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Gebiet der Erfindung
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Die
Erfindung betrifft allgemein Kommunikationssysteme und spezieller
ein Verfahren und eine Vorrichtung für einen integrierten metallischen
Testzugang innerhalb einer Kommunikations-Vermittlungsanlage.
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Hintergrund der Erfindung
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Fernsprech-
und andere Kommunikationssysteme enthalten oft eine Vermittlungsstelle,
die als Zentralstation dient und es einzelnen Benutzern erlaubt,
sich an ein größeres Kommunikationsnetz
anzuschließen,
das weitere Vermittlungsstellen enthält. Solche Vermittlungsstellen
bieten Unterstützung
für eine
Vielzahl von Benutzeranwendungen, einschließlich Fernsprechdienst, DSL
(Digital Subscriber Line, digitale Teilnehmerleitung), usw.
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1 ist
eine grafische Darstellung einer repräsentativen Verbindung zwischen
einem Benutzer und der Vermittlungsstelle. Die Vermittlungsstelle enthält einen
Multiplexer oder eine andere Schaltvorrichtung, die eine Vielzahl
von einzelnen Verbindungen für
einige Benutzer bereitstellt, die von der Vermittlungsstelle unterstützt werden.
Für eine
DSL-Anwendung kann der Multiplexer ein DSLAM (Digital Subscriber
Line Access Multiplexer, Zugangsmultiplexer für digitale Teilnehmerleitungen)
sein, der DSL-Unterstützung
für eine
Vielzahl von Benutzern bereitstellt. Jeder Benutzer ist über eine
Ortsanschlussleitung, bei der es sich um ein oder mehrere Leitungspaare
handeln kann, die von der Vermittlungsstelle zum Benutzer verlaufen,
mit der Vermittlungsstelle verbunden. Beim Teilnehmer ist die Ortsanschlussleitung
mit einer Vielzahl von Teilnehmereinrichtungen verbunden, wie z.
B. mit Telefonen, Computer-Modems, usw.
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Die
Ortsanschlussleitung ist Störungen
ausgesetzt. Einige Störungen
werden durch die Umgebung verursacht (wie z. B. Wasser, Blitzschlag
oder elektrische Störungen).
Andere Störungen
werden durch die Konstruktion des Netzwerks verursacht (wie z. B.
durch Stichleitungen oder Lastspulen). Noch andere Störungen werden
durch Fehler verursacht, die bei der normalen Wartung des Telekommunikationsnetzwerks
gemacht werden (wie z. B. durch falsches Spleißen von Doppelleitungen). Alle
diese Störungen
erschweren die Bereitstellung von Telekommunikationsdiensten. Zum
Beispiel verhindern bei DSL-Anwendungen
Lastspulen, dass der Teilnehmer überhaupt
DSL benutzen kann, während
Stichleitungen die für
den Teilnehmer verfügbare
Bandbreite (d. h. die Dienstgüte)
verringern. Somit ist die Fähigkeit,
die Ortsanschlussleitung des Teilnehmers zu testen, für einen
Anbieter von Telekommunikationsdiensten sehr wichtig.
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Geräte, mit
denen die Teilnehmeranschlussleitung getestet werden kann, sind
sehr teuer. Außerdem
verhindern diese Testgeräte
in ihrem normalen Betrieb die Benutzung der Teilnehmeranschlussleitung
für ihren
beabsichtigten Zweck der Bereitstellung von Telekommunikationsdiensten.
Folglich wünschen
die Anbieter von Telekommunikationsdiensten es nicht, Testeinrichtungen
einzusetzen, die immer mit allen Teilnehmeranschlussleitungen verbunden sind.
Stattdessen installieren die Dienstanbieter ausreichende Testgeräte, um in
der Lage zu sein, eine sinnvolle Anzahl von Teilnehmeranschlussleitungen zu
testen, und die selektiv mit den Teilnehmeranschlussleitungen verbunden
werden können.
Diese Testeinrichtungen werden in der Vermittlungsstelle installiert,
die dem Teilnehmer am nächsten
liegt.
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Die
Bereitstellung eines Zugangs zur Ortsanschlussleitung zu Testzwecken
in der Vermittlungsstelle wird als Bereitstellung eines metallischen
Testzugangs (MTA) bezeichnet. Die an der Ortsanschlussleitung unter
Verwendung des MTA durchgeführten
Tests können
die Überprüfung von Durchgang,
Widerstand und anderen elektrischen Daten der Leitung umfassen.
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Mit
der Weiterentwicklung der Telekommunikationsnetze haben Regulierungsbehörden auf
der ganzen Welt angeordnet, dass die amtierenden Betreiber von Ortsvermittlungen
(Incumbant Local Exchange Carriers, ILECs) den konkurrierenden Betreiber
von Ortsvermittlungen (Competetive Local Exchange Carriers, CLECs)
die Möglichkeit
geben, in Vermittlungsstellen Einrichtungen für Telekommunikationsdienste
zu installieren und konkurrierende Dienste anzubieten. Natürlich müssen CLECS
die ILECs den Platz und die Stromversorgung für ihre Einrichtungen bezahlen.
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In
Systemen nach dem Stand der Technik erfordert die Abtrennung der
Ortsanschlussleitung für Tests
entweder die physikalische Trennung der Ortsanschlussleitung von
den Schaltkreisen des Telekommunikationsdienstes und den Anschluss
an den Testgeräten
oder die Einbeziehung von bestimmten Zugangs-Schaltkreisen, die
zwischen den Schaltkreisen des Telekommunikationsdienstes und der
Ortsanschlussleitung eingefügt
sind. Das manuelle Anschließen
von Teilnehmeranschlussleitungen zur Durchführung von Tests ist sehr teuer
sowie fehleranfällig.
Folglich werden spezielle Einrichtungen benutzt, um die Zugangs-Schaltkreise
bereitzustellen. Die Netzbetreiber haben es praktisch gefunden,
die MTA-Test-Schaltkreise in getrennte Funktionseinheiten aufzuteilen.
Die Einheiten, die dazu benutzt werden, den MTA innerhalb der Vermittlungsstelle
zu implementieren, können
(ohne Verlust an Allgemeinheit) als Testkopf (TH) und metallische
Testzugangseinheit (MTAU) bezeichnet werden, wobei der Testkopf
den Test unter Verwendung der MTAU zur Kopplung an die Ortsanschlussleitungen
durchführt.
Der Testkopf, der auf eine kleine Anzahl von Ports wirkt, ist physikalisch
viel kleiner als die MTAU, da die MTAU auf alle möglichen
Ortsanschlussleitungen wirkt und dabei alle relevanten Telekommunikations-Sicherheits-Standards
einhält.
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Wenn
solche speziellen Schaltkreise zwischen die Schaltkreise des Telekommunikationsdienstes
und die Ortsanschlussleitungen eingefügt werden müssen, steigen die Kosten des
Systems beträchtlich
an, das sie Strom und Platz für
die Implementation benötigen.
