JP2002199094A - 高ポート密度ｄｓｌａｍのための組込み型メタリックアクセス - Google Patents

高ポート密度ｄｓｌａｍのための組込み型メタリックアクセス

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JP2002199094A
JP2002199094A JP2001321505A JP2001321505A JP2002199094A JP 2002199094 A JP2002199094 A JP 2002199094A JP 2001321505 A JP2001321505 A JP 2001321505A JP 2001321505 A JP2001321505 A JP 2001321505A JP 2002199094 A JP2002199094 A JP 2002199094A
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カンワルジート・ジヤワンダ
Sven A Seelemann
スべン・エイ・シールマン
Robert Gillan
ロバート・ギラン
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    • H04M2203/055—Aspects of automatic or semi-automatic exchanges related to OAM&P loopback testing

Abstract

(57)【要約】 【課題】 デジタル加入者回線アクセスマルチプレクサ
（ＤＳＬＡＭ）などのスイッチング装置内または多重化
装置内でメタリックテストアクセスをサポートするプラ
ットフォームを提供すること。 【解決手段】 マルチサービスアクセスプラットフォー
ムはシャーシ、カードスロット、入出力ポートとメタリ
ックテストアクセスバスを含む。メタリックテストアク
セスバスは入出力ポートに選択的に結合して、テストパ
スを確立する。カードスロットにあるリレーマトリック
スを使用してＳａｆｅｔｙ ＥｘｔｒａＬｏｗ Ｖｏｌ
ｔａｇｅ（ＳＥＬＶ）規格とＴｅｌｅｃｏｍ Ｎｅｔｗ
ｏｒｋＶｏｌｔａｇｅ（ＴＮＶ）規格をサポートするな
ど様々なＴＡＰ構成が可能となる。また、メタリックテ
ストアクセスバスを個々または同時に使用して、異なる
プロトコルをサポートするローカルループのテストも可
能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に通信システ
ムに関し、より詳細には、通信スイッチ内での組込み型
メタリックテストアクセスのための方法および装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】電話および他の通信システムは、しばし
ば、個々のユーザが他の中央局を含むより広い通信ネッ
トワークに接続できるようにするハブの役割をする中央
局を含む。そのような中央局は、電話サービス、デジタ
ル加入者回線（ＤＳＬ）サービスなどを含む様々なユー
ザアプリケーションに対するサポートを提供することが
できる。
【０００３】図１は、ユーザと中央局の間の代表的接続
の図面を提供している。中央局は、その中央局によって
サポートされるユーザの何人かに複数の個々の接続を提
供するマルチプレクサまたは他のスイッチング装置を含
む。ＤＳＬ適用例の場合、マルチプレクサは、複数のユ
ーザにＤＳＬサポートを提供するデジタル加入者回線ア
クセスマルチプレクサ（ＤＳＬＡＭ）であることが可能
である。各ユーザは、ローカルループを介して中央局に
接続され、このループは、中央局からユーザの敷地にま
で延びる一対または複数対の電線であることが可能であ
る。顧客の敷地において、このローカルループは、電
話、コンピュータモデムなどの様々な顧客機器に接続す
る。
【０００４】ローカルループは、障害を受ける。いくつ
かの障害は、自然環境（水、雷、または電気干渉など）
に起因するものである。他の障害は、ネットワークの設
計（ブリッジタップまたはロードコイルなど）に起因す
るものである。さらに他の障害は、電気通信ネットワー
クの通常のメインテナンス中に起きた誤り（対の電線を
誤った仕方で組継ぎするなど）に起因するものである。
これらの障害のすべては、電気通信サービスを提供する
能力を妨げる。例えば、ＤＳＬＡＭ適用例において、ロ
ードコイルは、顧客がＤＳＬを使用するのを完全に妨
げ、他方、ブリッジタップは、顧客に利用可能な帯域幅
（つまり、サービス品質）を小さくする。したがって、
電気通信サービスプロバイダにとっては、顧客のループ
をテストできることが非常に重要である。
【０００５】顧客のループをテストできる装置は、非常
に高価である。さらに、このテスト装置は、その通常の
動作中、顧客ループを電気通信サービスを提供するとい
う意図する目的で使用することを禁止する。したがっ
て、電気通信サービスプロバイダは、すべての顧客のル
ープに常に結合されるテスト装置を配備することを望ま
ない。代りに、サービスプロバイダは、顧客ループの妥
当なサブセットをテストできるには十分であり、また顧
客ループに選択的に結合できるテスト装置を設置する。
このテスト装置は、顧客に最も近い中央局内に設置され
る。
【０００６】テスト目的で中央局内においてローカルル
ープに対するアクセスを提供することは、メタリックテ
ストアクセス（ＭＴＡ）を提供すると呼ぶことができ
る。ＭＴＡを使用してローカルループに対して行われる
テストには、ループの導通、抵抗、および他のループの
関連電気特性を検査することが含まれ得る。
【０００７】電気通信ネットワークの成熟に伴い、中央
局内に電気通信サービス装置を設置して競争力のあるサ
ービスを提供する機会をＩｎｃｕｍｂｅｎｔ Ｌｏｃａ
