DE602005005252T2

DE602005005252T2 - Optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung und Verfahren und Verarbeitungsschaltkreis

Info

Publication number: DE602005005252T2
Application number: DE602005005252T
Authority: DE
Inventors: Mitsuo Sekiguchi; Hiroya Kakimoto; Isao Matsuda; Yoshikazu Sato
Original assignee: Taiyo Yuden Co Ltd
Current assignee: Taiyo Yuden Co Ltd
Priority date: 2004-07-14
Filing date: 2005-07-14
Publication date: 2009-03-19
Anticipated expiration: 2025-07-15
Also published as: KR100731781B1; CN1734585A; EP1619674A1; KR20060049984A; DE602005005252D1; CN100373468C; EP1619674B1; HK1081318A1; TWI325586B; US20060018226A1; JP2006031788A; US7496014B2; JP4395416B2; TW200612412A

Description

Technisches Gebiet
Die Erfindung betrifft eine optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung und insbesondere eine optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung, die in der Lage ist, einen Aufzeichnungszustand in Abhängigkeit von der Kompatibilität zwischen einem Laufwerk und einem Medium zu optimieren.
Beschreibung des Standes der Technik
Bei einem Aufzeichnungsvorgang auf ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium (nachstehend als „Medium" bezeichnet), wie es eine CD-R, eine DVD-R oder dergleichen darstellt, hängt die Kompatibilität zwischen einem Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, und einer Aufzeichnungsvorrichtung (nachstehend als „Laufwerk" bezeichnet), die zur Aufzeichnung verwendet werden soll, von der Kombination zwischen beiden ab. Als Gründe für diese Abhängigkeit berücksichtigt werden müssen sowohl Faktoren auf Seiten des Mediums, die den optimalen Aufzeichnungszustand aufgrund des Typunterschiedes beim Aufzeichnungsmaterial, das auf dem Medium enthalten ist, und/oder Herstellungsvariationen bei den Eigenschaften des aufgebrachten Filmes beeinflussen, wie auch Faktoren auf Seiten des Laufwerkes, die den optimalen Zustand aufgrund des Typunterschiedes bei der optischen Abnehmervorrichtung oder einem Halbleiterlaser, die in dem Laufwerk enthalten sind, und/oder Herstellungsvariationen beim Zusammenbau beeinflussen. Die eigentliche Ursache rührt jedoch von einer bestimmten Kombination aus diesen Faktoren her, weshalb für jede Kombination aus einem Medium und einem Laufwerk ein optimaler Aufzeichnungszustand vorhanden ist.
Bislang kam ein herkömmliches Verfahren zum Einsatz, bei dem ein Aufzeichnungszustand, der für jeden Typ von Medium gegeben ist, auf Seiten des Laufwerkes gespeichert wird und bei dem zusätzlich auf Seiten des Mediums die ID-Information, aus der der Typ des Mediums auf Seiten des Laufwerkes identifizierbar ist, gespeichert wird. Wird die eigentliche Aufzeichnung implementiert, so wird die auf dem Medium befindliche ID-Information von dem Medium, das in das Laufwerk eingelegt ist, gelesen, und es wird ein Aufzeichnungszustand (nachstehend als „Schreibstrategie" bezeichnet), der mit der ID-Information verknüpft ist, verwendet.
Bisweilen kann bei dem herkömmlichen Verfahren jedoch sogar ein unbekanntes Medium, das nicht untersucht worden ist, bei einem vorbereiteten Aufzeichnungszustand nicht angenommen werden, obwohl in gewissem Umfang durchaus ein Aufzeichnungszustand ausgewählt werden kann, der sich für ein bekanntes Medium eignet, das untersucht worden ist. Bisweilen kann das herkömmliche Verfahren sogar ein bekanntes Medium bei einem vorbereiteten Aufzeichnungszustand für den Fall einer Änderung der Aufzeichnungsumgebung, so beispielsweise der Aufzeichnungsrate, einer Störung oder einer Zeitänderung, nicht annehmen.
Ein Verfahren, das für den Umgang mit einem derartigen unbekannten Medium gedacht ist, ist in den nachfolgenden Literaturstellen beschrieben: Patentdokument 1: ungeprüfte japanische Patentveröffentlichung mit der Nummer 2003-30837 ; und Patentdokument 2: ungeprüfte japanische Patentveröffentlichung mit der Nummer 2004-110995 . In Absatz [0020] von Patentdokument 1 heißt es: "... Es wird ein Phasenfehler relativ zu einem Kanaltakt für jedes Aufzeichnungsmuster erfasst. Ein Aufzeichnungskompensationsparameteranpassungsteil 12 optimiert eine Emissionswellenformregel basierend auf dem Erfassungsergebnis aus der Ermittlung in dem Phasenfehlererfassungsteil 11 ...". Offenbart wird hier somit ein Verfahren zum Erfassen eines Phasenfehlers durch Vergleichen mit einem Kanaltakt und Korrigieren des Phasenfehlers.
In Absatz [0024] dieser Druckschrift heißt es: „Anschließend wird ein Testmuster zur Bestimmung der Emissionswellenformregel aufgezeichnet. Die Beziehung zwischen einer vorbereiteten Emissionswellenformregel und einer Phasenfehlergröße wird durch Wiedergeben des Bereiches, in dem das Testmuster aufgezeichnet ist, untersucht. Mit anderen Worten, es wird eine Phasenfehlergröße für jede Kombination aus einer Länge von einer aus mehreren Markierungen und einer Raumlänge unmittelbar vor der Markierung gemessen. Bestimmt wird anschließend eine gewünschte Emissionswellenformregel durch Abschätzen der Emissionswellenform, bei der der Phasenfehler zu Null wird, aus der gemessenen Phasenfehlergröße ...". Dies bedeutet, dass ein Verfahren offenbart wird, bei dem eine Phasenfehlergröße für jede Kombination aus einer Markierung und einem entsprechenden Raum gemessen wird, woraufhin die Emissionswellenformregel, bei der der Phasenfehler zu Null wird, abgeschätzt wird (siehe 8 und 12).
Da das in Patentdokument 1 beschriebene Verfahren mit der Implementierung einer Korrektur basierend auf einem Phasenfehler eines aufgezeichneten Musters einhergeht, ist es bei der Optimierung einer Strategie effektiv.
In Absatz [0045] von Patentdokument 2 heißt es: "... Ein oberer bzw. Startpuls entsprechend einer 3T-Periodendauer bzw. Periode und ein Nicht-Multipuls entsprechend einer 8T-Periodendauer bzw. Periode werden integral (sukzessive bzw. aufeinanderfolgend) erzeugt ...". Weiter heißt es: "... Die Leseleistung für einen Schreibpuls wird in zwei Phasen angepasst, wobei dann, wenn das Verhältnis der Laserleistung (Laserhöhenwert des oberen bzw. Startpulses) Ph zu einer Laserleistung (Pulshöhenwert des Nicht-Multipulses) Pm optimal ist, eine optimale Leistung ermittelt werden kann ..." Aus der Beschreibung in Absatz [0046] folgt, dass vorgeschlagen wird, dass eine Optimierung des Verhältnisses Ph zu Pm effektiv ist.
Da jedoch das in Patentdokument 1 beschriebene Verfahren eine Feinanpassung einer Strategie, die vorab in einem Laufwerk gespeichert ist, beinhaltet, ist das Erreichen einer guten Aufzeichnungsqualität für dasjenige Medium, das bezüglich der vorab gespeicherten Strategien nichtadaptiv ist, schwierig.
Bei dem Verfahren gemäß Patentdokument 2 werden darüber hinaus Anfangswerte für Ph und Pm vorübergehend basierend auf Werten eingestellt, die in einem Laufwerk oder auf einem Medium gespeichert sind, wie in Absatz [0067] beschrieben ist, woran sich das Ermitteln eines Optimums für das Verhältnis Ph zu Pm anschließt. Damit ist das Erreichen einer guten Aufzeichnungsqualität für dasjenige Medium, das bezüglich der vorübergehend eingestellten Werte nichtadaptiv ist, schwierig, was zu dem Fall von Patentdokument 1 ähnlich ist.
Die Druckschrift WO 2005/038787 , die gemäß Artikel 54(3) EPÜ von Bedeutung ist, sowie die zugehörige US-Anmeldung 2006/0262694 offenbaren ein Informationsaufzeichnungsverfahren, das das Ändern der Breite eines oberen bzw. Startpulses, das Überwachen der Intensität des reflektierten Lichtes und das Verwenden der Messungen zur Bestimmung einer optimalen Breite des oberen bzw. Startpulses beinhaltet. Das Verfahren wird verwendet, um die optimale off-Pulsbreite und, sobald diese bestimmt ist, die optimale Aufzeichnungsleistung zu bestimmen.
Die Druckschrift US 2003/05101994 (siehe Oberbegriff der Ansprüche 1 und 5) offenbart eine beschreibbare optische Scheibe sowie Vorrichtungen und ein Verfahren zum Aufzeichnen von Daten auf der Scheibe. Es werden Schreibstrategien verwendet, um das Aufzeichnen der Daten auf der Scheibe zu optimieren. Die Schreibstrategien können derart getestet werden, dass auf die Scheibe geschrieben und basierend auf den gemessenen Ergebnissen optimiert und gespeichert wird.
Offenbarung der Erfindung
Die Erfindung stellt eine optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung zum Aufzeichnen von Information auf ein optisches Aufzeichnungsmedium durch Ausstrahlen eines Laserstrahles mit einem Aufzeichnungspuls bereit, der aus einem oberen bzw. Startpuls und einem folgenden Puls besteht, umfassend:
Mittel zum Bestimmen eines Zustandes des oberen bzw. Startpulses durch Testaufzeichnen auf das optische Aufzeichnungsmedium,
gekennzeichnet durch
Mittel zum Bestimmen eines Zustandes des folgenden Pulses durch Testaufzeichnen anhand des bzw. basierend auf dem oberen bzw. Startpuls und dem folgenden Puls; und
Mittel zum Bestimmen eines Phasenzustandes des Aufzeichnungspulses durch Testaufzeichnen anhand des bzw. basierend auf dem oberen bzw. Startpuls und dem folgenden Puls.
Bereitgestellt wird darüber hinaus ein optisches Informationsaufzeichnungsverfahren zum Aufzeichnen von Information auf ein optisches Aufzeichnungsmedium durch Ausstrahlen eines Laserpulses mit einer Aufzeichnungspulsfolge, die aus einem oberen bzw. Startpuls, der ein Taktsignal bzw. Clocksignal mit einer vorbestimmten Periodendauer bzw. Periode T als Referenz verwendet, und einem nachfolgenden Puls besteht, wobei ein Zustand des oberen bzw. Startpulses durch Testaufzeichnen auf das optische Aufzeichnungsmedium bestimmt wird; und eine Prüfung der Aufzeichnungsqualität durch Testaufzeichnen anhand des bzw. basierend auf dem oberen bzw. Startpuls implementiert wird;
dadurch gekennzeichnet, dass
ein Zustand des folgenden Pulses basierend auf einem Ergebnis der Prüfung bestimmt wird; und
der Phasenzustand des Aufzeichnungspulses durch Testaufzeichnen anhand des bzw. basierend auf dem oberen bzw. Startpuls und dem folgenden Puls bestimmt wird.
Kurzbeschreibung der Zeichnung
1 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Konfiguration eines Aufzeichnungspulses und eines Gesamtablaufes zum Bestimmen eines Aufzeichnungszustandes entsprechend der vorliegenden Erfindung.
2 ist ein Blockdiagramm zur Darstellung der internen Konfiguration eines Laufwerkes entsprechend der vorliegenden Erfindung.
3 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer detaillierteren Ausführungsprozedur eines m'T-Bestimmungsablaufes gemäß Darstellung in 1.
4 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung von Details eines Bestimmungsschrittes für eine kriterienbezogene Schwelle gemäß Darstellung in 3.
5 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles des Ablaufes gemäß Darstellung in 4.
6 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines weiteren Beispieles des Ablaufes gemäß Darstellung in 4.
7 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles für denjenigen Fall, in dem eine Schwelle für jedes Laufwerk berechnet wird.
8 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von nach unten konvexen Kennwerten aus der Ermittlung als Ergebnis der Prüfung der Aufzeichnungsqualität gemäß Implementierung bei dem Schritt S120 von 3.
9 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von nach unten schräg verlaufenden Kennwerten aus der Ermittlung als Ergebnis der Prüfung der Aufzeichnungsqualität gemäß Implementierung bei dem Schritt S120 in 3.
10 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von nach unten schräg verlaufenden Kennwerten aus der Ermittlung als Ergebnis der Prüfung der Aufzeichnungsqualität gemäß Implementierung bei dem Schritt S120 in 3.
11 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles der Bestimmung eines Testbereiches zur Implementierung bei dem Schritt S122 für den Fall der nach unten konvexen Kennwerte aus der Ermittlung bei dem Schritt S120 in 3.
12 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles der Bestimmung eines Testbereiches zur Implementierung bei dem Schritt S122 für den Fall der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte aus der Ermittlung bei dem Schritt S120 in 3.
13 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles der Bestimmung eines Testbereiches zur Implementierung bei dem Schritt S122 für den Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte aus der Ermittlung bei dem Schritt S120 in 3.
14 ist ein Diagramm zur Darstellung eines Beispieles für denjenigen Fall, in dem der Schritt S120 in 3 unter Verwendung von acht Mustern implementiert wird.
15 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Verfahrens der Bestimmung eines Leistungsbereiches zur Verwendung bei dem Schritt S122 in 3 mittels einer Kurvennäherung.
16 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines weiteren Beispieles der Bestimmung eines Leistungsbereiches zur Verwendung bei dem Schritt S122 in 3 mittels einer Kurvennäherung.
17 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Bestimmung eines Leistungsbereiches zur Verwendung bei dem Schritt S122 in 3 mittels Abtasten.
18 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles eines Aufzeichnungspulses zur Verwendung für die Bestimmung eines Verhältnisses bei dem Schritt S200 gemäß Darstellung in 1(b).
19 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur eines Ablaufes der Verhältnisbestimmung bei dem Schritt S200 gemäß Darstellung 1(b).
20 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Betriebskonzeptes von dem Testaufzeichnungsschritt zu dem Schritt des Zählens der wiedergegebenen Daten gemäß Darstellung in 19.
21 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung des Speicherns der Zählergebnisse gemäß Darstellung in 19.
22 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Vorbereitung eines Histogramms gemäß Darstellung in 19.
23 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Bestimmungen von Schwellen gemäß Darstellung in 19.
24 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von Schwellen aus der Ermittlung mittels des Verfahrens gemäß Darstellung in 23.
25 ist ein Diagramm zur Darstellung von Aufzeichnungsmustern zur Erfassung von Verschiebungslängen aufgrund einer Vertiefungsbalance (pit balance).
26 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Suchen von spezifischen Mustern zur Verwendung für die Erfassung der Verschiebung aufgrund einer Vertiefungsbalance.
27 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines spezifischen Beispieles für denjenigen Fall, in dem eine Verschiebungslänge durch einen absoluten Vergleich von Zählergebnissen erfasst wird.
28 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur der Vorhersage einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße gemäß Darstellung in 19.
29 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Beziehung zwischen der Variation beim Aufzeichnungszustand S1 bis S2 und der Variation bei der Verschiebungslänge D1 bis D2 bei einer Variation von PWD.
30 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Verschiebungslängenkorrektur unter Verwendung einer linearen Näherung für den Fall eines Einzelpulses.
31 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Verschiebungslängenkorrektur unter Verwendung einer linearen Näherung für den Fall eines Multipulses.
32 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Speichern der Korrekturgrößen PWD und Tmp.
33 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines nT-Pulses zur Konfigurierung bei dem Schritt S300 in 1.
34 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles eines Testaufzeichnungspulses zur Verwendung für eine Phasenverschiebungskorrektur bei dem Schritt S400 gemäß Darstellung in 1(b).
35 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur des Bestimmungsablaufes für einen Phasenzustand bei dem Schritt S400 gemäß Darstellung in 1(b).
36 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Aufzeichnungsmustern zur Erfassung einer Phasenverschiebungsgröße an der Vorderseite jeder Vertiefung.
37 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Aufzeichnungsmustern zur Erfassung einer Phasenverschiebungsgröße an der Hinterseite jeder Vertiefung.
38 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Aufzeichnungsmustern zur Erfassung einer Verschiebungslänge jeder Vertiefung aufgrund einer thermischen Interferenz.
39 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Suchen von spezifischen Mustern zur Verwendung für die Erfassung einer Phasenverschiebung auf der Vorderseite einer Vertiefung wie auch für die Erfassung einer Phasenverschiebung auf der Hinterseite einer Vertiefung.
40 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Suchen von spezifischen Mustern zur Verwendung für die Erfassung einer Phasenverschiebung einer Vertiefung aufgrund einer thermischen Interferenz.
41 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines spezifischen Beispieles für denjenigen Fall, in dem eine Verschiebungsgröße durch einen relativen Vergleich von Zählergebnissen erfasst wird.
42 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur der Bestimmung von Ttopr und Tlast durch Vorhersagen einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße gemäß Darstellung in 35.
43 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Beziehung zwischen der Variation des Aufzeichnungszustandes S1 bis S2 und der Variation der Verschiebungsgröße D1 bis D2.
44 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Korrektur einer Phasenverschiebung auf der Vorderseite einer Vertiefung unter Verwendung einer linearen Näherung.
45 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Korrektur einer Phasenverschiebung auf der Hinterseite einer Vertiefung unter Verwendung einer linearen Näherung.
46 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Speichern der Korrekturgrößen Ttop und Tlast.
47 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Einzelpulsen nach Korrekturen.
48 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Multipulsen nach Korrekturen.
Optimale Ausführung der Erfindung
Nachstehend wird eine optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung entsprechend der Erfindung detailliert unter Bezugnahme auf die begleitende Zeichnung beschrieben. Die vorliegende Erfindung kann bisweilen modifiziert werden und soll nicht auf die hier offenbarten Ausführungsbeispiele beschränkt sein.
1 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Konfiguration eines Aufzeichnungspulses und eines Gesamtablaufes zum Bestimmen eines Aufzeichnungszustandes entsprechend der vorliegenden Erfindung. Wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, besteht der Aufzeichnungspuls 10 der vorliegenden Erfindung aus einem oberen bzw. Startpuls 12, der an der Vorderfront des Aufzeichnungspulses befindlich ist, und einem folgenden Puls 14, der dem oberen bzw. Startpuls folgt.
Es werde angenommen, dass die Datenlänge der kürzesten Vertiefung gleich mT ist, die Aufzeichnungspulslänge für die kürzeste Vertiefung gleich m'T ist, die Datenlänge einer Vertiefung, die länger als die kürzeste Vertiefung ist, gleich nT ist und die Länge des Aufzeichnungspulses 10 für die Vertiefung gleich n'T ist, der obere bzw. Startpuls 12 eine Länge von m'T aufweist, die gleich der Aufzeichnungspulslänge für die kürzeste Vertiefung ist, und der folgende Puls 14 eine Länge von (n – m)T aufweist, wobei m und n bei diesem Ausführungsbeispiel die Werte n = 3 beziehungsweise n = 3 ~ 11 oder 14 annehmen, und T eine Einheitszeit ist, die in einem optischen Scheibensystem definiert ist, dessen Frequenz durch ein Takt- bzw. Clocksignal bestimmt ist.
Ein Zustand des Aufzeichnungspulses 10 ist durch Implementieren des Ablaufes gemäß Darstellung in dem Diagramm (b) bestimmt. Der Ablauf ist mit einem Testaufzeichnen unter der Bedingung implementiert, dass ein optisches Informationsaufzeichnungsmedium (nachstehend als „Medium^„ oder „Scheibe" bezeichnet) in eine optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung (nachstehend als „Aufzeichnungsvorrichtung" oder „Laufwerk" bezeichnet) eingelegt wird.
Wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, wird bei der Bestimmung eines Zustandes des Aufzeichnungspulses 10 zunächst ein Pulszustand für die Länge von m'T bestimmt (Schritt S100), woraufhin das Verhältnis der Länge m'T zu der Länge (n – m)T, das heißt m'T/(n – m)T, unter Verwendung des Zustandes für die Länge m'T ermittelt wird (Schritt S200). Anschließend wird ein nT-Puls basierend auf dem Verhältnis konfiguriert (Schritt S300), woraufhin abschließend der Zustand des Aufzeichnungspulses mit der Länge n'T durch Korrektur einer Phasenverschiebung bestimmt wird (Schritt S400).
2 ist ein Blockdiagramm zur Darstellung der internen Konfiguration eines Laufwerkes entsprechend der vorliegenden Erfindung. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, nimmt das Laufwerk 100 eine Aufzeichnung von Information auf ein Medium 50 beziehungsweise eine Wiedergabe von diesem unter Verwendung eines Laserstrahles vor, der von einem Laseroszillator 103 ausgestrahlt wird.
Wird Information auf das Medium 15 aufgezeichnet, so wird das Aufzeichnungssignal entsprechend einer gewünschten Aufzeichnungsinformation im EFM-Format mit einem Codierer 101 codiert, woraufhin die codierten Aufzeichnungsdaten an eine Strategieschaltung 102 übertragen werden.
Die Strategieschaltung 102 beinhaltet verschiedene Einstellungsparameter, die bereits für eine vorbestimmte Strategie eingestellt sind, und erzeugt einen Aufzeichnungspuls, von dem zu erwarten ist, dass er zu einem gewünschten Aufzeichnungszustand führt, indem die Intensität und die Pulsbreite des Laserstrahles, der von dem Laseroszillator 103 ausgestrahlt wird, gesteuert bzw. geregelt werden, und zwar basierend auf der Korrektur der verschiedenen Einstellparameter für die Strategie.
Der mit der Strategieschaltung 102 erzeugte Aufzeichnungspuls wird an den Laseroszillator 103 übertragen, der den ausgestrahlten Laserstrahl entsprechend dem Aufzeichnungspuls steuert bzw. regelt und den gesteuerten bzw. geregelten Laserstrahl auf das Medium 50, das sich mit einer konstanten linearen oder Drehgeschwindigkeit dreht, über eine Linse 104, einen Halbspiegel 105 und eine Linse 106 ausstrahlt, wodurch ein Aufzeichnungsmuster, das aus einer Abfolge von Vertiefungen und Erhebungen (pits and lands) entsprechend dem gewünschten Aufzeichnungszustand besteht, auf dem Medium 50 aufgezeichnet wird.
Wird demgegenüber Information, die auf dem Medium 50 aufgezeichnet worden ist, wiedergegeben, so wird ein homogener Wiedergabelaserstrahl, der von dem Laseroszillator 103 ausgestrahlt wird, auf das Medium 50, das sich mit einer konstanten linearen oder Drehgeschwindigkeit dreht, durch die Linse 104, den Halbspiegel 105 und die Linse 106 ausgestrahlt.
Der Wiedergabelaserstrahl, der eine geringere Intensität als der Aufzeichnungslaserstrahl, der von dem Laseroszillator 103 während der Aufzeichnung ausgestrahlt worden ist, aufweist, wird an dem Medium 50 reflektiert, wobei der reflektierte Strahl von dem Medium 50 her von einem Lichtempfangsteil 108 über die Linse 106, den Halbspiegel 105 und eine Linse 107 aufgenommen und anschließend in ein elektrisches Signal umgewandelt wird.
Die von dem Lichtempfangsteil 108 empfangene Signalausgabe entspricht einem aufgezeichneten Muster, das aus Vertiefungen (pits) und Erhebungen (lands) besteht, die auf dem Medium 50 aufgezeichnet sind. Das von dem Lichtempfangsteil 108 ausgegebene elektrische Signal wird ebenfalls zum Extrahieren eines Takt- bzw. Clocksignals mit einer vorbestimmten Frequenz aus einer Wobble-Komponente verwendet, die in dem ausgegebenen elektrischen Signal enthalten ist, und zwar mittels einer Synchronisierungssignalerfassungseinheit 109. Das elektrische Signal wird zudem mittels einer Binarisierungsschaltung 110 binarisiert, anschließend mit einem Decodierer 111 decodiert und abschließend als Wiedergabesignal ausgegeben.
Da die Aufzeichnungsqualität in einem Aufzeichnungssystem, das aus einem Laufwerk und einem Medium besteht, von Variationen bei den Kenngrößen des Laufwerkes und den Kenngrößen des Mediums gemäß vorstehender Beschreibung abhängt, ermöglicht das Ausgleichen des Einflusses dieser Abhängigkeit mittels der Strategie eine Verbesserung der Aufzeichnungsqualität. Darüber hinaus können beliebige von verschiedenen optischen Informationsaufzeichnungsmedien, darunter ein farbbasiertes Medium, so beispielsweise eine CD-R oder eine DVD-R, oder ein Phasenänderungsmedium, so beispielsweise eine CD-RW oder eine DVD-RW, bei der vorliegenden Erfindung verwendet werden.
Der Bestimmungsablauf für einen Aufzeichnungszustand zur Implementierung mit dem vorbeschriebenen Laufwerk gemäß Darstellung in 1(b) wird nachstehend detailliert beschrieben.
Bestimmung des m'T-Zustandes
3 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer detaillierten Ausführungsprozedur eines Ablaufes für die Bestimmung eines m'T-Zustandes gemäß Darstellung in 1. Wie in dem Ablaufdiagramm gezeigt ist, werden die Schritte S110 bis S114 zum anfänglichen Einstellen des Laufwerkes, die Schritte S116 bis S122 zur Bestimmung des Testaufzeichnungszustandes und der Schritt S124 zum Testaufzeichnen in dem bestimmten Testaufzeichnungszustand nacheinander bei dem Laufwerk 100 implementiert. An schließend wird basierend auf dem Ergebnis der Testaufzeichnung der Schritt S126 zur Bestimmung des m'T-Pulszustandes implementiert. Die jeweiligen Schritte werden nachstehend detailliert erläutert.
Bestimmung eines Referenzzustandes
Bei dem in 3 gezeigten Schritt S110 werden zunächst eine Pulsbreite und drei Leistungswerte als Referenzzustand mittels Testaufzeichnen mit einem gegebenen Standardmedium ermittelt, während die Aufzeichnungsrate variiert wird. Vorzugsweise werden ein Wert, der das Jittern minimiert, und zwei weitere Werte vor und nach dem Wert für die drei Leistungswerte basierend auf dem Ergebnis der Testaufzeichnung verwendet. Darüber hinaus werden für die beiden anderen Werte vorzugsweise Werte in der Umgebung einer Schwelle zur Verwendung als Kriterium zur Beurteilung, ob das Jittern annehmbar ist oder nicht, verwendet. Der Referenzzustand aus der Ermittlung bei diesem Schritt wird für die Prüfung der Aufzeichnungsqualität zur Implementierung bei einem späteren Schritt verwendet.
Bestimmen einer kriterienbezogenen Schwelle
Wie nachstehend beschrieben wird, soll basierend darauf, dass die vorliegende Erfindung dafür gedacht ist, einen Bereich unterhalb der Jitterschwelle als Bereich für den Testaufzeichnungszustand (nachstehend als „Testbereich" bezeichnet) einzustellen, die Schwelle, die kriterienbezogen sein soll, bestimmt werden. Ein Standardwert in Abhängigkeit von den Typen des Laufwerkes und/oder des Mediums kann für die Schwelle vorbereitet sein. Gleichwohl variiert die Schwelle zur Darstellung einer oberen Grenze eines für das Jittern zulässigen Bereiches in Abhängigkeit von Zuständen der optischen Komponenten und anderer Elemente, darunter der Abnehmervorrichtung gemäß 2, wie auch von der Aufzeichnungsrate.
Entsprechend wird empfohlen, wenn ein genauerer Testbereich durch Ermitteln der Schwelle für jede Kombination aus einem Laufwerk und einem Medium, die tatsächlich verwendet werden sollen, ermittelt und anschließend der Schwelle ein genaueres Kriterium zugewiesen wird.
Da das Einstellen der Schwelle für jede Kombination aus einem Laufwerk und einem Medium jedoch zu einer Zunahme der Anzahl der Aufzeichnungsvorgänge führt, kann die Schwelle, die sich für jedes Laufwerk eignet, während der Herstellung des Laufwerkes in dem Speicherbereich 115 unter der Annahme gespeichert werden, dass eine Variation der Kennwerte zwischen jeweiligen Laufwerken ein Hauptfaktor bei der Variation der Schwelle ist.
4 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Details eines Bestimmungsschrittes für die kriterienbezogene Schwelle gemäß Darstellung in 3. Wie in dem Ablauf gezeigt ist, ist die Bestimmung der kriterienbezogenen Schwelle derart implementiert, dass zunächst das Aufzeichnen/Wiedergeben unter vorbestimmten Bedingungen implementiert wird; anschließend ein Referenzwert für ein System basierend auf dem Ergebnis des Aufzeichnens/Wiedergebens bestimmt wird; und ein Wert, bei dem eine vorbestimmte Spanne für den Referenzwert sichergestellt wird, bei der Schwelle zur Verwendung bei der Bestimmung des Testbereiches angewendet wird. Die jeweiligen Schritte werden nachstehend erläutert.
Zunächst wird der Schritt S150 zum Einstellen der Aufzeichnungszustände implementiert. Bei diesem Schritt werden Muster von Zuständen, die zum Aufzeichnen/Wiedergeben notwendig sind, darunter eine Pulsbreite, eine Leistung, Aufzeichnungs-/Wiedergaberaten, eine Aufzeichnungsadresse und dergleichen, vorbereitet. Nachdem die Aufzeichnungszustände auf einem Laufwerk eingestellt sind, wird ein Referenzmedium in das Laufwerk eingelegt. Vorzugsweise wird als Referenzmedium ein Medium mit Standardkennwerten unter verschiedenen Medien ausgewählt.
Anschließend werden durch Implementieren des Aufzeichnungs-/Wiedergabeschrittes S512 für das eingelegte Referenzmedium unter den vorher in dem Schritt S150 eingestellten Bedingungen die Aufzeichnungs-/Wiedergabekennwerte, so beispielsweise Jitterwerte, unter den jeweiligen Bedingungen ermittelt. Die Kennwerte, die bei diesem Schritt ermittelt werden sollen, können als diejenigen Werte ausgewählt werden, die die Aufzeichnungsqualität darstellen.
Anschließend wird der beste Wert, so beispielsweise der minimale Jitterwert, unter den in dem vorhergehenden Schritt S152 ermittelten Aufnahme-/Wiedergabekennwerten ausgewählt und bei einem Systemreferenzwert angewendet (Schritt S154). Somit wird ein Jitterwert, der als nahe an einem optimalen Wert für das Laufwerk befindlich gilt, als Referenzwert eingestellt. Darüber hinaus kann der Referenzwert ein Zwischenwert zwischen zwei Punkten sein, bei denen eine Kurve, die für die Jitterbewegungen angenä hert ist, eine vorbestimmte Schwelle, das heißt einen Zwischenwert einer Leistungsspanne, schneidet, und zwar anstelle eines optimalen Jitterwertes.
Abschließend wird der Schritt S156 zur Bewertung der Schwelle mittels Multiplizieren des Systemreferenzwertes aus der Bestimmung bei dem vorherigen Schritt S154 mit einem vorbestimmten Faktor α(vorzugsweise α > 1) implementiert. Damit wird eine Beurteilung durch die Verwendung des Systemreferenzwertes möglich, der eine vorbestimmte Spanne beinhaltet, das heißt, es kann die Schwelle mit dem Systemreferenzwert folgendermaßen berechnet werden: Schwelle = (Systemreferenzwert) × α, wobei α vorzugsweise einen Wert von annähernd 1,5 annimmt. Darüber hinaus kann für den Faktor α ein geeigneter Wert in Abhängigkeit vom Typ eines Laufwerkes oder eines Mediums eingestellt werden. So können beispielsweise ein Wert in dem Bereich von α = 0,8~1,2 derart, dass die Schwelle nahe an den Systemreferenzwert herangelangt, wie auch ein größerer Wert in dem Bereich von α = 2,0~3,0 eingestellt werden.
5 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles des in 4 gezeigten Ablaufes. Das in dem Diagramm gezeigte Beispiel zeigt die wiedergegebenen Kennwerte 202-1 bis 202-4, die während des Variierens der Leistung von P1 bis P6 für jede der Pulsbreiten W1 bis W4 ermittelt worden sind, für den Fall des Einsatzes eines Jitterwertes als Kennwert zur Darstellung der Aufzeichnungsqualität. Bei dem Beispiel stellen die Pulsbreiten W1 bis W4 und die Leistungen P1 bis P6 die Aufzeichnungszustände dar, wobei ein Jitterwert entsprechend einem minimalen Punkt der wiedergegebenen Kennwerte 202-3 zur Darstellung des niedrigsten Jitterwertes unter den vier Wiedergabekennwerten als Systemreferenzwert verwendet wird. Anschließend wird eine Schwelle durch Multiplizieren des Systemreferenzwertes mit beispielsweise 1,5 berechnet. Darüber hinaus stellen Pfeile, die in der Leistungs-/Pulsbreiten-Matrix in dem Diagramm dargestellt sind, die Richtungen der Variation in dem Aufzeichnungszustand dar und werden in diesem Sinne in der nachfolgenden Beschreibung verwendet.
6 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines weiteren Beispieles des in 4 gezeigten Ablaufes. Das in dem Diagramm gezeigte Beispiel stellt Wiedergabekennwerte 202-1 bis 202-4 dar, die während einer Variation des Leistungsbereiches für jede der Pulsbreiten W1 bis W4 ermittelt worden sind, und zwar für den Fall des Einsatzes eines Jitterwertes als Kennwert zur Darstellung der Aufzeichnungsqualität. In dem Beispiel wird ein Jitterwert entsprechend einem minimalen Punkt des Wiedergabekennwertes 202-2 zur Darstellung des niedrigsten Jitterwertes unter den vier Wiedergabekennwerten als Systemreferenzwert eingesetzt, woraufhin eine Schwelle durch Multiplizieren des Systemreferenzwertes mit beispielsweise 1,5 berechnet wird. Die Bestimmung einer Schwelle kann bei der Variation einer Leistungsbedingung für jede Pulsbreite erfolgen.
7 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles für denjenigen Fall, in dem eine Schwelle für jedes Laufwerk berechnet wird. Für den Fall, dass die Schwelle vorzugsweise in Abhängigkeit von der Variation der Kenngrößen zwischen den jeweiligen Laufwerken eingestellt wird, wird Information, die auf einem gemeinsamen Referenzmedium 50 aufgezeichnet ist, bei jedem der Laufwerke 100-1 bis 100-5 aufgezeichnet/wiedergegeben, woraufhin eine Schwelle 1 bis 5, die für jedes der Laufwerke spezifisch ist, jeweils gespeichert wird, wie in dem Diagramm gezeigt ist.
Darüber hinaus wird für den Fall eines vereinfachten Einstellvorganges für eine Schwelle ein Mittelwert für die Schwelle 1 bis 5 berechnet, die durch Aufzeichnen/Wiedergeben von Information, die auf einem gemeinsamen Bezugsmedium aufgezeichnet ist, mit den Standardlaufwerken ermittelt wird, woraufhin die mittlere Schwelle als Schwelle für die anderen Laufwerke verwendet werden kann.
Die Standardlaufwerke, die zur Berechnung der mittleren Schwelle eingesetzt werden, können identisch oder ähnlich ausgestaltet sein, anstatt dass sie alle identisch ausgestaltet sind. Die mittlere Schwelle kann auch als Schwelle für die Standardlaufwerke verwendet werden. Darüber hinaus kann die mittlere Schwelle, sobald sie berechnet ist, allgemein als Schwelle für identisch oder ähnlich ausgestaltete Laufwerke, die später noch hergestellt werden sollen, verwendet werden. Damit kann die mittlere Schwelle durch Berechnen eines mittleren Wertes für eine Mehrzahl von Laufwerken bestimmt werden, die untereinander variierende Kenngrößen aufweisen und nach Vorgabe vorbereitet werden.
Initialisierung der Aufzeichnungsvorrichtung
Der Schritt S114 wird implementiert, um den Referenzzustand und die kriterienbezogene Schwelle, die vorstehend beschrieben und in den Schritten S110 beziehungsweise S112 von 3 bestimmt worden sind, in dem Speicherbereich 115 des Laufwerkes 100 zu speichern. Der Schritt S114 wird vorzugsweise während der Herstellung des Laufwerkes 100 implementiert.
Einlegen des Mediums, auf dem aufgezeichnet werden soll
Anschließend wird der Schritt S116 des Einlegens des Mediums 50, auf dem Information aufgezeichnet werden soll, in das Laufwerk 100, das bei dem Schritt S114 bereits initialisiert worden ist, implementiert.
Aufzeichnen/Wiedergeben im Referenzzustand
In dem bei dem Schritt S114 eingestellten Zustand wird der Schritt S118 zum Aufzeichnen auf dem bei dem Schritt S116 eingelegten Medium 50 implementiert. Es werden speziell drei Jitterwerte durch dreimaliges Aufzeichnen/Wiedergeben unter Verwendung einer Pulsbreite und dreier Leistungswerte gemäß Definition als Referenzzustand ermittelt. Die graphische Darstellung dieser drei Jitterwerte in Abhängigkeit von der Leistung ergibt eine klare Tendenz der aufgezeichneten Kennwerte in Abhängigkeit von der Kombination aus dem Laufwerk 100 und dem Medium 50.
Prüfung der Aufzeichnungsqualität