Ferner vergrößern solche
speziellen Zugangs-Schaltkreise den Bedarf an Lagerplatz, da zusätzliche
Komponenten in den Gestellrahmen der im Multiplexer enthaltenen
Einrichtungen hinzugefügt
werden. Außerdem
erfordern diese speziellen Schaltkreise eine eigene Wartung. Insbesondere
(aber nicht ausschließlich)
im CLEC-Umfeld erschweren
diese Kosten eine kostengünstige
Bereitstellung von Diensten.
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Daher
besteht der Bedarf an einem Verfahren und einer Vorrichtung zur
Bereitstellung eines metallischen Testzugangs innerhalb von Telekommunikationsanlagen
(wie z. B. DSLAM), der mit anderen Teilen der Telekommunikationsanlage
integriert werden kann, so dass der Zusatzaufwand minimiert wird.
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In
EP 0 386 369 wird eine Test-
und Ersatz-Einrichtung in einer Telekommunikations-Vermittlungsanlage
offen gelegt. Die Einrichtung stellt einen Test-Bus bereit, der
zwischen die Teilnehmerleitung und eine Teilnehmer-Leitungseinheit
eingefügt ist.
Es werden Sätze
von Relaiskontakten bereitgestellt, um die Leitung mit dem Test-Bus
oder die Einheit mit dem Test-Bus zu verbinden. Die Relaiskontakte
sind so angeordnet, dass eine Ersatz-Einheit eine getestete oder
ausgefallene Einheit ersetzen kann, um den Dienst der Leitung aufrecht
zu erhalten. Trotzdem ist eine solche Anordnung eine weitere neue
Einrichtung, deren Implementation in einer bereits beengten Vermittlungsstelle
eine Menge Platz benötigt.
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In
WO 99/53643 wird ein System
offen gelegt, das eine Zahl von Leitungs-Zugangs-Einrichtungen enthält, von
denen jede mit mindestens einer der Kommunikationsleitungen gekoppelt
ist, von denen beide Enden an Telekommunikations-Abschluss-Standorten enden.
Das System enthält
ferner eine Testeinrichtungs-Schnittstelle, Signallenkungs-Schaltkreise, eine
Kommunikationseinrichtung, die den Fernzugang zum Testzugangs-System durch
eine Fernverarbeitungs-Einheit erleichtert, und eine Steuerungs-Einheit.
Die Steuerungs-Einheit steuert
die Signallenkungs-Schaltkreise, um als Reaktion auf ein von der
Fernverarbeitungs-Einheit empfangenes Steuersignal eine ausgewählte Kommunikationsleitung
mit einer ausgewählten
Testeinrichtung zu verbinden, die mit der Testeinrichtungs-Schnittstelle
verbunden ist. Die Steuerungs-Einheit
kann auch die Signallenkungs-Schaltkreise steuern, um eine erste
ausgewählte
Leitungs-Zugangs-Einrichtung mit einer zweiten ausgewählten Leitungs-
Zugangs -Einrichtung zu verbinden, um eine Querverbindung zwischen
den beiden ausgewählte
Leitungs-Zugangs-Einrichtungen herzustellen.
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In
US 5685741 wird eine Vorrichtung
zur Bereitstellung des Zugangs zu einer Vielzahl von Telekommunikationsleitungen
und zur Bereitstellung eines kontinuierlichen Überwachungs-Zugangs zu den Telekommunikationssignalen
auf den Leitungen offen gelegt. Die Vorrichtung umfasst einen Rahmen, der
eine Vielzahl von Ruhekontakten und Überwachungs-Ports und entsprechende Überwachungs-Schaltkreise
zur Bereitstellung eines kontinuierlichen Zugangs zu den Telekommunikationsleitungen
trägt.
Die Telekommunikationsleitungen enden an den Ruhekontakten. Eine
Vielzahl von Modulen kann lösbar
mit dem Rahmen verbunden werden, wobei elektrische Schaltkreiselemente
auf den Modulen die Ruhekontakte unterbrechen, um einen neuen Signalpfad
durch das Modul zu schaffen. Die Module müssen nur mit dem Rahmen verbunden
werden, wenn ein direkter Zugang zu dem Signal gewünscht ist.
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Zu
diesem Zweck bietet die vorliegende Erfindung eine Mehrdienste-Zugangs-Plattform,
die folgendes umfasst: Ein Chassis, das folgendes enthält:
- – Eine
vorher festgelegte Anzahl von Karten-Steckplätzen, wobei jeder der Karten-Steckplätze Eingangs-/Ausgangs-Ports enthält; und
- – Eine
Rückwandplatine,
die einen metallischen Testzugangs-Bus enthält, wobei der metallische Testzugangs-Bus
in der Lage ist, einen Eingangs-/Ausgangs-Port
mindestens eines der Karten-Steckplätze selektiv zu koppeln, um
mindestens einen metallischen Testpfad bereitzustellen.
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In
einer bevorzugten Ausführung
der Plattform der Erfindung ist ein erster Teil des metallischen Testzugangs-Busses in der Lage,
selektiv mit einem Eingangs-/Ausgangs-Port eines ersten Karten-Steckplatzes
gekoppelt zu werden, um einen ersten metallischen Testpfad bereitzustellen,
und ein zweiter Teil des metallischen Testzugangs-Busses ist in
der Lage, mit einem Eingangs-/Ausgangs-Port eines zweiten Karten-Steckplatzes gekoppelt
zu werden, um einen zweiten metallischen Testpfad bereitzustellen.
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Vorzugsweise
kann die selektive Kopplung unter Verwendung von Relais erfolgen.
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Das
Chassis kann weiterhin einen Steckverbinder enthalten, der funktionsfähig mit
der Rückwandplatine
gekoppelt ist, wobei der Steckverbinder für den metallischen Testzugangs-Bus
den Zugang von außen
zum Chassis bereitstellt. In diesem Fall enthält das Chassis weiterhin eine
Test-Steuerung, die funktionsfähig
mit dem Steckverbinder gekoppelt ist, wobei die Test-Steuerung das
Anregungssignal über
den mindestens einen Testpfad liefern kann.
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Gemäß einer
anderen bevorzugten Ausführung
kann der metallische Testzugangs-Bus einen Steuerungs-Teil und einen
Anregungs-Teil enthalten, wobei der Steuerungs-Teil in der Lage
ist auszuwählen,
mit welchem der Karten-Steckplätze
der metallische Testzugangs-Bus gekoppelt ist, wobei der Anregungs-Teil
in der Lage ist, das Anregungssignal zu Eingangs-/Ausgangs-Ports
zu leiten, mit denen der metallische Testzugangs-Bus gekoppelt ist.
