EP2062299A1 - Verfahren zum aufbringen von elektrischen kontakten auf halbleitende substrate, halbleitendes substrat und verwendung des verfahrens - Google Patents

Verfahren zum aufbringen von elektrischen kontakten auf halbleitende substrate, halbleitendes substrat und verwendung des verfahrens

Info

Publication number
EP2062299A1
EP2062299A1 EP07726161A EP07726161A EP2062299A1 EP 2062299 A1 EP2062299 A1 EP 2062299A1 EP 07726161 A EP07726161 A EP 07726161A EP 07726161 A EP07726161 A EP 07726161A EP 2062299 A1 EP2062299 A1 EP 2062299A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
substrate
coating
laser
mixtures
powder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP07726161A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Mónica ALEMÁN
Ansgar Mette
Stefan Glunz
Ralf Preu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Albert Ludwigs Universitaet Freiburg
Original Assignee
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Albert Ludwigs Universitaet Freiburg
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV, Albert Ludwigs Universitaet Freiburg filed Critical Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Publication of EP2062299A1 publication Critical patent/EP2062299A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/482Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/03Manufacturing methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/0401Bonding areas specifically adapted for bump connectors, e.g. under bump metallisation [UBM]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01012Magnesium [Mg]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01014Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01022Titanium [Ti]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01024Chromium [Cr]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01027Cobalt [Co]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01042Molybdenum [Mo]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01046Palladium [Pd]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0106Neodymium [Nd]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01068Erbium [Er]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Definitions

  • the present invention relates to a method for applying at least one electrical contact to a semiconducting substrate, in particular solar cells, by a laser sintering method. Furthermore, the present invention relates to a semiconducting substrate produced in this way, in particular a solar cell, and to a use of the method.
  • the electrical contacts of the solar cell are used to derive the charge carriers generated under illumination of the solar cell. For this they must have a good contact to the semiconductor / silicon, a good conductivity and a sufficiently large mechanical adhesion.
  • the contacts are usually made by means of screen printing with metallic pastes.
  • the metallic lines are printed on the front of the solar cell through a structured screen.
  • the glass frit present in the paste etches the antireflective coating (SiO 2 , SiN x , SiC) of the solar cell at high temperature. This produces the actual contact between semiconductor and metal [J. Nijs, E. Demesmaeker, J. Szlufcik, J. Poortmans, L. Frisson, K.
  • DE 100 46 170 A1 describes the firing of printed AL paste through ARC layers by means of RTP, and alternatively the introduction of trenches into the ARC layers by means of laser ablation.
  • a pure AL metal layer (11) is fired through an ARC layer (12) by means of laser pulses (10), also making a comparison to using a paste, but not to use this paste instead of the pure AL metal layer.
  • US Pat. No. 5,468,652 describes a method for producing the contacts (26, 28) with the features: printed AL paste and firing this paste through a dielectric layer of SiN or SiO without clarifying the type of heat input
  • US Pat. No. 6,429,037 B1 forms doped regions for solar cells by driving in dopants from a layer by means of a laser, wherein the layer can also be composed of a plurality of layers, and only an uppermost of these layers can carry dopants, in which case Subsequently, metal electrodes are electrolessly electroplated at the irradiated points.
  • US 4,931,323 forms copper conductors on substrates by means of surface printed copper paste and laser sintering.
  • Claim 32 indicates a semiconductive substrate which can be made according to the invention.
  • One possible use of the method is described in claim 34.
  • the dependent claims represent advantageous developments.
  • a method for applying at least one electrical contact to a semiconducting substrate wherein the following steps are carried out successively: a) applying a layer of metallic powder to the substrate, b) guiding a laser beam over the substrate for local sintering and / or Fusing the metallic powder, c) removing the non-sintered and / or fused metallic powder.
  • metallic powder is understood to mean individual metals as well as alloys of several metals.
  • Particularly suitable is the method for applying electrical contacts to solar cells.
  • the contacts according to the invention applied to the substrate have a thickness of 10 nm to 20 .mu.m, preferably between 10 nm and 3 .mu.m, and very particularly preferably between 80 nm and 200 ntn.
  • the inert gas is selected from the group consisting of nitrogen, argon, N 2 H 2 (forming gas) and / or mixtures thereof.
  • the substrate to be coated is already coated before the application of an electrical contact.
  • these can be, for example, insulating layers or antireflection layers.
  • the coating of the substrate itself is composed of the sequence of several layers, so-called layer sequences.
