DE69813805T2 - Verfahren und vorrichtung zum örtlichen glühen einer auf einem substrat geformten mikrostruktur und dadurch hergestellte vorrichtung - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum örtlichen glühen einer auf einem substrat geformten mikrostruktur und dadurch hergestellte vorrichtungInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 55
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 49
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 35
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 17
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 8
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 claims description 6
- 230000006872 improvement Effects 0.000 claims description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 3
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000009966 trimming Methods 0.000 abstract description 15
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 2
- 238000004151 rapid thermal annealing Methods 0.000 description 2
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002500 effect on skin Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02244—Details of microelectro-mechanical resonators
- H03H9/02393—Post-fabrication trimming of parameters, e.g. resonance frequency, Q factor
- H03H9/02401—Post-fabrication trimming of parameters, e.g. resonance frequency, Q factor by annealing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Micromachines (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
- Recrystallisation Techniques (AREA)
Description
- Diese Erfindung betrifft Verfahren und Systeme zum Glühen einer Mikrostruktur, die auf einem Substrat gebildet ist, und insbesondere Verfahren und Systeme zum örtlichen Glühen einer Mikrostruktur, die auf einem Substrat gebildet ist, und Vorrichtungen, die dadurch gebildet werden.
- Viele Vorrichtungen erfordern ein Trimmen nach der Herstellung, damit sie innerhalb der Spezifikationen arbeiten. Insbesondere erfordern Sensoren und Referenzen (z. B. Frequenzreferenzen) ein solches Trimmen. Im Fall makroskopischer Vorrichtungen, die in Serie hergestellt werden, umfasst das Trimmen häufig keinen überwältigenden prozentualen Anteil der Gesamtkosten der Vorrichtung. Im Fall mikroskopischer Vorrichtungen, die in Chargen hergestellt werden (z. B. integrierte Schaltkreise oder mikromechanische Vorrichtungen), kann das Trimmen oder Programmieren einen überwiegenden prozentualen Anteil der Vorrichtungskosten ausmachen, wenn es in Serie erfolgen muss. Zum Beispiel muss das Laser-Trimmen von mikromechanischen Resonatoren zur Erzielung einer spezifischen Resonanzfrequenz normalerweise in Serie erfolgen und weist daher einen geringen Durchsatz und hohe Kosten auf. Ein Beispiel für Laser-Trimmen ist in US-A-5 144 184 offenbart, wobei ein Laserstrahl verwendet wird, um die Resonanzfrequenz zu trimmen, indem eine längliche Öffnung einer in Resonanz befindlichen Stange vergrößert wird, um die Zugkräfte innerhalb der Stange zu verändern und dadurch die Resonanzfrequenz der Stange zu senken.
- Mit dem Erscheinen frequenzspezifischer Applikationen für mikromechanische Resonatoren, wie beispielsweise Oszillatorreferenzen und hochselektive Bandpassfilter, kommt Verfahren zum Trimmen von Resonanzfrequenzen nach der Herstellung eine zunehmende Bedeutung zu. Dies gilt insbesondere für neueste Kommunikationsanwendungen mikromechanischer Resonatoren, bei denen eine große Anzahl solcher Resonatoren mit exakt positionierten Mittelfrequenzen parallele Filterbänke und mehrere Oszillatorreferenzen realisieren muss. Da diese Anwendungen wahrscheinlich unter Verwendung von Planarverfahren in Chargen hergestellt sind, ist ein Trimming mit einem hohen Durchsatz wünschenswert.
- Es ist bekannt, dass schnelles thermisches Glühen (RTA) die Belastungsprofile bei Polysilizium-Dünnfilmen verändern kann.
- Aus US-A-5 188 983 ist ebenfalls bekannt, die Resonanzfrequenz während der Herstellung durch Stickstoffglühen einzustellen, um vorherbestimmte Zugbelastungen innerhalb einer in Resonanz befindlichen Stange zu erzeugen. US-A-5 451 425 offenbart die Verwendung von Ozon und/oder UV-Licht, um die Resonanzfrequenz eines Resonators durch Veränderung einer Abmessung des Resonators einzustellen.
- Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Vorrichtung und ein Verfahren und System zum örtlichen Glühen einer Mikrostruktur, wie beispielsweise einer mikromechanischen Vorrichtung, an Ort und Stelle auf einem Substrat der resultierenden Vorrichtung zu schaffen, ohne eine andere Mikrostruktur zu beeinflussen, die auf dem Substrat gebildet ist.
- Eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren und System zum örtlichen Glühen einer Mikrostruktur, wie beispielsweise einer mikromechanischen Vorrichtung, an Ort und Stelle auf einem Substrat zu schaffen, die besonders nützlich bei einer chargenweisen Verarbeitung dieser Vorrichtungen sind.
- Noch eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren und System zu schaffen, um eine mikromechanische Vorrichtung, wie beispielsweise einen mikromechanischen Resonator, örtlich zu glühen, während der Resonator auf einem Substrat arbeitet, um eine Verbesserung der spezifischen Resonanzfrequenz und der Kreisgüte bei einem relativ hohen Durchsatz und niedrigen Kosten weitgehend aufgrund von kleineren Wärmezeitkonstanten für die Mikrostruktur zu erreichen.
