JP3286418B2 - 加入者回線試験装置 - Google Patents
加入者回線試験装置Info
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M1/00—Substation equipment, e.g. for use by subscribers
- H04M1/24—Arrangements for testing
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
- H04M3/30—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は加入者回線試験装置に係
わり、特に、ＤＬＣ装置（Digital Loop Carrier 装置)
に収容された加入者回線を試験する加入者回線試験装置
に関する。
わり、特に、ＤＬＣ装置（Digital Loop Carrier 装置)
に収容された加入者回線を試験する加入者回線試験装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】少人口の居住地が遠距離を持って点在す
るような地域においては、コスト的に各居住地毎に交換
機を設けることはできない。そこで、１つの町に交換機
を設け、交換機側及び各居住地側それぞれにＤＬＣ装置
を設け、居住地側のＤＬＣ装置と交換機側のＤＬＣ装置
間を時分割多重伝送路で接続する。居住地側のＤＬＣ装
置には、一般家庭用電話器、公衆電話器、データ端末等
の複数の加入者端末がアナログの加入者回線（端末側加
入者回線という）を介して接続される。この居住地側の
ＤＬＣ装置は各端末側加入者回線より入力されるアナロ
グ信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタル
信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デ
ジタル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、
分離されたデジタル信号をＤＡ変換して端末側加入者回
線に送出するように構成されている。
るような地域においては、コスト的に各居住地毎に交換
機を設けることはできない。そこで、１つの町に交換機
を設け、交換機側及び各居住地側それぞれにＤＬＣ装置
を設け、居住地側のＤＬＣ装置と交換機側のＤＬＣ装置
間を時分割多重伝送路で接続する。居住地側のＤＬＣ装
置には、一般家庭用電話器、公衆電話器、データ端末等
の複数の加入者端末がアナログの加入者回線（端末側加
入者回線という）を介して接続される。この居住地側の
ＤＬＣ装置は各端末側加入者回線より入力されるアナロ
グ信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタル
信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デ
ジタル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、
分離されたデジタル信号をＤＡ変換して端末側加入者回
線に送出するように構成されている。
【０００３】又、交換機側のＤＬＣ装置は複数のアナロ
グの加入者回線（交換機側加入者回線という）を介して
交換機と接続される。このＤＬＣ装置は交換機から各交
換機側加入者回線を介して入力されるアナログ信号をＡ
Ｄ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタル信号を時分
割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デジタル伝送
路から入力された時分割多重信号を分離し、分離された
デジタル信号をＤＡ変換して交換機側加入者回線に送出
するように構成されている。交換機側加入者回線と端末
側加入者回線は１対１に対応しており、交換機側ＤＬＣ
装置と端末側ＤＬＣ装置間を１本のデジタル伝送路で接
続するにも係らず、あたかも加入者端末と交換機間をそ
れぞれ独立に加入者回線で接続したのと機能的に等価に
できる。この結果、交換機設置場所と各居住地間が遠距
離の場合、ＤＬＣ装置を用いることによりケーブル敷設
費を安くできるメリットがある。
グの加入者回線（交換機側加入者回線という）を介して
交換機と接続される。このＤＬＣ装置は交換機から各交
換機側加入者回線を介して入力されるアナログ信号をＡ
Ｄ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタル信号を時分
割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デジタル伝送
路から入力された時分割多重信号を分離し、分離された
デジタル信号をＤＡ変換して交換機側加入者回線に送出
するように構成されている。交換機側加入者回線と端末
側加入者回線は１対１に対応しており、交換機側ＤＬＣ
装置と端末側ＤＬＣ装置間を１本のデジタル伝送路で接
続するにも係らず、あたかも加入者端末と交換機間をそ
れぞれ独立に加入者回線で接続したのと機能的に等価に
できる。この結果、交換機設置場所と各居住地間が遠距
離の場合、ＤＬＣ装置を用いることによりケーブル敷設
費を安くできるメリットがある。
【０００４】図１８はＤＬＣ装置を用いた通信システム
の構成図であり、１０は交換機、２０は交換機側のＤＬ
Ｃ装置、３０は各居住地に設けられた端末側のＤＬＣ装
置、４０は加入者端末、５０は時分割多重デジタル伝送
路、６０ａ〜６０ｎは交換機側加入者回線、７０ａ〜７
０ｎは端末側加入者回線である。交換機側のＤＬＣ装置
（ＤＬＣ(COT):COTはCentral Office Terminalの略）と
端末側のＤＬＣ装置（ＤＬＣ(RT):RTはRemote Termiona
lの略)は同一の構成になっており、加入者回線毎にチャ
ネル盤（ＣＨ盤）２１ａ〜２１ｎ、３１ａ〜３１ｎが設
けら、又、多重分離部（ＭＵＸ／ＤＭＵＸ）２２，３
２、インターフェース回路２３，３３が設けられてい
る。各ＣＨ盤は加入者回線６０ａ〜６０ｎ，７０ａ〜７
０ｎから入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換
してデジタル伝送側に出力すると共に、デジタル伝送路
側から入力されたデジタル信号をアナログ信号に変換し
て加入者回線６０ａ〜６０ｎ，７０ａ〜７０ｎに送出す
るようになっている。
の構成図であり、１０は交換機、２０は交換機側のＤＬ
Ｃ装置、３０は各居住地に設けられた端末側のＤＬＣ装
置、４０は加入者端末、５０は時分割多重デジタル伝送
路、６０ａ〜６０ｎは交換機側加入者回線、７０ａ〜７
０ｎは端末側加入者回線である。交換機側のＤＬＣ装置
（ＤＬＣ(COT):COTはCentral Office Terminalの略）と
端末側のＤＬＣ装置（ＤＬＣ(RT):RTはRemote Termiona
lの略)は同一の構成になっており、加入者回線毎にチャ
ネル盤（ＣＨ盤）２１ａ〜２１ｎ、３１ａ〜３１ｎが設
けら、又、多重分離部（ＭＵＸ／ＤＭＵＸ）２２，３
２、インターフェース回路２３，３３が設けられてい
る。各ＣＨ盤は加入者回線６０ａ〜６０ｎ，７０ａ〜７
０ｎから入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換
してデジタル伝送側に出力すると共に、デジタル伝送路
側から入力されたデジタル信号をアナログ信号に変換し
て加入者回線６０ａ〜６０ｎ，７０ａ〜７０ｎに送出す
るようになっている。
【０００５】多重分離部（ＭＵＸ／ＤＭＵＸ）２２，３
２は多重部、分離部を備え、多重部は各ＣＨ盤でデジタ
ルに変換されたｎ個のデジタルデータを時分割多重して
デジタル伝送側に出力し、分離部はデジタル伝送路側か
ら入力された時分割多重データを加入者回線毎に分離し
て各ＣＨ盤に入力する。インターフェース２３，３３は
多重部から入力されたユニポラーの時分割多重信号をバ
イポラーの時分割多重信号に変換してデジタル伝送に入
力すると共に、その逆の変換をして分離部に入力する。
２は多重部、分離部を備え、多重部は各ＣＨ盤でデジタ
ルに変換されたｎ個のデジタルデータを時分割多重して
デジタル伝送側に出力し、分離部はデジタル伝送路側か
ら入力された時分割多重データを加入者回線毎に分離し
て各ＣＨ盤に入力する。インターフェース２３，３３は
多重部から入力されたユニポラーの時分割多重信号をバ
イポラーの時分割多重信号に変換してデジタル伝送に入
力すると共に、その逆の変換をして分離部に入力する。
【０００６】各ＤＬＣ装置に接続される加入者回線数は
通常ｎ（＝２４回線）であり、２４回線分のデジタルデ
ータが時分割多重され、伝送速度１．５Ｍのバイポーラ
信号で対向ＤＬＣ装置に送られる。図１９はフレーム構
成図であり、２４タイムスロットにより１フレームが構
成され、第１〜第２４タイムスロット(Time Slot #1〜#
24)に第１〜第２４回線（チャンネル）のデジタルデー
タが挿入される。各フレームの先頭にはフレームビット
が置かれ、１２フレームで１スーパーフレームが構成さ
れている。各チャンネルのシグナリングビットとしてＡ
ビットとＢビットがあり、Ａビットは第６フレームにお
ける各タイムスロットの第８ビット目に、Ｂビットは第
１２フレームにおける各タイムスロットの第８ビット目
に挿入される。（Ａ，Ｂ）により、オンフック（０，
０）、オフフック（１，０）、ＩＤＬＥ（１，１）、リ
ンギング（１，１／０交番）等の電話機の状態が通信で
きるようになっている。尚、１／０交番は交互に１、０
となることを意味している。
通常ｎ（＝２４回線）であり、２４回線分のデジタルデ
ータが時分割多重され、伝送速度１．５Ｍのバイポーラ
信号で対向ＤＬＣ装置に送られる。図１９はフレーム構
成図であり、２４タイムスロットにより１フレームが構
成され、第１〜第２４タイムスロット(Time Slot #1〜#
24)に第１〜第２４回線（チャンネル）のデジタルデー
タが挿入される。各フレームの先頭にはフレームビット
が置かれ、１２フレームで１スーパーフレームが構成さ
れている。各チャンネルのシグナリングビットとしてＡ
ビットとＢビットがあり、Ａビットは第６フレームにお
ける各タイムスロットの第８ビット目に、Ｂビットは第
１２フレームにおける各タイムスロットの第８ビット目
に挿入される。（Ａ，Ｂ）により、オンフック（０，
０）、オフフック（１，０）、ＩＤＬＥ（１，１）、リ
ンギング（１，１／０交番）等の電話機の状態が通信で
きるようになっている。尚、１／０交番は交互に１、０
となることを意味している。
【０００７】図２０はＣＨ盤の構成図である。TIP,RING
は加入者線で、外線メタリックケーブルと接続されてい
る。すなわち、ＤＬＣ装置が端末側に設けられる場合に
は加入者端末（主として電話機）と接続され、交換機側
に設けられる場合には交換機と接続される。ＢＡＴは加
入者装置給電部であり、加入者端末（電話機等の宅内装
置）を駆動させるための電流をTIP/RING線を介して供給
する。ON/OFF HOOK DETはオンフック、オフフック状態
検出部であり、TIP/RING線に流れる電流値を監視するこ
とにより、加入者端末のオンフック、オフフック状態を
検出する。RINGING GENはリンギング信号生成部であ
り、加入者端末のベルを鳴らすためのリンギング制御信
号を生成する。2W/4Wは２線−４線変換部であり、送信
信号と受信信号が全二重になったTIP/RING線を送信側、
受信側個別の４線に変換するもので、変換トランスとバ
ランシング・ネットワークにより構成されている。
は加入者線で、外線メタリックケーブルと接続されてい
る。すなわち、ＤＬＣ装置が端末側に設けられる場合に
は加入者端末（主として電話機）と接続され、交換機側
に設けられる場合には交換機と接続される。ＢＡＴは加
入者装置給電部であり、加入者端末（電話機等の宅内装
置）を駆動させるための電流をTIP/RING線を介して供給
する。ON/OFF HOOK DETはオンフック、オフフック状態
検出部であり、TIP/RING線に流れる電流値を監視するこ
とにより、加入者端末のオンフック、オフフック状態を
検出する。RINGING GENはリンギング信号生成部であ
り、加入者端末のベルを鳴らすためのリンギング制御信
号を生成する。2W/4Wは２線−４線変換部であり、送信
信号と受信信号が全二重になったTIP/RING線を送信側、
受信側個別の４線に変換するもので、変換トランスとバ
ランシング・ネットワークにより構成されている。
【０００８】TX AMP は送信側アナログ信号レベルを後
述するCODEC のアナログ入力レベル規定値に変換する送
信側制御部、RX AMP はCODEC の出力アナログ信号レベ
ルを加入者端末のアナログ入力レベル規定値に変換する
受信側増幅部、CODECは符号・復号部であり、アナログ信
号とデジタル信号間の変換を行い、又、デジタル信号の
変換時にはシグナリングビットの挿入を行い、アナログ
信号への変換時にはシグナリングビットの抽出を行う。
SIGNALING CONTはＣＰＵの指示に従ったシグナリングビ
ットの生成、CODECで抽出したシグナリングビットのＣ
ＰＵへの通知を行う。TX/RXは送信側、受信側の一対の
デジタル信号線であり、送信側、受信側個別に２４チャ
ンネル分多重されて高次群側とインターフェースされ
る。ＣＰＵはＣＨ盤制御用ＣＰＵであり、通常時は加入
者端末の状態に対応したシグナリングビットの生成指
示、受信シグナリングビットに応じた加入者端末への制
御信号送出指示等の各種シグナリングビットの処理を行
