DE69011713D1 - Schaltung und Verfahren zur Feststellung eines elektrischen Stromflusses in einem MOS-Transistor. - Google Patents
Schaltung und Verfahren zur Feststellung eines elektrischen Stromflusses in einem MOS-Transistor.Info
- Publication number
- DE69011713D1 DE69011713D1 DE69011713T DE69011713T DE69011713D1 DE 69011713 D1 DE69011713 D1 DE 69011713D1 DE 69011713 T DE69011713 T DE 69011713T DE 69011713 T DE69011713 T DE 69011713T DE 69011713 D1 DE69011713 D1 DE 69011713D1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- determining
- circuit
- mos transistor
- current flow
- electrical current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/175—Indicating the instants of passage of current or voltage through a given value, e.g. passage through zero
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2621—Circuits therefor for testing field effect transistors, i.e. FET's
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8901230A FR2642176B1 (fr) | 1989-01-20 | 1989-01-20 | Dispositif et procede de detection du passage d'un courant dans un transistor mos |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69011713D1 true DE69011713D1 (de) | 1994-09-29 |
DE69011713T2 DE69011713T2 (de) | 1995-04-06 |
Family
ID=9378327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69011713T Expired - Fee Related DE69011713T2 (de) | 1989-01-20 | 1990-01-16 | Schaltung und Verfahren zur Feststellung eines elektrischen Stromflusses in einem MOS-Transistor. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5004970A (de) |
EP (1) | EP0389383B1 (de) |
JP (1) | JP3168571B2 (de) |
DE (1) | DE69011713T2 (de) |
FR (1) | FR2642176B1 (de) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3924988C2 (de) * | 1989-07-28 | 2002-08-01 | Continental Teves Ag & Co Ohg | Schaltungsanordnung zur Ansteuerung des Sicherheitsrelais einer elektronisch geregelten Bremsanlage eines Kraftfahrzeugs |
DE4117099A1 (de) * | 1991-03-30 | 1992-10-01 | Teves Gmbh Alfred | Schaltungsanordnung fuer einen regler |
US5272399A (en) * | 1992-02-25 | 1993-12-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Circuit limiting the load current of a power MOSFET |
DE4209167A1 (de) * | 1992-03-20 | 1993-09-23 | Siemens Ag | Schalt- und ueberwachungseinheit fuer elektrische antriebe |
US5343141A (en) * | 1992-06-09 | 1994-08-30 | Cherry Semiconductor Corporation | Transistor overcurrent protection circuit |
FR2697115B1 (fr) * | 1992-10-21 | 1995-01-06 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit de détection de charge ouverte. |
US5528127A (en) * | 1994-05-17 | 1996-06-18 | National Semiconductor Corporation | Controlling power dissipation within a linear voltage regulator circuit |
DE19520735C2 (de) * | 1995-06-07 | 1999-07-01 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststroms eines Leistungs-Halbleiterbauelementes mit sourceseitiger Last |
DE19602121C1 (de) * | 1996-01-22 | 1997-06-05 | Siemens Ag | Strombegrenzungsschaltung |
WO1998007038A1 (de) * | 1996-08-14 | 1998-02-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltungsanordnung zum erfassen des laststroms eines leistungs-halbleiterbauelements mit sourceseitiger last |
SG71920A1 (en) * | 1998-04-27 | 2000-04-18 | Texas Instruments Inc | Method and apparatus for driving a polyphase brushless dc motor |
DE19838657B4 (de) * | 1998-08-25 | 2008-01-24 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststromes eines Leistungs-Feldeffekt-Halbleiterbauelementes |
DE19918042C2 (de) * | 1999-04-21 | 2001-05-31 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zur Unterstromerkennung an einem MOS-Leistungstransistor |
DE10019240A1 (de) * | 2000-04-18 | 2001-10-31 | Fujitsu Siemens Computers Gmbh | Schaltungsanordnung zur Messung der Stromaufnahme einer transistorgesteuerten Last |
DE10057486A1 (de) * | 2000-06-15 | 2016-10-13 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erkennung eines Defekts von Halbleiterschaftelementen und dessen/deren Verwendung in Kraftfahrzeugen, insbesondere Bremskraft- und Fahrdynamikreglern |
US6519127B1 (en) | 2000-10-03 | 2003-02-11 | Compaq Computer Corporation | Solid state safety relay |
DE10103920A1 (de) * | 2001-01-30 | 2002-08-22 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung mit einem Lasttransistor und einer Strommessanordnung |
US6816349B1 (en) * | 2002-06-27 | 2004-11-09 | Micrel, Inc. | Integrated power switch with current limit control and a method of use |
US7071664B1 (en) * | 2004-12-20 | 2006-07-04 | Texas Instruments Incorporated | Programmable voltage regulator configurable for double power density and reverse blocking |
JP4689473B2 (ja) * | 2005-05-16 | 2011-05-25 | シャープ株式会社 | 直流安定化電源回路 |
US7548799B2 (en) | 2006-07-25 | 2009-06-16 | Silicon Laboratories, Inc. | Powered device including a detection signature resistor |
US7979168B2 (en) * | 2006-07-25 | 2011-07-12 | Silicon Laboratories Inc. | Powered device including a multi-use detection resistor |
US7759908B2 (en) * | 2006-12-28 | 2010-07-20 | Draeger Medical Systems, Inc. | Electronic device identification system |
