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TECHNISCHES
GEBIET
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Die
Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines optisch nichtlinearen
Dünnschicht-Wellenleiters
unter Verwendung eines Glas-Substrats und einen optisch nichtlinearen
Dünnschicht-Wellenleiter.
Genauer gesagt betrifft die Erfindung eine Regelung der Form eines
Wellenleiters mit optischer Nichtlinearität.
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Eine
optische Nichtlinearität
zweiter Ordnung ausnutzende optische Funktionselemente sind bekannt.
Während
derartige Elemente üblicherweise aus
einem kristallinen Material gebildet werden, werden Lichtleitfasern
aus einem Glasmaterial gebildet. In Anbetracht von Kosten und Kompatibilität mit einer Lichtleitfaser
besteht ein Erfordernis zur Herstellung der optischen Funktionselemente
aus einem Glasmaterial. Zusätzlich
ist ein aus einem Glas-Substrat gebildetes optisches Funktionselement
erwünscht, da
ein planares Element zum Erreichen verschiedener optischer Steuerungs-(Signalsteuerungs-)
funktionen geeignet ist.
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Ein
Verfahren zum Herstellen eines planaren optischen Wellenleiters
aus einem Glasmaterial ist in der offengelegten japanischen Patentveröffentlichung
Nr. Hei-8-146475
offenbart. Gemäß dem in diesem
Dokument offenbarten Verfahren wird eine Glasschicht mit dispergierten
bzw. verstreuten feinen Partikeln auf einem Glas-Substrat abgeschieden
und eine Schutzlackmaske aus Fotolack wird über einem Anteil gebildet,
der als Kern dienen soll. Als nächstes wird
der Anteil der mit Partikeln dispergierten Glasschicht, der nicht
von der Schutzlackmaske abgedeckt wird, mittels eines reaktiven
Ionenätzens
entfernt, um einen optischen Wellenleiter-(Kern-) Anteil zu bilden. Nach Entfernen
der Schutzlackmaske wird zum Umgeben des Kerns eine Glasschicht
abgeschieden, und dieser Anteil dient als Mantel. Leistungsstarkes
Laserlicht wird auf einen Teil des Kernteils des so gebildeten optischen
Wellenleiters gestrahlt, wodurch dem bestrahlten Teil eine hohe
optische Nichtlinearität
verliehen wird.
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Obwohl
das vorstehend beschriebene Verfahren zum Herstellen eines planaren
optischen Wellenleiters einen Ätzschritt
zum Hinterlassen des dem Kernanteil entsprechenden Anteils der Schutzlackschicht
erfordert, ist ein Ätzen
der Schicht zum ausschließlichen
Hinterlassen des Kerns schwierig, weil dieser Anteil dünn ist.
Auch ist eine mittels dieses Verfahrens erhaltene optische Nichtlinearität eine Nichtlinearität dritter
Ordnung, keine Nichtlinearität zweiter
Ordnung. Demzufolge wird nur eine geringe Nichtlinearität erhalten,
und daher ist es schwierig, ein Element zu realisieren, das ausreichend
gut als ein optisches Element arbeitet.
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STAND DER
TECHNIK
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Die
Anmelderin hat in der japanischen Patentanmeldung Nr. Hei-8-244965
(JP-10090546) ein Verfahren zum Herstellen eines planaren optischen Wellenleiters
durch UV-angeregtes
Polen vorgeschlagen. Gemäß dieses
Verfahrens wird auf der Oberfläche
eines Glas-Substrats ein Elektrodenpaar gebildet. Unter Verwendung
der Elektroden als eine Maske wird ein Abstands- bzw. Leeranteil
zwischen den Elektroden auf der Oberfläche des Glas- Substrats mit Germanium
(Ge) dotiert, damit der Anteil als ein Kern dient. Durch Anlegen
einer hohen Spannung über
dem Abstand zwischen den Elektroden während mit ultravioletten Strahlen
bestrahlt wird, wird der Kern einer ultravioletten Polung unterzogen
und es wird ihm eine optische Nichtlinearität zweiter Ordnung verliehen.
Die durch die UV-Polung hervorgerufene optische Nichtlinearität ist im
Wesentlichen so hoch wie diejenige eines kristallinen Materials
wie etwa LiNbO3, und daher kann der so erhaltene
planare Wellenleiter zum Ausgestalten einer breiten Vielfalt an
funktionalen optischen Wellenleitern verwendet werden.