ｌＥｘｃｈａｎｇｅ Ｃａｒｒｉｅｒ（既存の市内交換
事業者）（ＩＬＥＣ）がＣｏｍｐｅｔｉｔｉｖｅ Ｌｏ
ｃａｌ Ｅｘｃｈａｎｇｅ Ｃａｒｒｉｅｒ（競合する
市内交換事業者）（ＣＬＥＣ）に提供すべきことを世界
各地の監督機関が義務付けている。当然、ＣＬＥＣは、
その装置が占める空間と消費する電力の代価をＩＬＥＣ
に支払わなければならない。
【０００８】従来技術のシステムでは、テストのために
ローカルループを分離することは、電気通信サービス回
路からローカルループを物理的に接続解除してテスト回
路に接続し直すこと、または電気通信サービス回路とロ
ーカルループの間に間隔をあけて配置された何らかのタ
イプのアクセス回路を含めることを必要とした。テスト
を行うために顧客ループを手作業で接続し直すことは、
誤りが起きやすいことは言うまでもなく、非常に費用が
高くつく。この結果、アクセス回路を提供するために、
専用装置が使用される。ネットワークオペレータにとっ
ては、個々の機能ユニットにＭＴＡアクセス回路を分割
するのが都合良い。中央局内にＭＴＡを実装するのに使
用されるユニットは、（一般性を損うことなく）テスト
ヘッド（ＴＨ）およびメタリックテストアクセスユニッ
ト（ＭＴＡＵ）と呼ぶことができ、テストヘッドは、ロ
ーカルループに結合するのにＭＴＡＵを使用してテスト
を行う。少数のポート上で動作するテストヘッドは、Ｍ
ＴＡＵよりも物理的にずっと小さい。というのは、ＭＴ
ＡＵは、すべての関係のある電気通信安全基準を維持し
ながら、可能なすべてのローカルループ上で動作するか
らである。
【０００９】電気通信サービス回路とローカルループの
間にそのような専用回路を含めなければならないこと
は、使用する電力および実装のスペースの点で、システ
ムのコストを相当に増大させる。さらに、そのような専
用アクセス回路は、マルチプレクサ内に含まれる装置の
ラックにさらなる構成要素を追加する可能性があるの
で、格納スペース要件を高める。また、この追加の回路
は、それ自体のメインテナンスを必要とする。特にＣＬ
ＥＣ環境では（限定はしないが）、これらの追加コスト
は、費用対効果の高いサービスを提供するのを困難にす
る。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】したがって、追加のオ
ーバーヘッドが最小限に抑えられるように、電気通信サ
ービス装置の別の部分に組み込むことのできるメタリッ
クテストアクセスを電気通信サービス装置（ＤＳＬＡＭ
などの）内で提供するための方法および装置の必要性が
存在する。
【００１１】
【課題を解決するための手段】一般に、本発明は、メタ
リックテストアクセスをサポートするマルチサービスア
クセスプラットフォームを提供する。マルチサービスア
クセスプラットフォームは、所定数のカードスロットが
その中に含まれるシャーシを含む。カードスロットの各
々は、いくつかの入出力ポートを含む。バックプレーン
がシャーシに沿って並び、これには、メタリックテスト
アクセスバスが含まれる。メタリックテストアクセスバ
スは、シャーシの回線カードスロット内にある１つまた
は複数の入出力ポートに選択的に結合して１つまたは複
数のメタリックテストパスを確立するように動作する。
リレーマトリックスを使用して、メタリックテストアク
セスバスに選択的結合を提供することができ、またメタ
リックテストアクセスバスをサポートするこのリレーマ
トリックスの構成によって提供される柔軟性により、様
々な異なるテストアクセスポート（ＴＡＰ）をサポート
することが可能になる。メタリックテストアクセスバス
を個別にまたは同時に使用して、様々な異なる信号プロ
トコルをサポートするローカルループをテストできるよ
うに、セーフティ エクストラ ロー ボルテージ（Ｓ
ａｆｅｔｙ Ｅｘｔｒａ Ｌｏｗ Ｖｏｌｔａｇｅ（Ｓ
ＥＬＶ））規格インターフェースとテレコム ネットワ
ークボルテージ（Ｔｅｌｅｃｏｍ Ｎｅｔｗｏｒｋ Ｖ
ｏｌｔａｇｅ（ＴＮＶ））規格インターフェースをとも
にサポートする特定のＴＡＰ構成を構成することができ
る。
【００１２】スイッチまたはＤＳＬＡＭのシャーシ内に
メタリックテストアクセスのための必要な相互接続およ
びスイッチング回路を組み込むことにより、従来技術の
システムで必要とされる追加の外部回路がなくなる。Ｉ
／Ｏポートの各々に柔軟なリレーマトリックスを提供す
ることにより、シャーシ内のスペースの限界を超えない
ように、限られた数のコネクタを使用してメタリックテ
ストアクセスバスを実装することができる。メタリック
テストアクセスバス内に含まれる様々な信号回線の相対
的配置により、テストバスに対する独立の接続を介し
て、低電圧（ＳＥＬＶ規格）インターフェースと高電圧
（ＴＮＶ規格）インターフェースの両方に同時にテスト
刺激を加えることができ、安全機関の規制基準を満た
し、クロストークがテスト刺激または応答を破壊しない
ことを確実にするため、定められたスペーシング要件を
犯すことなく、そのような刺激に対する応答を測定する
ことができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明は、図２〜９を参照してよ
りよく理解することができる。図２は、いくつかのルー
プ４０をサポートする中央局に関連していることが可能
なマルチプレクサまたはスイッチのブロック図を示し、
ループの各々は、顧客との物理リンクを表している。図
２に示すシステムは、ループ４０によって代表される物
理リンクとデジタル回路１０によって代表される、それ
らのリンクの終端の両方に、テスト装置５０がアクセス
することを可能にするマルチサービスアクセスプラット
フォームを表している。アクセスプラットフォーム３０
によって提供されるメタリックテストアクセス（ＭＴ
Ａ）機能は、好ましくは、ＴＥＬＣＯＲＤＩＡ（旧ＢＥ
