DE69636226T2 - Taktsignalgenerator - Google Patents

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Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Schaltung zum Erzeugen eines Ausgangsignal-Impulses mit einer Vorderflanke und einer Rückflanke, die bezüglich eines Referenz-Taktsignals genau zeitabgestimmt sind.
  • Beschreibung des Stands der Technik
  • Prüfgeräte für integrierte Schaltungen (IC) führen Anschlüssen einer zu prüfenden integrierten Schaltung (IC) Eingabe-Prüfsignal-Impulse zu und tasten durch die integrierte Schaltung (IC) erzeugte Ausgabesignale zu genau gesteuerten Zeitpunkten ab. IC-Prüfgeräte stimmen derartige Aktionen als Reaktion auf Impulse von Eingabe-Zeitabstimmungssignalen ab, die durch Zeitabstimmungssignal-Generatoren erzeugt werden. Ein typischer Zeitabstimmungssignal-Generator des Stands der Technik verwendet eine stabile hochfrequente Taktsignal-Quelle, wie z.B. einen Kristall-Oszillator, um ein genaues Referenz-Taktsignal bereitzustellen. Der Generator bestimmt, wann ein Ausgabe-Zeitabstimmungssignal-Impuls zu erzeugen ist, indem er Impulse des Referenz-Taktsignals zählt. Die Auflösung, mit der der Zeitabstimmungssignal-Generator die Zeitabstimmung seiner Ausgabesignal-Impulse einstellen kann, ist auf die Periode des Referenz-Taktsignals begrenzt, da die Zeitabstimmungssignal-Frequenz nur ein geradzahliges Vielfaches des Referenzsignals sein kann. Da jedoch die Geschwin digkeit integrierter Schaltungen zunimmt, muss auch die Auflösung der Zeitabstimmungssignale erhöht werden, die in Prüfgeräten für integrierte Schaltungen verwendet werden.
  • Eine Lösung des Problems zum Erhöhen der Auflösung von Zeitabstimmungssignalen über die Periode des Referenz-Taktsignals hinaus ist in dem US-Patent 4,231,104 offenbart, das am 28. Oktober 1980 an Richard P. St. Clair erteilt wurde. St. Clairs Signalgenerator verwendet ebenfalls einen Zähler zum Zählen von Impulsen eines Oszillators und Erzeugen eines Ausgangssignal-Impulses, wenn der Zählwert eine vorbestimmte Grenze erreicht. Die Zähler-Ausgabe läuft dann jedoch durch eine Verzögerungsleitung hindurch, um zu einem Ausgabe-Zeitabstimmungssignal-Impuls des Generators zu werden. Die Verzögerung der Verzögerungsleitung kann über einen Bereich hinweg fein eingestellt werden, der kleiner als die Periode des Oszillators ist. Somit kann der Zeitabstimmungssignal-Generator die Zeitabstimmung von Impulsen des Ausgabe-Zeitabstimmungssignals mit einer Auflösung einstellen, die feiner als die Periode des Referenz-Taktsignals ist. Die Frequenz der Zeitabstimmungssignal-Ausgabe kann ein ungerades Vielfaches der Referenz-Taktsignal-Eingabe sein.
  • Der Zeitabstimmungssignal-Generator von St. Clair hat zwei Nachteile. Erstens erfordert der Generator eine relativ komplizierte und kostspielige "Umlauf-Restwert"-Logik, um die Verzögerung der Verzögerungsleitung zu steuern. Zweitens muss die Verzögerungsleitung genau kalibriert werden, und ihre Herstellung ist kostspielig und schwierig.
  • Der Artikel "100-MHz-Treibermodul für einen Pattern-Generator" von A. Schulz et al., veröffentlicht am 4. Januar 1991 in Nachrichtentechnik Elektronik, beschreibt eine Schaltung zum Erzeugen eines digitalen Ausgangssignals, bei dem ein Haupt-Taktsignal die Flanken-Zeitabstimmung steuert. Das Haupt-Taktsignal wird in eine Gruppe von k Zeitabstimmungssignalen umgewandelt, die jeweils dieselbe Frequenz wie das Haupt-Taktsignal haben, jedoch in der Phase gleichmäßig verteilt sind. Ein Speicher liefert ein gesondertes Datenbit an jedes Register von k Drei-Zustand-Registern bei jedem Impuls des Haupt-Taktsignals, und jedes Zeitabstimmungssignal steuert den Drei-Zustand-Steuerungseingang eines gesonderten Registers der k Register an. Die Ausgänge der Register sind zusammengeschaltet, um das digitale Ausgangssignal zu erzeugen. Da die Zeitabstimmungssignal-Ausgabe nur ein Register zu einem Zeitpunkt freigibt, steuert der Dateninhalt jedes Registers jeden k-ten Datenzyklus des digitalen Ausgangssignals. Die Vorrichtung kann die Zeitabstimmung von Ausgangssignal-Flanken mit einer Auflösung steuern, die ein 1/k-tel der Periode des Haupt-Taktsignals ist. Ein Nachteil der Schaltung besteht darin, dass Differenzen der Reaktionszeit der Register verursachen können, dass bei zwei Registern für eine kurze Zeitdauer der Ausgang freigegeben ist, wenn die Zeitabstimmungssignale den Ausgang eines Registers ausschalten und den Ausgang des nächsten Registers einschalten. Dies verursacht abzulehnende Rauschspitzen in der Stromversorgung der Schaltung.
  • Die am 28. Oktober 1995 veröffentlichte WO 95/28768 offenbart eine Multiplexer-Signalspeicherschaltung (Latch) mit N Latch-Schaltungen und N-Rücksetz-Schaltungen, deren Ausgänge mit demselben Ausgangsknoten verbunden werden. Sie bezieht sich jedoch lediglich auf die Verbesserung der Verzögerungszeit bei einer Multiplexer-Signalspeicherschaltung, und es gibt keinen Hinweis dafür, dass sie als Ausgangsregister verwendet werden kann.
  • Es wird daher ein kostengünstiger Zeitabstimmungssignal-Generator benötigt, der die Zeitabstimmung von Ausgabe-Zeitabstimmungssignal-Impulsen mit einer hohen Auflösung steuern kann, ohne dabei ein wesentliches Rauschen zu verursachen.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung wird ein Gerät gemäß Anspruch 1 bereitgestellt.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung enthält ein Zeitabstimmungssignal-Generator einen spannungsgesteuerten Oszillator zum Erzeugen einer Gruppe von N Referenzsignalen, die mit einem Referenz-Taktsignal frequenzverriegelt sind und in der Phase verteilt sind, um die Periode des Referenz-Taktes in N Intervalle gleichmäßig aufzulösen. Der Zeitabstimmungssignal-Generator reagiert auf eine Sequenz von Steuerungswörtern, wobei Bits von jedem Steuerungswort die Bestätigung einer Gruppe aus N Setz-Signalen und einer Gruppe aus N Rücksetz-Signalen steuern, bei denen N größer als 1 ist. Der Zeitabstimmungssignal-Generator enthält auch N Setz-Schaltungen und N Rücksetz-Schaltungen. Jede Setz-Schaltung empfängt ein gesondertes Signal der Setz-Signale und ein gesondertes Signal der N Referenz-Signale. Jede Setz-Schaltung koppelt einen Ausgangsknoten an eine Quelle mit einem hohen Logikpegel nur dann, wenn ihre empfangenen Setz- und Referenz-Signale gleichzeitig bestätigt werden. Jede Rücksetz-Schaltung empfängt ein gesondertes Signal der Rücksetz-Signale und ein gesondertes Signal der N Referenz-Signale und koppelt den Ausgangsknoten an eine Quelle mit tiefem Logikpegel nur dann, wenn ihre empfangenen Rücksetz- und Referenz-Signale gleichzeitig bestätigt werden. Eine bistabile Schaltung erfasst den Logikpegel des Ausgangsknotens, wenn der Ausgangsknoten mit einer der Quellen mit hohem Logikpegel oder tiefem Logikpegel verbunden ist und hält den Ausgangsknoten auf dem zuletzt erfassten Logikpegel, wenn der Ausgangsknoten mit der einen oder der anderen der Quellen nicht mehr verbunden ist.