DE102007058314B4 (de) * | 2007-12-04 | 2018-11-15 | Diehl Aerospace Gmbh | Vorrichtung zum Messen eines Laststroms |
DE102008059853B4 (de) * | 2008-12-01 | 2013-09-19 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung mit einem Lasttransistor und einem Messtransistor |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5244420B2 (de) * | 1973-06-11 | 1977-11-08 | ||
US4021701A (en) * | 1975-12-08 | 1977-05-03 | Motorola, Inc. | Transistor protection circuit |
FR2470484A1 (fr) * | 1979-11-23 | 1981-05-29 | Thomson Csf | Procede de commande d'un montage darlington et montage darlington a faibles pertes |
US4319181A (en) * | 1980-12-24 | 1982-03-09 | Motorola, Inc. | Solid state current sensing circuit |
JPS59114923A (ja) * | 1982-12-22 | 1984-07-03 | Hitachi Ltd | Mosfetの駆動回路 |
DE3341345A1 (de) * | 1983-11-15 | 1985-05-23 | SGS-ATES Deutschland Halbleiter-Bauelemente GmbH, 8018 Grafing | Laengsspannungsregler |
US4599554A (en) * | 1984-12-10 | 1986-07-08 | Texet Corportion | Vertical MOSFET with current monitor utilizing common drain current mirror |
US4703390A (en) * | 1986-05-27 | 1987-10-27 | Motorola, Inc. | Integrated circuit power timer |
US4750079A (en) * | 1986-05-27 | 1988-06-07 | Motorola, Inc. | Low side switch integrated circuit |
-
1989
- 1989-01-20 FR FR8901230A patent/FR2642176B1/fr not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-01-12 JP JP00372690A patent/JP3168571B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1990-01-16 DE DE69011713T patent/DE69011713T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-01-16 EP EP90420022A patent/EP0389383B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-01-19 US US07/467,459 patent/US5004970A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0389383A2 (de) | 1990-09-26 |
JP3168571B2 (ja) | 2001-05-21 |
FR2642176B1 (fr) | 1991-05-03 |
EP0389383A3 (de) | 1991-05-02 |
FR2642176A1 (fr) | 1990-07-27 |
JPH02233007A (ja) | 1990-09-14 |
US5004970A (en) | 1991-04-02 |
DE69011713T2 (de) | 1995-04-06 |
EP0389383B1 (de) | 1994-08-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69011713T2 (de) | Schaltung und Verfahren zur Feststellung eines elektrischen Stromflusses in einem MOS-Transistor. | |
DE69726668D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung einer Speicherschaltung in einer Halbleitereinrichtung | |
DE3585204D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur entdeckung eines objekts. | |
DE69421393D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur erfassung und analyse von fehlern an lagern und anderen gleitend rotierenden komponenten | |
DE69202430T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von elektrischen Simultanverbindungen. | |
DE68922727D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung für die Teilentladungsdetektion. | |
DE69216130D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur verbesserten Verteilung von elektronischen Mitteilungen | |
DE3584415D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum ziehen dicker filmschaltungen. | |
ATE26772T1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur verminderung elektrischer beanspruchung. | |
DE68925813T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zum nachweis von fehlern in halbleiterschaltungen | |
DE69910919D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung für einen Schaltkreis mit einem sättigbaren Kernvorrichtung | |
DE59309599D1 (de) | Verfahren und Anordnung zur Erkennung von Kurzschlüssen in Leitungsabzweigen von elektrischen Netzen | |
DE68901660T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur positionierung von elektrischen bauelementen. | |
DE3874617D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum kompensieren der offset-gleichspannung in einem elektromagnetischen durchflussmesser. | |
DE3688048T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur aufbereitung von durch partikel erzeugten elektrischen impulsen. | |
DE59009864D1 (de) | Verfahren und Schaltung zur Auswertung von kontinuierlich auftretenden Zeitmarken. | |
DE69724737D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Speicherschaltungen | |
DE69401227T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Zusammenschalten von elektrischen Schaltungen | |
DE3770307D1 (de) | Verfahren und einrichtung zur sendung elektrischen stromes mit einem transistor in eine schaltung. | |
DE69617336D1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung von Einzelbitfehlern in integrierten Speicherschaltungen | |
DE3670738D1 (de) | Vorrichtung zur justierung eines netzwerkes in einem integrierten halbleiterkreis. | |
DE3674030D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur umsetzung eines prestel-kodes in einen naplps-kode. | |
DE3582494D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur kalibrierung der ablenkung in einem oszilloskop. | |
DE68916412D1 (de) | Halbleiteranordnung mit einem eingefügten Gate und Verfahren zur Herstellung. | |
DE59202857D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Abschalten eines Uberstromes bei einem Wechselrichter. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |