JPH0795288A - 加入者回線試験装置 - Google Patents
加入者回線試験装置Info
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- JPH0795288A JPH0795288A JP5232676A JP23267693A JPH0795288A JP H0795288 A JPH0795288 A JP H0795288A JP 5232676 A JP5232676 A JP 5232676A JP 23267693 A JP23267693 A JP 23267693A JP H0795288 A JPH0795288 A JP H0795288A
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M1/00—Substation equipment, e.g. for use by subscribers
- H04M1/24—Arrangements for testing
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
- H04M3/30—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 一部加入者回線が敷設されている状態で加入
者回線の試験をおこなえ、しかも、試験する回線毎に試
験器の接続を変える必要がないようにする。 【構成】 試験情報入力部201より加入者回路(C
H盤)の識別番号と試験パスを特定する情報を入力す
る。制御部205は通信部202を介して特定された加
入者回路(101aとする)に試験要求を送出し、加入
者回路101aからの試験許可応答を確認後、試験パス
形成部204により試験パスを形成させると共に、通信
部より試験パス特定情報を加入者回路101aに送出し
て通信システム側の試験パスを生成させる。かかる状態
で、接続部203に接続された試験器より試験信号を試
験パス形成部204を介して加入者回路101aの試験
パスに入力し、該試験パスを介して到来する信号を試験
パス形成部204より試験器に入力して試験を行う。
者回線の試験をおこなえ、しかも、試験する回線毎に試
験器の接続を変える必要がないようにする。 【構成】 試験情報入力部201より加入者回路(C
H盤)の識別番号と試験パスを特定する情報を入力す
る。制御部205は通信部202を介して特定された加
入者回路(101aとする)に試験要求を送出し、加入
者回路101aからの試験許可応答を確認後、試験パス
形成部204により試験パスを形成させると共に、通信
部より試験パス特定情報を加入者回路101aに送出し
て通信システム側の試験パスを生成させる。かかる状態
で、接続部203に接続された試験器より試験信号を試
験パス形成部204を介して加入者回路101aの試験
パスに入力し、該試験パスを介して到来する信号を試験
パス形成部204より試験器に入力して試験を行う。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は加入者回線試験装置に係
わり、特に、DLC装置(Digital Loop Carrier 装置)
に収容された加入者回線を試験する加入者回線試験装置
に関する。
わり、特に、DLC装置(Digital Loop Carrier 装置)
に収容された加入者回線を試験する加入者回線試験装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】少人口の居住地が遠距離を持って点在す
るような地域においては、コスト的に各居住地毎に交換
機を設けることはできない。そこで、1つの町に交換機
を設け、交換機側及び各居住地側それぞれにDLC装置
を設け、居住地側のDLC装置と交換機側のDLC装置
間を時分割多重伝送路で接続する。居住地側のDLC装
置には、一般家庭用電話器、公衆電話器、データ端末等
の複数の加入者端末がアナログの加入者回線(端末側加
入者回線という)を介して接続される。この居住地側の
DLC装置は各端末側加入者回線より入力されるアナロ
グ信号をAD変換し、AD変換により得られたデジタル
信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デ
ジタル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、
分離されたデジタル信号をDA変換して端末側加入者回
線に送出するように構成されている。
るような地域においては、コスト的に各居住地毎に交換
機を設けることはできない。そこで、1つの町に交換機
を設け、交換機側及び各居住地側それぞれにDLC装置
を設け、居住地側のDLC装置と交換機側のDLC装置
間を時分割多重伝送路で接続する。居住地側のDLC装
置には、一般家庭用電話器、公衆電話器、データ端末等
の複数の加入者端末がアナログの加入者回線(端末側加
入者回線という)を介して接続される。この居住地側の
DLC装置は各端末側加入者回線より入力されるアナロ
グ信号をAD変換し、AD変換により得られたデジタル
信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デ
ジタル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、
分離されたデジタル信号をDA変換して端末側加入者回
線に送出するように構成されている。
【0003】又、交換機側のDLC装置は複数のアナロ
グの加入者回線(交換機側加入者回線という)を介して
交換機と接続される。このDLC装置は交換機から各交
換機側加入者回線を介して入力されるアナログ信号をA
D変換し、AD変換により得られたデジタル信号を時分
割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デジタル伝送
路から入力された時分割多重信号を分離し、分離された
デジタル信号をDA変換して交換機側加入者回線に送出
するように構成されている。交換機側加入者回線と端末
側加入者回線は1対1に対応しており、交換機側DLC
装置と端末側DLC装置間を1本のデジタル伝送路で接
続するにも係らず、あたかも加入者端末と交換機間をそ
れぞれ独立に加入者回線で接続したのと機能的に等価に
できる。この結果、交換機設置場所と各居住地間が遠距
離の場合、DLC装置を用いることによりケーブル敷設