- Noch eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein elektronisch basiertes Verfahren und System zum örtlichen Glühen einer mikromechanischen Vorrichtung, wie beispielsweise eines Resonators, an Ort und Stelle auf einem Substrat zu schaffen, um eine Herstellung bei relativ niedrigen Temperaturen zu ermöglichen, wodurch wiederum gemischte Schaltkreis- und Mikrostrukturtechnologien ermöglicht werden können und ebenfalls ein breiter Frequenztrimmbereich ohne große Gleichspannungen ermöglicht werden kann. Zum Beispiel kann ein Polysiliziumkonstruktionsmaterial bei einer niedrigen Temperatur amorph abgeschieden werden und daraufhin zu einem polykristallinen Material, das bessere Materialeigenschaften aufweist, örtlich geglüht werden.
- Zur Ausführung der oben genannten Aufgaben und anderer Aufgaben der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Glühen einer vorherbestimmten Mikrostruktur, die auf einem mikroskopischen Teil eines Substrats einer Vorrichtung gebildet ist, geschaffen, das gekennzeichnet ist durch:
- Zusammenschalten einer Glühstromversorgung mit dem mikroskopischen Teil der Vorrichtung und dadurch Übertragen von Strom auf die vorherbestimmte Mikrostruktur in Form eines elektrischen Signals, so dass die vorherbestimmte Mikrostruktur den übertragenen Strom in eine gesteuerte Wärmemenge umwandelt, um dadurch den Energiezustand der vorherbestimmten Mikrostruktur nur in dem mikroskopischen Teil steuerbar zu erhöhen und die Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der vorherbestimmten Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere auf dem Substrat gebildete Mikrostruktur wesentlich zu beeinflussen.
- Die vorherbestimmte Mikrostruktur ist vorzugsweise eine mikromechanische Vorrichtung, wie beispielsweise ein mikromechanischer Resonator mit einer Resonanzfrequenz und einer Kreisgüte. Der Schritt des steuerbaren Erhöhens wird vorzugsweise erreicht, indem der Resonator ausreichend steuerbar erwärmt wird, so dass eine Änderung nicht nur der Resonanzfrequenz, sondern auch der Kreisgüte des Resonators verursacht wird.
- Vorzugsweise umfasst das Verfahren des Weiteren die Schritte, ein Oszillieren des Resonators zu veranlassen und die Resonanzfrequenz zu überwachen. Der Schritt des steuerbaren Erwärmens erwärmt den Resonator, bis der Resonator eine gewünschte Resonanzfrequenz aufweist.
- Bei einer Ausführungsform umfasst der mikromechanische Resonator eine Stange.
- Bei einer anderen Ausführungsform ist der mikromechanische Resonator ein mikromechanischer Resonator mit gebogener Stange. Bei beiden Ausführungsformen ist der mikromechanische Resonator typischerweise ein Polysilizium-Resonator.
- Die Mikrostruktur weist typischerweise einen Widerstand auf, wobei der Schritt des steuerbaren Erwärmens den Schritt umfasst, das Fließen eines elektrischen Stroms durch die vorherbestimmte Mikrostruktur zu verursachen, um die vorherbestimmte Mikrostruktur zu erwärmen.
- Vorzugsweise umfasst das Verfahren des Weiteren die Schritte, ein Paar Elektroden auf dem Substrat zu bilden, die elektrisch mit der vorherbestimmten Mikrostruktur zusammengeschaltet sind, und ein elektrisches Signal an die Elektroden anzulegen. Das elektrische Signal kann ein Gleichstromsignal sein, ist jedoch vorzugsweise ein zeitvariables Signal, wie beispielsweise ein Signal mit einem oder mehreren Impulsen.
- Vorzugsweise ist das Substrat ein Halbleitersubstrat, kann jedoch auch Glas oder ein anderes Substrat sein. Das Halbleitersubstrat kann ein Silizium-Halbleitersubstrat sein.
- Die vorherbestimmte Mikrostruktur kann eine Halbleiter-Mikrostruktur, wie beispielsweise eine Silizium-Halbleiter-Mikrostruktur, sein. Bei einer Ausführungsform weist die vorherbestimmte Mikrostruktur anfänglich eine amorphe Silizium- Mikrostruktur auf, wobei der Schritt des steuerbaren Erwärmens die amorphe Silizium- Mikrostruktur zu einer polykristallinen oder kristallinen Silizium-Mikrostruktur verändert.
- Die Mikrostruktur kann Teil einer mikroelektromechanischen Vorrichtung sein.
- Zur Ausführung der oben genannten Aufgaben und anderer Aufgaben der vorliegenden Erfindung wird des Weiteren ein System geschaffen, um eine vorherbestimmte Mikrostruktur, die auf einem Substrat einer Vorrichtung gebildet ist, örtlich zu glühen. Das System umfasst eine Glühstromversorgung und ein Mittel, das dafür ausgelegt ist, mit einem mikroskopischen Teil der Vorrichtung zusammengeschaltet zu werden, um Strom von der Glühstromversorgung in Form eines elektrischen Signals zu dem mikroskopischen Teil der Vorrichtung zu übertragen, so dass der mikroskopische Teil der Vorrichtung den übertragenen Strom über einen Zeitraum, der ausreicht, um die Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der vorherbestimmten Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere Mikrostruktur, die auf dem Substrat gebildet ist, wesentlich zu beeinflussen, in eine gesteuerte Wärmemenge umwandelt.