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Es
ist zu beachten, dass einmodige optische Ausbreitung und Funktion
für funktionale
optische Wellenleiter wesentlich sind, wie etwa für optische Schalter
und optische Modulatoren, die zur optischen Kommunikation, optischen
Messung, optischen Informationsverarbeitung oder dergleichen verwendet werden.
Ist eine Vielzahl optischer Moden vorhanden, sind Ausbreitungskonstanten
der jeweiligen Moden (Brechungsindizes für die entsprechenden Moden)
unterschiedlich, und daher sind Betriebsspannungen zum Schalten
oder dergleichen unter Ausnutzung eines optischen Interferenzeffekts
unterschiedlich. Damit ein optischer Wellenleiter eine Funktion
wie etwa ein Schalten erreicht, ist es für den Wellenleiter daher notwendig,
eine Form aufzuweisen, die eine einmodige optische Ausbreitung ermöglicht.
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Die
Form eines optischen Wellenleiters wird durch eine Verknüpfung seines
Brechungsindex und seiner dreidimensionalen Größe bestimmt. Gemäß des vorstehend
behandelten Verfahrens der Anmelderin wird die Dicke eines durch
UV-angeregte Polung gebildeten optischen Wellenleiters (Dicke von der
Oberfläche
des Substrats) unter Verwendung einer optischen Absorption des Substrats
gesteuert, um die Intensität
ultravioletter Strahlung zu verändern.
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Um
einen einzigen Modus zu erreichen, muss der optische Wellenleiter
die kleinstmögliche Größe aufweisen,
und die Lichtintensität
ultravioletter Strahlung muss für
diesen Zweck verringert werden. Die Form des Wellenleiters und die
hervorgerufene optische Nichtlinearität können jedoch nicht unabhängig voneinander
gesteuert werden, weil die hervorgerufene optische Nichtlinearität auch von
der Lichtintensität
ultravioletter Strahlung abhängt.
Ferner wird eine höhere
optische Nichtlinearität
erhalten, wenn die Intensität
ultravioletter Strahlung ansteigt. Demzufolge wird die Größe des Wellenleiters
um der Verleihung einer hohen optischen Nichtlinearität willen
erhöht,
was es unmöglich
macht, eine einmodige Ausbreitung zu erreichen.
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OFFENBARUNG
DER ERFINDUNG
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Die
Erfindung zielt darauf ab, einen optisch nichtlinearen Wellenleiter
und ein Verfahren zur Herstellung des optisch nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters bereitzustellen,
wobei der aus einem Glasmaterial gebildete optisch nichtlineare
Wellenleiter eine ausreichend hohe optische Nichtlinearität zweiter
Ordnung aufweist und ermöglicht,
dass eine geeignete dreidimensionale Form erhalten wird.
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Das
Herstellungsverfahren gemäß der Erfindung
umfasst die Schritte zum Bilden einer Ge enthaltenden dünnen SiO2-Schicht
auf einem Glas-Substrat, zum Bilden dünner Metallelektrodenschichten auf
der dünnen
SiO2-Schicht mit einem Abstand zwischen
den Elektrodenschichten, der eine dem Wellenlängenmuster entsprechende Form
aufweist, und zum Bestrahlen der Ge enthaltenden dünnen SiO2-Schicht mit ultravioletter Strahlung durch
den Abstand, während über dem
Abstand zwischen den dünnen
Metallelektrodenschichten eine Spannung angelegt ist.
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Auf
diese Weise wird die dünne
Ge enthaltende SiO2-Schicht auf dem Glas-Substrat gebildet, und
daher ist es auf die Ge enthaltende dünne SiO2-Schicht
beschränkt,
wo mittels einer UV-angeregten Polung eine optische Nichtlinearität zweiter Ordnung
hervorgerufen wird. Als Ergebnis kann die Breite durch die Form
der Elektroden definiert werden, und die Tiefe kann durch die Dicke
der Ge enthaltenden dünnen
SiO2-Schicht gesteuert werden, so dass die
Form des optisch nichtlinearen Wellenleiters in drei Dimensionen
gesteuert werden kann. Eine einmodige Ausbreitung kann in dem optisch
nichtlinearen Wellenleiter erreicht werden, um dadurch eine Funktion
wie etwa ein Schalten im optisch nichtlinearen Wellenleiter sicherzustellen.
Während
das Glas-Substrat vorzugsweise aus SiO2-Glas
gebildet wird, können
auch andere Materialien wie etwa Natriumglas eingesetzt werden.