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Der
Steuerungs-Teil des metallischen Testzugangs-Busses kann eine serielle
Datenkommunikationsverbindung enthalten.
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Der
Anregungs-Teil des metallischen Testzugangs-Busses kann mindestens
sechs Leiterpaare und vorzugsweise mindestens acht Leiterpaare enthalten.
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Das
Anregungssignal kann mindestens eines der Anregungssignale Safety
Extra Low Voltage (SELV) und Telecom Network Voltage (TNV) sein.
In einem solchen Fall ist in einer ersten Konfiguration der metallische
Testzugangs-Bus in der Lage, mit einem Eingangs-/Ausgangs-Port eines
ersten Karten-Steckplatzes
und mit einem Eingangs-/Ausgangs-Port eines zweiten Karten-Steckplatzes
gekoppelt zu werden, der metallische Testzugangs-Bus ist in der
Lage, das SELV-Anregungssignal
zum Eingangs-/Ausgangs-Port des ersten Karten-Steckplatzes zu leiten, und das TNV-Anregungssignal
zum Eingangs-/Ausgangs-Port des zweiten Karten-Steckplatzes zu leiten.
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Die
Mehrdienste-Zugangs-Plattform kann ferner eine erste Leitungskarte
enthalten, die funktionsfähig
mit einem ersten Karten-Steckplatz aus der vorher festgelegten Anzahl
von Karten-Steckplätzen gekoppelt
ist, wobei der metallische Testzugangs-Bus in der Lage ist, mindestens
einen aus Eingangs-/Ausgangs-Port des ersten Karten-Steckplatzes
und Eingangs-/Ausgangs-Port der ersten Leitungskarte selektiv zu
koppeln.
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Die
Mehrdienste-Zugangs-Plattform kann ferner eine Test-Steuerung im Chassis
enthalten, die funktionsfähig
mit dem metallischen Testzugangs-Bus gekoppelt ist.
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Die
vorher festgelegte Anzahl von Karten-Steckplätzen kann mindestens 12 Karten-Steckplätze sein.
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Die
Abmessungen des Chassis können
alles innerhalb von drei Zoll der Standard-Abmessungen sein, die
in "Network Equipment-Building
System (NEBS) Requirements: Physical Protection" GR-63-CORE, Ausgabe 1, Oktober 1995,
veröffentlicht
von TELECORDIA TECHNOLOGIES, INC. (vormals BELLCORE) festgelegt
wurden.
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Die
Abmessungen des Chassis sind vorzugsweise nicht größer als
ungefähr
18 Zoll Breite, 22 Zoll Höhe
und 12 Zoll Tiefe.
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Jeder
der Karten-Steckplätze
kann mindestens 64 Eingangs-/Ausgangs-Ports
enthalten.
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Die
vorliegende Erfindung liefert auch ein Verfahren zur Durchführung von
Tests über
den metallischen Testzugang, das folgendes umfasst:
Ausgabe
von Steuersignalen auf einem metallischen Testzugangs-Bus, der in
einer Rückwandplatine
eines Chassis enthalten ist, wobei jeder aus der vorher festgelegten
Anzahl von Karten-Steckplätzen
Eingangs-/Ausgangs-Ports enthält,
wobei die Steuersignale dazu dienen, den metallischen Testzugangs-Bus
mit einem Eingangs-/Ausgangs-Port eines ersten Karten-Steckplatzes
selektiv zu koppeln, um einen ersten metallischen Testpfad bereitzustellen;
Anlegen
eines Anregungssignals an den ersten metallischen Testpfad, um ein
erstes Antwortsignal zu erzeugen; und Messen des ersten Antwortsignals.
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In
diesem Verfahren können
durch die Ausgabe der Steuersignale Relais konfiguriert werden, so
dass der metallische Testzugangs-Bus selektiv mit dem Eingangs-/Ausgangs-Port des
ersten Karten-Steckplatzes gekoppelt wird.
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Gemäß einer
bevorzugten Ausführung
arbeiten die Steuersignale, um den metallischen Testzugangs-Bus
mit dem Eingangs-/Ausgangs-Port des ersten Karten-Steckplatzes selektiv
zu koppeln, um den ersten metallischen Testpfad bereitzustellen,
und arbeiten weiterhin, um den metallischen Testzugangs-Bus mit
dem Eingangs-/Ausgangs-Port eines zweiten Karten-Steckplatzes selektiv
zu koppeln, um einen zweiten metallischen Testpfad bereitzustellen,
das
Anlegen des Anregungssignals umfasst das Anlegen des ersten Anregungssignals
an den ersten metallischen Testpfad, um das erste Antwortsignal
zu erzeugen und das Anlegen des zweiten Anregungssignals an den
zweiten metallischen Testpfad, um ein zweites Antwortsignal zu erzeugen,
das
Messen umfasst das Messen des ersten und zweiten Anregungssignals.
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In
einem solchen Fall ist das erste Anregungssignal ein Safety Extra
Low Voltage (SELV) Anregungssignal, und das zweite Anregungssignal
ist ein Telecom Network Voltage (TNV) Anregungssignal.
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Das
Anregungssignal kann eines der Anregungssignale Safety Extra Low
Voltage (SELV) und Telecom Network Voltage (TNV) sein.
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Die
Steuersignale können über einen
Steuerungs-Teil des metallischen Testzugangs-Busses ausgegeben werden,
und das Anregungssignal wird über
einen Anregungs-Teil des metallischen Testzugangs-Busses angelegt.
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Kurzbeschreibung der Zeichnungen
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1 zeigt
eine grafische Darstellung einer Vermittlungsstelle, die über eine
Ortsanschlussleitung mit einem Teilnehmer verbunden ist;
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2 zeigt
ein Blockdiagramm eines Multiplexers, wie eines DSLAM, der eine
Vielzahl von Anschlussleitungen gemäß einer speziellen Ausführung der
vorliegenden Erfindung unterstützt;
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3 zeigt
eine Vorderansicht einer grafischen Darstellung eines Chassis, das
eine Vielzahl von Leitungs-Karten
enthält,
die ein integriertes metallisches Testzugangs-System gemäß einer speziellen Ausführung der
vorliegenden Erfindung unterstützt;
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4 zeigt
eine Rückansicht
des Chassis in 3;
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5 zeigt
eine grafische Darstellung der verschiedenen Signale des metallischen
Testzugangs-Busses gemäß einer
speziellen Ausführung der
vorliegenden Erfindung;
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6 zeigt
ein Blockdiagramm einer Leitungskarte, die mit dem metallischen
Testzugangs-Bus gemäß einer
speziellen Ausführung
der vorliegenden Erfindung gekoppelt ist;
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7 zeigt
ein Blockdiagramm eines Zugangs-Blockes, der in einer Leitungskarte
gemäß einer
speziellen Ausführung
der vorliegenden Erfindung enthalten ist;
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8 zeigt
ein Blockdiagramm der in dem metallischen Testzugangs-System gemäß einer
speziellen Ausführung
der vorliegenden Erfindung benutzten Relais-Matrix; und
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9 zeigt
eine grafische Darstellung des Layouts des Anregungs-Teils des metallischen
Testzugangs-Busses gemäß einer
speziellen Ausführung der
vorliegenden Erfindung.
