JPH11242609A

JPH11242609A - バックワイヤリングボード及びその集合装置

Info

Publication number: JPH11242609A
Application number: JP10043904A
Authority: JP
Inventors: Naoyuki Nakajima; 尚之中島; Toshiji Kobayashi; 敏次小林; Naoto Hamanaka; 直人濱中; Kazuyoshi Maruyama; 一義丸山; Masahiro Tanaka; 正博田中
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1998-02-25
Filing date: 1998-02-25
Publication date: 1999-09-07
Also published as: US6219406B1

Abstract

(57)【要約】【課題】バックワイヤリングボード２１３に搭載される
プリント板パッケージ２１２及び試験装置３００を接続
するバックワイヤリングボード及びその集合装置に関
し、装置をコンパクト化し、保守者による接続誤りを無
くし、及び搭載する試験装置の全体数を削減する。【解決手段】受信部が外部制御装置から試験要求信号を
受信し、選択部２１１がアダプタコネクタＣＮＡに接続
された複数の該試験装置３００ａ〜３００ｍのいずれか
を該試験要求信号により選択し該プリント板パッケージ
２１２ａ〜２１２ｎに接続する。好ましくは、グループ
用コネクタが複数の該バックワイヤリングボードを接続
し、該選択部２１１が、該ボードグループ内の１つの該
バックワイヤリングボードに接続された該プリント板パ
ッケージのみに該試験装置のいずれか１つを選択して接
続する。

Description

【発明の詳細な説明】

【発明の属する技術分野】本発明はバックワイヤリング
ボード及びその集合装置に関し、特に該バックワイヤリ
ングボードに搭載されるプリント板パッケージ及び試験
装置を接続するバックワイヤリングボード及びその集合
装置に関するものである。

【０００１】近年、電子装置は、高機能及び高品質であ
るだけでなく、さらに低価格及びコンパクトであること
も重要である。そして、例えば、交換機システム全体の
低価格化及びコンパクト化を図るためには、そのユニッ
ト（例えば加入者回路ユニットとその試験ユニット）間
の接続及び配置方式が重要な要素になっている。

【０００２】

【従来の技術】図１７は、従来のバックワイヤリングボ
ードを構成要素とする交換機システムの構成例（１）を
示しており、通話路系、中央処理系、及び入出力系の装
置で構成されている。

【０００３】このシステムは、電話機１００ａ〜１００
ｎが接続された通話路系の加入者回路シェルフ２１０
と、加入者回路シェルフ２１０に接続された中央処理系
の交換部（ＳＷ）４００と、この交換部４００に接続さ
れた中央処理系の中央処理部（ＣＣ）４１０と、この中
央処理部４１０に接続された入出力系の端末４２０とで
構成されている。

【０００４】加入者回路シェルフ２１０は、電話機１０
０ａ〜１００ｎにそれぞれ接続された加入者回路ユニッ
ト２１２ａ〜２１２ｎと、加入者回路ユニット２１２ａ
〜２１２ｎを搭載するバックワイヤリングボード２１３
の導体パターンＰＰで並列接続された選択部２１１と、
この選択部２１１にコネクタＣＮａ，ＣＮｂを介してケ
ーブルＣＢＬで接続されたジャンパ布線盤９００と、バ
ックワイヤリングボード２１３介して加入者回路ユニッ
ト２１２ａ〜２１２ｎ及び選択部２１１に接続されさら
に交換部４００に接続されるライントランク共通部２１
４と、で構成されている。

【０００５】ジャンパ布線盤９００は、ケーブルＣＢＬ
１を介して試験装置３００ａ〜３００ｍに接続されてい
る。

【０００６】加入者回路ユニット２１２ａ〜２１２ｎ
は、それぞれ電話機１００ａ〜１００ｎに縦続接続され
るリレーＲＬ１，ＲＬ２及び加入者回路２１２１で構成
され、このリレーＲＬ１，ＲＬ２は、バックワイヤリン
グボードの導体パターンＰＰを介して選択部２１１に接
続されている。選択部２１１は、導通パターンＰＰをコ
ネクタＣＮａ，ＣＮｂに選択接続するリレーＲＬ３，Ｒ
Ｌ４で構成されている。

【０００７】動作において、通常、リレーＲＬ１，ＲＬ
２は、電話１００ａ〜１００ｎをそれぞれ加入者回路ユ
ニット２１２ａ〜２１２ｎ内の加入者回路２１２１を接
続するように設定されている。

【０００８】例えば加入者回路ユニット２１２ｎを試験
装置３００ｍで試験する場合、まずジャンパ布線盤９０
０において、試験装置３００ｍに接続された端子と選択
部２１１に接続された端子とをラッピング等で接続す
る。接続後、端末４２０は、試験要求信号を、中央処理
部４１０、交換部４００、及びライントランク共通部２
１４を介して加入者回路ユニット２１２ｎと選択部２１
１に送信する。

【０００９】試験要求信号を受信た加入者回路ユニット
２１２ｎは、電話機１００ｎと加入者回路２１２１を切
り離し、切り離された電話機１００ｎと加入者回路２１
２１をバックワイヤリングボードの導体パターンＰＰに
接続するようにリレーＲＬ１，ＲＬ２を切り替える。選
択部２１１は、試験要求信号を受信して、該接続された
導体パターンＰＰを試験装置３００ｍに接続するように
リレーＲＬ３，ＲＬ４を適宜オンにする。

【００１０】この結果、試験装置３００ｍは、電話機１
００ｎ及び加入者回路ユニット２１２ｎの加入者回路２
１２１に接続されたことになる。試験装置３００ｍは、
所定の試験を実行した後、試験結果を交換部４００を介
して端末４２０に送信する。

【００１１】図１８は、従来のバックワイヤリングボー
ド及びその集合装置を構成要素とする交換機の構成例
（２）を示している。この構成例（２）では、図１７の
構成例（１）と異なり、加入者回路シェルフ２１０ａ〜
２１０ｊ内の選択部２１１を搭載したバックワイヤリン
グボード（図示せず）及び加入者回路シェルフ２１０ｋ
〜２１０ｐ内の選択部２１１を搭載したバックワイヤリ
ングボード（図示せず）がそれぞれバックワイヤリング
ボードの集合装置である選択グループ２００ａ，２００
ｂを形成している。

【００１２】さらに、加入者回路シェルフ２１０ａ〜２
１０ｊ内の各選択部及びジャンパ布線盤９００ａは、各
コネクタＣＮａ，ＣＮｂを介してケーブルＣＢＬａによ
り相互に接続され、加入者回路シェルフ２１０ｋ〜２１
０ｐ内の各選択部２１１及びジャンパ布線盤９００ｂ
は、各コネクタＣＮａ，ＣＮｂを介してケーブルＣＢＬ
ｂで相互に接続されている点が構成例（１）と異なって
いる。

【００１３】動作においては、例えば加入者回路シェル
フ２１０ｐの選択部２１１に接続された加入者回路２１
２１及び電話機１００（図１７参照）の試験を試験装置
３００ｍで行う場合、ジャンパ布線盤９００ｂによる接
続後、試験装置３００ｍは、ケーブルＣＢＬ１ｂ、ジャ
ンパ布線盤９００ｂ及びケーブルＣＢＬｂを介して上述
の如く切り離された電話機１００及び該加入者回路２１
２１に接続される。

【００１４】この結果、試験装置３００ｍは、電話機１
００及び加入者回路２１２１に接続されて試験が可能と
なる。同様に、例えば選択グループ２００ｂに接続され
た他の加入者回路２１２１も、試験装置３００ａ〜３０
０ｍのいずれかに接続して試験を行うことが可能であ
る。

【００１５】すなわち、選択グループ２００ｂ内におい
て、試験装置３００ａ〜３００ｍは、加入者回路ユニッ
ト内の加入者回路２１２１（図示せず）に共通に用いら
れることが可能となっている。

【００１６】また、選択グループ２００ａ内において
も、この選択グループ２００ａに属する試験装置３００
ａ〜３００ｍが、各加入者回路２１２１にケーブルＣＢ
Ｌ１ａ、ジャンパ布線盤９００ａ、及びケーブルＣＢＬ
ａを介して接続され試験が可能となる。

【００１７】図１９（ａ）は、従来の交換機におけるシ
ェルフの実装例を示しており、この例では、２つの制御
系シェルフ２３０、５つの加入者回路シェルフ２１０、
及び１つのジャンパ布線盤９００のシェルフとで構成さ
れている。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】このような従来のバッ
クワイヤリングボード及びその集合装置を構成要素とす
る交換機において、加入者回路を試験する場合、図１７
及び１８に示したように加入者回路に接続する選択部と
試験装置との間にジャンパ布線盤９００（図１９（ａ）
参照）を必要としていた。このジャンパ布線盤９００は
一定の実装空間を占めるため、そのコンパクト化が課題
であった。

【００１９】また、ジャンパ布線盤９００の接続は、保
守者によってラッピング等で行われているため接続の誤
りが発生していた。さらに、図１８に示した各選択グル
ープは２０００〜３０００本の加入者線を収容してお
り、比較的安価な簡易機能の試験装置から高価な高機能
の試験装置を少なくとも１台、各選択グループに接続す
る必要があった。

【００２０】従って本発明は、プリント板パッケージを
搭載するバックワイヤリングボード及びその集合装置を
コンパクト化すること、保守者による接続誤りを無くす
こと、及び搭載する試験装置の全体数を削減することを
課題とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明に係るバックワイヤリングボードは、試験装
置に接続するためのアダプタコネクタと、外部制御装置
から試験要求信号を受信する受信部と、複数の該試験装
置のいずれかを該試験要求信号により選択し該プリント
板パッケージに接続する選択部と、を有することを特徴
としている。

【００２２】図１は、バックワイヤリングボードを構成
要素とする交換機システムの原理構成例（１）を示して
いる。バックワイヤリングボード２１３は、プリント板
パッケージである加入者回路ユニット２１２ａ〜２１２
ｎ、このユニット２１２ａ〜２１２ｎに接続されている
選択部２１１、この選択部２１１にセルアダプタ部２２
０である導体パターンＰＰで接続されているアダプタコ
ネクタＣＮＡ、及び受信部（図示せず）を有している。

【００２３】受信部及び加入者回路ユニット２１２ａ〜
２１２ｎは、ライントランク共通部２１４を介して外部
制御装置である交換部（ＳＷ）４００及び中央処理部
（ＣＣ）４１０、及び端末４２０にこの順番で接続され
ている。

【００２４】この原理構成例（１）が、図１７に示した
従来構成例（１）と異なる点は、後者に設けられてい
るジャンパ布線盤９００及びケーブルＣＢＬ２が無く、
選択部２１１がアダプタコネクタＣＮＡに導体パターン
ＰＰで接続されていること、及び加入者回路ユニット
２１２ａ〜２１２ｎの機能の正常性を確認する試験装置
（例えばハウラー試験装置）３００ａ〜試験装置（例え
ば加入者回路試験装置）３００ｍが、直接、アダプタコ
ネクタＣＮＡにケーブルＣＢＬ１を介して接続されてい
ることである。

【００２５】動作において、保守者がジャンパ布線盤９
００による接続を必要としないこと、及び端末４２０
は、ジャンパ布線盤９００における布線接続の代わりに
セルアダプタ２２０における固定した接続に対応した試
験要求信号を送ること以外は図１７に示した構成例
（１）の動作と同じである。