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Das
Verfahren zum Herstellen eines optisch nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters
gemäß der Erfindung
kann ferner die Schritte zum Bereitstellen einer dünnen transparenten
Isolationsschicht auf den dünnen
Metallelektrodenschichten, um zumindest den Abstandsanteil abzudecken,
und zum Bestrahlen der Ge enthaltenden dünnen SiO2-Schicht
mit ultravioletter Strahlung durch den Abstand zwischen dünnen Metallelektrodenschichten
aufweisen, während über dem
Abstand eine Spannung angelegt ist. Eine derartige Bereitstellung
der Isolationsschicht kann eine elektrische Entladung vermeiden,
die andernfalls von einem dielektrischen Durchschlag während eines
Anlegens einer Spannung über
dem Abstand zwischen den Metallelektroden zur UV-angeregten Polung
verursacht würde.
Die dünne
Isolationsschicht muss aus einem Material gebildet werden, das eine
hohe Durchschlagspannung aufweist und ultraviolette Strahlung durchlässt, vorzugsweise SiO2.
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Vorzugsweise
wird der optisch nichtlineare Dünnschicht-Wellenleiter in einer
Unterdruck- bzw. Vakuumkammer gebildet. Da ein dielektrischer Durchschlag
in einem Vakuum nicht wie in Luft erfolgt, kann zum UV-Polen eine
ausreichend hohe Spannung über
den Elektroden angelegt werden.
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Ein
optisch nichtlinearer Dünnschicht-Wellenleiter
gemäß der Erfindung
umfasst eine dünne SiO2-Schicht, die Ge enthält und auf einem Glas-Substrat
gebildet ist, und dünne,
auf der Ge enthaltenden dünnen
SiO2-Schicht gebildete dünne Metallelektrodenschichten
mit einem Abstand zwischen den Elektrodenschichten, der eine dem
Wellenleitermuster entsprechende Form aufweist, wobei der Teil der
Ge enthaltenden dünnen
Siliziumdioxid-Schicht, der dem Abstand zwischen den dünnen Metallelektrodenschichten
entspricht, eine optische Nichtlinearität zweiter Ordnung aufweist.
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Der
optisch nichtlineare Dünnschicht-Wellenleiter
gemäß der Erfindung
kann ferner eine dünne transparente
Isolationsschicht aufweisen, die auf den dünnen Metallelektrodenschichten
gebildet ist, um den Abstand abzudecken.
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KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 zeigt eine Anordnung eines
optisch nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters
gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der Erfindung.
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2 zeigt Schritte zum Herstellen
des optisch nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters.
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3 zeigt eine weitere beispielhafte
Anordnung des optisch nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters.
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4 zeigt eine Herstellung
des optisch nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters
in einer Vakuumkammer.
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BESTE METHODE
ZUR AUSFÜHRUNG
DER ERFINDUNG
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Ein
bevorzugtes Ausführungsbeispiel
der Erfindung wird unter Bezugnahme auf die Zeichnungen als nächstes beschrieben.
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Anordnung eines optisch
nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters
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1 zeigt schematisch eine
Anordnung eines optisch nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters (planarer
Wellenleiter) gemäß der Erfindung.
Ein Glas-Substrat 10 wird als eine flache Lage aus Siliziumdioxid-Glas
(SiO2-Glas)
gebildet. Auf einer Oberfläche
dieses Substrats wird eine Ge-dotierte dünne SiO2-Schicht 12 gebildet,
d. h. eine dünne
Ge enthaltende SiO2-Schicht mit einer Dicke
von ungefähr
1 bis 5 μm
und einer Ge-Konzentration von ungefähr 1 bis 30 mol-%. Die genauen
Werte werden in Übereinstimmung
mit der Spezifikation des planaren Wellenleiters bestimmt, wie etwa
die zu verwendende Wellenlänge.
Elektroden 14a und 14b werden in einer vorgeschriebenen
Form ausgestaltet bzw. gemustert und sich mit einem vorgeschriebenen
Abstand zwischen ihnen gegenüberliegend
auf der Ge-dotierten SiO2-Schicht 12 gebildet.
Die Elektroden 14a und 14b werden aus dünnen Schichten
gebildet, zum Beispiel aus Aluminium (Al). Eine dünne transparente Isolationsschicht 16 wird
die Elektroden 14a und 14b und den Abstand zwischen
ihnen abdeckend gebildet. In diesem speziellen Beispiel wird die
dünne Isolationsschicht 16 aus
SiO2 gebildet.