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Detaillierte Beschreibung
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Allgemein
liefert die vorliegende Erfindung eine Mehrdienste-Zugangs-Plattform,
die einen metallischen Testzugang unterstützt. Die Mehrdienste-Zugangs-Plattform
enthält
ein Chassis, das eine vorher festgelegte Anzahl von Karten-Steckplätzen enthält. Jeder
der Karten-Steckplätze
enthält
eine Anzahl von Eingangs-/Ausgangs-Ports. Eine Rückwandplatine verläuft entlang
des Chassis und enthält einen
metallischen Testzugangs-Bus. Der metallische Testzugangs-Bus ist
in der Lage, selektiv mit einem oder mehreren Eingangs-/Ausgangs-Ports in den
Leitungskarten-Steckplätzen
des Chassis gekoppelt zu werden, um einen oder mehrere metallische
Testpfade bereitzustellen. Zur Bereitstellung der selektiven Kopplung
für den
metallischen Testzugangs-Bus kann eine Relais-Matrix benutzt werden, und
die Flexibilität,
die durch die Konfiguration der Relais-Matrix bereitgestellt wird,
die den metallischen Testzugangs-Bus unterstützt, erlaubt die Unterstützung einer
Vielzahl von verschiedenen Testzugangs-Ports (TAPs). Es können spezielle TAP-Konfigurationen
vorgenommen werden, die sowohl Safety Extra Low Voltage (SELV),
als auch Telecom Network Voltage (TNV) Schnittstellen unterstützen, so
dass Ortsanschlussleitungen, die eine Vielzahl von Signalisierungs-Protokollen
unterstützen,
unter Verwendung des metallischen Testzugangs-Busses entweder einzeln
oder gemeinsam getestet werden können.
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Indem
die erforderlichen Verbindungs- und Umschalt-Schaltkreise für den metallischen Testzugang
im Chassis der Vermittlung oder des DSLAM untergebracht werden,
sind die zusätzlichen
externen Schaltkreise, die in Systemen nach dem Stand der Technik
benötigt
werden, nicht mehr erforderlich. Indem eine flexible Relais-Matrix
für jeden
der E/A-Ports bereitgestellt wird, kann der metallische Testzugangs-Bus
unter Verwendung einer begrenzten Anzahl von Steckverbindern implementiert
werden, so dass die Platzbegrenzungen innerhalb des Chassis nicht überschritten
werden. Die Positionierung der verschiedenen, im metallischen Testzugangs-Bus
enthaltenen Signalleitungen zueinander erlaubt es, Test-Anregungssignale
gleichzeitig an eine Schnittstelle mit niedriger Spannung (SELV)
und eine Schnittstelle mit hoher Spannung (TNV) über unabhängige Verbindungen mit dem
Test-Bus anzulegen und das Antwortsignal auf solche Anregungssignale
zu messen, ohne die Abstands-Anforderungen zu verletzen, die festgelegt
wurden, um die Einhaltung der Sicherheitsvorschriften der Behörden sicherzustellen,
und das Test-Anregungssignal und das Antwortsignal werden nicht
durch Übersprechen gestört.
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Die
Erfindung kann mit Bezug auf die 2–9 besser
verstanden werden. 2 zeigt ein Blockdiagramm eines
Multiplexers oder einer Vermittlung, die einer Vermittlungsstelle
zugeordnet sein können,
die eine Anzahl von Anschlussleitungen 40 unterstützt, wobei
jede Anschlussleitung eine physikalische Verbindung zum Teilnehmer
darstellt. Das in 2 gezeigte System repräsentiert
eine Mehrdienste-Zugangs-Plattform,
die es der Testeinrichtung 50 erlaubt, sowohl auf die physikalische
Verbindung zuzugreifen, die durch die Anschlussleitungen 40 repräsentiert
wird, sowie auf den Abschluss der Leitungen, der durch die digitalen
Schaltkreise 10 repräsentiert
wird. Die von der Zugangs-Plattform 30 bereitgestellten
Funktionen des metallischen Testzugangs (MTA) erfüllen vorzugsweise
die von TELCORDIA (vormals BELLCORE) bereitgestellten Spezifikationen.
Diese Spezifikationen beschreiben die MTA-Architektur nach Industriestandard
und ihre Komponenten. Die Zugangs-Plattform 30 erlaubt
den Anschluss der Teilnehmerleitungen 40 an der Testeinrichtung 50,
so dass die Testeinrichtung 50 geeignete Tests der verschiedenen
in den Teilnehmerleitungen 40 enthaltenen Leitungspaare
durchführen kann.
Der gesamte Testbetrieb wird vorzugsweise von einem Testbetriebs-Unterstützungssystem
(Test OSS) gesteuert.
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Wie
im Folgenden detailliert beschrieben wird, enthält die Zugangs-Plattform 30 einen MTA-Bus
und eine Vielzahl von Relais oder anderer Schalteinrichtungen, die
eine Relais-/Schaltmatrix bilden,
die es erlaubt, den MTA-Bus selektiv mit einer oder mehreren einzelnen
E/A-Ports zu koppeln, die den Leitungskarten entsprechen, die durch
die digitalen Schaltkreise 10 repräsentiert werden. Die Relais können elektromechanische
Relais oder Halbleiterrelais sein, zum Beispiel Halbleiterrelais,
in denen MOSFET-Bauelemente benutzt werden. Eine Steuerung innerhalb
der Zugangs-Plattform 30 bietet eine Schnittstelle zum
Test-OSS, um die richtige Konfiguration der Relais-Matrix zu erlauben,
so dass das Anregungssignal an die verschiedenen getesteten Schaltkreise
angelegt und das Antwortsignal von ihnen empfangen werden kann.
Dies bietet die Funktionalität,
die zuvor durch eine MTAU erhalten wurde, wie oben beschrieben.
Es ist auch vorzuziehen, die Funktionalität des oben beschriebenen Testkopfes ebenfalls
nachzubilden.
