DE60310077T2 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung eines satzes von parametern von aufnahme-pulsen zum aufnehmen auf optischen datenträgern, und optischer datenträger - Google Patents

Description

• Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Werte eines Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie zum Aufzeichnen auf optischen Trägern, wobei die Aufzeichnungsimpulsserie auf eine Aufzeichnungsoberfläche eines optischen Aufzeichnungsträgers zum Schreiben eines Musters optisch lesbarer Marken auf den Aufzeichnungsträger angewendet wird und wobei je eine Aufzeichnungsimpulsserie eine Marke bildet, wobei das Verfahren umfasst: das Schreiben eines Schreibtests, wobei jeder Schreibtest eine Anzahl N von Testmustern umfasst und jedes Testmuster vorher festgelegte Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie umfasst, und wobei diese Werte sich für alle Testmuster unterscheiden; und das Lesen des Testmusters und das Bilden eines Lesesignals; und das Messen der Jitter-Werte des Lesesignals, die den jeweiligen Testmustern entsprechen.
• Die Erfindung betrifft außerdem eine Einrichtung zur Bestimmung der Werte eines Parametersatzes für eine Aufzeichnungsimpulsserie zum Aufzeichnen auf optischen Trägern, wobei die Einrichtung Aufzeichnungsmittel zum Schreiben eines Musters optisch lesbarer Marken auf einen Aufzeichnungsträger durch Bestrahlen einer Aufzeichnungsoberfläche des Aufzeiehnungsträgers mit Aufzeichnungsimpulsserien umfasst, wobei je eine Aufzeichnungsimpulsserie eine Marke bildet; und einen Testsignalgenerator zum Generieren eines Testsignals, das ein Testmuster umfasst, und zum Zuführen des Testsignals an einen Eingang der Aufzeichnungsmittel; und Lesemittel zum Lesen von Marken auf dem Aufzeichnungsträger und zum Bereitstellen des Lesesignals; und einen Jitter-Detektor zum Messen der Jitter-Werte des Lesesignals, das dem jeweiligen Testmuster entspricht, und zum Zuführen des Jitter-Signals an die Steuermittel; und Steuermittel zur Optimierung der Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie und zum Bereitstellen eines Steuersignals, das den optimierten Parametersatz für die Aufzeichnungsimpulsserie darstellt; und Verarbeitungsmittel zum Umwandeln aufzuzeichnender Eingangsinformationen in ein Ausgangssignal, das den Aufzeichnungsmitteln zugeführt wird, wobei das Ausgangssignal der Strahlungsimpulsserie entspricht und die Eingangsinformationen darstellt, wobei optimierte Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie vom Steuersignal geliefert werden.
• Die Erfindung betrifft des Weiteren einen durch ein Strahlenbündel beschreibbaren optischen Aufzeichnungsträger, der ein Substrat und auf dem Substrat Mittel mit Steuerinformationen umfasst.
• In der japanischen Patentanmeldung Nr. 11005244 wird ein solches Verfahren zum Beschreiben optischer Aufzeichnungsträger mit optimierten Aufzeichnungsimpulsparametern beschrieben. Gemäß dem bekannten Verfahren wird ein Schreibtest mit Standardwerten der Schreibimpulsparameter durchgeführt.
• Anschließend werden Schreibtests durch Auswertungsparameter (z. B. Jitter) ausgewertet und Eigenschaften einer Näherungsformel für Auswertungsparameter bestimmt. Zuletzt werden die optimierten Werte der Aufzeichnungsimpulsparameter anhand der Näherungsformel berechnet. Das bekannte Verfahren erfordert jedoch komplizierte Berechnungen für jeden spezifischen Satz von Standardwerten der Schreibtests und wendet die Näherungsformel an, die weder skalierbar noch universal ist.
• Die Patentschrift EP 0 865 035 A2 , die für eine Abgrenzung in zweiteiliger Form verwendet wird, beschreibt ein Signalaufzeichnungsverfahren, eine Schaltung zur Erkennung der Phasendifferenz und ein Gerät zur Informationsspeicherung. Beim Anwenden eines Asymmetrietest-Schreibens auf Phase-Change-Aufzeichnungsplatten wird beabsichtigt, den optimalen Aufzeichnungsleistungspegel exakt zu bestimmen. Einzelmuster- oder Zufallsmustersignale werden aufgezeichnet, und Phasendifferenzen zwischen PLL-Taktflanken und Datenflanken werden mit Hilfe reproduzierter Signale zur Bestimmung eines Schwellenwerts der Aufzeichnungsleistung erkannt, wobei ein bestimmter Prozentanteil an Phasendifferenzen auftritt. Der Schwellenwert der Aufzeichnungsleistung wird anschließend mit einer Konstanten multipliziert, um einen optimalen Aufzeichnungsleistungspegel zu erhalten. Darüber hinaus werden Einrichtungen zur Bestimmung einer optimalen Leistungsbedingung an einem Punkt, an dem eine Fehlerzahl (Jitter) minimiert wird, und zur Bestimmung einer optimalen Leistungsbedingung als durchschnittlichem Leistungspegel, der zwischen den Bedingungen mit hoher und niedriger Leistung existiert, beschrieben.