  • the materials of the coating and / or the individual layer sequences of the coating are preferably selected from the group of materials consisting of silicon dioxide, silicon nitride, silicon carbide and / or mixtures thereof.
  • a significant advantage of the method according to the invention is that the use of already coated substrates opens up the possibility that in step b) the coating is broken during the sintering and / or fusing of the metallic powder and thus the electrical contact to the semiconductive substrate can be applied.
  • step (step b)) the production of a coherent electrical contact and at the same time the opening of an insulating or antireflection given a layer.
  • the metallic powder preferably contains at least one metal selected from the group consisting of nickel, tungsten, chromium, molybdenum, magnesium, silver, cobalt, cadmium, titanium, palladium and / or mixtures thereof.
  • the particle size of the metallic powder is preferably from 1 nm to 100 .mu.m, preferably from 100 nm to 10 .mu.m, very particularly preferably from 500 nm to 2 .mu.m.
  • the metallic powder layer in step a) is applied in a thickness of 1 .mu.m and 1 mm, preferably between 200 .mu.m and 800 .mu.m, most preferably between 500 .mu.m and 800 .mu.m.
  • the additives are selected from the group consisting of glass frits, e.g. Lead borosilicate or glass; organic compounds; Dopants for n- or p-type doped regions, e.g. Phosphor or boron powders and / or mixtures thereof.
  • the laser used according to the invention is subject to no special restriction, is decisive However, that ensures that the sintering and / or fusion of the metal powder is ensured by the laser radiation.
  • the laser may generally emit in the infrared, visible and / or ultraviolet region of the electromagnetic spectrum.
  • a solid-state laser is used, in particular a Nd: YAG laser.
  • the laser used can be pulsed as well as operated continuously.
  • the laser can be operated preferably with a power in the range of 1 W to 60 W, preferably 1 W to 20 W, most preferably 2 W to 6 W.
  • the laser beam is passed over the substrate at a speed of 10 mm / s to 10 m / s, preferably 100 mm / s to 2 m / s, very particularly preferably 200 mm / s to 600 mm / s ,
  • the laser energy must be selected and combined with the speed of the laser beam over the substrate so that on the one hand, the powder is sufficiently sintered, so that sufficient contact occurs and on the other hand, no significant damage to the underlying solar cell structure occurs.
  • step c Another advantage of the method is the fact that the non-sintered material can be collected again in step c), for example by suction, collection, rinsing or shaking off.
  • the process guarantees a high material efficiency as well as the possibility of recycling unused materials. This is to be regarded as advantageous from an ecological as well as an economic point of view.
  • the electrical contacts are reinforced by further application of metal.
  • the application is carried out by a galvanic process. It is particularly advantageous if the electrodeposited metal is selected from the group consisting of copper, silver and / or mixtures thereof.
  • the galvanized contacts are subsequently sintered at temperatures of, for example, 250 to 400 ° C. in order to further lower the contact resistance.
  • the semiconducting substrate is coated with a coating.
  • the coating is advantageously an antireflection coating.
  • the coating can also be constructed from individual layer sequences.
  • materials selected from the group consisting of silicon dioxide, silicon nitride, silicon carbide and / or mixtures thereof come into consideration as advantageous materials.
  • a substrate is likewise provided which can be produced by the process according to the invention as described above.
  • the substrate may be a solar cell.
  • FIG. 2 shows a solar cell with sintered contacts 5 after execution of method step b), 3 shows a solar cell with sintered contacts after execution of process step c) and
  • FIG. 4 shows a solar cell with sintered contacts 5 and electroplated contacts 6.
  • FIG. 1 shows a solar cell which is constructed from a positively doped silicon layer (p-layer) 1, a negatively doped silicon layer (n-layer) 2 and an antireflection layer 3. Applied thereto is a metallic powder 4.
  • the image corresponds to the state as it is present after step a) of the method according to the invention.
  • FIG. 2 the same solar cell is shown, the image corresponds to the state after the process step b), in which a laser sintering and / or fusing of the metallic powder 4 to metallic contacts 5 is carried out.
  • the use of laser beams thus makes possible an extremely precise sintering or fusion of the metallic powder.
  • FIG. 2 it can also be seen that, when performing the process step b), the laser sintering, a simultaneous opening of the antireflection layer 3 takes place, so that in this process step a simultaneous sintering as well as a contacting of the electrical contact 5 with the negatively doped layer 2 of the solar cell is possible.
  • FIG. 3 shows the state of the solar cell after carrying out process step c), in which excess metal powder has again been removed from the solar cell.
  • FIG. 4 shows the additional metallic contacts 6, which in this embodiment have been applied conclusively by electroplating over the metallic contacts 5 applied by the laser sintering method in this case.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Powder Metallurgy (AREA)
  • Detergent Compositions (AREA)