- Des Weiteren wird zur Ausführung der oben genannten Aufgaben und anderer Aufgaben der vorliegenden Erfindung eine Vorrichtung geschaffen, die mindestens eine auf einem Substrat gebildete Mikrostruktur aufweist. Die Vorrichtung weist auf dem Substrat gebildete Elektroden auf, die elektrisch an eine vorherbestimmte Mikrostruktur angeschlossen sind, um ein elektrisches Signal zu empfangen. Das elektrische Signal verursacht, dass ein elektrischer Strom durch die vorherbestimmte Mikrostruktur fließt, um die vorherbestimmte Mikrostruktur über einen Zeitraum, der ausreicht, um die Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der vorherbestimmten Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere auf dem Substrat gebildete Mikrostruktur zu beeinflussen, steuerbar und direkt zu erwärmen.
- Zur Ausführung der oben genannten Aufgaben und anderer Aufgaben der vorliegenden Erfindung wird des Weiteren eine Vorrichtung mit mindestens einer auf einem Substrat gebildeten Mikrostruktur geschaffen. Die Vorrichtung umfasst ein Widerstandsheizelement, das unmittelbar benachbart zu einer vorherbestimmten Mikrostruktur auf dem Substrat gebildet und zum Empfang eines Signals ausgelegt ist. Das Signal veranlasst das Element, die vorherbestimmte Mikrostruktur über einen Zeitraum indirekt zu erwärmen, der ausreicht, um die Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der vorherbestimmten Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere Mikrostruktur auf dem Substrat zu beeinflussen.
- Vorzugsweise umfasst die Vorrichtung des Weiteren eine Mikroplattform, die von dem Substrat wärmeisoliert ist, wobei das Widerstandsheizelement und die Mikrostruktur auf der Mikroplattform gebildet sind.
- Das Verfahren der Erfindung ist ein chargenweises Trimm-Verfahren für mikromechanische Vorrichtungen, wie beispielsweise Resonatoren, wodurch die Kreisgüte solcher mikromechanischer Resonatoren für elektronische Filteranwendungen, Oszillatoranwendungen und gyroskopische Anwendungen erhöht oder verringert werden kann.
- Das Verfahren und System erreichen sowohl ein steuerbares Frequenztrimmen als auch eine Verbesserung der Kreisgüte bei mikromechanischen Vorrichtungen. Das Verfahren und das System werden elektrisch aktiviert und können in ähnlicher Weise wie bei der Programmierung eines EEPROM im Rahmen einer Massenfertigung implementiert werden. Das Verfahren und das System ermöglichen sowohl ein Frequenztrimmen von Mikroresonatorvorrichtungen nach der Herstellung als auch eine Herstellung von Hochqualitäts-Mikroresonatoren bei niedriger Temperatur aufgrund ihrer Fähigkeit zur Verbesserung der Kreisgüte, was wiederum gemischte Schaltkreis- und Mikrostrukturverfahren ermöglichen kann, wenn Strukturen nach MEMS hergestellt werden.
- Die oben genannten Aufgaben und andere Aufgaben, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden ausführlichen Beschreibung der besten Ausführungsweise der Erfindung in Zusammenhang mit den beigefügten Zeichnungen leicht ersichtlich.
- Fig. 1 ist eine schematische Zeichnung eines relativ einfachen mikromechanischen Resonators und eines Schaltkreises zum Anlegen einer Spannung an Anker des Resonators zur direkten Erwärmung des Resonators gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
- Fig. 2 ist ein Diagramm, das veranschaulicht, wie eine Frequenzkennlinie einer Vorrichtung, die durch das Verfahren und System der vorliegenden Erfindung gebildet ist, durch eine andere Frequenz und eine höhere Kreisgüte verändert wird;
- Fig. 3 ist eine schematische Zeichnung einer anderen Ausführungsform des Verfahrens und Systems der vorliegenden Erfindung, wobei der mikromechanische Resonator indirekt durch einen Schaltkreis erwärmt wird;
- Fig. 4 ist eine schematische Zeichnung der Ausführungsform aus Fig. 3 unter Hinzufügung einer isolierenden Mikroplattform;
- Fig. 5 ist eine perspektivische schematische Zeichnung, die das Verfahren und System der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung im Hinblick auf einen kammgesteuerten mikromechanischen Resonator mit gebogener Stange veranschaulicht, wobei das Frequenztrimmen an Ort und Stelle erfolgt, während der Resonator betrieben wird; und
- Fig. 6 ist eine schematische Seitenansicht eines mikroelektromechanischen Systems, wobei die Erfindung an Ort und Stelle verwendet wird, ohne chipintegrierte Schaltkreise zu beeinflussen.