• Die Patentschrift WO 99/30316 A2 beschreibt ein Verfahren zur Optimierung der Aufzeichnungsbedingungen zum Schreiben von Informationen auf einen optischen Aufzeichnungsträger. Die Informationen werden in Form optisch erkennbarer Marken auf den Aufzeichnungsträger geschrieben, wobei jede Marke durch eine Strahlungsimpulsserie geschrieben wird. Zur Optimierung wird eine Reihe von Testmustern auf den Aufzeichnungsträger geschrieben. Ein Jitter-Detektor misst den Jitter an der Vorderflanke (ansteigende Flanke) und an der Rückflanke (abfallende Flanke) des Lesesignals. Der Jitter an der Vorderflanke wird zur Optimierung des Werts eines Parameters verwendet, der nur den vorderen Teil einer Impulsserie beeinflusst. Der Jitter an der Rückflanke wird zur Optimierung eines Parameters verwendet, der nur den hinteren Teil der Impulsserie beeinflusst.
• Die Patentschrift WP 02/470702 A1 beschreibt ein Verfahren und ein optisches Aufzeichnungsgerät zur Bestimmung der optimalen Schreibleistung in einem OPC-Verfahren. Das Verfahren umfasst das Löschen eines Testbereichs, das Aufzeichnen von Testmustern in dem Testbereich, das Lesen der aufgezeichneten Testmuster und das Bestimmen der optimalen Schreibleistung aus Signalanteilen des Lesesignals. Das Löschen des Testbereichs, auch wenn keine Signale darin aufgezeichnet wurden, erzeugt einen zuverlässigen und eindeutigen Wert für die optimale Schreibleistung.
• Aufgabe der Erfindung ist es, ein universales Verfahren und eine Einrichtung zur Bestimmung der Werte der Aufzeichnungsimpulsparameter für die Aufzeichnung auf optischen Trägern zu schaffen. Aufgabe der Erfindung ist es ferner, eine Einrichtung zu schaffen, die die Durchführung eines solchen Verfahrens ermöglicht.
• Die erste Aufgabe wird durch das Verfahren nach Anspruch 1 gelöst. Ein weiteres Merkmal der Erfindung ist, dass die Mindestanzahl N_min der Testmuster von einer Anzahl P der Parameter für die Aufzeichnungsimpulsserie gemäß der Gleichung N_min = 2·P + 1 abhängig ist. Das Muster der optisch lesbaren Marken kann beispielsweise einer RLL-Codesequenz (Run Length Limited) entsprechen. Darüber hinaus kann der Satz der optimierten Werte der Parameter für die Aufzeichnungsimpulsserie auf dem optischen Aufzeichnungsträger aufgezeichnet werden. Die Erfindung ist in ihrer Ausführungsform dadurch gekennzeichnet, dass die Testmuster eine Zufalls-RLL-Codesequenz umfassen. In einer anderen Ausführungsform gibt der Parameter eine Strahlungsleistung von einem der Aufzeichnungsimpulse aus der Aufzeichnungsimpulsserie oder eine Breite von einem der Aufzeichnungsimpulse aus der Aufzeichnungsimpulsserie an. In der bevorzugten Ausführungsform unterscheiden sich die Parameter für 3T-Marken von den Parametern für längere Marken, wobei T die Zeitdauer einer Periode eines Referenztaktes in einem Datensignal darstellt.
• Die zweite Aufgabe der Erfindung wird durch eine Einrichtung nach Anspruch 8 gelöst. Darüber hinaus kann die Einrichtung Speichermittel zum Speichern von Koeffizienten der linearen Abhängigkeit zwischen den Werten eines Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserien und den relativen Jitter-Werten umfassen.
• Speichermittel können auch zum Speichern des Satzes der optimierten Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie genutzt werden.
• Die Aufgaben, Merkmale und Vorteile der Erfindung werden anhand der nachfolgenden ausführlicheren Beschreibung der Ausführungsformen der Erfindung und der beiliegenden Zeichnungen erläutert und verständlich. Es zeigen:
• 1 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungseinrichtung;
• 2 die Jitter-Werte in Abhängigkeit vom Aufzeichnungsleistungspegel (dem Aufzeichnungsimpulsparameter) der Laserstrahlung, die an eine nichtlineare Kurve angepasst sind;