【００２６】この結果、図１９（ｂ）に示すように、図
１９（ａ）のジャンパ布線盤９００が必要でなくなり、
このジャンパ布線盤９００が搭載されたシェルフの位置
に加入者回路シェルフを増設することが可能となり、コ
ンパクト化することができる。またジャンパ布線の接続
の必要がないためその誤りは無くなる。従って端末４２
０は、試験要求信号を送信するときのジャンパ布線接続
を認識する必要がなくなり、この認識誤りによる誤接続
が無くなる。

【００２７】また、本発明では、上記のバックワイヤリ
ングボードの集合装置において、各バックワイヤリング
ボードが、別のバックワイヤリングボードに接続するた
めのグループ用コネクタを有し、該グループ用コネクタ
を介して接続された複数の該バックワイヤリングボード
が、ボードグループを形成し、該選択部が、該ボードグ
ループ内の１つの該バックワイヤリングボードに接続さ
れた該プリント板パッケージのみに該試験装置のいずれ
か１つを該試験要求信号により選択して接続することが
できる。

【００２８】図２は、図１に示したバックワイヤリング
ボード２１３を複数個接続してグループ化したバックワ
イヤリングボードの集合装置を構成要素とする交換機の
構成例（２）を示している。すなわち、各加入者回路シ
ェルフ２１０ａ〜２１０ｃ（図示せず）に含まれるバッ
クワイヤリングボード２１３ａ〜２１３ｃの選択部２１
１が、グループ用コネクタＣＮＧａ，ＣＮＧｂをそれぞ
れ介してケーブルＣＢＬ２で接続され、ボードグループ
である選択グループ２００を形成している。

【００２９】試験装置３００ａ〜３００ｃが、それぞれ
アダプタコネクタＣＮＡを介して各バックワイヤリング
ボード２１３ａ〜２１３ｃに接続されている。

【００３０】動作において、ボード２１３ａ〜２１３ｃ
の各選択部２１１は、外部制御装置からの試験要求信号
によってアダプタコネクタＣＮＡとグループ用コネクタ
ＣＮＧａ，ＣＮＧｂ間を選択接続する。例えば試験装置
３００ａとバックワイヤリングボード２１３ｃは、ケー
ブルＣＢＬ１、バックワイヤリングボード２１３ａのア
ダプタコネクタＣＮＡ、セルアダプタ部２２０、選択部
２１１のグループコネクタＣＮＧａ、ケーブルＣＢＬ
２、及び選択部２１１のコネクタＣＮＧｂを介して接続
される。

【００３１】すなわち、各選択部２１１内でコネクタＣ
ＮＡとコネクタＣＮＧａ，ＣＮＧｂとを選択接続するこ
とにより、各試験装置３００ａ〜３００ｃを、バックワ
イヤリングボード２１３ａ〜２１３ｃのいずれかに接続
することが可能になる。

【００３２】この結果、各バックワイヤリングボード２
１３ａ〜２１３ｃは、図１に示したようにアダプタコネ
クタＣＮＡに全ての試験装置３００ａ〜３００ｃを接続
する必要がなくなり、選択グループ２００内で少なくと
も試験装置３００ａ〜３００ｃを各１台づつ持てばよく
全体の試験装置の台数の削減が可能となる。

【００３３】また、本発明では上記の各ボードグループ
内の少なくとも１個の該バックワイヤリングボードが、
該グループ用コネクタを第１のグループ用コネクタとし
たとき、該ボードグループ間を接続するための少なくと
も１個の第２のグループ用コネクタを有し、該第２のグ
ループ用コネクタを介して接続された複数の該ボードグ
ループが、別のボードグループを形成し、１つの該別の
ボードグループ内において、該選択部が、１つの該バッ
クワイヤリングボードに接続されたプリント板パッケー
ジのみに該試験装置のいずれか１つを該試験要求信号に
より選択して接続することもできる。

【００３４】図３は、本発明に係る階層化されたバック
ワイヤリングボードの集合装置の原理構成例（１）を示
しており、この原理構成例（１）は、図２に示した選択
グループ２００と同一の構成を有する選択グループ２０
０ａ〜２００ｄが、第２のグループ用コネクタＣＮＧ２
ａ〜ＣＮＧ２ｄを介してケーブルＣＢＬ３で接続されて
いる。なお、この場合、上記のグループ用コネクタＣＮ
Ｇ２ａ，ＣＮＧ２ｂが第１のグループ用コネクタとな
る。

【００３５】この選択グループ２００ａ〜２００ｃは、
選択グループ２００ａ及び選択グループ２００ｂ〜２０
０ｄをそれぞれ上位及び下位として階層化されている。

【００３６】動作において、各選択グループ２００ａ〜
２００ｄは、各選択グループ２００ａ〜２００ｄ内の選
択部２１１の選択接続動作により、グループ用コネクタ
ＣＮＧ２ａ〜ＣＮＧ２ｄ及びケーブルＣＢＬ３を介して
接続される。例えば上位の選択グループ２００ａのみに
接続されている試験装置（図２参照）を、選択グループ
２００ｂ〜２００ｄに接続してこのグループ内の回路の
試験を行うことが可能となる。この結果、さらに試験装
置の台数を削減することが可能となる。

【００３７】さらに、上記のボードグループにおいて本
発明は、該試験装置、該ボードグループ及び該グループ
用コネクタを、該試験装置の機能及び搭載位置により階
層化することができる。すなわち、試験装置をその機能
及び搭載される選択グループによって階層化し、さらに
グループ用コネクタをその接続する選択グループの階層
によって階層化する。

【００３８】これを、図４に示す本発明に係る階層化さ
れたバックワイヤリングボードの集合装置の原理構成例
（２）により説明する。この原理構成例（２）は、図３
の原理構成例（１）をより具体的に示したものである。
各選択グループ２００ａ〜２００ｄは、ケーブルＣＢＬ
２で接続された加入者回路シェルフ２１０ａ〜２１０ｃ
を含み、選択グループ２００ａ〜２００ｄは、ケーブル
ＣＢＬ３で接続され、１つの上位階層の選択グループ
（符号「２００」で示すボードグループ）を構成してい
る。

