JP2009135973A - 高ポート密度dslamのための組込み型メタリックアクセス - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マルチサービスアクセスプラットフォームはシャーシ、カードスロット、入出力ポートとメタリックテストアクセスバスを含む。メタリックテストアクセスバスは入出力ポートに選択的に結合して、テストパスを確立する。カードスロットにあるリレーマトリックスを使用してSafety Extra Low Voltage(SELV)規格とTelecom Network Voltage(TNV)規格をサポートするなど様々なTAP構成が可能となる。また、メタリックテストアクセスバスを個々または同時に使用して、異なるプロトコルをサポートするローカルループのテストも可能となる。
【選択図】図2
Description
高さ 2134mm(7ft)
幅 660mm(2ft,2in)
深さ 305mm(12in)
30 アクセスプラットフォーム
40 ループ
50 テスト装置
100 シャーシ
102、104、106 汎用カードスロット(UCS)
122、124、126 ポート
132 TNVポート
134 SELVポート
140、141 テストコネクタ
142 MTAバス
152 刺激部分
154 選択回線
156 制御バス
200 カード
210 内部カード回路
212 カード入出力(I/O)信号
220 ループ
230 アクセスブロック
250 リレーブロック
260 復号器
262 リレー制御信号
310 TAPごとのリレー
312、314、316、322、324 リレー
320 ポートごとのリレー
330 信号回線
400 刺激部分レイアウト
401、402、403、404、405、406、407、408 導体ペア
Claims (23)
- それぞれが入出力ポートを含む所定数のカードスロットと、
メタリックテストアクセスバスを含むバックプレーンとから成るシャーシを持つマルチサービスアクセスプラットフォームであって、メタリックテストアクセスバスが、カードスロットのうち少なくとも1つのスロットの入出力ポートに選択的に結合するように動作して、少なくとも1つのメタリックテストパスを提供するマルチサービスアクセスプラットフォーム。 - メタリックテストアクセスバスの第1の部分が、第1のカードスロットの入出力ポートに選択的に結合するように動作して、第1のメタリックテストパスを提供し、メタリックテストアクセスバスの第2の部分が、第2のカードスロットの入出力ポートに結合するように動作して、第2のメタリックテストパスを提供する請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- 選択的結合が、リレーを使用して実現される請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- シャーシが、バックプレーンに動作可能に結合されたコネクタをさらに含み、コネクタが、シャーシの外部からのメタリックテストアクセスバスに対するアクセスを提供する請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- コネクタに動作可能に結合されたテストコントローラをさらに含み、テストコントローラは、少なくとも1つのメタリックテストパスを介して刺激を提供するように動作する請求項4に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- メタリックテストアクセスバスが、制御部分および刺激部分を含み、制御部分が、カードスロットのうちどれにメタリックテストアクセスバスを結合するかを選択するように動作し、刺激部分は、メタリックテストアクセスバスが結合される入出力ポートに刺激を伝達するように動作する請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- メタリックテストアクセスバスの制御部分が、シリアルデータ通信リンクを含む請求項6に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- メタリックテストアクセスバスの刺激部分が、少なくとも6つの導体ペアを含む請求項6に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- メタリックテストアクセスバスの刺激部分が、少なくとも8つの導体ペアを含む請求項6に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- 伝達される刺激が、セーフティ エクストラ ロー ボルテージ(SELV)規格刺激とテレコム ネットワーク ボルテージ(TNV)規格刺激のうち少なくとも1つを含む請求項6に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- 第1の構成において、メタリックテストアクセスバスが、第1のカードスロットの入出力ポートおよび第2のカードスロットの入出力ポートに結合するように動作し、メタリックテストアクセスバスが、第1のカードスロットの入出力ポートにSELV規格刺激を伝達し、かつ第2のカードスロットの入出力ポートにTNV規格刺激を伝達するように動作する請求項10に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- 所定数のカードスロットの第1のカードスロットに動作可能に結合された第1の回線カードをさらに含み、メタリックテストアクセスバスが、第1のカードスロットの入出力ポートと第1の回線カードの入出力ポートのうち少なくとも1つに選択的に結合するように動作する請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- シャーシ内にあり、かつメタリックテストアクセスバスに動作可能に結合されたテストコントローラをさらに含む請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- 所定数のカードスロットが、少なくとも12個のカードスロットである請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- シャーシの寸法がそれぞれ、テレコーディア テクノロジーズ インク(旧BELLCORE)によって公開された1995年10月、GR−63−CORE、版 1の「ネットワーク イクイップメント―ビルディング システム(NEBS)リクワイアメント: フィジカル プロテクション」に記載される標準寸法の3インチの範囲内にある請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- シャーシの寸法が、およそ幅18インチ、高さ22インチ、および深さ12インチを超えない請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- カードスロットの各々が、少なくとも64個の入出力ポートを含む請求項1に記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
- メタリックテストアクセステストを実行するための方法であって、
所定数のカードスロットを含むシャーシのバックプレーン内に含まれるメタリックテストアクセスバス上で制御信号を発行し、所定数のカードスロットの各々が、入出力ポートを有し、制御信号は、第1のカードスロットの入出力ポートにメタリックテストアクセスバスを選択的に結合するように動作して、第1のメタリックテストパスを提供することと、
第1のメタリックテストパス上に刺激を加えて第1の応答を生成することと、
第1の応答を測定することとを含む、メタリックテストアクセステストを実行するための方法。 - 制御信号を発行することが、第1のカードスロットの入出力ポートにメタリックテストアクセスバスが選択的に結合されるようにリレーを構成する請求項18に記載の方法。
- 制御信号が、第1のカードスロットの入出力ポートにメタリックテストアクセスバスを選択的に結合するように動作して第1のメタリックテストパスを提供し、さらに第2のカードスロットの入出力ポートにメタリックテストアクセスバスを選択的に結合するように動作して第2のメタリックテストパスを提供する方法であって、
刺激を加えることが、第1のメタリックテストパス上に第1の刺激を加えて第1の応答を生成し、かつ第2のメタリックテストパス上に第2の刺激を加えて第2の応答を生成することを含み、
測定することが、第1の応答および第2の応答を測定することを含む請求項18に記載の方法。 - 第1の刺激が、セーフティ エクストラ ロー ボルテージ(SELV)規格刺激であって、かつ第2の刺激が、テレコム ネットワーク ボルテージ(TNV)規格格刺激である請求項20に記載の方法。
- 刺激が、セーフティ エクストラ ロー ボルテージ(SELV)規格刺激とテレコム ネットワーク ボルテージ(TNV)規格刺激のうちの1つである請求項18に記載の方法。
- 制御信号が、メタリックテストアクセスバスの制御部分を介して発行され、刺激が、メタリックテストアクセスバスの刺激部分を介して加えられる請求項18に記載の方法。
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