• 3 einen erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungsträger;
• 4 einen stark vergrößerten Teilbereich der Spur, die ein Muster von Marken umfasst, in denen die Steuerinformationen codiert sind;
• 1 zeigt eine Einrichtung und einen erfindungsgemäßen Aufzeichnungsträger 1 zum optischen Aufzeichnen. Der scheibenförmige Aufzeichnungsträger 1 umfasst ein transparentes Substrat 3 und eine darauf aufgebrachte Aufzeichnungsbeschichtung 5. Die Aufzeichnungsbeschichtung 5 umfasst ein Material, das zum Schreiben von Informationen mit Hilfe eines Strahlenbündels geeignet ist. Bei dem Aufzeichnungsmaterial kann es sich um ein Phasenwechselmaterial, Farbstoff oder ein anderes zur optischen Aufzeichnung geeignetes Material handeln. Informationen können auf den Aufzeichnungsträger 1 in Form von optisch erkennbaren Marken oder Zwischenräumen (Lands) auf dem Aufzeichnungsträger aufgezeichnet werden.
• Die Einrichtung umfasst eine Strahlungsquelle, beispielsweise einen Halbleiterlaser 11, zum Aussenden eines Strahlenbündels. Eine Marke wird gebildet, wenn die Aufzeichnungsbeschichtung 5 des aufzeichnenden Aufzeichnungsträgers 1 einem einzelnen Aufzeichnungsimpuls der Strahlung ausgesetzt wird, der durch einen Aufzeichnungsimpulsparameter gekennzeichnet ist, welcher bei dieser Ausführungsform ein Aufzeichnungsleistungspegel ist. Eine Marke kann auch durch eine Serie von Strahlungsimpulsen gleicher oder unterschiedlicher Länge und einem oder mehreren Aufzeichnungsleistungspegeln geschrieben werden. Das Strahlenbündel wird auf die Aufzeichnungsbeschichtung 5 über einen Strahlenteiler 13, eine Objektivlinse 13 und das Substrat 3 konvergiert. Der Aufzeichnungsträger 1 kann auch „air-incident" sein, wobei das Strahlenbündel direkt auf die Aufzeichnungsbeschichtung 5 konvergiert wird, ohne das Substrat 3 zu durchlaufen. Der Halbleiterlaser 11, der Strahlenteiler 13 und die Objektivlinse 15 bilden zusammen eine Aufzeichnungseinheit 17.
• Die Einrichtung umfasst außerdem eine Verarbeitungseinheit 21, die beispielsweise aus einem Prozessor der Verarbeitungseinheit 21 besteht, wobei unter Prozessor alle Mittel zu verstehen sind, die zur Durchführung von Berechnungen geeignet sind, z. B. ein Mikroprozessor oder ein digitaler Signalprozessor. Ein Signal S (z. B. ein Informationssignal oder ein Testsignal), das die auf den Aufzeichnungsträger zu schreibenden Informationen darstellt, wird dem Prozessor der Verarbeitungseinheit 21 zugeführt. Die Verarbeitungseinheit 21 bestimmt den Parametersatz für die Aufzeichnungsimpulsserie zum Aufzeichnen der Informationen auf den Aufzeichnungsträger 1. In der spezifischen Ausführungsform umfasst der Parametersatz für die Aufzeichnungsimpulsserie den Aufzeichnungsleistungspegel des Aufzeichnungsimpulses. Die Bestimmung der Aufzeichnungsleistungspegel wird unter Berücksichtigung eines optimalen Aufzeichnungsleistungspegels P_opt durchgeführt, der von der Steuereinheit 61 berechnet wird. Das Steuersignal S_C der Steuereinheit 61 wird der Verarbeitungseinheit 21 zugeführt. Nach der Berechnung des optimalen Aufzeichnungsleistungspegels P_opt für einen spezifischen Aufzeichnungsträger 1 kann dieser Wert aus den Informationen, die auf dem Aufzeichnungsträger 1 aufgezeichnet sind, an die Verarbeitungseinheit 21 geliefert werden. Ein Ausgang der Verarbeitungseinheit 2l ist mit dem Halbleiterlaser 11 und der Steuereinheit 61 verbunden.
• Die Einrichtung umfasst ferner einen Testsignalgenerator 31. Der Testsignalgenerator 31 kann einen Prozessor des Testsignalgenerators umfassen, der zum Generieren des Testsignals S_T geeignet ist. Das Testsignal S_T sollte bevorzugt ein Testmuster darstellen, das bei Codierung mit der so genannten Eight-to-Fourteen-Modulation (EFM) Marken aller Längen umfasst. Das Testsignal S_T kann ein Zufallssignal sein. Das Testsignal S_T wird dem Eingang der Verarbeitungseinheit 21 zugeführt.
