JP4156589B2 - 光キャリア記録及び光記録キャリアのための記録パルス系列のパラメータからなるセットを決定する方法及び装置 - Google Patents

Description

本発明は、光キャリア記録のための記録パルス系列のパラメータからなるセットの値を決定する方法に関し、ここで、記録パルス系列は、記録キャリア上に光学的に読取り可能なマークからなるパターンを書き込むために光記録キャリアの記録表面に印加され、マークは、１つの記録パルス系列により形成されており、該方法は、ライトテストを書き込むことを含んでおり、それぞれのライトテストは、多数Ｎのテストパターンを含み、それぞれのテストパターンは、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する予め決定された値をもち、該値は、それぞれのテストパターンについて異なる。また、該方法は、テストパターンを読取ること、読取り信号を形成すること、及びそれぞれのテストパターンに対応する読取り信号のジッタ値を計測することを含んでいる。

また、本発明は、光キャリア記録のための記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値を決定する装置に関し、記録パルス系列で記録キャリアの記録表面に放射線を照射することで記録キャリア上に光学的に読取り可能なマークであって、１つの記録パルス系列により形成されるマークからなるパターンを書き込む記録手段、テストパターンを含むテスト信号を発生し、該テスト信号を該記録手段の入力に供給するテスト信号ジェネレータ、記録キャリア上のマークを読み取り、リード信号を供給する読取り手段、テストパターンに対応するリード信号のジッタ値を計測し、制御手段にジッタ信号を供給するジッタ検出器、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値を最適化し、記録パルス系列のパラメータからなる最適化されたセットを表す制御信号を供給する制御手段、及び記録されるべき入力情報を該記録手段に供給される出力信号に変換する処理手段を有しており、出力信号は、放射線からなるパルス系列に対応し、かつ入力情報を表しており、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値は、制御信号で提供される。

さらに、本発明は、放射線ビームにより書き込み可能な光記録キャリアに関し、基板と、制御情報を含む該基板上の手段とを有している。

日本国特許出願第11005244号は、最適化された記録パルスのパラメータで光記録キャリアに書き込むための方法を開示している。公知の方法によれば、標準的な値の書込みパルスのパラメータによるライトテストが実施される。続いて、評価パラメータ（たとえばジッタ）によりライトテストが評価され、評価パラメータについて近似式の特性が決定される。最後に、最適化された記録パルスのパラメータ値は、近似式を使用して計算される。

しかし、公知の方法は、それぞれ特定のセットのライトテストに関する標準的な値について複雑な計算を必要とし、スケーラブルかつ一般的ではない近似式を使用している。

本発明の目的は、光キャリア記録のための記録パルスのパラメータに関する値を決定するための一般的な方法及び装置を提供することにある。
また、本発明の目的は、かかる方法を実行ために動作可能である装置を提供することにある。
本発明の目的は、本方法に関する情報が記録される光記録キャリアを提供することにある。

第一の目的は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値が、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存を使用して最適化されることを、プリアンブルに記載された方法が特徴とするときに達成される。本発明の別の特徴は、最少の数Ｎ_minのテストパターンは、式Ｎ_min＝２＊Ｐ＋１により多数Ｐの記録パルス系列のパラメータに依存することである。光学的に読取り可能なマークのパターンは、たとえば、ランレングス制限されたコード系列に対応している場合がある。さらに、記録パルス系列のパラメータの最適化された値が光記録キャリアに記録される場合がある。本発明はその実施の形態において、テストパターンがランダムなランレングス制限されたコード系列を有することを特徴としている。別の実施の形態では、パラメータは、記録パルス系列の記録パルスのうちの１つの放射電力、又は記録パルス系列の記録パルスのうちの１つの幅を示している。好適な実施の形態では、３Ｔマークのパラメータは、より長いマークのパラメータとは異なり、ここでＴはデータ信号における基準クロックの１周期の時間長を表している。

本発明の第二の目的は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存を使用して、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を導出するために制御手段が構成されることを、プリアンブルに記載された装置が特徴とするときに達成される。さらに、本装置は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存に関する係数を記録するための記憶手段を有している場合がある。また、記憶手段は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を記憶するために作用可能である場合がある。

本発明の第三の目的は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存の係数に関する予め決定された値を制御情報が含むことを、プリアンブルに記載された光記録キャリアが特徴とするときに達成される。さらに、制御情報は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を含んでいる場合がある。

本発明の目的、特徴及び効果は、添付図面に例示されるように本発明の実施の形態に関する更に詳細な説明から明らかとなるであろう。

図１は、本発明に係る装置、及び光記録型の記録キャリア１を示している。ディスク状の記録キャリア１は、透明な基板３と該基板に配置された記録層５を有している。記録層５は、放射線ビームにより情報を書き込むために適切な材料を含んでいる。記録材料は、位相変化、色素、又は光記録に適したいずれか他の材料である場合がある。情報は、記録キャリア上で光学的に検出可能なマーク及びランドの形式で記録キャリア１に記録される場合がある。

本装置は、放射線ビームを放出するための放射線源、たとえば半導体レーザ１１を有している。本実施の形態では記録電力レベルである記録パルスパラメータにより特徴付けされる、放射線の単一の記録パルスに記録キャリア１の記録層５がさらされたとき、マークが形成される。また、マークは、同じ又は異なる長さであって、１以上の記録パワーレベルの一連の放射パルスにより書き込まれる場合がある。放射線ビームは、ビームスプリッタ１３、対物レンズ１５及び基板３を介して記録層５に集束される。また、記録キャリア１は、エアインシデントである場合があり、この場合、放射線ビームは、基板３を通り抜けることなく記録層５に直接集束される。半導体層１１、ビームスプリッタ１３及び対物レンズ１５は、記録ユニット１７を全体として形成する。

また、本装置は、処理ユニット２１を有しており、この処理ユニットは、たとえば、処理ユニット２１のプロセッサから構成されており、この場合、プロセッサは、たとえばマイクロプロセッサ又はデジタルシグナルプロセッサといった計算を実行するために適した如何なる手段をも意味することが理解される。信号Ｓ（たとえば、情報信号又はテスト信号）は、記録キャリア１に書き込まれるべき信号を表しており、処理ユニット２１のプロセッサに供給される。処理ユニット２１は、記録キャリア１に情報を記録するための記録パルス系列のパラメータからなるセットを決定する。特定の実施の形態では、記録パルス系列のパラメータからなるセットは、記録パルスの記録パワーレベルをから構成される。記録パワーレベルの決定は、制御ユニット６１により計算される最適な記録パワーレベルＰ_optを考慮して実行される。制御ユニット６１の制御信号Ｓ_Cは、処理ユニット２１に供給される。特定の記録キャリア１について最適な記録パワーレベルＰ_optがひとたび計算されると、この最適な記録パワーレベルは、記録キャリア１に記録されている情報から処理ユニット２１に供給される場合がある。処理ユニット２１の出力は、半導体レーザ１１及び制御ユニット６１と接続される。

本装置は、テスト信号ジェネレータを更に有している。テスト信号ジェネレータ３１は、テスト信号Ｓ_Tを発生するのに適しているテスト信号ジェネレータのプロセッサから構成される場合がある。テスト信号Ｓ_Tは、テストパターンを好ましくは表しており、このテストパターンは、いわゆる８−１４変調（ＥＦＭ）で符号化されたとき、全てのレングスのマークを有している。テスト信号Ｓ_Tは、ランダム信号である場合がある。テスト信号Ｓ_Tは、処理ユニット２１の入力に供給される。

本装置は、読取りユニット４１を更に有しており、この読取りユニットは、半導体レーザ１１、ビームスプリッタ１３、対物レンズ１５、検出システム４３及び読取りユニットの回路（図示せず）により形成されている。記録された記録キャリア１は、半導体レーザ１１から放出される読取りパワーレベルＰ_readでの放射線ビームにさらされる。記録キャリア１から反射された放射線は、対物レンズ１５により集束され、ビームスプリッタ１３を通過した後、検出システム４３に落ち、この検出システムは、入射した放射線を電気の検出器信号に変換する。検出器信号は、読取りユニットの回路に入力され、この読取りユニットの回路は、記録キャリア１から読み取られた情報を表すリード信号Ｓ_Rのような、検出器信号から幾つかの信号を引き出す。リード信号Ｓ_Rは、ジッタ検出器５１に更に供給される。ジッタ検出器５１は、リード信号Ｓ_Rのジッタ値を計測する。ジッタは、あるタイミングエラーの分散として定義される。これは、データ−クロック間又はデータ−データ間のタイミングエラーのいずれかとすることができる。その観点から、データ−データ間のジッタは、相関されていないジッタのデータ−クロック間のエッジではない２つの結果として生じているため、データ−データ間のジッタはデータ−クロック間のジッタの√2倍大きいことが容易に理解される。これは、この違いにも係らず、全てのタイプのジッタは、来るべき議論に類似して扱うことができる。