う。
述するCODEC のアナログ入力レベル規定値に変換する送
信側制御部、RX AMP はCODEC の出力アナログ信号レベ
ルを加入者端末のアナログ入力レベル規定値に変換する
受信側増幅部、CODECは符号・復号部であり、アナログ信
号とデジタル信号間の変換を行い、又、デジタル信号の
変換時にはシグナリングビットの挿入を行い、アナログ
信号への変換時にはシグナリングビットの抽出を行う。
SIGNALING CONTはＣＰＵの指示に従ったシグナリングビ
ットの生成、CODECで抽出したシグナリングビットのＣ
ＰＵへの通知を行う。TX/RXは送信側、受信側の一対の
デジタル信号線であり、送信側、受信側個別に２４チャ
ンネル分多重されて高次群側とインターフェースされ
る。ＣＰＵはＣＨ盤制御用ＣＰＵであり、通常時は加入
者端末の状態に対応したシグナリングビットの生成指
示、受信シグナリングビットに応じた加入者端末への制
御信号送出指示等の各種シグナリングビットの処理を行
う。
【０００９】図２１はオンフック時（加入者が通話して
ない状態）の動作説明図である。尚、８０は中継器（リ
ピータ）である。 交換機１０は給電部よりＣＨ盤（COT）に対してノー
マルバッテリー値（通話してない場合の電流値）を印加
する。 ＣＨ盤（COT）２１は交換機１０よりノーマルバッテ
リーが印加されていることを検出し、ＩＤＬＥコード
（Ａビット、Ｂビット共に”１”）をＣＨ盤（RT）に対
して送出する。 ＣＨ盤（RT）はＩＤＬＥコードを検出し、加入者端末
（電話機）４０に対してノーマルバッテリー値を印加
し、又、ＣＨ盤（COT）２１に対してオンフックコード
（Ａビット、Ｂビット共に”０”）を送信する。 オンフック時は上記、、が継続して行われてい
る。
ない状態）の動作説明図である。尚、８０は中継器（リ
ピータ）である。 交換機１０は給電部よりＣＨ盤（COT）に対してノー
マルバッテリー値（通話してない場合の電流値）を印加
する。 ＣＨ盤（COT）２１は交換機１０よりノーマルバッテ
リーが印加されていることを検出し、ＩＤＬＥコード
（Ａビット、Ｂビット共に”１”）をＣＨ盤（RT）に対
して送出する。 ＣＨ盤（RT）はＩＤＬＥコードを検出し、加入者端末
（電話機）４０に対してノーマルバッテリー値を印加
し、又、ＣＨ盤（COT）２１に対してオンフックコード
（Ａビット、Ｂビット共に”０”）を送信する。 オンフック時は上記、、が継続して行われてい
る。
【００１０】図２２は発呼時の動作説明図である。 オンフック状態において、電話機４０の送受話器を上
げると、電話機内の負荷が変化し、バッテリー値が変化
するする。 ＣＨ盤（RT）はバッテリー値変化を監視しており、バ
ッテリー値の変化したことを検出してオフフック状態に
なったことを認識し、ＣＨ盤（COT）に対してオフフッ
クコード（Ａビットは”１”，Ｂビットは”０”）を送
信する。 ＣＨ盤（COT）２１はオフフックコードを検出し、電
話機４０と同じ負荷を交換機１０に対して見せる。これ
によりバッテリー値が変化し、交換機１０はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、電話機４０よりダイヤルパルスを交換機１０
に送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、ＣＨ盤（COT）２１は
ＣＨ盤（RT）３１に対してＩＤＬＥコード（１，１）を
送出し、通話状態に入る。
げると、電話機内の負荷が変化し、バッテリー値が変化
するする。 ＣＨ盤（RT）はバッテリー値変化を監視しており、バ
ッテリー値の変化したことを検出してオフフック状態に
なったことを認識し、ＣＨ盤（COT）に対してオフフッ
クコード（Ａビットは”１”，Ｂビットは”０”）を送
信する。 ＣＨ盤（COT）２１はオフフックコードを検出し、電
話機４０と同じ負荷を交換機１０に対して見せる。これ
によりバッテリー値が変化し、交換機１０はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、電話機４０よりダイヤルパルスを交換機１０
に送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、ＣＨ盤（COT）２１は
ＣＨ盤（RT）３１に対してＩＤＬＥコード（１，１）を
送出し、通話状態に入る。
【００１１】図２３は着呼時の動作説明図である。 オンフック状態において、他の加入者端末から電話機
４０を発呼すると、電話機４０を収容する交換機１０は
ＣＨ盤（COT）２１に対してリンギング信号を送る。 ＣＨ盤（COT）２１はリンギング信号を検出後、ＣＨ
盤（RT）３１に対してRINGINGコード(Ａビットは”
１”、Ｂビットは”１／０交番”）を送信する。 ＣＨ盤（RT）３１はRINGINGコードを検出すると、電
話機４０に対してリンギング信号を送って、呼び出し音
を鳴らす。 呼び出し音により、着呼者が送受話器を上げてオフフ
ックすると、バッテリー値が変化する。
４０を発呼すると、電話機４０を収容する交換機１０は
ＣＨ盤（COT）２１に対してリンギング信号を送る。 ＣＨ盤（COT）２１はリンギング信号を検出後、ＣＨ
盤（RT）３１に対してRINGINGコード(Ａビットは”
１”、Ｂビットは”１／０交番”）を送信する。 ＣＨ盤（RT）３１はRINGINGコードを検出すると、電
話機４０に対してリンギング信号を送って、呼び出し音
を鳴らす。 呼び出し音により、着呼者が送受話器を上げてオフフ
ックすると、バッテリー値が変化する。
【００１２】ＣＨ盤（RT）３１はバッテリー値が変化
したことを検出してオフフック状態になったことを認識
し、ＣＨ盤（COT）に対してオフフックコード（１，
０）を送信する。 ＣＨ盤（COT）２１はオフフックコードを検出する
と、バッテリー値を変化させて交換機１０に対して電話
機４０がオフフック状態になったことを通知する。 交換機は電話機４０がオフフック状態になった通知に
より、リンギング信号の送信を停止する。 ＣＨ盤（COT）２１はリンギング信号が停止したこと
を認識してＣＨ盤（RT）３１に対してＩＤＬＥコードを
送信し、通話状態に入る。
したことを検出してオフフック状態になったことを認識
し、ＣＨ盤（COT）に対してオフフックコード（１，
０）を送信する。 ＣＨ盤（COT）２１はオフフックコードを検出する
と、バッテリー値を変化させて交換機１０に対して電話
機４０がオフフック状態になったことを通知する。 交換機は電話機４０がオフフック状態になった通知に
より、リンギング信号の送信を停止する。 ＣＨ盤（COT）２１はリンギング信号が停止したこと
を認識してＣＨ盤（RT）３１に対してＩＤＬＥコードを
送信し、通話状態に入る。
【００１３】図２４は通話終了時の動作説明図である。 通話が終了して、送受話器を置くと（オンフック）、
バッテリー値がノーマルバッテリー値に変化する。 ＣＨ盤（RT）３１はノーマルバッテリー値を検出する
と、ＣＨ盤（COT）２１に対してオンフックコード
（１，０）を送信する。 ＣＨ盤（COT）２１はオンフックコードを検出する
と、交換機に見せる負荷を電話器４０がオンフック状態
にある場合の負荷と同じにしてバッテリー値をノーマル
バッテリー値に戻す。これにより、交換機１０は通話が
終了したことを認識する。
バッテリー値がノーマルバッテリー値に変化する。 ＣＨ盤（RT）３１はノーマルバッテリー値を検出する
と、ＣＨ盤（COT）２１に対してオンフックコード
（１，０）を送信する。 ＣＨ盤（COT）２１はオンフックコードを検出する
と、交換機に見せる負荷を電話器４０がオンフック状態
にある場合の負荷と同じにしてバッテリー値をノーマル
バッテリー値に戻す。これにより、交換機１０は通話が
終了したことを認識する。
【００１４】以上では、ＤＬＣ装置１台当たりに接続さ
れる加入者回線数は２４回線として説明したが、最も大
きな規模では２００回線近くになる。交換機１０からの
サービスが既に提供されているＤＬＣ装置で回線に障害
が発生すると、１台のＤＬＣ装置に何本もの加入者線が
接続されているため、保守作業自体を行うのが非常に困
難になり、しかも、障害箇所を切り分ける作業も大変手
間がかかる。このため、初期故障を防ぎ、レベルダイヤ
調整を行うためにも、ＤＬＣ装置を敷設している段階か
ら随時各区間毎に試験することが必要になってくる。
れる加入者回線数は２４回線として説明したが、最も大
きな規模では２００回線近くになる。交換機１０からの
サービスが既に提供されているＤＬＣ装置で回線に障害
が発生すると、１台のＤＬＣ装置に何本もの加入者線が
接続されているため、保守作業自体を行うのが非常に困
難になり、しかも、障害箇所を切り分ける作業も大変手
間がかかる。このため、初期故障を防ぎ、レベルダイヤ
調整を行うためにも、ＤＬＣ装置を敷設している段階か
ら随時各区間毎に試験することが必要になってくる。
【００１５】そこで、ＤＬＣ装置に収容されている加入
者回線の従来の試験においては、以下の２つの方式があ
る。第１の試験方法は、交換機が直接出力した試験信
号を加入者宅の電話器に代えて接続した測定器で測定す
ることにより、回線状態を把握するものである。第２
の試験方法は、ＤＬＣ装置に実装される各ＣＨ盤にジャ
ックを付け、対向している各ＣＨ盤にジャックを介して
測定器を接続し、交換機との接続を外した状態で片方の
ＣＨ盤の測定器から試験信号を加入者回線（デジタル伝
送路）に出力し、対向しているＣＨ盤の測定器で試験信
号を測定して回線状態を把握するものである。
者回線の従来の試験においては、以下の２つの方式があ
る。第１の試験方法は、交換機が直接出力した試験信
号を加入者宅の電話器に代えて接続した測定器で測定す
ることにより、回線状態を把握するものである。第２
の試験方法は、ＤＬＣ装置に実装される各ＣＨ盤にジャ
ックを付け、対向している各ＣＨ盤にジャックを介して
測定器を接続し、交換機との接続を外した状態で片方の
ＣＨ盤の測定器から試験信号を加入者回線（デジタル伝
送路）に出力し、対向しているＣＨ盤の測定器で試験信
号を測定して回線状態を把握するものである。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の試験方
法では、ＤＬＣ装置間にケーブル（デジタル伝送路）が
敷設されていないと実行できない問題がある。又、ケー
ブルが敷設されて実行できたとしても、加入者回線全体
を通しての良否しか判断できず、回線のどこに障害が発
生しているのか切り分け（障害箇所検出）できない問題
がある。更に、以上に加えて従来の第１の試験方法で
は、試験する回線を変える度に試験器の接続を変える必
要があり、又、第２の試験方法では、対向している両方
のＣＨ盤で測定器の接続を変えなければならず、試験が
非常に面倒となる問題があった。
法では、ＤＬＣ装置間にケーブル（デジタル伝送路）が
敷設されていないと実行できない問題がある。又、ケー
ブルが敷設されて実行できたとしても、加入者回線全体
を通しての良否しか判断できず、回線のどこに障害が発
生しているのか切り分け（障害箇所検出）できない問題
がある。更に、以上に加えて従来の第１の試験方法で
は、試験する回線を変える度に試験器の接続を変える必
要があり、又、第２の試験方法では、対向している両方
のＣＨ盤で測定器の接続を変えなければならず、試験が
非常に面倒となる問題があった。
【００１７】以上から本発明の目的は、片側のＤＬＣ装
置が設置された状態において、その時点までに敷設され
ている加入者回線の試験ができる加入者回線試験装置を
提供することである。本発明の別の目的は、加入者回線
を複数の区間に分け、各区間毎に試験することにより、
障害発生箇所を切り分けることができる加入者回線試験
装置を提供することである。本発明の更に別の目的は、
試験する回線毎に試験器の接続を変える必要がなく、保
守者が試験を簡単に行える加入者回線試験装置を提供す
ることである。本発明の他の目的はアナログ試験器のみ
でアナログ試験及びデジタル試験ができる加入者回線試
験装置を提供することである。本発明の更に他の目的
は、交換機やＣＨ盤のシグナリングビット検出機能や送
出機能の試験ができる加入者回線試験装置を提供するこ
とである。
置が設置された状態において、その時点までに敷設され
ている加入者回線の試験ができる加入者回線試験装置を
提供することである。本発明の別の目的は、加入者回線
を複数の区間に分け、各区間毎に試験することにより、
障害発生箇所を切り分けることができる加入者回線試験
装置を提供することである。本発明の更に別の目的は、
試験する回線毎に試験器の接続を変える必要がなく、保
守者が試験を簡単に行える加入者回線試験装置を提供す
ることである。本発明の他の目的はアナログ試験器のみ
でアナログ試験及びデジタル試験ができる加入者回線試
験装置を提供することである。本発明の更に他の目的
は、交換機やＣＨ盤のシグナリングビット検出機能や送
出機能の試験ができる加入者回線試験装置を提供するこ
とである。
【００１８】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。１００は加入者回線３００ａ〜３００ｎより
入力される各アナログ信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換によ
り得られたデジタル信号を時分割多重してデジタル伝送
路に送出し、デジタル伝送路４００から入力された時分
割多重信号を分離し、分離されたデジタル信号をＤＡ変
換して加入者回線に送出する通信制御装置（ＤＬＣ装
置）、２００は通信制御装置１００に収容された加入者
回線を試験する加入者回線試験装置である。通信制御装
置１００において、１０１ａ〜１０１ｎは各加入者回線
３００ａ〜３００ｎに対応して設けられた加入者回路
（ＣＨ盤）、１０２は多重分離部である。加入者回路１
０１ａ〜１０１ｎには、ＡＤ変換、ＤＡ変換を行う符号
・復号部（ＣＯＤＥＣ）１１１ａ〜１１１ｎと、通信シ
ステム側の試験パスを確立する試験パス生成部１１２ａ
〜１１２ｎが設けられている。
図である。１００は加入者回線３００ａ〜３００ｎより
入力される各アナログ信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換によ
り得られたデジタル信号を時分割多重してデジタル伝送
路に送出し、デジタル伝送路４００から入力された時分
割多重信号を分離し、分離されたデジタル信号をＤＡ変
換して加入者回線に送出する通信制御装置（ＤＬＣ装
置）、２００は通信制御装置１００に収容された加入者
回線を試験する加入者回線試験装置である。通信制御装
置１００において、１０１ａ〜１０１ｎは各加入者回線
３００ａ〜３００ｎに対応して設けられた加入者回路
（ＣＨ盤）、１０２は多重分離部である。加入者回路１
０１ａ〜１０１ｎには、ＡＤ変換、ＤＡ変換を行う符号
・復号部（ＣＯＤＥＣ）１１１ａ〜１１１ｎと、通信シ
ステム側の試験パスを確立する試験パス生成部１１２ａ
〜１１２ｎが設けられている。
【００１９】加入者試験装置２００において、２０１は
試験する加入者回路（ＣＨ盤）の識別番号と試験パスを
特定する情報を入力する情報入力部、２０２は特定され
た加入者回路（ＣＨ盤）に試験パス特定情報を送出する
通信部、２０３は加入者回線を試験する試験器を接続す
る接続部、２０４は試験器からの試験信号を特定された
加入者回路（ＣＨ盤）の試験パスに入力し、試験パスを
介して到来する信号を試験器に入力するための試験装置
側の試験パス形成部，２０５は特定された加入者回路
（ＣＨ盤）に通信部２０２を介して試験要求を送出し、
又、加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パ
ス形成部２０４により試験パスを形成させ、更には、通
信部より前記試験パス特定情報を加入者回路に送出して
通信システム側の試験パスを生成させる制御部、２０６
は試験している加入者回路の識別情報、試験状態等を表
示する表示部である。
試験する加入者回路（ＣＨ盤）の識別番号と試験パスを
特定する情報を入力する情報入力部、２０２は特定され
た加入者回路（ＣＨ盤）に試験パス特定情報を送出する
通信部、２０３は加入者回線を試験する試験器を接続す
る接続部、２０４は試験器からの試験信号を特定された
加入者回路（ＣＨ盤）の試験パスに入力し、試験パスを
介して到来する信号を試験器に入力するための試験装置
側の試験パス形成部，２０５は特定された加入者回路
（ＣＨ盤）に通信部２０２を介して試験要求を送出し、
又、加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パ
ス形成部２０４により試験パスを形成させ、更には、通
信部より前記試験パス特定情報を加入者回路に送出して
通信システム側の試験パスを生成させる制御部、２０６
は試験している加入者回路の識別情報、試験状態等を表
示する表示部である。
【００２０】
【作用】情報入力部２０１より加入者回路の識別番号と
試験パスを特定する情報を入力する。制御部２０５は通
信部２０２を介して該特定された加入者回路（１０１ａ
とする）に試験要求を送出し、加入者回路１０１ａから
の試験許可応答を確認後、試験パス形成部２０４により
試験パスを形成させる。ついで、通信部２０２より試験
パス特定情報を加入者回路１０１ａに送出して通信シス
テム側の試験パスを生成させる。かかる状態で、接続部
２０３に接続された試験器より試験信号を試験パス形成
部２０４を介して加入者回路１０１ａの試験パスに入力
し、試験パスを介して到来する信号を試験パス形成部２
０４より試験器に入力して試験を行う。この際、表示部
に、試験している加入者回路の識別情報、試験状態を表
示する。
試験パスを特定する情報を入力する。制御部２０５は通
信部２０２を介して該特定された加入者回路（１０１ａ
とする）に試験要求を送出し、加入者回路１０１ａから
の試験許可応答を確認後、試験パス形成部２０４により
試験パスを形成させる。ついで、通信部２０２より試験
パス特定情報を加入者回路１０１ａに送出して通信シス
テム側の試験パスを生成させる。かかる状態で、接続部
２０３に接続された試験器より試験信号を試験パス形成
部２０４を介して加入者回路１０１ａの試験パスに入力
し、試験パスを介して到来する信号を試験パス形成部２
０４より試験器に入力して試験を行う。この際、表示部
に、試験している加入者回路の識別情報、試験状態を表
示する。
【００２１】例えば、各加入者回線３００ａ〜３００ｎ
が交換機あるいは加入者端末に接続されている場合、試
験パス特定情報に基づいて加入者回路１０１ａの試験パ
ス生成部１１２ａ〜１１２ｎは、試験パス形成部２０４
より入力されたアナログの試験信号を加入者回線３００
ａ〜３００ｎを介して交換機あるいは端末に入力し、交
換機あるいは端末からの応答信号を試験パス形成部２０
４に入力するように通信システム側の試験パスを生成す
る。又、試験パス特定情報に基づいて試験パス生成部１
１２ａ〜１１２ｎは、試験パス形成部２０４より入力さ
れたアナログの試験信号を符号・復号部１１１ａ〜１１
１ｎに入力し、符号・復号部より出力されるデジタル信
号を試験パス形成部２０４に入力し、又、試験パス形成
部２０４より入力されたデジタルの試験信号を符号・復
号部１１１ａ〜１１１ｎに入力し、符号・復号部より出
力されるデジタル信号を試験パス形成部２０４に入力す
るように通信システム側の試験パスを生成する。
が交換機あるいは加入者端末に接続されている場合、試
験パス特定情報に基づいて加入者回路１０１ａの試験パ
ス生成部１１２ａ〜１１２ｎは、試験パス形成部２０４
より入力されたアナログの試験信号を加入者回線３００
ａ〜３００ｎを介して交換機あるいは端末に入力し、交
換機あるいは端末からの応答信号を試験パス形成部２０
４に入力するように通信システム側の試験パスを生成す
る。又、試験パス特定情報に基づいて試験パス生成部１
１２ａ〜１１２ｎは、試験パス形成部２０４より入力さ
れたアナログの試験信号を符号・復号部１１１ａ〜１１
１ｎに入力し、符号・復号部より出力されるデジタル信
号を試験パス形成部２０４に入力し、又、試験パス形成
部２０４より入力されたデジタルの試験信号を符号・復
号部１１１ａ〜１１１ｎに入力し、符号・復号部より出
力されるデジタル信号を試験パス形成部２０４に入力す
るように通信システム側の試験パスを生成する。
【００２２】更に、端末側の通信制御装置と交換機側の
通信制御装置がデジタル伝送路４００を介して相互にデ
ータ伝送可能に接続されている場合、一方の通信制御装
置の試験パス生成部１１２ａ〜１１２ｎは試験パス特定
情報に基づいて試験パス形成部２０４より入力されたデ
ジタルの試験信号をデジタル伝送路４００に送出し、他
方の通信制御装置のパス生成部は試験パス特定情報に基
づいてデジタル伝送路４００より入力されたデジタルの
試験信号をパス形成部に入力するように試験パスを生成
する。
通信制御装置がデジタル伝送路４００を介して相互にデ
ータ伝送可能に接続されている場合、一方の通信制御装
置の試験パス生成部１１２ａ〜１１２ｎは試験パス特定
情報に基づいて試験パス形成部２０４より入力されたデ
ジタルの試験信号をデジタル伝送路４００に送出し、他
方の通信制御装置のパス生成部は試験パス特定情報に基
づいてデジタル伝送路４００より入力されたデジタルの
試験信号をパス形成部に入力するように試験パスを生成
する。
【００２３】又、端末側の通信制御装置と交換機側の通
信制御装置がデジタル伝送路４００を介して相互にデー
タ伝送可能に接続され、かつ、交換機側の通信制御装置
１００における各加入者回線が交換機に接続されている
場合、端末側の通信制御装置１のパス生成部１１２ａ〜
１１２ｎは試験パス特定情報に基づいて、試験パス形成
部２０４より入力されたアナログの試験信号を符号・復
号部１１１ａ〜１１１ｎに入力し、符号・復号部から出
力されるデジタル信号をデジタル伝送路４００、交換機
側の通信制御装置を介して交換機に送り、交換機側の通
信制御装置、デジタル伝送路４００を介して受信した交
換機からの応答信号をＡＤ変換後、パス形成部２０４に
入力するように試験パスを生成する。以上のようにすれ
ば、片側のＤＬＣ装置が設置された状態において、その
時点までに敷設されている加入者回線の試験ができる。
又、加入者回線を複数の区間に分け、各区間毎に試験す
ることにより、障害発生箇所を切り分けることができ
る。更に、試験する回線毎に試験器の接続を変える必要
がなく、保守者が試験を簡単に行うことができる。
信制御装置がデジタル伝送路４００を介して相互にデー
タ伝送可能に接続され、かつ、交換機側の通信制御装置
１００における各加入者回線が交換機に接続されている
場合、端末側の通信制御装置１のパス生成部１１２ａ〜
１１２ｎは試験パス特定情報に基づいて、試験パス形成
部２０４より入力されたアナログの試験信号を符号・復
号部１１１ａ〜１１１ｎに入力し、符号・復号部から出
力されるデジタル信号をデジタル伝送路４００、交換機
側の通信制御装置を介して交換機に送り、交換機側の通
信制御装置、デジタル伝送路４００を介して受信した交
換機からの応答信号をＡＤ変換後、パス形成部２０４に
入力するように試験パスを生成する。以上のようにすれ
ば、片側のＤＬＣ装置が設置された状態において、その
時点までに敷設されている加入者回線の試験ができる。
又、加入者回線を複数の区間に分け、各区間毎に試験す
ることにより、障害発生箇所を切り分けることができ
る。更に、試験する回線毎に試験器の接続を変える必要
がなく、保守者が試験を簡単に行うことができる。
【００２４】又、加入者回線を試験するアナログ試験器
を接続する第１、第２接続部と、第２の接続部から入力
されたアナログの試験信号をデジタルに変換すると共
に、通信システム側の試験パスを介して到来するデジタ
ルの応答信号をアナログに変換する符号・復号部を設け
れば、アナログ測定器のみでアナログ試験、デジタル試
験の両方を行うことができる。更に、デジタル試験信号
に挿入するシグナリングビットを生成するシグナリング
ビット生成部と、デジタルの応答信号に含まれるシグナ
リングビットを検出するシグナリングビット検出部を設
け、制御部２０５が情報入力部２０１から指示された、
シグナリングビットを用いた動作確認試験の種別に基づ
いてシグナリングビット生成部に所定のシグナリングビ
ットを生成させ、応答信号よりシグナリングビット検出
部により検出されたシグナリングビットの内容を表示部
に表示するようにすれば、交換機やＣＨ盤のシグナリン
グビット検出機能やシグナリングビット送出機能を確認
することができる。
を接続する第１、第２接続部と、第２の接続部から入力
されたアナログの試験信号をデジタルに変換すると共
に、通信システム側の試験パスを介して到来するデジタ
ルの応答信号をアナログに変換する符号・復号部を設け
れば、アナログ測定器のみでアナログ試験、デジタル試
験の両方を行うことができる。更に、デジタル試験信号
に挿入するシグナリングビットを生成するシグナリング
ビット生成部と、デジタルの応答信号に含まれるシグナ
リングビットを検出するシグナリングビット検出部を設
け、制御部２０５が情報入力部２０１から指示された、
シグナリングビットを用いた動作確認試験の種別に基づ
いてシグナリングビット生成部に所定のシグナリングビ
ットを生成させ、応答信号よりシグナリングビット検出
部により検出されたシグナリングビットの内容を表示部
に表示するようにすれば、交換機やＣＨ盤のシグナリン
グビット検出機能やシグナリングビット送出機能を確認
することができる。
【００２５】
【実施例】(a) 全体の構成 図２は本発明の加入者試験装置を含む通信システムの全
体の構成図である。尚、ＤＬＣ装置は交換機側、端末側
それぞれ１台のみ示している。図中、９０は交換機、９
１は加入者端末、１００ａは交換機側の通信制御装置
（ＤＬＣ装置：DLC(COT))、１００ｂは端末側の交換機
側の通信制御装置（ＤＬＣ装置：DLC(RT))、２００ａは
交換機側のＤＬＣ装置１００ａに接続された加入者回線
試験装置、１００ｂは端末側のＤＬＣ装置１００ｂに接
続された加入者試験装置、３００ａ〜３００ｎは交換機
側加入者回線、３００ａ′〜３００ｎ′は端末側加入者
回線、４００は上下一対のケーブルで構成されたデジタ
ル伝送路、５００ａ，５００ａ′は加入者試験装置２０
０ａに接続された試験器、５００ｂ，５００ｂ′は加入
者回線試験装置２００ｂに接続された試験器である。
体の構成図である。尚、ＤＬＣ装置は交換機側、端末側
それぞれ１台のみ示している。図中、９０は交換機、９
１は加入者端末、１００ａは交換機側の通信制御装置
（ＤＬＣ装置：DLC(COT))、１００ｂは端末側の交換機
側の通信制御装置（ＤＬＣ装置：DLC(RT))、２００ａは
交換機側のＤＬＣ装置１００ａに接続された加入者回線
試験装置、１００ｂは端末側のＤＬＣ装置１００ｂに接
続された加入者試験装置、３００ａ〜３００ｎは交換機
側加入者回線、３００ａ′〜３００ｎ′は端末側加入者
回線、４００は上下一対のケーブルで構成されたデジタ
ル伝送路、５００ａ，５００ａ′は加入者試験装置２０
０ａに接続された試験器、５００ｂ，５００ｂ′は加入
者回線試験装置２００ｂに接続された試験器である。
【００２６】交換機側のＤＬＣ装置（ＤＬＣ(COT)）と
端末側のＤＬＣ装置（ＤＬＣ(RT))は同一の構成になっ