ＬＬＣＯＲＥ）によって提供される規格を満たす。これ
らの規格は、業界標準ＭＴＡアーキテクチャおよびその
構成要素を記述する。アクセスプラットフォーム３０
は、テスト装置５０に対する加入者ループ４０の接続を
可能にして、テスト装置５０がループ４０内に含まれる
様々なペアに対して適切なテストを実施できるようにす
る。テスト動作の全体は、好ましくは、テスト動作サポ
ートシステム（テストＯＳＳ）によって制御される。
【００１４】下記にさらに詳細に説明するとおり、アク
セスプラットフォーム３０は、ＭＴＡバス、および１つ
または複数の個別ループおよび／またはデジタル回路１
０によって代表される回線カードに対応する１つまたは
複数の個別Ｉ／Ｏポートに選択的にＭＴＡバスが結合で
きるようにするリレー／スイッチングマトリックスを形
成する複数のリレーまたは他のスイッチング装置を含
む。リレーは、電気機械的リレーまたはソリッドステー
トリレー、例えば、ＭＯＳＦＥＴデバイスを利用するソ
リッドステートリレーであることが可能である。アクセ
スプラットフォーム３０内のコントローラが、テストＯ
ＳＳに対するインターフェースを提供して、テストされ
る様々な回路に刺激が提供され、またそこから応答が受
け取られ得るようにするリレーマトリックスの適切な構
成を可能にする。これは、前述のとおり、ＭＴＡＵを使
用して前に得られた機能性を提供する。また、前述のテ
ストヘッドの機能性をエミュレートすることも好まし
い。
【００１５】従来技術のシステムでは、アクセスプラッ
トフォームは、通常、ループ４０とループが結合される
スイッチング装置内に含まれる回線カードのＩ／Ｏポー
トとの間に結合された離散的ハードウェア（ラック設備
など）であった。前に述べたとおり、そのような従来技
術のアクセスプラットフォームを実装するのに必要な追
加のハードウェアは、必要な追加の回路、スイッチング
システムを保持するラック全体内でそのような回路が占
める追加のスペース、および必要となるさらなるメイン
テナンス作業のすべての点で、コストが高くつく。
【００１６】テレコーディア テクノロジーズ インク
（ＴＥＬＣＯＲＤＩＡ ＴＥＣＨＮＯＬＯＧＩＥＳ，Ｉ
ＮＣ．（旧ＢＥＬＬＣＯＲＥ））が、電気通信設備のた
めの一般に受け入れられた規格を公開している。そのよ
うな規格の１つが、１９９５年１０月、ＧＲ−６３−Ｃ
ＯＲＥ、Ｉｓｓｕｅ １の「Ｎｅｔｗｏｒｋ Ｅｑｕｉ
ｐｍｅｎｔ−Ｂｕｉｌｄｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ（ＮＥＢ
Ｓ）Ｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｓ： Ｐｈｙｓｉｃａｌ
Ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ」である。この規格のセクション
２「Ｓｐａｔｉａｌ Ｒｅｑｕｉｒｅｍｅｎｔｓ」が、
セクション２．１「Ｇｅｎｅｒａｌ Ｒｅｑｕｉｒｅｍ
ｅｎｔｓ」でラックとキャビネのサイズ要件を指定して
おり、セクション２．２．２「Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ Ｆ
ｒａｍｅＤｉｍｅｎｓｉｏｎｓ」でその特定の寸法情報
が、下記のとおり与えられている。
【００１７】［１４］既成設備環境内の従来アプリケー
ションのための設備設計は、下記の名目寸法を有するべ
きである。 高さ ２１３４ｍｍ（７ｆｔ） 幅 ６６０ｍｍ（２ｆｔ，２ｉｎ） 深さ ３０５ｍｍ（１２ｉｎ）
【００１８】フレームは、そこに最低限のメインテナン
スおよび配線通路が維持でき、ケーブルラックとのイン
ターフェースをつくることができる特別ラインアップ内
に配置される場合には、その幅および深さに関して、こ
れらの名目寸法を超えることができる。
【００１９】システムケーブルラックを含む装置のライ
ンアップを有するスイッチングシステムは、その幅およ
び深さに関して、これらの名目寸法からはずれて、セク
ション２．１内のラインアップ適合に関する要件を満た
すことができる。
【００２０】本発明は、前述の高さ、幅、および深さの
寸法に適合するように実施することができるが、前述の
特別ラインアップに従って実施することも可能である。
例えば、本発明は、シャーシの寸法が、それぞれ標準寸
法の３インチ以内であるように実施することができる。
【００２１】本発明は、スイッチの回線カードを保持す
るシャーシまたはスイッチ内に含まれるシェルフにアク
セスプラットフォームを組み込む。図３は、複数のスロ
ットを含むシャーシ１００の図面を提示している。この
シャーシの寸法は、好ましくは、およそ幅１８インチ、
高さ２２インチ、深さ１２インチを超えない。これらの
寸法は、中央局のラック内に設備が配置されることを想
定して開発された前述の規格に準拠する。制御スロッ
ト、つまりハブ１１２および１１４は、シェルフのため
のスイッチング構成をサポートする。汎用カードスロッ
ト（ＵＣＳ）１０２〜１０６は、シェルフによってサポ
ートされるループが結合される回線カードを保持する。
一実施形態では、シャーシ１００は、１２個の回線カー
ドを保持し、シェルフのためのスイッチング構成をサポ
ートする２つの制御スロットを有する。シャーシ１００
内の回線カードは、ＡＤＳＬ回線カード、ＳＤＳＬ回線
カード、未だ規格化されていない他のＤＳＬシステム、
またはＴ１、Ｅ１、ＰＯＴＳ、ＤＳ３、Ｅ３などの他の
インターフェースをサポートする回線カードを含むこと
ができる。単一のシャーシは、その各々が異なる型のイ
ンターフェースを有するいくつかの異なる回線カードを
サポートすることができる。
【００２２】一実施形態では、シャーシ内の回線カード
の各々は、６４個の入出力（Ｉ／Ｏ）ポートをサポート
し、各Ｉ／Ｏポートは、ローカルループを代表する一対