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Aufbringen von mindestens einem elektrischen Kontakt auf ein halbleitendes Substrat, insbesondere Solarzellen, durch ein Lasersinterverfahren. Weiterhin betrifft vorliegende Erfindung ein derart hergestelltes halbleitendes Substrat, insbesondere eine Solarzelle sowie eine Verwendung des Verfahrens.

Description

Verfahren zum Aufbringen von elektrischen Kontakten auf halbleitende Substrate, halbleitendes Substrat und Verwendung des Verfahrens
Vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Aufbringen von mindestens einem elektrischen Kontakt auf ein halbleitendes Substrat, insbesondere Solarzellen, durch ein Lasersinterverfahren. Weiterhin betrifft vorliegende Erfindung ein derart hergestelltes halbleitendes Substrat, insbesondere eine Solarzelle sowie eine Verwendung des Verfahrens .
Die elektrischen Kontakte der Solarzelle dienen dazu, die unter Beleuchtung erzeugten Ladungsträger von der Solarzelle abzuleiten. Dafür müssen sie einen guten Kontakt zum Halbleiter/Silicium, eine gute Leitfähigkeit und eine ausreichend große mechanische Haftung besitzen. In der Industrie werden die Kontakte meistens mit Hilfe von Siebdruckverfahren mit metallischen Pasten gefertigt. Die metallischen Linien werden auf die Vorderseite der Solarzelle durch ein strukturiertes Sieb gedruckt. In einem so genannten Feuerschritt ätzt die in der Paste vorhandene Glasfritte die Anti- reflexbeschichtung (SiO2, SiNx, SiC) der Solarzelle bei hoher Temperatur durch. Dadurch wird der eigentliche Kontakt zwischen Halbleiter und Metall hergestellt [J. Nijs, E. Demesmaeker, J. Szlufcik, J. Poortmans, L. Frisson, K. De Clercq, M. Ghannam, R. Mertens, R. Van Overstraeten, Ist WCPEC, p. 1242, Hawaii, 1994] . Aufgrund der notwendigen Unreinheiten in der Paste sowie den technologischen Grenzen des Verfahrens (z.B. das Auseinanderlaufen der Paste nach dem Drucken oder der minimal möglichen Strukturbreite im Bereich von ~60-100 μm) sind sowohl die elektrischen Eigenschaften als auch das Aspektverhältnis (Höhe zu Breite) der siebgedruckten Kontakte nicht optimal.
Die DE 100 46 170 Al beschreibt das Feuern von aufgedruckter AL-Paste durch ARC-Schichten mittels RTP, und alternativ das Einbringen von Gräben in die ARC- Schichten mittels Laserablation. Demnach wird eine reine AL-Metallschicht (11) durch eine ARC-Schicht (12) mittels Laserpulsen (10) gefeuert, wobei auch ein Vergleich zum Verwenden einer Paste angestellt wird, jedoch nicht um diese Paste anstelle der reinen AL-Metallschicht zu verwenden.
Grohe et al . , "Boundary conditions for the industrial production of LFC cells" , in: Conference Record of the 2006 IEEE 4th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion, Waikoloa, 7-12 May 2006, ISBN 1 4244 0016 3, (Cat No 06CH37747), 2006, p 1032-1035, sowie Schneiderlöchner et al . , "Investigations on La- ser-Fired Contacts for passivated rear Solar Cells" , in: Conference Record of the 29th IEEE Photovoltaic Specialists Conference 2002, New Orleans, 19-24 May 2002, ISBN 0 7803 7471 1, 2002, p. 300-303, behandeln jeweils die Herstellung von Solarzellen, wobei in beiden Fällen ein „Laser-Fired-Contact (LFC) " Verfahren zur Herstellung des Rückseitenkontaktes verwendet wird, wozu jedoch reine Metallschichten aus Aluminium aufgebracht werden. Daneben wird in Schneiderlöchner et al . als Alternative zum LFC ein AL-BSF erwähnt, wozu AL-Paste aufgedruckt wird.
Die US 5,468,652 beschreibt ein Verfahren zur Herstellung der Kontakte (26, 28) mit den Merkmalen: aufgedruckte AL-Paste und durchfeuern dieser Paste durch eine dielektrische Schicht aus SiN oder SiO, ohne dabei die Art der Wärmeeinbringung klarzustellen
Die US 6,429,037 Bl bildet dotierte Gebiete für Solarzellen durch das Eintreiben von Dotierstoffen aus einer Schicht mittels eines Lasers, wobei die Schicht auch aus einer Mehrzahl von Schichten aufgebaut sein kann, und nur eine oberste dieser Schichten Dotierstoffe tragen kann, wobei dann durch die unteren „durchgefeuert" wird. Nachfolgend werden an den bestrahlten Stellen Metallelektroden stromlos galvanisch angebracht.
Die US 4,931,323 bildet Kupferleiter auf Substraten mittels flächig aufgedruckter Kupferpaste und Lasersintern.
Ausgehend von den Nachteilen des Standes der Technik ist es somit Aufgabe vorliegender Erfindung, ein Verfahren bereitzustellen, das die wirtschaftliche Auf- bringung von Metallkontakten auf halbleitenden Substraten ermöglicht und dabei die im Stand der Technik beschriebenen Nachteile umgeht.
Diese Aufgabe wird durch das Verfahren mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Patentanspruch 32 gibt ein halbleitendes Substrat an, das erfindungsgemäß hergestellt werden kann. Einen möglichen Verwendungszweck des Verfahrens wird in Patentanspruch 34 beschrieben. Die abhängigen Ansprüche stellen vorteilhafte Weiterbildungen dar.
Erfindungsgemäß wird ein Verfahren zum Aufbringen von mindestens einem elektrischen Kontakt auf ein halbleitendes Substrat bereitgestellt, wobei sukzessiv folgende Schritte ausgeführt werden: a) Aufbringen einer Schicht eines metallischen Pulvers auf das Substrat, b) Führen eines Laserstrahls über das Substrat zum lokalen Versintern und/oder Verschmelzen des metallischen Pulvers, c) Entfernen des nicht versinterten und/oder verschmolzenen metallischen Pulvers.