8 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von nach unten konvexen Kennwerten aus der Ermittlung als Ergebnis der Prüfung der Aufzeichnungsqualität gemäß Implementierung bei dem Schritt S120 in 3. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, wird die Aufzeichnungsqualität unter Verwendung einer Schwelle und eines Jitterwertes aus der Ermittlung bei den vorhergehenden Schritten für jeden Referenzzustand geprüft. Das in dem Diagramm dargestellte Beispiel entspricht demjenigen Fall, in dem drei Leistungswerte P1, P2 und P3 als Referenzzustand verwendet werden, und zeigt, dass eine virtuelle Linie zur Verbindung dieser drei Jitterwerte bei P1 bis P3 nach unten konvexe Kennwerte aufweist. Derartige nach unten konvexe Kennwerte bedingen, dass das bei dem Schritt S110 verwendete Referenzmedium dieselbe Empfindlichkeit wie das Medium aufweist, auf das aufgezeichnet werden soll und das bei dem Schritt S116 eingelegt worden ist, und dass die aufgezeichneten Kennwerte zueinander ähnlich sind.
8(a) zeigt denjenigen Fall, in dem der minimale Wert der nach unten konvexen Kennwerte unterhalb einer Schwelle ist, während (b) denjenigen Fall zeigt, in dem der minimale Wert der nach unten konvexen Kennwerte oberhalb einer Schwelle ist. In jedem der beiden Fälle werden das Referenzmedium und das Medium, auf das aufge zeichnet werden soll, als dieselbe Empfindlichkeit aufweisend betrachtet. Weisen das Referenzmedium und das Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, dieselbe Empfindlichkeit, wie eben beschrieben worden ist, auf, so wird ein Zustand zur Verwendung für die Testaufzeichnung als Planbereich eingestellt, der durch (Leistung) × (Pulsbreite) mit Zentrierung an einem Referenzzustand, wie nachstehend noch beschrieben wird, definiert ist.
In dem Diagramm gilt, dass die Differenz zwischen einem wiedergegebenen Wert aus der Ermittlung bei jeder der Aufzeichnungsleistungen P1, P2 und P3 und einem wiedergegebenen Referenzwert, das heißt für den Fall des Diagramms die Differenz zwischen jedem der Jitterwerte und der Jitterschwelle gemäß Darstellung in dem Diagramm (a), verschieden von Diagramm (b) ist und der wiedergegebene Wert in dem Diagramm (a) näher an dem wiedergegebenen Referenzwert als derjenige in dem Diagramm (b) befindlich ist.
Dies bedeutet, dass die Erfassung eines optimalen Zustandes für den Fall des Diagramms (a) im Vergleich zu dem Fall des Diagramms (b) einfacher ist. Ermittelt man entsprechend Aufzeichnungskennwerte wie diejenigen, die in dem Diagramm (a) gezeigt sind, so kann die Anzahl der Testaufzeichnungen kleiner sein, und es kann eine geeignetere Lösung mit einer kleineren Anzahl von Testläufen im Vergleich zu dem Fall des Diagramms (b) gefunden werden.
Mit anderen Worten, in demjenigen Fall, in dem die Differenz zwischen dem wiedergegebenen Wert und dem wiedergegebenen Referenzwert klein ist, ist ein optimaler Zustand nahe an dem vorbeschriebenen Referenzzustand, während der optimale Zustand für denjenigen Fall weit von dem Referenzzustand entfernt ist, dass die Differenz groß ist. Ist entsprechend eine Verringerung der Anzahl der Testaufzeichnungen erwünscht, so wird eine variierende Anzahl in Abhängigkeit von der Differenz bevorzugt.
9 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von nach unten schräg verlaufenden Kennwerten aus der Ermittlung als Ergebnis der Prüfung der Aufzeichnungsqualität gemäß Implementierung bei dem Schritt S120 in 3. Bei dem in dem Diagramm gezeigten Beispiel nimmt der Jitterwert bei einer Zunahme der Leistung von P1 bis P3 ab, das heißt, das Beispiel zeigt nach unten schräg verlaufende Kennwerte. Derartige nach unten schräg verlaufende Kennwerte bedeuten, dass das Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, eine niedrigere Empfindlichkeit als das Referenzmedium aufweist.
9(a) zeigt denjenigen Fall, in dem der minimale Wert der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte unterhalb einer Schwelle ist, während (b) denjenigen Fall zeigt, in dem der minimale Wert der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte oberhalb einer Schwelle ist. In jedem der beiden Fälle wird das Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, als eine niedrigere Empfindlichkeit als das Referenzmedium aufweisend betrachtet. Weist das Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, eine niedrigere Empfindlichkeit als das Referenzmedium, wie eben beschrieben worden ist, auf, so wird die Testaufzeichnung durch Verschieben des Testbereiches, was ursprünglich durch (Leistung) × (Pulsbreite) mit einer Zentrierung an einem Referenzzustand definiert ist, sowohl zur Seite der höheren Leistung wie auch zur Seite der größeren Pulsbreite implementiert.
Da zudem der minimale Jitterwert als auf der Seite der höheren Leistung für den Fall der in 9 gezeigten nach unten schräg verlaufenden Kennwerte befindlich betrachtet wird, können die Aufzeichnungswerte wiederum durch zusätzliches Aufzeichnen mit einer höheren Leistung als P3 geprüft werden. In diesem Fall erhöht sich die Anzahl der Aufzeichnungen um 1. Gleichwohl kann die Prüfungsgenauigkeit verbessert werden. Zusätzlich kann auch für den Fall der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte die Anzahl der Testaufzeichnungen in Abhängigkeit von der Differenz zwischen einem wiedergegebenen Wert und einem wiedergegebenen Referenzwert variiert werden, wie es auch bei den vorstehend beschriebenen nach unten konvexen Kennwerten der Fall war.
Für den Fall von nach unten schräg verlaufenden Kennwerten wird die optimale Lösung als weiter von dem Referenzzustand entfernt im Vergleich zu dem unter Bezugnahme auf 8 vorstehend beschriebenen Fall der nach unten konvexen Kennwerte betrachtet. Entsprechend wird vorgezogen, die Anzahl der Testaufzeichnungen im Vergleich zu dem Fall der nach unten konvexen Kennwerte zu erhöhen.
10 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von nach oben schräg verlaufenden Kennwerten aus der Ermittlung als Ergebnis der Prüfung der Aufzeichnungsqualität gemäß Implementierung bei dem Schritt S120 in 3. Bei dem in dem Diagramm gezeigten Beispiel erhöht sich der Jitterwert bei einer Zunahme der Leistung von P1 bis P3, das heißt, das Beispiel zeigt nach oben schräg verlaufende Kenn werte. Die nach oben schräg verlaufenden Kennwerte bedingen, dass das Medium, auf dem aufgezeichnet werden soll, eine höhere Empfindlichkeit als das Referenzmedium aufweist.
10(a) zeigt denjenigen Fall, in dem der minimale Wert der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte unterhalb einer Schwelle ist, während (b) denjenigen Fall zeigt, in dem der minimale Wert der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte oberhalb einer Schwelle ist. In beiden Fällen wird das Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, als eine höhere Empfindlichkeit als das Referenzmedium aufweisend betrachtet. Weist das Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, eine höhere Empfindlichkeit als das Referenzmedium, wie eben beschrieben worden ist, auf, so wird das Testaufzeichnen durch Verschieben des Testbereiches, der ursprünglich durch (Leistung) × (Pulsbreite) mit einer Zentrierung an einem Referenzzustand definiert ist, sowohl zur Seite der niedrigeren Leistungen wie auch zur Seite der kleineren Pulsbreite verschoben.
Da zudem der minimale Jitterwert als auf der Seite der niedrigeren Leistung für den Fall der in 9 gezeigten nach oben schräg verlaufenden Kennwerte befindlich betrachtet wird, können die Aufzeichnungskennwerte durch zusätzliches Aufzeichnen bei einer niedrigeren Leistung als P1 geprüft werden. In diesem Fall nimmt die Anzahl der Aufzeichnungen um 1 ab. Gleichwohl kann die Aufzeichnungsgenauigkeit verbessert werden. Darüber hinaus kann wie auch für den Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte die Anzahl der Testaufzeichnungen in Abhängigkeit von der Differenz zwischen einem wiedergegebenen Wert und einem wiedergebenden Referenzwert variiert werden, genau wie dies bei den vorbeschriebenen nach unten konvexen Kennwerten der Fall war.
Darüber hinaus wird für den Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte die optimale Lösung als weiter entfernt von dem Referenzzustand im Vergleich zu dem Fall der nach unten konvexen Kennwerte betrachtet, die vorstehend unter Bezugnahme auf 8 beschrieben worden sind. Gleichwohl wird bevorzugt, die Anzahl der Testaufzeichnungen im Vergleich zum Fall der nach unten konvexen Kennwerte zu erhöhen.
Bestimmung des Testbereiches
11 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles zur Bestimmung des Testbereiches zur Implementierung bei dem Schritt S122 für den Fall der nach unten konvexen Kennwerte aus der Ermittlung bei dem Schritt S120 in 3. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, wird für den Fall der nach unten konvexen Kennwerte der Bereich zwischen zwei Schnittpunkten einer genäherten Kurve 206 für Jitterwerte bei den Leistungswerten P1, P2 und B3 mit einer Schwelle bei einem Leistungsvariationsbereich zur Verwendung für die Testaufzeichnungen angewendet. Bei der vorliegenden Erfindung wird der Leistungsvariationsbereich zur eigentlichen Verwendung für die Testaufzeichnung als „Leistungsbereich" definiert, wobei der Leistungsbereich, bei dem das Jittern gleich der Schwelle oder kleiner als diese ist, als „Leistungsspanne" definiert wird.
Die genäherte Kurve 206 variiert in Abhängigkeit von der Pulsbreite. Entsprechend wird für den Fall, dass die Pulsbreite zur Verwendung als Referenzzustand gleich W4 ist, das Aufzeichnen bei den Leistungswerten P1, P2 und P3 für jede der Pulsbreiten W1 bis W6 mit einer Zentrierung an W4 implementiert. Infolgedessen kann die genäherte Kurve 206 für jede der Pulsbreiten W1 bis W6 ermittelt werden, wobei die Schnittpunkte der genäherten Kurve 206 mit der Schwelle für jede Pulsbreite geprüft werden können. Dies ermöglicht das Ermitteln eines Leistungsbereiches für jede Pulsbreite, bei der das Jittern gleich der Schwelle oder kleiner als diese ist, wobei der schraffierte Bereich in einer Leistungs-/Pulsbreiten-Matrix, siehe 11, auf einen Testbereich angewendet wird. In der Matrix sind die drei Leistungswerte P1, P2 und P3 in Bezug auf die Pulsbreite W4 zur Verwendung als Referenzzustand mit 208-1, 208-2 beziehungsweise 208-3 bezeichnet. Entsprechend kann davon ausgegangen werden, dass der vorher bestimmte Testbereich als Planbereich eingestellt wird, der durch (Leistung) × (Pulsbreite) mit einer Zentrierung an dem Referenzzustand definiert ist.
Da somit das Ermitteln eines Leistungsbereiches für jede Pulsbreite zu intensiven Testläufen in demjenigen Bereich, in dem ein Jittern gleich einer Schwelle oder kleiner als diese ist, führen kann, kann ein besser geeigneter Zustand mit einer kleineren Anzahl von Testläufen gefunden werden.
Darüber hinaus kann die Anzahl der Testläufe auch durch Einstellen einer größeren Schrittgröße für die Leistungsvariation für den Fall einer großen Leistungsspanne oder durch Einstellen einer kleineren Schrittgröße für die Leistungsvariation für den Fall einer kleinen Leistungsspanne verringert werden. So kann beispielsweise für den Fall einer Spanne von 10 mW die Testaufzeichnung fünfmal mit einer Schrittgröße von 2 mW unter der Annahme implementiert werden, dass ein optimaler Wert auch bei groben Tests ermittelt werden kann, während für den Fall einer Spanne von 1 mW eine zehnmalige Imp lementierung bei einer Schrittgröße von 0,1 mW zur Beurteilung der Notwendigkeit von genaueren Tests gegeben sein kann.
12 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles der Bestimmung eines Testbereiches zur Implementierung bei dem Schritt S122 für den Fall der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte aus der Ermittlung bei dem Schritt S120 in 3. Da ein optimaler Zustand als auf der Seite der höheren Leistung für den Fall der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte befindlich betrachtet wird, wird eine zusätzliche Aufzeichnung bei einem Leistungswert von P+ von mehr als P3 betrachtet, und es wird der Bereich zwischen zwei Schnittpunkten einer genäherten Kurve 206 für die Jitterwerte bei den Leistungswerten P1, P2 und P3 sowie P+ mit einer Schwelle bei einem Leistungsbereich gemäß Darstellung in 12 angewendet. Dieser Vorgang wird für jede der Pulsbreiten W1 bis W6 implementiert, wobei der Testbereich gemäß Darstellung in einer Leistungs-/Pulsbreiten-Matrix, siehe 12, ermittelt werden kann.
Der vorstehend bestimmte Testbereich entspricht einer Form, bei der ein Planbereich, der durch (Leistung) × (Pulsbreite) mit einer Zentrierung an dem Referenzzustand definiert ist, darunter 208-1, 208-2, 208-3, zur Seite der höheren Leistung hin verschoben wird. Für den Fall der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte kann ein Leistungsbereich durch Verschieben des Pulsbreitenbereiches W1 bis W6 in den Bereich einer größeren Pulsbreite aufgrund der niedrigen Empfindlichkeit eines Mediums, auf dem aufgezeichnet werden soll, bestimmt werden, obwohl sich das Beispiel des Pulsbreitenbereiches W1 bis W6 bedient, der vorstehend für den Fall der nach unten konvexen Kennwerte verwendet worden ist.
13 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles der Bestimmung eines Testbereiches zur Implementierung bei dem Schritt S122 für den Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte aus der Ermittlung bei dem Schritt S120 in 3. Da ein optimaler Zustand als auf der Seite der niedrigeren Leistung für den Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte befindlich betrachtet wird, wird eine zusätzliche Aufzeichnung bei dem Leistungswert P+ von mehr als P1 und dem Bereich zwischen den Schnittpunkten einer genäherten Kurve 206 für die Jitterwerte bei den Leistungswerten P+, P1, P2 und P3 mit einer Schwelle bei einem Leistungsbereich gemäß Darstellung in 13 angewendet. Dieser Vorgang wird für jede der Pulsbreiten W1 bis W6 implementiert, wodurch ein Testbereich gemäß Darstellung in einer Leistungs-/Pulsbreiten-Matrix in 13 ermittelt werden kann.
Der vorstehend bestimmte Testbereich entspricht einer Form, bei der ein Planbereich, der durch (Leistung) × (Pulsbreite) mit einer Zentrierung an dem Referenzzustand, darunter 208-1, 208-2 und 208-3, definiert ist, auf die Seite der niedrigeren Leistungen verschoben wird. Für den Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte kann ein Leistungsbereich durch Verschieben des Pulsbreitenbereiches W1 bis W6 in den Bereich der kleineren Pulsbreite aufgrund der höheren Empfindlichkeit eines Mediums, auf das aufgezeichnet werden soll, verschoben werden, obwohl sich das Beispiel auch des Pulsbreitenbereiches W1 bis W6 bedient, der vorstehend für den Fall der nach unten konvexen Kennwerte verwendet worden ist.
Bei dem vorstehend beschriebenen Verfahren kann aufgrund dessen, dass die Aufzeichnungsqualität für jede Pulsbreite geprüft wird und die Anzahl der Testläufe für jede Pulsbreite basierend auf dem Prüfungsergebnis bestimmt wird, eine Verringerung der Anzahl der Testläufe erwartet werden. Die Prüfung der Aufzeichnungsqualität ist, wie vorstehend beschrieben worden ist, ein Beispiel für denjenigen Fall, in dem die Prüfung durch Mustern (Patterning) einer Jittervariation in Abhängigkeit von jeweiligen Aufzeichnungen bei Referenzzuständen implementiert wird. Besonders bevorzugt wird jedoch empfohlen, die Prüfung durch die Verwendung von acht Mustern, was nachstehend beschrieben wird, zu implementieren.
14 ist ein Diagramm zur Darstellung eines Beispieles desjenigen Falles, bei dem der Schritt 120 von 3 unter Verwendung von acht Mustern implementiert wird. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, kann das Muster 1 auf beliebige Muster angewendet werden, darunter nach unten konvexe, nach oben schräg verlaufende und nach unten schräg verlaufende Muster für den Fall, dass der maximale Jitterwert gleich einer Schwelle oder kleiner als diese ist. Für den Fall von Muster 1 wird ein Leistungszustand sowohl zu der Seite der niedrigeren wie auch der höheren Leistung hin basierend auf dem Konzept erweitert, dass eine größere Spanne, bei der ein Jittern gleich einer Schwelle oder kleiner als diese ist, sichergestellt werden kann, zusätzlich zu dem Konzept, dass ein Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, eine vergleichbare Empfindlichkeit in Bezug auf einen Referenzmedium aufweist. Mit anderen Worten, es wird für den Fall von Muster 1 aufgrund dessen, dass kein Wert in der Umgebung der Schwelle ermittelt wird, eine zusätzliche Aufzeichnung sowohl auf der Seite der niedrigeren wie auch auf der Seite der höheren Leistung implementiert.
Anschließend wird eine Kurvennäherung für Jitterkennwerte aus der Ermittlung von der zusätzlichen Aufzeichnung und dem Bereich zwischen den beiden Schnittpunkten der genäherten Kurve mit der Jitterschwelle bei einem Referenzleistungsbereich angewendet.
Für den Fall von Muster 1 wird zudem der Pulsbreitenbereich zwischen einem Referenzwert ±0,2T als Testbereich bestimmt, wobei ein optimaler Aufzeichnungszustand während einer Variation einer Pulsbreite um 0,2T gleichzeitig in dem Testbereich während der Testaufzeichnung erfasst wird, wobei T eine Einheitszeitlänge einer Aufzeichnungsvertiefung (recording pit) bezeichnet.
Werden die Pulsbreite, die ein Referenzwert sein soll, mit einem Pulszustand 1 und die beiden erweiterten Pulsbreiten mit Pulszuständen 2 und 3 bezeichnet, so entsprechen die Pulszustände 2 und 3 für den Fall des Musters 1 den Pulsbreiten der jeweiligen ±0,2T-Erweiterung. Bei einer Änderung des Pulsbreitenzustandes wird der Leistungsbereich zur Verwendung als Testzustand geringfügig geändert.
Wird beispielsweise eine Pulsbreite um 0,1T variiert, so wird (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × 1) mW auf einen Leistungsbereich für die variierte Pulsbreite angewandt. Wird auf ähnliche Weise eine Pulsbreite um 0,2T variiert, so wird (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × 2) mW auf einen Leistungsbereich für die variierte Pulsbreite angewendet. Wird eine Pulsbreite um –0,1T variiert, so wird (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (–1)) mW auf einen Leistungsbereich für die variierte Pulsbreite angewendet.
Entsprechend bedingt für den Fall des Musters 1 der Testzustand die nachfolgenden drei Mengen:

(1) eine Referenzpulsbreite und einen Referenzleistungsbereich
(2) (Referenzpulsbreite) – 0,2T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (–2)) mW
(3) (Referenzpulsbreite) + 0,2T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (+2)) mW

Damit wird der vorstehend unter (1) gezeigte Referenzzustand nicht notwendigerweise für die eigentliche Testaufzeichnung verwendet.
Muster 2 entspricht dem Fall der nach unten konvexen Kennwerte und kann verwendet werden, wenn der minimale Jitterwert gleich einer Schwelle oder kleiner als diese ist. Für den Fall von Muster 2 wird ((Referenzpulsbreite) ± 0,1T) als Pulsbreitenzustand ausge wählt, was auf dem Konzept beruht, dass ein Medium, auf dem aufgezeichnet werden soll, dieselbe Empfindlichkeit wie ein Referenzmedium aufweist. Anschließend wird mittels eines ähnlichen Verfahrens wie für den Fall von Muster 1 ein Leistungsbereich für jede der Pulsbreiten eingestellt. Infolgedessen beinhaltet ein Testzustand für den Fall von Muster 2 die nachfolgenden Mengen:

(1) eine Referenzpulsbreite und einen Referenzleistungsbereich
(2) (Referenzpulsbreite) – 0,1T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (–1)) mW
(3) (Referenzpulsbreite) + 0,1T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (+1)) mW

Muster 3 entspricht dem Fall von nach unten konvexen Kennwerten und kann verwendet werden, wenn der minimale Jitterwert größer als eine Schwelle ist. Für den Fall von Muster 3 wird ((Referenzpulsbreite) ± 0,2T) als Pulsbreitenzustand ausgewählt, was auf dem Konzept beruht, dass ein Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, dieselbe Empfindlichkeit wie ein Referenzmedium aufweist und die Differenz zwischen beiden bezüglich eines Merkmals groß ist. Anschließend wird mittels eines ähnlichen Verfahrens wie für den Fall von Muster 1 ein Leistungsbereich für jede der Pulsbreiten eingestellt. Infolgedessen beinhaltet ein Testzustand für den Fall von Muster 3 die nachfolgenden drei Mengen:

Muster 4 entspricht dem Fall der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte und kann verwendet werden, wenn der minimale Jitterwert gleich einer Schwelle oder kleiner als diese ist. Für den Fall von Muster 4 werden drei Punkte, darunter eine Referenzpulsbreite, ((Referenzpulsbreite) + 0,1T) und ((Referenzpulsbreite) + 0,2T) als Pulsbreitenzustand ausgewählt, was auf dem Konzept beruht, dass ein Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, eine geringfügig niedrigere Empfindlichkeit als ein Referenzmedium aufweist. Anschließend wird mittels eines ähnlichen Verfahrens wie in dem Fall von Muster 1 ein Leistungsbereich für jede der Pulsbreiten eingestellt. Infolgedessen beinhaltet ein Testzustand für den Fall von Muster 4 die nachfolgenden drei Mengen:

(1) eine Referenzpulsbreite und einen Referenzleistungsbereich
(2) (Referenzpulsbreite) + 0,1T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (+1)) mW
(3) (Referenzpulsbreite) + 0,2T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (+2)) mW

Muster 5 entspricht dem Fall der nach unten schräg verlaufenden Kennwerte und kann verwendet werden, wenn der minimale Jitterwert größer als eine Schwelle ist. Für den Fall von Muster 5 werden drei Punkte, darunter eine Referenzpulsbreite, ((Referenzpulsbreite) + 0,2T) und ((Referenzpulsbreite) + 0,4T) als Pulsbreitenzustand ausgewählt, was auf dem Konzept beruht, dass ein Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, eine beträchtlich niedrigere Empfindlichkeit als ein Referenzmedium aufweist. Anschließend wird mittels eines ähnlichen Verfahrens wie für den Fall von 1 ein Leistungsbereich für jede der Pulsbreiten eingestellt. Infolgedessen beinhaltet ein Testzustand für den Fall von Muster 5 die nachfolgenden drei Mengen:

(1) eine Referenzpulsbreite und einen Referenzleistungsbereich
(2) (Referenzpulsbreite) + 0,2T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (+2)) mW
(3) (Referenzpulsbreite) + 0,4T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (+4)) mW

Muster 6 entspricht dem Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte und kann verwendet werden, wenn der minimale Jitterwert gleich einer Schwelle oder kleiner ist. Für den Fall von Muster 6 werden drei Punkte, darunter eine Referenzpulsbreite, ((Referenzpulsbreite) – 0,1T) und ((Referenzpulsbreite) – 0,2T) als Pulsbreitenzustand ausgewählt, was auf dem Konzept beruht, dass ein Medium, auf das aufgezeichnet werden soll, eine geringfügig höhere Empfindlichkeit als ein Referenzmedium aufweist. Anschließend wird mittels eines ähnlichen Verfahrens wie für den Fall von 1 ein Leistungsbereich für jede der Pulsbreiten eingestellt. Infolgedessen beinhaltet eine Testbedingung für den Fall von Muster 6 die nachfolgenden drei Mengen:

(1) eine Referenzpulsbreite und einen Referenzleistungsbereich
(2) (Referenzpulsbreite) – 0,1T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (–1)) mW
(3) (Referenzpulsbreite) – 0,2T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (–2)) mW

Muster 7 entspricht dem Fall der nach oben schräg verlaufenden Kennwerte und kann verwendet werden, wenn der minimale Jitterwert größer als eine Schwelle ist. Für den Fall von Muster 7 werden drei Punkte, darunter eine Referenzpulsbreite, ((Referenzpulsbreite) – 0,2T) und ((Referenzpulsbreite) – 0,4T) als Pulsbreitenzustand ausgewählt, was auf dem Konzept beruht, dass ein Medium, auf das ausgezeichnet werden soll, eine beträchtlich höhere Empfindlichkeit als ein Referenzmedium aufweist. Anschließend wird mittels eines ähnlichen Verfahrens wie in dem Fall von 1 ein Leistungsbereich für jede der Pulsbreiten eingestellt. Infolgedessen beinhaltet ein Testbedingung für den Fall von Muster 7 die nachfolgenden drei Mengen:

(1) eine Referenzpulsbreite und einen Referenzleistungsbereich
(2) (Referenzpulsbreite) – 0,2T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (–2)) mW
(3) (Referenzpulsbreite) – 0,4T und (Referenzleistungsbereich) × (1 – 0,05 × (–4)) mW

Muster 8 entspricht dem Fall von nach oben konvexen Kennwerten und kann verwendet werden, wenn der maximale Jitterwert größer als eine Schwelle ist. Für den Fall von Muster 8 wird ((Referenzpulsbreite) ± 0,2T) als Pulsbreitenzustand ausgewählt, was auf dem Konzept beruht, dass die Kennwerte anomal sind. Anschließend wird mittels eines Verfahrens ähnlich zu demjenigen von Muster 1 ein Leistungsbereich für jede der Pulsbreiten eingestellt. infolgedessen beinhaltet ein Testzustand für den Fall von Musters 8 die nachfolgenden drei Medien:

Zusätzlich kann für den Fall der Erfassung eines Musters ungleich Muster 2, das am nächsten an dem Referenzmedium unter den acht Mustern ist, wiederum eine Jittern durch ein weiteres Wiedergeben der Aufzeichnung, aus der das Muster ermittelt worden ist, erfasst werden, um zu bestätigen, dass das Muster nicht auf einem Wiedergabefehler beruht. In diesem Fall kann dann, wenn ein Muster ungleich Muster 2 erneut durch eine weitere Wiedergabe erfasst wird, ein Aufzeichnungszustand hinzugefügt und entsprechend dem in 14 gezeigten Zustand erweitert werden.
Darüber hinaus wird für den Fall der Erfassung von Muster 8 als Ergebnis der vorbeschriebenen Bestätigung des Wiedergabefehlers die Aufzeichnung erneut implementiert, und zwar mit einer Referenzpulsbreite vor einer zusätzlichen Aufzeichnung oder einer Pulsbreitenerweiterung. Wird Muster 8 erneut durch Wiedergabe der Aufzeichnung erfasst, so wird eine zusätzliche Aufzeichnung mit einer Pulsbreitenerweiterung implementiert, das heißt, die Erweiterung der Pulszustände 2 und 3 anstelle einer Leistungserweiterung zur Messung einer Spanne für den Pulszustand 1. Eine Leistungserweiterung entsprechend der Erweiterung der Pulszustände 2 und 3 kann durch das vorbeschriebene Verfahren implementiert werden.
Mit anderen Worten, für den Fall von Muster 8 kann eine Spanne bei dem Pulszustand 1 nicht sichergestellt werden, weshalb ein Leistungsbereich, der eine Basis für eine Leistungserweiterung darstellt, nicht ermittelt werden kann. Entsprechend wird ein Anfangsleistungszustand als Referenzleistungsbereich eingestellt.
Bestimmung des Testbereiches:
Bestimmung des Leistungsbereiches mittels eines Näherungsverfahrens
Ein Testbereich, der bei der Ermittlung einer optimalen Lösung mit einer kleineren Anzahl von Testläufen effektiv ist, wird durch Implementieren des vorbeschriebenen Verfahrens bestimmt. Darüber hinaus wird nachstehend ein Verfahren für die Bestimmung einer Leistungsspanne, das bei der Bestimmung des Testbereiches wichtig ist, beschrieben.
Bei der vorliegenden Erfindung wird zur Verbesserung der Genauigkeit beim Auffinden einer optimalen Lösung mit der kleinstmöglichen Anzahl von Testläufen auf einen Testzustand in einem Bereich abgestellt, in dem ein Jittern gleich einer Schwelle oder kleiner als diese ist, wie vorstehend beschrieben worden ist. Entsprechend diesem Konzept kann ein Leistungsbereich zur Verwendung für die Testaufzeichnung aus den beiden Leistungswerten ermittelt werden, die eine Spanne für eine Schwelle angeben. Die Spanne für eine Schwelle bedingt einen Bereich, bei dem ein Kennwert gleich einer Schwelle oder kleiner als diese ermittelt werden kann, wobei zwei Leistungswerte Werte auf der Seite der niedrigeren und höheren Leistung bezeichnen, die diesen Spannenbereich definieren.
Eingedenk der Verringerung der Testaufzeichnungszeit und der effizienten Verwendung eines Testaufzeichnungsbereiches eines Mediums, so beispielsweise eines einmal beschreibbaren Mediums, bei dem der Testaufzeichnungsbereich beschränkt ist, ist die Anzahl der Aufzeichnungspunkte für die Testaufzeichnungen vorzugsweise kleiner. Gleichwohl wird eine höhere Genauigkeit für die vorbeschriebene Leistungsbereichsbestimmung sehr viel mehr benötigt, da der Leistungsbereich ein wichtiger Parameter als Kriterium für einen optimalen Aufzeichnungszustand ist.
Da das Ermitteln eines genauen Leistungsbereiches zu den Testläufen führt, die intensiv in einem genaueren ausgewählten Bereich zu implementieren sind, trägt dies zu einer Verringerung der Anzahl der Testläufe bei. Für den Fall einer Testaufzeichnung mit einer Rate von einmal pro 0,1 mW ist die Testaufzeichnung beispielsweise zehnmal für den Leistungsbereich von 1 mW und 20 Testaufzeichnungen für 2 mW implementiert. Entsprechend trägt das Verengen eines Leistungsbereiches zur Verringerung der Anzahl der Testläufe bei.
Es wird daher bei der vorliegenden Erfindung ein Verfahren zum Ermitteln einer gewünschten Spannengröße durch Nähern einer Kennwertekurve unter Verwendung einiger aufgezeichneter Punkte unter Berücksichtigung der Aufzeichnungsqualität der Aufzeichnungs-/Wiedergabesignale vorgeschlagen, wobei hier eine Variation entsprechend einer quadratischen Kurve mit einem extremalen Wert als optimalem Punkt in Abhängigkeit von einer Variation der Aufzeichnungsleistung gezeigt ist. Die Anwendung eines derartigen Näherungsverfahrens ermöglicht die einfache Ermittlung eines Leistungsbereiches mit hoher Genauigkeit mittels einiger aufgezeichneter Punkte und kann die Anzahl der Testläufe verringern.
15 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung des Verfahrens zur Ermittlung eines Leistungsbereiches zur Verwendung bei dem Schritt S122 in 3 mittels einer Kurvennäherung. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, werden zunächst zwei Punkte a und c und ein Punkt b für die Näherung ausgewählt, wobei die zwei Punkte a und c auf den Seiten der niedrigeren beziehungsweise höheren Leistung angeordnet sind und wovon die Jitterwerte in der Umgebung einer Schwelle sind, die ein Kriterium für die Aufzeichnungskennwerte sein soll, und der Punkt b zwischen den beiden Punkten a und c befindlich ist und wovon ein Jitterwert unterhalb der Jitterwerte der Punkte a und c ist und der Schwelle ist, dass heißt, die auszuwählenden Punkte a, b und c weisen die nachfolgenden wechselseitigen Beziehungen auf: a > b, c > b und Schwelle > b.
Der Begriff „Umgebung" einer Schwelle ist als Bereich zwischen den oberen und unteren Grenzen festgelegt, die um gewisse Größen höher bzw. niedriger als die Schwelle sind, wobei vorzugsweise die oberen und unteren Grenzen um 40% beziehungsweise 5% höher beziehungsweise niedriger als die Schwelle eingestellt werden. Die Werte a, b und c werden anschließend mit einer quadratischen Funktion genähert, wobei der Bereich zwischen den beiden Schnittpunkten der quadratischen Funktion mit der Schwelle bei einem Leistungsbereich angewendet wird. Der Bereich zur Definition einer Umgebung einer Schwelle kann von Mal zu Mal variiert werden, so beispielsweise von –5% bis +40%, von –10% bis +30% oder dergleichen, und zwar bei der Betrachtung des Intervalls zwischen den beiden benachbarten Aufzeichnungspunkten.
16 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines weiteren Beispieles zur Ermittlung eines Leistungsbereiches zur Verwendung bei dem Schritt S122 in 3 mittels einer Kurvennäherung. Für den Fall, dass eine Menge von drei Punkten a, b und c, die in dem Diagramm gezeigt sind, nicht den vorbeschriebenen Bedingungen a > b, c > b und Schwelle > b genügt, wird vorgezogen, einen Wert in der Umgebung einer Schwelle durch zusätzliches Aufzeichnen eines Punktes D auf der Seite der höheren Leistung zu ermitteln.
Zusätzlich wird für den Fall b > c, wie in dem Diagramm gezeigt ist, das Ermitteln eines Näherungsausdruckes mit den drei Punkten a, c und d ohne Verwendung des Punktes b vorgezogen.
Da die Beziehungen zwischen den drei aufgezeichneten Punkten und der Schwelle gleich "A > C, D > C und Schwelle > C" sind, was zum Zeichnen einer Näherungskurve geeignet ist, kann die Näherungskurve mit höherer Genauigkeit mittels einer Dreipunktnäherung ermittelt werden. Darüber hinaus kann ein zusätzlicher Aufzeichnungszustand für den Punkt D in Abhängigkeit von Beziehungen zwischen den Aufzeichnungspunkten A, B und C vor der zusätzlichen Aufzeichnung bestimmt werden, das heißt „A > B und B > C", sowie an der Schwelle.
Für den Fall, dass kein Jitterwert in der Umgebung der Schwelle auf der Seite einer niedrigeren Leistung existiert, was im Gegensatz zu dem Fall von 16 steht, kann eine zusätzliche Aufzeichnung unter der Bedingung einer niedrigeren Leistung im Vergleich zu Fall A implementiert werden. Zudem kann von Zeit zu Zeit eine zusätzliche Aufzeichnung unter einem oder mehreren Aufzeichnungszuständen in Abhängigkeit von den Zuständen der aufgezeichneten Punkte und der Schwelle implementiert werden.
Eine Leistung zur Verwendung für den zusätzlichen Aufzeichnungszustand kann mit einem Leistungsschritt variieren, der sich von einem vorbestimmten Leistungsschritt unterscheidet, und es kann ein Leistungszustand, der in dem zusätzlichen Aufzeichnungsschritt enthalten ist, basierend auf einer vorab ermittelten Beziehung der Variation des Jitterns zur Variation der Leistung eingestellt werden.
Darüber hinaus wird für den Fall, dass aufgezeichnete Punkte, die zur Bestimmung eines Leistungsbereiches ausreichend sind, auch nach dem Aufzeichnen mit dem vorbeschriebenen zusätzlichen Aufzeichnungszustand nicht ermittelt werden, ein weiterer Aufzeichnungspunkt durch Hinzufügen eines weiteren Aufzeichnungszustandes auf dieselbe Weise wie vorstehend beschrieben ermittelt.
Für den Fall eines einmal beschreibbaren Mediums, von dem ein Testaufzeichnungsbereich beschränkt ist, um den Ablauf einer großen Menge an Testzeit zu vermeiden, kann die Anzahl der vorbeschriebenen zusätzlichen Aufzeichnungszustände eine obere Grenze aufweisen, wobei auch eine zusätzliche Aufzeichnungsleistung eine Obergrenze aufweisen kann, die eine Laserleistung aufgrund der Hinzufügung eines Aufzeichnungszustandes nicht überschreiten soll.
Darüber hinaus wird bei dem vorbeschriebenen Beispiel ein Leistungsbereich mittels einer Dreipunktnäherung bestimmt. Ein Leistungsbereich kann jedoch auch derart bestimmt werden, dass zunächst die beiden nächsten Punkte an der Schwelle ausgewählt werden, woraufhin ein Bereich zwischen den beiden Leistungswerten entsprechend den beiden nächsten Punkten bei dem Leistungsbereich angewendet wird.
Umfassen kann ein alternatives Verfahren zum Auswählen zweier Punkte in der Umgebung einer Schwelle, nachdem das Aufzeichnen implementiert ist, während eine Leistung variiert wird, bis zwei Punkte, die auf jedweder Seite der Schwelle befindlich sind, das Auswählen zweier nächster Punkte an der Schwelle unter den Aufzeichnungspunkten oder das Auswählen zweier Punkte, die auf jedweder Seite der Schwelle befindlich sind. Das Verfahren wird nachstehend detailliert beschrieben.
Bestimmung des Testbereiches:
Bestimmung eines Leistungsbereiches durch Abtasten
17 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles der Beziehung eines Leistungsbereiches zur Verwendung bei dem Schritt S122 in 3 mittels Abtasten. Das Beispiel zeigt, dass ein Leistungsbereich basierend auf zwei Leistungswerten entsprechend den beiden nächsten Punkten an der Schwelle bestimmt wird, die nach einer Testaufzeichnung ermittelt werden, während eine Leistung allmählich variiert, bis die beiden Werte, die am nächsten an der Schwelle sind, ermittelt werden, anstatt der Verwendung der vorbeschriebenen Dreipunktnäherung.
Mit anderen Worten, das Aufzeichnen/Wiedergeben wird, wie in dem Diagramm gezeigt ist, implementiert, während eine Aufzeichnungsleistung sequenziell von P1 bis P6 erhöht wird, bei der ein Jittern gleich einer Schwelle oder mehr ermittelt wird. Wie in der Leistungs-/Pulsbreiten-Matrix in dem Diagramm gezeigt ist, wird ein Leistungsbereich als Bereich zwischen P2 und P6 bestimmt, die die beiden nächsten Punkte an der Schwelle sind und auf den Seiten der niedrigeren beziehungsweise höheren Leistung befindlich sind, obwohl die Leistung von P1 bis P6 variiert. Auf diese Weise kann ein Leistungsbereich durch Auswählen von zwei Punkten bestimmt werden, die auf jedweder Seite einer Schwelle liegen.
Ein Verfahren zum Auswählen von zwei Punkten, die nahe an einer Schwelle sind, beinhaltet die nachfolgenden Verfahren, von denen eines ausgewählt und von Zeit zu Zeit verwendet werden kann.