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In
Systemen nach dem Stand der Technik war die Zugangs-Plattform typischerweise
eine diskrete Hardware (wie z. B. eine Einrichtung im Gestellrahmen),
die zwischen den Anschlussleitungen 40 und den E/A-Ports
der in den Vermittlungseinrichtungen enthaltenen Leitungskarten
angeschlossen ist. Wie bereits oben erwähnt, ist die zusätzliche
Hardware, die zur Implementation einer solchen Zugangs-Plattform
nach dem Stand der Technik erforderlich ist, kostenaufwendig, sowohl
bezüglich
der erforderlichen zusätzlichen
Schaltkreise, des zusätzlichen
Platzes, den solche Schaltkreise im Gestellrahmen, der das Vermittlungssystem
enthält,
benötigen,
als auch bezüglich
des zusätzlich
erforderlichen Wartungsaufwandes. TELCORDIA TECHNOLOGIES, INC. (vormals
BELLCORE) veröffentlicht
weitreichend anerkannte Standards für Telekommunikationseinrichtungen. "Network Equipment
Building System (NEBS) Requirements: Physical Protection" GR-63-CORE, Ausgabe
1, Oktober 1995, ist ein solcher Standard. Abschnitt 2" Spatial Requirements" dieses Standards
spezifiziert die Anforderungen an Gestellrahmen und Schränke in Abschnitt
2.1 "General Requirements", wobei spezielle
Informationen zu Abmessungen in Abschnitt 2.2.2 "Equipment Frame Dimensions" angegeben werden.
In Abschnitt 2.2.2 wird folgendes angegeben:
"[14] Einrichtungen,
die für
herkömmliche
Anwendungen in bestehenden Einrichtungs-Umfeldern konstruiert sind,
müssen
folgende Nenn-Abmessungen haben:
Höhe – 2134 mm (7 Fuß)
Breite – 660 mm
(2 Fuß,
2 Zoll)
Tiefe – 305
mm (12 Zoll)
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Rahmen
können
die Nenn-Abmessungen für Breite
und Tiefe überschreiten,
wenn sie in einer speziellen Anordnung aufgestellt werden, in der
die Mindest-Wartungs- und Verdrahtungs-Gänge aufrecht erhalten bleiben
können
und die Schnittstelle zum Kabel-Gestellrahmen konstruiert werden
kann.
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Vermittlungssysteme
mit Anordnungen von Einrichtungen, die System-Kabel-Gestellrahmen
enthalten, können
von den Nenn-Abmessungen
für Breite
und Tiefe abweichen und die Anforderungen an die Anordnungs-Übereinstimmung
in Abschnitt 2.1 einhalten."
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Obwohl
die vorliegende Erfindung so ausgeführt werden kann, dass sie mit
den oben angegebenen Abmessungen für Höhe, Breite und Tiefe übereinstimmt,
kann die Erfindung auch gemäß der oben erwähnten speziellen
Anordnung ausgeführt
werden. Zum Beispiel kann die Erfindung so ausgeführt werden,
dass die Abmessungen des Chassis jeweils innerhalb von drei Zoll
der Standard-Abmessungen liegen.
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Die
vorliegende Erfindung integriert die Zugangs-Plattform in das Chassis,
das die Leitungskarten für
die Vermittlung enthält,
oder in den in der Vermittlung enthaltenen Baugruppenträger. 3 zeigt eine
grafische Darstellung eines Chassis 100, das eine Vielzahl
von Steckplätzen
enthält.
Die Abmessungen des Chassis sind vorzugsweise nicht größer als
18 Zoll Breite, 22 Zoll Höhe
und 12 Zoll Tiefe. Die Abmessungen halten die oben erwähnten Standards ein,
die für
Einrichtungen entwickelt wurden, die in Gestellrahmen von Vermittlungsstellen
unterzubringen sind. Die Steuerungs-Steckplätze oder Zentralstationen 112 und 114 unterstützen den
Koppelbaustein für
den Baugruppenträger.
Universal-Karten-Steckplätze (UCS) 102–106 enthalten
die Leitungskarten, mit denen die Anschlussleitungen, die von den
Baugruppenträgern
getragen werden, verbunden sind. In einer Ausführung enthält das Chassis 100 12
Leitungskarten und hat zwei Steuerungs-Steckplätze zur Unterstützung des
Koppelbausteins für
den Baugruppenträger.
Die Leitungskarten im Chassis 100 können ADSL-Leitungskarten, SDSL-Leitungskarten,
andere, wie noch nicht standardisierte DSL-Systeme, oder Leitungskarten,
die andere Schnittstellen, wie z. B. T1, E1, POTS, DS3, E3 usw.
unterstützen,
sein. Ein einzelnes Chassis kann eine Anzahl von verschiedenen Leitungskarten unterstützen, von
denen jede einen unterschiedlichen Typ von Schnittstelle repräsentiert.
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In
einer Ausführung
unterstützt
jede der Leitungskarten im Chassis 64 Eingabe-/Ausgabe-(E/A)-Ports,
wobei jeder E/A-Port in der Lage ist, mit einem Paar von Steckverbindern
verbunden zu werden, die eine Ortsanschlussleitung repräsentieren.
Die Vielzahl von verschiedenen Typen von Schnittstellen, die von
verschiedenen Leitungskarten unterstützt werden können, können verschiedene
Signalisierungs-Ebenen (zum Beispiel verschiedene Spannungspegel)
darstellen. Speziell können
alle Formen von DSL (wie ADSL oder SDSL), T1 und POTS die Signalisierung
mit höherer
Spannung benutzen, wie z. B. Spannungspegel, die Telecom Network
Voltage (TNV) entsprechen. TNV-Signalisierungs-Pegel
können
in manchen normalen Signalisierungs-Anwendungen bis zu ungefähr 300 Volt
reichen, wobei Spannungsspitzen bis zu 600 Volt und möglicherweise
gleichzeitige Stromspitzen von ungefähr 40 Ampere auftreten können. Im
Gegensatz dazu kann bei DS3/E3-(und einigen T1/E1)-Schnittstellen die
Safety Extra Low Voltage (SELV) Signalisierung verwendet werden,
wobei diese Signalisierung Spannungspegel in der Höhe von weniger
als 5 Volt benutzt. Die Unterstützung
einer solchen Vielzahl von Signalisierungs-Pegeln stellt zusätzliche Herausforderungen für integrierte
Mehrdienste-Zugangs-Plattformen dar, und Verfahren zur Behandlung
solcher Probleme werden im Folgenden detailliert beschrieben.
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4 zeigt
eine Rückansicht
des Chassis 100. Das gezeigte Chassis 100 enthält Steckverbinder,
die jeder der Leitungskarten entsprechen, die in dem Chassis 100 enthalten
sein können.
Diese Ports 122–126 können TNV-Ports 132 sowie
SELV-Ports 134 umfassen. Ein MTA-Bus 142 verläuft entlang
der Rückwandplatine
des Chassis 100. Wie oben beschrieben, kann der MTA-Bus
selektiv mit einem oder mehreren der E/A-Ports der Karten-Steckplätze gekoppelt
werden, um einen oder mehrere metallische Testpfade bereitzustellen.