Erfindungsgemäß wird unter dem Begriff eines metallischen Pulvers selbstverständlich sowohl einzelne Metalle als auch Legierungen aus mehreren Metallen verstanden.
Besonders geeignet ist das Verfahren zum Aufbringen von elektrischen Kontakten auf Solarzellen.
In einer vorteilhaften Ausführungsform besitzen die erfindungsgemäß auf dem Substrat aufgebrachten Kontakte eine Dicke von 10 nm bis 20 μm, bevorzugt zwischen 10 nm und 3 μm und ganz besonders bevorzugt zwischen 80 nm und 200 ntn.
Um während des Versinterns eine Oxidation bzw. ein Verbrennen des metallischen Pulvers zu vermeiden, ist es bevorzugt, dass in einer inerten Atmosphäre bzw. im Vakuum gearbeitet wird. Hierzu ist es günstig, wenn das Inertgas ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus Stickstoff, Argon, N2H2 (Formiergas) und/oder Mischungen hieraus.
In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist das zu beschichtende Substrat vor Aufbringen eines elektrischen Kontakts bereits beschichtet. Insbesondere im Fall von Solarzellen können dies beispielsweise isolierende Schichten oder Antireflexschichten sein.
Dabei ist es selbstverständlich auch möglich, dass die Beschichtung des Substrats selbst aus der Abfolge mehrerer Schichten, sog. Schichtfolgen, aufgebaut ist. Dabei sind die Materialien der Beschichtung und/oder die einzelnen Schichtfolgen der Beschichtung bevorzugt ausgewählt aus der Gruppe aus Materialien bestehend aus Siliziumdioxid, Siliziumnitrid, Silizi- umcarbid und/oder Mischungen hieraus .
Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es, dass bei der Verwendung von bereits beschichteten Substraten die Möglichkeit eröffnet wird, dass im Verfahrensschritt b) die Beschichtung während des Versinterns und/oder Verschmelzens des metallischen Pulvers durchbrochen wird und somit der elektrische Kontakt auf das halbleitende Substrat aufgebracht werden kann. Somit ist in einem Verfahrensschritt (Schritt b) ) die Herstellung eines schlüssigen elektrischen Kontakts und zugleich die Durchbrechung einer isolierenden oder Antireflex- schicht gegeben.
Das metallische Pulver enthält dabei vorzugsweise mindestens ein Metall, das aus der Gruppe bestehend aus Nickel, Wolfram, Chrom, Molybdän, Magnesium, Silber, Kobalt, Kadmium, Titan, Palladium und/oder Mischungen hieraus ausgewählt ist.
Vorzugsweise beträgt dabei die Partikelgröße des metallischen Pulvers von 1 nm bis 100 μm, bevorzugt zwischen 100 nm und 10 μm, ganz besonders bevorzugt zwischen 500 nm und 2 μm.
In einer weiteren günstigen Ausgestaltungsform wird die metallische Pulverschicht in Schritt a) in einer Dicke von 1 μm und 1 mm, bevorzugt zwischen 200 μm und 800 μm, ganz besonders bevorzugt zwischen 500 μm und 800 μm aufgetragen.
Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn dem Metallpulver mindestens ein Zusatzstoff zugesetzt ist.
Dadurch wird der Einlegierungsprozess unterstützt. Dies wird dadurch bedingt, dass die Zusatzstoffe ein Auflösen der Beschichtung und/oder eine Verbesserung der Haftung des metallischen Kontakts bedingen.
Vorzugsweise sind die Zusatzstoffe ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Glasfritten, wie z.B. Bleiborsilikat oder Glas; organischen Verbindungen; Dotierstoffe für n- oder p-Typ dotierte Bereiche, wie z.B. Phosphor- oder Borpulvern und/oder Mischungen hieraus .
Der erfindungsgemäß eingesetzte Laser unterliegt dabei keiner speziellen Beschränkung, maßgeblich ist jedoch, dass gewährleistet ist, dass durch die Laserstrahlung eine Versinterung und/oder Verschmelzung des Metallpulvers gewährleistet wird. Der Laser kann generell im infraroten, sichtbaren und/oder ultravioletten Bereich des elektromagnetischen Spektrums emittieren.
Vorzugsweise wird jedoch ein Festkörperlaser eingesetzt, insbesondere ein Nd: YAG-Laser . Selbstverständlich kann der verwendetet Laser sowohl gepulst als auch kontinuierlich betrieben werden.
Der Laser kann dabei bevorzugt mit einer Leistung im Bereich von 1 W bis 60 W, bevorzugt 1 W bis 20 W, ganz besonders bevorzugt 2 W bis 6 W betrieben werden.
Dabei ist es bevorzugt, wenn der Laserstrahl mit einer Geschwindigkeit von 10 mm/s bis 10 m/s, bevorzugt 100 mm/s bis 2 m/s, ganz besonders bevorzugt 200 mm/s bis 600 mm/s über das Substrat geführt wird.
Dabei muss die Laserenergie so gewählt und mit der Geschwindigkeit des Laserstrahls über das Substrat so kombiniert werden, dass einerseits das Pulver ausreichend gesintert wird, so dass ein ausreichender Kontakt entsteht und andererseits keine signifikante Schädigung der darunterliegenden Solarzellenstruktur eintritt.
Ein weiterer Vorteil des Verfahrens ist darin zu sehen, dass das nicht versinterte Material in Schritt c) wieder eingesammelt werden kann, beispielsweise durch Absaugen, Einsammeln, Abspülen oder Abschütteln. Somit garantiert das Verfahren eine hohe Materialeffizienz sowie die Möglichkeit von Recycling von nicht verwendeten Materialien. Dies ist sowohl unter ökologischem als auch ökonomischem Aspekt als vorteilhaft anzusehen.
Um eine bessere Leitfähigkeit zu erreichen, ist es vorteilhaft, wenn im Anschluss an Verfahrensschritt c) eine Verstärkung der elektrischen Kontakte durch weitere Auftragung von Metall erfolgt.
Dabei ist es günstig, wenn die Auftragung durch ein galvanisches Verfahren erfolgt. Besonders vorteilhaft ist es dabei, wenn das galvanisch aufgetragene Metall ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus Kupfer, Silber und/oder Mischungen hieraus.