【００３９】各選択グループ２００ａ〜２００ｄは、加
入者回路シェルフ２１０ａに簡易試験装置３００ａ〜３
００ｃを収容し、特に、選択グループ２００ａは、上位
の高性能試験装置３００ｄ，３００ｅを収容している。
そこで、選択グループ２００ａを上位のグループとし、
他の選択グループ２００ｂ〜２００ｄを下位のグループ
として階層化する。

【００４０】動作において、例えば上位選択グループ２
００ａのみに搭載されている高機能試験装置３００ｄ
は、シェルフ２１０ａの選択部２１１、ケーブルＣＢＬ
３、及び下位選択グループ２００ｄのシェルフ２１０ａ
の選択部２１１を介して下位選択グループ２００ｄのシ
ェルフ２１０ｃに接続することができる。

【００４１】従って、１台の高機能試験装置３００ｄ
は、選択グループ２００に属する選択グループ２００ａ
〜２００ｄ内の回路を試験することが可能となる。

【００４２】また、本発明は、上記のグループ用コネク
タが、並列に接続された複数のコネクタとすることがで
きる。すなわち、図３に示した各選択グループの各グル
ープ用コネクタＣＮＧ２ａ〜ＣＮＧ２ｄをバックワイヤ
リングボード内で並列に接続された複数のコネクタとす
ることができる。

【００４３】この結果、各選択グループ間を接続するケ
ーブルＣＢＬ３の構成及び接続方式を選択グループの実
装位置及びノイズ等に対応したものとすることができ
る。

【００４４】また、本発明は、各階層のボードグループ
における上位のグループ用コネクタの代わりに、下位の
グループ用コネクタを用いることもできる。この結果、
１つのグループ用コネクタが、複数のグループ用コネク
タを兼用することができる。

【００４５】また、本発明は、該グループ用コネクタの
代わりに、アダプタコネクタを用いることができる。こ
の結果、アダプタコネクタが、複数のグループ用コネク
タを兼用することができる。

【００４６】

【発明の実施の形態】図５は、本発明に係るバックワイ
ヤリングボードの実施例を示しており、加入者回路シェ
ルフ２１０に含まれるバックワイヤリングボード（図示
せず）は、簡易試験装置３００ａ〜３００ｄ及び高機能
試験装置３００ｅ，３００ｆにそれぞれ接続されるアダ
プタコネクタＣＮＡ１〜ＣＮＡ６と、選択部２１１と、
アダプタコネクタＣＮＡ１〜ＣＮＡ６及びグループ用コ
ネクタＣＮＧ２ａ，ＣＮＧ２ｂを選択部２１１のコネク
タＣＮ３に接続する導体パターンのセルアダプタ部２２
０と、で構成されている。

【００４７】選択部２１１は、コネクタＣＮ１に接続さ
れたハイウェイ受信部２１１ａと、この受信部２１１ａ
に接続されたリレー制御部２１１ｂと、このリレー制御
部２１１ｂに接続された選択回路２１１ｃ及び分離回路
２１１ｄと、選択回路２１１ｃに含まれるリレーＲＬ０
〜ＲＬ６の各一端に共通に接続されたコネクタＣＮ２
と、リレーＲＬ０〜ＲＬ６の他端に並列に接続されたグ
ループコ用ネクタＣＮＧ１ａ，ＣＮＧ１ｂと、リレーＲ
Ｌ０,ＲＬ１，ＲＬ６並びに分離回路２１１ｄに含まれ
るリレーＲＬ７〜ＲＬ１０をそれぞれ介してリレーＲＬ
２〜ＲＬ５に接続されたコネクタＣＮ３と、で構成され
ている。

【００４８】動作において、ハイウェイ受信部２１１ａ
は、共通部２１４（図１参照）を介して端末４２０から
入力された試験要求信号によってリレー制御部２２１ｂ
にリレーＲＬ０〜ＲＬ１０を適宜オンにする起動信号を
送り、リレー制御部２２１ｂは、指定されたリレーを
“オン”する。

【００４９】例えば、簡易試験装置３００ａをコネクタ
ＣＮ２に接続された被試験回路（加入者回路及び電話機
（図１参照））に接続する場合、試験要求信号は、リレ
ーＲＬ０のみを“オン”とする試験要求信号とすればよ
い。また、簡易試験装置３００ｃをコネクタＣＮ２に接
続された被試験回路に接続する場合、リレーＲＬ２、Ｒ
Ｌ７を“オン”にすればよい。

【００５０】また、簡易機能試験装置３００ｄを同一の
選択グループ２００ａ内の加入者回路シェルフ２１０ｂ
（図４参照）に含まれるバックワイヤリングボード（図
示せず）の被試験回路に接続する場合は、シェルフ２１
０ａの選択部２１１において、リレーＲＬ８のみを“オ
ン”にし、さらに、シェルフ２１０ｂの選択部２１１に
おいて、リレーＲＬ３を“オン”にすればよい。

【００５１】また、高機能試験装置３００ｆを同一のバ
ックワイヤリングボードの被試験回路に接続する場合
も、同様にリレーＲＬ５，ＲＬ１０を“オン”にすれば
よい。

【００５２】一方、高機能試験装置３００ｆは、他の選
択グループ２００ｂ〜２００ｄ（図４参照）にグループ
用コネクタＣＮＧ２ａ又はＣＮＧ２ｂを介してケーブル
ＣＢＬ３で接続されている。従って、高機能試験装置３
００ｆは、リレーを適宜オンすることで選択グループ２
００ｂ〜２００ｄ内の回路の試験に使用することが可能
である。