Ein Steckverbinder 141 wird bereitgestellt, um es optional
zu ermöglichen, dass
ein externer Testkopf die optionale Kopplung einer oder mehrerer
E/A-Ports der Karten-Steckplätze zu
den metallischen Testpfaden anordnet. Der Steckverbinder 140 liefert
für externe
Einrichtungen einen metallischen Zugang zum MTA-Bus.
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In
manchen Ausführungen
ist der Testkopf, der die selektive Kopplung des MTA-Busses anordnet,
im Chassis 100 enthalten, während in anderen Ausführungen
der Testkopf sich außerhalb
des Chassis 100 befindet und über Test-Steckverbinder 140 und 141 mit
dem MTA-Bus 142 gekoppelt ist. In manchen Ausführungen
sind mehrere Baugruppenträger übereinander
angeordnet, wobei ein einziger Testkopf die geeignete Steuerungs-
und Anregungssignal-Information an jeden Baugruppenträger liefert.
In einem solchen Fall kann der Testkopf sich außerhalb des Chassis befinden,
das den Baugruppenträgern entspricht,
oder kann sich innerhalb eines Chassis befinden und über externe
Steckverbinder mit dem anderen Chassis gekoppelt sein. (In allen
Ausführungen
stellt das Chassis 100 den MTA-Bus 142 und die zugehörige Steuerlogik
bereit, welche die MTAU-Funktion bereitstellt.)
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5 zeigt
eine Beispiel-Konfiguration des MTA-Busses 142. Das in 5 gezeigte
Beispiel, der MTA-Bus 142, enthält einen Anregungs-Teil 152,
der wie gezeigt acht Paare von Steckverbindern enthält. Der
MTA-Bus 142 enthält
auch einen Steuerungs-Teil, wobei der Steuerungs-Teil des in 5 gezeigten
Busses Auswahl-Leitungen 154 (die 12 Auswahl-Leitungen und 12
Leitungen, die das Vorhandensein/Fehlen einer Leitungskarte in einem
entsprechenden Steckplatz anzeigen, umfassen können) und 5 Signalleitungen
enthält,
die einen Steuerungs-Bus 156 bilden. In anderen Ausführungen kann
der Anregungs-Teil des MTA-Busses eine größere oder kleinere Anzahl von
Paaren enthalten, wobei die Anzahl von enthaltenen Paaren die Anzahl und
Vielfalt der Standard-Konfigurationen des Test-Zugangs-Ports (TAP)
bestimmen kann, die in dem speziellen System unterstützt werden.
Somit sind in einem anderen Beispielsystem nur sechs Leiterpaare
im Anregungs-Teil 152 enthalten, so dass es möglich ist,
dass ein kompletter TAP über
den MTA-Bus 142 unterstützt
wird.
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Ein
kompletter TAP besteht aus sechs Paaren von Steckverbindern, die
in drei Sätzen
gruppiert sind: in die Paare A, B und C. Jeder Satz (entweder A,
B oder C) hat ein Steckverbinder-Paar für die Anlagenseite (F-Paar)
und ein Steckverbinder-Paar für die
Einrichtungsseite (E-Paar) der Anschlussleitung. Typischerweise
werden die Paare auf der Basis ihres Satzes und ihres Anschlusspunktes
gekennzeichnet. Somit wird das Anlagenseiten-Paar des Satzes A mit AF
gekennzeichnet, und das Paar der Einrichtungsseite wird mit AE gekennzeichnet.
In vielen Fällen sind
die C-Paare redundant, und somit wird ein vollständiger TAP nicht immer benötigt. Indem
acht Paare in den Anregungs-Teil 152 aufgenommen werden, können zwei
teilweise TAPS durch den MTA-Bus 142 unterstützt werden
(zwei TAPs, die jeder höchstens A-
und B-Sätze
enthalten). Im Folgenden werden verschiedene TAP-Konfigurationen bezüglich dieses speziellen Layouts
des Anregungs-Teils 152 detailliert beschrieben.
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Die
spezielle Implementation des MTA-Busses 142 auf der Rückwandplatine
in dem in 5 gezeigten Beispiel kann acht
Paare von Leiterbahnen für
den Anregungs-Teil 152 enthalten. Diese Leiterbahnen verlaufen
entlang der gesamten Rückwandplatine
(sowohl Steuerungs-Steckplätze
als auch UCS-Steckplätze) und
können
mit dem Test-Steckverbinder 140 verbunden sein, der mit
Bezug auf 4 oben beschrieben wurde. In
einer speziellen Ausführung
kann der Test-Steckverbinder 140 ein DB-25-Steckverbinder
sein.
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Die
Auswahl-Leitungen 154 des MTA-Busses 142 können einzelne
Leitungen für
vorhandene Karten und Steckplatz-Auswahl-Signale
enthalten, die jedem der im Chassis enthaltenen UCS-Steckplatze
entsprechen. Die Leitungen für
vorhandene Karten werden dazu benutzt, festzustellen, ob in einem
bestimmten UCS-Steckplatz eine Karte vorhanden ist, und die Steckplatz-Auswahlsignale
werden dazu benutzt, die Bereitstellung von Steuerinformation an
einen bestimmten Karten-Steckplatz zum Test zu erleichtern.
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Der
Steuerbus 156 kann ein serieller Kommunikationsbus sein,
der ein Sendesignal, ein Empfangssignal, ein Taktsignal, ein Rahmen-Impulssignal (ein
Justiersignal) und ein Test-Ausführungs-Signal enthält. Indem
der Steuerbus 156 dazu benutzt wird, Steuerinformation
an die verschiedenen Teile der Relais-Matrix im Baugruppenträger zu liefern,
kann eine Vielzahl von Konfigurationen erzielt werden, und mehrere
Tests können
gleichzeitig ausgeführt
werden. In einer speziellen Ausführung
können
zwei verschiedene teilweise TAPS gleichzeitig eingerichtet werden,
wozu der MTA-Bus 142 verwendet wird, und der Steuerbus 156 kann
zwei getrennte Test-Routinen gleichzeitig unterstützen (eine
auf jedem TAP). Wie einem Fachmann bekannt ist, können verschiedene
Steuerbus-Strukturen
oder verschiedene Verfahren zur Konfiguration der Relais-Matrix
und zur Bereitstellung der zur Ausführung der Tests erforderlichen
Steuerinformation verwendet werden.
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6 zeigt
eine grafische Darstellung einer Leitungskarte 200, die
Karten-Schaltkreise 210 und einen Zugangs-Block 230 enthält. Die
Karten-Schaltkreise 210 sind mit dem Zugangs-Block 230 über Karten-Eingangs-/Ausgangs-(E/A)-Signale 212 gekoppelt.
Der Zugangs-Block 230 ist auch mit den verschiedenen Anschlussleitungen
verbunden, die von der Karte 200 unterstützt werden.
Eine Beispiel-Anschlussleitung 220 ist
in 6 gezeigt. Der MTA-Bus 142 ist mit dem
Zugangs-Block 230 gekoppelt, um Konfigurations- und andere Steuerinformation
bereitzustellen.