のコネクタに結合することができる。異なる回線カード
によってサポートされ得る様々な異なる型のインターフ
ェースは、異なる信号レベル（例えば、異なる電圧レベ
ル）を有することが可能である。具体的には、すべての
形態のＤＳＬ（ＡＤＳＬまたはＳＤＳＬなどの）、Ｔ
１、およびＰＯＴＳは、Ｔｅｌｅｃｏｍ Ｎｅｔｗｏｒ
ｋ Ｖｏｌｔａｇｅ（ＴＮＶ）レベルに適合する電圧レ
ベルなど、より高い電圧信号を利用することができる。
ＴＮＶ信号レベルは、いくつかの通常の信号動作では、
最高でおよそ３００ボルトまでの範囲を有し、電圧のサ
ージは６００ボルト程度であり、起こり得る電流の並行
サージはおよそ４０アンペアである。これに対し、ＤＳ
３／Ｅ３（およびいくつかのＴ１／Ｅ１）インターフェ
ースは、Ｓａｆｅｔｙ Ｅｘｔｒａ Ｌｏｗ Ｖｏｌｔ
ａｇｅ（ＳＥＬＶ）規格信号方式を利用することがで
き、この信号方式は、その大きさが５ボルト未満の電圧
レベルを利用する。このような様々な信号レベルをサポ
ートすることは、組込み型マルチサービスアクセスプラ
ットフォームに関する、さらなる課題となり、下記にそ
のような問題に対応する技法をさらに詳細に説明する。
【００２３】図４は、シャーシ１００の背面図である。
シャーシ１００は、シャーシ１００内に含まれ得る回線
カードの各々に対応するコネクタを含むように示されて
いる。これらのポート１２２〜１２６は、ＴＮＶポート
１３２およびＳＥＬＶポート１３４を含むことができ
る。シャーシ１００のバックプレーンに沿ってＭＴＡバ
ス１４２が走っている。前述のとおり、ＭＴＡバスは、
カードスロットのＩ／Ｏポートのうち１つまたは複数の
ポートに選択的に結合して、１つまたは複数のメタリッ
クテストパスを提供することができる。コネクタ１４１
が提供され、カードスロットの１つまたは複数のＩ／Ｏ
ポートのメタリックテストパスに対する任意の結合を外
部テストヘッドが任意に命令できるようにする。コネク
タ１４０は、ＭＴＡバスに対する外部設備メタリックア
クセスを提供する。
【００２４】いくつかの実施形態では、ＭＴＡバスの選
択的結合を命令するテストヘッドは、シャーシ１００内
に含まれ、他の実施形態では、テストヘッドはシャーシ
１００の外部にあり、テストコネクタ１４０および１４
１を介してＭＴＡバス１４２に結合される。いくつかの
実施形態では、複数のシェルフが互いに積み重ねられ、
単一のテストヘッドが、これらのシェルフの各々に対し
て適切な制御および刺激情報を提供する。そのような例
では、テストヘッドは、シェルフに対応するシャーシの
すべてに対して外部にあること、または１つのシャーシ
の内部にあり、外部コネクタを介してその他のシャーシ
に結合されていることが可能である。（すべての実施形
態で、シャーシ１００は、ＭＴＡバス１４２およびそれ
に対応する制御論理を提供して、ＭＴＡＵ機能を提供す
る）。
【００２５】図５は、ＭＴＡバス１４２の構成例を示し
ている。図５に示す例では、ＭＴＡバス１４２は、図で
は８対のコネクタを含む刺激部分１５２を含む。また、
ＭＴＡバス１４２は、制御部分も含み、図５に示すバス
１４２のこの制御部分は、選択回線１５４（これは、１
２本の選択回線と、対応するスロット内に回線カードが
存在している／存在しないことを示す１２本の回線とを
含むことができる）および制御バス１５６を構成する５
本の信号回線を含む。他の実施形態では、ＭＴＡバスの
刺激部分は、より多いまたはより少ない数の対を含むこ
とが可能であり、含まれる対の数は、特定のシステム内
でサポートされるテストアクセスポート（ＴＡＰ）標準
構成の数および種類を決定することができる。したがっ
て、別のシステム例では、刺激部分１５２内には、６つ
の導体ペアのみが含まれ、これにより、ＭＴＡバス１４
２を介して１つの完全なＴＡＰがサポートされることを
可能にしている。
【００２６】完全なＴＡＰは、３組、Ａペア、Ｂペア、
Ｃペアにまとめられた６対のコネクタから成る。各組
（Ａ、Ｂ、またはＣ）は、設備側に対するコネクタペア
（Ｆペア）およびループの装置側に専用のコネクタペア
（Ｅペア）を有する。通常、ペアには、その組および接
続ポイントに基づいてラベル付けをする。したがって、
Ａ組の設備ペアはＡＦとして識別され、装置ペアは、Ａ
Ｅとして識別される。多くの場合、Ｃペアは余分であ
り、したがって、完全なタップが常に必要なわけではな
い。刺激部分１５２内に８つのペアを含めることによ
り、ＭＴＡバス１４２によって２つの部分的ＴＡＰをサ
ポートすることができる（それぞれが最大でＡ組とＢ組
を含む２つのＴＡＰ）。下記に刺激部分１５２のこの特
定のレイアウトに関連して、様々なＴＡＰ構成をさらに
詳細に説明する。
【００２７】図５に示す例におけるバックプレーン上の
ＭＴＡバス１４２の特定の実施態様は、刺激部分１５２
のための８対のトレースを含むことができる。これらの
トレースは、バックプレーン全体（制御スロットとＵＣ
Ｓスロットの両方）にかかり、図４に関連して前述した
テストコネクタ１４０に接続することができる。特定の
実施形態では、テストコネクタ１４０はＤＢ−２５コネ
クタであることが可能である。
【００２８】ＭＴＡバス１４２の選択回線１５４は、シ
ャーシ内に含まれるＵＣＳスロットの各々に対応する個
々のカード存在回線およびスロット選択回線を含むこと
ができる。このカード存在回線は、特定のＵＣＳスロッ
ト内にカードが存在するか否かを判定するのに使用し、
またスロット選択信号は、テストを行うため、特定のカ
ードスロットに制御情報を提供するのを円滑にする。
【００２９】制御バス１５６は、送信信号、受信信号、
クロック信号、フレームパルス信号（アラインメント信
号）、およびテスト実行信号を含むシリアル通信バスで
あることが可能である。シェルフ内のリレーマトリック
スの様々な部分に制御情報を提供するのに制御バス１５
６を使用することにより、様々な構成を実現することが
でき、また複数のテストを同時にサポートすることがで
きる。特定の実施形態では、ＭＴＡバス１４２を使用し
て２つの異なる部分的ＴＡＰを同時に確立することがで
き、また制御バス１５６は、同時に２つの別々のテスト
ルーチン（各ＴＡＰ上で１つ）をサポートすることがで
きる。当分野の技術者には明白なとおり、異なる制御バ
ス構造、またはリレーマトリックスを構成するため、お
よびテストを実行するのに必要な制御情報を提供するた
めの異なる技法を使用することができる。
【００３０】図６は、カード回路２１０およびアクセス
ブロック２３０を含む回線カード２００の図面を示して
いる。カード回路２１０は、カード入出力（Ｉ／Ｏ）信
号２１２を介してアクセスブロック２３０に結合されて
いる。また、アクセスブロック２３０も、カード２００
によってサポートされる様々なループに結合されてい
る。例としてのループ２２０を図６に示している。ＭＴ
Ａバス１４２は、アクセスブロック２３０に結合されて
構成情報およびその他の制御情報を提供する。
【００３１】いくつかの場合では、ループ２２０にアク
セスするのにＭＴＡバス１４２を使用することができ、
別の場合では、カードＩ／Ｏ信号２１２にアクセスする
のにＭＴＡバス１４２を使用することができる。さらに
別の場合では、ループ２２０とカードＩ／Ｏ信号２１２
の両方に同時にアクセスするのにＭＴＡバス１４２を使
用することができる。したがって、ＭＴＡバス１４２
は、テストを行うための外部ループ回路と、内部カード
回路２１０の両方に対してアクセスを提供することがで
きる。
【００３２】例としてのアクセスブロック２３０のより
詳細な図面を図７に提示する。図７のアクセスブロック
２３０は、リレーブロック２５０および復号器２６０を
含む。復号器２６０は、ＭＴＡバス１４２の制御部分１
５４、１５６に結合され、リレーブロック２５０は、Ｍ
ＴＡバス１４２の刺激部分１５２に結合されている。復
号器２６０は、制御バス１５６および１つまたは複数の
選択回線１５４を介して制御情報を送受信する。制御部
分を介して受信した情報に基づいて、復号器２６０は、
リレーブロック２５０内に含まれる様々なリレー（また
は他のスイッチング装置）に提供されるリレー制御信号
２６２を生成する。リレー制御信号２６２は、リレーブ
ロック２５０内のリレーを構成して、刺激部分１５２、
カードＩ／Ｏ信号２１２、およびループ２２０の間で所
望の接続が確立されるようにする。
【００３３】様々なリレー構成をリレーブロック２５０
内でサポートすることができるが、特別の例としての実
施態様を図８に示す。前述のとおり、ＴＡＰ内の各組
（Ａ、Ｂ、まはＣ）は、２つのペア（ＥペアおよびＦペ
ア）を含む。図８の図は、単一の組に対する適切なリレ
ーを示している。リレーの各々に提供される制御信号
は、図８では示していない。ＴＡＰごとのリレー３１０
には、リレー３１２、３１４、３１６が含まれる。リレ
ー３１２は、Ｅペアがポートごとのリレー３２０か、ま
たはループバックリレー３１４に結合されているかを判
定する。Ｆペアリレー３１６は、Ｆペアがポートごとの
リレー３２０か、またはループバックリレー３１４に結
合されているかどうかを判定する。ループバックリレー
３１４は、ＴＡＰごとのリレー３１０を介するループバ
ックパスが開であるか閉であるかを判定する。リレー３
１２、３１６の各々は、好ましくは、２つの個別信号回
線（ペア）を同時に切り替えることを可能にする通常の
テレコム型リレーである。
【００３４】ポートごとのリレー３２０にＥペアおよび
Ｆペアが結合されるようにＴＡＰごとのリレー３１０内
のリレー３１２および３１６が構成されている場合、様
々なテストパスを可能にするように様々なポート構成を
確立することができる。例えば、Ｉ／Ｏカード終端をテ
ストできるよう、テストパスがカードＩ／Ｏ信号２１２
を含むようにＥペアおよびＦペアを経路指定することが
できる。他の構成では、ループ２２０がテストパス内に
含まれるようにテストパスを確立することができる。こ
れらの構成の両方で、ユーザパス（ループ２２０とカー
ドＩ／Ｏ２１２の間のパス）は、接続解除される。
【００３５】他の構成では、テスト回路は、カードＩ／
Ｏ２１２とループ２２０の間に有効に挿入するように接
続することができる。さらに他の実施形態では、ユーザ
パスが接続解除されないように構成を監視することが望
ましい可能性があり、カードＩ／Ｏ２１２とループ２２
０の間の伝送を有効に監視できるように、テスト装置は
ループ２２０に並列に接続される。そのような監視を円
滑にするために、高インピーダンスバッファを信号回線
３３０に沿って含めることができる。この高インピーダ
ンスバッファは、ＭＴＡバスを使用して制御することが
できる追加のリレーを使用して、回路にまたはそこから
切り替えるのが可能なことに留意されたい。
【００３６】これらの様々な構成は、リレー３２２およ
び３２４を使用することによって得ることができる。一
組のポートごとのリレー３２０が、回線カードスロット
内のポートの各々に対して提供される。
【００３７】図９は、シェルフのバックプレーンに沿っ
た刺激部分に関連する様々な導体の配置に対応する刺激
部分レイアウト４００の図面を示している。（図９で
は、塗りつぶした円が、差し込まれていないコネクタ内
のピンを表す（すなわち、ピンは取り付けられていな
い）ことに留意されたい。いくつかのピンを差し込んで
いないことは、取り付けられ使用されているピンの間に
適切な絶縁スペースを提供することにより、通常の電気
通信安全慣行が確保されるようにする。）シェルフは、
ＭＴＡバスの刺激部分のための８対のトレースを有し、
これらのトレースは、バックプレーン全体にかかってい
る。ペア４０１〜４０８は、図９の刺激部分レイアウト
４００に示すとおり、バックプレーンコネクタ上で長方