【００５３】図６は、本発明のバックワイヤリングボー
ドの集合装置の構成実施例（１）を示しており、図４の
バックワイヤリングボードの集合装置である選択グルー
プ２００ａ〜２００ｃをより具体的に示している。すな
わち、各交換部（ＳＷ）４００が、それぞれ選択グルー
プ２００ａ〜２００ｃに接続されている。各選択グルー
プ２００ａ〜２００ｃにおいては、各シェルフ２１０ａ
〜２１０ｃが、交換部４００に接続された共通部２１４
と、この共通部２１４に接続された選択部２１１と、こ
の選択部２１１に接続された３２枚のパッケージ２１０
００〜２１０３１とで構成されている。

【００５４】図７及び図８は、図６の選択グループ２０
０ａと選択グループ２００ｂの動作例，を示してい
る。この動作例，においては、同図の各選択グルー
プ２００ａ及び２００ｂ内に示された加入者回路シェル
フ２１０ａ及び２１０ｂが省略され、さらに、各加入者
回路シェルフ２１０ｃ内の共通部２１４が省略されてい
る。

【００５５】加入者回路シェルフ２１０ｃの選択部２１
１は、図５に示した選択部２１１と同じ構成である。こ
の選択部２１１には、図５で省略されていた加入者回路
ユニット２１２００〜２１２３１がコネクタＣＮ２を介
して接続されている。加入者回路ユニット２１２００〜
２１２３１は、各加入者回路２１２１とこの加入者回路
２１２１とコネクタＣＮ２との間にそれぞれ接続された
テストリレーＲＬＣ００〜ＲＬＣ０３とで構成されてい
る。

【００５６】動作例においては、図７の選択グループ
２００ａ内の簡易試験装置３００ａ及び加入者回路ユニ
ット２１２０３の加入者回路２１２１が、選択接続され
る場合を示している。すなわち、加入者回路ユニット２
１２０３は、共通部２１４（図１参照）から送信された
ハイウェイ信号である試験要求信号を受信して、この信
号が指定するテストリレーＲＬＣ０３を起動（オン）す
る。選択部２１１のハイウェイ受信部２１１ａは、ハイ
ウェイ信号である試験要求信号を受信して、この信号が
指定するリレーＲＬ０を起動する。

【００５７】この結果、加入者回路ユニット２１２０３
の加入者回路２１２１と簡易試験装置３００ａとは、ケ
ーブルＣＢＬ１、アダプタコネクタＣＮＡ１、セルアダ
プタ部２２０、コネクタＣＮ３、リレーＲＬ０、コネク
タＣＮ２、及びテストリレーＲＬＣ０３を介した試験ル
ープで接続されることになる。

【００５８】動作例においては、図７の上位の選択グ
ループ２００ａの高機能試験装置３００ｅ及び図８の下
位の選択グループ２００ｂの加入者回路ユニット２１２
０１の加入者回路２１２１が、選択接続される場合を示
している。

【００５９】選択グループ２００ｂにおいて、加入者回
路ユニット２１２０１は、上記の試験要求信号を受信し
て、この信号が指定するテストリレーＲＬＣ１１を起動
する。ハイウェイ受信部２１１ａは、試験要求信号を受
信してリレー制御部２１１ｂにリレーＲＬ２及びＲＬ６
を起動することを指示する。リレー制御部２１１ｂは、
リレーＲＬ２及びＲＬ６を起動する。

【００６０】この結果、選択グループ２００ａの高機能
試験装置３００ｅと選択グループ２００ｂの加入者回路
ユニット２１２０１内の加入者回路２１２１とは、図７
の選択グループ２００ａのケーブルＣＢＬ１、コネクタ
ＣＮＡ５、セルアダプタ部２２０、グループ用コネクタ
ＣＮＧ２ｂ並びにケーブルＣＢＬ３、及び図８のケーブ
ルＣＢＬ３，選択グループ２００ｂのグループ用コネク
タＣＮＧ２ｂ、セルアダプタ部２２０、コネクタＣＮ
３、リレーＲＬ６、リレーＲＬ２、コネクタＣＮ２並び
にリレーＲＬＣ１１を介した試験ループで接続されるこ
とになる。

【００６１】図９は、バックワイヤリングボードに搭載
された選択部２１１の実施例（１）を示しており、この
実施例（１）は、図５に示した選択部２１１をより具体
的に示したものである。選択回路２１１ｃは、５つの４
接点ワイヤリレーと１つの６接点ワイヤリレーで構成さ
れ、分離回路２１１ｄは、５つの４接点ワイヤリレーで
構成されている。

【００６２】ハイウェイ受信部２１１ａは、コネクタＣ
Ｎ１からＬＤＣＫＳ信号、ＬＤＥＮＳＬ信号、及びＤＨ
ＷＳＬ信号を入力し、コネクタＣＮ１へＵＨＷＳＬ信号
を出力し、リレー制御部２１１ｂに選択信号（ＳＥ
Ｌ）、分離信号（ＳＥＰ）、ＰＬＴ信号、及びＬＰＢ信
号を送信する。

【００６３】リレー制御部２１１ｂは、選択回路（リレ
ーＲＬ０〜ＲＬ６）２１１ｃ及び分離回路（リレーＲＬ
７〜ＲＬ１０）２１１ｄにそれぞれ選択制御信号及び分
離制御信号を送る。

【００６４】ハイウェイ受信部２１１ａにおいては、コ
ネクタＣＮ１に接続された入出力バッファ部２１１ａ１
と、このバッファ部２１１ａ１から同期信号ＬＤＥＮＳ
Ｌ及びクロック信号ＬＤＣＫＳＬを受信するタイミング
発生部２１１ａ２と、この発生部２１１ａ２に接続され
入出力バッファ部２１１ａ１からＤＨＷＳＬ信号を受信
するＤＨＷＳＬ信号受信部２１１ａ３と、で構成されて
いる。