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In
manchen Fällen
kann der MTA-Bus 142 dazu benutzt werden, auf die Anschlussleitung 220 zuzugreifen,
während
in anderen Fällen
der MTA-Bus 142 dazu benutzt werden kann, auf die Karten-E/A-Signale 212 zuzugreifen.
In noch anderen Fallen kann der MTA-Bus 142 dazu benutzt
werden, gleichzeitig sowohl auf die Anschlussleitung 220,
als auch auf die Karten-E/A-Signale 212 zuzugreifen. Somit
kann der MTA-Bus 142 den Zugang sowohl zu den externen
Anschlussleitungen zum Test, als auch auf die internen Karten-Schaltkreise 210 bereitstellen.
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Eine
detailliertere Ansicht eines Beispiel-Zugangs-Blocks 230 wird
in 7 gezeigt. Der in 7 gezeigte
Zugangs-Block 230 enthält einen
Relais-Block 250 und einen Decoder 260. Der Decoder 260 ist
mit dem Steuerungsteil 154, 156 des MTA-Busses 142 verbunden,
während
der Relais-Block 250 mit dem Anregungs-Teil 152 des MTA-Busses 142 verbunden
ist. Der Decoder 260 empfängt und sendet Steuerungsinformation über den
Steuerbus 156 sowie über
ein oder mehrere Auswahl-Leitungen 154. Auf der Basis der über den Steuerungsteil
empfangenen Informationen erzeugt der Decoder 260 Relais-Steuersignale 262,
die an die verschiedenen Relais (oder anderen Schalteinrichtungen)
geliefert werden, die im Relais-Block 250 enthalten sind.
Die Relais-Steuersignale 262 konfigurieren die Relais im
Relais-Block 250, so dass die gewünschten Verbindungen zwischen
dem Anregungs-Teil 152, den Karten-E/A-Signalen 212 und der Anschlussleitung 220 hergestellt
werden.
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Obwohl
eine Vielzahl von Relais-Konfigurationen im Relais-Block 250 unterstützt werden
kann, wird in 8 eine spezielle Beispiel-Konfiguration gezeigt.
Wie oben angegeben, enthält
jeder Satz (A, B oder C) in einem TAP zwei Paare (E-Paar und F-Paar).
Das Diagramm in 8 zeigt die geeigneten Relais
für einen
einzelnen Satz. Die an jedes der Relais gelieferten Steuersignale
sind in 8 nicht gezeigt. Die Relais
pro TAP 310 umfassen die Relais 312, 314 und 316.
Das Relais 312 bestimmt, ob das E-Paar mit den Relais pro
Port 320 oder mit dem Rückschleifen-Relais 314 verbunden
wird. Das F-Paar-Relais 316 bestimmt,
ob das F-Paar mit den Relais pro Port 320 oder mit dem
Rückschleifen-Relais 314 verbunden
wird. Das Rückschleifen-Relais 314 bestimmt,
ob der Rückschleifen-Pfad durch die Relais
pro TAP 310 geöffnet
oder geschlossen ist. Jedes der Relais 312, 316 ist
vorzugsweise ein typisches Relais vom Telekommunikations-Typ, das
es erlaubt, zwei einzelne Signalleitungen (ein Paar) gleichzeitig
zu schalten.
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Wenn
die Relais 312 und 316 in den Relais pro TAP 310 so
konfiguriert sind, dass die E- und F-Paare mit den Relais pro Port 320 verbunden
sind, können
verschiedene Port-Konfigurationen
eingerichtet werden, um eine Vielzahl von Testpfaden zu ermöglichen.
Zum Beispiel können
die E- und F-Pfade
so geleitet werden, dass der Testpfad die Karten-E/A-Signale 212 enthält, so dass
der E/A-Karten-Abschluss getestet werden kann. In einer anderen
Konfiguration wird ein Testpfad so aufgebaut, dass die Anschlussleitung 220 im
Testpfad enthalten ist. In beiden dieser Konfigurationen ist der
Benutzer-Pfad (der Pfad zwischen der Anschlussleitung 220 und
der Karten-E/A 212) unterbrochen.
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In
anderen Konfigurationen kann der Test-Schaltkreis auf eine Weise
angeschlossen werden, dass er effektiv zwischen der Karten-E/A 212 und
der Anschlussleitung 220 eingefügt ist. In noch anderen Ausführungen
kann es wünschenswert
sein, eine Überwachungs-Konfiguration
zu haben, so dass der Benutzer-Pfad nicht unterbrochen wird und
die Testeinrichtungen parallel zur Anschlussleitung 220 angeschlossen
sind, so dass die Übertragungen
zwischen der Karten-E/A 212 und der Anschlussleitung 220 effektiv überwacht
werden können.
Um eine solche Überwachung
zu erleichtern, kann ein Puffer mit hoher Impedanz entlang der Signalleitung 330 enthalten
sein. Man beachte, dass dieser Puffer hoher Impedanz in die Schaltkreise
hinein und hinaus geschaltet werden kann, wozu zusätzliche
Relais verwendet werden, die unter Verwendung des MTA-Busses gesteuert
werden.
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Diese
verschiedenen Konfigurationen können
durch Verwendung der Relais 322 und 324 erhalten
werden. Für
jeden der Ports in einem Leitungskarten-Steckplatz wird ein Satz
von Relais pro Port 320 bereitgestellt.
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9 zeigt
eine grafische Darstellung des Layouts des Anregungs-Teils 400,
das der Positionierung der verschiedenen Steckverbinder, die dem
Anregungs-Teil zugeordnet sind, entlang der Rückwandplatine des Baugruppenträgers entspricht.
(Man beachte, dass in 9 die ausgefüllten Kreise Stifte im Steckverbinder
darstellen, die nicht bestückt
sind (d. h. die Stifte sind nicht installiert.) Indem einige Stifte
nicht bestückt
werden, wird sichergestellt, dass die normalen Sicherheitsmaßnahmen
für Telekommunikationsgeräte beibehalten
werden, indem ein geeigneter Isolationsabstand zwischen installierten
und benutzten Stiften bereitgestellt wird.) Der Baugruppenträger hat
acht Paare von Leiterbahnen für
den Anregungs-Teil des MTA-Busses, wobei diese Leiterbahnen sich über die
gesamte Rückwandplatine
erstrecken. Die Paare 401–408 sind in einem
Rechteck auf dem Rückwandplatinen-Steckverbinder
angeordnet, wie im Layout des Anregungs-Teils 400 in 9 gezeigt.