- Unter Bezugnahme auf die Zeichnungen ist nun in Fig. 1 eine Ausführungsform des Verfahrens und Systems der vorliegenden Erfindung veranschaulicht. Insbesondere stellt Fig. 1 eine mögliche Ausführungsform des örtlichen Glühverfahrens und Systems der vorliegenden Erfindung dar. Hier wird eine Spannung Vglühen zwischen den Ankern 10 einer leitfähigen mikromechanischen Vorrichtung oder Struktur (in diesem Fall einem mikromechanischen Resonator), in Fig. 1, 3 und 4 allgemein mit 12 bezeichnet, angelegt, die einen Widerstand Rstrukt zwischen ihren Anschlussklemmen aufweist. Das Anlegen dieser Spannung erzeugt einen Strom Iglühen der durch eine Stange 14 der Struktur 12 fließt und einen Strom dissipiert, der durch folgende Gleichung bestimmt ist:
- Pglühen = 12glühenRstrukt.
- Bei ausreichender Spannung Vglühen kann die Struktur 12 auf eine Temperatur erwärmt werden, bei der ein Glühen stattfindet, woraufhin sich ihre Frequenz und ihre Güte (d. h. ihre Kreisgüte) ändern, da sich die Materialeigenschaften und die mikrostrukturellen Eigenschaften, wie beispielsweise die Defektdichte, verändern. Aufgrund der mikroskopischen Größe der Struktur 12 ist eine sehr geringe Leistung (z. B. 20 mW) erforderlich, um Temperaturen über 1000 Kelvin zu erreichen.
- Eine Antriebselektrode 16 verursacht, dass die Stange 14 bei Anlegen eines elektrischen Signals an dieselbe oszilliert. Eine Messelektrode 18 erfasst die Oszillationen der Stange 14.
- Unter Bezugnahme auf Fig. 2 ist nun das Ergebnis des örtlichen Glühens gemäß der vorliegenden Erfindung veranschaulicht. Hier wird ein Anfangsresonator bei einer Frequenz fob örtlich geglüht, was eine neue Frequenzkennlinie mit einer neuen Resonanzfrequenz foa und einer viel höheren Kreisgüte (d. h. einer schärferen Spitze) zur Folge hat.
- Die Resonanzfrequenz des mikromechanischen Resonators 12 verändert sich beim Glühen. Ein möglicher Mechanismus für diese Resonanzfrequenzveränderung besteht in der Modifizierung interner Belastungen, und die Resonanzfrequenz ist im Allgemeinen eine Funktion von Belastung. Die Kreisgüte des mikromechanischen Resonators 12 steht in Funktion zu Defekten in der Struktur, sowohl auf molekularer als auch auf mikrostruktureller Ebene. Je größer die Konzentration von Defekten ist, desto niedriger ist die Kreisgüte. Da das Glühen einer Struktur diese Defekte beseitigt, ist es daher ebenfalls möglich, dass Glühen die Kreisgüte erhöht.
- Andere Ausführungsformen des Verfahrens und Systems für örtliches Glühen sind in Fig. 3 und 4 mit demselben mikromechanischen Resonator 12 dargestellt. Hier wird ein Erwärmen unter Verwendung einer Widerstandsheizvorrichtung, wie beispielsweise eines Widerstands 20, erreicht, der unmittelbar benachbart oder in der Nähe der zu glühenden Struktur (d. h. des Resonators 12) angeordnet ist. In Fig. 3 sind der Widerstand 20 und die Struktur 12 direkt auf einem Substrat 22 angeordnet.
- In Fig. 4 sind der Widerstand 20 und die Struktur 12 auf einer Mikroplattform 24 angeordnet, die über lange, dünne Streben 26 von dem Substrat (in Fig. 4 nicht gezeigt) wärmeisoliert ist. Die Ausführungsform in Fig. 4 kann ein Glühen mit einer wesentlich geringeren Leistung erreichen, da sie eine bessere Wärmeisolierung aufweist.
- Die Spannung, die für das Erwärmen der Struktur 12 unter Verwendung einer der Ausführungsformen angelegt wird, braucht keine Gleichspannung zu sein, wie gezeigt. Sie kann (wie in Fig. 5 veranschaulicht) gepulst sein oder sie kann für ein gesteuerteres Glühen oder für ein ortsabhängiges Glühen ein Wechselspannungssignal sein. Zum Beispiel fließt der Strom bei sehr hohen Frequenzen (aufgrund des Hauteffekts) hauptsächlich über die Oberfläche der Struktur 10, und daher können Hochfrequenzspannungen verwendet werden, um nur die Oberfläche der Struktur zu glühen. Stromüberhäufungseffekte in Kombination mit Wärmeverlusttopologien können für ortsspezifisches örtliches Glühen ebenfalls nutzbar gemacht werden.
- Fig. 5 zeigt schematisch dargestellte Einzelheiten dieses filamentartigen Glühverfahrens in der Anwendung auf einen korrekt vorgespannten und erregten kammgesteuerten u-mechanischen Resonator 30 mit gebogener Stange mit Messelektronik, die eine Messelektrode 32 und einen Verstärker 34 umfasst. Der Resonator 30 umfasst ebenfalls einen Kammwandler 36, der auf einer zerteilten Masseebene 40 gebildet ist, sowie eine Antriebselektrode 38. Die Resonatorkonstruktion entspricht in jeder Hinsicht Konstruktionen des Stands der Technik, abgesehen davon, dass getrennte Leitungen oder Glühelektroden 42 vorgesehen sind, die an die Anker 44 und 46 angeschlossen sind.