【００６５】選択部２１１の機能は、選択回路２１１ｃ
による選択機能及び分離回路２１１ｄによる分離機能が
ある。選択機能は、電話機のライン側及び加入者回路側
の試験線を引き込む機能であり、分離機能は、被試験回
路に１対１で接続する必要のある試験装置（例えば、加
入者回路試験装置）と他の回路とを切り離す機能であ
る。

【００６６】図１０は、選択部２１１の実施例（２）を
示しており、この実施例（２）では選択回路２１１ｃ及
び分離回路２１１ｄのみを示し、ハイウェイ受信部２１
１ａ及びリレー制御部２１１ｂは省略されている。この
実施例（２）が、図９の実施例（１）と異なる点は、
実施例（１）の分離回路２１１ｄのリレーＲＬ７及びＲ
Ｌ８をリレーＲＬ７ａ及びＲＬ８ａとしたこと、この
リレーＲＬ７ａ及びＲＬ８ａにコネクタＣＮ３の端子側
で接続され、他方の端子をコネクタＣＮ３にそれぞれ接
続されたリレーＲＬ７ｂ及びＲＬ８ｂが追加されている
ことである。

【００６７】従って、選択回路２１１ｃは、４接点のワ
イヤリレーＲＬ０〜ＲＬ５と６接点のワイヤリレーＲＬ
６で構成され、分離回路２１１ｄは、４接点のワイヤリ
レーＲＬ７ａ，ＲＬ７ｂ，ＲＬ８ａ，ＲＬ８ｂ，ＲＬ
９，及びＲＬ１０で構成されている。

【００６８】コネクタＣＮ２の端子１〜４は、各リレー
ＲＬ０〜ＲＬ６の４接点のうちの１接点に共通接続さ
れ、端子５，６は、リレーＲＬ６の残りの２接点にそれ
ぞれ接続されている。リレーＲＬ０〜ＲＬ６の他方の各
接点は、並列に接続されたグループ用コネクタＣＮＧ１
ａ，ＣＮＧ１ｂの端子にそれぞれ接続されている。

【００６９】さらに、リレーＲＬ０，ＲＬ１及びＲＬ６
の他方の各接点は、コネクタＣＮ３に接続され、リレー
ＲＬ２〜ＲＬ５の他方の各接点は、それぞれリレーＲＬ
７ａ，ＲＬ８ａ，ＲＬ９，及びＲＬ１０の各接点に接続
されている。

【００７０】図１１は、図９に示した入出力バッファ部
２１１ａ１が、コネクタＣＮ１を介して受信するＬＤＣ
ＫＳＬ信号、ＬＤＥＮＳＬ信号、及びＤＨＷＳＬ信号の
フォーマットを示している。ＬＤＣＫＳＬ信号は、パル
ス幅９７６ｎｓで周波数５１２ＫＨｚ（１周期は約１．
９５μｓ）のタイミングパルスであり、ＬＤＥＮＳＬ信
号は、パルス幅９７６ｎｓで１周期が１２５μｓの同期
パルスであり、試験要求信号であるＤＨＷＳＬ信号は、
１フレームが６４ビット（第１〜第６４ビット）で構成
された１周期が１２５μｓの制御信号である。第１ビッ
トは、同期信号ＬＤＥＮＳＬで指定される。

【００７１】第１〜第３ビットは選択回路起動信号であ
る“ＳＥＬ０”〜“ＳＥＬ２”、第４ビットはループバ
ック回路起動信号である“ＬＰＢ”、及び第５〜第１０
ビットは分離回路起動信号である“ＳＥＰ２Ｉ”，“Ｓ
ＥＰ２Ｏ”，“ＳＥＰ３Ｉ”，“ＳＥＰ３Ｏ”，“ＳＥ
Ｐ４”，“ＳＥＰ５”である。

【００７２】第１１〜第１３ビットは予備ビットである
“ＲＳＶ０〜ＲＳＶ２”、第１４ビットは動作中（Bus
y）／動作休止（Out of Service）信号である“ＳＥＬ
ＯＳ”、第１５，第１６ビットは信号ＤＨＷＳＬのデー
タの正常性を監視するビットである“ＰＬＴ０”，“Ｐ
ＬＴ１”、及び第１７〜第６４ビットは“１”に固定さ
れたドントケア（Don't Care）ビットである。

【００７３】なお、図１１に示したループバック回路起
動信号、動作中／動作休止信号、及びデータの正常性を
監視する信号に関係した回路は、図９においては省略さ
れている。

【００７４】以下、図１１を参照して図９のハイウェイ
受信部２１１ａ及びリレー制御部２１１ｂの動作を説明
する。図９において、タイミング発生部２１１ａ２は、
クロック信号ＬＤＣＫＳＬと同期信号ＬＤＥＮＳＬを受
信して受信部２１１ａ３にシフト及びラッチのタイミン
グ信号を送る。受信部２１１ａ３は、シリアルのＤＨＷ
ＳＬ信号をシフトした後、ラッチしてパラレル信号に変
換してリレー制御部２１１ｂに送る。

【００７５】リレー制御部２１１ｂは、受信したパラレ
ルのＤＨＷＳＬ信号から選択回路２１１ｃのリレーＲＬ
０〜ＲＬ６をオン／オフする選択制御信号、及び分離回
路２１１ｄのリレーＲＬ７〜ＲＬ１０をオン／オフする
分離制御信号を出力する。

【００７６】図１２は、リレー制御部２１１ｂにおける
信号ＤＨＷＳＬの選択信号“ＳＥＬ０”〜“ＳＥＬ２”
及びループバック信号“ＬＰＢ”と動作リレー（リレー
ＲＬ０〜ＲＬ６）との対応関係を示している。すなわ
ち、リレーＲＬ０〜ＲＬ６は、それぞれ選択信号ＳＥＬ
２〜ＳＥＬ０が、（“１”，“１”，“０”），
（“１”，“０”，“１”），…，（“０”，“０”，
“０”）のときのみで且つ“ＬＰＢ”が“１”のとき
“オン”になる。選択信号ＳＥＬ２〜ＳＥＬ０が
（“１”，“１”，“１”）のときで且つ“ＬＰＢ”が
“１”のとき、リレーＲＬ０〜ＲＬ６は全て“オフ”に
なる。