(1) ein Verfahren zum Auswählen von zwei Punkten, die eine Leistungsspanne definieren, das heißt das Auswählen von zwei Punkten, die in einem Leistungsbereich in Entsprechung zu einem Referenzwiedergabewert befindlich sind und beide die zwei nächsten Punkte an dem Referenzwiedergabewert unter allen Punkten sind
(2) das Auswählen von zwei Punkten, die geringfügig außerhalb einer Leistungsspanne befindlich sind und die beide die zwei nächsten Punkte an einem Referenzwiedergabewert sind
(3) Auswählen von zwei Punkten, die auf der Seite der niedrigeren Leistungen und auf jedweder Seite eines Referenzwiedergabewertes sind
(4) Auswählen von zwei Punkten, die auf der Seite der höheren Leistung und auf jedweder Seite eines Referenzwiedergabewertes sind
(5) Auswählen von zwei Punkten, die auf den seiten der niedrigeren beziehungsweise höheren Leistung und auf jedweder Seite eines Referenzwiedergabewertes sind und die beide die zwei nächsten Punkte an dem Referenzwiedergabewert sind Darüber hinaus kann ein alternatives Verfahren des Weiteren das Auswählen von zwei Schnittpunkten einer Näherungskurve umfassen, die unter Verwendung von zwei Punkten gemäß Auswahl durch ein beliebiges der vorgenannten Verfahren mit einem Referenzwiedergabewert ermittelt werden.