  • Die Zeitabstimmungssignal-Ausgabe wird an dem Ausgangsknoten erzeugt. Die Setz- und Rücksetz-Signale wählen aus, welche Referenz-Signale die Zeitabstimmung der Vorder- und Rückflanken des Ausgabe-Zeitabstimmungssignals steuern. Durch Anlegen des neuen Steuerungswortes an den Generator während jedes Zyklus des Taktsignals kann ein Benutzer die Zeitabstimmung der Vorder- und Rückflanken von Impulsen des Ausgabe-Zeitabstimmungssignals mit einer Auflösung steuern, die ein 1/Ntel der Periode des Referenztaktes ist.
  • Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der Erfindung enthält jede Setz-Schaltung ein Logik-Gatter, das ein Setz-Signal und ein Referenz-Signal empfängt und ein Ausgangssignal erzeugt, das anzeigt, wann die empfangenen Setz- und Referenz-Signale gleichzeitig bestätigt werden. Der Ausgang des Logik-Gatters steuert einen Transistor, der den Ausgangsknoten an die Quelle mit hohem Logikpegel selektiv ankoppelt. Jede Rücksetz-Schaltung enthält ein Logik-Gatter, das ein Rücksetz-Signal und ein Referenz-Signal empfängt und ein Ausgabesignal erzeugt, das anzeigt, wann die empfangen Rücksetz- und Referenz-Signale gleichzeitig bestätigt werden. Die Ausgabe des Logik-Gatters der Rücksetz-Schaltung steuert einen Transistor, der den Ausgangsknoten an die Quelle mit tiefem Logikpegel selektiv ankoppelt.
  • Es ist wünschenswert, ein Verfahren und ein Gerät bereitzustellen, um ein Ausgabesignal zu erzeugen, dessen Impulse ei ne Zeit-Referenz zu Impulsen eines periodischen Referenz-Taktsignals haben und bei dem die Zeitabstimmung der Ausgangssignal-Impulse mit einer Auflösung eingestellt werden kann, die feiner als die Periode des Referenz-Taktsignals ist.
  • Der Schlussabschnitt dieser Beschreibung stellt den Gegenstand der vorliegenden Erfindung klar heraus und beansprucht ihn gesondert. Diejenigen, die sich zu den Fachleuten auf diesem Gebiet zählen, verstehen jedoch sowohl die Organisation und das Verfahren zur Durchführung der Erfindung sowie weitere Vorteile und Aufgaben der Erfindung am besten beim Lesen der restlichen Abschnitte der Beschreibung in Anbetracht der begleitenden Zeichnung(en), wobei gleichartige Bezugszeichen sich auf gleichartige Elemente beziehen.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnung(en)
  • 1 veranschaulicht in Form eine Blockdiagramms einen Zeitabstimmungssignal-Generator gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • 2A veranschaulicht ein typisches flanken-erzeugendes NAND-Gatter von 1;
  • 2B veranschaulicht ein typisches flanken-erzeugendes AND-Gatter von 1;
  • 3 ist ein Zeitabstimmungsdiagramm bzw. Signalverlaufsdiagramm, das den Betrieb der Schaltung von 1 veranschaulicht, wenn sie zum Erzeugen eines einfachen periodischen Ausgabesignals programmiert ist;
  • 4 ist ein Zeitabstimmungs-Diagramm bzw. Signalverlaufsdiagramm, das den Betrieb der Schaltung von 1 veranschaulicht, wenn sie zum Erzeugen eines komplexen periodischen Ausgabesignals programmiert ist;
  • 5 veranschaulicht in Form eines Blockdiagramms einen Zeitabstimmungssignal-Generator gemäß einem alternativen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • 6A veranschaulicht ein typisches flanken-erzeugendes NAND-Gatter von 5;
  • 6B veranschaulicht ein typisches flanken-erzeugendes AND-Gatter von 5; und
  • 7 ist ein Zeitabstimmungs-Diagramm bzw. Signalverlaufsdiagramm, das den Betrieb der Schaltung von 5 veranschaulicht.
  • Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
  • 1 veranschaulicht in Form eines Blockdiagramms einen Zeitabstimmungssignal-Generator 10 gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Der Generator 10 erzeugt ein Ausgabe-Zeitabstimmungssignal (TIMING) mit einer einstellbaren Frequenz, die ein ganzzahliges oder nicht-ganzzahliges Vielfaches der Frequenz eines Referenz-Taktsignal CLOCK sein kann, das von einer Taktsignal-Quelle 12 erzeugt wird. Der Generator 10 enthält eine Taktsignal-Quelle 12, einen Ring-Oszillator 14, eine Phasenregelkreis-Steuerungsvorrichtung (PLL) 16, N Setz-Schaltungen 19(1)19(N), N Rücksetz-Schaltungen 20(1)20(N), eine programmier bare Logikschaltung 21 und eine bistabile Signalspeicherschaltung (Latch) 23. (N ist eine ganze Zahl größer als 1.)
  • Der Ring-Oszillator 14 erzeugt eine Gruppe von N Ausgabe-Referenzsignale T(1)–T(N), die mit dem Taktsignal (CLOCK) mittels einer herkömmlichen Phasenregelkreis-Steuerungsvorrichtung (PLL) 16 frequenzverriegelt sind. Abgreifsignale T(1)–T(N) sind derart phasenverteilt, dass ihre Vorderflanken die Periode des Taktsignals gleichmäßig in N gleiche Segmente unterteilen. Nur das Referenzsignal T(1) ist mit dem Taktsignal CLOCK phasenverriegelt.
  • Die programmierbare Logikschaltung 21 erzeugt wiederholt eine Sequenz von ausgegebenen 2N-Bit-Datenwörtern DATA_OUT. Die Logikschaltung 21 empfängt das CLOCK-Signal und erzeugt jedes ausgegebene Wort der Sequenz DATA_OUT als Reaktion auf jeden Impuls des CLOCK-Signals. Jedes DATA_OUT-Wort besteht aus einer Gruppe von N "Setz"-Bits SE(1)–SE(N) und einer Gruppe aus N "Rücksetz"-Bits RE(1)–RE(N). Wie weiter unten besprochen wird, kann ein Benutzer eine gewünschte Datensequenz in die Logikschaltung 21 laden, und die Logikschaltung 21 erzeugt diese Sequenz wiederholt als ihre Ausgabe. Die DATA_OUT-Sequenz steuert die Eigenart des ausgegebenen TIMING-Signals einschließlich seiner Phase, seiner Frequenz und seines Tastgrades.