• Die Einrichtung umfasst ferner eine Leseeinheit 41, die aus dem Halbleiterlaser 11, dem Strahlenteiler 13, der Objektivlinse 15, einem Detektionssystem 43 und einer (in der Darstellung nicht gezeigten) Schaltung der Leseeinheit gebildet wird. Der beschriebene Aufzeichnungsträger 1 wird dem vom Halbleiterlaser 11 beim Leseleistungspegel P_read ausgesendeten Strahlenbündel ausgesetzt. Die vom Aufzeichnungsträger 1 reflektierte Strahlung wird durch die Objektivlinse 15 konvergiert und fällt nach Durchlaufen des Strahlenteilers 13 auf das Detektionssystem 43, das die einfallende Strahlung in elektrische Detektorsignale umwandelt. Die Detektorsignale dienen als Input für eine Schaltung der Leseeinheit, die mehrere Signale aus den Detektorsignalen ableitet, beispielsweise ein Lesesignal S_R, das die vom Aufzeichnungsträger 1 gelesenen Informationen darstellt. Das Lesesignal S_R wird weiter dem Jitter-Detektor 51 zugeführt. Der Jitter-Detektor 51 misst die Jitter-Werte des Lesesignals S_R. Jitter ist als die Varianz eines bestimmten Timing-Fehlers definiert. Dabei kann es sich um Timing-Fehler des Typs Daten-zu-Takt oder des Typs Daten-zu-Daten handeln. Vor diesem Hintergrund ist es leicht zu verstehen, dass der Daten-zu-Daten-Jitter um √2 größer ist als der Daten-zu-Takt-Jitter, da Daten-zu-Daten-Jitter das Ergebnis zweier nicht korrelierter jitternder Daten-zu-Takt-Flanken darstellt. Trotz dieses Unterschieds können alle Arten von Jitter in der folgenden Diskussion gleich behandelt werden.
• Die Jitter-Werte werden der Steuereinheit 61 zugeführt, die einen Prozessor der Steuereinheit umfasst, bei dem es sich um einen einfachen Mikroprozessor handeln kann. Die Steuereinheit 6l empfängt außerdem von der Verarbeitungseinheit 21 das Signal S_P, das die Werte des Aufzeichnungsleistungspegels P enthält, mit denen die Testmuster aufgezeichnet wurden. Die Funktion der Steuereinheit 61 besteht im Ableiten der optimalen Werte des Aufzeichnungsleistungspegels P_opt für den Aufzeichnungsträger 1 und im Liefern eines Steuersignals S_C an die Verarbeitungseinheit 21.
• Vor dem Aufzeichnen von Informationen auf den Aufzeichnungsträger stellt die Einrichtung ihre Aufzeichnungsleistungspegel P auf die optimalen Werte ein, indem sie das folgende Verfahren durchführt. Als Erstes wird eine Reihe von Testmustern auf den Aufzeichnungsträger 1 aufgezeichnet, jedes mit einem anderen zuvor festgelegten Aufzeichnungsleistungspegel.
• Der Bereich der vordefinierten Leistungswerte kann auf der Basis eines indikativen Leistungspegels ausgewählt werden, der aus den Steuerinformationen auf dem Aufzeichnungsträger 1 abgeleitet wird. Nachfolgende Muster können mit einer schrittweise erhöhten Leistung geschrieben werden. Die Muster können auf jede beliebige Stelle des Aufzeichnungsträgers 1 geschrieben werden, auch in speziell dafür bereitgestellte Testbereiche.
• Nach dem Lesen der Testmuster vom Aufzeichnungsträger 1 bildet der Prozessor der Steuereinheit 61 für jedes Muster eine Reihe von Wertepaaren aus dem Jitter-Wert J des vom Jitter-Detektor 51 bereitgestellten Lesesignals S_R und aus den von der Verarbeitungseinheit 21 bereitgestellten vordefinierten Aufzeichnungsleistungspegeln, mit denen das Muster aufgezeichnet wurde.
• 2 zeigt eine Reihe von N = 15 Punkten, die jeweils ein Wertepaar aus Jitter-Wert J und dem vorgegebenen Aufzeichnungsleistungspegel eines Testmusters darstellen. Die Punkte bilden eine Abhängigkeit 81 der Jitter-Werte J hinsichtlich der vorgegebenen Aufzeichnungsleistungspegel. Aus 2 ist ersichtlich, dass die Abhängigkeit nichtlineare Merkmale aufweist (Badewannenkurve).
• Die Optimierung der Aufzeichnungsimpulsparameter basiert auf den im Folgenden beschriebenen Punkten. Bei einem Parameter x in einem bestimmten Aufzeichnungsimpulsparameter (dem Parameter in einer Schreibstrategie) kann es sich entweder um eine Amplitude im Verlauf einer Taktunterteilung oder um eine Position einer Flanke im Zeitverlauf handeln. Betrachtet wird der Bereich x ± δx, in dem dieser Parameter linear zu einer Verschiebung in einer spezifischen Flanke des hf-Signals führt. Im Allgemeinen sind thermisch abgestimmte Schreibstrategien in einer Weise definiert, dass Parameter x sich auf eine spezifische Flanke zwischen Lauflängen auswirkt. Für die bei einer Zufalls-EFM gemessenen Daten-zu-Takt-Jitter-Werte kann der Jitter als Funktion des Parameters x ausgedrückt werden durch: J(x) = Jbottom + ax(x – x ^)2 (1)mit:

J_bottom:

Unterer Jitter

a_x:

Empfindlichkeit des Jitters auf Abweichungen

• Eine thermisch abgestimmte Schreibstrategie ist in der internationalen Patentanmeldung PCT/EP01/04566 beschrieben. Die für die Ausführungsform näher beschriebenen Parameter zu thermischen Nebensignaleffekten sind die in dieser Anwendung definierten Parameter. Die Parameter für 3T-Marken (Zwischenräume) (c, u) unterscheiden sich von den Parametern für längere Marken (d und v). Die Parameter c und d kennzeich nen einen Zwischen-Leistungspegel und die Parameter u und v kennzeichnen den erhöhten Leistungspegel des Aufzeichnungsimpulses.
• Eine Parabel ist durch drei Messpunkte definiert. Wenn der Jitter für mindestens drei Einstellungen eines bestimmten Parameters x gemessen wird, kann daraus die beste Einstellung x ^ für einen einzelnen Parameter berechnet werden, aus der dann der niedrigste Jitter-Wert resultiert.
• Gleichung 1 ist in einem linearisierten Bereich für einen einzelnen Parameter der Schreibstrategie gültig. Berücksichtigt wird außerdem die Annahme, dass die durch alle Parameter der Schreibstrategie bedingten Jitter-Abweichungen nicht korrelieren. Die praktische Auswirkung dieser Annahme ist, dass die optimale Einstellung eines Parameters hinsichtlich des Jitter-Werts nicht von den Einstellungen der anderen Parameter abhängt. Damit soll der Vektor x ^ durch eine Anzahl von Messungen J(x) aufgelöst werden. Es ist zu beachten, dass wenn der Vektor x ^ die Größe P annimmt (d. h. dass die Schreibstrategie P Parameter aufweist), die kleinste Anzahl von Messungen N = 2P + 1 entspricht. Unter dieser Annahme ergibt sich:

  

  wobei gilt:

p

= 0...P – 1 Anzahl der Parameter der Schreibstrategie;

x

Vektor mit den Werten der P Parameter der Schreibstrategie;

x ^

Vektor mit den zu bestimmenden optimalen Parametern;

a

Vektor mit den Empfindlichkeiten der einzelnen Parameter;

J_bottom

Niedrigster erreichbarer Jitter für x = x ^ und;

J(x)

Gemessener Jitter für die Parameter x;

n = 0...N – 1

Nummer der Messung.

• Gleichung 2 kann in eine Matrixdarstellung gebracht werden, aus der ersichtlich ist, dass der betreffende Vektor x ^ jetzt implizit definiert ist. Der untere Jitter J_bottom ist jedoch zunächst nicht von Bedeutung und kann durch Subtrahieren von J_N-1 von den Messungen J₀ bis J_N-2 eliminiert werden.
• Der Vorteil dieser Vorgehensweise liegt darin, dass Gleichung 2 jetzt linear mit dem optimalen Parametervektor x ^ ist, was in der Matrixdarstellung ersichtlich ist: ΔJ = ΔX·ax mit:

  
• Jeder Vektor oder jede Matrix trägt eigene Informationen. Der Differentialvektor ΔJ der Messungen hat die Länge N – 1 (N ist die Anzahl der Messungen) und ist daher bekannt. Der Differentialeingabevektor ΔX wird vom Bediener auf das System angewandt und ist daher ebenfalls bekannt. Da ΔX im Allgemeinen nicht quadratisch ist (und somit keinen Kehrwert ΔX^-1 hat) und der Algorithmus zur Parameterschätzung mit linearen kleinsten Quadraten, ist der zu bestimmende Vektor die Empfindlichkeit und der optimale Parametervektor ax, der ermittelt werden kann durch: ax = (ΔXTΔX)-1ΔXTΔJ
• Gleichung 4 kann auch verwendet werden für N > 2P + 1. Aus dem resultierenden Vektor ax lassen sich die Empfindlichkeiten an den geraden Einträgen ablesen, während die optimalen Parameter nach der Normalisierung der ungeraden Einträge aus diesen Empfindlichkeiten abzulesen sind. Die relativen Werte der Empfindlichkeiten werden durch eine Reihe von Faktoren bestimmt (z. B. die Häufigkeit des Auftretens der entsprechenden Lauflänge in der EFM-Sequenz, die Zeitspanne, die durch diesen Parameter in der Strategie moduliert wird, die Änderung der Schreibleistung, falls ein Amplitudenparameter identisch ist mit dem Parameterwert multipliziert mit dem Zeitfenster, in dem er wirksam ist. Die Parameter c und d in der TBWS reichen nur für T/4, während u und v 9T/4 lang sind; dies hat Auswirkungen auf a_c, a_d, a_u, und a_v etc.).
• In der spezifischen Ausführungsform, welche die thermisch abgestimmte Schreibstrategie (Thermally Balanced Write Strategy, TBWS) mit den Parametern für die Kompensation thermischer Nebensignaleffekte:
  c für Zwischenraum (Land) I3,
  d für Zwischenraum I4,
  u für Vertiefung (Pit) I3 und
  v für Vertiefung I4
  verwendet, wird eine Messreihe mit Parametervariationen durchgeführt. Bei der Platte handelt es sich um eine Mitsui (interne Referenznummer CDR01-001) Phthalo-Disc mit einer optimalen Schreibleistung für 16X bei 25 mW (Main Spot on Disc). Der automatische iterative Optimierer liefert nach 30 Iterationen (wobei alle Parameter als Multiplikationsfaktoren für die Schreibleistung dargestellt werden):

  
• Zunächst werden nur die Zwischenraum-Effekte optimiert (Anzahl der Parameter P = 2). Parameter c wird bei jedem c-Schritt in drei Schritten 0,25, 0,50 und 0,75 geändert, d wird in drei Schritten 0,50, 0,75 und 1,00 geändert. Diese Bereiche werden aus folgendem Grund gewählt: Aus der Implementierung der TBWS ist bekannt, dass die Kompensation für c stärker sein muss als für d. Sowohl c als auch d sollten kleiner als 1 sein. Für diese Situation P = 2 reichen fünf Messungen aus, neun liefern jedoch eine zuverlässigere Anpassung. Die Parameter u und v wurden zu 1,10 bzw. 1,04 gewählt, weil dies für fast alle in der ROS-DOS-TOS-Messsequenz betrachteten Platten die gemeinsamen Werte sind. Jitter-Werte werden bei 2X ausgelesen.
• Der Anpassungsalgorithmus wird offline über ein MathCad 6.0 Worksheet angewendet. Die ermittelten optimalen Parameter sind:
  c = 0,496 mit Empfindlichkeit 8,6 und
  d = 0,842 mit Empfindlichkeit 5,2.
• Die Differenz zwischen den Empfindlichkeiten kann dem Verhältnis 3T/4T zugeschrieben werden, da diese durch die Parameter c bzw. d beeinflusst werden. Nachdem die Parameter ermittelt wurden, kann der erwartete (niedrigste erreichbare) Wert von J_bottom mit Gleichung 2 berechnet werden und beträgt 6,8 %.
• Beim Erweitern der Messdaten des vorigen Teilabschnitts (für c = 0,25, 0,50, 0,75 und d = 0,50, 0,75, 1,00) mit Messungen für u = 1,05, 1,10, 1,15 und v = 1,00, 1,05 und 1,10 können die vier Parameter für die Kompensation thermischer Nebensignaleffekte in der TBWS gleichzeitig angepasst werden. In den zusätzlichen Messungen werden u und v geändert, c und d werden auf 0,65 bzw. 0,85 eingestellt, da dies den gängigsten Einstellungen entspricht. Es ist zu beachten, dass c und d nicht auf ihren besten Wert zur Anpassung von u und v eingestellt sein müssen. Für diese Messung mit P = 4 Parametern sind mindestens neun Messungen erforderlich. Für eine bessere Anpassungsgenauigkeit werden achtzehn Messungen verwendet.
• Algorithmus-Ausgaben:
• c = 0,464 mit Empfindlichkeit 9,2
• d = 0,792 mit Empfindlichkeit 5,1
• c = 1,105 mit Empfindlichkeit 1249
• d = 1,039 mit Empfindlichkeit 300 bei unterem Jitter von 6,9.
• Das Verhältnis der Empfindlichkeiten für c,d und u,v ist das Ergebnis der Breite der u- und v-Pegel, die 9/4 größer ist als die der c- und d-Pegel.
• In einer anderen Ausführungsform wird ΔT nach einem 3T-Zwischenraum und ΔT nach einem 4T-Zwischenraum in vier Schritten geändert. Die aufgezeichneten Jitter-Werte (in %) sind in der folgenden Tabelle zusammengefasst. Werte für ΔP:

  
• Die angepassten Ergebnisse und die gemessenen Daten lauten:
• ΔT nach 3T: Optimale Einstellung 0,126T, Empfindlichkeit 8,6
• ΔT nach 4T: Optimale Einstellung 0,040T, Empfindlichkeit 5,3
• Mit diesem Beispiel wird die perfekt parabolische Eigenschaft der Jitter-Abhängigkeit von den thermischen Abstimmparametern für DVD+R bestätigt. Der komplette Optimierungsalgorithmus kann daher auf die einmal beschreibbare DVD-Plattform angewendet werden.
• 3 zeigt einen erfindungsgemäßen plattenförmigen optischen Aufzeichnungsträger 1. Die Aufzeichnungsbeschichtung des Aufzeichnungsträgers kann mit einer Aufzeichnungseinrichtung optisch oder magneto-optisch beschrieben werden. Informationen werden auf dem Aufzeichnungsträger durch Markenmuster dargestellt. Die Aufzeichnung der Informationen erfolgt über einen Aufzeichnungsprozess, bei dem jede Marke durch einen oder mehrere Aufzeichnungsimpulse mit konstantem oder variierendem Aufzeichnungsleistungspegel P auf einer Spur gebildet wird. Die Aufzeichnungsparameter des Aufzeichnungsvorgangs, beispielsweise der Aufzeichnungsleistungspegel P und die Anzahl der Impulse, müssen auf den Aufzeichnungsträger, insbesondere auf seine Materialeigenschaften, abgestimmt werden. Ein Beispiel eines beschreibbaren Aufzeichnungsträgers ist die bekannte einmal beschreibbare CD. Der Aufzeichnungsträger hat eine zur Aufzeichnung vorgesehene fortlaufende Spur 101. Die Spur 101 kann spiralförmig sein und eine eingeprägte Vertiefung oder Erhöhung darstellen. Der Bereich des Aufzeichnungsträgers ist unterteilt in einen Informationsaufzeichnungsbereich 103 zum Aufzeichnen von Benutzerinformationen und einen Steuerbereich 105 zum Speichern von Informationen, die für das Aufzeichnen von Benutzerinformationen relevant sind. In der Figur ist der Steuerbereich 105 durch eine gestrichelte Spur dargestellt. Der Wert des optimalen Aufzeichnungsleistungspegels P_opt zum Aufzeichnen auf den Aufzeichnungsträger kann als Steuerinformationsmuster im Steuerbereich 105 gespeichert werden. Beim Prägen des Steuerbereichs muss der Hersteller des Aufzeichnungsträgers 1 den Wert aufzeichnen. Alternativ dazu kann der Wert vom Benutzer aufgezeichnet werden, beispielsweise bei der Initialisierung des Aufzeichnungsträgers 1, was das Aufzeichnen eines trägerspezifischen Werts ermöglicht.
• 4 zeigt einen stark vergrößerten Ausschnitt 107 der Spur, die ein Muster von Marken 109 umfasst, in denen die Steuerinformationen codiert sind.
• Auch wenn die Erläuterung anhand einer Ausführungsform vorgenommen wurde, bei der der Aufzeichnungsleistungspegel als Aufzeichnungsparameter verwendet wird, ist es offensichtlich, dass mit der Erfindung auch andere Aufzeichnungsparameter (z. B. das spezifische Timing des Aufzeichnungsimpulsmusters zum Aufzeichnen einer Marke) verwendet werden können.
• Für den Fachmann ist es offensichtlich, dass die Erfindung auch auf alternative optische Aufzeichnungssysteme wie z. B. DVD, Blu-ray etc. angewendet werden kann.