In einer bestimmten Ausführung
beträgt
der Abstand zwischen benachbarten Stiften von Mitte zu Mitte ungefähr 0,08
Zoll. Auf der Grundlage der Abstands-Anforderungen für TNV- und SELV-Steckverbinder
können
mit dem Layout 400 verschiedene Konfigurationen erzielt
werden, um sicherzustellen, dass Tests an TNV- und SELV-Schaltkreisen
gleichzeitig durchgeführt
werden können,
ohne dass sich beide gegenseitig stören.
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Wie
bereits oben angegeben, ist ein kompletter TAP als drei Sätze von
Paaren definiert, wobei ein Satz zwei der in 9 gezeigten
Paare 401–408 enthält. Somit
nutzt ein kompletter TAP sechs der acht verfügbaren Paare 401–408.
In einer Beispiel-Konfiguration eines einzelnen TAP kann zu einem
Zeitpunkt entweder ein SELV- oder ein TNV-Test durchgeführt werden,
und sechs der acht Paare werden benutzt. In einem solchen Beispiel
eines einzelnen kompletten TAP können
die Paare 401 und 405 den Satz A bilden, die Paare 402 und 406 können den Satz
B bilden, die Paare 403 und 407 können im
Satz C enthalten sein, und die Paare 404 und 408 können unbeschaltet
und somit unbenutzt gelassen werden.
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Wie
bereits oben angegeben, ist es oft der Fall, dass ein kompletter
TAP nicht benötigt
wird. Wenn ein kompletter TAP nicht benötigt wird, können gleichzeitig
zwei teilweise TAPs implementiert werden. Jeder teilweise TAP kann
nur Paare A und Paare B enthalten, so dass wenn acht Leitungspaare
vorhanden sind, es ermöglicht
wird, dass zwei teilweise TAPs (wobei jeder A- und B-Paare hat)
gleichzeitig vorhanden sind. In einem solchen Beispiel kann der erste
TAP die Paare 401 und 405 als Satz A haben und
die Paare 402 und 406 als Satz B. Der zweite TAP
kann die Paare 403 und 407 als Satz A haben und
die Paare 404 und 408 als Satz B.
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In
dem Fall, wenn gleichzeitige SELV-Tests mit kleiner Spannung und
TNV-Tests mit hoher Spannung gewünscht
werden, muss ein ausreichender Abstand zwischen den für jeden
Typ von Test benutzten Leitern sichergestellt werden, um Übersprechen oder
andere Signalstörungen
zu vermeiden. Zum Beispiel können
die Mindestanforderungen an den Abstand zwischen einem TNV-Leiter und einem SELV-Leiter
einen Abstand von 1 mm und einen Kriechweg von 1,6 mm entlang jeder
Oberfläche
fordern (wie in der Publikation des Standards IEC60950 der International
Electrotechnical Commission). Um sicherzustellen, dass diese Grenzwerte
eingehalten werden, können
die teilweisen TAPS weiter reduziert werden, so dass einer der TAPS
nur einen Satz A enthält.
Insbesondere ein erster TAP zur Durchführung eines TNV-Tests kann
einen Satz A enthalten, der aus den Paaren 401 und 405 besteht.
Der zweite TAP, der für
SELV-Tests benutzt werden kann, kann einen Satz A enthalten, der
die Paare 403 und 407 enthält, und einen Satz B, der die
Paare 404 und 408 enthält. Als solche sind die Paare 402 und 406 unbenutzt
und bieten daher einen zusätzlichen
Abstand zwischen den beiden TAPs.
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Um
die zur Unterstützung
der integrierten MTA-Tests erforderlichen Schaltkreise im Baugruppenträger unterzubringen,
werden Leitungskarten vorzugsweise so konstruiert, dass sie die
für die Steuerung
erforderlichen Relais und Decoder-Blöcke enthalten. Um für Kompatibilität zu älteren Systemen zu
sorgen, können
jedoch zusätzliche
Unterstützungs-Karten
benutzt werden, die die Decoder- und Relais-Schaltkreise enthalten,
wobei die älteren
Karten in die Unterstützungs-Karten
gesteckt werden. Als solche ändert
sich die ältere
Karten-Konfiguration nicht selbst, und die Unterstützungs-Karten
bieten die zusätzlichen
Schaltkreise, die zur Unterstützung der
integrierten MTA-Tests erforderlich sind. In einem speziellen Fall
haben die älteren,
nicht kompatiblen Karten Abmessungen im Vergleich zum Chassis-Körper, die es erlauben, in jeden
der Leitungskarten- Steckplätze eine
Unterstützungs-Karte
aufzunehmen. Obwohl die Abwärts-Kompatibilität wünschenswert
ist, werden zukünftig
entwickelte Karten vorzugsweise so entwickelt, dass sie die Unterstützungs-Schaltkreise
enthalten, so dass Ergänzungs-Karten nicht benötigt werden.
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In
einem speziellen Beispiel haben die Leitungskarten, die für die von
Alcatel Networks of Kanata, Ontario, Kanada produzierte Vermittlungsanlage
7470 (vormals 36170) hergestellt werden, eine Höhe von ungefähr 12 Zoll.
Wenn das Chassis des Baugruppenträgers ungefähr 22 Zoll hoch ist, ermöglicht dies
die Aufnahme einer Unterstützungs-Karte zwischen
der älteren
Leitungskarte der 7470 und dem Leitungskarten-Steckplatz in einem
neueren Chassis.
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In
der obigen Spezifikation wurde die Erfindung mit Bezug auf spezielle
Ausführungen
beschrieben. Ein Fachmann erkennt jedoch, dass verschiedene Änderungen
und Abwandlungen vorgenommen werden können, ohne vom Umfang der vorliegenden
Erfindung anzuweichen, wie in den unten stehenden Ansprüchen angegeben.
Folglich müssen die
Spezifikation und die Figuren als Beispiel und nicht im einschränkenden
Sinn betrachtet werden, und es ist beabsichtigt, dass alle diese Änderungen in
den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung fallen.
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Nutzen,
weitere Vorteile und Problemlösungen
wurden oben mit Bezug auf spezielle Ausführungen beschrieben. Nutzen,
Vorteile, Problemlösungen und
jedes Element/alle Elemente, die Nutzen, Vorteile und Problemlösungen verursachen
oder dafür
sorgen, dass sie besser werden, dürfen nicht als kritisch, erforderlich
oder wesentliche Eigenschaft oder Element eines oder aller Ansprüche aufgefasst
werden. Wie hier verwendet, sind die Begriffe "enthält", "enthaltend" oder jede Variation
davon so beabsichtigt, dass sie eine nicht ausschließende Einbeziehung
abdecken, so dass ein Prozess, Verfahren, ein Artikel oder eine
Vorrichtung, die eine Liste von Elementen enthalten, nicht nur diese
Elemente enthalten, sondern andere Elemente enthalten können, die
nicht ausdrücklich
aufgelistet oder einem solchen Prozess, Verfahren, Artikel oder
einer solchen Vorrichtung inhärent
sind.