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An
einem Teil der Ge-dotierten SiO2-Schicht 12,
der dem Abstand zwischen den Elektroden 14a und 14b entspricht,
wird ein Kanalanteil 18 gebildet, und diesem Kanalanteil 18 wird
durch UV-angeregtes Polen eine optische Nichtlinearität verliehen.
Als Ergebnis können
optische Eigenschaften des Kanalanteils 18 mittels einer
Spannung gesteuert werden, die über
den Elektroden 14a und 14b angelegt wird. Sich durch
den Kanalanteil 18 ausbreitendes Licht wird durch die über den
Elektroden 14a und 14b angelegte Spannung gesteuert,
wodurch ein planarer Wellenleiter als ein optisches Funktionselement
funktioniert. Während
im vorstehend beschriebenen Beispiel SiO2-Glas
für das
Glas-Substrat 10 verwendet wird, können auch andere Materialien
wie etwa Natriumglas eingesetzt werden.
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Herstellungsverfahren
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Ein
Verfahren zum Herstellen des vorstehend beschriebenen planaren Wellenleiters
wird unter Bezugnahme auf 2 beschrieben.
Als erstes wird das aus einer planaren SiO2-Glaslage gebildete Glas-Substrat 10 vorbereitet
(S11) und dann in eine Vakuumkammer eingeführt, um die Ge-dotierte SiO2-Schicht 12 auf der Oberfläche des
Substrats 10 zu bilden (S12). Die Ge-dotierte SiO2-Schicht 12 wird zum Beispiel durch
ein Elektronenstrahl-Verdampfungsverfahren unter Verwendung eines
20% GeO2 enthaltenden gesinterten Materials
als Verdampfungsquelle gebildet. Während zum Erhalten einer dichten
Schicht ein Hilfsverfahren unter Verwendung eines Ar+-Strahls
als Hilfsstrahl wünschenswert
ist, können
auch andere Schichtbildungsverfahren eingesetzt werden.
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Eine
Metallschicht 14 wird über
der Ge-dotierten SiO2-Schicht 12 gebildet (S13).
Obwohl in diesem Beispiel Al verwendet wird, können auch andere Metalle eingesetzt
werden, und die Metallschicht 14 kann mittels anderer Verfahren
als dem Verdampfungsverfahren gebildet werden.
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Als
nächstes
wird ein vorgeschriebener Anteil der Metallschicht 14 durch Ätzen entfernt,
um das Elektrodenpaar 14a und 14b zu bilden (S14).
In diesem speziellen Beispiel wird ein linearer Abstand zwischen
diesen Elektroden 14a und 14b gebildet. Das Ätzen wird
mittels Photolithographie oder dergleichen durchgeführt. Genauer
gesagt wird über
der gesamten Oberfläche
der Metallschicht 14 ein Schutzlack abgeschieden bzw. aufgebracht,
und Licht wird durch ein zum Bilden des Abstands verwendetes Maskenmuster
gestrahlt, wodurch ein vorgeschriebener Anteil des Schutzlacks dem
Licht ausgesetzt wird. Der dem Abstand entsprechende Anteil wird
als Ergebnis der Lichtbestrahlung entfernt, wodurch der entsprechende
Anteil der Metallschicht 14 belichtet wird, und der belichtete
Anteil der Metallschicht 14 wird entfernt. Schließlich wird
der Schutzlack entfernt, um die Elektroden 14a und 14b sich
gegenüberliegend
mit einem Abstand zwischen ihnen zu bilden.
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Eine
dünne Isolationsschicht 16 wird
auf den Elektroden 14a und 14b gebildet (S15).
Diese dünne Schicht 16 wird
mittels eines Elektronenstrahl-Verdampfungsverfahrens oder dergleichen
unter Verwendung von SiO2 als Verdampfungsquelle
aus SiO2 gebildet. Die Schicht 16 kann über die
gesamte Oberfläche
oder über
einen Teil der Oberfläche
gebildet werden, aber es ist erforderlich, zumindest den durch die
Elektroden 14a und 14b gebildeten Abstandsanteil
abzudecken. Zusätzlich
kann die Schicht 16 aus jedem Material wie etwa MgO oder
MgF2 gebildet werden, so lange das Material
ultraviolette Strahlung leiten bzw. durchlassen kann und eine hohe
Durchschlagspannung aufweist.