形に配置される。特定の実施形態では、隣接するピンセ
ンタ間の間隔は、およそ０．０８インチである。ＴＮＶ
規格導体およびＳＥＬＶ規格導体に対応するスペーシン
グ要件に基づいて、レイアウト４００で様々な構成を実
現し、ＴＮＶ規格回路およびＳＥＬＶ規格回路に対する
テストが、この２つの間での干渉なしに同時にサポート
され得るように確実にすることができる。
【００３８】先に示したとおり、完全なＴＡＰは、３組
のペアとして定義され、一組には、図９に示したペア４
０１〜４０８のうち２対が含まれる。したがって、完全
なＴＡＰは、利用可能な８対、４０１〜４０８のうち６
対を利用することになる。例としての単一ＴＡＰ構成で
は、一度に、ＳＥＬＶテストまたはＴＮＶテストのいず
れかを実行することができ、８対のうち６対が利用され
る。そのような単一の完全なＴＡＰ例では、ペア４０１
および４０５がＡ組を構成し、ペア４０２および４０６
がＢ組を構成し、ペア４０３および４０７がＣ組内に含
まれ、またペア４０４および４０８は、未接続で未使用
のままにすることが可能である。
【００３９】先に示したとおり、完全なＴＡＰは必要な
いことがしばしばである。完全なＴＡＰが必要ない場
合、２つの部分的ＴＡＰを同時に実装することができ
る。８対の配線を有することにより、２つの部分的ＴＡ
Ｐ（それぞれがＡペアおよびＢペアを有する）が同時に
存在できるように、各部分的ＴＡＰがＡペアおよびＢペ
アだけを含むことが可能であろう。そのような例では、
第１のＴＡＰは、Ａ組としてペア４０１および４０５、
またＢ組としてペア４０２および４０６を有することが
可能である。第２のＴＡＰは、そのＡ組内にペア４０３
および４０７を、またそのＢ組内にペア４０４および４
０８を含むことになる。
【００４０】ＳＥＬＶ低電圧テストとＴＮＶ高電圧テス
トを同時に行うことが所望される場合、各タイプのテス
トごとに使用される導体間の適切な分離を確実にして、
クロストークまたはその他の信号混合を回避しなければ
ならない。例えば、ＴＮＶ導体とＳＥＬＶ導体の間にお
ける最低限のスペーシング要件は、どの表面に沿って
も、クリアランス１ｍｍおよびクリーページ１．６ｍｍ
であることが可能である（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ
Ｅｌｅｃｔｒｏｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｃｏｍｍｉｓｓ
ｉｏｎ Ｓｔａｎｄａｒｄ刊行物ＩＥＣ６０９５０に準
拠）。これらのマージンが満たされることを確実にする
ため、部分的ＴＡＰをさらに抑えて、そのＴＡＰのうち
１つがＡ組だけを含むようにすることも可能である。具
体的には、ＴＮＶテストを実行するのに使用する第１の
ＴＡＰが、ペア４０１および４０５から成るＡ組を含む
ことが可能である。ＳＥＬＶテストに使用することがで
きる第２のＴＡＰは、ペア４０３および４０７を含むＡ
組、ならびにペア４０４および４０８を含むＢ組を含む
ことができる。これにより、ペア４０２および４０６は
未使用となり、したがって、２つのＴＡＰ間にさらなる
空間的バッファリングが提供される。
【００４１】シェルフ内に組込み型ＭＴＡテストをサポ
ートするのに必要な回路を組み込むため、制御のために
必要なリレーおよび復号器ブロックを含むように回線カ
ードを好ましくは、設計する。ただし、より古いシステ
ムとの互換性を高めるため、復号器およびリレーを含ん
だ追加のサポートカードを使用して、より古いカードが
サポートカードにプラグインすることが可能である。こ
れにより、より古いカード構成は、それ自体変更される
ことなく、サポートカードが組込み型ＭＴＡテストをサ
ポートするのに必要な追加の回路を提供する。特定の場
合では、より古い適合しないカードが、回線カードスロ
ットの各々の中にサポートカードを含めることを許容す
る、シャーシに匹敵する寸法を有する。古いものとの互
換性は望ましいものではあるが、開発する将来のカード
は、好ましくは、サポート回路を含むように製造して、
追加のカードが必要ないようにする。
【００４２】特定の例では、カナダ国、オンタリオ州、
カナタのＡｌｃａｔｅｌ Ｎｅｔｗｏｒｋｓにより製造
される７４７０（旧３６１７０）スイッチに合せて製造
された回線カードは、およそ高さ１２インチである。シ
ェルフのためのシャーシが、およそ高さ２２インチであ
る場合、これは、より古い７４７０回線カードとより新
しいシャーシ内の回線カードスロットの間にサポートカ
ードを含めることを可能にする。
【００４３】これまで明細書では、特定の実施形態に関
連して本発明を説明してきた。ただし、当分野の技術者
には、頭記の特許請求の範囲に記載される本発明の範囲
を逸脱することなく、様々な改変および変更が行えるこ
とが理解されよう。したがって、明細書および図面は、
制限するものではなく、例示するものであると理解さ
れ、そのようなすべての変更形態は、本発明の範囲内に
含まれるものとする。
【００４４】特定の実施形態に関して、利益、他の利
点、および問題に対する解決法を上記に説明してきた。
ただし、利益、利点、問題に対する解決法、ならびに何
らかの利益、利点、問題に対する解決法をもたらすまた
はより明確にできる任意の要素は、いずれかの請求項ま
たはすべての請求項のクリティカルな、必要な、または
不可欠な特徴または要素であると解釈されるものではな
い。本明細書で使用する「含む」、「含んだ」という用
語、またはそれらのどのような他のバリエーションも、
非排他的に含むことをカバーするものとするので、列挙
される要素を含むプロセス、方法、物、または装置は、
それらの要素だけを含むのではなく、明示的に列挙され
ない、またはそのようなプロセス、方法、物、または装