費を安くできるメリットがある。
グの加入者回線(交換機側加入者回線という)を介して
交換機と接続される。このDLC装置は交換機から各交
換機側加入者回線を介して入力されるアナログ信号をA
D変換し、AD変換により得られたデジタル信号を時分
割多重してデジタル伝送路に送出し、又、デジタル伝送
路から入力された時分割多重信号を分離し、分離された
デジタル信号をDA変換して交換機側加入者回線に送出
するように構成されている。交換機側加入者回線と端末
側加入者回線は1対1に対応しており、交換機側DLC
装置と端末側DLC装置間を1本のデジタル伝送路で接
続するにも係らず、あたかも加入者端末と交換機間をそ
れぞれ独立に加入者回線で接続したのと機能的に等価に
できる。この結果、交換機設置場所と各居住地間が遠距
離の場合、DLC装置を用いることによりケーブル敷設
費を安くできるメリットがある。
【0004】図18はDLC装置を用いた通信システム
の構成図であり、10は交換機、20は交換機側のDL
C装置、30は各居住地に設けられた端末側のDLC装
置、40は加入者端末、50は時分割多重デジタル伝送
路、60a〜60nは交換機側加入者回線、70a〜7
0nは端末側加入者回線である。交換機側のDLC装置
(DLC(COT):COTはCentral Office Terminalの略)と
端末側のDLC装置(DLC(RT):RTはRemote Termiona
lの略)は同一の構成になっており、加入者回線毎にチャ
ネル盤(CH盤)21a〜21n、31a〜31nが設
けら、又、多重分離部(MUX/DMUX)22,3
2、インターフェース回路23,33が設けられてい
る。各CH盤は加入者回線60a〜60n,70a〜7
0nから入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換
してデジタル伝送側に出力すると共に、デジタル伝送路
側から入力されたデジタル信号をアナログ信号に変換し
て加入者回線60a〜60n,70a〜70nに送出す
るようになっている。
の構成図であり、10は交換機、20は交換機側のDL
C装置、30は各居住地に設けられた端末側のDLC装
置、40は加入者端末、50は時分割多重デジタル伝送
路、60a〜60nは交換機側加入者回線、70a〜7
0nは端末側加入者回線である。交換機側のDLC装置
(DLC(COT):COTはCentral Office Terminalの略)と
端末側のDLC装置(DLC(RT):RTはRemote Termiona
lの略)は同一の構成になっており、加入者回線毎にチャ
ネル盤(CH盤)21a〜21n、31a〜31nが設
けら、又、多重分離部(MUX/DMUX)22,3
2、インターフェース回路23,33が設けられてい
る。各CH盤は加入者回線60a〜60n,70a〜7
0nから入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換
してデジタル伝送側に出力すると共に、デジタル伝送路
側から入力されたデジタル信号をアナログ信号に変換し
て加入者回線60a〜60n,70a〜70nに送出す
るようになっている。
【0005】多重分離部(MUX/DMUX)22,3
2は多重部、分離部を備え、多重部は各CH盤でデジタ
ルに変換されたn個のデジタルデータを時分割多重して
デジタル伝送側に出力し、分離部はデジタル伝送路側か
ら入力された時分割多重データを加入者回線毎に分離し
て各CH盤に入力する。インターフェース23,33は
多重部から入力されたユニポラーの時分割多重信号をバ
イポラーの時分割多重信号に変換してデジタル伝送に入
力すると共に、その逆の変換をして分離部に入力する。
2は多重部、分離部を備え、多重部は各CH盤でデジタ
ルに変換されたn個のデジタルデータを時分割多重して
デジタル伝送側に出力し、分離部はデジタル伝送路側か
ら入力された時分割多重データを加入者回線毎に分離し
て各CH盤に入力する。インターフェース23,33は
多重部から入力されたユニポラーの時分割多重信号をバ
イポラーの時分割多重信号に変換してデジタル伝送に入
力すると共に、その逆の変換をして分離部に入力する。
【0006】各DLC装置に接続される加入者回線数は
通常n(=24回線)であり、24回線分のデジタルデ
ータが時分割多重され、伝送速度1.5Mのバイポーラ
信号で対向DLC装置に送られる。図19はフレーム構
成図であり、24タイムスロットにより1フレームが構
成され、第1〜第24タイムスロット(Time Slot #1〜#
24)に第1〜第24回線(チャンネル)のデジタルデー
タが挿入される。各フレームの先頭にはフレームビット
が置かれ、12フレームで1スーパーフレームが構成さ
れている。各チャンネルのシグナリングビットとしてA
ビットとBビットがあり、Aビットは第6フレームにお
ける各タイムスロットの第8ビット目に、Bビットは第
12フレームにおける各タイムスロットの第8ビット目
に挿入される。(A,B)により、オンフック(0,
0)、オフフック(1,0)、IDLE(1,1)、リ
ンギング(1,1/0交番)等の電話機の状態が通信で
きるようになっている。尚、1/0交番は交互に1、0
となることを意味している。
通常n(=24回線)であり、24回線分のデジタルデ
ータが時分割多重され、伝送速度1.5Mのバイポーラ
信号で対向DLC装置に送られる。図19はフレーム構
成図であり、24タイムスロットにより1フレームが構
成され、第1〜第24タイムスロット(Time Slot #1〜#
24)に第1〜第24回線(チャンネル)のデジタルデー
タが挿入される。各フレームの先頭にはフレームビット
が置かれ、12フレームで1スーパーフレームが構成さ
れている。各チャンネルのシグナリングビットとしてA
ビットとBビットがあり、Aビットは第6フレームにお
ける各タイムスロットの第8ビット目に、Bビットは第
12フレームにおける各タイムスロットの第8ビット目
に挿入される。(A,B)により、オンフック(0,
0)、オフフック(1,0)、IDLE(1,1)、リ
ンギング(1,1/0交番)等の電話機の状態が通信で
きるようになっている。尚、1/0交番は交互に1、0
となることを意味している。
【0007】図20はCH盤の構成図である。TIP,RING
は加入者線で、外線メタリックケーブルと接続されてい
る。すなわち、DLC装置が端末側に設けられる場合に
は加入者端末(主として電話機)と接続され、交換機側
