DE69702567D1 - Intergrierte Halbleiterschaltung mit einer Unterbrecherschaltung zwischen Substratspannungsdetektorschaltung und einer gemeinsamen Leiterbahn zur Verringerung elektrostatischer Schäden - Google Patents

Intergrierte Halbleiterschaltung mit einer Unterbrecherschaltung zwischen Substratspannungsdetektorschaltung und einer gemeinsamen Leiterbahn zur Verringerung elektrostatischer Schäden

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