  • Jede Setz-Schaltung 19(J) (wobei J eine beliebige ganze Zahl von 1 bis N ist) enthält einen invertierenden Flanken-Generator N(J) und einen PMOS-Transistor QP(J). Jeder Generator N(J) empfängt als Eingabe das Referenzsignal P(J) und ein DATA_OUT-Wortbit SE(J). Wenn SE(J) hoch ist, erzeugt der Flanken-Generator N(J) einen kurzen, negativ werdenden Ausgabeimpuls. Die Ausgabe des Flanken-Generator N(J) steuert den Gate-Anschluss des Transistors QP(J) an, so dass sein Source-Anschluss und Drain-Anschluss zwischen einer Quelle mit hohem Logikpegel (VDD) und einem Ausgangsknoten 26 gekoppelt werden. Wenn es während einem beliebigen Taktzyklus CLOCK bestätigt wird, teilt das gesetzte Bit SE(J) dem Flanken-Generator N(J) mit, den Transistor QP(J) auf der Vorderflanke eines P(J)-Impulses kurz einzuschalten. Der Transistor QP(J) steuert das Zeitabstimmungssignal TIMING dann auf einen hohen Logikpegel.
  • Jede Rücksetz-Schaltung 20(J) enthält einen nichtinvertierenden Flanken-Generator A(J) und einen NMOS-Transistor QN(J). Der Flanken-Generator A(J) empfängt das Referenzsignal P(J) und das DATA_OUT-Wort-Rücksetz-Bit RE(J). Die Ausgabe des Flanken-Generators A(N) steuert den Gate-Anschluss des Transistors QN(J) an, dessen Source-Anschluss und Drain-Anschluss zwischen einer Quelle mit tiefem Logikpegel VSS und einem Ausgangsknoten (26) gekoppelt bzw. geschaltet sind. Wenn es während eines beliebigen Taktzyklus CLOCK bestätigt wird, gibt das Rücksetz-Bit RE(J) den Flanken-Generator A(N) frei. Auf der Vorderflanke eines T(J)-Signals erzeugt der Flanken-Generator A(N) einen kurzen, positiv werdenden Impuls, der den Transistor QN(J) kurz einschaltet. Der Transistor QN(J) steuert dann das Zeitabstimmungssignal TIMING auf einen tiefen Logikpegel. Die Pulsweite des Flankengenerator-Ausgabesignals sollte kleiner als 1/N der Periode des P(J)-Signals sein, wobei N die Anzahl der Abgreifsignale ist.
  • Die bistabile Signalspeicherschaltung 23 besteht aus einem Paar Invertern I1, I2. Der Ausgang des Inverters I1 ist an den Eingang des Inverters I2 angeschlossen. Der Eingang des Inverters I1 und der Ausgang des Inverters I2 sind an den Ausgangsknoten 26 angeschlossen. Die Inverter I1, I2 sind aus relativ schwachen Transistoren gebildet, während die Transistoren QP(1)–QP(N) und QN(1)–QN(N) relativ stark sind. Wenn eine beliebige Setz-Schaltung 19(I) den Knoten 26 momentan nach oben zieht, steuert der Inverter I1 seinen Ausgang auf den niedrigen Pegel, und der Inverter I2 steuert seinen Ausgang auf den hohen Pegel, so dass, wenn die Setz-Schaltung anschließend das Ankoppeln des Anschlussknotens 26 an VDD stoppt, der Inverter I2 den Knoten 26 weiterhin auf hohem Pegel hält. Wenn umgekehrt irgendeine Rücksetz-Schaltung 20(I) den Knoten 26 momentan nach unten zieht, steuert der Inverter I1 seinen Ausgang auf den hohen Pegel, und der Inverter I2 steuert seinen Ausgang auf den niedrigen Pegel, so dass, wenn die Rücksetz-Schaltung den Knoten 26 nicht mehr nach unten zieht, der Inverter I2 den Knoten 26 weiterhin nach unten zieht. Die bistabile Schaltung 23 hält somit das Zeitabstimmungssignal TIMING an dem Knoten 26 auf seinem aktuellen Logikpegel, wenn keine der Setz- oder Rücksetz-Schaltungen 19, 20 den Knoten aktiv ansteuern.
  • Wenn z.B. das Setz-Bit SE(2) während eines Taktsignal-Zyklus CLOCK bestätigt wird, reagiert die Setz-Schaltung 19(2) auf die Vorderflanke eines Referenzsignal-Impulses P(2), indem sie den Transistor QP(2) kurzeitig einschaltet, wodurch der Knoten 26 an VDD gekoppelt wird und das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den hohen Pegel gesteuert wird. Auf der Vorderflanke des Zeitabstimmungssignal-Impulses TIMING geht der Ausgang des Inverters I1 auf den tiefen Pegel, und der Ausgang des Inverters I2 geht auf den hohen Pegel. Daraufhin hält der Inverter I2 somit das Zeitabstimmungssignal TIMING am Knoten 26 auf dem hohen Logikpegel, bis es durch einen der Transistoren QN(1)–QN(N) wieder auf den tiefen Pegel gezogen wird.
  • Wenn umgekehrt das Rücksetz-Bit RE(2) während eines Taktsignal-Zyklus CLOCK bestätigt wird, reagiert die Rücksetz-Schaltung 20(2) auf die Vorderflanke eines Referenzsignal-Impulses T(2), indem sie den Transistor QN(2) kurzeitig einschaltet, wodurch der Knoten 26 an VSS gekoppelt wird und das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den tiefen Pegel gesteuert wird. Wenn das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den tiefen Pegel geht, geht der Ausgang des Inverters I1 auf den hohen Pegel, und der Ausgang des Inverters I2 geht auf den tiefen Pegel. Auf der Rückflanke des Referenzsignal-Impulses T(2) schaltet der Transistor QN(2) der Rücksetz-Schaltung 20(2) ab, wodurch der Ausgangsknoten 26 von VSS abgekoppelt wird. Der Inverter I2 hält darauf das Zeitabstimmungssignal TIMING am Knoten 26 weiterhin auf dem tiefen Logikpegel, bis der Knoten 26 anschließend durch eine der Setz-Schaltungen 19(1)19(N) auf den hohen Logikpegel gezogen wird.