Auf diese Art und Weise entsteht die Möglichkeit, elektrische Kontakte auf ein halbleitendes Substrat aufzubringen, welche einen guten elektrischen Kontakt zum jeweiligen halbleitenden Element, beispielsweise Silizium, aufweisen, aber eine nicht so hohe Leitfähigkeit besitzen. Somit ist es weiterhin möglich, die mittels Laser gesinterten elektrischen Kontakte im Hinblick auf Kontaktwiderstand und Haftfestigkeit zu optimieren, während die darauf aufgalvanisierte Schicht für eine hohe Leitfähigkeit sorgt. Vorteilhafterweise werden die galvanisierten Kontakte im Anschluss bei Temperaturen von beispielsweise 250 bis 400 0C gesintert, um den Kontaktwiderstand weiter abzusenken.
Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn nach abgeschlossener Herstellung der elektrischen Kontakte, was ggf. auch eine galvanische Auftragung von weiteren Metallen auf die Kontakte beinhaltet, das halbleitende Substrat mit einer Beschichtung überzogen wird. Dabei ist die Beschichtung vorteilhafterweise eine Antireflexbeschichtung. Die Beschichtung kann selbstverständlich auch wiederum aus einzelnen Schichtfolgen aufgebaut sein.
Als vorteilhafte Materialien kommen dabei Materialien ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Siliziumdioxid, Siliziumnitrid, Siliziumcarbid und/oder Mischungen hieraus in Frage .
Erfindungsgemäß wird ebenso ein Substrat bereitgestellt, das nach dem erfindungsgemäßen Verfahren, wie im vorangegangenen beschrieben, hergestellt werden kann.
Insbesondere kann das Substrat eine Solarzelle sein.
Ebenso ist es erfindungsgemäß, das Verfahren zum Aufbringen von mindestens einem elektrischen Kontakt auf einem Substrat anzuwenden.
Das Verfahren wird im folgenden anhand der abgebildeten Figuren 1 bis 4 verdeutlicht, ohne das Verfahren auf die dort dargestellten speziellen Ausführungsformen einschränken zu wollen.
Dabei zeigen
Figur 1 eine Solarzelle mit aufgetragener Pulverschicht 4, nach Ausführung von Verfahrensschritt a) ,
Figur 2 eine Solarzelle mit aufgesinterten Kontakten 5 nach Ausführung von Verfahrens- schritt b) , Figur 3 eine Solarzelle mit aufgesinterten Kontakten nach Ausführung von Verfahrens- schritt c) und
Figur 4 eine Solarzelle mit aufgesinterten Kontakten 5 sowie aufgalvanisierten Kontakten 6.
In Figur 1 ist eine Solarzelle dargestellt, die aus einer positiv dotierten Siliziumschicht (p-Schicht) 1, einer negativ dotierten Siliziumschicht (n- Schicht) 2 sowie einer Antireflexschicht 3 aufgebaut ist. Darauf aufgebracht ist ein metallisches Pulver 4. Somit entspricht das Bild dem Zustand, wie er nach dem Schritt a) des erfindungsgemäßen Verfahrens vorliegt .
In Figur 2 ist die gleiche Solarzelle dargestellt, das Bild entspricht dem Zustand nach dem Verfahrens- schritt b) , in dem eine Laserversinterung und/oder Verschmelzen des metallischen Pulvers 4 zu metallischen Kontakten 5 erfolgt ist. Durch die Verwendung von Laserstrahlen ist somit eine äußerst präzise Ver- sinterung bzw. ein Verschmelzen des metallischen Pulvers möglich. In Figur 2 ist ebenso erkennbar, dass bei Durchführen des Verfahrensschritts b) , der Laserversinterung, eine gleichzeitige Durchbrechung der Antireflexschicht 3 erfolgt, so dass in diesem Verfahrensschritt eine gleichzeitige Versinterung sowie eine in Kontaktbringung des elektrischen Kontakts 5 mit der negativ dotierten Schicht 2 der Solarzelle möglich ist. Somit können auch auf bereits durchgehend vorbeschichtete Substrate nachträglich äußerst effizient lokal begrenzte und beliebig strukturierte Leiterschichten, die mit einer darunterliegenden, elektrisch leitfähigen Schicht der Solarzelle in Kon- takt gebracht werden können, aufgebracht werden.
Figur 3 zeigt den Zustand der Solarzelle nach Durchführen des Verfahrensschrittes c) , bei dem überschüssiges Metallpulver wieder von der Solarzelle abgetragen wurde .
Figur 4 zeigt die zusätzlichen metallischen Kontakte 6, die in dieser Ausführungsform schlüssig über die durch das Lasersinterverfahren aufgebrachten metallischen Kontakte 5 in diesem Fall durch Galvanisierung aufgebracht wurden.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zum Aufbringen von mindestens einem elektrischen Kontakt auf ein halbleitendes Substrat, wobei sukzessiv folgende Schritte ausgeführt werden: a) Aufbringen einer Schicht eines metallischen Pulvers auf das Substrat, b) Führen eines Laserstahls über das Substrat zum lokalen Versintern und/oder Verschmelzen des metallischen Pulvers c) Entfernen des nicht versinterten und/oder verschmolzenen metallischen Pulvers.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat eine Solarzelle ist.
3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der aufgebrachte Kontakt eine Dicke von 10 nm bis 20 μm, bevorzugt von 10 nm und 3 μm, ganz besonders bevorzugt von 80 nm und 200 nm hat.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest Schritt b) in einer inerten Atmosphäre oder im Vakuum ausgeführt wird.
5. Verfahren nach vorhergehendem Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die inerte Atmosphäre Gase, ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Stickstoff, Argon, N2H2 (Formiergas) und/oder Mischungen hieraus enthält.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mit einem beschichteten Substrat gearbeitet wird.