- Während des normalen Resonatorbetriebs ist der Impulsspannungsgenerator Vglühen inaktiv und stellt die Massespannung für sämtliche Komponenten in diesem Resonatorsystem bereit. In dieser Konfiguration sind die Ankerleitungen 42 an eine Gleichstromvorspannung Vp angeschlossen, und ein Wechselstromantriebssignal wird an die eine oder an mehrere der Wandlerelektroden 38 angelegt, um eine Vibration zu induzieren. Sobald die Vibration hergestellt ist, wird ein Ausgangsstrom über einen gleichstromvorgespannten, zeitvariablen Kondensator an der Ausgangselektrode 32 erzeugt. Dieser Strom wird daraufhin gemessen und durch den Verstärker 34 auf eine Spannung V&sub0; verstärkt. Fig. 5 zeigt eine Implementierung mit offener Schleife, jedoch versteht es sich, dass eine Oszillatorschaltung mit geschlossener Schleife ebenfalls an Ort und Stelle geglüht werden kann.
- Um den Mikroresonator 30 während der induzierten Vibration zu glühen, wird der Impulsspannungsgenerator Vglühen aktiviert. Abhängig von den Anforderungen ist Vglühen so gestaltet, dass sie einen oder mehrere Spannungsimpulse der Größe Vglühen für jeden Glühzyklus ausgibt. Während jedes Impulses werden die Potenziale der Eingangs- und Ausgangselektrode 46, der Masseebene 40 und eines der Resonatoranker 44 um Vglühen erhöht, während das Potenzial am verbleibenden Resonatoranker 44 auf Vp konstant bleibt. Daher legt jeder Impuls effektiv eine Spannung der Größe Vglühen von Anker zu Anker an den Resonator 30 an, die daraufhin einen Strom Iglühen von Anker zu Anker erzeugt. Dieser Strom fließt durch die Resonatorstruktur und dissipiert eine Leistung, die gegeben ist durch:
- Pglühen = I²glühenRstrukt,
- wobei Rstrukt der Widerstand zwischen den Ankern 44 und 46 des Resonators 30 ist. Es wird daher Wärme in der gesamten Resonatorstruktur erzeugt, wodurch ihre Gesamttemperatur erhöht und sie effektiv geglüht wird.
- Ein Kontroller 48 überwacht die Spannung V&sub0; und ist in der Lage, die resultierende Resonanzfrequenz des geglühten Mikroresonators 30 zu bestimmen. Wenn die resultierende Resonanzfrequenz nicht die gewünschte Resonanzfrequenz ist, sendet der Kontroller 48 ein Steuersignal zum Impulsspannungsgenerator, um einen anderen Impuls bereitzustellen und den Mikroresonator 30 weiter zu erwärmen.
- Unter Bezugnahme auf Fig. 5 ist nun ein MEMS mit sowohl einer mikromechanischen Vorrichtung 50 als auch mikroelektrischen Vorrichtungen 52 veranschaulicht. Die mikroelektrische Vorrichtung 52 kann einen Kondensator 54 und Schichten von PMOS und NMOS umfassen. Das Glühen der Vorrichtung 50 ist möglich, ohne die chipintegrierien Schaltkreise in den gemischten Mikroschaltkreisen plus die Mikrostrukturtechnologie, die in Fig. 6 dargestellt ist, zu beeinflussen.
- Der Hauptvorteil des örtlichen Glühverfahrens und Systems der vorliegenden Erfindung besteht in ihrer Einfachheit. Das bloße Anlegen einer Spannung an Ankerpunkte ist sehr einfach zu implementieren, und diese Einfachheit macht das Verfahren anwendbar für Massenanordnungen von Resonatoren, die unter Verwendung von Chargen-Verfahren hergestellt werden. Ebenso wie EEPROMs mit Millionen von Transistoren elektronisch programmierbar sind, ermöglicht dieses örtliche Glühverfahren das elektronische Abstimmen/Trimmen von mikromechanischen Resonatoren, möglicherweise von tausenden von Resonatoren auf jedem Chip eines Wafers. Das Trimmen sollte auf Wafer-Niveau im Chargen-Modus unter Verwendung von örtlichem Glühen möglich sein, und dies kann die Kosten mikromechanischer Vorrichtungen wesentlich senken, wodurch manche von ihnen möglicherweise zum ersten Mal wirtschaftlich realisierbar werden.