  • Somit steuert die Logikschaltung 21 die Zeitabstimmung der Zeitabstimmungssignal-Impulse TIMING durch Erzeugen einer Sequenz von DATA_OUT-Wörtern, wobei jedes DATA_OUT-Wort der Sequenz als Reaktion auf jeden Impuls des Taktsignals CLOCK erzeugt wird. Da die Vorderflanken der Referenzsignale T(1)–T(N) die Periode des Taktsignals CLOCK in N Intervalle gleichmäßig unterteilen, steuert die DATA_OUT-Sequenz die Zeitabstimmung des Zeitabstimmungssignal-Impulses TIMING mit einer Auflösung die 1/N der Periode des Referenztakt-Signals ist. Es sollte gesagt werden, dass DATA_OUT-Wörter, die den Setz-Signalen SE(1)–SE(N) und den Rücksetz-Signalen RE(1)–RE(N) zugeführt werden und die Setz- und Rücksetz-Schaltungen 19, 20 steuern, nicht so programmiert werden sollten, dass sie den Setz- und Rücksetz-Schaltungen gestatten, zu versuchen, den Knoten 26 gleichzeitig nach oben und nach unten zu ziehen. Das heißt, die entsprechenden SE(J)- und RE(J)-Bits in einem beliebigen DATA_OUT-Wort sollten nicht gleichzeitig gesetzt werden.
  • 2A veranschaulicht den Flanken-Generator N(1) und den Transistor QP(1) von 1 in einer ausführlicheren Form. Die Flanken-Generatoren N(2)–N(N) sind ähnlich wie N(1). Der Flanken-Generator N(1) enthält eine Abfolge von Invertern 30, ein NAND-Gatter 31, einen Drei-Zustand-Puffer 32 und einen Inverter 33. Das Zeitabstimmungssignal T(1) wird einem Eingang des NAND-Gatters direkt zugeführt und einem anderen Eingang des NAND-Gatters 31 indirekt über die Inverter 30 zugeführt. Eine ausreichend große Anzahl von Invertern 30 werden vorgesehen, um die Ankunft von T(1) am zweiten Eingang des NAND-Gatters um beinahe 1/2 Zyklus von T(1) zu verzögern, so dass die beiden Eingänge des NAND-Gatters 31 nur kurzzeitig gleichzeitig hoch sind. Somit erzeugt das NAND-Gatter 31 einen kurzen, negativ werden Ausgabe-Impuls während jedes Zyklus von T(1), wodurch der Drei-Zustand-Puffer 32 kurzzeitig freigegeben wird. Der Puffer 32 verbindet das Setz-Freigabesignal SE(1) mit dem Inverter 33. Wenn SE(1) hoch ist, während der Puffer 32 freigegeben ist, erzeugt der Inverter 33 einen kurzen, negativ werdenden Impuls, wodurch der Gate-Anschluss des Transistors QP(1) freigegeben bzw. (stroboskopartig) ein- und ausgeblendet wird und QP(1) kurzzeitig eingeschaltet wird. Der Inverter 33 ist so vorgespannt, dass beim Drei-Zustands-Betrieb des Puffers 32 der Inverter 33 am Gate-Anschluss des Transistors QP(1) nach oben zieht, um QP(1) ausgeschaltet zu halten.
  • 2B veranschaulicht den Flanken-Generator A(1) und den Transistor QN(1) von 1 in ausführlicher Form. Die Flanken-Generatoren A(2)–A(N) sind ähnlich wie A(1). Der Flanken-Generator A(1) enthält eine Abfolge von Invertern 34, ein NAND-Gatter 35, einen Drei-Zustands-Puffer 36 und einen Verstärker 37. Das Zeitabstimmungssignal T(1) wird einem Eingang des NAND-Gatters 35 direkt zugeführt und einem anderen Eingang des NAND-Gatters 35 über die Inverter 37 indirekt zugeführt. Das NAND-Gatter 35 erzeugt einen kurzen, negativ werdenden Ausgabe-Impuls während jedes Zyklus von T(1), wodurch der Drei-Zustands-Puffer 36 kurzzeitig freigegeben wird. Der Puffer verbindet das Rücksetz-Freigabesignal RE(1) mit dem Verstärker 37. Wenn SE(1) hoch ist, während der Puffer 32 freigegeben ist, erzeugt der Verstärker 37 einen kurzen, positiv werdenden Impuls, der den Gate-Anschluss des Transistors QN(1) freigibt bzw. (stroboskopartig) ein- und ausblendet und QN(1) kurzzeitig einschaltet. Der Verstärker 37 ist so vorgespannt, dass beim Drei-Zustands-Betrieb des Puffers 36 der Verstärker 37 an dem Gate-Anschluss des Transistors QN(1) nach unten zieht, um QN(1) ausgeschaltet zu halten.
  • Durch passende Auswahl der DATA_OUT-Sequenz kann ein Benutzer den Zeitabstimmungssignal-Generator 21 programmieren, um irgendeines einer großen Vielzahl von Zeitabstimmungssignal-Mustern TIMING zu erzeugen. 3 ist ein Zeitabstimmungs-Diagramm bzw. Signalverlaufsdiagramm, das die Funktionsweise des Zeitabstimmungssignal-Generators 10 von 1 in einem vereinfachten Beispiel veranschaulicht, bei dem N = 3. In diesem Beispiel hat das gewünschte Ausgabe-Zeitabstimmungssignal TIMING eine Periode von 5/3 derjenigen des Taktsignals CLOCK. Während einer ersten CLOCK-Signalperiode P1 wird nur das BIT SE(2) bestätigt. Wenn SE(2) hoch ist, steuert die Setz-Schaltung 19(2) das Zeitabstimmungssignal TIMING als Reaktion auf eine Vorderflanke eines Referenzsignal-Impulses T(2) auf den hohen Pegel. Während einer zweiten CLOCK-Signalperiode P2 wird das Steuerungs-Bit RE(1) bestätigt, und die Rücksetz-Schaltung 20(1) steuert das Zeitabstimmungssignal TIMING als Reaktion auf die Vorderflanke eines Impulses des Referenzsignal T(1) auf den niedrigen Pegel. Während der CLOCK-Signalperiode P3 werden die Steuerungs-Bits SE(1) und RE(3) beide bestätigt. Die Setz-Schaltung 19(1) steuert das Zeitabstimmungssignal TIMING als Reaktion auf den T(1)-Signalimpuls anfänglich auf den hohen Pegel, und die Rücksetz-Schaltung 20(3) steuert das Zeitabstimmungssignal TIMING später als Reaktion auf den T(3)-Signalimpuls wieder auf den tiefen Pegel. Während der CLOCK-Signalperiode P4 wird das Freigabesignal SE(3) bestätigt, und die Setz-Schaltung 19(3) steuert das Zeitabstimmungssignal TIMING als Reaktion auf einen Referenzsignal-Impuls T(3) auf den hohen Pegel. Während der CLOCK-Signalperiode P5 wird das Freigabesignal RE(2) bestätigt, und die Rücksetz-Schaltung 20(2) steuert das Zeitabstimmungssignal TIMING als Reaktion auf den Referenzsignal-Impuls T(2) auf den tiefen Pegel. Beginnend bei Periode P6 wird das Steuerungssignal-Muster, das in den Perioden P1–P5 erscheint, wiederholt. Somit kann man sehen, dass, um zu bewirken, dass der Generator 10 das Ausgabe-Zeitabstimmungssignal-Muster TIMING von 2 erzeugt, die Logikschaltung 21 so programmiert werden muss, dass sie eine DATA_OUT-Sequenz erzeugt, die sich jeweils nach fünf Zyklen des CLOCK-Signals wiederholt.
