENTO DE LA ZONA DE MEDICION DE UN SISTEMA DE MEDIDA SPECKLE EN MEDICIONES DE DILATACION EN UNA MUESTRA (5) APLICADA EN UNA MAQUINA DE PRUEBA CON UN SENSOR (6) SPECKLE, DONDE LA MUESTRA (5) SE CARGA EN LA MAQUINA (12) DE PRUEBA EN UN EQUIPO (1,2) DE CARGA Y EL SENSOR (6) SPECKLE SE NUEVE CON EL EN LA CARGA DE LA MUESTRA (5).

Description

Procedimiento y dispositivo para ampliar el campo de medición de los sistemas speckle en las mediciones de dilatación.
La presente invención se refiere a un procedimiento y a un dispositivo para ampliar el campo de medición de los sistemas Speckle, al medir las dilataciones de una muestra con una máquina de ensayo.
Con el empleo de procedimientos de medición Speckle se pueden medir con gran sensibilidad los desplazamientos y las dilataciones superficiales de las muestras en las máquinas de ensayo, de manera llana y sin marcas ni contactos. Se pueden medir componentes uni- hasta tridimensionales de la muestra y si las amplitudes del movimiento son mayores, pueden registrarse midiendo en serie varios pasos menores y sumando los resultados.
La patente US-A-4 605 857, que describe el estado técnico más reciente, revela un procedimiento para medir dilataciones, con todas las características del concepto general de las reivindicaciones adjuntas 1 y 2, así como 4 y 7. En este caso se registra el desplazamiento de un marcador óptico incorporado a la muestra, debido a una dilatación de la misma, cuando se somete a la carga de un sensor sujeto a un husillo roscado que es accionado por un servomotor, el cual por ello sigue al sensor en la dirección de la carga. Pero este procedimiento es desfavorable porque emplea un circuito de regulación complejo, con lo cual, si hay un desplazamiento brusco del marcador, el sensor es seguido con retardo.
La patente DE-A-4 039 972 indica un procedimiento para registrar la deformación superficial de un objeto por interferometría electrónica de Speckle.
Pero el empleo del procedimiento de medición Speckle en las máquinas de ensayo de materiales tiene el problema que, por toda la elongación de la muestra y la dilatabilidad de la sujeción, la superficie de la muestra en el campo de medición se puede desplazar mucho más de lo que da su propio alargamiento. A menudo, la muestra se mueve en el campo de medición mucho más de lo que corresponde a su alargamiento, pues, aunque se dilata en toda la extensión, solo se mide en una zona parcial.
La figura 1 ilustra esquemáticamente este problema, que se produce por superposición del alargamiento (dl/l) y de un movimiento más fuerte (u). La figura 2 muestra un ejemplo de un sensor de medida unidimensional, que mide los movimientos de la muestra en la dirección de la carga. Una muestra 5 está sujeta entre un travesaño inferior 1 y un travesaño superior 2. El travesaño inferior 1 y el travesaño superior 2 pertenecen a un dispositivo de carga de una máquina de ensayo que no está representada. La referencia 4 señala el campo de medición al que se dirige un sensor Speckle 6. La dirección de la carga está indicada por la flecha 3. Es evidente que la carga de la muestra 5 provoca un desplazamiento total del patrón de Speckle, y debido a efectos de descorrelación, disminuye el contraste de la medición. En algún caso concreto esto puede impedir el uso de la técnica de medición Speckle. Traducido a la técnica de medición, este efecto produce un empeoramiento de las proporciones entre las señales útiles (elongación) y las señales de ruido (desplazamiento del cuerpo rígido).
Otro problema del empleo del procedimiento de medición Speckle es que, si las amplitudes de carga son mayores, los puntos observados de la superficie también se apartan macroscópicamente de la imagen original, con lo cual ya no es posible la coordinación.
Por lo tanto, el objetivo de la presente invención es lograr un procedimiento, partiendo del estado técnico, por el que un sensor pueda seguir inmediatamente y sin retraso, con medios sencillos, el movimiento correspondiente a un alargamiento de la muestra.
Según la presente invención, dicho objetivo se resuelve en cuanto a procedimiento mediante las características de las reivindicaciones adjuntas 1 y 2, y en cuanto al dispositivo mediante las características de las reivindicaciones adjuntas 4 y 7.
Las características preferidas que perfeccionan ventajosamente la presente invención figuran en las reivindicaciones secundarias de la misma.
Según la presente invención, la porción del movimiento de la muestra correspondiente al cuerpo rígido se compensa ventajosamente mediante el movimiento acompañado del sensor de Speckle, con lo cual se amplía considerablemente el campo de medición del sistema Speckle. Oportunamente, el sensor de Speckle se dirige siguiendo el movimiento de la muestra, de manera que, durante el desplazamiento debido a la carga, el centro del campo de medición se encuentre siempre en el mismo punto del objeto. Con ello se consigue una clara mejora de la relación señal/ruido.