Claims (10)

1. Verfahren zur Bestimmung optimierter Werte eines Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie zum Aufzeichnen auf optischen Trägern, wobei die Aufzeichnungsimpulsserie auf eine Aufzeichnungsoberfläche eines optischen Aufzeichnungsträgers angewendet wird, um ein Muster optisch lesbarer Marken auf den Aufzeichnungsträger zu schreiben, wobei je eine Aufzeichnungsimpulsserie eine Marke bildet und das Verfahren Folgendes umfasst: – Schreiben eines Schreibtests, wobei jeder Schreibtest eine Anzahl N Testmuster umfasst, von denen jedes vorher festgelegte Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie umfasst und diese Werte sich für jedes Testmuster unterscheiden, – Lesen des Testmusters und Bilden eines Lesesignals, – Messen der Jitter-Werte des Lesesignals, die den jeweiligen Testmustern entsprechen, und – Bestimmen der optimierten Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie, mit denen die niedrigsten Jitter-Werte erzielt werden, dadurch gekennzeichnet, dass diese optimierten Werte bestimmt werden durch eine lineare Abhängigkeit zwischen den Werten eines Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie und den gemessenen Jitter-Werten, die durch Differenzierung einer Gleichung erhalten werden, welche Jitter als eine Funktion des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie und der optimierten Werte definiert, wobei die Mindestanzahl N_min der Testmuster von einer Anzahl P der Parameter für die Aufzeichnungsimpulsserie gemäß der Gleichung N_min = 2·P + 1 abhängt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem das Muster der optisch lesbaren Marken einer RLL-Codesequenz (Run Length Limited) entspricht.
3. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem das Testmuster eine Zufalls-RLL-Codesequenz umfasst.
4. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem der Parameter eine Strahlungsleistung von einem der Aufzeichnungsimpulse aus der Aufzeichnungsimpulsserie angibt.
5. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem der Parameter eine Breite von einem der Aufzeichnungsimpulse aus der Aufzeichnungsimpulsserie angibt.
6. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem der Satz der optimierten Werte der Parameter für die Aufzeichnungsimpulsserie auf den optischen Aufzeichnungsträger aufgezeichnet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, bei dem sich die Parameter für 3T-Marken von den Parametern für längere Marken unterscheiden und bei dem T die Zeitdauer einer Periode eines Referenztakts in einem Datensignal darstellt.
8. Einrichtung zur Bestimmung optimierter Werte eines Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie zum Aufzeichnen auf optischen Trägern, wobei die Einrichtung Folgendes umfasst: – Aufzeichnungsmittel (17) zum Schreiben eines Musters optisch lesbarer Marken auf einen Aufzeichnungsträger (1) durch Bestrahlen einer Aufzeichnungsoberfläche (5) des Aufzeichnungsträgers mit Aufzeichnungsimpulsserien, wobei je eine Aufzeichnungsimpulsserie eine Marke bildet, und zum Schreiben eines Schreibtests, wobei jeder Schreibtest eine Anzahl von N Testmustern umfasst und jedes Testmuster vorher festgelegte Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie umfasst und sich diese Werte für alle Testmuster unterscheiden, – Lesemittel (41) zum Lesen des Testsignals und zum Bilden eines Lesesignals, – einen Jitter-Detektor (51) zum Messen der Jitter-Werte des Lesesignals, die den jeweiligen Testmustern entsprechen, und zum Zuführen des Jitter-Signals an die Steuermittel, – Steuermittel (61) zum Bestimmen der optimierten Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie, mit denen die niedrigsten Jitter-Werte erzielt werden, dadurch gekennzeichnet, dass diese Steuermittel (61) ausgebildet sind zur Anwendung einer linearen Abhängigkeit zwischen den Werten eines Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie und den gemessenen Jitter-Werten, die durch Differenzierung einer Gleichung erhalten werden, die Jitter als Funktion des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie und der optimierten Werte definiert, wobei die Mindestanzahl N_min der Testmuster von einer Anzahl P der Parameter für die Aufzeichnungsimpulsserie gemäß der Gleichung N_min = 2·P + 1 abhängt.
9. Einrichtung nach Anspruch 8, die Speichermittel zum Speichern von Koeffizienten der linearen Abhängigkeit zwischen den Werten eines Parametersatzes für die Auf zeichnungsimpulsserie und den gemessenen Jitter-Werten umfasst.
10. Einrichtung nach Anspruch 9 oder 10, die Speichermittel zum Speichern des Satzes der optimierten Werte des Parametersatzes für die Aufzeichnungsimpulsserie umfasst.