置に固有ではないその他の要素も含むことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】ローカルループを介して顧客に接続された中央
局を示す図である。
【図２】本発明の特定の実施形態による複数のループを
サポートするＤＳＬＡＭなどのマルチプレクサを示すブ
ロック図である。
【図３】本発明の特定の実施形態による組込み型メタリ
ックテストアクセスシステムをサポートする複数の回線
カードを含むシャーシを示す前面図である。
【図４】図３のシャーシの背面を示す図である。
【図５】本発明の特定の実施形態によるメタリックテス
トアクセスバス内に含まれる様々な信号を示す図であ
る。
【図６】本発明の特定の実施形態によるメタリックテス
トアクセスバスに結合された回線カードを示すブロック
図である。
【図７】本発明の特定の実施形態による回線カード内に
含まれるアクセスブロックを示すブロック図である。
【図８】本発明の特定の実施形態によるメタリックテス
トアクセスシステム内で利用されるリレーマトリックス
を示すブロック図である。
【図９】本発明の特定の実施形態によるメタリックテス
トアクセスバスの刺激部分のレイアウトを示す図であ
る。
【符号の説明】
１０ デジタル回路 ３０ アクセスプラットフォーム ４０ ループ ５０ テスト装置 １００ シャーシ １０２、１０４、１０６ 汎用カードスロット（ＵＣ
Ｓ） １２２、１２４、１２６ ポート １３２ ＴＮＶポート １３４ ＳＥＬＶポート １４０、１４１ テストコネクタ １４２ ＭＴＡバス １５２ 刺激部分 １５４ 選択回線 １５６ 制御バス ２００ カード ２１０ 内部カード回路 ２１２ カード入出力（Ｉ／Ｏ）信号 ２２０ ループ ２３０ アクセスブロック ２５０ リレーブロック ２６０ 復号器 ２６２ リレー制御信号 ３１０ ＴＡＰごとのリレー ３１２、３１４、３１６、３２２、３２４ リレー ３２０ ポートごとのリレー ３３０ 信号回線 ４００ 刺激部分レイアウト ４０１、４０２、４０３、４０４、４０５、４０６、４
０７、４０８ 導体ペア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジエフリー・デイツキンソン カナダ国、オンタリオ・ケー・２・エム・ １・エツクス・２、カナタ、サドルホー ン・クレセント・６ (72)発明者 カンワルジート・ジヤワンダ カナダ国、オンタリオ・ケー・２・ケー・ ２・アール・７、カナタ、ビーミツシユ・ クレセント・39 (72)発明者 スべン・エイ・シールマン カナダ国、オンタリオ・ケー・１・エイ チ・８・ジエイ・９、オタワ、パーム・ス トリート・2383、アパートメント・503 (72)発明者 ロバート・ギラン オーストラリア国、ニユー・サウス・ウエ ルズ・2066、レーン・コーブ、オリオン・ ロード・２−６、ユニツト・１ Ｆターム(参考） 5K019 AA01 AA08 BA52 5K030 GA05 HC02 JA01 JA02 JA10 JL08 MA05 MC02 5K050 AA07 BB06 BB11

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 それぞれが入出力ポートを含む所定数の
    カードスロットと、 メタリックテストアクセスバスを含むバックプレーンと
    から成るシャーシを持つマルチサービスアクセスプラッ
    トフォームであって、メタリックテストアクセスバス
    が、カードスロットのうち少なくとも１つのスロットの
    入出力ポートに選択的に結合するように動作して、少な
    くとも１つのメタリックテストパスを提供するマルチサ
    ービスアクセスプラットフォーム。
  2. 【請求項２】 メタリックテストアクセスバスの第１の
    部分が、第１のカードスロットの入出力ポートに選択的
    に結合するように動作して、第１のメタリックテストパ
    スを提供し、メタリックテストアクセスバスの第２の部
    分が、第２のカードスロットの入出力ポートに結合する
    ように動作して、第２のメタリックテストパスを提供す
    る請求項１に記載のマルチサービスアクセスプラットフ
    ォーム。
  3. 【請求項３】 選択的結合が、リレーを使用して実現さ
    れる請求項１に記載のマルチサービスアクセスプラット
    フォーム。
  4. 【請求項４】 シャーシが、バックプレーンに動作可能
    に結合されたコネクタをさらに含み、コネクタが、シャ
    ーシの外部からのメタリックテストアクセスバスに対す
    るアクセスを提供する請求項１に記載のマルチサービス
    アクセスプラットフォーム。
  5. 【請求項５】 コネクタに動作可能に結合されたテスト
    コントローラをさらに含み、テストコントローラは、少
    なくとも１つのメタリックテストパスを介して刺激を提
    供するように動作する請求項４に記載のマルチサービス
    アクセスプラットフォーム。
  6. 【請求項６】 メタリックテストアクセスバスが、制御
    部分および刺激部分を含み、制御部分が、カードスロッ
    トのうちどれにメタリックテストアクセスバスを結合す
    るかを選択するように動作し、刺激部分は、メタリック
    テストアクセスバスが結合される入出力ポートに刺激を
    伝達するように動作する請求項１に記載のマルチサービ
    スアクセスプラットフォーム。
  7. 【請求項７】 メタリックテストアクセスバスの制御部
    分が、シリアルデータ通信リンクを含む請求項６に記載
    のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
  8. 【請求項８】 メタリックテストアクセスバスの刺激部