  • 4 ist ein Zeitabstimmungs-Diagramm bzw. Signalverlaufsdiagramm, das die Funktionsweise des Zeitabstimmungs-Generators 10 von 1 veranschaulicht, wenn er programmiert wird, um ein komplexeres Zeitabstimmungssignal TIMING mit einer Periode zu erzeugen, die 10/3 der Taktsignal-Periode CLOCK beträgt, wobei zwei kurze Impulse und ein langer Impuls in jedem Zyklus erzeugt werden. Damit die Generatorschaltung 10 eine Zeitabstimmungssignal-Ausgabe TIMING mit diesem Muster erzeugt, muss die Logikschaltung 21 programmiert werden, um eine DATA_OUT-Sequenz zu erzeugen, die sich nach allen 10 Zyklen des CLOCK-Signals wiederholt. Der Einfachheit halber sind nur die Ausgangsdaten-Sequenz-Bits SE(1)–SE(3) und RE(1)–RE(3) für die ersten sechs Zyklen des CLOCK-Signals in 4 dargestellt.
  • Wie man in 1 sieht, umfasst der Ring-Oszillator 14 zweckmäßigerweise eine Gruppe aus N identischen Invertern 28(1)28(N), die in Serie geschaltet sind, um einen Ring zu bilden. Die PLL-Steuerungsvorrichtung 16 führt den Invertern 28 ein Leistungssignal VPL zu, um ihre Umschaltgeschwindigkeit zu steuern. Die Taktsignal-Ausgabe CLOCK der Quelle 12 und die T(1)-Referenzsignal-Ausgabe des Oszillators 14 werden der PLL-Steuerungsvorrichtung 16 als Eingaben zugeführt. Die Steuerungsvorrichtung 16 erhöht VPL, wenn T(1) dem Taktsignal CLOCK nacheilt, und verringert VPL, wenn T(1) dem Taktsignal CLOCK vorauseilt, wodurch T(1) mit dem Taktsignal CLOCK in Phase gebracht wird. Wenn die Inverter 28 identisch sind und das Referenzsignal T(1) mit dem Taktsignal CLOCK phasenverriegelt ist, sind die Impulse der Referenzsignale T(1)–T(N), die an den Ausgängen der Inverter 28 erscheinen, während jeder Periode des Taktsignals CLOCK in der Zeit gleichmäßig verteilt. Die Phasenregelkreis-Steuerungsvorrichtungen, die zur Verwendung als PLL-Steuerungsvorrichtung 16 geeignet sind, sind dem Fachmann geläufig.
  • Wie man ebenfalls in 1 sieht, enthält in dem bevorzugten Ausführungsbeispiel die programmierbare Logikschaltung 21 einen Zähler 22 und einen Speicher 24. Der Zähler 22 enthält ein internes Register zum Empfangen und Speichern eines Eingabe-Datenwertes LIMIT, der die Länge der DATA_OUT-Wort-Sequenz anzeigt. Der Zähler 22 zählt die Impulse des Taktsig nals CLOCK und erzeugt binäre Daten ADDR_OUT, welche die Anzahl der gezählten Impulse darstellen. Wenn Die ADDR_OUT-Daten den Wert LIMIT erreichen, setzt der Zähler 22 seine Ausgabezählung auf Null zurück. Die Logikschaltung 21 enthält einen adressierbaren 2N-Bit-Schreib-Lese-Speicher (RAM) 24. Ein Eingabe-Lese-Schreib-Steuerungssignal zeigt an, ob auf den Speicher 24 ein Lese- oder Schreib-Zugriff erfolgt. Die DATA_OUT-Segenz wird definiert durch Schreiben von Steuerungswörtern in den Speicher 24 bei den ersten M Speicheradressen, bei denen M der Wert von LIMIT ist. Ein Benutzer kann ein Steuerungswort an einer Adresse in den Speicher 24 schreiben, indem er das Steuerungswort auf eine Gruppe von Daten-Eingabeleitungen DATA_IN gibt, die Adressen auf eine Gruppe von Daten-Adressleitungen ADDR_IN gibt und das R/W-Signal bestätigt. Wenn das R/W-Signal nicht bestätigt wird, ist der Speicher 24 in seiner Lese-Betriebsart und wird durch die ADDR_OUT-Ausgabe des Zählers 22 adressiert. Bei jedem Impuls des Taktsignals CLOCK inkrementiert der Zähler 22 die Daten ADDR_OUT, um die aktuelle Adresse des Speichers 24 zu inkrementieren. In der Lese-Betriebsart reagiert der Speicher 24 durch Auslesen des parallelen 2N-Bit-Wortes DATA_OUT, das an der neuen Adresse gespeichert ist.
  • 5 veranschaulicht in Form eines Blockdiagramms einen Zeitabstimmungssignal-Generator 38 gemäß einem alternativen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Während der Generator 10 von 1 eine periodische Zeitabstimmungssignal-Ausgabe TIMING erzeugt, erzeugt der Generator 38 von 5 einen einzigen Zeitabstimmungssignal-Ausgabeimpuls TIMING zu einem genauen Zeitpunkt nach jedem Impuls eines extern erzeugten "NEXT"-Signals. Der Generator 38 enthält eine Taktsignal-Quelle 12', einen Ringoszillator 14', eine Phasenregelkreis-(PLL)-Steuerungsvorrichtung 16', N Setz-Schal tungen 19(1)'19(N)', N Rücksetz-Schaltungen 20(1)'20(N)', eine bistabile Signalspeicherschaltung (Latch) 23' und eine Signalspeicherschaltung (Latch) 40.
  • Die Vorrichtungen 12', 14', 16' und 23' sind ähnlich wie die Vorrichtungen 12, 14, 16 und 23 von 1. Die Signalspeicherschaltung (Latch) 40 von 5 ersetzt die programmierbare Logikschaltung 21 von 1, hat jedoch eine ähnliche Funktion und führt den Setz- und Rücksetz-Schaltungen 19' und 20' die 2N-Bit-Datenwörter DATA_OUT zu. Die Signalspeicherschaltung 40 verriegelt einfach ein eingegebenes 2N-Bit-Datenwort DATA_IN von einer externen Steuerungsvorrichtung und gibt es auf den Bus DATA_OUT als Reaktion auf jeden Impuls eines NEXT-Signals, das von der externen Steuerungsvorrichtung zugeführt wird.
  • Jede Setz-Schaltung 19(J)' enthält einen Flanken-Generator N(J)' und einen PMOS-Transistor QP(J)'. Der Flanken-Generator N(J)' jeder Setz-Schaltung 19(J)' hat drei Eingänge: das SE(J)-Bit des DATA_OUT-Wortes, das T(J)-Referenzsignal und ein Freigabe-Bit SET_ENABLE, das von dem Q-Ausgang eines Flipflops 42 stammt. Wenn alle drei Eingänge hoch sind, zieht der Flanken-Generator N(J) den Gate-Anschluss des PMOS-Transistors QW(J) nach unten, um den Ausgangsknoten 26' an VDD zu koppeln, wodurch das ausgegebene Zeitabstimmungssignal TIMING auf einen hohen Logikpegel gesteuert wird.