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Nachdem
der Abstand zwischen den Elektroden 14a und 14b mit
der Isolationsschicht 16 abgedeckt ist, wird daher ultraviolettes
Licht aufgestrahlt, während
eine vorgeschriebene hohe Spannung über den Elektroden 14a und 14b angelegt
ist, wodurch eine UV-angeregte Polung des Anteils der Ge-dotierten
SiO2-Schicht 12 durchgeführt wird,
der zwischen den Elektroden 14a und 14b liegt,
um einen Kanalanteil 18 zu bilden (S16).
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Genauer
gesagt wird eine Spannung von ungefähr 1 kV über den Elektroden 14a und 14b angelegt,
wodurch ein elektrisches Feld von ungefähr 106 V/cm
an dem Kanalanteil 18 anliegt. Unter derartigen Gegebenheiten
wird der Kanalanteil 18 unter Verwendung eines gepulsten
ArF-Excimer-Lasers (Wellenlänge
193 nm) mit ultravioletter Strahlung bestrahlt. Ein Laser mit einer
Energiedichte von ungefähr
36 mJ/cm2 und einer Pulswiederholungsrate
von ungefähr
10 pps (Pulsen pro Sekunde) wird verwendet, um den Kanalanteil 18 für einen
Zeitraum von ungefähr
10 bis 30 Minuten zu bestrahlen.
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Wird
eine derartig hohe Spannung über
den Elektroden 14a und 14b angelegt, kann am dem
Abstand gegenüberliegenden
Anteil eine elektrische Entladung auftreten. Gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
ist dieser Anteil jedoch mit der Isolationsschicht 16 abgedeckt,
wodurch eine elektrische Entladung vermieden wird, die andernfalls
in Folge eines Luftdurchschlags am Abstand zwischen den Elektroden 14a und 14b auftreten
würde,
und eine wirkungsvolle UV-angeregte Polung erreicht wird. Es ist
zu beachten, dass ein Anlegen einer Spannung von 106 V/cm
am Kanalanteil 18 zu einer elektrischen Entladung führt, da
das einen Luftdurchschlag verursachende elektrische Feld ungefähr 104 V/cm beträgt. SiO2 ist
ein wünschenswertes
Material für
die Isolationsschicht 16, weil es ultraviolettes Licht
(mit einer Wellenlänge
von zum Beispiel 193 nm) überträgt bzw.
durchlässt
und eine ausreichend hohe Durchschlagspannung aufweist.
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Dadurch
wird dem Kanalanteil 18 eine optische Nichtlinearität zweiter
Ordnung verliehen. In anderen Worten stattet der vorstehend beschriebene UV-angeregte
Polungsprozess den Kanalanteil 18 mit der optischen Nichtlinearität zweiter
Ordnung mit der Größe (d konstant)
von 2 pm/V oder mehr aus.
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Wie
vorstehend beschrieben wird die Ge-dotierte SiO2-Schicht 12 bei
diesem Ausführungsbeispiel
auf dem Glas-Substrat 10 gebildet,
und daher ist es auf diese Schicht 12 beschränkt, wo
eine optische Nichtlinearität
zweiter Ordnung mittels einer UV-angeregten Polung hervorgerufen
wird. Als Ergebnis kann die Breite des Wellenleiters mittels der Form
der Elektroden 14a und 14b definiert werden, und
seine Tiefe kann mittels der Dicke der Ge-dotierten SiO2-Schicht 12 gesteuert
werden, so dass die Form des optische nichtlinearen Wellenleiters
in drei Dimensionen gesteuert werden kann. Demzufolge kann im optisch
nichtlinearen Wellenleiter ein einzelner Ausbreitungsmodus erreicht
werden, was eine Funktion wie etwa ein Schalten am optischen nichtlinearen
Wellenleiter sicherstellt.
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Während eine
UV-angeregte Polung beim vorstehenden Beispiel nur an einem einzigen
Anteil durchgeführt
wird, können
getrennte Elektroden 14a und 14b vorzugsweise
an gewünschten
Positionen auf dem Glas-Substrat 10 gebildet werden, um
Elementbereiche mit einer optischen Nichtlinearität an den
jeweiligen Positionen auf dem Glas-Substrat 10 zu bilden.
Es ist ebenfalls wünschenswert,
die Position des optischen Wellenleiters zu beschränken und zu
definieren, indem die Ge-dotierte SiO2-Schicht 12 mittels
Photolithographie oder dergleichen ausgestaltet bzw, gemustert wird.
Des weiteren ist es ebenfalls wünschenswert,
wie es in der japanischen Patentanmeldung Nr. Hei 8-244965 offenbart
ist, einen Bereich mit einer optischen Nichtlinearität und einen gewöhnlichen
Bereich abwechselnd auf eine periodische Art und Weise bereitzustellen,
was als ein Rasterungs- bzw. Gitterbereich zu verwenden ist.