ジッタ値は、制御ユニットのプロセッサを有する制御ユニット６１に供給され、この制御ユニットは、単なるマイクロプロセッサである場合がある。また、制御ユニット６１には、このレベルによいテストパターンが記録される記録パワーレベルＰの値を含む処理ユニット６１からの信号Ｓ_Pが供給される。制御ユニット６１の役割は、記録キャリア１について記録パワーレベルＰ_optの最適値を導出すること、及び制御信号Ｓ_Cを処理ユニット２１に供給することである。

記録キャリアに情報を記録する前に、本装置は、以下の手順を実行することで、その記録パワーレベルＰを最適値に設定する。はじめに、一連のテストパターンが記録キャリア１に記録され、それぞれのテストパターンは、異なる予め決定された記録パワーレベルＰをもつ。

予め決定されたパワーのレンジは、記録キャリア１に制御情報から導出された指示するパワーレベルに基づいて選択される場合がある。後続するパターンは、ステップ毎に増加されるパワーで書き込まれる場合がある。パターンは、記録キャリア１の如何なる位置であっても書き込まれ、特にテストエリアを提供する場合がある。

記録キャリア１からテストパターンを読み取った後、制御ユニット６１のプロセッサは、ジッタ検出器５１により提供される、それぞれのパターンのリード信号Ｓ_RのジッタＪと、処理ユニット２１により提供される、そのパターンが記録されている予め決定された記録パワーレベルとについて、一連の値のペアを形成する。

図２は、ジッタＪとテストパターンの予め決定された記録パワーレベルとの値のペアをそれぞれ表している、一連のＮ＝１５ポイントを示している。ポイントは、予め決定された記録パワーレベルに関するジッタ値Ｊの依存度８１を形成している。依存度は、非線形（バスタブ）の特性を示していることが図２から明らかである。

記録パルスのパラメータの最適化は、以下に基づいている。所定の記録パルスパラメータにおけるパラメータｘ（書き込み方式におけるパラメータ）は、クロック細分割の間の振幅、又は時間的なエッジ位置のいずれかとすることができる。このパラメータが線形にｈｆ信号における特定のエッジでのシフトとなるレンジｘ±δｘを考える。一般に、パラメータｘがランレングス間の特定のエッジに影響を及ぼすようなやり方で、熱平衡ライト方式が定義される。ランダムＥＦＭで計測されたデータからクロックのジッタについて、パラメータｘの関数としてのジッタは、以下のように書きことができる。

ここで、Ｊ_Bottomはボトムジッタであり、ａ_xはばらつきに関するジッタの感度である。

国際特許出願PCT/EP01/04566号には、熱平衡ライト方式が記載されている。本実施の形態で更に説明される熱クロストークパラメータは、本出願で定義されるパラメータである。３Ｔマーク（ランド）（ｃ，ｕ）のパラメータは、より長いマーク（ｄ及びｖ）のパラメータとは異なる。パラメータｃ及びｄは、中間的なパワーレベルを示し、パラメータｕ及びｖは、記録パルスの上昇されたパワーレベルを示している。

パラボラは、３つの計測ポイントにより定義される。したがって、所定のパラメータｘの少なくとも３つの設定についてジッタを計測した場合、最も低いジッタとなる単一のパラメータについて最良の設定

（外１）

を計算することができる。

式１は、単一のライト方式のパラメータについて線形化された領域で有効である。さらに、全てのライト方式のパラメータのためにジッタ分散が相関付けされていないという仮定を考える。この仮定の実際の影響は、ジッタに関するパラメータの最適な設定が他のパラメータの設定に依存しないことである。アイデアは、多数Ｊ（ｘ）の計測値からベクトル