  • Jede Rücksetz-Schaltung 20(J)' enthält einen Flanken-Generator A(J)' und einen PMOS-Transistor QN(J)'. Der Flanken-Generator A(J)' jeder Rücksetz-Schaltung 20(J)' hat ebenfalls drei Eingänge: das RE(J)-Bit des DATA_OUT-Wortes, das T(J)-Referenzsignal und ein Rücksetz-Freigabe-Bit RESET_ENABLE, das von dem Q-Ausgang eines Flipflops 44 stammt. Wenn alle drei Eingänge hoch sind, zieht der Flanken-Generator A(J) den Gate-Anschluss des PMOS-Transistors QN(J) nach oben, um den Ausgangsknoten 26' an VSS zu koppeln, wodurch das ausgegebene Zeitabstimmungssignal TIMING auf einen tiefen Logikpegel gesteuert wird.
  • Die bistabile Signalspeicherschaltung (Latch) 23', die aus den Invertern I1' und I2' besteht, verriegelt das Zeitabstimmungssignal TIMING auf seinen momentanen hohen oder tiefen Logikpegel je nachdem, ob der Knoten 26' zuletzt mit VDD oder mit VSS verbunden war. Die Ausgabe des Inverters I2', die auch den Knoten 26' ansteuert, steuert den Rücksetz-Eingang des Flipflops 42 an. Die Ausgabe des Inverters I1' steuert den Rücksetz-Eingang des Flipflops 44 an. Das NEXT-Signal steuert die Setz-Eingänge der Flipflops 42 und 44 an.
  • Das NEXT-Signal teilt der Signalspeicherschaltung 40 mit, ein eingegebenes Datenwort DATA_IN auf dem DATA_OUT-Bus zu verriegeln und setzt auch die Flipflops 42 und 44, wodurch das Setz-Freigabe-Signal SET_ENABLE und das Rücksetz-Freigabe-Signal RESET_ENABLE auf den hohen Pegel gesteuert werden. Wenn ein Setz-Bit SE(J) des DATA_IN-Wortes auf dem hohen Pegel ist, während SET_ENABLE hoch ist, wird auf der Vorderflanke eines nächsten Impulses des Referenzsignals T(J) durch den Flanken-Generator N(J)' der Transistor QP(J)' eingeschaltet, wodurch der Knoten 26' an VDD gekoppelt wird und das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den hohen Wert gesteuert wird. Wenn das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den hohen Pegel geht, führt das Flipflop 42 eine Rücksetzung durch und steuert das Signal SET_ENABLE auf den tiefen Wert. Alle Flanken-Generatoren N(1)'–N(N)' sind daraufhin blockiert und können auf die Referenzsignale T(1)–T(N) bis zu einem nächsten Impuls des NEXT-Signals nicht reagieren.
  • Wenn ein Rücksetz-Bit RE(J) eines DATA_IN-Wortes auf dem hohen Pegel ist, während das Signal RESET_ENABLE auf dem hohen Pegel ist, wird auf ähnliche Weise auf der Vorderflanke eines nächsten Impulses des Referenzsignals T(J) der Transistor QN(J)' durch den Flanken-Generator A(J)' eingeschaltet, wodurch der Knoten 26' an VSS gekoppelt wird und das Zeitabstimmungssignal TIMINIG auf den tiefen Pegel gesteuert wird. Wenn das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den tiefen Pegel geht, steuert es den Ausgang des Inverters I1' auf den hohen Pegel, wodurch das Flipflop 44 rückgesetzt wird und das Signal RESET_ENABLE auf den tiefen Pegel gesteuert wird. Alle Flanken-Generatoren A(1)'–A(N)' sind daraufhin blockiert und können auf die Referenzsignale T(1)–T(N) bis zu einem nächsten Impuls NEXT-Signals nicht reagieren.
  • Somit kann nach jedem Impuls des NEXT-Signals der Zeitabstimmungssignal-Generator 38 den Impuls des Zeitabstimmungssignals TIMING einmal ausgeben. Die Zeitabstimmung der Vorder- und Rückflanken der Zeitabstimmungssignal-Impulse TIMING werden durch die Eingabe des DATA_IN-Wortes bestimmt, um die Signalspeicherschaltung 40 in dem Augenblick zu verriegeln, wenn sie den NEXT-Signalimpuls empfängt.
  • 6A veranschaulicht den Flanken-Generator N(1)' und den Transistor QP(1)' von 5 in ausführlicherer Form. Die Flanken-Generatoren N(2)'–N(N)' sind ähnlich wie N(1)'. Der Flanken-Generator N(1) enthält eine Reihe von Invertern 50, ein NAND-Gatter 51, ein AND-Gatter 54, einen Drei-Zustands-Puffer 52 und einen Inverter 53. Das Zeitabstimmungssignal T(1) wird einem Eingang des NAND-Gatters 51 direkt zugeführt, und einem weiteren Eingang des NAND-Gatters 51 über die Inverter 50 indirekt zugeführt. Eine ausreichende Anzahl von Invertern 50 ist vorgesehen, um die Ankunft von T(1) an dem zweiten Eingang des NAND-Gatters 51 um beinahe 1/2 Zyklus von T(1) zu verzögern, so dass die beiden Eingänge des NAND-Gatters 51 nur kurz gleichzeitig auf dem hohen Pegel sind. Somit erzeugt das NAND-Gatter 51 einen kurzen, negativ werdenden Ausgabe-Impuls während jedes Zyklus von T(1), wodurch der Drei-Zustands-Puffer 52 kurz freigegeben wird. Der Puffer 52 verbindet den Ausgang des AND-Gatters 54 mit dem Inverter 53. Die Signale SE(1) und SET_ENABLE steuern die Eingänge des AND-Gatters 54 an. Wenn SE(1) und SET_ENABLE auf dem hohen Pegel sind, während der Puffer 52 freigegeben ist, erzeugt der Inverter 53 einen kurzen, negativ werdenden Impuls, der den Gate-Anschluss des Transistors QP(1)' freigibt bzw. (stroboskopartig) ein- und ausblendet und QP(1)' kurzzeitig einschaltet. Der Inverter 53 ist derart vorgespannt, dass beim Drei-Zustands-Betrieb des Puffers 52 der Inverter an dem Gate-Anschluss des Transistors QP(1)' nach oben zieht, um QP(1)' ausgeschaltet zu halten.