ており、加入者回線毎にチャネル盤（ＣＨ盤）１０１ａ
〜１０１ｎが設けら、又、多重分離部（ＭＵＸ／ＤＭＵ
Ｘ）１０２、インターフェース回路１０３が設けられて
いる。各ＣＨ盤は加入者回線３００ａ〜３００ｎ，３０
０ａ′〜３００ｎ′から入力されるアナログ信号をデジ
タル信号に変換してデジタル伝送側に出力すると共に、
デジタル伝送路側から入力されたデジタル信号をアナロ
グ信号に変換して加入者回線３００ａ〜３００ｎ，３０
０ａ′〜３００ｎ′に送出するようになっている。多重
分離部（ＭＵＸ／ＤＭＵＸ）１０２は多重部、分離部を
備え、多重部は各ＣＨ盤でデジタルに変換されたｎ個の
デジタルデータを時分割多重してデジタル伝送路側に出
力し、分離部はデジタル伝送路側から入力された時分割
多重データを加入者回線毎に分離して各ＣＨ盤に入力す
る。インターフェース１０３は多重部から入力されたユ
ニポラーの時分割多重信号をバイポラーの時分割多重信
号に変換してデジタル伝送路４００に入力すると共に、
その逆の変換をして分離部に入力する。各ＤＬＣ装置に
接続される加入者回線数は通常ｎ＝２４回線であり、２
４回線分のデジタルデータが時分割多重され、伝送速度
１．５Ｍのバイポーラ信号で対向ＤＬＣ装置に送られ
る。尚、フレーム構成は図１９と同一である。
端末側のＤＬＣ装置（ＤＬＣ(RT))は同一の構成になっ
ており、加入者回線毎にチャネル盤（ＣＨ盤）１０１ａ
〜１０１ｎが設けら、又、多重分離部（ＭＵＸ／ＤＭＵ
Ｘ）１０２、インターフェース回路１０３が設けられて
いる。各ＣＨ盤は加入者回線３００ａ〜３００ｎ，３０
０ａ′〜３００ｎ′から入力されるアナログ信号をデジ
タル信号に変換してデジタル伝送側に出力すると共に、
デジタル伝送路側から入力されたデジタル信号をアナロ
グ信号に変換して加入者回線３００ａ〜３００ｎ，３０
０ａ′〜３００ｎ′に送出するようになっている。多重
分離部（ＭＵＸ／ＤＭＵＸ）１０２は多重部、分離部を
備え、多重部は各ＣＨ盤でデジタルに変換されたｎ個の
デジタルデータを時分割多重してデジタル伝送路側に出
力し、分離部はデジタル伝送路側から入力された時分割
多重データを加入者回線毎に分離して各ＣＨ盤に入力す
る。インターフェース１０３は多重部から入力されたユ
ニポラーの時分割多重信号をバイポラーの時分割多重信
号に変換してデジタル伝送路４００に入力すると共に、
その逆の変換をして分離部に入力する。各ＤＬＣ装置に
接続される加入者回線数は通常ｎ＝２４回線であり、２
４回線分のデジタルデータが時分割多重され、伝送速度
１．５Ｍのバイポーラ信号で対向ＤＬＣ装置に送られ
る。尚、フレーム構成は図１９と同一である。
【００２７】(b) ＣＨ盤の構成 図３はＣＨ盤の構成図であり、図２０と同一部分には同
一符号を付し、その詳細な説明は省略する。図２０と異
なる点は、ハードウェア的にはアナログ試験用パス接続
リレー回路ＡＰＴＲ及びデジタルパス試験用パス接続リ
レー回路ＤＰＴＲが設けられている点、ソフトウェア的
には試験時、ＣＰＵが加入者回線試験装置より指示され
た試験パスを接続するように各リレー回路ＡＰＴＲ，Ｄ
ＰＴＲを制御する点である。
一符号を付し、その詳細な説明は省略する。図２０と異
なる点は、ハードウェア的にはアナログ試験用パス接続
リレー回路ＡＰＴＲ及びデジタルパス試験用パス接続リ
レー回路ＤＰＴＲが設けられている点、ソフトウェア的
には試験時、ＣＰＵが加入者回線試験装置より指示され
た試験パスを接続するように各リレー回路ＡＰＴＲ，Ｄ
ＰＴＲを制御する点である。
【００２８】アナログ試験用パス接続リレー回路ＡＰＴ
Ｒ アナログ試験用パス接続リレー回路ＡＰＴＲはリレーＲ
１１〜Ｒ１６を有し、ＣＰＵの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてＣＨ盤側アナログ試験パス用パスCH TEST、
加入者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーＲ１５，Ｒ１６がオン
し、他のリレーはオフしている。 又、TIP/RING線に交換機又は加入者端末が接続されて
いる場合において、交換機側あるいは加入者側のアナロ
グ試験を行なうには、リレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、
リレーＲ１１，Ｒ１２をオンして加入者側アナログ試験
用パスSUB TESTを形成する。かかる状態で、加入者回線
試験装置２００ａ，２００ｂからのアナログ試験信号を
試験パスSUB TESTを介して交換機又は加入者端末に送
り、それらの応答信号を逆ルートで加入者回線試験装置
に返し、測定器で測定して試験を行なう。
Ｒ アナログ試験用パス接続リレー回路ＡＰＴＲはリレーＲ
１１〜Ｒ１６を有し、ＣＰＵの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてＣＨ盤側アナログ試験パス用パスCH TEST、
加入者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーＲ１５，Ｒ１６がオン
し、他のリレーはオフしている。 又、TIP/RING線に交換機又は加入者端末が接続されて
いる場合において、交換機側あるいは加入者側のアナロ
グ試験を行なうには、リレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、
リレーＲ１１，Ｒ１２をオンして加入者側アナログ試験
用パスSUB TESTを形成する。かかる状態で、加入者回線
試験装置２００ａ，２００ｂからのアナログ試験信号を
試験パスSUB TESTを介して交換機又は加入者端末に送
り、それらの応答信号を逆ルートで加入者回線試験装置
に返し、測定器で測定して試験を行なう。
【００２９】更に、ＣＨ盤側のアナログ試験を行なう
場合にはリレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、リレーＲ１
３，Ｒ１４をオンしてＣＨ盤側アナログ試験用パスCH T
ESTを形成する。このとき、デジタル試験用パス接続リ
レー回路ＤＰＴＲにおけるＣＨ盤側デジタル試験パス用
パスNE TESTを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂ
はアナログ試験信号を試験パスCH TESTよりＣＨ盤側の
アナログ回路を介してＣＯＤＥＣに入力する。ＣＯＤＥ
Ｃはアナログ信号をデジタル信号に変換し、該デジタル
信号をＣＨ盤側デジタル試験パス用パスNE TESTを介し
て加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂに戻して試験
を行なう。
場合にはリレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、リレーＲ１
３，Ｒ１４をオンしてＣＨ盤側アナログ試験用パスCH T
ESTを形成する。このとき、デジタル試験用パス接続リ
レー回路ＤＰＴＲにおけるＣＨ盤側デジタル試験パス用
パスNE TESTを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂ
はアナログ試験信号を試験パスCH TESTよりＣＨ盤側の
アナログ回路を介してＣＯＤＥＣに入力する。ＣＯＤＥ
Ｃはアナログ信号をデジタル信号に変換し、該デジタル
信号をＣＨ盤側デジタル試験パス用パスNE TESTを介し
て加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂに戻して試験
を行なう。
【００３０】デジタル試験用パス接続リレー回路ＤＰＴ
Ｒ デジタル試験用パス接続リレー回路ＤＰＴＲはリレーＲ
２１〜Ｒ２６を有し、ＣＰＵの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてＣＨ盤側デジタル試験用パスNE TEST、高次
群側デジタル試験用パスFE TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーＲ２５，Ｒ２６がオン
し、他のリレーはオフしている。 デジタル伝送路側のデジタル試験を行なう場合には、
リレーＲ２５，Ｒ２６をオフし、リレーＲ２３，Ｒ２４
をオンしてデジタル伝送路側のデジタル試験用パスFE T
ESTを形成する。かかる状態で、加入者回線試験装置２
００ａからデジタルの試験信号を試験パスFE TESTを介
してデジタル伝送路側に送って試験を行なう。
Ｒ デジタル試験用パス接続リレー回路ＤＰＴＲはリレーＲ
２１〜Ｒ２６を有し、ＣＰＵの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてＣＨ盤側デジタル試験用パスNE TEST、高次
群側デジタル試験用パスFE TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーＲ２５，Ｒ２６がオン
し、他のリレーはオフしている。 デジタル伝送路側のデジタル試験を行なう場合には、
リレーＲ２５，Ｒ２６をオフし、リレーＲ２３，Ｒ２４
をオンしてデジタル伝送路側のデジタル試験用パスFE T
ESTを形成する。かかる状態で、加入者回線試験装置２
００ａからデジタルの試験信号を試験パスFE TESTを介
してデジタル伝送路側に送って試験を行なう。
【００３１】ＣＨ盤側のデジタル試験を行なう場合に
は、リレーＲ２５，Ｒ２６をオフし、リレーＲ２１，Ｒ
２２をオンしてＣＨ盤側デジタル試験用パスNE TESTを
形成する。この時、アナログ試験用パス接続リレー回路
ＡＰＴＲのリレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、リレーＲ１
３，Ｒ１４をオンしてＣＨ盤側アナログ試験用パスCHTE
STを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂ
はデジタル試験信号を試験パスNE TESTを介してＣＯＤ
ＥＣに入力する。ＣＯＤＥＣはデジタル信号をアナログ
信号に変換し、該アナログ信号をアナログ試験用パスCH
TESTを介して加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂ
に戻して試験を行なう。尚、ＣＯＤＥＣは図１における
符号復号部１１１ａに対応し、又、アナログ試験用パス
接続リレー回路ＡＰＴＲとデジタル試験用パス接続リレ
ー回路ＤＰＴＲを一体にしたものは図１における試験パ
ス生成部１１２ａに対応している。
は、リレーＲ２５，Ｒ２６をオフし、リレーＲ２１，Ｒ
２２をオンしてＣＨ盤側デジタル試験用パスNE TESTを
形成する。この時、アナログ試験用パス接続リレー回路
ＡＰＴＲのリレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、リレーＲ１
３，Ｒ１４をオンしてＣＨ盤側アナログ試験用パスCHTE
STを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂ
はデジタル試験信号を試験パスNE TESTを介してＣＯＤ
ＥＣに入力する。ＣＯＤＥＣはデジタル信号をアナログ
信号に変換し、該アナログ信号をアナログ試験用パスCH
TESTを介して加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂ
に戻して試験を行なう。尚、ＣＯＤＥＣは図１における
符号復号部１１１ａに対応し、又、アナログ試験用パス
接続リレー回路ＡＰＴＲとデジタル試験用パス接続リレ
ー回路ＤＰＴＲを一体にしたものは図１における試験パ
ス生成部１１２ａに対応している。
【００３２】(c) 加入者回線試験装置 図４は加入者回線試験装置の実施例構成図である。２０
１は情報入力部であり、試験する加入者回路（ＣＨ
盤）の識別番号、試験パス（図３におけるアナログ試
験パスCH TEST, SUB TEST , デジタル試験パスNE TES
T， FE TEST)を特定する情報、シグナリングビットを
用いた試験モード（オンフック時の動作試験、発呼時の
動作試験、着呼時の動作試験、通話終了時の動作試験の
別）等を入力する。２０２は特定された加入者回路（Ｃ
Ｈ盤）に対して試験パス特定情報を送出する通信部、２
０３は加入者回線を試験するアナログ試験器５００ａ，
５００ａ′を接続する接続部であり、第１、第２のジャ
ック２０３ａ，２０３ｂを有している。
１は情報入力部であり、試験する加入者回路（ＣＨ
盤）の識別番号、試験パス（図３におけるアナログ試
験パスCH TEST, SUB TEST , デジタル試験パスNE TES
T， FE TEST)を特定する情報、シグナリングビットを
用いた試験モード（オンフック時の動作試験、発呼時の
動作試験、着呼時の動作試験、通話終了時の動作試験の
別）等を入力する。２０２は特定された加入者回路（Ｃ
Ｈ盤）に対して試験パス特定情報を送出する通信部、２
０３は加入者回線を試験するアナログ試験器５００ａ，
５００ａ′を接続する接続部であり、第１、第２のジャ
ック２０３ａ，２０３ｂを有している。
【００３３】２０４は試験器５００ａ，５００ａ′から
の試験信号を特定された加入者回路（ＣＨ盤）の試験パ
スに入力し、試験パスを介して到来する信号を試験器５
００ａあるいは５００ａ′に入力する試験装置側の試験
パス形成部であり、リレー回路で構成されている。２０
５は試験装置全体を制御する制御部、２０６は試験して
いる加入者回路の識別番号、試験状態、受信したシグナ
リングビットの内容を等を表示する表示部である。尚、
シグナリングビットは前述のようにＡ，Ｂ２ビットで構