（外２）

を解くことである。なお、ベクトル

（外３）

が（ライト方式がＰ個のパラメータを有することを意味する）サイズＰを有する場合、最小の数の計測値は、Ｎ＝２Ｐ＋１に等しい。この仮定の下で以下の式に到達する。

ここで、ｐはライト方式のパラメータの数、

（外４）

はＰ個のライト方式のパラメータの値をもつベクトル、

（外５）

は決定されるべき最適なパラメータをもつベクトル、

（外６）

はそれぞれのパラメータの感度をもつベクトル、Ｊ_Bottomは

（外７）

のときに最も低く達成可能なジッタ、Ｊ（ｘ）はパラメータｘについて計測されたジッタ、及びｎ＝０．．Ｎ−１は計測数である。

式２は、関心のある

（外８）

のベクトルが暗黙的に定義されることがわかる行列形式で表すことができる。しかし、ボトムジッタＪ_Bottomは、第一の例では関心のあるものではなく、計測値Ｊ₀〜Ｊ_N-2をＪ_N-1で減じることで除くことができる。

この演算の利点は、式（式４．５）が以下の行列表示から見ることができる最適なパラメータベクトル

（外９）

と線形なことである。
ΔＪ＝ΔＸ・ａｘ
ここで、

それぞれのベクトル又は行列は、それ自身の情報を有している。差分計測ベクトル

（外１０）

は、長さＮ−１（Ｎは計測値の数）を有し、したがって既知である。差分入力ベクトル

（外１１）

は、オペレータによりシステムに入力され、したがって既知である。一般に

（外１２）

は正方行列ではなく（したがって逆行列

（外１３）

をもたない）、線形最小自乗平均パラメータの予測アルゴリズム、決定されるべきベクトルは、

を用いて発見することができる感度及び最適パラメータベクトル

（外１４）

である。

また、式（４）はＮ＞２Ｐ＋１について使用することができる。結果ベクトル

（外１５）

より、感度は偶数のエントリで発見することができ、最適パラメータは、奇数のエントリをこれらの感度に正規化した後に発見することができる。感度の相対的な値は、多数のファクタにより決定される（ＥＦＭ系列における対応するランレングスの発生頻度、方式におけるこのパラメータにより変調される時間における幅、振幅パラメータのケースにおけるライトパワー変化は、パラメータ値の効果的なタイムスロット倍に等しい。ＴＢＷＳにおけるパラメータｃ及びｄは、Ｔ／４のみについて続き、ｕ及びｖは、９Ｔ／４の長さであり、これはａ_c，ａ_d，ａ_u及びａ_v等に等しい）。熱クロストーク補償パラメータをもつ熱平衡ライト方式（Thermally Balanced Write Strategy）を使用した特定の実施の形態では、ランドＩ３についてｃ、ランドＩ４についてｄ、ピットＩ３についてｕ、ピットＩ４についてｖである。

一連のパラメータ変動計測が実行される。ディスクｃは、２５ｍＷ（ディスク上のメインスポット）での１６×についてその最適なライトパワーを有するMitsui phthalo disc（内部参照番号CDR01-001）である。自動反復最適化装置は、ライトパワーについて乗算要素として表される全てのパラメータをもつ全てのパラメータにより、３０の繰返しの後に以下の結果を与える。

はじめに、ランド作用のみが最適化される（パラメータ数Ｐ＝２）。パラメータｃは、それぞれのｃ値０．２５、０．５０及び０．７５での３つのステップで変化され、ｄは０．５、０．７５及び１．００での３つのステップで変化される。これらのレンジは、ＴＢＷＳの実現から、ｃについての補償はｄについての補償よりも強くなければならないことが分かっているために選択される。ｃ及びｄの両方は、１よりも低くなるべきである。５つの計測値は、このＰ＝２の状態について十分であるが、９は更に信頼性の高いフィットを与える。ｕ及びｖパラメータは、１．１０と１．０４にそれぞれ選択される。これは、これらの値がROS-DOS-TOS計測のシーケンスで観測される殆ど全てのディスクに一般的な値であるためである。ジッタは、２Ｘで読み取られる。