Bestimmung des Verhältnisses m'T/(n – m)T
18 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles eines Aufzeichnungspulses zur Verwendung für die Bestimmung des Verhältnisses bei dem Schritt 200 gemäß Darstellung in 1(b). 18(a) ist ein Beispiel für denjenigen Fall, bei dem ein Einzelpuls, der aus einem einzelnen Pulsmuster besteht, verwendet wird, während (b) ein Beispiel für denjenigen Fall ist, bei dem ein Multipuls, der aus mehreren Pulsen besteht, verwendet wird. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, besteht jeder der Einzelpulse 10-1 und der Multipulse 10-2 aus einem oberen bzw. Startpuls 12, der an der Vorderfront des Aufzeichnungspulses vorhanden ist, und einem folgenden Puls 14, der dem oberen bzw. Startpuls folgt und einen Hinterendpuls 16 umfasst, der am Ende des Aufzeichnungspulses befindlich ist.
Eine Energiegröße des gesamten Aufzeichnungspulses ist durch die Höhe einer Hauptleistung PW definiert, während die Länge einer oberen bzw. Startpulsbreite Ttop eine Energiegröße der Anfangsphase des Aufzeichnungspulses definiert, der am Vorderrand einer Aufzeichnungsvertiefung vorgesehen ist. Die Hauptleistung PW entspricht vorzugsweise dem höchsten Wert in jedem der Aufzeichnungspulse 10-1 und 10-2, während die obere bzw. Startpulsbreite Ttop eine Breite entsprechend der kürzesten Aufzeichnungsvertiefung mit einer Länge von 3T aufweist. Da der Aufzeichnungspuls mit der kürzesten Pulsbreite die höchste Auftretenshäufigkeit aufweist und die Aufzeichnungsqualität merklich beeinflusst, werden die optimalen Bedingungen der Leistung PW und die Breite Ttop des oberen bzw. Startpulses 12 zunächst unter Verwendung des Bestimmungsablaufes für einen m'T-Zustand, siehe oben, bestimmt.
Anschließend wird ein Zustand des folgenden Pulses 14 unter Verwendung eines Bestimmungsablaufes für das Verhältnis m'T/(n – m)T bestimmt. Für den Fall des Einzelpulses 10-1 umfasst der nachfolgende Puls einen Leistungsbereich, der um eine Größe PWD kleiner als die Hauptleistung PW ist, wie in 18(a) gezeigt ist, wobei das Definieren der PWD-Größe verhindert, dass eine Aufzeichnungsvertiefung die Form eines Tränentropfens annimmt. Auf ähnliche Weise verhindert für den Fall des Multipulses 10-2, der in 18(b) gezeigt ist, das Definieren entweder der Breite Tmp eines Zwischenpulses mit einer Lage zwischen dem oberen bzw. Startpuls 12 und dem Hinterendpuls 16 oder ein Betriebsverhältnis (duty ratio) von Tmp zu Tsm, dass eine Aufzeichnungsvertiefung die Form eines Tränentropfens annimmt. Die Bestimmung eines Zustandes für jeden der folgenden Pulse wird unter Verwendung eines Zustandes des oberen bzw. Startpulses als Referenz implementiert.
19 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur eines Ablaufes für die Verhältnisbestimmung bei dem Schritt S200 gemäß Darstellung in 1(b). Wie in 19 gezeigt ist, wird die Testaufzeichnung auf dem Medium 50 zunächst unter Verwendung des Laufwerkes gemäß 2 mit einer Mehrzahl von Aufzeichnungsmustern mit verschiedenen Zuständen (n – m)T zur Einstellung verschiedener Parameter einer Aufzeichnungsstrategie verwendet, die mit einer Strategieschaltung 102 (Schritt S210) implementiert wird. Bei dem Schritt 210 ist ein mT-Pulszustand auf einen Wert fixiert, der durch den vorbeschriebenen Bestimmungsablauf für einen m'T-Zustand ermittelt wird. Anschließend werden, nachdem die aufgezeichneten Muster aus der Bildung durch die Testaufzeichnung wiedergegeben worden sind (Schritt S212), die wiedergegebenen binarisierten Signale aus der Ausgabe der Binarisierungsschaltung 10 als Ergebnis der Wiedergabe mit einem Zähler gezählt, der mit einem vorbestimmten Takt synchronisiert ist, und zwar in einem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 (Schritt S214), während die Länge der Vertiefungen und Erhebungen, die in den wiedergegebenen binarisierten Signalen enthalten sind, in einem Speicherbereich 115 als Zähldaten gespeichert werden (Schritt S216).
Anschließend wird ein Histogramm zur Darstellung einer Auftretenshäufigkeit für jede Zählung in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 unter Verwendung der Zähldaten aus der Speicherung in dem Speicherbereich 115 (Schritt S218) vorbereitet, und es werden Schwellen für Zählergebnisse, die Kriterien für die Länge von Vertiefungen und Erhebungen sein sollen, aus dem Histogramm bestimmt (Schritt S220).
Anschließend werden in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 verschiedene Typen von spezifischen Mustern, enthaltend ein spezifisches Muster aus Vertiefungen und Erhebungen, aus den Zähldaten aus der Speicherung in dem Speicherbereich 115 unter Verwendung der Schwellen als Referenzen (Schritt S222) gesucht, und es werden durchschnittliche Längen der jeweiligen Vertiefungen und Erhebungen, die die spezifischen Muster umfassen, ermittelt, indem Zählergebnisse für die Vertiefungen, bei denen davon ausgegangen wird, dass sie dieselbe Vertiefungslänge aufweisen, die in den spezifischen Mustern enthalten sind, gemittelt werden und indem Zählergebnisse für Erhebungen, bei denen davon ausgegangen wird, dass sie dieselbe Erhebungslänge aufweisen, gemittelt werden (Schritt S224).
Anschließend wird in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 einer der verschiedenen Typen der spezifischen extrahierten Muster als extrahiertes Muster eingestellt, und es wird durch Vergleichen der Länge einer in dem extrahierten Muster enthaltenen Aufzeichnungsvertiefung mit einer Referenzlänge (Schritt S226) eine Verschiebungslinie der Vertiefungen relativ zu dem Aufzeichnungspuls erfasst (Schritt S228).
Anschließend wird in einem Gleichungsableitungsteil 113 eine Gleichung zur Bestimmung einer optimalen Strategie basierend auf der Verschiebungslänge gemäß Erfas sung in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 abgeleitet. Unter Verwendung der Gleichung, die in dem Gleichungsableitungsteil 113 abgeleitet worden ist, wird ein Steuerungs- bzw. Regelungsergebnis durch die verschiedenen Parameter (Schritt S230) in einem Strategiebestimmungsteil 14 vorhergesagt. Darüber hinaus wird in dem Strategiebestimmungsteil 14 PWD oder Tmp, wie in 18 gezeigt ist, basierend auf der Vorhersage bestimmt, woraufhin PWD oder Tmp bei der Strategieschaltung 102 (Schritt S132) eingestellt werden.
20 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Betriebskonzeptes von dem Testaufzeichnungsschritt (S220) bis zu dem Schritt der Zählung der wiedergegebenen Daten (Schritt S214) in dem in 19 gezeigten Ablauf. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, werden die Aufzeichnungsvertiefungen, die in dem Diagramm (a) gezeigt sind, zunächst auf einer optischen Scheibe ausgebildet, wenn die Testaufzeichnung implementiert wird. Durch Wiedergeben der Aufzeichnungsvertiefungen wird ein wiedergegebenes HF-Signal entsprechend den Aufzeichnungsvertiefungen, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, ermittelt. Ein wiedergegebenes binarisiertes Signal, wie in dem Diagramm (c) gezeigt ist, wird durch Binarisieren des wiedergegebenen HF-Signals sowie durch Zählen von Pulslängen zwischen zwei benachbarten Polaritätsinversionen des binarisierten Signals mit einem Taktsignal, wie in dem Diagramm (d) gezeigt ist, ermittelt, wobei die Zählergebnisse, die in dem Diagramm (e) gezeigt sind, ermittelt werden.
21 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Speicherung der Zählergebnisse, die in 20 gezeigt sind. Die Zählergebnisse aus der Ermittlung durch das Zählen des binarisierten Signals mit dem Takt- bzw. Clocksignal für jeweilige Vertiefungen und Erhebungen, die durch Polaritätsinversionen begrenzt sind, werden in der in dem Speicherbereich 115 bereitgestellten Tabelle zusammen mit unterscheidbaren Notationen zwischen einer Vertiefung und einer Erhebung in einer zeitlichen Abfolge gespeichert. Die in dem Diagramm gezeigte Tabelle soll später mit einer suchbaren Adresse gespeichert werden.
22 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Vorbereitung eines Histogramms (Schritt S218) gemäß Darstellung in 19. Die verschiedenen Histogramme zur Darstellung der Zähltendenzen für Vertiefungen und Erhebungen (Diagramm (a) und (b) können durch graphisches Auftragen der Auftretenshäufigkeiten der Zählungen für die Vertiefungen beziehungsweise Erhebungen ermittelt werden. Da jede Einheitslänge nT (n = 3, 4, 5, ...) relativ zu einem Referenztakt notwendigerweise auf einer optischen Scheibe bestimmt wird, wird die Verteilung der Auftretenshäufigkeiten für jede Einheitslänge nT ermittelt.
23 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Bestimmung einer Schwelle (Schritt S220), die in 19 gezeigt ist. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, werden aufgrund dessen, dass ein Talabschnitt zwischen zwei benachbarten Spitzen in den Histogrammen für eine kriterienbezogene Schwefle für jede Einheitslänge nT verwendet werden kann, eine Vertiefungslängenschwelle, die ein Kriterium für eine Vertiefungslänge sein soll, und eine Erhebungslängenschwelle, die ein Kriterium für eine Erhebungslänge sein soll, in den Vertiefungs- beziehungsweise Erhebungshistogrammen eingestellt.
24 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles von Schwellen aus der Ermittlung durch das Verfahren gemäß Beschreibung unter Bezugnahme auf 23. Eine Vertiefungslängenschwelle ist an einer Grenze zwischen zwei benachbarten Vertiefungen definiert, während eine Erhebungslängenschwelle an einer Grenze zwischen zwei benachbarten Erhebungen definiert ist, wie in den Diagrammen (a) beziehungsweise (b) gezeigt ist. Wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, wird eine Schwelle an der Grenze zwischen 2T und 3T als „Zähler = 2" eingestellt, während eine Schwelle an der Grenze zwischen 3T und 4T als „Zähler = 9" eingestellt wird. Auf ähnliche Weise wird die Schwelleneinstellung an der Grenze zwischen 14T und 15T implementiert. Wie ebenfalls in dem Diagramm (b) gezeigt ist, wird eine Schwelle an der Grenze zwischen 2T und 3T als „Zähler = 2" eingestellt, während eine Schwelle an der Grenze zwischen 3T und 4T als „Zähler = 10" eingestellt wird. Auf ähnliche Weise wird die Schwelleneinstellung an der Grenze zwischen 14T und 15T implementiert.
Jeweilige Stufen bzw. Schritte von der Suche der spezifischen Muster (Schritt S222) bis zu der Erfassung der Verschiebungslängen (Schritt S228) in dem in 19 gezeigten Ablauf werden nachstehend detailliert beschrieben. Diese Stufen bzw. Schritte werden in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 basierend auf Erfassungsprinzipien für verschiedene Verschiebungen implementiert.
25 ist ein Diagramm zur Darstellung jedes Aufzeichnungsmusters zur Erfassung einer Verschiebungslänge aufgrund einer Vertiefungsbalance. Die Vertiefungsbalance ist als Balance zwischen oberen bzw. Start- und folgenden Pulsen definiert. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, wird bei der Erfassung einer Verschiebungslinie aufgrund einer Vertiefungsbalance die Testaufzeichnung mit einem in dem Diagramm (a) gezeigten Aufzeichnungspuls implementiert. Der Aufzeichnungspuls beinhaltet ein Muster, das aufeinanderfolgend eine Erhebung LxT, eine Vertiefung PyT und eine Erhebung LzT umfasst, wobei eine Erhebungslänge der Erhebung LxT und diejenige der Erhebung LzT fest sind, wohingegen eine Vertiefungslänge der Vertiefung PyT zwischen 3T und 7T, wie in den Diagrammen (b) bis (f) gezeigt ist, variiert. Darüber hinaus wird die Vertiefungslänge der variablen Vertiefung PyT bis 14T variiert, was in dem Diagramm jedoch nicht mehr dargestellt ist.
Wird die Länge der variablen Vertiefung gemessen, so sollte die Länge einer vorbestimmten Vertiefungslänge bei einem realen Aufzeichnungszustand entsprechen.
Für den Fall, dass die Länge der variablen Vertiefung PyT jedoch relativ zu der vorbestimmten Vertiefungslänge verschoben wird, entspricht die Verschiebungsgröße einer Verschiebungslänge der Vertiefungslänge jeder Vertiefung P3T bis P14T relativ zu jeder Einheitslänge 3T bis 14T des Aufzeichnungspulses aus der Erzeugung mit einer Strategie während der Aufzeichnung, da die Längen der Erhebungen LxT und LzT beide fest sind.
Entsprechend kann unter Verwendung eines wiedergegebenen Musters für die Testaufzeichnung aus der Implementierung mit einer bestimmten Strategie eine Verschiebungslänge jeder Vertiefung relativ zur Referenzlänge durch Vergleichen einer Aufzeichnungslänge jeder variablen Vertiefung PyT mit einer Referenzlänge für jede Vertiefung erfasst werden.
26 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Suchen von spezifischen Mustern zur Verwendung für die Erfassung einer Verschiebung aufgrund einer Vertiefungsbalance. Bei der Erfassung einer Verschiebungslänge aufgrund einer Vertiefungsbalance werden Daten aus der Speicherung in dem Speicherbereich 115 gemäß Darstellung in 2 (Schritt S122 in 19) gesucht, und zwar basierend auf einer Menge von Schwellenbereichen für eine Erhebung LxT, eine Vertiefung PyT und eine Erhebung LzT aus der Vorbereitung für jedes spezifische Muster, und es wird eine Datenreihe, die den Schwellenbereichen genügt, extrahiert.
Anschließend werden Zählergebnisse für jedes Element von der Erhebung LxT, der Vertiefung PyT und der Erhebung LzT sortiert, woraufhin die sortierten Zählergebnisse für jedes Element von der Erhebung LxT, der Vertiefung PyT und der Erhebung LzT gemittelt werden (Schritt S224 in 19). Durch Vergleichen eines Musters kann, wie in 25 gezeigt ist, unter Verwendung des gemittelten Wertes der Zählergebnisse eine Phasenverschiebungsgröße auf der Vorderseite jeder Vertiefung ermittelt werden.
27 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines spezifischen Beispieles eines Falles, in dem eine Verschiebungslänge mittels eines absoluten Vergleiches von Zählergebnissen erfasst wird. Wird eine Verschiebungslänge durch Vergleichen mit einer idealen Referenzlänge erfasst, so wird ein spezifisches Muster gemäß Darstellung in dem Diagramm (a) zunächst aus einer Gruppe von Daten gemäß Speicherung in dem Speicherungsbereich extrahiert, woraufhin eine Zählung in dem spezifischen Muster und für eine Referenzlänge miteinander verglichen werden, und zwar in Bezug auf einen zu vergleichenden Teil, wie in den Diagrammen (b) und (c) dargestellt ist. Bei diesem Beispiel entspricht der zu vergleichende Teil einer 3T-Vertiefung, wobei die Zählung „9" in dem spezifischen Muster und die Zählung „8" für das entsprechende Referenzmuster miteinander verglichen werden. Infolgedessen wird die Differenz zwischen „9" und „8" auf die Verschiebungslänge für die 3T-Vertiefung als „1" angewendet.
28 ist ein Flussdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur des Vorhersageschrittes einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße gemäß Darstellung in 19. Wie in 28 gezeigt ist, wird die Vorhersage einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße derart implementiert, dass die Testaufzeichnung zuerst bei wenigstens zwei verschiedenen Aufzeichnungszuständen S1 und S2 aufgezeichnet wird (Schritt S250), woraufhin die gebildeten Aufzeichnungsvertiefungen wiedergegeben werden (Schritt S252), woraufhin eine Verschiebungslänge D1 für den Zustand S1 und eine Verschiebungslänge D2 für den Zustand S2 durch Vergleichen der wiedergegebenen Muster ermittelt werden (Schritt S254), woraufhin die Beziehung zwischen (S1, D1) und (S2, D2) linear genähert (Schritt S256) wird und schließlich eine optimale Korrekturgröße unter Verwendung der genäherten Linie (Schritt S258) bestimmt wird.
Die Verschiebungslängen D1 und D2 aus der Erfassung gemäß vorstehender Beschreibung variieren in Abhängigkeit von verschiedenen Einstellparametern einer Strategie. So hat man herausgefunden, dass die Verschiebung nahezu linear in Abhängigkeit von verschiedenen Einstellparametern einer Strategie als Ergebnis einer Analyse variiert.
Mit anderen Worten, eine Verschiebungslinie zur Ermittlung für jede Testaufzeichnung in dem vorbeschriebenen Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 kann als Punkt auf einer Linie betrachtet werden, die durch das Least-Square-Verfahren genähert wird.
Daher kann für das Laufwerk der vorliegenden Erfindung eine optimale Strategie eingedenk der linearen Beziehung zwischen einer Menge von verschiedenen Einstellparametern einer Strategie und einer Menge einer Verschiebungslänge D1 und D2 für den Fall von zwei Testaufzeichnungen verwirklicht werden. Darüber hinaus kann bei der vorliegenden Erfindung eine Kurvennäherung anstatt einer linearen Näherung zu diesem Zweck verwendet werden.
PWD für den Fall eines Einzelpulses oder Tmp für den Fall eines Multipulses sind typische Parameter für eine Variation in Abhängigkeit von einem Aufzeichnungszustand S1 oder S2. Bei einem Variieren der Parameter von S1 bis S2 wird der Effekt der Variation an einer Verschiebungslänge als Variation von T1 bis T2 erfasst. Unter Verwendung diese vier Werte wird eine lineare Näherung implementiert, und die Verwendung der Ergebnisse bezüglich der genäherten Linie führt zur Ermittlung einer Korrekturgröße, die eine Verschiebungslänge ausgleichen kann.
29 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Beziehung zwischen der Variation in dem Aufzeichnungszustand von S1 bis S2 und der Variation der Verschiebungslänge von D1 bis D2 für den Fall einer Variation PWD. PWD eines Aufzeichnungspulses S1 gemäß Darstellung in dem Diagramm (a) wird um eine Größe S1 variiert und diejenige eines Aufzeichnungspulses S2 in dem Diagramm (b) um S2. Die Testaufzeichnung wird bei diesen beiden Aufzeichnungszuständen implementiert.
Als Ergebnis der Testaufzeichnung wird ein Muster S1 gemäß Darstellung in dem Diagramm (a1) für den Aufzeichnungspuls S1 ermittelt sowie ein Muster S2 in dem Diagramm (b1) für den Aufzeichnungspuls S2. Es treten eine Verschiebungslänge D1 in dem Muster entsprechend der Steuerungsgröße bzw. Regelungsgröße oder Variationsgröße von S1 und eine Verschiebungslänge D2 in dem Muster S2 entsprechend der Steuerungs- bzw. Regelungsgröße von S2 auf.
Sind die Werte für die Verschiebungslängen D1 und D2 für die Steuerungs- bzw. Regelungsgrößen S1 und S2 bekannt, so ist eine Verschiebungslänge, die sich aus einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße für einen beliebigen der Parameter ergibt, vorher sagbar. Damit werden unter Verwendung der Beziehung zwischen der Variation der Steuerungs- bzw. Regelungsgröße und der Variation der Verschiebungslänge die Vorhersage einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße und die Bestimmung eines Korrekturwertes implementiert, wie nachstehend beschrieben wird.
30 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Verschiebungslängenkorrektur unter Verwendung einer linearen Näherung für den Fall eines Einzelpulses. Bei der Bestimmung einer Korrekturgröße PWD für eine Verschiebungslänge wird der mittlere Teil eines Referenzpulses mit einer Pulslänge von nT, wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, umgewandelt, das heißt, eine Pulshöhe für den Teil wird um eine Größe PWD, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, verringert, und es wird eine Testaufzeichnung mit dem umgewandelten Puls implementiert. Als Ergebnis der Testaufzeichnung wird die Verschiebungslänge Δ, die in dem wiedergegebenen Signal enthalten ist, erfasst, wie in dem Diagramm (c) gezeigt ist.
Wie ebenfalls in dem Diagramm gezeigt ist, werden zwei verschiedene Verschiebungslängen Δ als D1 = +0,1 und D2 = –0,1 für zwei verschiedene PWD-Werte S1 = +0,3 beziehungsweise S2 = +0,1 ermittelt, und es wird die Beziehung zwischen der Verschiebungslänge Δ, das heißt ein Steuerungs- bzw. Regelungsergebnis und die Steuerungs- bzw. Regelungsgröße PWD mittels einer linearen Näherung unter Verwendung von S1, S2, D1 und D2 ermittelt. Unter Verwendung der genäherten Kennlinie wird sodann die Korrekturgröße PWD = +0,2, die die Verschiebungslänge ausgleichen kann, als optimale Korrekturgröße bestimmt. In der vorbeschriebenen Prozedur wird ein oberer bzw. Startpuls des umgewandelten Pulses nicht variiert, sondern ist fest.
Wie eben beschrieben worden ist, kann die Beziehung zwischen der Variation der Strategie von S1 bis S2 und der wahren Variation der Verschiebungslänge von D1 bis D2 durch eine lineare oder Kurvennäherung ermittelt werden, wenn wenigstens zwei verschiedene Punkte für jede der Variationen ermittelt werden, weshalb eine optimale Korrekturgröße, die zu einer Nullverschiebungslänge führt, unter Verwendung der genäherten Linie oder Kurve ermittelt werden kann.
Insbesondere werden einige Verschiebungslängen D zunächst ermittelt, während eine Strategie S variiert wird. Anschließend werden durch Ersetzen von jeder der ermittelten Verschiebungslängen D und der entsprechenden Strategie S in dem allgemeinen Ausdruck „D = a × 5 + b" simultane Gleichungen ermittelt. Durch Lösen der simultanen Glei chungen werden die Konstanten a und b des Ausdruckes berechnet, was zu einer Ermittlung einer optimalen Strategie S für eine ideale Verschiebungslänge führt. Schließlich kann durch Einstellen der optimalen Strategie S bei der Strategieschaltung 102, wie in 2 gezeigt ist, ein Aufzeichnungspuls optimal korrigiert werden.
Für den Fall beispielsweise, dass eine Verschiebungslänge aus der Erfassung aus einem Wiedergabemuster für eine Testaufzeichnung mit einer Strategie S1 und eine weitere Verschiebungslänge aus der Erfassung aus einem Wiedergabemuster für eine Testaufzeichnung mit einer weiteren Strategie S2 in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112, wie in 2 gezeigt ist, gleich D1 beziehungsweise D2 sind, ergeben sich die nachfolgenden simultanen Gleichungen: D1 = a × S1 + b und D2 = a × S2 + b
Für die obigen Gleichungen werden die Konstanten a und b berechnet, und es wird die nachfolgende Funktion unter Verwendung der berechneten Konstanten a und b abgeleitet. S = (D – b)/a
Durch Ersetzen eines Wertes zur Verbesserung der Aufzeichnungsqualität, so beispielsweise einer Verschiebungslänge D zur Korrektur einer anfänglichen Verschiebungslänge oder dergleichen, die durch einen Equalizer oder dergleichen entstanden ist, bei der vorgenannten Funktion kann eine optimale Strategie S bestimmt werden.
31 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Verschiebungslängenkorrektur unter Verwendung einer linearen Näherung für den Fall eines Multipulses. Bei der Bestimmung einer Korrekturgröße Tmp für eine Verschiebungslänge wird ein Referenzpuls mit einer Pulslänge nT, wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, derart umgewandelt, dass sich ein Zwischenpuls mit einer Pulslänge von Tmp ergibt, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, und es wird eine Testaufzeichnung mit dem umgewandelten Puls implementiert. Als Ergebnis der Testaufzeichnung wird die Verschiebungslänge Δ, die in dem wiedergegebenen Signal enthalten ist, erfasst, wie in dem Diagramm (c) gezeigt ist. Bei dieser Prozedur ist der obere bzw. Startpuls des umgewandelten Pulses nicht variabel, sondern fest.
Wie ebenfalls in dem Diagramm gezeigt ist, werden die beiden verschiedenen Verschiebungslängen Δ als D1 = +0,1 und D2 = –0,1 für die verschiedenen Tmp-Werte S1 = +0,3 beziehungsweise S2 = +0,1 ermittelt, und es werden die Beziehung zwischen der Verschiebungslänge Δ, das heißt ein Steuerungs- bzw. Regelungsergebnis, und die Steuerungs- bzw. Regelungsgröße Tmp durch eine lineare Näherung unter Verwendung von S1, S2, D1 und D2 ermittelt. Anschließend wird unter Verwendung der genäherten Linie eine Korrekturgröße Tmp = +0,2, die die Verschiebungslänge ausgleichen kann, als optimale Korrekturgröße ermittelt.
32 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Speichern von Korrekturgrößen PWD und Tmp. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, werden die Korrekturgrößen PWD und Tmp für jede der Vertiefungslängen, die korrigiert werden soll, bestimmt. Für den Fall beispielsweise, dass die zu korrigierende Vertiefung gleich 3T ist, werden die Korrekturgrößen PWD und Tmp in den Bereichen, die mit „PW3" beziehungsweise „Tm3" in dem Diagramm bezeichnet sind, gespeichert. Zudem werden in jedem der anderen Fälle von 4T bis 14T die Korrekturgrößen PWD und Tmp auf ähnliche Weise wie im Falle von 3T gespeichert.
33 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Konfiguration eines nT-Pulses zur Konfiguration bei dem Schritt S300 in 1. So wird beispielsweise, wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, ein Aufzeichnungsdatum zur Bildung einer 5T-Vertiefung als Pulssignal mit einer Pulslänge von nT entsprechend der Länge von fünf Zyklen eines Takt- bzw. Clocksignals ausgegeben. Ein Puls für das Aufzeichnungsdatum nach der Korrektur wird als Pulssignal mit einer Länge von n'T, umfassend einen oberen bzw. Startpuls mit einer Länge von m'T, wie in den Diagrammen (b) und (c) gezeigt ist, ausgegeben. Für den Fall eines Einzelpulses ist PWD in einem (n – m)T-Teil des Pulssignals definiert, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist. Demgegenüber ist für den Fall eines Multipulses Tmp ebenfalls in einem (n – m)T-Teil des Pulssignals definiert, wie in dem Diagramm (c) gezeigt ist.
Da PWD und Tmp Werte aus der Ermittlung unter der Bedingung des festen oberen bzw. Startpulses annehmen, weisen die Werte einen Bezug auf ein optimales Verhältnis m'T/(n – m)T aus der Bestimmung auf Basis einer mT-Pulszustandes auf. Entsprechend ist der nT-Puls, der aus dem oberen bzw. Start- und den folgenden Pulsen besteht, zur Verbesserung der Aufzeichnungsqualität geeignet, wobei in diesem Augenblick jedoch ein Phasenzustand noch nicht bestimmt worden ist, weshalb ein Phasenzu standsbestimmungsablauf, der nachstehend noch beschrieben wird, zur Ermittlung einer optimierten Strategie implementiert werden muss.
Korrektur der Phasenverschiebung
34 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles eines Testaufzeichnungspulses zur Verwendung für die Phasenverschiebungskorrektur bei dem Schritt S400, wie in 1(b) gezeigt ist. 34(a) zeigt ein Beispiel eines Falles, in dem ein Einzelpuls, der aus einem Einzelpulsmuster besteht, verwendet wird, während (b) ein Beispiel für einen Fall zeigt, in dem ein Multipuls, der aus mehreren Pulsen besteht, verwendet wird.
In jedwedem Fall des Einzelpulses 10-1 oder des Multipulses 10-2 werden Ttopr zum Anpassen einer Start- bzw. Anfangsposition eines oberen bzw. Startpulses 12 und Tlast zum Anpassen einer Endposition eines Hinterendpulses 16 als Phasenzustand für den Aufzeichnungspuls eingestellt, und durch Anpassen dieser Werte wird eine Vertiefungslänge nach der Aufzeichnung weiter optimiert. Zusätzlich wird der Phasenzustand durch eine Testaufzeichnung basierend auf den Zuständen des oberen bzw. Startpulses und des nachfolgenden Pulses aus der Bestimmung durch den vorhergehenden Ablauf bestimmt.
35 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur des Phasenzustandsbestimmungsablaufes bei dem Schritt S400 gemäß Darstellung in 1(b). Wie in 35 gezeigt ist, wird die Testaufzeichnung auf dem Medium 50 zunächst unter Verwendung der Laufwerkes gemäß Darstellung in 2 implementiert, wobei jedes der verschiedenen Aufzeichnungsmuster verschiedene Phasenzustände für einen nT-Puls aufweist, der aus einem mT-Puls und einem (n – m)T-Puls besteht (Schritt S410). Bei dem Schritt S410 sind die mT-Puls- und die (n – m)T-Pulszustände auf Werte fixiert, die aus dem vorhergehenden Ablauf ermittelt werden. Anschließend wird, nachdem das aufgezeichnete Muster aus der Bildung durch die Testaufzeichnung wiedergegeben worden ist (Schritt S412) das wiedergegebene binarisierte Signal aus der Ausgabe aus der Linearisierungsschaltung 110 als Ergebnis der Wiedergabe mit einem Zähler, der mit einem vorbestimmten Takt synchronisiert ist, in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 (Schritt S440) gezählt, wobei die Längen der Vertiefungen und Erhebungen, die in den wiedergegebenen binarisierten Signalen enthalten sind, in einem Speicherbereich 115 als Zähldaten gespeichert sind (Schritt S416).
Anschließend wird ein Histogramm zur Darstellung einer Auftretenshäufigkeit für jede Zählung in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 unter Verwendung der Zähldaten aus der Speicherung in dem Speicherbereich 115 (Schritt S418) vorbereitet, und es werden Schwellen für die Zählergebnisse, die die Kriterien für die Länge der Vertiefungen und Erhebungen sein sollen, aus dem Histogramm bestimmt (Schritt S420).
Anschließend werden in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 verschiedene Typen von spezifischen Mustern, enthaltend ein spezifisches Muster aus Vertiefungen und Erhebungen, unten den Zähldaten aus der Speicherung in dem Speicherbereich 115 unter Verwendung der Schwellen als Referenzen (Schritt S422) gesucht, und es werden durchschnittliche Längen der Vertiefungen und Erhebungen, umfassend die spezifischen Muster, jeweils durch Mitteln der Zählergebnisse berechnet, die für dieselbe Vertiefungslänge betrachtet werden, die in dem spezifischen Muster enthalten ist, wie auch durch Mitteln der Zählergebnisse, die für dieselbe Erhebungslänge betrachtet werden (Schritt S424).
Anschließend wird in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 einer der verschiedenen Typen der spezifischen extrahierten Muster als Referenzmuster eingestellt, und es wird ein Vergleich des Referenzmusters mit anderen Mustern (Schritt S426) zur unabhängigen Erfassung von jeder der folgenden Verschiebungslängen vorgenommen (Schritt S428).