- Des Weiteren ermöglichen diese örtlichen Glühverfahren mehrere neuartige Technologien für Schaltkreise und mikromechanische Vorrichtungen. Zum Beispiel versuchte die neuere MICS-Technologie, CMOS und Mikromechanik modular zu vermischen, indem zuerst CMOS und daraufhin Mikrostrukturen implementiert wurden. Das Hauptproblem bei diesem Verfahren bestand in der Abscheidung mikrostruktureller Schichten über CMOS, da die Abscheidungstemperatur, die zum Erreichen spannungsfreier Polysiliziumstrukturen erforderlich ist (600ºC), höher ist als die eutektische Temperatur von Aluminiumkontakten (540ºC). Örtliches Glühen kann dieses Problem lösen, indem die Abscheidung von Silizium bei niedrigeren Temperaturen (bei denen es amorph abgeschieden wird) ermöglicht wird und daraufhin individuelle Strukturen (in einem Chargen-Verfahren) örtlich geglüht werden, um das Silizium zu kristallisieren, wodurch es leitfähig wird und die Spannung weggeglüht wird. Dies hat ein gusskompatibles Mischtechnologieverfahren zur Folge, das Sensor- und Mikrostellgliedprodukte ermöglichen kann.
- Während die beste Art der Ausführung der Erfindung ausführlich beschrieben wurde, sind Fachleuten, die diese Erfindung betrifft, verschiedene alternative Konstruktionen und Ausführungsformen zur Realisierung der Erfindung, wie sie durch die folgenden Ansprüche abgegrenzt ist, ersichtlich.
Claims (47)
1. Verfahren zum Glühen einer vorherbestimmten Mikrostruktur (12, 30, 50), die
auf einem mikroskopischen Teil eines Substrats (22) einer Vorrichtung gebildet
ist, gekennzeichnet durch:
Zusammenschalten einer Glühstromversorgung mit dem mikroskopischen Teil
der Vorrichtung und dadurch Übertragen von Strom auf die vorherbestimmte
Mikrostruktur in Form eines elektrischen Signals, so dass die vorherbestimmte
Mikrostruktur den übertragenen Strom in eine gesteuerte Menge an Wärme
umwandelt und den Energiezustand der vorherbestimmten Mikrostruktur nur in
dem mikroskopischen Teil steuerbar erhöht, um dadurch die
Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der
vorherbestimmten Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere Mikrostruktur,
die auf dem Substrat gebildet ist, wesentlich zu beeinflussen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des steuerbaren Ansteigens den
Schritt des steuerbaren Erwärmens umfasst.
3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei die Mikrostruktur einen Widerstand aufweist
und der Schritt des steuerbaren Erwärmens den Schritt umfasst, das Fließen
eines elektrischen Stroms durch die vorherbestimmte Mikrostruktur zu
verursachen, um die vorherbestimmte Mikrostruktur zu erwärmen.
4. Verfahren nach Anspruch 3, das des Weiteren den Schritt umfasst, ein Paar
Elektroden (42) auf dem Substrat zu bilden, die elektrisch mit der
vorherbestimmten Mikrostruktur zusammengeschaltet sind, und ein elektrisches
Signal an die Elektroden anzulegen.
5. Verfahren nach Anspruch 4, wobei das elektrische Signal ein zeitvariables
Signal ist.
6. Verfahren nach Anspruch 5, wobei das zeitvariable Signal ein Signal mit
mindestens einem Impuls ist.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 6, wobei die vorherbestimmte
Mikrostruktur eine mikromechanische Vorrichtung ist.
8. Verfahren nach Anspruch 7, wobei die mikromechanische Vorrichtung ein
mikromechanischer Resonator mit einer Resonanzfrequenz und einer Kreisgüte
ist.
9. Verfahren nach Anspruch 8, wobei der Schritt des steuerbaren Erwärmens
ausreicht, um eine Änderung der Resonanzfrequenz des Resonators zu
verursachen.
10. Verfahren nach Anspruch 5, das des Weiteren die Schritte umfasst, ein
Oszillieren des Resonators zu verursachen und die Resonanzfrequenz zu
überwachen, wobei der Schritt des steuerbaren Erwärmens den Resonator
erwärmt, bis der Resonator eine gewünschte Resonanzfrequenz aufweist.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10, wobei der Schritt des steuerbaren
Erwärmens ausreicht, um eine Änderung der Kreisgüte zu verursachen.
12. Verfahren nach Anspruch 8, wobei der Schritt des steuerbaren Erwärmens
ausreicht, um eine Änderung der Resonanzfrequenz und der Kreisgüte zu
verursachen.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 12, wobei der mikromechanische
Resonator eine Stange (14) mit einem Paar Anker (10) aufweist.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 13, wobei der mikromechanische
Resonator ein mikromechanischer Resonator (40) mit gebogener Stange und mit
Ankern (44, 46) ist.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 14, wobei der mikromechanische
Resonator ein Polysilizium-Resonator ist.
16. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Substrat ein
Halbleitersubstrat ist.
17. Verfahren nach Anspruch 16, wobei das Halbleitersubstrat ein Silizium-
Halbleitersubstrat ist.
18. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die
vorherbestimmte Mikrostruktur eine Halbleiter-Mikrostruktur ist.
19. Verfahren nach Anspruch 18, wobei die Halbleiter-Mikrostruktur eine Silizium-
Halbleiter-Mikrostruktur ist.
20. Verfahren nach Anspruch 19, wobei die vorherbestimmte Mikrostruktur eine
amorphe Silizium-Mikrostruktur aufweist und der Schritt des steuerbaren
Erwärmens die amorphe Silizium-Mikrostruktur zu einer polykristallinen
Silizium-Mikrostruktur verändert.
21. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Mikrostruktur
Bestandteil einer mikroelektromechanischen Vorrichtung ist.
22. System zum Glühen einer vorherbestimmten Mikrostruktur (12, 30, 50), die auf
einem Substrat (22) einer Vorrichtung gebildet ist, wobei das System umfasst:
eine Glühstromversorgung; und
ein Mittel, das dafür ausgelegt ist, mit einem mikroskopischen Teil der
Vorrichtung zusammengeschaltet zu werden, um Strom von der
Glühstromversorgung in Form eines elektrischen Signals nur zu dem
mikroskopischen Teil zu übertragen, so dass der mikroskopische Teil der
Vorrichtung den übertragenen Strom in eine gesteuerte Menge an Wärme
umwandelt, um dadurch die Materialeigenschaften und/oder die
mikrostrukturellen Eigenschaften der vorherbestimmten Mikrostruktur zu
verändern, ohne eine andere Mikrostruktur, die auf dem Substrat gebildet ist,
wesentlich zu beeinflussen.
23. System nach Anspruch 22, wobei die vorherbestimmte Mikrostruktur eine
mikromechanische Vorrichtung ist.
24. System nach Anspruch 23, wobei die mikromechanische Vorrichtung ein
mikromechanischer Resonator mit einer Resonanzfrequenz und einer Kreisgüte
ist.
25. System nach Anspruch 24, wobei die Wärme ausreicht, um eine Änderung der
Resonanzfrequenz des Resonators zu verursachen.
26. System nach Anspruch 25, das des Weiteren eine elektrische Stromversorgung,
die für den Anschluss an einen Treiber (16, 38) des Resonators ausgelegt ist, um
an den Treiber ein elektrisches Antriebssignal anzulegen, so dass der Resonator
oszilliert, sowie einen Kontroller (48) umfasst, um die resultierende
Resonanzfrequenz zu überwachen, wobei der Kontroller das elektrische Signal
von der Glühstromversorgung steuert, bis der Resonator eine gewünschte
Resonanzfrequenz aufweist.
27. System nach einem der Ansprüche 24 bis 26, wobei die Wärme ausreicht, um
eine Änderung der Kreisgüte zu verursachen.
28. System nach einem der Ansprüche 24 bis 27, wobei die Wärme ausreicht, um
eine Änderung der Resonanzfrequenz und der Kreisgüte zu verursachen.
29. System nach einem der Ansprüche 24 bis 28, wobei der mikromechanische
Resonator eine Stange (14) mit einem Paar Anker (10) aufweist.
30. System nach einem der Ansprüche 24 bis 29, wobei der mikromechanische
Resonator ein Resonator (40) mit gebogener Stange ist.
31. System nach einem der Ansprüche 24 bis 30, wobei der mikromechanische
Resonator ein Polysilizium-Resonator ist.
32. System nach einem der Ansprüche 22 bis 31, wobei der mikroskopische Teil der
Vorrichtung die vorherbestimmte Mikrostruktur ist.
33. System nach einem der Ansprüche 22 bis 32, wobei das elektrische Signal ein
zeitvariables Signal ist.
34. System nach Anspruch 33, wobei das zeitvariable Signal ein Signal mit
mindestens einem Impuls ist.
35. System nach einem der Ansprüche 22 bis 34, wobei die Vorrichtung ein Paar
Elektroden (42) aufweist, die in beabstandeten Positionen mit der Mikrostruktur
zusammengeschaltet sind, und das elektrische Signal an die Elektroden angelegt
wird.
36. System nach einem der Ansprüche 22 bis 35, wobei das Substrat ein
Halbleitersubstrat ist.
37. System nach Anspruch 36, wobei das Halbleitersubstrat ein Silizium-
Halbleitersubstrat ist.
38. System nach einem der Ansprüche 22 bis 37, wobei die vorherbestimmte
Mikrostruktur eine Halbleiter-Mikrostruktur ist.
39. System nach Anspruch 38, wobei die Halbleiter-Mikrostruktur eine Silizium-
Halbleiter-Mikrostruktur ist.
40. System nach Anspruch 39, wobei die vorherbestimmte Mikrostruktur eine
amorphe Silizium-Mikrostruktur aufweist und die Wärme ausreicht, um die
amorphe Silizium-Mikrostruktur zu einer polykristallinen oder kristallinen
Silizium-Mikrostruktur zu verändern.
41. System nach einem der Ansprüche 22 bis 40, wobei die Mikrostruktur
Bestandteil einer mikroelektromechanischen Vorrichtung ist.
42. Vorrichtung mit mindestens einer Mikrostruktur (12, 30, 50), die auf einem
Substrat (22) gebildet ist, wobei die Verbesserung Folgendes umfasst:
Elektroden (42), die auf dem Substrat gebildet und elektrisch mit einer
vorherbestimmten Mikrostruktur zusammengeschaltet sind, um ein elektrisches
Signal zu empfangen, das seinerseits das Fließen eines elektrischen Stroms
durch die vorherbestimmte Mikrostruktur verursacht, um nur die
vorherbestimmte Mikrostruktur steuerbar und direkt zu erwärmen und dadurch
die Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der
vorherbestimmten Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere Mikrostruktur,
die auf dem Substrat gebildet ist, wesentlich zu beeinflussen.