フィットアルゴリズムは、MathCad6.0ワークシートを使用してオフラインで適用される。発見された最適パラメータは、感度８．６でのｃ＝０．４９６、感度５．２でのｄ＝０．８４２である。

感度間の差は、感度がｃ及びｄパラメータのそれぞれにより影響されるために、比３Ｔ／４Ｔによるとされる。パラメータが発見された後、Ｊ_Bottomの期待される（最も低く達成可能な）値は、式２を使用して計算することができ、６．８％に等しい。

ｕ＝１．０５，１．１０，１，１５及びｖ＝１．００，１．０５及び１．１０についての計測値で（ｃ＝０．２５，０．５０，０．７５及びｄ＝０．５０，０．７５，１．００について）前のサブセクションの計測データを拡張するとき、ＴＢＷＳにおける４つの熱クロストーク補償パラメータは同時にフィットすることができる。ｕ及びｖが変化される更なる計測では、ｃ及びｄは、これらが最も一般的な設定であるので０．６５及び０．８５にそれぞれ設定される。なお、ｃ及びｄは、ｕ及びｖをフィットするためにそれらの最良の値となる必要はない。Ｐ＝４パラメータでのこの計測について、９の計測値が少なくとも必要とされる。良好なフィッティング精度のために、１８の計測値が使用される。アルゴリズム結果は、感度９．２でｃ＝０．４６４、感度５．１でｄ＝０．７９２、感度１２４９でｕ＝１．１０５、感度３００でｖ＝１．０３９である。ｃ，ｄとｕ，ｖについての感度間の比は、ｃ及びｄレベルよりも９／４倍大きいｕ及びｖレベルの幅の結果である。

別の実施の形態では、３Ｔランドの後のΔＴ、及び４Ｔの後のΔＴは、４つのステップで変化される。記録されたジッタ（％）は、次のテーブルにある。ΔＰについての値は、以下の表に示される。

フィットされた結果は、計測されたデータと共に、３Ｔ後のΔＴについて、最適設定０．１２６Ｔ、感度８．６であり、４Ｔ後のΔＴについて、最適設定０．０４０Ｔ、感度５．３である。

この例によれば、ＤＶＤ＋Ｒについて、熱平衡パラメータへのジッタの依存性に関する完全な楕円特性が確認される。したがって、ライトワンス型ＤＶＤプラットフォームについて、完全な最適化アルゴリズムを適用することができる。

図３は、本発明に係るディスク状の光記録キャリア１を示している。記録キャリアの記録層は、記録装置により光学的又は光磁気的に書き込むことができる。記録キャリア上の情報は、マークのパターンにより表されている。情報は、記録プロセスによりトラックで記録される。それぞれのマークが一定又は可変の記録パワーレベルＰからなる１以上の記録パルスにより形成される。記録パワーレベルＰ、パルス数のような記録プロセスの記録パラメータは、特にその材料の特性のために記録キャリアについて調整される。書込み可能な記録キャリアの例は、公知のＣＤライトワンスである。記録キャリアは、記録のために意図される連続トラック１０１を有している。トラック１０１は、螺旋状であり、エンボスの溝又は隆起の形態である場合がある。記録キャリアのエリアは、ユーザ情報を記録するための情報記録エリア１０３、及びユーザ情報を記録するために関連する情報を記憶するための制御エリア１０５に分割される。制御１０５は、図における破線トラックにより記録される。記録キャリアを記録するための最適な記録パワーレベルＰ_optの値は、制御エリア１０５における制御情報のパターンとして記憶される場合がある。制御エリアが打出しされたとき、記録キャリア１の製造者は値を記録する必要がある。代替的に、たとえば、記録キャリア１の初期化の間に、ユーザにより値が記録される場合があり、キャリアに特定な値の記録が可能となる。

図４は、制御情報がエンコードされるマーク１０９のパターンを含むトラックの拡大された部分１０７を示している。
記録パラメータとして記録パワーレベルを使用した実施の形態により説明されたが、他の記録パラメータ（たとえば、マークを記録するための記録パルスパターンの特定のタイミング）が本発明で使用される場合があることは明らかである。
たとえば、DVD、Blue-Ray等のような代替的な光記録システムに本発明が適用される場合があることは、当業者にとって明らかである。