Según una forma preferida de la presente invención, se dirige un sensor de Speckle en al menos una dirección de la elongación de la muestra, con preferencia un sensor respectivamente en dos o tres direcciones del espacio.
Para el movimiento solidario de un sensor de Speckle hay varias posibilidades. Según una forma de ejecución de la presente invención, un sensor de Speckle se mueve mediante un acoplamiento mecánico entre el soporte del sensor y el dispositivo de carga. Alternativamente, según otro ejemplo de ejecución, puede estar previsto que un sensor se mueva mediante uno o varios accionamientos separados, teniendo en cuenta su resultado de medición correspondiente y/o una o más señales externas y/o el control de la máquina de ensayo.
Para su movimiento solidario, cada sensor de Speckle va colocado preferentemente en un carro de desplazamiento, el cual, según otra forma de ejecución de la presente invención, está unido mecánicamente con el dispositivo de carga, ya sea mediante un varillaje accionado por una biela o un engranaje, correas dentadas o cables. Alternativamente, el carro de desplazamiento presenta uno o más accionamientos separados con mando electrónico, cuya regulación se basa preferentemente en las mediciones facilitadas por el propio sensor y/o por otro medidor y/o por el control de la máquina de ensayo.
La presente invención se explica seguidamente con mayor detalle mediante los gráficos adjuntos, que muestran:
figura 1 una representación esquemática de la superposición del alargamiento y de un movimiento más fuerte en caso de carga unidimensional de la muestra;
figura 2 una representación esquemática de un ejemplo de un sensor para mediciones unidimensional, que mide el movimiento de la muestra en la dirección de la carga;
figura 3 una representación esquemática de un ejemplo de ejecución de un dispositivo de la presente invención, en que el sensor se desplaza por medio de un acoplamiento mecánico con el dispositivo de carga mediante un varillaje y una biela;
figura 4 una representación esquemática de un ejemplo de ejecución de un dispositivo, en que el sensor se desplaza por medio de un acoplamiento mecánico con correas dentadas o cables;
figura 5 una representación esquemática de un ejemplo de una regulación electrónica del desplazamiento del sensor, cuyo recorrido se calcula a partir de las mediciones facilitadas por el propio sensor;
figura 6 una representación esquemática de un ejemplo de una regulación electrónica del desplazamiento del sensor, cuyo recorrido se calcula a partir de las mediciones de otro aparato medidor; y
figura 7 una representación esquemática de un ejemplo de una regulación electrónica del desplazamiento del sensor, cuyo recorrido se calcula directamente a partir de la regulación de la máquina de ensayo.
En la figura 3 se representa esquemáticamente un ejemplo de ejecución de un dispositivo de la presente invención, en que el desplazamiento está previsto mediante un acoplamiento mecánico con un varillaje 8 y una biela 10. El varillaje 8 consta de 2 barras articuladas con la biela 10 y su otro extremo está articulado respectivamente con el travesaño superior 2 y el travesaño inferior 1. El número 7 se refiere a un carro de desplazamiento al que está fijado el sensor de Speckle 6. El carro de desplazamiento 7 va guiado paralelamente a la dirección de carga en un perfil 11 que constituye una parte de máquina de ensayo 12. Con la estructura reproducida se consigue convenientemente que, durante la carga y el desplazamiento de la muestra 5, el centro del campo de medición permanezca siempre en el mismo punto del objeto, porque la relación de una distancia a desde el travesaño inferior 1 hasta el borde inferior del campo de medición 4 respecto a una longitud b desde el extremo inferior del campo de medición 4 hasta el travesaño superior no varía.
La figura 4 muestra otro ejemplo de ejecución de un dispositivo, en que el sensor 6 se desplaza sobre su carro 7 mediante correas dentadas 8'. El medidor o el sensor se mueve con la mitad de velocidad que los travesaños.
En las figuras 5 - 7 se representan distintos ejemplos de ejecución de una regulación electrónica del carro de desplazamiento 7, que posee uno o varios accionamientos separados 13.
Según la figura 5, la regulación electrónica del o de los accionamientos separados 13 se efectúa mediante las mediciones obtenidas del propio sensor 6, tal como se deduce directamente del diagrama de control esquematizado.
Según la figura 6, para regular el desplazamiento del sensor 6 se prevé otro medidor 9, que solo mide puntualmente, mientras que en la figura 7 son los datos calculados por la máquina de ensayo 12 los previstos para regular electrónicamente el accionamiento 13 que desplaza el sensor 6 mediante el carro 7.