に設けられる場合には交換機と接続される。BATは加
入者装置給電部であり、加入者端末(電話機等の宅内装
置)を駆動させるための電流をTIP/RING線を介して供給
する。ON/OFF HOOK DETはオンフック、オフフック状態
検出部であり、TIP/RING線に流れる電流値を監視するこ
とにより、加入者端末のオンフック、オフフック状態を
検出する。RINGING GENはリンギング信号生成部であ
り、加入者端末のベルを鳴らすためのリンギング制御信
号を生成する。2W/4Wは2線−4線変換部であり、送信
信号と受信信号が全二重になったTIP/RING線を送信側、
受信側個別の4線に変換するもので、変換トランスとバ
ランシング・ネットワークにより構成されている。
は加入者線で、外線メタリックケーブルと接続されてい
る。すなわち、DLC装置が端末側に設けられる場合に
は加入者端末(主として電話機)と接続され、交換機側
に設けられる場合には交換機と接続される。BATは加
入者装置給電部であり、加入者端末(電話機等の宅内装
置)を駆動させるための電流をTIP/RING線を介して供給
する。ON/OFF HOOK DETはオンフック、オフフック状態
検出部であり、TIP/RING線に流れる電流値を監視するこ
とにより、加入者端末のオンフック、オフフック状態を
検出する。RINGING GENはリンギング信号生成部であ
り、加入者端末のベルを鳴らすためのリンギング制御信
号を生成する。2W/4Wは2線−4線変換部であり、送信
信号と受信信号が全二重になったTIP/RING線を送信側、
受信側個別の4線に変換するもので、変換トランスとバ
ランシング・ネットワークにより構成されている。
【0008】TX AMP は送信側アナログ信号レベルを後
述するCODEC のアナログ入力レベル規定値に変換する送
信側制御部、RX AMP はCODEC の出力アナログ信号レベ
ルを加入者端末のアナログ入力レベル規定値に変換する
受信側増幅部、CODECは符号・復号部であり、アナログ信
号とデジタル信号間の変換を行い、又、デジタル信号の
変換時にはシグナリングビットの挿入を行い、アナログ
信号への変換時にはシグナリングビットの抽出を行う。
SIGNALING CONTはCPUの指示に従ったシグナリングビ
ットの生成、CODECで抽出したシグナリングビットのC
PUへの通知を行う。TX/RXは送信側、受信側の一対の
デジタル信号線であり、送信側、受信側個別に24チャ
ンネル分多重されて高次群側とインターフェースされ
る。CPUはCH盤制御用CPUであり、通常時は加入
者端末の状態に対応したシグナリングビットの生成指
示、受信シグナリングビットに応じた加入者端末への制
御信号送出指示等の各種シグナリングビットの処理を行
う。
述するCODEC のアナログ入力レベル規定値に変換する送
信側制御部、RX AMP はCODEC の出力アナログ信号レベ
ルを加入者端末のアナログ入力レベル規定値に変換する
受信側増幅部、CODECは符号・復号部であり、アナログ信
号とデジタル信号間の変換を行い、又、デジタル信号の
変換時にはシグナリングビットの挿入を行い、アナログ
信号への変換時にはシグナリングビットの抽出を行う。
SIGNALING CONTはCPUの指示に従ったシグナリングビ
ットの生成、CODECで抽出したシグナリングビットのC
PUへの通知を行う。TX/RXは送信側、受信側の一対の
デジタル信号線であり、送信側、受信側個別に24チャ
ンネル分多重されて高次群側とインターフェースされ
る。CPUはCH盤制御用CPUであり、通常時は加入
者端末の状態に対応したシグナリングビットの生成指
示、受信シグナリングビットに応じた加入者端末への制
御信号送出指示等の各種シグナリングビットの処理を行
う。
【0009】図21はオンフック時(加入者が通話して
ない状態)の動作説明図である。尚、80は中継器(リ
ピータ)である。 交換機10は給電部よりCH盤(COT)に対してノー
マルバッテリー値(通話してない場合の電流値)を印加
する。 CH盤(COT)21は交換機10よりノーマルバッテ
リーが印加されていることを検出し、IDLEコード
(Aビット、Bビット共に”1”)をCH盤(RT)に対
して送出する。 CH盤(RT)はIDLEコードを検出し、加入者端末
(電話機)40に対してノーマルバッテリー値を印加
し、又、CH盤(COT)21に対してオンフックコード
(Aビット、Bビット共に”0”)を送信する。 オンフック時は上記、、が継続して行われてい
る。
ない状態)の動作説明図である。尚、80は中継器(リ
ピータ)である。 交換機10は給電部よりCH盤(COT)に対してノー
マルバッテリー値(通話してない場合の電流値)を印加
する。 CH盤(COT)21は交換機10よりノーマルバッテ
リーが印加されていることを検出し、IDLEコード
(Aビット、Bビット共に”1”)をCH盤(RT)に対
して送出する。 CH盤(RT)はIDLEコードを検出し、加入者端末
(電話機)40に対してノーマルバッテリー値を印加
し、又、CH盤(COT)21に対してオンフックコード
(Aビット、Bビット共に”0”)を送信する。 オンフック時は上記、、が継続して行われてい
る。
【0010】図22は発呼時の動作説明図である。 オンフック状態において、電話機40の送受話器を上
げると、電話機内の負荷が変化し、バッテリー値が変化
するする。 CH盤(RT)はバッテリー値変化を監視しており、バ
ッテリー値の変化したことを検出してオフフック状態に
なったことを認識し、CH盤(COT)に対してオフフッ
クコード(Aビットは”1”,Bビットは”0”)を送
信する。 CH盤(COT)21はオフフックコードを検出し、電
話機40と同じ負荷を交換機10に対して見せる。これ
によりバッテリー値が変化し、交換機10はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、電話機40よりダイヤルパルスを交換機10
に送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、CH盤(COT)21は
CH盤(RT)31に対してIDLEコード(1,1)を
送出し、通話状態に入る。
げると、電話機内の負荷が変化し、バッテリー値が変化
するする。 CH盤(RT)はバッテリー値変化を監視しており、バ
ッテリー値の変化したことを検出してオフフック状態に
なったことを認識し、CH盤(COT)に対してオフフッ