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Andere Anordnungen
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Der
planare Wellenleiter gemäß der Erfindung
kann als verschiedenartige Funktionskomponente verwendet werden.
Wie gemäß 3 gezeigt ist, kann der
Kanalanteil 18 z. B. als ein Koppler ausgebildet werden,
in dem verzweigte Wellenleiter einmal zusammengebracht und dann
wieder verzweigt werden, und die Elektroden 14a und 14b sind
vorzugsweise an den jeweiligen verzweigten Anteilen angeordnet,
an denen eine Spannung angelegt wird.
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Die
vorstehend beschriebene Anordnung ermöglicht es, dass eine optische
Phase oder dergleichen mittels einer Anpassung der auf den zusammengebrachten
Anteil angelegten Spannung gesteuert wird.
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Gemäß des optisch
nichtlinearen Dünnschicht-Wellenleiters
der Erfindung kann ein Anteil mit optischer Nichtlinearität an jeder
gewünschten Position
des Glas-Substrats 10 gebildet
werden, und daher können
verschiedene optische Funktionskomponenten und -schaltungen wie
gewünscht
gebildet werden. Zum Beispiel können
mittels des optisch nichtlinearen Wellenleiters der Erfindung ein
optischer Schalter/Koppler, ein Signalgenerator in einem bidirektionalen
optischen Übertragungssystem
und dergleichen gebildet werden.
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Weiter
kann der planare Wellenleiter vorzugsweise mittels einer UV-angeregten
Polung in einem Vakuum hergestellt werden. 4 zeigt eine Anordnung der Vorrichtung
für eine
derartigen Herstellung. Eine Unterdruck- bzw. Vakuumkammer 20 wird
aus sich kreuzenden Rohrkanälen
mit drei geschlossenen Enden und einem Ende gebildet, das an ein
Auslass- bzw. Entlüftungssystem
wie etwa eine Vakuumpumpe angeschlossen ist. Ein Probenbestückungstisch 22 ist
in dem Rohrkanal bereitgestellt, der sich in einer vertikalen Richtung
nach unten erstreckt, und das Glas-Substrat 10 mit den Elektroden 14a und 14b und
die darauf ausgebildete Ge-dotierte SiO2-Schicht 12 werden
auf dem Tisch 22 angeordnet. Die Elektroden 14a und 14b sind
an eine Energiequelle außerhalb
der Vakuumkammer angeschlossen. Der sich in der vertikalen Richtung
aufwärts
erstreckende Rohrkanal ist mit Siliziumdioxidglas 24 abgedichtet,
durch das ultraviolette Strahlung angewandt wird.
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Unter
Verwendung der vorstehend beschriebenen Vorrichtung wird eine hohe
Spannung an den Elektroden 14a und 14b angelegt,
während
die Ge-dotierte SiO2-Schicht 12 mit
ultravioletter Strahlung bestrahlt wird. Im Gegensatz zu Luft tritt
ein dielektrischer Durchschlag im Vakuum nicht auf. Daher kann eine
gewünschte
hohe Spannung über
die Elektroden 14a und 14b angelegt werden, um
eine UV-angeregte
Polung auszuführen,
um dem Anteil der Ge-dotierten
dünnen
Schicht 12, die zwischen den Elektroden positioniert ist,
eine gewünschte
optische Nichtlinearität
zu verleihen. Es ist zu beachten, dass die Ge-dotierte SiO2-Schicht 12 und die Elektroden 14a und 14b vorzugsweise
in der gleichen Vakuumkammer 20 gebildet werden.
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Unter
Verwendung der vorstehend beschrieben Vorrichtung wurde Licht mittels
eines ArF-Excimer-Lasers (Wellenlänge 193 nm) mit einer Energiedichte
von 100 mJ/cm2 für 104 Pulse
(10 pps) abgestrahlt. Mit dem Druck in der Vakuumkammer 20 von ungefähr 10–6 Torr
und dem elektrischen Feld zur Polung von 8 × 104 V/cm
wurde am Kanalbereich eine optische Nichtlinearität von 3,8 ± 0,3 pm/V
erreicht.
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INDUSTRIELLE
ANWENDBARKEIT
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Der
optisch nichtlineare Dünnschicht-Wellenleiter
der Erfindung kann für
einen optischen Schalter/Koppler, einen Signalgenerator in einem
bidirektionalen optischen Übertragungssystem
und dergleichen verwendet werden.