    分が、少なくとも６つの導体ペアを含む請求項６に記載
    のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
  9. 【請求項９】 メタリックテストアクセスバスの刺激部
    分が、少なくとも８つの導体ペアを含む請求項６に記載
    のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
  10. 【請求項１０】 伝達される刺激が、セーフティ エク
    ストラ ロー ボルテージ（ＳＥＬＶ）規格刺激とテレ
    コム ネットワーク ボルテージ（ＴＮＶ）規格刺激の
    うち少なくとも１つを含む請求項６に記載のマルチサー
    ビスアクセスプラットフォーム。
  11. 【請求項１１】 第１の構成において、メタリックテス
    トアクセスバスが、第１のカードスロットの入出力ポー
    トおよび第２のカードスロットの入出力ポートに結合す
    るように動作し、メタリックテストアクセスバスが、第
    １のカードスロットの入出力ポートにＳＥＬＶ規格刺激
    を伝達し、かつ第２のカードスロットの入出力ポートに
    ＴＮＶ規格刺激を伝達するように動作する請求項１０に
    記載のマルチサービスアクセスプラットフォーム。
  12. 【請求項１２】 所定数のカードスロットの第１のカー
    ドスロットに動作可能に結合された第１の回線カードを
    さらに含み、メタリックテストアクセスバスが、第１の
    カードスロットの入出力ポートと第１の回線カードの入
    出力ポートのうち少なくとも１つに選択的に結合するよ
    うに動作する請求項１に記載のマルチサービスアクセス
    プラットフォーム。
  13. 【請求項１３】 シャーシ内にあり、かつメタリックテ
    ストアクセスバスに動作可能に結合されたテストコント
    ローラをさらに含む請求項１に記載のマルチサービスア
    クセスプラットフォーム。
  14. 【請求項１４】 所定数のカードスロットが、少なくと
    も１２個のカードスロットである請求項１に記載のマル
    チサービスアクセスプラットフォーム。
  15. 【請求項１５】 シャーシの寸法がそれぞれ、テレコー
    ディア テクノロジーズ インク（旧ＢＥＬＬＣＯＲ
    Ｅ）によって公開された１９９５年１０月、ＧＲ−６３
    −ＣＯＲＥ、版 １の「ネットワーク イクイップメン
    ト―ビルディング システム（ＮＥＢＳ）リクワイアメ
    ント： フィジカル プロテクション」に記載される標
    準寸法の３インチの範囲内にある請求項１に記載のマル
    チサービスアクセスプラットフォーム。
  16. 【請求項１６】 シャーシの寸法が、およそ幅１８イン
    チ、高さ２２インチ、および深さ１２インチを超えない
    請求項１に記載のマルチサービスアクセスプラットフォ
    ーム。
  17. 【請求項１７】 カードスロットの各々が、少なくとも
    ６４個の入出力ポートを含む請求項１に記載のマルチサ
    ービスアクセスプラットフォーム。
  18. 【請求項１８】 メタリックテストアクセステストを実
    行するための方法であって、 所定数のカードスロットを含むシャーシのバックプレー
    ン内に含まれるメタリックテストアクセスバス上で制御
    信号を発行し、所定数のカードスロットの各々が、入出
    力ポートを有し、制御信号は、第１のカードスロットの
    入出力ポートにメタリックテストアクセスバスを選択的
    に結合するように動作して、第１のメタリックテストパ
    スを提供することと、 第１のメタリックテストパス上に刺激を加えて第１の応
    答を生成することと、 第１の応答を測定することとを含む、メタリックテスト
    アクセステストを実行するための方法。
  19. 【請求項１９】 制御信号を発行することが、第１のカ
    ードスロットの入出力ポートにメタリックテストアクセ
    スバスが選択的に結合されるようにリレーを構成する請
    求項１８に記載の方法。
  20. 【請求項２０】 制御信号が、第１のカードスロットの
    入出力ポートにメタリックテストアクセスバスを選択的
    に結合するように動作して第１のメタリックテストパス
    を提供し、さらに第２のカードスロットの入出力ポート
    にメタリックテストアクセスバスを選択的に結合するよ
    うに動作して第２のメタリックテストパスを提供する方
    法であって、 刺激を加えることが、第１のメタリックテストパス上に
    第１の刺激を加えて第１の応答を生成し、かつ第２のメ
    タリックテストパス上に第２の刺激を加えて第２の応答
    を生成することを含み、 測定することが、第１の応答および第２の応答を測定す
    ることを含む請求項１８に記載の方法。
  21. 【請求項２１】 第１の刺激が、セーフティ エクスト
    ラ ロー ボルテージ（ＳＥＬＶ）規格刺激であって、
    かつ第２の刺激が、テレコム ネットワークボルテージ
    （ＴＮＶ）規格格刺激である請求項２０に記載の方法。
  22. 【請求項２２】 刺激が、セーフティ エクストラ ロ
    ー ボルテージ（ＳＥＬＶ）規格刺激とテレコム ネッ
    トワーク ボルテージ（ＴＮＶ）規格刺激のうちの１つ
    である請求項１８に記載の方法。
  23. 【請求項２３】 制御信号が、メタリックテストアクセ
    スバスの制御部分を介して発行され、刺激が、メタリッ
    クテストアクセスバスの刺激部分を介して加えられる請
    求項１８に記載の方法。
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