クコード(Aビットは”1”,Bビットは”0”)を送
信する。 CH盤(COT)21はオフフックコードを検出し、電
話機40と同じ負荷を交換機10に対して見せる。これ
によりバッテリー値が変化し、交換機10はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、電話機40よりダイヤルパルスを交換機10
に送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、CH盤(COT)21は
CH盤(RT)31に対してIDLEコード(1,1)を
送出し、通話状態に入る。
【0011】図23は着呼時の動作説明図である。 オンフック状態において、他の加入者端末から電話機
40を発呼すると、電話機40を収容する交換機10は
CH盤(COT)21に対してリンギング信号を送る。 CH盤(COT)21はリンギング信号を検出後、CH
盤(RT)31に対してRINGINGコード(Aビットは”
1”、Bビットは”1/0交番”)を送信する。 CH盤(RT)31はRINGINGコードを検出すると、電
話機40に対してリンギング信号を送って、呼び出し音
を鳴らす。 呼び出し音により、着呼者が送受話器を上げてオフフ
ックすると、バッテリー値が変化する。
40を発呼すると、電話機40を収容する交換機10は
CH盤(COT)21に対してリンギング信号を送る。 CH盤(COT)21はリンギング信号を検出後、CH
盤(RT)31に対してRINGINGコード(Aビットは”
1”、Bビットは”1/0交番”)を送信する。 CH盤(RT)31はRINGINGコードを検出すると、電
話機40に対してリンギング信号を送って、呼び出し音
を鳴らす。 呼び出し音により、着呼者が送受話器を上げてオフフ
ックすると、バッテリー値が変化する。
【0012】CH盤(RT)31はバッテリー値が変化
したことを検出してオフフック状態になったことを認識
し、CH盤(COT)に対してオフフックコード(1,
0)を送信する。 CH盤(COT)21はオフフックコードを検出する
と、バッテリー値を変化させて交換機10に対して電話
機40がオフフック状態になったことを通知する。 交換機は電話機40がオフフック状態になった通知に
より、リンギング信号の送信を停止する。 CH盤(COT)21はリンギング信号が停止したこと
を認識してCH盤(RT)31に対してIDLEコードを
送信し、通話状態に入る。
したことを検出してオフフック状態になったことを認識
し、CH盤(COT)に対してオフフックコード(1,
0)を送信する。 CH盤(COT)21はオフフックコードを検出する
と、バッテリー値を変化させて交換機10に対して電話
機40がオフフック状態になったことを通知する。 交換機は電話機40がオフフック状態になった通知に
より、リンギング信号の送信を停止する。 CH盤(COT)21はリンギング信号が停止したこと
を認識してCH盤(RT)31に対してIDLEコードを
送信し、通話状態に入る。
【0013】図24は通話終了時の動作説明図である。 通話が終了して、送受話器を置くと(オンフック)、
バッテリー値がノーマルバッテリー値に変化する。 CH盤(RT)31はノーマルバッテリー値を検出する
と、CH盤(COT)21に対してオンフックコード
(1,0)を送信する。 CH盤(COT)21はオンフックコードを検出する
と、交換機に見せる負荷を電話器40がオンフック状態
にある場合の負荷と同じにしてバッテリー値をノーマル
バッテリー値に戻す。これにより、交換機10は通話が
終了したことを認識する。
バッテリー値がノーマルバッテリー値に変化する。 CH盤(RT)31はノーマルバッテリー値を検出する
と、CH盤(COT)21に対してオンフックコード
(1,0)を送信する。 CH盤(COT)21はオンフックコードを検出する
と、交換機に見せる負荷を電話器40がオンフック状態
にある場合の負荷と同じにしてバッテリー値をノーマル
バッテリー値に戻す。これにより、交換機10は通話が
終了したことを認識する。
【0014】以上では、DLC装置1台当たりに接続さ
れる加入者回線数は24回線として説明したが、最も大
きな規模では200回線近くになる。交換機10からの
サービスが既に提供されているDLC装置で回線に障害
が発生すると、1台のDLC装置に何本もの加入者線が
接続されているため、保守作業自体を行うのが非常に困
難になり、しかも、障害箇所を切り分ける作業も大変手
間がかかる。このため、初期故障を防ぎ、レベルダイヤ
調整を行うためにも、DLC装置を敷設している段階か
ら随時各区間毎に試験することが必要になってくる。
れる加入者回線数は24回線として説明したが、最も大
きな規模では200回線近くになる。交換機10からの
サービスが既に提供されているDLC装置で回線に障害
が発生すると、1台のDLC装置に何本もの加入者線が
接続されているため、保守作業自体を行うのが非常に困
難になり、しかも、障害箇所を切り分ける作業も大変手
間がかかる。このため、初期故障を防ぎ、レベルダイヤ
調整を行うためにも、DLC装置を敷設している段階か
ら随時各区間毎に試験することが必要になってくる。
【0015】そこで、DLC装置に収容されている加入
者回線の従来の試験においては、以下の2つの方式があ
る。第1の試験方法は、交換機が直接出力した試験信
号を加入者宅の電話器に代えて接続した測定器で測定す
ることにより、回線状態を把握するものである。第2
の試験方法は、DLC装置に実装される各CH盤にジャ
ックを付け、対向している各CH盤にジャックを介して
測定器を接続し、交換機との接続を外した状態で片方の
CH盤の測定器から試験信号を加入者回線(デジタル伝
送路)に出力し、対向しているCH盤の測定器で試験信
号を測定して回線状態を把握するものである。
者回線の従来の試験においては、以下の2つの方式があ
る。第1の試験方法は、交換機が直接出力した試験信
号を加入者宅の電話器に代えて接続した測定器で測定す
ることにより、回線状態を把握するものである。第2
の試験方法は、DLC装置に実装される各CH盤にジャ
ックを付け、対向している各CH盤にジャックを介して
測定器を接続し、交換機との接続を外した状態で片方の
CH盤の測定器から試験信号を加入者回線(デジタル伝
送路)に出力し、対向しているCH盤の測定器で試験信
号を測定して回線状態を把握するものである。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の試験方