Claims (5)

1. Procedimiento para ampliar el campo de medición de los sistemas que miden las elongaciones de una muestra (5) en una máquina de ensayo (12), en el cual se usa un sensor, se carga la muestra (5) en un aparato (1,2) y el sensor se mueve solidariamente con la muestra (5) durante el proceso de carga, caracterizado porque
-
el movimiento solidario del sensor tiene lugar mediante un acoplamiento mecánico entre el soporte del sensor y el dispositivo de carga,
-
el sensor es del tipo Speckle (6).
2. Procedimiento según la reivindicación 1, caracterizado porque el sensor de Speckle (6) se hace seguir en dos o tres direcciones del espacio.
3. Dispositivo para ampliar el campo de medición de los sistemas que miden las elongaciones de una muestra (5) en una máquina de ensayo (12), mediante un sensor que puede moverse solidariamente con la muestra (5) cargada en un aparato (1,2) de la máquina de ensayo y que está colocado en un carro de desplazamiento (7), caracterizado porque
-
el carro de desplazamiento (7) está acoplado mecánicamente (8, 8', 10) con el dispositivo de carga (1,2),
-
el sensor es del tipo Speckle (6).
4. Dispositivo según la reivindicación 3, caracterizado porque para el acoplamiento se prevé un varillaje (8) con una biela (10).
5. Dispositivo según la reivindicación 3, caracterizado porque para el acoplamiento se prevén engranajes, correas dentadas (8') o cables.
ES96106540T 1995-06-02 1996-04-25 Procedimiento y dispositivo para ampliar el campo de medicion de los sitemas speckle en las mediciones de dilatacion. Expired - Lifetime ES2202394T3 (es)

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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19940217C5 (de) 1999-08-25 2006-08-10 Zwick Gmbh & Co Verfahren zur berührungslosen Messung der Veränderung der räumlichen Gestalt einer Meßprobe, insbesondere zur Messung der Längenänderung der einer äußeren Kraft unterliegenden Meßprobe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
WO2001026591A1 (en) 1999-10-14 2001-04-19 Iridex Corporation Therapeutic use of long-pulse laser photocoagulation in combination with other treatment modalities
US6460417B1 (en) 2001-08-24 2002-10-08 General Electric Company Formability testing of small-size coatings and materials
US6499355B1 (en) 2001-08-24 2002-12-31 General Electric Company Elongation and cracking testing and optical characterization of small-size coatings and materials
JP2007510963A (ja) * 2003-11-10 2007-04-26 テクノロジー イノヴェイションズ リミテッド ライアビリティ カンパニー デジタル画像化組立品、及びその方法
DE102010038062B9 (de) 2010-10-08 2013-08-22 Messphysik Materials Testing Gmbh Ortsbestimmung und Bestimmung der Verschiebung von Orten durch berührungslose Abstandsmessung bei einer Materialprüfung
CN102589769A (zh) * 2012-02-29 2012-07-18 西安邮电学院 基于散射体应变的高灵敏度应力传感检测系统
DE102013003889A1 (de) * 2013-03-05 2014-09-11 Technische Universität Dresden Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Verzerrungs- und Spannungsanalyse mit Hilfe von optischen Mess- oder Sensorsystemen
CN106895232B (zh) * 2017-03-07 2018-08-10 清华大学 一种用于tpiv测量的4台相机协同调节的安装平台
CN107389973B (zh) * 2017-08-22 2019-09-27 哈尔滨工程大学 一种获取导管桨内部流场的水下piv测量平台

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD44640A1 (de) * 1963-07-06 1966-03-25 Erich Priestel Einrichtung zum kontinuierlichen Messen der Dehnung von unter Zugbelastung stehenden stab- oder streifenförmigen Materialproben
US3549257A (en) * 1968-12-27 1970-12-22 Atomic Energy Commission Optical extensometer
JPS603537A (ja) * 1983-06-20 1985-01-09 Sumitomo Chem Co Ltd ゴム・プラスチック用引張試験機
JPH0654220B2 (ja) * 1985-12-25 1994-07-20 三菱重工業株式会社 レ−ザスペツクル歪計測装置
DE3720248A1 (de) * 1987-06-19 1989-01-05 Schenck Ag Carl Verfahren und anordnung zur messung von verformungen an proben oder pruefkoerpern in pruefmaschinen
US4869110A (en) * 1988-06-16 1989-09-26 Systems Integration Technology, Inc. Laser strain extensometer for material testing
DE4039972A1 (de) * 1990-12-14 1992-06-17 Man Technologie Gmbh Verfahren und einrichtung zur erfassung der oberflaechendeformation von bauteilen mittels elektronischer speckle-interferometrie
US5199304A (en) * 1992-02-20 1993-04-06 Duffers Scientific, Inc. Apparatus for optically measuring specimen deformation during material testing
DE4306653A1 (de) * 1993-03-03 1994-09-08 Ettemeyer Andreas Dr Ing Meßkopf für ein kombiniertes Speckle- und Speckle-Scher-Interferometer
JPH074928A (ja) * 1993-06-15 1995-01-10 Shimadzu Corp 歪測定装置
JP2692599B2 (ja) * 1994-07-27 1997-12-17 株式会社島津製作所 レーザー非接触伸び計

Also Published As

Publication number Publication date
DE19520371A1 (de) 1996-12-05
DE19520371B4 (de) 2005-06-02
US5763789A (en) 1998-06-09
EP0745831A2 (de) 1996-12-04
EP0745831B1 (de) 2003-06-25
DE59610550D1 (de) 2003-07-31
ATE243838T1 (de) 2003-07-15
EP0745831A3 (de) 1998-05-06

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