7. Verfahren nach vorhergehendem Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung eine Anti- reflexbeschichtung ist.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung aus einzelnen Schichtfolgen aufgebaut ist.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung und/oder die einzelnen Schichtfolgen der Beschichtung ausgewählt ist aus der Gruppe aus Materialien bestehend aus Siliziumdioxid, Siliziumnitrid, Siliziumcarbid und/oder Mischungen hieraus .
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass in Verfahrensschritt b) die Beschichtung während des Versinterns und/oder Verschmelzens des metallischen Pulvers durchbrochen wird und der elektrische Kontakt somit auf das halbleitende Substrat aufgebracht wird.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche , dadurch gekennzeichnet, dass das metallische Pulver Metalle, ausgewählt aus der Gruppe bestehend aus Nickel, Wolfram, Chrom, Molybdän, Magnesium, Silber, Kobalt, Cadmium, Titan, Palladium und/oder Mischungen hieraus enthält.
12. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Größe der Partikel des Pulvers von 1 nm bis 100 μm, bevor- zugt von 100 nm bis 10 μm, ganz besonders bevorzugt von 500 nm bis 2 μm beträgt.
13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der Pulverschicht in Schritt a) von 1 μm bis 1 mm, bevorzugt zwischen 200 μm bis 800 μm, ganz besonders bevorzugt zwischen 500 μm bis 800 μm liegt .
14. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass dem Metallpulver mindestens ein Zusatzstoff zugesetzt ist.
15. Verfahren nach vorhergehendem Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Zusatzstoff ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus Glasfritten, wie z.B. Bleiborsilikat oder Glas; organischen Verbindungen; Dotierstoffe für n- oder p-Typ dotierte Bereiche, wie z.B. Phosphor- oder Borpulvern und/oder Mischungen hieraus .
16. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser im infraroten, sichtbaren und/oder ultravioletten Bereich des elektromagnetischen Spektrums emittiert.
17. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser ein Festkörperlaser ist.
18. Verfahren nach vorhergehendem Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Festkörperlaser ein Nd:YAG-Laser ist.
19. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser mit einer Leistung in einem Bereich von 1 W bis 60 W, bevorzugt 1 W bis 20 W, ganz besonders bevorzugt 2 W bis 6 W betrieben wird.
20. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dass der Laserstrahl mit einer Geschwindigkeit von 10 mm/s bis 10 m/s, bevorzugt 100 mm/s bis 2 m/s, ganz besonders bevorzugt 200 mm/s bis 600 mm/s über das Substrat geführt wird.
21. Verfahren nach einem der beiden vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Laserleistung und/oder die Geschwindigkeit des Laserstrahls so ausgewählt werden, dass bei der Versinterung und/oder Verschmelzen eine Beschädigung des Substrates vermieden wird.
22. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Entfernen des Pulvers durch Absaugen, Einsammeln, Abspülen und/oder Abschütten erfolgt.
23. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass im Anschluss an die bisherigen Verfahrensschritte eine Verstärkung der elektrischen Kontakte durch weitere Auftragung von Metall erfolgt.
24. Verfahren nach vorhergehendem Anspruch, dass die Auftragung galvanisch erfolgt .
25. Verfahren nach einem der Ansprüche 23 bis 24, dadurch gekennzeichnet, dass das Metall ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus Kupfer, Silber und/oder Mischungen hieraus .
26. Verfahren nach einem der Ansprüche 23 bis 25, dadurch gekennzeichnet, dass das Metall nach Auftragung gesintert wird.
27. Verfahren nach vorhergehendem Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Sintern bei Temperaturen von 250 0C bis 400 0C erfolgt.
28. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass nach Schritt c) eine Beschichtung des Substrats erfolgt.
29. Verfahren nach vorhergehendem Anspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung eine Anti- reflexbeschichtung ist.
30. Verfahren nach einem der Ansprüche 28 bis 29, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung aus einzelnen Schichtfolgen aufgebaut ist.
31. Verfahren nach einem der Ansprüche 28 bis 30, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung ausgewählt ist aus der Gruppe aus Materialien bestehend aus Siliziumdioxid, Siliziumnitrid, Siliziumcarbid und/oder Mischungen hieraus.
32. Halbleitendes Substrat, mit mindestens einem e- lektrischen Kontakt, hergestellt nach einem Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche.
33. Substrat nach Anspruch 32, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat eine Solarzelle ist.
34. Verwendung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 31 zum Aufbringen von mindestens einem elektrischen Kontakt auf einem Substrat .
EP07726161A 2006-08-29 2007-06-26 Verfahren zum aufbringen von elektrischen kontakten auf halbleitende substrate, halbleitendes substrat und verwendung des verfahrens Withdrawn EP2062299A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006040352A DE102006040352B3 (de) 2006-08-29 2006-08-29 Verfahren zum Aufbringen von elektrischen Kontakten auf halbleitende Substrate, halbleitendes Substrat und Verwendung des Verfahrens
PCT/EP2007/005658 WO2008025392A1 (de) 2006-08-29 2007-06-26 Verfahren zum aufbringen von elektrischen kontakten auf halbleitende substrate, halbleitendes substrat und verwendung des verfahrens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP2062299A1 true EP2062299A1 (de) 2009-05-27