成されており、”１”はＬＥＤを点灯、”０”は消
灯、”１／０交番”は点滅で表示する。２０７は符号復
号部であり、ジャック２０３ｂを介してアナログ試験器
５００ａ′から入力されたアナログ信号をデジタルに変
換すると共にシグナリングビットを挿入して出力する。
又、試験パス形成部２０４を介して入力されたデジタル
の応答信号よりシグナリングビットを抽出すると共に、
デジタル信号をアナログ信号に変換してアナログ試験器
５００ａ′に入力する。この符号復号部２０７を設ける
ことにより、試験器としてはアナログ試験器を用いるだ
けで良い。
の試験信号を特定された加入者回路（ＣＨ盤）の試験パ
スに入力し、試験パスを介して到来する信号を試験器５
００ａあるいは５００ａ′に入力する試験装置側の試験
パス形成部であり、リレー回路で構成されている。２０
５は試験装置全体を制御する制御部、２０６は試験して
いる加入者回路の識別番号、試験状態、受信したシグナ
リングビットの内容を等を表示する表示部である。尚、
シグナリングビットは前述のようにＡ，Ｂ２ビットで構
成されており、”１”はＬＥＤを点灯、”０”は消
灯、”１／０交番”は点滅で表示する。２０７は符号復
号部であり、ジャック２０３ｂを介してアナログ試験器
５００ａ′から入力されたアナログ信号をデジタルに変
換すると共にシグナリングビットを挿入して出力する。
又、試験パス形成部２０４を介して入力されたデジタル
の応答信号よりシグナリングビットを抽出すると共に、
デジタル信号をアナログ信号に変換してアナログ試験器
５００ａ′に入力する。この符号復号部２０７を設ける
ことにより、試験器としてはアナログ試験器を用いるだ
けで良い。
【００３４】２０８は制御部２０５からの指示に従って
デジタル信号に挿入するシグナリングビットを生成する
シグナリングビット生成部、２０９はシグナリングビッ
トを検出して制御部２０５に入力するシグナリングビッ
ト検出部である。制御部２０５は、情報入力部２０１
から各種情報が入力されると、特定された加入者回路
（ＣＨ盤）に通信部２０２を介して試験要求を送出し、
加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パス
形成部２０４により試験パスを形成させ、ついで、通
信部２０２より試験パス特定情報を加入者回路に送出し
て通信システム側の試験パスを生成させる。又、制御部
２０５はシグナリングビットを用いた動作確認試験モ
ードに基づいてシグナリングビット生成部２０８に所定
のシグナリングビットを生成させ、シグナリングビッ
ト検出部２０９により検出されたシグナリングビットの
内容や試験中の加入者回路番号、試験状態等を表示部に
入力して表示する。
デジタル信号に挿入するシグナリングビットを生成する
シグナリングビット生成部、２０９はシグナリングビッ
トを検出して制御部２０５に入力するシグナリングビッ
ト検出部である。制御部２０５は、情報入力部２０１
から各種情報が入力されると、特定された加入者回路
（ＣＨ盤）に通信部２０２を介して試験要求を送出し、
加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パス
形成部２０４により試験パスを形成させ、ついで、通
信部２０２より試験パス特定情報を加入者回路に送出し
て通信システム側の試験パスを生成させる。又、制御部
２０５はシグナリングビットを用いた動作確認試験モ
ードに基づいてシグナリングビット生成部２０８に所定
のシグナリングビットを生成させ、シグナリングビッ
ト検出部２０９により検出されたシグナリングビットの
内容や試験中の加入者回路番号、試験状態等を表示部に
入力して表示する。
【００３５】図５は本発明の加入者回線試験装置の別の
構成図である。図４の例では試験装置としてアナログ試
験装置を用意するだけで良い。しかし、アナログ試験器
５００ａ、デジタル試験器５００ａ′の両方を用いる場
合には、図５に示すように符号復号部やシグナリングビ
ット生成部、シグナリング検出部は不要になる。
構成図である。図４の例では試験装置としてアナログ試
験装置を用意するだけで良い。しかし、アナログ試験器
５００ａ、デジタル試験器５００ａ′の両方を用いる場
合には、図５に示すように符号復号部やシグナリングビ
ット生成部、シグナリング検出部は不要になる。
【００３６】(d) 全体の試験パス 図６は全体の試験パスの説明図であり、測定器としてア
ナログ測定器５００ａとデジタル測定器５００ａ′を接
続した例である。アナログ測定器５００ａからは２本の
アナログ試験線がジャック２０３ａを介して信号パス形
成部２０４に入力され、デジタル測定器５００ａ′から
は２本のデジタル信号線がジャック２０３ｂを介して信
号パス形成部２０４に入力されている。２本のアナログ
試験線は信号パス形成部２０４において、各ＣＨ盤対応
に設けられたリレー接点ｒｌ1，ｒｌ2（図では１つのＣ
Ｈ盤のリレー接点のみ示す）の共通端子ｃに接続され、
同様に、２本のデジタル試験線は各ＣＨ盤対応に設けら
れたリレー接点ｒｌ3，ｒｌ4（図では１つのＣＨ盤のリ
レー接点のみ示す）の共通端子ｃに接続されている。リ
レー接点ｒｌ1，ｒｌ2のａ端子はＣＨ盤の加入者側アナ
ログ試験用パスSUB TESTに接続され、リレー接点ｒ
ｌ1，ｒｌ2のｂ端子はＣＨ盤側アナログ試験用パスCH T
ESTに接続されている。又、リレー接点ｒｌ3，ｒｌ4の
ａ端子はＣＨ盤側デジタル試験用パスNE TESTに接続さ
れ、リレー接点ｒｌ3，ｒｌ4のｂ端子は高次群側デジタ
ル試験用パスFE TESTに接続されている。
ナログ測定器５００ａとデジタル測定器５００ａ′を接
続した例である。アナログ測定器５００ａからは２本の
アナログ試験線がジャック２０３ａを介して信号パス形
成部２０４に入力され、デジタル測定器５００ａ′から
は２本のデジタル信号線がジャック２０３ｂを介して信
号パス形成部２０４に入力されている。２本のアナログ
試験線は信号パス形成部２０４において、各ＣＨ盤対応
に設けられたリレー接点ｒｌ1，ｒｌ2（図では１つのＣ
Ｈ盤のリレー接点のみ示す）の共通端子ｃに接続され、
同様に、２本のデジタル試験線は各ＣＨ盤対応に設けら
れたリレー接点ｒｌ3，ｒｌ4（図では１つのＣＨ盤のリ
レー接点のみ示す）の共通端子ｃに接続されている。リ
レー接点ｒｌ1，ｒｌ2のａ端子はＣＨ盤の加入者側アナ
ログ試験用パスSUB TESTに接続され、リレー接点ｒ
ｌ1，ｒｌ2のｂ端子はＣＨ盤側アナログ試験用パスCH T
ESTに接続されている。又、リレー接点ｒｌ3，ｒｌ4の
ａ端子はＣＨ盤側デジタル試験用パスNE TESTに接続さ
れ、リレー接点ｒｌ3，ｒｌ4のｂ端子は高次群側デジタ
ル試験用パスFE TESTに接続されている。
【００３７】TIP/RING線に交換機又は加入者端末が接
続されている場合において、情報入力部２０１から交換
機側あるいは加入者側のアナログ試験を行なうための信
号パス特定情報が入力されると、制御部２０５は信号パ
ス形成部２０４のリレー制御回路２０４ａを制御してリ
レー接点ｒｌ1，ｒｌ2をａ端子側に接続する。又、制御
部２０５は通信部２０２を介してＣＨ盤のＣＰＵに信号
パス特定情報を入力し、ＣＰＵの制御でリレーＲ１５，
Ｒ１６をオフし、リレーＲ１１，Ｒ１２をオンして加入
者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。これによ
り、アナログ試験器５００ａからの２本のアナログ信号
線は交換機あるいは加入者端末と接続され、アナログ試
験が可能となる。
続されている場合において、情報入力部２０１から交換
機側あるいは加入者側のアナログ試験を行なうための信
号パス特定情報が入力されると、制御部２０５は信号パ
ス形成部２０４のリレー制御回路２０４ａを制御してリ
レー接点ｒｌ1，ｒｌ2をａ端子側に接続する。又、制御
部２０５は通信部２０２を介してＣＨ盤のＣＰＵに信号
パス特定情報を入力し、ＣＰＵの制御でリレーＲ１５，
Ｒ１６をオフし、リレーＲ１１，Ｒ１２をオンして加入
者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。これによ
り、アナログ試験器５００ａからの２本のアナログ信号
線は交換機あるいは加入者端末と接続され、アナログ試
験が可能となる。
【００３８】又、情報入力部２０１からアナログ回路
側の試験を行なうための信号パス特定情報が入力される
と、制御部２０５は信号パス形成部２０４のリレー制御
回路２０４ａを制御してリレー接点ｒｌ1，ｒｌ2をｂ端
子側に接続すると共に、リレー接点ｒｌ3，ｒｌ4をａ端
子側に接続する。又、制御部２０５は通信部２０２を介
してＣＨ盤のＣＰＵに信号パス特定情報を入力し、該Ｃ
ＰＵの制御でリレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、リレーＲ
１３，Ｒ１４をオンしてＣＨ盤側アナログ試験用パスCH
TESTを形成し、かつ、リレーＲ２５，Ｒ２６をオフ
し、リレーＲ２１，Ｒ２２をオンしてＣＨ盤側デジタル
試験パス用パスNE TESTを形成する。これにより、アナ
ログ試験器５００ａの２本の試験線はアナログ回路ＡＮ
Ｃ（図３の”Ｗ／４Ｗ，ＴＸ ＡＭＰ等）を介してＣＯ
ＤＥＣに入力され、ここでＡＤ変換され、ＡＤ変換によ
り得られたデジタル信号がデジタル測定器５００ａ′に
入力されてアナログ回路側の試験ができるようになる。
尚、上記の経路と逆順にデジタル測定器５００ａ′から
デジタル試験信号を送出してアナログ試験器５００ａに
入力すれば、デジタル試験ができる。
側の試験を行なうための信号パス特定情報が入力される
と、制御部２０５は信号パス形成部２０４のリレー制御
回路２０４ａを制御してリレー接点ｒｌ1，ｒｌ2をｂ端
子側に接続すると共に、リレー接点ｒｌ3，ｒｌ4をａ端
子側に接続する。又、制御部２０５は通信部２０２を介
してＣＨ盤のＣＰＵに信号パス特定情報を入力し、該Ｃ
ＰＵの制御でリレーＲ１５，Ｒ１６をオフし、リレーＲ
１３，Ｒ１４をオンしてＣＨ盤側アナログ試験用パスCH
TESTを形成し、かつ、リレーＲ２５，Ｒ２６をオフ
し、リレーＲ２１，Ｒ２２をオンしてＣＨ盤側デジタル
試験パス用パスNE TESTを形成する。これにより、アナ
ログ試験器５００ａの２本の試験線はアナログ回路ＡＮ
Ｃ（図３の”Ｗ／４Ｗ，ＴＸ ＡＭＰ等）を介してＣＯ
ＤＥＣに入力され、ここでＡＤ変換され、ＡＤ変換によ
り得られたデジタル信号がデジタル測定器５００ａ′に
入力されてアナログ回路側の試験ができるようになる。
尚、上記の経路と逆順にデジタル測定器５００ａ′から
デジタル試験信号を送出してアナログ試験器５００ａに
入力すれば、デジタル試験ができる。
【００３９】更に、情報入力部２０１からデジタル伝
送路側のデジタル試験を行なうための信号パス特定情報
が入力されると、制御部２０５は信号パス形成部２０４
のリレー制御回路２０４ａを制御してリレー接点ｒ
ｌ3，ｒｌ4をｂ端子側に接続する。又、制御部２０５は
通信部２０２を介してＣＨ盤のＣＰＵに信号パス特定情
報を入力し、該ＣＰＵの制御でリレーＲ２５，Ｒ２６を
オフし、リレーＲ２３，Ｒ２４をオンしてデジタル伝送
路側のデジタル試験用パスFE TESTを形成する。かかる
状態で、デジタル試験器５００ａ′からデジタル試験信
号を試験パスFE TESTを介してデジタル伝送路側に送っ
て試験を行なう。尚、加入者回線試験装置が図４の場合
には、ジャック２０３ｂにアナログ試験器を接続し、符
号復号部２０７を信号パス形成部２０４に接続する。
送路側のデジタル試験を行なうための信号パス特定情報
が入力されると、制御部２０５は信号パス形成部２０４
のリレー制御回路２０４ａを制御してリレー接点ｒ
ｌ3，ｒｌ4をｂ端子側に接続する。又、制御部２０５は
通信部２０２を介してＣＨ盤のＣＰＵに信号パス特定情
報を入力し、該ＣＰＵの制御でリレーＲ２５，Ｒ２６を
オフし、リレーＲ２３，Ｒ２４をオンしてデジタル伝送
路側のデジタル試験用パスFE TESTを形成する。かかる
状態で、デジタル試験器５００ａ′からデジタル試験信
号を試験パスFE TESTを介してデジタル伝送路側に送っ
て試験を行なう。尚、加入者回線試験装置が図４の場合
には、ジャック２０３ｂにアナログ試験器を接続し、符
号復号部２０７を信号パス形成部２０４に接続する。
【００４０】(e) 加入者回線試験の概略 図７、図８は加入者回線試験制御の概略を示す流れ図で
ある。情報入力部２０１より試験すべき加入者回路（Ｃ
Ｈ盤）の識別番号、試験パス特定情報（試験方向）等を
入力後に、試験起動を指示すると（ステップ７０１、７
０２）、制御部２０５はこれら情報及び指示を読み取り
（ステップ７０３）、特定されたＣＨ盤に対して通信部
２０２を介して試験起動要求を出す（ステップ７０
４）。ＣＨ盤のＣＰＵは試験起動要求受信時に通信中で
なければ試験可能を示す応答信号を返し、通信中でなけ
れば試験不可能を示す応答信号を返すから、制御部２０
５は該応答信号を通信部２０２を介して受信し、試験可
能か否かを判断する（ステップ７０５）。
ある。情報入力部２０１より試験すべき加入者回路（Ｃ
Ｈ盤）の識別番号、試験パス特定情報（試験方向）等を
入力後に、試験起動を指示すると（ステップ７０１、７
０２）、制御部２０５はこれら情報及び指示を読み取り
（ステップ７０３）、特定されたＣＨ盤に対して通信部
２０２を介して試験起動要求を出す（ステップ７０
４）。ＣＨ盤のＣＰＵは試験起動要求受信時に通信中で
なければ試験可能を示す応答信号を返し、通信中でなけ
れば試験不可能を示す応答信号を返すから、制御部２０
５は該応答信号を通信部２０２を介して受信し、試験可
能か否かを判断する（ステップ７０５）。
【００４１】試験不可能であれば、表示部２０６に試験