(1) eine Phasenverschiebungsgröße an der Vorderseite eine Vertiefung relativ zu einem Aufzeichnungspuls
(2) eine Phasenverschiebungsgröße an der Hinterseite einer Vertiefung relativ zu einem Aufzeichnungspuls
(3) eine Verschiebungslänge einer Vertiefung aufgrund einer thermischen Interferenz relativ zu einem Aufzeichnungspuls

Anschließend wird in dem Gleichungsableitungsteil 113 eine Gleichung zum Bestimmen einer optimalen Strategie basierend auf der Verschiebungsgröße gemäß Erfassung in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 112 abgeleitet. Unter Verwendung der Gleichung aus der Ableitung in dem Gleichungsableitungsteil 113 wird ein Steuerungs- bzw. Regelungsergebnis für verschiedene Parameter (Schritt S430) in dem Strategiebestimmungsteil 114 vorhergesagt. Des Weiteren werden in dem Strategiebestimmungsteil 114 basierend auf der Vorhersage Ttopr und Tlast, siehe Darstellung in 34, be stimmt, und es werden diese Werte bei der Strategieschaltung 102 (Schritt S432) eingestellt.
Einige Schritte des in 35 gezeigten Ablaufes von dem Testaufzeichnungsschritt S410 bis zu dem Mittelungsschritt S424 sind nicht detailliert beschrieben, da diese Schritte auf ähnliche Weise bei der in 20 bis 24 gezeigten Prozedur implementiert sind.
36 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Aufzeichnungsmustern zur Erfassung einer Phasenverschiebungsgröße an der Vorderseite jeder Vertiefung. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, wird beim Erfassen einer Phasenverschiebungsgröße an der Vorderseite jeder Vertiefung die Testaufzeichnung mit einem in dem Diagramm (a) gezeigten Aufzeichnungspuls implementiert. Der Aufzeichnungspuls beinhaltet ein Muster, das aufeinanderfolgend eine feste Vertiefung PxT, eine feste Erhebung LyT und eine variable Vertiefung PzT umfasst, wobei eine Vertiefungslänge der festen Vertiefung PxT und eine Erhebungslänge der festen Erhebung LyT fest sind, während eine Vertiefungslänge der variablen Vertiefung PzT von 3T bis 7T, wie in den Diagrammen (b) bis (f) gezeigt ist, variiert. Darüber hinaus wird die Vertiefungslänge der variablen Vertiefung PzT bis 14T variiert, was jedoch nicht in den Diagrammen gezeigt ist.
Wird die Länge der festen Erhebung LyT in jedem der Aufzeichnungsmuster gemessen, so sollte die Länge in einem idealen Aufzeichnungszustand konstant sein. Für den Fall, dass die Länge der festen Erhebung LyT jedoch relativ zu einer vorbestimmten Länge verschoben ist, entspricht die Verschiebungslänge relativ zu der vorbestimmten Länge der Phasenverschiebungsgröße an der Vorderseite von jeder der Vertiefungen P3T bis P4T entsprechend den Einheitslängen 3T bis 4T der Aufzeichnungspulse aus der Erzeugung mit einer Strategie während der Aufzeichnung, da die Länge der festen Vertiefung PxT fest ist.
Entsprechend kann durch Vergleichen der Länge einer festen Erhebung LyT in einem Referenzmuster mit einer Länge einer festen Erhebung LyT in jedem Vergleichsmuster die Phasenverschiebungsgröße auf der Vorderseite jedes Vergleichsmusters relativ zu dem Referenzmuster als FPS4T, FPS5T, FPS6T oder FPS7T ermittelt werden, wobei das Referenzmuster ein Muster bezeichnet, bei dem die Länge der variablen Vertiefung PzT gleich 3T ist, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, und das Vergleichsmuster ein beliebiges der anderen Muster bezeichnet, wie in den Diagrammen (c) bis (f) gezeigt ist.
Die Phasenverschiebungsgröße FPS4T, FPS5T, FPS6T oder FPS7T kann als Relativwert basierend auf einer bestimmten Position erfasst werden, weshalb eine Phasenverschiebungsgröße an der Vorderseite des Referenzmusters FPS3T als Null oder als eine Verschiebungsgröße relativ zu einer idealen Länge definiert werden kann. Zudem kann ein beliebiges der in den Diagrammen (c) bis (f) gezeigten Muster als Referenzmuster anstatt des in dem Diagramm (b) gezeigten Musters definiert werden.
37 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Aufzeichnungsmustern zur Erfassung einer Phasenverschiebungsgröße an der Hinterseite jeder Vertiefung. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, wird beim Erfassen einer Phasenverschiebungsgröße an der Hinterseite jeder Vertiefung die Testaufzeichnung mit einem in dem Diagramm (a) gezeigten Aufzeichnungspuls implementiert. Der Aufzeichnungspuls beinhaltet ein Muster, das aufeinanderfolgend eine variable Vertiefung PxT, eine feste Erhebung LyT und eine feste Vertiefung PzT umfasst, während eine Erhebungslänge der festen Vertiefung LyT und eine Vertiefungslänge der festen Erhebung PzT fest sind, wobei eine Vertiefungslänge der variablen Vertiefung PxT von 3T bis 7T, wie in dem Diagramm (b) bis (f) gezeigt ist, variiert. Darüber hinaus wird die Vertiefungslänge der variablen Vertiefung PxT bis 14T variiert, was jedoch nicht in den Diagrammen gezeigt ist.
Wird die Länge der festen Erhebung LyT in jedem der Aufzeichnungsmuster gemessen, so sollte die Länge in einem idealen Aufzeichnungszustand konstant sein. Für den Fall jedoch, dass die Länge der festen Erhebung LyT relativ zur der vorbestimmten Länge verschoben ist, entspricht die Verschiebungslänge relativ zu der vorbestimmten Länge einer Phasenverschiebungsgröße an der Hinterseite von jeder der Vertiefungen P3T bis P14T entsprechend den Einheitslängen 3T bis 14T der Aufzeichnungspulse aus der Erzeugung mit einer Strategie während der Aufzeichnung, da die Länge der festen Vertiefung PzT fest ist.
Entsprechend kann durch Vergleichen der Länge einer festen Erhebung LyT in einem Referenzmuster mit einer Länge einer festen Erhebung LyT in jedem Vergleichsmuster die Phasenverschiebungsgröße an der Hinterseite jedes Vergleichsmusters relativ zu dem Referenzmuster RPS4T, RPS5T, RPS6T oder RPS7T ermittelt werden, wobei das Referenzmuster ein Muster bezeichnet, bei dem eine Länge der variablen Vertiefung gleich 3T ist, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, während das Vergleichsmuster ein beliebiges der anderen Muster, wie in den Diagrammen (c) bis (f) gezeigt ist, bezeichnet.
Die Phasenverschiebungsgröße RPS4T, RPS5T, RPS6T oder RPS7T kann als relativer Wert basierend auf einer bestimmten Position erfasst werden, weshalb eine Phasenverschiebungsgröße an der Hinterseite des Referenzmusters RPS3T als Null oder als eine Verschiebungsgröße relativ zu einer idealen Länge definiert werden kann. Zudem kann eines der in den Diagrammen (c) bis (f) gezeigten Muster als Referenzmuster anstelle des in dem Diagramm (b) gezeigten Musters definiert werden.
38 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von Aufzeichnungsmustern zur Erfassung einer Verschiebungslänge jeder Vertiefung aufgrund einer thermischen Interferenz. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, wird beim Erfassen einer Verschiebungslänge jeder Vertiefung die Testaufzeichnung mit einem in dem Diagramm (a) gezeigten Aufzeichnungspuls implementiert. Der Aufzeichnungspuls beinhaltet ein Muster, das aufeinanderfolgend eine Erhebung LxT, eine Vertiefung PyT und eine Erhebung LzT umfasst, wobei eine Vertiefungslänge der festen Vertiefung PyT und eine Erhebungslänge der festen Erhebung LxT fest sind, während eine Erhebungslänge der variablen Erhebung von 3T bis 7T, wie in den Diagrammen (b) bis (f) gezeigt ist, variiert wird. Darüber hinaus wird die Erhebungslänge der variablen Erhebung LxT bis 14 T variiert, was jedoch nicht in dem Diagramm gezeigt ist.
Wird die Länge der festen Vertiefung PyT in jedem der Aufzeichnungsmuster gemessen, so sollte die Länge in einem idealen Aufzeichnungszustand konstant sein. Für den Fall jedoch, dass die Länge der festen Vertiefung PyT relativ zu einer vorbestimmten Länge verschoben ist, entspricht die Verschiebungslänge relativ zu der vorbestimmten Länge einer Verschiebungslänge aufgrund einer thermischen Interferenz vermöge einer Entstehung aus einer Vertiefung aus der Bildung unmittelbar vor jeder variablen Erhebung LxT, da die Länge einer festen Erhebung LzT fest ist.
Entsprechend kann durch Vergleichen der Länge einer festen Vertiefung PyT in einem Referenzmuster mit der Länge einer festen Vertiefung PyT in jedem Vergleichsmuster die Verschiebungsgröße an der Vorderseite jedes Vergleichsmusters relativ zu dem Referenzmuster als HID4T, HID5T, HID6T oder HID7T ermittelt werden, wobei das Referenzmuster ein Muster bezeichnet, bei dem die Länge der variablen Erhebung LxT gleich 3T ist, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, während das Vergleichsmuster ein beliebiges der anderen Muster bezeichnet, wie in den Diagrammen (c) bis (f) gezeigt ist.
Die Verschiebungsgröße HID4T, HID5T, HID6T oder HID7T kann als relativer Wert basierend auf einer bestimmten Position erfasst werden, weshalb eine Verschiebungsgröße an der Vorderseite des Referenzmusters HID3T als Null oder als Verschiebungsgröße relativ zu einer idealen Länge definiert werden kann. Zudem kann ein beliebiges der in den Diagrammen (c) bis (f) gezeigten Muster als Referenzmuster anstellte des in dem Diagramm (b) gezeigten Musters definiert werden.
39 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Suchen von spezifischen Mustern zur Verwendung für die Erfassung einer Phasenverschiebung an der Vorderseite einer Vertiefung wie auch für die Erfassung einer Phasenverschiebung an der Hinterseite einer Vertiefung. Für den Fall der Erfassung einer Phasenverschiebung an der Vorderseite einer Vertiefung basierend auf einer Menge von Schwellenbereichen für eine Vertiefung PxT, eine Erhebung LyT und eine Vertiefung PzT gemäß Vorbereitung für jedes spezifische Muster gemäß Darstellung in dem Diagramm (a) werden Daten aus der Speicherung in dem Speicherbereich 115, siehe 2, gesucht (äquivalent zu dem Schritt S422 von 35), was zu einer Extraktion einer Datenreihe führt, die den Schwellenbereichen genügt.
Anschließend werden die Zählergebnisse entsprechend jedem Element von einer Vertiefung PxT, einer Erhebung LyT und einer Vertiefung PzT sortiert und gemittelt (äquivalent zu dem Schritt S424 in 35). Durch Implementieren des vorbeschriebenen Mustervergleiches unter Verwendung der gemittelten Werte der Zählergebnisse kann eine Phasenverschiebungsgröße an der Vorderseite jeder Vertiefung ermittelt werden. 39(b) zeigt ein Beispiel für eine Schwellenbereichstabelle für den Fall der Erfassung einer Phasenverschiebung an der Hinterseite einer Vertiefung, wobei die Organisation und Vorgehensweise beim Betrieb der Tabelle dieselben wie für den Fall der Erfassung einer Phasenverschiebung an der Vorderseite einer Vertiefung sind.
40 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zum Suchen von spezifischen Mustern zur Verwendung für die Erfassung einer Phasenverschiebung einer Vertiefung aufgrund einer thermischen Interferenz. Wie in dem Diagramm gezeigt ist, wird die Erfassung einer Phasenverschiebung einer Vertiefung aufgrund einer thermischen Interferenz auf dieselbe Weise wie die Erfassung einer Phasenverschiebung an der Vorder- oder Hinterseite einer Vertiefung implementiert, wie vorstehend unter Bezugnahme auf 39 beschrieben worden ist.
41 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines spezifischen Beispieles desjenigen Falles, in dem eine Phasenverschiebung durch den relativen Vergleich von Zählergebnissen erfasst wird. Das Diagramm zeigt ein Beispiel für den Fall, in dem eine Phasenverschiebung an der Vorderseite einer Vertiefung erfasst wird. Die Erfassung einer beliebigen anderen Verschiebungsgröße ist ebenfalls auf diese Weise implementiert. Bei der Erfassung einer Verschiebungsgröße werden zunächst ein Referenzmuster und ein Vergleichsmuster, die in den Diagrammen (a) beziehungsweise (b) gezeigt sind, gesucht und aus einer Gruppe von Daten aus der Speicherung in einem Speicherbereich extrahiert. Anschließend werden, wie in den Diagrammen (c) und (d) gezeigt ist, zwei Zählwerte miteinander für einen Teil verglichen, der eine in wesentlichen feste Länge aufweisen sollte. Bei dem Beispiel wird aufgrund dessen, dass eine Erhebung LyT ein Vergleichsteil ist, eine Differenz zwischen einer Zählung „12" für das in dem Diagramm (c) gezeigte Referenzmuster und einer Zählung „11" für das in dem Diagramm (d) gezeigte Vergleichsmuster ermittelt, weshalb eine Verschiebungsgröße FPS4T als Differenz von „1" ermittelt werden kann.
42 ist ein Ablaufdiagramm zur Darstellung einer Ausführungsprozedur der Bestimmung von Ttopr oder Tlast durch die Vorhersage einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße, die in 35 gezeigt ist. Wie in 42 gezeigt ist, wird die Vorhersage einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße derart implementiert, dass die Testaufzeichnung zunächst bei wenigstens zwei verschiedenen Zuständen S1 und S2 implementiert wird (Schritt S450), woraufhin die Aufzeichnungsvertiefungen wiedergegeben werden (Schritt S452), woraufhin eine Verschiebungsgröße D1 für den Zustand S1 und eine Verschiebungsgröße D2 für den Zustand S2 durch Vergleichen der wiedergegebenen Muster (Schritt S454) ermitteltwerden, woraufhin die Beziehung zwischen (S1, D1) und (S2, D2) linear genähert wird (Schritt S456) und schließlich ein Optimum für Ttopr oder Tlast durch Verwenden der Näherungslinie bestimmt wird (Schritt S448).
43 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung der Beziehung zwischen der Variation bei dem Aufzeichnungszustand von S1 bis S2 und der Variation bei der Verschiebungslänge von D1 bis D2. Ein Aufzeichnungspuls, der in dem Diagramm (a) gezeigt ist, wird als Referenzpuls mit „PzT = 3T" bezeichnet, während die Aufzeichnungspulse S1 und S2, wobei die Vorderränder von PzT um die Größen S1 beziehungsweise S2 verschoben sind, wie in den Diagrammen (b) und (c) gezeigt ist, als Vergleichsaufzeichnungspulse mit „PzT = 4T" verwendet werden. Anschließend wird die Testaufzeichnung unter Verwendung dieser Aufzeichnungspulse implementiert.
Ermittelt wird als Ergebnis der Testaufzeichnung ein in 43(a1) gezeigtes Referenzmuster für den in (a) gezeigten Aufzeichnungspuls, ein in (b1) gezeigtes Vergleichsmuster S1 für den in (b) gezeigten Aufzeichnungspuls und ein in (c1) gezeigtes Vergleichsmuster S2 für den in (c) gezeigten Aufzeichnungspuls. Bei dem Aufzeichnungsmuster S1 entsteht eine Verschiebungsgröße D1 aus der Steuerungs- bzw. Regelungsgröße S1, wie auch eine Verschiebungsgröße D1 aus dem Vergleichsmuster 32 aus der Steuerungs- bzw. Regelungsgröße S2 entsteht.
Sind die Werte für die Verschiebungsgrößen D1 und D2 für die Steuerungs- bzw. Regelungsgrößen S1 und S2 bekannt, so ist die Beziehung zwischen einer Verschiebungsgröße und einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße für jeden der Parameter vorhersagbar. Daher wird unter Verwendung der Beziehung zwischen der Variation der Steuerungs- bzw. Regelungsgröße und der Variation der Verschiebungsgröße die Vorhersage einer Steuerungs- bzw. Regelungsgröße und die Bestimmung eines Korrekturwertes implementiert, wie nachstehend beschrieben ist.
44 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Korrektur für eine Phasenverschiebung an der Vorderseite einer Vertiefung unter Verwendung einer linearen Näherung. implementiert wird beim Bestimmen einer Korrekturgröße Ttop für eine Phasenverschiebung an der Vorderseite einer Vertiefung eine Testaufzeichnung mit einem Puls mit einer oberen bzw. Startposition in Verschiebung um eine Größe Ttop, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, relativ zu der Referenzphase φ, wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, die eine Referenzpulsposition ist (äquivalent zu dem Testzustand S1 oder S2). Als Ergebnis einer Wiedergabe der Testaufzeichnung wird eine Phasenverschiebung Δφtop des wiedergegebenen Signals erfasst, wie in dem Diagramm (c) gezeigt ist (äquivalent zu der Verschiebungsgröße D1 oder D2).
Bei dem Beispiel werden zwei verschiedene Phasenverschiebungsgrößen Δφtop als D1 = –0,1 und D2 = +0,1 für zwei verschiedene Ttop-Werte von S1 = +0,1 beziehungsweise S2 = +0,3 ermittelt, weshalb die Beziehung zwischen der Phasenverschiebungsgröße Δφtop, das heißt ein gesteuertes bzw. geregeltes Ergebnis, und der Steuerungs- bzw. Regelungsgröße Ttop durch eine lineare Näherung unter Verwendung von S1, S2, D1 und D2 ermittelt werden kann. Als Ergebnis kann unter Verwendung der genäherten Linie eine Korrekturgröße von Ttop = +0,2, die eine Phasenverschiebung ausgleichen kann, als optimale Korrekturgröße bestimmt werden.
Wie eben beschrieben worden ist, kann aufgrund dessen, dass die Beziehung zwischen der Variation der Strategie von S1 nach S2 und der Variation der Verschiebungsgröße von D1 nach D2 durch eine lineare oder Kurvennäherung ermittelt werden kann, wenn wenigstens zwei verschiedene Punkte für jede der Variationen ermittelt werden, eine optimale Korrekturgröße, die zu einer Nullverschiebungsgröße führt, unter Verwendung der genäherten Linie oder Kurve ermittelt werden.
Insbesondere werden zuerst einige Verschiebungsgrößen D bei einer Variation einer Strategie S ermittelt. Anschließend führt das Ersetzen von jeder der ermittelten Verschiebungsgrößen D und einer entsprechenden Strategiegröße S in dem allgemeinen Ausdruck „D = a × S + B" zu simultanen Gleichungen. Durch Lösen der simultanen Gleichungen werden die Konstanten a und b in dem Ausdruck berechnet, was zur Ermittlung einer optimalen Strategie S für eine ideale Verschiebungsgröße führt. Schließlich kann durch Einstellen der optimalen Strategie S an der Strategieschaltung 102, wie in 2 gezeigt ist, ein Aufzeichnungspuls optimal korrigiert werden.
Für den Fall beispielsweise, dass eine Verschiebungsgröße aus der Erfassung aus einem wiedergegebenen Muster für die Testaufzeichnung mit einer Strategie S1 und eine weitere Verschiebungsgröße aus der Erfassung aus einem wiedergegebenen Muster für die Testaufzeichnung mit einer weiteren Strategie S2 in dem Aufzeichnungsverschiebungserfassungsteil 12, der in 2 gezeigt ist, gleich D1 beziehungsweise D2 sind, werden die nachfolgenden simultanen Gleichungen ermittelt. D1 = a × S1 + b und D2 = a × S2 + b
Für die obigen Gleichungen werden die Konstanten a und b berechnet, und es wird die nachfolgende Funktion unter Verwendung der berechneten Konstanten a und b abgeleitet. S = (D – b)/a
Durch Ersetzen eines Wertes zur Verbesserung der Aufzeichnungsqualität, so beispielsweise einer Verschiebungslänge D zur Korrektur einer anfänglichen Verschiebungslänge oder dergleichen, die durch einen Equalizer oder dergleichen entstanden ist, bei der vorgenannten Funktion kann eine optimale Strategie S bestimmt werden.
Darüber hinaus kann die Funktion zur Ermittlung einer optimalen Strategie S für jede der Vertiefungen P3T, P4T, ..., P14T entsprechend 3T, 4T, ... beziehungsweise 14T abgeleitet werden. Zudem kann die Funktion zur Ermittlung einer optimalen Strategie S für jede Aufzeichnungsrate abgeleitet werden.
45 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung eines Beispieles einer Korrektur für eine Phasenverschiebung an der Hinterseite einer Vertiefung unter Verwendung einer linearen Näherung. Implementiert wird beim Bestimmen einer Korrekturgröße Tlast für eine Phasenverschiebung an der Hinterseite einer Vertiefung eine Testaufzeichnung mit einem Puls mit einer Endposition in Verschiebung um eine Größe Tlast, wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, relativ zu einer Referenzphase φ, wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, die eine Referenzpulsposition darstellt. Als Ergebnis einer Wiedergabe der Testaufzeichnung wird die Phasenverschiebung Δφlast des Wiedergabesignals erfasst, wie in dem Diagramm (c) gezeigt ist.
In dem Beispiel werden zwei verschiedene Phasenverschiebungsgrößen Δφlast als D1 = +0,1 und D2 = –0,1 für die beiden verschiedenen Tlast-Werte S1 = –0,1 beziehungsweise S2 = –0,3 ermittelt, wobei die Beziehung zwischen der Phasenverschiebungsgröße Δφlast, das heißt gesteuerte bzw. geregelte Ergebnisse, und der Steuerungs- bzw. Regelungsgröße Tlast durch eine lineare Näherung unter Verwendung von S1, S2, D1 und D2, wie in dem Diagramm (e) gezeigt ist, ermittelt werden können. Im Ergebnis kann unter Verwendung der genäherten Linie eine Korrekturgröße Tlast = –0,2, die eine Phasenverschiebung ausgleichen kann, als optimale Korrekturgröße bestimmt werden.
46 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung einer Tabellenkonfiguration zur Speicherung von Korrekturgrößen Ttop und Tlast. Wie in dem Diagramm (a) gezeigt ist, wird die Korrekturgröße Ttop für die Länge jeder Vertiefung zur Korrektur in Kombination mit der Länge einer Erhebung unmittelbar vor der Vertiefung bestimmt. So wird beispielsweise für den Fall, dass die Länge einer zu korrigierenden Vertiefung gleich 3T ist und die Länge einer unmittelbar davor befindlichen Vertiefung gleich 3T ist, ein Korrekturgröße in dem mit „3-3" in dem Diagramm (a) bezeichneten Bereich gespeichert und analog eine Korrekturgröße in dem mit „3-4" bezeichneten Bereich für den Fall gespeichert, dass die Länge der zu korrigierenden Vertiefung gleich 4T ist und die Länge einer Erhebung unmittelbar vor dieser Vertiefung gleich 3T ist. In jedem weiteren Fall von 5T bis 14T wird eine Korrekturgröße auf dieselbe Weise wie in dem Fall von 3T oder 4T gespeichert.
Wie in dem Diagramm (b) gezeigt ist, wird die Korrekturgröße für die Länge von jeder zu korrigierenden Vertiefung in Kombination mit der Länge einer Erhebung unmittelbar nach der Vertiefung bestimmt. Für den Fall beispielsweise, dass die Länge einer zu korrigierenden Vertiefung gleich 3T ist und die Länge einer Erhebung unmittelbar nach der Vertiefung gleich 3T ist, wird die Korrekturgröße in dem mit „3-3" in dem Diagramm (b) bezeichneten Bereich gespeichert und analog eine Korrekturgröße in dem mit „3-4" bezeichneten Bereich für den Fall gespeichert, dass die Länge einer zu korrigierenden Vertiefung 4T ist und die Länge einer Erhebung unmittelbar nach der Vertiefung gleich 3T ist. In jedem anderen Fall von 5T bis 14T wird eine Korrekturgröße auf dieselbe Weise wie in dem Fall von 3T oder 4T gespeichert.
47 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von verschiedenen Einzelpulsen nach den Korrekturen. Werden Aufzeichnungsdaten, die in dem Diagramm (a) gezeigt sind, auf eine optischer Scheibe aufgezeichnet, so wird eine Strategie eingestellt, wobei ein optimaler Korrekturwert auf jede Vertiefungslänge angewendet wird. Für den Fall einer Aufzeichnung einer 3T-Vertiefung wird ein Vorderseitenkorrekturwert Ttop für die 3T-Vertiefung entsprechend einer Erhebungslänge unmittelbar vor der Vertiefung aus der in 46 gezeigten Tabelle ausgelesen, wie auch ein Hinterseitenkorrekturwert Tlast für die 3T-Vertiefung entsprechend einer Erhebungslänge unmittelbar nach der Vertiefung ausgelesen wird, und es werden die Vorderseite und die Hinterseite des Aufzeichnungspulses unter Verwendung von Ttop beziehungsweise Tlast korrigiert.
Für den Fall der Korrektur einer Vertiefung mit einer Länge gleich 4T oder mehr wird ein PWD-Korrekturwert für die Länge der Vertiefungen aus der in 32 gezeigten Tabelle zusätzlich zum Auslesen von Ttop und Tlast ausgelesen, woraufhin die Form des Pulses entsprechend dem PWD-Wert korrigiert wird, wie in 47(c) bis (f) gezeigt ist.
48 ist ein Konzeptdiagramm zur Darstellung von verschiedenen Multipulsen nach den Korrekturen. Für den Fall eines Multipulses wird ein Tmp-Korrekturwert aus der in 32 gezeigten Tabelle anstelle des Auslesens eines PWD-Korrekturwertes für den Fall eines Einzelpulses gemäß vorstehender Beschreibung ausgelesen, woraufhin die Form des Multipulses entsprechend dem Tmp-Wert, wie in 48(c) bis (f) gezeigt ist, korrigiert wird. Die anderen Korrekturen werden auf dieselbe Weise wie für den Fall des Einzelpulses implementiert.
In den vorbeschriebenen Ausführungsbeispielen wird eine optimale Strategie S durch Ersetzen einer Verschiebungsgröße D bei einer Funktion zum Ermitteln der optimalen Strategie S bestimmt. Gleichwohl kann die Strategie S auch basierend auf einer Korrekturtabelle bestimmt werden, die unter Verwendung der Funktion ermittelt wird.
Zudem kann die vorbeschriebene optimale Strategie S eingestellt werden, wann immer sich der Typ von optischer Scheibe ändert oder wann immer eine Aufzeichnungsrate variiert wird. Darüber hinaus wird ein Zustand der optimalen Strategie in einem Speicher für jeden Typ von optischer Scheibe gespeichert, der in der Vergangenheit verwendet worden ist, oder für jede Aufzeichnungsrate, die in der Vergangenheit verwendet worden ist, wobei dann die optimale Strategie aus dem Speicher ausgelesen und bei der Aufzeichnung mit dem Typ von optischer Scheibe oder bei der Aufzeichnung mit dieser Aufzeichnungsrate verwendet werden kann.
Entsprechend der vorliegenden Erfindung kann ein Aufzeichnungszustand näher an einem optimalen Zustand sogar für ein Medium ermittelt werden, das einem Laufwerk unbekannt ist, weshalb zu erwarten ist, dass es mit einer ungenaueren Aufzeichnungsumgebung umgehen kann.