【００７７】なお、リレーＲＬ０〜ＲＬ６は、被試験回
路の信号が衝突することを防止するため２つリレーが同
時に“オン”となることが禁止されている。

【００７８】また、図１０のリレーＲＬ０〜ＲＬ６をオ
ン／オフする制御動作は、図９のリレーＲＬ０〜ＲＬ６
を制御する動作と同じである。

【００７９】図１３は、図９１０に示したリレー制御部
２１１ｂにおけるＤＨＷＳＬ信号の分離信号“ＳＥＰ２
Ｉ”，“ＳＥＰ３Ｉ”，“ＳＥＰ２Ｏ”，“ＳＥＰ３
Ｏ”，“ＳＥＰ４”，及び“ＳＥＰ５”と駆動される分
離回路２１１ｄのリレーＲＬ７ａ，ＲＬ８ａ，ＲＬ７
ｂ，ＲＬ８ｂ，ＲＬ９，及びＲＬ１０の対応関係を示し
ている。

【００８０】すなわち、分離信号“ＳＥＰ２Ｉ”が
“０”のとき、リレーＲＬ７ａは“オン”し、“ＳＥＰ
２Ｉ”が“１”のとき、リレーＲＬ７ａは“オフ”す
る。同様に、それぞれ“ＳＥＰ３Ｉ”，“ＳＥＰ２
Ｏ”，“ＳＥＰ３Ｏ”，“ＳＥＰ４”，“ＳＥＰ４”，
“ＳＥＰ５”が“０”又は“１”のとき、対応するリレ
ーＲＬ８ａ，ＲＬ７ｂ，ＲＬ８ｂ，ＲＬ９，ＲＬ１０
は、“オン”又は“オフ”する。

【００８１】なお、分離回路２１１ｄのリレーＲＬ７
ａ，ＲＬ８ａ，ＲＬ７ｂ，ＲＬ８ｂ，ＲＬ９，ＲＬ１０
は、選択回路２１１ｃのリレーＲＬ０〜ＲＬ６と同時に
“オン”になることが可能である。また分離回路２１１
ｄのリレー同士は、同時に“オン”となることが可能で
ある。

【００８２】図１４〜図１６は、図１０に示した実施例
（２）の分離回路２１１ｄの動作例（ａ）〜（ｃ）を示
している。動作例（ａ）では、リレーＲＬ７ｂが“オ
ン”となり、＃２回路に接続された試験装置（例えば加
入者回路試験装置）は、＃２回路、リレーＲＬ７ｂ、及
び外＃２回路を介して他の選択グループの被試験回路
（図示せず）に接続されることになる。

【００８３】動作例（ｂ）では、リレーＲＬ７ａ及びリ
レーＲＬ２が“オン”となり、＃２回路に接続された試
験装置（例えば加入者回路試験装置）は、＃２回路、リ
レーＲＬ７ａ，ＲＬ２、及びコネクタＣＮ２を介して自
選択グループの被試験回路に接続されることになる。

【００８４】動作例（ｃ）では、リレーＲＬ４，ＲＬ９
が“オン”となり、＃４回路に接続された試験装置（例
えば加入者回路試験装置）は、＃４回路、リレーＲＬ
９，ＲＬ４、及びコネクタＣＮ２を介して自選択グルー
プの被試験回路に接続されることになる。

【００８５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るバッ
クワイヤリングボード及びその集合装置によれば、受信
部が外部制御装置から試験要求信号を受信し、選択部が
アダプタコネクタに接続された複数の試験装置のいずれ
かを該試験要求信号により選択しプリント板パッケージ
に接続するように構成したので、装置をコンパクト化す
ること、及び保守者による接続誤りを無くすことが可能
となる。

【００８６】また、グループ用コネクタが複数のバック
ワイヤリングボードを接続してボードグループを形成
し、該選択部が、該ボードグループ内の１つの該バック
ワイヤリングボードに接続された該プリント板パッケー
ジのみに該試験装置のいずれか１つを該試験要求信号に
より選択して接続するように構成したので、搭載する試
験装置の全体数を削減することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るバックワイヤリングボードを構成
要素とする交換機の原理構成例（１）を示すブロック図
である。