  • 6B veranschaulicht den Flanken-Generator A(1)' und den Transistor QN(1)' von 5 in ausführlicherer Form. Die Flanken-Generatoren A(2)'–A(N)' sind ähnlich wie A(1)'. Der Flanken-Generator A(1)' enthält eine Reihe von Invertern 64, ein NAND-Gatter 65, einen Drei-Zustands-Puffer 66, einen Verstärker 67 und ein NAND-Gatter 68. Das Zeitabstimmungssignal T(1) wird einem Eingang des NAND-Gatters 65 direkt zugeführt und einem weiteren Eingang des NAND-Gatters 65 über die Inverter 64 indirekt zugeführt. Das NAND-Gatter 65 erzeugt einen kurzen, negativ werdenden Ausgabe-Impuls während jedes Zyklus von T(1), wodurch der Drei-Zustands-Puffer 66 kurzzeitig freigegeben wird. Der Puffer 66 verbindet den Ausgang des NAND-Gatters 68 mit dem Verstärker 76. Das NAND-Gatter 68 empfängt die Signale RE(1) und RESET_ENABLE. Wenn RE(1) und RESET_ENABLE beide auf dem hohen Pegel sind, während der Puffer 66 freigegeben ist, erzeugt der Verstärker 67 einen kurzen, positiv werdenden Impuls, der den Gate-Anschluss des Transistors QN(1)' freigibt bzw. (stroboskopartig) ein- und ausblendet und ihn kurzzeitig einschaltet. Der Verstärker 67 ist so vorgespannt, dass bei einem Drei-Zustands-Betrieb des Puffers 66 der Verstärker 67 an dem Gate-Anschluss des Transistors QN(1)' nach unten zieht, um QN(1)' ausgeschaltet zu halten.
  • 7 ist ein Zeitabstimmungs-Diagramm bzw. Signalverlaufsdiagramm, das den Betrieb der Schaltung von 5 für ein vereinfachtes Beispiel zeigt, bei den N = 3, wobei der Benutzer das Signal DATA_IN so eingestellt hat, dass nur die Signale SE(2) und RE(3) bestätigt werden. Wenn, wie in 5 und 7 gezeigt, eine externe Steuerungsvorrichtung der NEXT-Signal-Eingabe einen Impuls zuführt, um die Signalspeicherschaltung 40 während einer Periode P1 zu verriegeln, gibt die Signalspeicherschaltung 40 ein eingegebenes DATA_IN-Wort als DATA_OUT-Wort aus, bei dem die Bits SE(2) und RE(3) auf dem hohen Pegel sind. Bei dem nächsten Referenzsignal-Impuls T(2), der während der Periode P2 auftritt, wird das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den hohen Pegel gesteuert. Daraufhin wird bei dem nächsten Referenzsignal-Impuls T(3) das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den tiefen Pegel gesteuert. Später, wenn während der Periode P4 die externe Steuerungsvorrichtung veränderte Daten DATA_IN hat, so dass nur das Bit SE(3) auf dem hohen Pegel ist, gibt die externe Steuerungsvorrichtung erneut einen Impuls auf das NEXT-Signal. Das Zeitabstimmungssignal TIMING wird dann als Reaktion auf einen T(3)-Impuls auf den hohen Pegel gesteuert. Noch später während der Periode P6 gibt die externe Steuerungsvorrichtung erneut einen Impuls auf das NEXT-Signal, nachdem ein neuer DATA_IN-Wert an die Signalspeicherschaltung 40 abgegeben wurde, in der nur das Bit RE(1) auf dem hohen Pegel ist. Anschließend wird auf den nächsten T(1)-Impuls das Zeitabstimmungssignal TIMING auf den tiefen Pegel gesteuert. Die Zeitabstimmungssignal-Generator-Schaltung 38 von 4 erzeugt daher nicht-periodische Zeitabstimmungssignal-Impulse TIMING, bei denen die externe Steuerungsvorrichtung die Zeitabstimmung und Weite der Impulse steuert, indem geeignete DATA_IN-Wörter der Signalspeicherschaltung 40 zugeführt werden und die Impulse des NEXT-Signals in geeigneter Weise zeitabgestimmt werden.
  • Somit wurden bevorzugte und alternative Ausführungsbeispiele eines Zeitabstimmungssignal-Generators gezeigt und beschrieben, der zur Erzeugung nutzer-definierter periodischer und nicht-periodischer Zeitabstimmungssignale mit Impulsen bestimmt ist, die bezüglich eines Referenz-Taktsignals zeitabgestimmt sind. In jedem der Ausführungsbeispiele steuert der Benutzer die Zeitabstimmung von Signal-Impulsen mit einer Auflösung, die feiner als die Periode des Referenz-Taktes ist.
  • In der obigen Beschreibung wurden zwar bevorzugte und alternative Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung beschrieben, doch sind dem Fachmann zahlreiche Abwandlungen der bevorzugten Ausführungsbeispiele geläufig, ohne dabei den Bereich der Erfindung in ihrem weiteren Sinne zu verlassen. Die beigefügten Ansprüche sollen daher sämtliche derartigen Abwandlungen abdecken, die innerhalb des wirklichen Rahmens der Erfindung liegen.

Claims (7)

  1. Gerät zum Erzeugen eines Zeitabstimmungs-Signals (TIMING) an einem Ausgangsknoten (26), wobei das Gerät aufweist: ein Mittel (12) zum Erzeugen eines Taktsignals (CLOCK), ein Mittel (14, 16) zum Empfangen des Taktsignals und Erzeugen N periodischer Referenzsignale (T(1)–T(N)), die in der Phase verteilt und mit dem Taktsignal frequenzverriegelt sind, wobei N größer als 1 ist; eine erste Quelle (VDD) mit einer hohen Logikpegel-Spannung; und eine zweite Quelle (VSS) mit einer tiefen Logikpegel-Spannung, wobei die Vorrichtung gekennzeichnet ist durch: ein Mittel (21) zum Erzeugen einer Gruppe von N Setz-Signalen (SE(1)–SE(N)) und einer Gruppe von N Rücksetz-Signalen (RE(1)–RE(N)); eine Gruppe von N Setz-Schaltungen (N(1)–N(N)), die jeweils ein gesondertes Signal der N Setz-Signale empfangen, sowie jeweils ein gesondertes Signal der N-Referenz-Signale empfangen, und die jeweils als Reaktion auf eine Flanke eines Impulses ihres empfangenen Referenz-Signals den Ausgangsknoten mit der ersten Quelle koppeln, wenn ihr empfangenes Setz-Signal bestätigt wird, und die den Ausgangsknoten von der ersten Quelle innerhalb einer ersten festgelegten Zeit danach abkoppeln, wobei die erste festgelegte Zeit kleiner als eine Dauer des Impulses ihres empfangenen Referenz-Signals ist; und eine Gruppe von N Rücksetz-Schaltungen (A(1)–A(N)), die jeweils ein gesondertes Signal der N Rücksetz-Signale empfangen, sowie jeweils ein gesondertes Signal der N-Referenz-Signale empfangen, und die jeweils als Reaktion auf eine Flanke eines Impulses ihres empfangenen Referenz-Signals den Ausgangsknoten mit der zweiten Quelle koppeln, wenn ihr empfangenes Rücksetz-Signal bestätigt wird, und die den Ausgangsknoten von der zweiten Quelle innerhalb einer festgelegten Zeit danach abkoppeln, wobei die zweite festgelegte Zeit kleiner als eine Dauer des Impulses ihres empfangenen Referenz-Signals ist.
  2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass es außerdem ein bistabiles Schaltungsmittel (23) aufweist, das mit dem Ausgangsknoten verbunden ist, um eine Logikpegel-Spannung des Ausgangsknotens zu erfassen, wenn der Ausgangsknoten mit der einen oder der anderen der ersten und der zweiten Quellen gekoppelt ist, und um zu halten den Ausgangsknoten auf der erfassten Logikpegel-Spannung, wenn der Ausgangsknoten mit der einen oder der anderen der ersten und der zweiten Quellen nicht mehr gekoppelt ist.