Claims

Optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung zum Aufzeichnen von Informationen auf ein optisches Aufzeichnungsmedium (50) durch Ausstrahlen eines Laserstrahls mit einem Aufzeichnungspuls, der aus einem oberen Puls bzw. Startpuls (12) und einem folgenden Puls (14) besteht, umfassend: Mittel zum Bestimmen eines Zustands des Startpulses (12) durch Testaufzeichnen auf das optische Aufzeichnungsmedium (50); und gekennzeichnet durch Mittel zum Bestimmen eines Zustands des folgenden Pulses (14) durch Testaufzeichnen anhand des bzw. basierend auf dem Zustand des Startpulses (12); und Mittel zum Bestimmen eines Phasenzustands des Aufzeichnungspulses durch Testaufzeichnen anhand der bzw. basierend auf den Zuständen des Startpulses (12) und des folgenden Pulses (14).
Optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei eine Prüfung der Aufzeichnungsqualität durch Testaufzeichnen auf das optische Aufzeichnungsmedium (50) implementiert wird; ein Zustand des Startpulses (12) bestimmt wird, während ein Aufzeichnungszustand basierend auf einem Ergebnis der Prüfung variiert wird; und ein Zustand des folgenden Pulses (14) durch Testaufzeichnen anhand des bzw. basierend auf dem Zustand des Startpulses bestimmt wird.
Optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei: ein Zustand des Startpulses durch Testaufzeichnen auf das optische Aufzeichnungsmedium bestimmt wird; ein Zustand des folgenden Pulses durch Testaufzeichnen anhand des bzw. basierend auf dem Zustand des Startpulses bestimmt wird; und ein Phasenzustand des Aufzeichnungspulses durch Testaufzeichnen anhand der bzw. basierend auf den Zuständen des Startpulses und des folgenden Pulses bestimmt wird.
Optische Informationsaufzeichnungsvorrichtung nach Anspruch 1, wobei: die Breite des Startpulses (12) m'T ist und die Breite einer Pulsfolge (10) n'T ist; die Datenlänge eines Aufzeichnungspits bzw. einer Aufzeichnungsvertiefung nT ist, wenn die Breite der Pulsfolge (10) n'T ist; die Datenlänge eines kürzesten Aufzeichnungspits mT ist, wenn die Breite der Pulsfolge (10) n'T nur die Breite des Startpulses (12) m'T umfasst; worin m' die Taktzahl bzw. Clockzahl des kürzesten Pulses, n' eine Taktzahl größer als die Taktzahl des kürzesten Pulses, m die Taktzahl der Daten des kürzesten Pits, n eine Taktzahl größer als die Taktzahl der Daten des kürzesten Pits darstellt, m und n ganze Zahlen sind, m kleiner n ist und T eine Einheit Zeitlänge ist; die Breite der Pulsfolge (10) n'T den folgenden Ausdruck erfüllt: n'T = m'T + (n – m)T,ein Aufzeichnungszustand der Breite der nT Pulsfolge (10) durch Testauf zeichnen auf das optische Aufzeichnungsmedium (50) bestimmt wird, während die Schritte implementiert werden: (1) die Bestimmung eines Zustands des Startpulses der Breite m'T (S100), (2) die Bestimmung eines Bedingungs- bzw. Zustandsverhältnisses des Startpulses von Breite m'T und dem folgenden Puls von Breite (n-m)T (S200), und (3) die Bestimmung eines Zustands des folgenden Pulses, der eine Breite von (n-m)T (S300) aufweist; und die Aufzeichnung von Informationen durch die Verwendung der Breite von m'T Puls und der Breite des n'T Pulses implementiert wird, die durch die Schritte bestimmt werden.
Optisches Informationsaufzeichnungsverfahren zum Aufzeichnen von Informationen auf ein optisches Aufzeichnungsmedium (50) durch Ausstrahlen eines Laserpulses mit einer Aufzeichnungspulsfolge (10), die aus einem oberen Puls bzw. Startpuls (12), der ein Taktsignal bzw. Clocksignal mit einer vorbestimmten Periodendauer T als Referenz verwendet, und einem folgenden Puls (14) besteht, wobei ein Zustand des Startpulses (12) durch Testaufzeichnen auf das optische Aufzeichnungsmedium (50) bestimmt wird; eine Prüfung der Aufzeichnungsqualität durch Testaufzeichnen (S120) anhand des bzw. basierend auf dem Zustand des Startpulses implementiert wird; und dadurch gekennzeichnet, dass ein Zustand des folgenden Pulses basierend auf einem Ergebnis der Prüfung bestimmt wird; und der Phasenzustand des Aufzeichnungspulses durch Testaufzeichnen anhand der bzw. basierend auf den Zuständen des Startpulses und des folgenden Pulses bestimmt (S400) wird.
Verarbeitungsschaltung, die das optische Informationsaufzeichnungsverfahren nach Anspruch 4 eingliedert bzw. verkörpert.