Family

ID=38514933

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP07726161A Withdrawn EP2062299A1 (de) 2006-08-29 2007-06-26 Verfahren zum aufbringen von elektrischen kontakten auf halbleitende substrate, halbleitendes substrat und verwendung des verfahrens

Country Status (6)

Country Link
US (2) US20100267194A1 (de)
EP (1) EP2062299A1 (de)
JP (1) JP2010502021A (de)
KR (1) KR20090060296A (de)
DE (1) DE102006040352B3 (de)
WO (1) WO2008025392A1 (de)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080202577A1 (en) 2007-02-16 2008-08-28 Henry Hieslmair Dynamic design of solar cell structures, photovoltaic modules and corresponding processes
US7833808B2 (en) * 2008-03-24 2010-11-16 Palo Alto Research Center Incorporated Methods for forming multiple-layer electrode structures for silicon photovoltaic cells
US8362617B2 (en) 2008-05-01 2013-01-29 Infineon Technologies Ag Semiconductor device
DE102008044882A1 (de) * 2008-08-29 2010-03-04 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur lokalen Kontaktierung und lokalen Dotierung einer Halbleiterschicht
TWI366919B (en) * 2008-09-19 2012-06-21 Gintech Energy Corp Structure of solar cell and its production method
KR101000067B1 (ko) * 2008-12-30 2010-12-10 엘지전자 주식회사 고효율 태양전지용 레이저 소성장치 및 고효율 태양전지 제조방법
US8722453B2 (en) 2009-04-14 2014-05-13 Mitsubishi Electric Corporation Photovoltaic device and method for manufacturing the same
DE102009020774B4 (de) 2009-05-05 2011-01-05 Universität Stuttgart Verfahren zum Kontaktieren eines Halbleitersubstrates
US20100294352A1 (en) * 2009-05-20 2010-11-25 Uma Srinivasan Metal patterning for electrically conductive structures based on alloy formation
US20100294349A1 (en) * 2009-05-20 2010-11-25 Uma Srinivasan Back contact solar cells with effective and efficient designs and corresponding patterning processes
DE102009044038A1 (de) 2009-09-17 2011-03-31 Schott Solar Ag Verfahren zur Herstellung eines Kontaktbereichs eines elektronischen Bauteils
FR2957479B1 (fr) * 2010-03-12 2012-04-27 Commissariat Energie Atomique Procede de traitement d'un contact metallique realise sur un substrat
DE102010021144A1 (de) * 2010-05-21 2011-11-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
US8912083B2 (en) 2011-01-31 2014-12-16 Nanogram Corporation Silicon substrates with doped surface contacts formed from doped silicon inks and corresponding processes
DE102011085714A1 (de) * 2011-11-03 2013-05-08 Boraident Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung einer lasergestützten elektrisch leitfähigen Kontaktierung einer Objektoberfläche
TWI615986B (zh) 2012-01-23 2018-02-21 四次太陽能公司 自金屬層選擇性移除塗層及其之太陽能電池應用
FR2989520B1 (fr) 2012-04-11 2014-04-04 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation d'une cellule photovoltaique a heterojonction
DE102012214254A1 (de) 2012-08-10 2014-05-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Laserbasiertes Verfahren und Bearbeitungstisch zur lokalen Kontaktierung eines Halbleiterbauelements
EP2905812B1 (de) * 2012-10-04 2021-07-21 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Solarzellenherstellungsverfahren
US20150064060A1 (en) * 2013-09-05 2015-03-05 Travis McCaughey Scented windshield washer fluid
US9437756B2 (en) 2013-09-27 2016-09-06 Sunpower Corporation Metallization of solar cells using metal foils
FR3011982B1 (fr) * 2013-10-15 2017-05-12 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation d'une cellule photovoltaique
US9673341B2 (en) 2015-05-08 2017-06-06 Tetrasun, Inc. Photovoltaic devices with fine-line metallization and methods for manufacture
CN106356412A (zh) * 2015-07-17 2017-01-25 杨振民 一种晶体硅太阳能电池栅线、电极、背电场的制作工艺
DE102017219435A1 (de) * 2017-10-30 2019-05-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Beschichtung einer metallischen Oberfläche mit einem metallischen Material
DE102018217970A1 (de) 2018-10-19 2020-04-23 Hegla Boraident Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung einer elektronischen Struktur auf einer Glasscheibe sowie Glastafel mit mindestens einer derartigen Glasscheibe
CN112216766A (zh) * 2019-06-24 2021-01-12 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 晶体硅太阳能电池的制作方法及晶体硅太阳能电池
DE202020102626U1 (de) 2020-05-11 2021-07-23 Ralf M. Kronenberg Erfassungsmodul