  3. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der Setz-Schaltungen aufweist: ein erstes Flankengenerator-Mittel (N(1)), das eines der Setz-Signale und eines der Referenz-Signale empfängt und einen ersten Ausgangssignal-Impuls als Reaktion auf eine Flanke eines Impulses des einen Signals der Referenz-Signale erzeugt, wenn das eine Signal der Setz-Signale bestätigt wird; und einen ersten Transistor (QP(1)) zum Empfangen des ersten Ausgangssignal-Impulses und Bereitstellen eines Signalsweges zwischen der ersten Quelle und dem Ausgangsknoten beim Empfangen des ersten Ausgangssignal-Impulses.
  4. Gerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der Rücksetz-Schaltungen aufweist: ein zweites Flankengenerator-Mittel (A(1)), das eines der Rücksetz-Signale und eines der Referenz-Signale empfängt und einen ersten Ausgangssignal-Impuls als Reaktion auf eine Flanke eines Impulses des einen Signals der Referenz-Signale erzeugt, wenn das eine Signal der Rücksetz-Signale bestätigt wird; und einen zweiten Transistor (QN(1)) zum Empfangen des zweiten Ausgangsignal-Impulses und Bereitstellen eines Signalweges zwischen der zweiten Quelle und dem Ausgangsknoten beim Empfangen des zweiten Ausgangssignal-Impulses.
  5. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel zum Erzeugen der Gruppe aus N Setz-Signalen und der Gruppe aus N-Rücksetz-Signalen ein Mittel (22, 24) aufweist zum Speichern einer Sequenz aus Mehrfach-Bit-Datenwörtern, zum sequenziellen Auslesen der gespeicherten Datenwörter, und zum Erzeugen der Setz- und der Rücksetz-Signale, wobei gesonderte Bits jedes ausgelesenen Datenwortes eine Bestätigung gesonderter Signale der Setz- und Rücksetz-Signale steuern.
  6. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel zum Erzeugen der Gruppe aus N-Setz-Signalen und der Gruppe aus N Rücksetz-Signalen aufweist: ein Mittel (22) zum Empfangen von Impulsen des Taktsignals und Erzeugen eines Ausgangs-Zählwerts der Impulse; und ein Speichermittel (24), das durch den Ausgangs-Zählwert adressiert wird, zum Speichern einer Sequenz aus Mehrfach-Bit-Datenwörtern bei aufeinander folgenden Adressen und zum Auslesen jedes der Datenwörter, wenn es durch den Zählwert adressiert wird, wobei die Bits jedes ausgelesenen Datenwortes die Setz- und Rücksetz-Signale bilden.
  7. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Mittel zum Empfangen des Taktsignals und Erzeugen N periodischer Referenzsignale, die in der Phase verteilt und mit dem Taktsignal frequenzverriegelt sind, aufweist: einen Ring-Oszillator (14) zum Erzeugen der Gruppe von Refe- renz-Signalen, die in der Phase verteilt sind, wobei die Referenz-Signale eine Frequenz haben, die durch ein Eingangsfrequenz-Steuerungssignal gesteuert wird; und eine Phasenregelkreis-Steuerungsvorrichtung (16), die das Taktsignal und eines der Referenz-Signale empfängt, zum Einstellen des Frequenz-Steuerungssignals derart, dass das eine Signal der Referenz-Signale mit dem Taktsignal phasenverriegelt ist.
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Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/574,333 US5689690A (en) 1995-09-25 1995-12-18 Timing signal generator
US574333 1995-12-18
PCT/US1996/018849 WO1997022916A1 (en) 1995-12-18 1996-11-21 Timing signal generator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
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Country Status (6)

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US (1) US5689690A (de)
EP (1) EP0868687B1 (de)
JP (1) JP3329470B2 (de)
KR (1) KR100350356B1 (de)
DE (1) DE69636226T2 (de)
WO (1) WO1997022916A1 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5832255A (en) * 1996-03-22 1998-11-03 Sharp Microelectronics Technology, Inc. System and method for selecting a signal source to trigger a microprocessor counter/timer macro cell
US5898329A (en) * 1996-12-31 1999-04-27 Stmicroelectronics, Inc. Programmable pulse width modulation circuit
US5822228A (en) * 1997-05-27 1998-10-13 Lsi Logic Corporation Method for using built in self test to characterize input-to-output delay time of embedded cores and other integrated circuits
US5854797A (en) * 1997-08-05 1998-12-29 Teradyne, Inc. Tester with fast refire recovery time
US5909404A (en) * 1998-03-27 1999-06-01 Lsi Logic Corporation Refresh sampling built-in self test and repair circuit
KR100551475B1 (ko) * 2004-08-31 2006-02-14 삼성전자주식회사 비주기 클록옵션을 가지는 메모리 모듈과 모듈용 메모리칩 및 허브 칩

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4231104A (en) * 1978-04-26 1980-10-28 Teradyne, Inc. Generating timing signals
JPS6055458A (ja) * 1983-09-05 1985-03-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Cmosトランジスタ回路
JPS60261216A (ja) * 1984-06-08 1985-12-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd マルチプレクサ
JPS61263313A (ja) * 1985-05-17 1986-11-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd セレクタ付ラツチ回路
US4809221A (en) * 1987-01-28 1989-02-28 Megatest Corporation Timing signal generator
US5274796A (en) * 1987-02-09 1993-12-28 Teradyne, Inc. Timing generator with edge generators, utilizing programmable delays, providing synchronized timing signals at non-integer multiples of a clock signal
US4855681A (en) * 1987-06-08 1989-08-08 International Business Machines Corporation Timing generator for generating a multiplicty of timing signals having selectable pulse positions
US4928278A (en) * 1987-08-10 1990-05-22 Nippon Telegraph And Telephone Corporation IC test system
US5293082A (en) * 1988-06-21 1994-03-08 Western Digital Corporation Output driver for reducing transient noise in integrated circuits
US5212443A (en) * 1990-09-05 1993-05-18 Schlumberger Technologies, Inc. Event sequencer for automatic test equipment
US5153450A (en) * 1991-07-16 1992-10-06 Samsung Semiconductor, Inc. Programmable output drive circuit
US5189319A (en) * 1991-10-10 1993-02-23 Intel Corporation Power reducing buffer/latch circuit
US5216289A (en) * 1991-10-24 1993-06-01 Intel Corporation Asynchronous reset scheme for ultra-low noise port tri-state output driver circuit
US5170073A (en) * 1991-10-24 1992-12-08 Intel Corporation Ultra-low noise port output driver circuit
US5164612A (en) * 1992-04-16 1992-11-17 Kaplinsky Cecil H Programmable CMOS flip-flop emptying multiplexers
US5345186A (en) * 1993-01-19 1994-09-06 Credence Systems Corporation Retriggered oscillator for jitter-free phase locked loop frequency synthesis
US5552733A (en) * 1993-01-19 1996-09-03 Credence Systems Corporation Precise and agile timing signal generator based on a retriggered oscillator

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