不可能を表示する（ステップ７０６）。しかし、試験可
能であれば、試験パス特定データに基づいて試験パス形
成部２０４を制御して試験装置２００側の試験パスを形
成する。又、通信部２０２を介して試験パス特定データ
と共に試験起動をＣＨ盤に送り、試験パスを形成させる
（ステップ７０７）。ＣＨ盤から試験パスの設定後、起
動通知を受けると（ステップ７０８）、制御部２０５は
表示部２０６に試験状態になったことを表示し、つい
で、試験開始を行なう（ステップ ７０９）。以後、試
験が行なわれ、試験が終了すると、情報入力部２０１は
試験解除を指示し（ステップ７１０）、制御部２０５が
該指示を読み取り（ステップ７１１）、通信部２０２よ
りＣＨ盤に対して解除指示を出す（ステップ７１２）。
制御部２０５はＣＨ盤からの解除通知を受けると（ステ
ップ７１３）、試験パス形成部２０４の試験パスを解除
し（リレー接点を初期状態にし）、接続部２０３を試験
パスから切離し、表示部の表示を消灯する（ステップ７
１４）。
不可能を表示する（ステップ７０６）。しかし、試験可
能であれば、試験パス特定データに基づいて試験パス形
成部２０４を制御して試験装置２００側の試験パスを形
成する。又、通信部２０２を介して試験パス特定データ
と共に試験起動をＣＨ盤に送り、試験パスを形成させる
（ステップ７０７）。ＣＨ盤から試験パスの設定後、起
動通知を受けると（ステップ７０８）、制御部２０５は
表示部２０６に試験状態になったことを表示し、つい
で、試験開始を行なう（ステップ ７０９）。以後、試
験が行なわれ、試験が終了すると、情報入力部２０１は
試験解除を指示し（ステップ７１０）、制御部２０５が
該指示を読み取り（ステップ７１１）、通信部２０２よ
りＣＨ盤に対して解除指示を出す（ステップ７１２）。
制御部２０５はＣＨ盤からの解除通知を受けると（ステ
ップ７１３）、試験パス形成部２０４の試験パスを解除
し（リレー接点を初期状態にし）、接続部２０３を試験
パスから切離し、表示部の表示を消灯する（ステップ７
１４）。
【００４２】(f) 加入者回線を試験するのに使用される
主な測定器 測定器としてはアナログ試験用測定器とデジタル試験用
測定器があり、前者には更にアナログ信号特性を測定す
るものと、シグナリング特性を測定するものがある。ア
ナログ信号特性を測定する測定器として市販されている
ものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特性
がある。 ・HP3779D：ヒューレットパッカード社製、IDLEチャネ
ルノイズや周波数応答特性等の測定に使用できる。 ・HP4945A：ヒューレットパッカード社製、Return Loss
やインパルスノイズ等の測定に使用できる。 ・Wilcom T-207：Wilcom社製、Longitudinal Blannceの
測定に使用できる。 シグナリング特性の測定器としては、Wiltron 9361B(Wi
ltron社製)があり、回線の発呼状態、着呼状態を作り出
したり、リンギング信号の出力、ダイヤルパルスの出力
等、疑似的な交換機機能、電話器機能を備えている。
主な測定器 測定器としてはアナログ試験用測定器とデジタル試験用
測定器があり、前者には更にアナログ信号特性を測定す
るものと、シグナリング特性を測定するものがある。ア
ナログ信号特性を測定する測定器として市販されている
ものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特性
がある。 ・HP3779D：ヒューレットパッカード社製、IDLEチャネ
ルノイズや周波数応答特性等の測定に使用できる。 ・HP4945A：ヒューレットパッカード社製、Return Loss
やインパルスノイズ等の測定に使用できる。 ・Wilcom T-207：Wilcom社製、Longitudinal Blannceの
測定に使用できる。 シグナリング特性の測定器としては、Wiltron 9361B(Wi
ltron社製)があり、回線の発呼状態、着呼状態を作り出
したり、リンギング信号の出力、ダイヤルパルスの出力
等、疑似的な交換機機能、電話器機能を備えている。
【００４３】デジタル試験用測定器として市販されてい
るものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特
性がある。 ・MS369B：Anritsu社製、アナログ試験信号を出力して
デジタル信号で受信したり、デジタル試験信号を出力し
てアナログ信号で受信したりすることが可能な測定器で
あり、CH盤のCODECの試験に使用できる。 ・HP3787B：ヒューレットパッカード社製、64Kbit/sの
デジタル信号の入出力が可能で、エラーレート測定、デ
ジタルデータのループバック試験等、一般の電話回線で
はなく、デジタルデータ回線の試験をする場合に使用で
きる。
るものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特
性がある。 ・MS369B：Anritsu社製、アナログ試験信号を出力して
デジタル信号で受信したり、デジタル試験信号を出力し
てアナログ信号で受信したりすることが可能な測定器で
あり、CH盤のCODECの試験に使用できる。 ・HP3787B：ヒューレットパッカード社製、64Kbit/sの
デジタル信号の入出力が可能で、エラーレート測定、デ
ジタルデータのループバック試験等、一般の電話回線で
はなく、デジタルデータ回線の試験をする場合に使用で
きる。
【００４４】(f) 各種試験 交換機と交換機側ＤＬＣ装置DLC(COT)間の敷設試験 図９は交換機と交換機側ＤＬＣ装置DLC(COT)間の敷設試
験説明図である。尚、実際の信号パスの形成については
図６で既に説明済みであるの説明は省略する。交換機側
ＤＬＣ装置１００ａにおけるＣＨ盤１０１ａの加入者回
線アナログ点Ａに試験パス形成部２０４を接続し、ジャ
ック２０３ａにアナログの汎用試験器５００ａを接続す
る。これにより、交換機９０と試験器５００ａ間が接続
されるから、この間に試験信号を流して敷設された回線
の良否を判断することで交換機９０と交換機側ＤＬＣ装
置１００ａ間の敷設確認を行なう。例えば、試験装置５
００ａからアクセスして交換機９０に信号を送り、これ
に対して交換機から応答があれば、接続されているとみ
なし、又、交換機９０からの信号レベルが規定値になっ
ているか調べる。
験説明図である。尚、実際の信号パスの形成については
図６で既に説明済みであるの説明は省略する。交換機側
ＤＬＣ装置１００ａにおけるＣＨ盤１０１ａの加入者回
線アナログ点Ａに試験パス形成部２０４を接続し、ジャ
ック２０３ａにアナログの汎用試験器５００ａを接続す
る。これにより、交換機９０と試験器５００ａ間が接続
されるから、この間に試験信号を流して敷設された回線
の良否を判断することで交換機９０と交換機側ＤＬＣ装
置１００ａ間の敷設確認を行なう。例えば、試験装置５
００ａからアクセスして交換機９０に信号を送り、これ
に対して交換機から応答があれば、接続されているとみ
なし、又、交換機９０からの信号レベルが規定値になっ
ているか調べる。
【００４５】DLC(COT)装置のＣＨ盤の動作確認試験 図１０は交換機側ＤＬＣ装置１００ａにおけるＣＨ盤１
０１ａの動作確認試験説明図である。ＣＨ盤１０１ａの
加入者回線アナログ点Ａとデジタル点Ｄの両方に同時に
試験パス形成部２０４を接続し、ジャック１０３ａにア
ナログの汎用試験器５００ａ、ジャック２０３ｂにデジ
タルの汎用試験器５００ａ′を接続する。これにより、
アナログ試験器とデジタル試験器間がＣＨ盤１０１ａを
介して接続されされたことになり、アナログ試験器５０
０ａよりアナログ試験信号を送出し、該アナログ試験信
号をＡＤ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタル信号
をデジタル試験器５００ａ′で受信することによりＣＨ
盤の動作確認を行なう。又、逆に、デジタル試験器５０
０ａ′よりデジタル試験信号を送出し、該デジタル試験
信号をＤＡ変換し、ＤＡ変換により得られたアナログ信
号をアナログ試験器５００ａ′で受信することによりＣ
Ｈ盤の動作確認を行なう。尚、このＣＨ盤動作確認試験
は同様に端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)についても行なうこ
とができる。
０１ａの動作確認試験説明図である。ＣＨ盤１０１ａの
加入者回線アナログ点Ａとデジタル点Ｄの両方に同時に
試験パス形成部２０４を接続し、ジャック１０３ａにア
ナログの汎用試験器５００ａ、ジャック２０３ｂにデジ
タルの汎用試験器５００ａ′を接続する。これにより、
アナログ試験器とデジタル試験器間がＣＨ盤１０１ａを
介して接続されされたことになり、アナログ試験器５０
０ａよりアナログ試験信号を送出し、該アナログ試験信
号をＡＤ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタル信号
をデジタル試験器５００ａ′で受信することによりＣＨ
盤の動作確認を行なう。又、逆に、デジタル試験器５０
０ａ′よりデジタル試験信号を送出し、該デジタル試験
信号をＤＡ変換し、ＤＡ変換により得られたアナログ信
号をアナログ試験器５００ａ′で受信することによりＣ
Ｈ盤の動作確認を行なう。尚、このＣＨ盤動作確認試験
は同様に端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)についても行なうこ
とができる。
【００４６】交換機と端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)間の
敷設確認試験 図１１は交換機と端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)間の敷設確
認試験の説明図である。 端末側ＤＬＣ装置１００ｂに
おけるＣＨ盤１０１ａの加入者回線アナログ点Ａに試験
パス形成部２０４を接続し、ジャック２０３ａにアナロ
グの汎用試験器５００ｂを接続する。これにより、試験
器５００ｂと交換機９０が接続されるから、この間に試
験信号を流して敷設された回線の良否を判断し、交換機
９０と端末側ＤＬＣ装置１００ｂ間の敷設確認を行な
う。例えば、試験装置２００ｂからアクセスして交換機
９０に信号を送り、これに対して交換機から応答があれ
ば、接続されているとみなし、又、交換機９０からの信
号レベルが規定値になっているか調べる。
敷設確認試験 図１１は交換機と端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)間の敷設確
認試験の説明図である。 端末側ＤＬＣ装置１００ｂに
おけるＣＨ盤１０１ａの加入者回線アナログ点Ａに試験
パス形成部２０４を接続し、ジャック２０３ａにアナロ
グの汎用試験器５００ｂを接続する。これにより、試験
器５００ｂと交換機９０が接続されるから、この間に試
験信号を流して敷設された回線の良否を判断し、交換機
９０と端末側ＤＬＣ装置１００ｂ間の敷設確認を行な
う。例えば、試験装置２００ｂからアクセスして交換機
９０に信号を送り、これに対して交換機から応答があれ
ば、接続されているとみなし、又、交換機９０からの信
号レベルが規定値になっているか調べる。
【００４７】端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)と加入者端末
間の敷設確認試験 図１２は端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)と加入者端末間の敷
設確認試験の説明図である。端末側ＤＬＣ装置１００ｂ
におけるＣＨ盤１０１ａの加入者回線アナログ点Ａに試
験パス形成部２０４を接続し、ジャック２０３ａにアナ
ログの汎用試験器５００ｂを接続する。これにより、加
入者端末９１と試験器５００ｂ間が接続されるから、こ
の間に試験信号を流して敷設された回線の良否を判断す
ることで加入者端末９１と端末側ＤＬＣ装置１００ｂ間
の敷設確認を行なう。例えば、試験装置５００ｂからア
クセスして加入者端末９１に信号を送り、これに対して
加入者端末から応答があれば、接続されているとみな
し、又、加入者端末９１からの信号レベルが規定値にな
っているか調べる。
間の敷設確認試験 図１２は端末側ＤＬＣ装置DLC(RT)と加入者端末間の敷
設確認試験の説明図である。端末側ＤＬＣ装置１００ｂ
におけるＣＨ盤１０１ａの加入者回線アナログ点Ａに試
験パス形成部２０４を接続し、ジャック２０３ａにアナ
ログの汎用試験器５００ｂを接続する。これにより、加
入者端末９１と試験器５００ｂ間が接続されるから、こ
の間に試験信号を流して敷設された回線の良否を判断す
ることで加入者端末９１と端末側ＤＬＣ装置１００ｂ間
の敷設確認を行なう。例えば、試験装置５００ｂからア
クセスして加入者端末９１に信号を送り、これに対して
加入者端末から応答があれば、接続されているとみな
し、又、加入者端末９１からの信号レベルが規定値にな
っているか調べる。
【００４８】 障害切り分け試験 図１３は障害切り分け試験の説明図である。図中、ａ，
ｂ，ｅ，ｆ，ｄは障害切り分けの区間を示す。区間ａ，
ｂ，ｆ，ｄ区間の試験については、既に図９〜図１２で
説明した方法により試験を行なう。区間ｅの敷設試験に
際しては、交換機側ＤＬＣ装置１００ａ，端末側ＤＬＣ
装置１００ｂにおけるＣＨ盤１０１ａ，１０１ａのデジ
タルアクセスＤ点に同時に加入者回線試験装置２００
ａ，２００ｂの試験パス形成部２０４，２０４を接続す
る。又、加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂのジャ
ック２０３ｂ，２０３ｂにそれぞれデジタル試験器５０
０ａ′、５００ｂ′を接続する。これにより、交換機側
及び端末側のデジタル試験装置５００ａ′，５００ｂ′
間がデジタル伝送路４００を介して接続されるから、こ
の間に一方からデジタル信号を送り、他方で該デジタル
信号を受信したかでデジタル伝送路の敷設試験を行なう
ことができる。
ｂ，ｅ，ｆ，ｄは障害切り分けの区間を示す。区間ａ，
ｂ，ｆ，ｄ区間の試験については、既に図９〜図１２で
説明した方法により試験を行なう。区間ｅの敷設試験に
際しては、交換機側ＤＬＣ装置１００ａ，端末側ＤＬＣ
装置１００ｂにおけるＣＨ盤１０１ａ，１０１ａのデジ
タルアクセスＤ点に同時に加入者回線試験装置２００
ａ，２００ｂの試験パス形成部２０４，２０４を接続す
る。又、加入者回線試験装置２００ａ，２００ｂのジャ
ック２０３ｂ，２０３ｂにそれぞれデジタル試験器５０
０ａ′、５００ｂ′を接続する。これにより、交換機側
及び端末側のデジタル試験装置５００ａ′，５００ｂ′
間がデジタル伝送路４００を介して接続されるから、こ
の間に一方からデジタル信号を送り、他方で該デジタル
信号を受信したかでデジタル伝送路の敷設試験を行なう
ことができる。
【００４９】(g) シグナリングビットを用いた試験 シグナリングビットを用いた試験は、試験器を加入者回
線試験装置を介してＣＨ盤のデジタルアクセス点Ｄに接
続し、ついで、試験器から特定のシグナリングビットを
試験信号に挿入し送出し、送信シグナリングビットに対
する応答シグナリングビットを試験器でモニターするこ
とで電話回線が正常であるかどうかを判定することが基
本である。尚、デジタル試験器を使用しない図４の構成
では、制御部２０５が情報入力部２０１から入力された
シグナリングビット試験の種別に基づいてシグナリング
ビット生成部２０８を制御し、該シグナリングビット生
成部より所定のシグナリングビットを発生させ、符号復
号部２０７で該シグナリングビットをデジタル信号に挿
入して送信し、又、シグナリングビット検出部２０９が
応答シグナリングビットを検出して制御部に入力し、表
示部２０６に表示する。以下、オンフック時、発呼時、
着呼時、通話終了時のシグナリングビットを用いた確認
動作を説明する。尚、図１４〜図１７では加入者回線試
験装置を省略している。
線試験装置を介してＣＨ盤のデジタルアクセス点Ｄに接
続し、ついで、試験器から特定のシグナリングビットを
試験信号に挿入し送出し、送信シグナリングビットに対
する応答シグナリングビットを試験器でモニターするこ
とで電話回線が正常であるかどうかを判定することが基
本である。尚、デジタル試験器を使用しない図４の構成
では、制御部２０５が情報入力部２０１から入力された
シグナリングビット試験の種別に基づいてシグナリング
ビット生成部２０８を制御し、該シグナリングビット生
成部より所定のシグナリングビットを発生させ、符号復
号部２０７で該シグナリングビットをデジタル信号に挿
入して送信し、又、シグナリングビット検出部２０９が
応答シグナリングビットを検出して制御部に入力し、表
示部２０６に表示する。以下、オンフック時、発呼時、
着呼時、通話終了時のシグナリングビットを用いた確認
動作を説明する。尚、図１４〜図１７では加入者回線試
験装置を省略している。
【００５０】・オンフック時（加入者が通話していない
状態）の動作確認 図１４はオンフック時（加入者が通話していない状態）
の動作確認試験の説明図である。 電話器９１をオンフック状態にしておく。 かかるオンフック状態において試験器５００ａ′より
ＩＤＬＥコード（１，１）を端末側ＤＬＣ装置のＣＨ盤
(RT)１０１ａに送出する。正常時、端末側ＤＬＣ装置の
ＣＨ盤(RT)１０１ａはＩＤＬＥコードを受信すれば、電
話９１に対してノーマルバッテリー値を印加し、又、交
換機側ＤＬＣ装置のＣＨ盤(COT)１０１ａに対してオン
フックコード（０,０）を送信する。 そこで、試験器５００ａ′では、ＣＨ盤(RT)から送ら
れてくるシグナリングビットをモニターし、オンフック
コードになっているかどうかでオンフック時の動作が正
常であるかを確認する。
状態）の動作確認 図１４はオンフック時（加入者が通話していない状態）
の動作確認試験の説明図である。 電話器９１をオンフック状態にしておく。 かかるオンフック状態において試験器５００ａ′より
ＩＤＬＥコード（１，１）を端末側ＤＬＣ装置のＣＨ盤
(RT)１０１ａに送出する。正常時、端末側ＤＬＣ装置の
ＣＨ盤(RT)１０１ａはＩＤＬＥコードを受信すれば、電
話９１に対してノーマルバッテリー値を印加し、又、交
換機側ＤＬＣ装置のＣＨ盤(COT)１０１ａに対してオン
フックコード（０,０）を送信する。 そこで、試験器５００ａ′では、ＣＨ盤(RT)から送ら
れてくるシグナリングビットをモニターし、オンフック
コードになっているかどうかでオンフック時の動作が正
常であるかを確認する。
【００５１】・発呼時の動作確認 図１５は発呼時の動作確認試験の説明図である。 試験器５００ｂ′より交換機側のＣＨ盤(COT)に対し
てオフフックコード（１，０）を送信する。 交換機側のＣＨ盤(COT)ではオフフックコードを検出
すると、電話器と同じ負荷を交換機９０に見せる。これ
により、バッテリー値が変化し交換機９０はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、ダイヤルパルス発生器５００ｂ″よりダイヤ
ルパルスを送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、ＣＨ盤（COT）はＣＨ
盤（RT）に対してＩＤＬＥコード（１，１）を送出す
る。そこで、試験器５００ｂ′はＣＨ盤（COT）から送
信されるシグナリングビットをモニターし、ＩＤＬＥコ
ードになっているかどうかで発呼時における交換機９０
及びＣＨ盤(COT)の動作が正常であるかを確認できる。
てオフフックコード（１，０）を送信する。 交換機側のＣＨ盤(COT)ではオフフックコードを検出
すると、電話器と同じ負荷を交換機９０に見せる。これ
により、バッテリー値が変化し交換機９０はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、ダイヤルパルス発生器５００ｂ″よりダイヤ
ルパルスを送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、ＣＨ盤（COT）はＣＨ
盤（RT）に対してＩＤＬＥコード（１，１）を送出す
る。そこで、試験器５００ｂ′はＣＨ盤（COT）から送
信されるシグナリングビットをモニターし、ＩＤＬＥコ
ードになっているかどうかで発呼時における交換機９０
及びＣＨ盤(COT)の動作が正常であるかを確認できる。
【００５２】・着呼時の動作確認 図１６は着呼時の動作確認試験の説明図である。 試験器５００ａ′よりＣＨ盤（RT）に対してRINGING
コード(Ａビットは”１”、Ｂビットは”１／０交
番”）を送信する。 ＣＨ盤（RT）はRINGINGコードを検出すると、電話機
９１に対してリンギング信号を送って、呼び出し音を鳴
らす。 送受話器を上げてオフフックすると、バッテリー値が
変化する。 ＣＨ盤（RT）はバッテリー値が変化したことを検出し
てオフフック状態になったことを認識し、ＣＨ盤（CO
T）に対してオフフックコード（１，０）を送信する。
そこで、試験器５００ａ′はＣＨ盤（RT）から送信され
たシグナリングビットをモニターし、オフフックコード
になっているかどうかで着呼時における電話器やＣＨ盤
(RT)の動作が正常であるかを確認できる。
コード(Ａビットは”１”、Ｂビットは”１／０交
番”）を送信する。 ＣＨ盤（RT）はRINGINGコードを検出すると、電話機
９１に対してリンギング信号を送って、呼び出し音を鳴
らす。 送受話器を上げてオフフックすると、バッテリー値が
変化する。 ＣＨ盤（RT）はバッテリー値が変化したことを検出し
てオフフック状態になったことを認識し、ＣＨ盤（CO
T）に対してオフフックコード（１，０）を送信する。
そこで、試験器５００ａ′はＣＨ盤（RT）から送信され
たシグナリングビットをモニターし、オフフックコード
になっているかどうかで着呼時における電話器やＣＨ盤
(RT)の動作が正常であるかを確認できる。
【００５３】・通話終了時の動作確認 図１７は通話終了時の動作確認試験説明図である。 電話器をオフフック状態にしておく。 ついで、電話器をオンフックする。 オンフックになると、バッテリー値がノーマルバッテ
リー値に変化する。ＣＨ盤（RT）はノーマルバッテリー
値を検出すると、ＣＨ盤（COT）に対してオンフックコ
ード（１，０）を送信する。そこで、試験器５００ａ′
はＣＨ盤（RT）から送信されたシグナリングビットをモ
ニターし、オンフックコードになっているかどうかで通
話終了時における電話器やＣＨ盤(RT)の動作が正常であ
るかを確認できる。以上、本発明を実施例により説明し
たが、本発明は請求の範囲に記載した本発明の主旨に従
い種々の変形が可能であり、本発明はこれらを排除する
ものではない。
リー値に変化する。ＣＨ盤（RT）はノーマルバッテリー
値を検出すると、ＣＨ盤（COT）に対してオンフックコ
ード（１，０）を送信する。そこで、試験器５００ａ′
はＣＨ盤（RT）から送信されたシグナリングビットをモ
ニターし、オンフックコードになっているかどうかで通
話終了時における電話器やＣＨ盤(RT)の動作が正常であ
るかを確認できる。以上、本発明を実施例により説明し
たが、本発明は請求の範囲に記載した本発明の主旨に従
い種々の変形が可能であり、本発明はこれらを排除する
ものではない。
【００５４】
【発明の効果】以上本発明によれば、通信システム側の
複数の試験パスのうち指示された試験パスの試験をする
ことができる。又 、 本発明によれば、通信制御装置（DLC
装置）間にケーブルが敷設されていない場合において
も、DLC(COT)装置やDLC(RT)装置において試験が可能
で、このため敷設時から各区間で回線試験行なえ、しか
も、障害切り分けを詳細に行なえ、従って、加入者回線
の障害に対する信頼性を向上できる。又、本発明によれ
ば、試験パスを自動的に形成するため、従来のように試
験対象が代わる毎に試験器の接続を変える必要がなく、
保守作業を容易に行なえるようになった。又、本発明に
よれば、符号復号部、シグナリングビット生成部、シグ
ナリングビット検出部を加入者回線試験装置に組み込む
ことにより、アナログ試験器のみでアナログ及びデジタ
ルの試験ができ、しかも、交換機やＣＨ盤のシグナリン
グビット検出機能や送出機能の試験ができる。
複数の試験パスのうち指示された試験パスの試験をする
ことができる。又 、 本発明によれば、通信制御装置（DLC
装置）間にケーブルが敷設されていない場合において
も、DLC(COT)装置やDLC(RT)装置において試験が可能
で、このため敷設時から各区間で回線試験行なえ、しか
も、障害切り分けを詳細に行なえ、従って、加入者回線
の障害に対する信頼性を向上できる。又、本発明によれ
ば、試験パスを自動的に形成するため、従来のように試
験対象が代わる毎に試験器の接続を変える必要がなく、
保守作業を容易に行なえるようになった。又、本発明に
よれば、符号復号部、シグナリングビット生成部、シグ
ナリングビット検出部を加入者回線試験装置に組み込む
ことにより、アナログ試験器のみでアナログ及びデジタ
ルの試験ができ、しかも、交換機やＣＨ盤のシグナリン
グビット検出機能や送出機能の試験ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】加入者回線試験装置を含む通信システムの全体
構成図である。
構成図である。
【図３】本発明のＣＨ盤の構成図である。
【図４】本発明の加入者回線試験装置の構成図である。
【図５】本発明の加入者回線試験装置の別の構成図であ
る。
る。
【図６】全体の試験パスの説明図である。
【図７】加入者回線試験の概略を示す流れ図（その１）
である。
である。
【図８】加入者回線試験の概略を示す流れ図（その２）
である。
である。
【図９】交換機と交換機側ＤＬＣ装置間の敷設試験説明
図である。
図である。
【図１０】ＤＬＣ装置のＣＨ盤の動作確認試験説明図で
ある。
ある。
【図１１】交換機と端末側ＤＬＣ装置間の敷設試験説明
図である。
図である。
【図１２】端末側ＤＬＣ装置と加入者端末間の敷設確認
試験説明図である。
試験説明図である。
【図１３】障害切り分け試験の説明図である。
【図１４】シグナリングビットを用いたオンフック時の
動作確認試験説明図である。
動作確認試験説明図である。
【図１５】シグナリングビットを用いた発呼時の動作確
認試験説明図である。
認試験説明図である。
【図１６】シグナリングビットを用いた着呼時の動作確
認試験説明図である。
認試験説明図である。
【図１７】シグナリングビットを用いた通話終了時の動
作確認試験説明図である。
作確認試験説明図である。
【図１８】ＤＬＣ装置を用いた通信システムの構成図で
ある。
ある。
【図１９】フレーム構成図である。
【図２０】ＣＨ盤の構成図である。
【図２１】オンフック時の動作説明図である。
【図２２】発呼時の動作説明図である。
【図２３】着呼時の動作説明図である。
【図２４】通話終了時の動作説明図である。
１００・・通信制御装置（ＤＬＣ装置） １０１ａ〜１０１ｎ・・加入者回路（ＣＨ盤） １０２・・多重分離部 １１１ａ〜１１１ｎ・・符号・復号部（ＣＯＤＥＣ） １１２ａ〜１１２ｎ・・試験パス生成部 ２００・・加入者回線試験装置 ２０１・・情報入力部 ２０２・・通信部 ２０３・・接続部 ２０４・・試験パス形成部 ２０５・・制御部 ２０６・・表示部 ３００ａ〜３００ｎ・・加入者回線 ４００・・デジタル伝送路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04M 3/30 H04M 1/24