法では、DLC装置間にケーブル(デジタル伝送路)が
敷設されていないと実行できない問題がある。又、ケー
ブルが敷設されて実行できたとしても、加入者回線全体
を通しての良否しか判断できず、回線のどこに障害が発
生しているのか切り分け(障害箇所検出)できない問題
がある。更に、以上に加えて従来の第1の試験方法で
は、試験する回線を変える度に試験器の接続を変える必
要があり、又、第2の試験方法では、対向している両方
のCH盤で測定器の接続を変えなければならず、試験が
非常に面倒となる問題があった。
法では、DLC装置間にケーブル(デジタル伝送路)が
敷設されていないと実行できない問題がある。又、ケー
ブルが敷設されて実行できたとしても、加入者回線全体
を通しての良否しか判断できず、回線のどこに障害が発
生しているのか切り分け(障害箇所検出)できない問題
がある。更に、以上に加えて従来の第1の試験方法で
は、試験する回線を変える度に試験器の接続を変える必
要があり、又、第2の試験方法では、対向している両方
のCH盤で測定器の接続を変えなければならず、試験が
非常に面倒となる問題があった。
【0017】以上から本発明の目的は、片側のDLC装
置が設置された状態において、その時点までに敷設され
ている加入者回線の試験ができる加入者回線試験装置を
提供することである。本発明の別の目的は、加入者回線
を複数の区間に分け、各区間毎に試験することにより、
障害発生箇所を切り分けることができる加入者回線試験
装置を提供することである。本発明の更に別の目的は、
試験する回線毎に試験器の接続を変える必要がなく、保
守者が試験を簡単に行える加入者回線試験装置を提供す
ることである。本発明の他の目的はアナログ試験器のみ
でアナログ試験及びデジタル試験ができる加入者回線試
験装置を提供することである。本発明の更に他の目的
は、交換機やCH盤のシグナリングビット検出機能や送
出機能の試験ができる加入者回線試験装置を提供するこ
とである。
置が設置された状態において、その時点までに敷設され
ている加入者回線の試験ができる加入者回線試験装置を
提供することである。本発明の別の目的は、加入者回線
を複数の区間に分け、各区間毎に試験することにより、
障害発生箇所を切り分けることができる加入者回線試験
装置を提供することである。本発明の更に別の目的は、
試験する回線毎に試験器の接続を変える必要がなく、保
守者が試験を簡単に行える加入者回線試験装置を提供す
ることである。本発明の他の目的はアナログ試験器のみ
でアナログ試験及びデジタル試験ができる加入者回線試
験装置を提供することである。本発明の更に他の目的
は、交換機やCH盤のシグナリングビット検出機能や送
出機能の試験ができる加入者回線試験装置を提供するこ
とである。
【0018】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。100は加入者回線300a〜300nより
入力される各アナログ信号をAD変換し、AD変換によ
り得られたデジタル信号を時分割多重してデジタル伝送
路に送出し、デジタル伝送路400から入力された時分
割多重信号を分離し、分離されたデジタル信号をDA変
換して加入者回線に送出する通信制御装置(DLC装
置)、200は通信制御装置100に収容された加入者
回線を試験する加入者回線試験装置である。通信制御装
置100において、101a〜101nは各加入者回線
300a〜300nに対応して設けられた加入者回路
(CH盤)、102は多重分離部である。加入者回路1
01a〜101nには、AD変換、DA変換を行う符号
・復号部(CODEC)111a〜111nと、通信シ
ステム側の試験パスを確立する試験パス生成部112a
〜112nが設けられている。
図である。100は加入者回線300a〜300nより
入力される各アナログ信号をAD変換し、AD変換によ
り得られたデジタル信号を時分割多重してデジタル伝送
路に送出し、デジタル伝送路400から入力された時分
割多重信号を分離し、分離されたデジタル信号をDA変
換して加入者回線に送出する通信制御装置(DLC装
置)、200は通信制御装置100に収容された加入者
回線を試験する加入者回線試験装置である。通信制御装
置100において、101a〜101nは各加入者回線
300a〜300nに対応して設けられた加入者回路
(CH盤)、102は多重分離部である。加入者回路1
01a〜101nには、AD変換、DA変換を行う符号
・復号部(CODEC)111a〜111nと、通信シ
ステム側の試験パスを確立する試験パス生成部112a
〜112nが設けられている。
【0019】加入者試験装置200において、201は
試験する加入者回路(CH盤)の識別番号と試験パスを
特定する情報を入力する情報入力部、202は特定され
た加入者回路(CH盤)に試験パス特定情報を送出する
通信部、203は加入者回線を試験する試験器を接続す
る接続部、204は試験器からの試験信号を特定された
加入者回路(CH盤)の試験パスに入力し、試験パスを
介して到来する信号を試験器に入力するための試験装置
側の試験パス形成部,205は特定された加入者回路
(CH盤)に通信部202を介して試験要求を送出し、
又、加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パ
ス形成部204により試験パスを形成させ、更には、通
信部より前記試験パス特定情報を加入者回路に送出して
通信システム側の試験パスを生成させる制御部、206
は試験している加入者回路の識別情報、試験状態等を表
示する表示部である。
試験する加入者回路(CH盤)の識別番号と試験パスを
特定する情報を入力する情報入力部、202は特定され
た加入者回路(CH盤)に試験パス特定情報を送出する
通信部、203は加入者回線を試験する試験器を接続す
る接続部、204は試験器からの試験信号を特定された
加入者回路(CH盤)の試験パスに入力し、試験パスを
介して到来する信号を試験器に入力するための試験装置
側の試験パス形成部,205は特定された加入者回路
(CH盤)に通信部202を介して試験要求を送出し、
又、加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パ
ス形成部204により試験パスを形成させ、更には、通
信部より前記試験パス特定情報を加入者回路に送出して
通信システム側の試験パスを生成させる制御部、206