【図２】本発明に係るバックワイヤリングボードの集合
装置を構成要素とする交換機の原理構成例（２）を示す
ブロック図である。

【図３】本発明に係るバックワイヤリングボードの集合
装置の階層化の原理構成例（１）を示すブロック図であ
る。

【図４】本発明に係るバックワイヤリングボードの集合
装置の階層化の原理構成例（２）を示すブロック図であ
る。

【図５】本発明に係るバックワイヤリングボードの実施
例を示すブロック図である。

【図６】本発明に係るバックワイヤリングボードの集合
装置の実施例（１）を示すブロック図である。

【図７】本発明に係るバックワイヤリングボードの集合
装置の実施例（１）における動作例を示すブロック図
（その１）である。

【図８】本発明に係るバックワイヤリングボードの集合
装置の実施例（１）における動作例を示すブロック図
（その２）である。

【図９】本発明に用いられる選択部の実施例（１）を示
すブロック図である。

【図１０】本発明に用いられる選択部の実施例（２）を
示すブロック図である。

【図１１】本発明に用いられる選択部が受信する試験要
求信号のフォーマット例を示す図である。

【図１２】本発明に用いられる選択部の選択回路とその
選択信号の対応を示すテーブル図である。

【図１３】本発明に用いられる選択部の分離回路とその
起動信号の対応を示すテーブル図である。

【図１４】本発明に用いられる選択部の実施例（２）に
おける動作例（ａ）を示すブロック図である。

【図１５】本発明に用いられる選択部の実施例（２）に
おける動作例（ｂ）を示すブロック図である。

【図１６】本発明に用いられる選択部の実施例（２）に
おける動作例（ｃ）を示すブロック図である。

【図１７】従来のバックワイヤリングボードを構成要素
とする交換機の構成例（１）を示すブロック図である。

【図１８】従来のバックワイヤリングボードの集合装置
を構成要素とする交換機の構成例（２）を示すブロック
図である。

【図１９】従来及び本発明のバックワイヤリングボード
の集合装置を構成要素とす交換機のシェルフ実装例を示
すブロック図である。

【符号の説明】

１００ａ〜１００ｎ電話機２００，２００ａ，２００ｂ選択グループ２１０，２１０ａ〜２１０ｃ加入者回路シェルフ２１１選択部２１１ａハイウェイ受信部２１１ａ１入出力バッファ部２１１ａ２タイミング発生部２１１ａ３ＤＨＷＳＬ信号受信部２１１ｂリレー制御部２１１ｃ選択回路２１１ｄ分離回路２１２ａ〜２１２ｎ，２１２００〜２１２３１加入者
回路ユニット（プリント板パッケージ）２１２１加入者回路２１３，２１３ａ〜２１３ｉバックワイヤリングボー
ド２１４ライントランク共通部２２０セルアダプタ部２３０制御系シェルフ３００ａ〜３００ｍ試験装置（ＨＯＷ，ＴＫＯＵ，加
入者回路試験機，加入者線試験機）４００交換部（ＳＷ）４１０中央処理部（ＣＣ）４２０端末９００，９００ａ，９００ｂジャンパ布線盤ＣＮＡ，ＣＮＡａ，ＣＮＡｂアダプタコネクタＣＮＧａ，ＣＮＧｂ，ＣＮＧ１ａ，ＣＮＧ１ｂ，ＣＮＧ
２ａ，ＣＮＧ２ｂグループ用コネクタＣＢＬ１〜ＣＢＬ３，ＣＢＬａ，ＣＢＬｂ，ＣＢＬ１
ａ，ＣＢＬ１ｂ，ＣＢＬ２ａ，ＣＢＬ２ｂケーブル図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者濱中直人福岡県福岡市早良区百道浜２丁目２番１号富士通九州通信システム株式会社内 (72)発明者丸山一義福岡県福岡市早良区百道浜２丁目２番１号富士通九州通信システム株式会社内 (72)発明者田中正博福岡県福岡市早良区百道浜２丁目２番１号富士通九州通信システム株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】プリント板パッケージを搭載するバックワ
イヤリングボードにおいて、試験装置に接続するためのアダプタコネクタと、外部制御装置から試験要求信号を受信する受信部と、複数の該試験装置のいずれかを該試験要求信号により選
択し該プリント板パッケージに接続する選択部と、を有することを特徴としたバックワイヤリングボード。
【請求項２】請求項１において、該外部制御装置が、該パッケージを介して加入者に接続
される交換機と該試験要求信号を該交換機を介して該受
信部に送信する端末とで構成されたことを特徴とするバ
ックワイヤリングボード。
【請求項３】請求項１又は２において、該プリント板パッケージが、電子交換装置の加入者回路
を実装し、該試験要求信号により該加入者回路の中から
いずれか１つを選択する選択回路を有することを特徴と
したバックワイヤリングボード。
【請求項４】請求項１乃至３のいずれかにおいて、該試験装置が、少なくともハウラー試験器、トーキ発生
試験器、加入者回路試験器及び加入者線試験器のうちの
いずれかであることを特徴としたバックワイヤリングボ
ード。
【請求項５】請求項１乃至４記載のバックワイヤリング
ボードの集合装置において、各バックワイヤリングボードが、別のバックワイヤリン
グボードに接続するためのグループ用コネクタを有し、
該グループ用コネクタを介して接続された複数の該バッ
クワイヤリングボードが、ボードグループを形成し、該選択部が、該ボードグループ内の１つの該バックワイ
ヤリングボードに接続された該プリント板パッケージの
みに該試験装置のいずれか１つを該試験要求信号により
選択して接続することを特徴としたバックワイヤリング
ボードの集合装置。
【請求項６】請求項５において、各ボードグループ内の少なくとも１個の該バックワイヤ
リングボードが、該グループ用コネクタを第１のグルー
プ用コネクタとしたとき、該ボードグループ間を接続す
るための少なくとも１個の第２のグループ用コネクタを
有し、該第２のグループ用コネクタを介して接続された複数の
該ボードグループが、別のボードグループを形成し、１つの該別のボードグループ内において、該選択部が、
１つの該バックワイヤリングボードに接続されたプリン
ト板パッケージのみに該試験装置のいずれか１つを該試
験要求信号により選択して接続することを特徴としたバ
ックワイヤリングボードの集合装置。
【請求項７】請求項６において、該試験装置、該ボードグループ及び該グループ用コネク
タが、該試験装置の機能及び搭載位置により階層化され
ていることを特徴としたバックワイヤリングボードの集
合装置。
【請求項８】請求項７において、該グループ用コネクタが、並列に接続された複数のコネ
クタで成っていることを特徴としたバックワイヤリング
ボードの集合装置。
【請求項９】請求項５乃至８のいずれかにおいて、各階層のボードグループにおける上位のグループ用コネ
クタの代わりに、下位のグループ用コネクタを用いるこ
とを特徴としたバックワイヤリングボードの集合装置。
【請求項１０】請求項７乃至９のいずれかにおいて、該グループ用コネクタの代わりに、アダプタコネクタを
用いることを特徴としたバックワイヤリングボードの集
合装置。