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH645208A5 (de) * 1978-10-31 1984-09-14 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren zur herstellung von elektrischen kontakten an halbleiterbauelementen.
DE2856143A1 (de) * 1978-12-27 1980-07-17 Hoechst Ag Scheibenreinigungsmittel
NL7905817A (nl) * 1979-07-27 1981-01-29 Philips Nv Werkwijze voor het vervaardigen van een zonnecel.
DE3005662C2 (de) * 1980-02-15 1983-10-27 G. Rau GmbH & Co, 7530 Pforzheim Verfahren zur Herstellung eines Kontaktelementes
US4931323A (en) * 1987-12-10 1990-06-05 Texas Instruments Incorporated Thick film copper conductor patterning by laser
JPH04214675A (ja) * 1990-12-13 1992-08-05 Sanyo Electric Co Ltd 太陽電池の製造方法
JPH05335725A (ja) * 1992-05-29 1993-12-17 Kusuo Sato レーザ光線照射による電気回路形成方法
US5468652A (en) * 1993-07-14 1995-11-21 Sandia Corporation Method of making a back contacted solar cell
AUPP437598A0 (en) * 1998-06-29 1998-07-23 Unisearch Limited A self aligning method for forming a selective emitter and metallization in a solar cell
US6361615B1 (en) * 1999-03-04 2002-03-26 Michael L. Callahan Cleaning compound additive and method
GB9929843D0 (en) * 1999-12-16 2000-02-09 Unilever Plc Process for preparing granular detergent compositions
DE10046170A1 (de) * 2000-09-19 2002-04-04 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren zur Herstellung eines Halbleiter-Metallkontaktes durch eine dielektrische Schicht
US6451746B1 (en) * 2000-11-03 2002-09-17 Chemlink Laboratories, Llc Carrier for liquid ingredients to be used in effervescent products
US7148125B2 (en) * 2001-12-12 2006-12-12 Denso Corporation Method for manufacturing semiconductor power device
JP2006038999A (ja) * 2004-07-23 2006-02-09 Sumitomo Electric Ind Ltd レーザ照射を用いた導電性回路形成方法と導電性回路
US7435361B2 (en) * 2005-04-14 2008-10-14 E.I. Du Pont De Nemours And Company Conductive compositions and processes for use in the manufacture of semiconductor devices

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO2008025392A1 *

Also Published As

Publication number Publication date
US20100069278A1 (en) 2010-03-18
US20100267194A1 (en) 2010-10-21
JP2010502021A (ja) 2010-01-21
DE102006040352B3 (de) 2007-10-18
KR20090060296A (ko) 2009-06-11
WO2008025392A1 (de) 2008-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006040352B3 (de) Verfahren zum Aufbringen von elektrischen Kontakten auf halbleitende Substrate, halbleitendes Substrat und Verwendung des Verfahrens
DE102009005168A1 (de) Solarzelle und Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle aus einem Siliziumsubstrat
DE102008037613A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Metallkontakts
DE102008013446A1 (de) Verfahren zur Herstellung monokristalliner n-Silizium-Solarzellen sowie Solarzelle, hergestellt nach einem derartigen Verfahren
EP2583314B1 (de) Verfahren zur herstellung einer metallischen kontaktstruktur einer photovoltaischen solarzelle
DE102011050089B4 (de) Verfahren zum Herstellen von elektrischen Kontakten an einer Solarzelle, Solarzelle und Verfahren zum Herstellen eines Rückseiten-Kontaktes einer Solarzelle
DE102008033169A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer monokristallinen Solarzelle
DE102015100665A1 (de) Verfahren zum Erzeugen einer Kupferschicht auf einem Halbleiterkörper unter Verwendung eines Druckprozesses
EP2561557A2 (de) Verfahren zur herstellung einer solarzelle sowie nach diesem verfahren hergestellte solarzelle
DE102011104396A1 (de) Metallpaste, Solarzelle und Verfahren zur deren Herstellung
DE102010024307A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer metallischen Kontaktstruktur einer photovoltaischen Solarzelle
DE4333426C1 (de) Verfahren zur Metallisierung von Solarzellen aus kristallinem Silizium
EP2844414B1 (de) Verfahren zur herstellung eines metallisierten aus aluminium bestehenden substrats
EP2786420A2 (de) Solarzelle und verfahren zum herstellen einer solarzelle
WO2010003784A2 (de) Siliziumsolarzelle mit passivierter p-typ-oberfläche und verfahren zur herstelllung derselben
DE102011086302A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer metallischen Kontaktierungsstruktur auf einer Oberfläche einer Halbleiterstruktur und photovoltaische Solarzelle
DE102010028187A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Metal-Wrap-Through-Solarzelle sowie eine nach diesem Verfahren hergestellte Metal-Wrap-Through-Solarzelle
DE102010025311A1 (de) Verfahren zum Aufbringen einer metallischen Schicht auf ein keramisches Substrat
DE102012223556A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle
WO2014001006A1 (de) Verfahren zum ausbilden einer elektrisch leitenden struktur an einem trägerelement, schichtanordnung sowie verwendung eines verfahrens oder einer schichtanordnung
DE102018105438A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer photovoltaischen Solarzelle und photovoltaische Solarzelle
DE102010040258A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Solarzellen
DE102016201639A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Kontaktanordnung einer Solarzelle und Solarzelle
DE102013204471A1 (de) Verfahren zum Herstellen von Elektroden einer Fotovoltaikzelle und Fotovoltaikzelle
WO2013030171A1 (de) Verfahren zur herstellung einer photovoltaischen solarzelle

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20090330

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL PL PT RO SE SI SK TR

AX Request for extension of the european patent

Extension state: AL BA HR MK RS

RIN1 Information on inventor provided before grant (corrected)

Inventor name: PREU, RALF

Inventor name: GLUNZ, STEFAN

Inventor name: METTE, ANSGAR

Inventor name: ALEMAN, MONICA

17Q First examination report despatched

Effective date: 20110601

DAX Request for extension of the european patent (deleted)
STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION IS DEEMED TO BE WITHDRAWN

18D Application deemed to be withdrawn

Effective date: 20130103