は試験している加入者回路の識別情報、試験状態等を表
示する表示部である。
【0020】
【作用】情報入力部201より加入者回路の識別番号と
試験パスを特定する情報を入力する。制御部205は通
信部202を介して該特定された加入者回路(101a
とする)に試験要求を送出し、加入者回路101aから
の試験許可応答を確認後、試験パス形成部204により
試験パスを形成させる。ついで、通信部202より試験
パス特定情報を加入者回路101aに送出して通信シス
テム側の試験パスを生成させる。かかる状態で、接続部
203に接続された試験器より試験信号を試験パス形成
部204を介して加入者回路101aの試験パスに入力
し、試験パスを介して到来する信号を試験パス形成部2
04より試験器に入力して試験を行う。この際、表示部
に、試験している加入者回路の識別情報、試験状態を表
示する。
試験パスを特定する情報を入力する。制御部205は通
信部202を介して該特定された加入者回路(101a
とする)に試験要求を送出し、加入者回路101aから
の試験許可応答を確認後、試験パス形成部204により
試験パスを形成させる。ついで、通信部202より試験
パス特定情報を加入者回路101aに送出して通信シス
テム側の試験パスを生成させる。かかる状態で、接続部
203に接続された試験器より試験信号を試験パス形成
部204を介して加入者回路101aの試験パスに入力
し、試験パスを介して到来する信号を試験パス形成部2
04より試験器に入力して試験を行う。この際、表示部
に、試験している加入者回路の識別情報、試験状態を表
示する。
【0021】例えば、各加入者回線300a〜300n
が交換機あるいは加入者端末に接続されている場合、試
験パス特定情報に基づいて加入者回路101aの試験パ
ス生成部112a〜112nは、試験パス形成部204
より入力されたアナログの試験信号を加入者回線300
a〜300nを介して交換機あるいは端末に入力し、交
換機あるいは端末からの応答信号を試験パス形成部20
4に入力するように通信システム側の試験パスを生成す
る。又、試験パス特定情報に基づいて試験パス生成部1
12a〜112nは、試験パス形成部204より入力さ
れたアナログの試験信号を符号・復号部111a〜11
1nに入力し、符号・復号部より出力されるデジタル信
号を試験パス形成部204に入力し、又、試験パス形成
部204より入力されたデジタルの試験信号を符号・復
号部111a〜111nに入力し、符号・復号部より出
力されるデジタル信号を試験パス形成部204に入力す
るように通信システム側の試験パスを生成する。
が交換機あるいは加入者端末に接続されている場合、試
験パス特定情報に基づいて加入者回路101aの試験パ
ス生成部112a〜112nは、試験パス形成部204
より入力されたアナログの試験信号を加入者回線300
a〜300nを介して交換機あるいは端末に入力し、交
換機あるいは端末からの応答信号を試験パス形成部20
4に入力するように通信システム側の試験パスを生成す
る。又、試験パス特定情報に基づいて試験パス生成部1
12a〜112nは、試験パス形成部204より入力さ
れたアナログの試験信号を符号・復号部111a〜11
1nに入力し、符号・復号部より出力されるデジタル信
号を試験パス形成部204に入力し、又、試験パス形成
部204より入力されたデジタルの試験信号を符号・復
号部111a〜111nに入力し、符号・復号部より出
力されるデジタル信号を試験パス形成部204に入力す
るように通信システム側の試験パスを生成する。
【0022】更に、端末側の通信制御装置と交換機側の
通信制御装置がデジタル伝送路400を介して相互にデ
ータ伝送可能に接続されている場合、一方の通信制御装
置の試験パス生成部112a〜112nは試験パス特定
情報に基づいて試験パス形成部204より入力されたデ
ジタルの試験信号をデジタル伝送路400に送出し、他
方の通信制御装置のパス生成部は試験パス特定情報に基
づいてデジタル伝送路400より入力されたデジタルの
試験信号をパス形成部に入力するように試験パスを生成
する。
通信制御装置がデジタル伝送路400を介して相互にデ
ータ伝送可能に接続されている場合、一方の通信制御装
置の試験パス生成部112a〜112nは試験パス特定
情報に基づいて試験パス形成部204より入力されたデ
ジタルの試験信号をデジタル伝送路400に送出し、他
方の通信制御装置のパス生成部は試験パス特定情報に基
づいてデジタル伝送路400より入力されたデジタルの
試験信号をパス形成部に入力するように試験パスを生成
する。
【0023】又、端末側の通信制御装置と交換機側の通
信制御装置がデジタル伝送路400を介して相互にデー
タ伝送可能に接続され、かつ、交換機側の通信制御装置
100における各加入者回線が交換機に接続されている
場合、端末側の通信制御装置1のパス生成部112a〜
112nは試験パス特定情報に基づいて、試験パス形成
部204より入力されたアナログの試験信号を符号・復
号部111a〜111nに入力し、符号・復号部から出
力されるデジタル信号をデジタル伝送路400、交換機
側の通信制御装置を介して交換機に送り、交換機側の通
信制御装置、デジタル伝送路400を介して受信した交
換機からの応答信号をAD変換後、パス形成部204に
入力するように試験パスを生成する。以上のようにすれ
ば、片側のDLC装置が設置された状態において、その
時点までに敷設されている加入者回線の試験ができる。
又、加入者回線を複数の区間に分け、各区間毎に試験す
ることにより、障害発生箇所を切り分けることができ
る。更に、試験する回線毎に試験器の接続を変える必要
がなく、保守者が試験を簡単に行うことができる。
信制御装置がデジタル伝送路400を介して相互にデー
タ伝送可能に接続され、かつ、交換機側の通信制御装置
100における各加入者回線が交換機に接続されている
場合、端末側の通信制御装置1のパス生成部112a〜
112nは試験パス特定情報に基づいて、試験パス形成
部204より入力されたアナログの試験信号を符号・復
号部111a〜111nに入力し、符号・復号部から出
力されるデジタル信号をデジタル伝送路400、交換機
側の通信制御装置を介して交換機に送り、交換機側の通
信制御装置、デジタル伝送路400を介して受信した交
換機からの応答信号をAD変換後、パス形成部204に
入力するように試験パスを生成する。以上のようにすれ
ば、片側のDLC装置が設置された状態において、その
時点までに敷設されている加入者回線の試験ができる。