43. Vorrichtung nach Anspruch 42, wobei die Mikrostruktur eine mikromechanische
Vorrichtung mit Ankern (10, 44, 46) ist und die Elektroden elektrisch mit ihren
entsprechenden Ankern zusammengeschaltet sind.
44. Vorrichtung mit mindestens einer Mikrostruktur, die auf einem Substrat (22)
gebildet ist, wobei die Verbesserung Folgendes umfasst:
eine Mikroplattform (24), die auf dem Substrat gebildet und von diesem
wärmeisoliert ist;
mindestens eine Mikrostruktur (12), die auf der Mikroplattform gebildet ist; und
ein Widerstandsheizelement 20, das auf der Mikroplattform gebildet und zum
Empfang eines elektrischen Signals ausgelegt ist, das seinerseits verursacht, dass
das Element indirekt jede Mikrostruktur erwärmt, die auf der Mikroplattform
gebildet ist, einschließlich die mindestens eine Mikrostruktur, um dadurch die
Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der
mindestens einen Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere Mikrostruktur,
die auf dem Substrat, jedoch nicht auf der Mikroplattform gebildet ist,
wesentlich zu beeinflussen.
45. Vorrichtung nach Anspruch 44, wobei die mindestens eine Mikrostruktur eine
mikromechanische Vorrichtung ist.
46. Vorrichtung mit mindestens einer Mikrostruktur (12, 30, 50), die auf einem
Substrat (22) gebildet ist, wobei die Verbesserung Folgendes umfasst:
ein Widerstandsheizelement 20, das unmittelbar benachbart zu einer
vorherbestimmten Mikrostruktur auf dem Substrat gebildet und zum Empfang
eines elektrischen Signals ausgelegt ist, das seinerseits verursacht, dass das
Element indirekt die vorherbestimmte Mikrostruktur erwärmt, um dadurch die
Materialeigenschaften und/oder die mikrostrukturellen Eigenschaften der
vorherbestimmten Mikrostruktur zu verändern, ohne eine andere Mikrostruktur
auf dem Substrat wesentlich zu beeinflussen.
47. Vorrichtung nach Anspruch 46, wobei die Mikrostruktur eine mikromechanische
Vorrichtung ist.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/874,785 US5976994A (en) | 1997-06-13 | 1997-06-13 | Method and system for locally annealing a microstructure formed on a substrate and device formed thereby |
PCT/US1998/011028 WO1998057423A1 (en) | 1997-06-13 | 1998-05-29 | Method and system for locally annealing a microstructure formed on a substrate and device formed thereby |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69813805D1 DE69813805D1 (de) | 2003-05-28 |
DE69813805T2 true DE69813805T2 (de) | 2003-11-06 |
Family
ID=25364575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69813805T Expired - Lifetime DE69813805T2 (de) | 1997-06-13 | 1998-05-29 | Verfahren und vorrichtung zum örtlichen glühen einer auf einem substrat geformten mikrostruktur und dadurch hergestellte vorrichtung |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5976994A (de) |
EP (1) | EP0988695B1 (de) |
JP (2) | JP2002505046A (de) |
KR (1) | KR100370602B1 (de) |
CN (1) | CN1271474A (de) |
AT (1) | ATE238630T1 (de) |
AU (1) | AU7605098A (de) |
DE (1) | DE69813805T2 (de) |
NO (1) | NO996113L (de) |
WO (1) | WO1998057423A1 (de) |
Families Citing this family (57)
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-
1998
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- 1998-05-29 JP JP50262099A patent/JP2002505046A/ja active Pending
- 1998-05-29 KR KR10-1999-7011646A patent/KR100370602B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-05-29 AT AT98923858T patent/ATE238630T1/de not_active IP Right Cessation
- 1998-05-29 AU AU76050/98A patent/AU7605098A/en not_active Abandoned
- 1998-05-29 DE DE69813805T patent/DE69813805T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-05-29 EP EP98923858A patent/EP0988695B1/de not_active Expired - Lifetime
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-
1999
- 1999-05-05 US US09/305,513 patent/US6169321B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-12-10 NO NO996113A patent/NO996113L/no not_active Application Discontinuation
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2008
- 2008-08-18 JP JP2008209628A patent/JP2009044741A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU7605098A (en) | 1998-12-30 |
JP2002505046A (ja) | 2002-02-12 |
EP0988695B1 (de) | 2003-04-23 |
NO996113L (no) | 2000-02-07 |
NO996113D0 (no) | 1999-12-10 |
WO1998057423A1 (en) | 1998-12-17 |
DE69813805D1 (de) | 2003-05-28 |
CN1271474A (zh) | 2000-10-25 |
US6169321B1 (en) | 2001-01-02 |
KR20010013636A (ko) | 2001-02-26 |
JP2009044741A (ja) | 2009-02-26 |
US5976994A (en) | 1999-11-02 |
ATE238630T1 (de) | 2003-05-15 |
EP0988695A1 (de) | 2000-03-29 |
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