Claims (11)
- 【請求項１】 複数の加入者回線より入力される各アナ
ログ信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタ
ル信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、デジ
タル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、分
離されたデジタル信号をＤＡ変換して所定の加入者回線
に送出する通信制御装置を備えた通信システムにおける
加入者回線試験装置において、各加入者回線に対応して前記通信制御装置内に設けら
れ、前記ＡＤ変換、ＤＡ変換を行う符号・復号部を有す
る加入者回路内に、通信システム側の複数の試験パスの
うち指示された試験パスを確立する試験パス生成部を備
え 、 更に 、 加入者回路を特定する識別情報と試験パスを特定する情
報を入力する情報入力部と、 該特定された加入者回路内の前記試験パス生成部に前記
試験パス特定情報を送出する通信部と、 加入者回線を試験する試験器と、 該試験器に接続する接続部と、 該試験器からの試験信号を前記接続部を介して前記特定
された加入者回路の試験パスに入力し、該試験パスを介
して戻ってくる信号を該接続部を介して該試験器に入力
するための試験装置側の信号パスを形成する信号パス形
成部、 を備えた加入者回線試験装置 。 - 【請求項２】 前記加入者回線試験装置は更に、 前記通信部を介して前記特定された加入者回路に試験要
求を送出し、加入者回路からの試験許可応答を確認後
に、前記信号パス形成部に信号パスを形成させると共
に、通信部より前記試験パス特定情報を該加入者回路の
試験パス生成部に送出して通信システム側の試験パスを
生成させる制御部、 を備えた請求項１記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項３】 前記加入者回線試験装置は更に、 試験している加入者回路の識別情報、試験状態を表示す
る表示部、 を備えた請求項１又は請求項２記載の加入者回線試験装
置。 - 【請求項４】 前記通信制御装置における各加入者回線
が交換機あるいは各端末に接続されている場合、前記試
験パス特定情報に基づいて加入者回路の試験パス生成部
は、前記信号パス形成部より入力された試験器からのア
ナログの試験信号を加入者回線を介して交換機あるいは
端末に入力し、交換機あるいは端末からの応答信号を加
入者回線を介して前記信号パス形成部に入力するように
通信システム側の試験パスを生成する請求項１記載の加
入者回線試験装置。 - 【請求項５】 前記試験パス特定情報に基づいて加入者
回路の試験パス生成部は、信号パス形成部より入力され
た試験器からのアナログの試験信号を符号・復号部に入
力し、符号・復号部より出力されるデジタル信号を信号
パス形成部を介して試験器に入力し、又、信号パス形成
部より入力された試験器からのデジタルの試験信号を符
号・復号部に入力し、符号・復号部より出力されるアナ
ログ信号を信号パス形成部を介して試験器に入力するよ
うに通信システム側の試験パスを生成する請求項１記載
の加入者回線試験装置。 - 【請求項６】 端末側の通信制御装置と交換機側の通信
制御装置がデジタル伝送路を介して相互にデータ伝送可
能に接続されている場合、一方の通信制御装置のパス生
成部は前記試験パス特定情報に基づいて信号パス形成部
より入力された試験器からのデジタルの試験信号をデジ
タル伝送路に送出し、他方の通信制御装置の試験パス生
成部は試験パス特定情報に基づいてデジタル伝送路より
入力されたデジタルの試験信号を該他方の通信制御装置
の加入者回路試験装置の信号パス形成部を介して試験器
に入力するように試験パスを生成する請求項１記載の加
入者回線試験装置。 - 【請求項７】 端末側の通信制御装置と交換機側の通信
制御装置がデジタル伝送路を介して相互にデータ伝送可
能に接続され、かつ、交換機側の通信制御装置における
各加入者回線が交換機に接続されている場合、端末側の
通信制御装置の試験パス生成部は試験パス特定情報に基
づいて、信号パス形成部より入力された試験器からのア
ナログの試験信号を加入者回路の符号・復号部に入力
し、符号・復号部から出力されるデジタル信号をデジタ
ル伝送路、交換機側の通信制御装置を介して交換機に送
り、交換機側の通信制御装置、デジタル伝送路を介して
受信した交換機からの応答信号を、信号パス形成部を介
して試験器に入力するように試験パスを生成する請求項
１記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項８】 前記接続部は、アナログ試験器を接続す
る接続部と、デジタルの試験器を接続する接続を備え、信号パス 形成部は応答信号がアナログの場合には該応答
信号をアナログ試験器に入力し、応答信号がデジタルの
場合には該応答信号をデジタル試験器に入力するように
試験装置側の試験パスを形成する請求項１記載の加入者
回線試験装置。 - 【請求項９】 複数の加入者回線より入力される各アナ
ログ信号をＡＤ変換し、ＡＤ変換により得られたデジタ
ル信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、デジ
タル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、分
離されたデジタル信号をＤＡ変換して加入者回線に送出
する通信制御装置を備えた通信システムにおける加入者
回線試験装置において、各加入者回線に対応して前記通信制御装置内に設けら
れ、前記ＡＤ変換、ＤＡ変換を行う符号・復号部を有す
る加入者回路内に、通信システム側の複数の試験パスの
うち指示された試験パスを確立する試験パス生成部を備
え 、 更に 、 加入者回路を特定する識別情報と試験パスを特定する情
報を入力する情報入力部と、 該特定された加入者回路内の前記試験パス生成部に前記
試験パス特定情報を送出する通信部と、 加入者回線を試験する第1 、 第2のアナログ試験器と、 第1 、 第2のアナログ試験器がそれぞれ接続された第１、
第２接続部と、 第２の接続部から入力されたアナログの試験信号をデジ
タルに変換すると共に、前記試験パスを介して戻ってく
るデジタルの応答信号をアナログに変換する符号・復号
部と、 第１の接続部から入力されたアナログ試験信号を前記特
定された加入者回路のアナログの試験パスに入力し、
又 、 前記符号・復号部から出力されたデジタルの試験信
号を前記特定された加入者回路のデジタルの試験パスに
入力し、試験パスを介して戻ってくる応答信号がアナロ
グの場合には該応答信号を第１の接続端子を介して第1
のアナログ試験器に入力し、応答信号がデジタルの場合
には該応答信号を前記符号・復号部及び第２の接続部を
介して第2のアナログ試験器に入力するように試験装置
側の信号パスを形成する信号パス形成部、 を備えた加入者回線試験装置 。 - 【請求項１０】 前記アナログ試験信号をデジタルに変
換して得られるデジタル試験信号に挿入するシグナリン
グビットを生成するシグナリングビット生成部と、 デジタルの応答信号に含まれるシグナリングビットを検
出するシグナリングビット検出部と、 試験している加入者回路の識別情報や検出されたシグナ
リングビットの内容を表示する表示部と、前記 情報入力部から指示された、シグナリングビットを
用いた動作確認試験の種別に基づいて前記シグナリング
ビット生成部に所定のシグナリングビットを生成させ、
前記シグナリングビット検出部により検出されたシグナ
リングビットの内容を表示部に入力して表示させる制御
部を有する請求項９記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項１１】 複数の加入者回線より入力される信号
対応のデジタル信号を時分割多重してデジタル伝送路に
送出し、デジタル伝送路から入力された時分割多重信号
を分離し、分離された信号を所定の加入者回線に送出す
る通信制御装置を備えた通信システムにおける加入者回
線試験装置において、 各加入者回線に対応して、通信システム側の複数の試験
パスのうち指示された試験パスを確立する試験パス生成
部を備え 、 更に 、 加入者回線に対応する識別情報と試験パスを特定する情
報を入力する情報入力部と、 該識別情報に対応する加入者回線の前記試験パス生成部
に前記試験パス特定情報を送出する通信部と、 加入者回線を試験する試験器と、 該試験器に接続する接続部と、 該試験器からの試験信号を前記接続部を介して前記特定
された加入者回線の試験パスに入力し、該試験パスを介
して戻ってくる信号を該接続部を介して該試験器に入力
するための試験装置側の信号パスを形成する信号パス形
成部、 を備えた加入者回線試験装置 。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23267693A JP3286418B2 (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 加入者回線試験装置 |
| US08/205,418 US5559854A (en) | 1993-09-20 | 1994-03-03 | Subscriber's line testing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23267693A JP3286418B2 (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 加入者回線試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0795288A JPH0795288A (ja) | 1995-04-07 |
| JP3286418B2 true JP3286418B2 (ja) | 2002-05-27 |
Family
ID=16943052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23267693A Expired - Fee Related JP3286418B2 (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 加入者回線試験装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5559854A (ja) |
| JP (1) | JP3286418B2 (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US5787114A (en) * | 1996-01-17 | 1998-07-28 | Lsi Logic Corporation | Loop-back test system and method |
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| US6208621B1 (en) | 1997-12-16 | 2001-03-27 | Lsi Logic Corporation | Apparatus and method for testing the ability of a pair of serial data transceivers to transmit serial data at one frequency and to receive serial data at another frequency |
| US6341142B2 (en) | 1997-12-16 | 2002-01-22 | Lsi Logic Corporation | Serial data transceiver including elements which facilitate functional testing requiring access to only the serial data ports, and an associated test method |
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| US6201853B1 (en) * | 1999-07-13 | 2001-03-13 | Communications Manufacturing Company | Telephone technician's remote assist apparatus and method |
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Family Cites Families (1)
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|---|---|---|---|---|
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-
1994
- 1994-03-03 US US08/205,418 patent/US5559854A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
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