又、加入者回線を複数の区間に分け、各区間毎に試験す
ることにより、障害発生箇所を切り分けることができ
る。更に、試験する回線毎に試験器の接続を変える必要
がなく、保守者が試験を簡単に行うことができる。
【0024】又、加入者回線を試験するアナログ試験器
を接続する第1、第2接続部と、第2の接続部から入力
されたアナログの試験信号をデジタルに変換すると共
に、通信システム側の試験パスを介して到来するデジタ
ルの応答信号をアナログに変換する符号・復号部を設け
れば、アナログ測定器のみでアナログ試験、デジタル試
験の両方を行うことができる。更に、デジタル試験信号
に挿入するシグナリングビットを生成するシグナリング
ビット生成部と、デジタルの応答信号に含まれるシグナ
リングビットを検出するシグナリングビット検出部を設
け、制御部205が情報入力部201から指示された、
シグナリングビットを用いた動作確認試験の種別に基づ
いてシグナリングビット生成部に所定のシグナリングビ
ットを生成させ、応答信号よりシグナリングビット検出
部により検出されたシグナリングビットの内容を表示部
に表示するようにすれば、交換機やCH盤のシグナリン
グビット検出機能やシグナリングビット送出機能を確認
することができる。
を接続する第1、第2接続部と、第2の接続部から入力
されたアナログの試験信号をデジタルに変換すると共
に、通信システム側の試験パスを介して到来するデジタ
ルの応答信号をアナログに変換する符号・復号部を設け
れば、アナログ測定器のみでアナログ試験、デジタル試
験の両方を行うことができる。更に、デジタル試験信号
に挿入するシグナリングビットを生成するシグナリング
ビット生成部と、デジタルの応答信号に含まれるシグナ
リングビットを検出するシグナリングビット検出部を設
け、制御部205が情報入力部201から指示された、
シグナリングビットを用いた動作確認試験の種別に基づ
いてシグナリングビット生成部に所定のシグナリングビ
ットを生成させ、応答信号よりシグナリングビット検出
部により検出されたシグナリングビットの内容を表示部
に表示するようにすれば、交換機やCH盤のシグナリン
グビット検出機能やシグナリングビット送出機能を確認
することができる。
【0025】
【実施例】(a) 全体の構成 図2は本発明の加入者試験装置を含む通信システムの全
体の構成図である。尚、DLC装置は交換機側、端末側
それぞれ1台のみ示している。図中、90は交換機、9
1は加入者端末、100aは交換機側の通信制御装置
(DLC装置:DLC(COT))、100bは端末側の交換機
側の通信制御装置(DLC装置:DLC(RT))、200aは
交換機側のDLC装置100aに接続された加入者回線
試験装置、100bは端末側のDLC装置100bに接
続された加入者試験装置、300a〜300nは交換機
側加入者回線、300a′〜300n′は端末側加入者
回線、400は上下一対のケーブルで構成されたデジタ
ル伝送路、500a,500a′は加入者試験装置20
0aに接続された試験器、500b,500b′は加入
者回線試験装置200bに接続された試験器である。
体の構成図である。尚、DLC装置は交換機側、端末側
それぞれ1台のみ示している。図中、90は交換機、9
1は加入者端末、100aは交換機側の通信制御装置
(DLC装置:DLC(COT))、100bは端末側の交換機
側の通信制御装置(DLC装置:DLC(RT))、200aは
交換機側のDLC装置100aに接続された加入者回線
試験装置、100bは端末側のDLC装置100bに接
続された加入者試験装置、300a〜300nは交換機
側加入者回線、300a′〜300n′は端末側加入者
回線、400は上下一対のケーブルで構成されたデジタ
ル伝送路、500a,500a′は加入者試験装置20
0aに接続された試験器、500b,500b′は加入
者回線試験装置200bに接続された試験器である。
【0026】交換機側のDLC装置(DLC(COT))と
端末側のDLC装置(DLC(RT))は同一の構成になっ
ており、加入者回線毎にチャネル盤(CH盤)101a
〜101nが設けら、又、多重分離部(MUX/DMU
X)102、インターフェース回路103が設けられて
いる。各CH盤は加入者回線300a〜300n,30
0a′〜300n′から入力されるアナログ信号をデジ
タル信号に変換してデジタル伝送側に出力すると共に、
デジタル伝送路側から入力されたデジタル信号をアナロ
グ信号に変換して加入者回線300a〜300n,30
0a′〜300n′に送出するようになっている。多重
分離部(MUX/DMUX)102は多重部、分離部を
備え、多重部は各CH盤でデジタルに変換されたn個の
デジタルデータを時分割多重してデジタル伝送路側に出
力し、分離部はデジタル伝送路側から入力された時分割
多重データを加入者回線毎に分離して各CH盤に入力す
る。インターフェース103は多重部から入力されたユ
ニポラーの時分割多重信号をバイポラーの時分割多重信
号に変換してデジタル伝送路400に入力すると共に、
その逆の変換をして分離部に入力する。各DLC装置に
接続される加入者回線数は通常n=24回線であり、2
4回線分のデジタルデータが時分割多重され、伝送速度
1.5Mのバイポーラ信号で対向DLC装置に送られ
る。尚、フレーム構成は図19と同一である。
端末側のDLC装置(DLC(RT))は同一の構成になっ
ており、加入者回線毎にチャネル盤(CH盤)101a
〜101nが設けら、又、多重分離部(MUX/DMU
X)102、インターフェース回路103が設けられて
いる。各CH盤は加入者回線300a〜300n,30
0a′〜300n′から入力されるアナログ信号をデジ
タル信号に変換してデジタル伝送側に出力すると共に、
デジタル伝送路側から入力されたデジタル信号をアナロ
グ信号に変換して加入者回線300a〜300n,30
0a′〜300n′に送出するようになっている。多重
分離部(MUX/DMUX)102は多重部、分離部を
備え、多重部は各CH盤でデジタルに変換されたn個の
デジタルデータを時分割多重してデジタル伝送路側に出
力し、分離部はデジタル伝送路側から入力された時分割
多重データを加入者回線毎に分離して各CH盤に入力す
る。インターフェース103は多重部から入力されたユ
ニポラーの時分割多重信号をバイポラーの時分割多重信
号に変換してデジタル伝送路400に入力すると共に、
その逆の変換をして分離部に入力する。各DLC装置に