本発明に係る光記録装置に関する図である。 非線形曲線でフィットされるレーザ放射に記録電力レベル（記録パルスパラメータ）に依存するジッタ値を示す図である。 本発明に係る光記録キャリアを示す図である。 制御情報がエンコードされるマークのパターンを含むトラックの拡大された部分を示す図である。

Claims (8)

1. 光キャリア記録のための記録パルス系列のうちの１つの記録パルスの放射電力又はパルス幅の最適化された値である、記録パルス系列のパラメータのセットに関する最適化された値を決定する方法であって、前記記録パルス系列は、光記録キャリアに光学的に読取り可能なマークからなるパターンを書き込むために前記光記録キャリアの記録表面に印加され、前記マークは、１つの記録パルス系列により形成されており、
   それぞれが多数のテストパターンを含むライトテストを書き込むステップと、それぞれのテストパターンは記録パルス系列のパラメータのセットに関する予め決定された値を含み、前記値はそれぞれのテストパターンについて異なり、
   前記テストパターンを読取り、リード信号を形成するステップと、
   それぞれのテストパターンに対応するリード信号のジッタ値を計測するステップと、
   前記記録パルス系列のパラメータのセットの値と前記最適化された値とからなる関数としてジッタを定義する非線形方程式の微分により得られる、記録パルス系列のパラメータのセットの値と計測されたジッタ値との間の線形依存を使用して、最も低いジッタとなる該記録パルス系列のパラメータのセットに関する最適化された値を決定するステップとを含み、
   前記テストパターンの最小の数Ｎ_minは、式Ｎ_min＝２*Ｐ＋１により、記録パルス系列のパラメータの数Ｐに依存する、
   ことを特徴とする方法。
2. 前記光学的に読取り可能なマークのパターンは、ランレングス制限されたコード系列に対応する、
   請求項１記載の方法。
3. 前記テストパターンは、ランダムなランレングス制限されたコード系列を含む、
   請求項１記載の方法。
4. 前記記録パルス系列のパラメータに関する前記最適化された値のセットは、前記光記録キャリアに記録される、
   請求項１記載の方法。
5. Ｔがデータ信号における基準クロックの１周期の時間長を表す場合、３Ｔマークのパラメータは、前記３Ｔマークよりも長いマークのパラメータとは異なる、
   請求項１記載の方法。
6. 光キャリア記録のための記録パルス系列のうちの１つの記録パルスの放射電力又はパルス幅の最適化された値である、記録パルス系列のパラメータのセットに関する最適化された値を決定する装置であって、
   記録パルス系列で光記録キャリアの記録表面に放射線を照射することで記録キャリアに光学的に読取り可能なマークであって１つの記録パルス系列により形成されるマークからなるパターンを書き込み、それぞれが多数のテストパターンを含むライトテストを書き込む記録手段と、前記テストパターンのそれぞれは記録パルス系列のパラメータのセットに関する予め決定された値を含み、前記値はそれぞれのテストパターンについて異なり、
   前記テストパターンを読取り、リード信号を形成する読取り手段と、
   それぞれのテストパターンに対応するリード信号のジッタ値を計測し、ジッタ信号を制御手段に供給するジッタ検出器と、
   前記記録パルス系列のパラメータのセットの値と前記最適化された値とからなる関数としてジッタを定義する非線形方程式の微分により得られる、記録パルス系列のパラメータのセットの値と計測されたジッタ値との間の線形依存を使用して、最も低いジッタとなる前記記録パルス系列のパラメータのセットに関する最適化された値を決定する制御手段とを含み、
   前記テストパターンの最小の数Ｎ_minは、式Ｎ_min＝２*Ｐ＋１により、記録パルス系列のパラメータの数Ｐに依存する、
   ことを特徴とする装置。
7. 前記記録パルス系列のパラメータのセットの値と測定されたジッタ値との間の線形依存に関する係数を記憶する記憶手段を有する、
   請求項６記載の装置。
8. 前記記録パルス系列のパラメータのセットに関する最適化された値を記憶する記憶手段を有する請求項６又は７記載の装置。

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