接続される加入者回線数は通常n=24回線であり、2
4回線分のデジタルデータが時分割多重され、伝送速度
1.5Mのバイポーラ信号で対向DLC装置に送られ
る。尚、フレーム構成は図19と同一である。
【0027】(b) CH盤の構成 図3はCH盤の構成図であり、図20と同一部分には同
一符号を付し、その詳細な説明は省略する。図20と異
なる点は、ハードウェア的にはアナログ試験用パス接続
リレー回路APTR及びデジタルパス試験用パス接続リ
レー回路DPTRが設けられている点、ソフトウェア的
には試験時、CPUが加入者回線試験装置より指示され
た試験パスを接続するように各リレー回路APTR,D
PTRを制御する点である。
一符号を付し、その詳細な説明は省略する。図20と異
なる点は、ハードウェア的にはアナログ試験用パス接続
リレー回路APTR及びデジタルパス試験用パス接続リ
レー回路DPTRが設けられている点、ソフトウェア的
には試験時、CPUが加入者回線試験装置より指示され
た試験パスを接続するように各リレー回路APTR,D
PTRを制御する点である。
【0028】アナログ試験用パス接続リレー回路APT
R アナログ試験用パス接続リレー回路APTRはリレーR
11〜R16を有し、CPUの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてCH盤側アナログ試験パス用パスCH TEST、
加入者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーR15,R16がオン
し、他のリレーはオフしている。 又、TIP/RING線に交換機又は加入者端末が接続されて
いる場合において、交換機側あるいは加入者側のアナロ
グ試験を行なうには、リレーR15,R16をオフし、
リレーR11,R12をオンして加入者側アナログ試験
用パスSUB TESTを形成する。かかる状態で、加入者回線
試験装置200a,200bからのアナログ試験信号を
試験パスSUB TESTを介して交換機又は加入者端末に送
り、それらの応答信号を逆ルートで加入者回線試験装置
に返し、測定器で測定して試験を行なう。
R アナログ試験用パス接続リレー回路APTRはリレーR
11〜R16を有し、CPUの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてCH盤側アナログ試験パス用パスCH TEST、
加入者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーR15,R16がオン
し、他のリレーはオフしている。 又、TIP/RING線に交換機又は加入者端末が接続されて
いる場合において、交換機側あるいは加入者側のアナロ
グ試験を行なうには、リレーR15,R16をオフし、
リレーR11,R12をオンして加入者側アナログ試験
用パスSUB TESTを形成する。かかる状態で、加入者回線
試験装置200a,200bからのアナログ試験信号を
試験パスSUB TESTを介して交換機又は加入者端末に送
り、それらの応答信号を逆ルートで加入者回線試験装置
に返し、測定器で測定して試験を行なう。
【0029】更に、CH盤側のアナログ試験を行なう
場合にはリレーR15,R16をオフし、リレーR1
3,R14をオンしてCH盤側アナログ試験用パスCH T
ESTを形成する。このとき、デジタル試験用パス接続リ
レー回路DPTRにおけるCH盤側デジタル試験パス用
パスNE TESTを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置200a,200b
はアナログ試験信号を試験パスCH TESTよりCH盤側の
アナログ回路を介してCODECに入力する。CODE
Cはアナログ信号をデジタル信号に変換し、該デジタル
信号をCH盤側デジタル試験パス用パスNE TESTを介し
て加入者回線試験装置200a,200bに戻して試験
を行なう。
場合にはリレーR15,R16をオフし、リレーR1
3,R14をオンしてCH盤側アナログ試験用パスCH T
ESTを形成する。このとき、デジタル試験用パス接続リ
レー回路DPTRにおけるCH盤側デジタル試験パス用
パスNE TESTを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置200a,200b
はアナログ試験信号を試験パスCH TESTよりCH盤側の
アナログ回路を介してCODECに入力する。CODE
Cはアナログ信号をデジタル信号に変換し、該デジタル
信号をCH盤側デジタル試験パス用パスNE TESTを介し
て加入者回線試験装置200a,200bに戻して試験
を行なう。
【0030】デジタル試験用パス接続リレー回路DPT
R デジタル試験用パス接続リレー回路DPTRはリレーR
21〜R26を有し、CPUの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてCH盤側デジタル試験用パスNE TEST、高次
群側デジタル試験用パスFE TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーR25,R26がオン
し、他のリレーはオフしている。 デジタル伝送路側のデジタル試験を行なう場合には、
リレーR25,R26をオフし、リレーR23,R24
をオンしてデジタル伝送路側のデジタル試験用パスFE T
ESTを形成する。かかる状態で、加入者回線試験装置2
00aからデジタルの試験信号を試験パスFE TESTを介
してデジタル伝送路側に送って試験を行なう。
R デジタル試験用パス接続リレー回路DPTRはリレーR
21〜R26を有し、CPUの制御で適宜のリレーがオ
ン・オフしてCH盤側デジタル試験用パスNE TEST、高次
群側デジタル試験用パスFE TESTを形成する。 試験時でない通常時にはリレーR25,R26がオン
し、他のリレーはオフしている。 デジタル伝送路側のデジタル試験を行なう場合には、
リレーR25,R26をオフし、リレーR23,R24
をオンしてデジタル伝送路側のデジタル試験用パスFE T
ESTを形成する。かかる状態で、加入者回線試験装置2
00aからデジタルの試験信号を試験パスFE TESTを介
してデジタル伝送路側に送って試験を行なう。
【0031】CH盤側のデジタル試験を行なう場合に
は、リレーR25,R26をオフし、リレーR21,R
22をオンしてCH盤側デジタル試験用パスNE TESTを
形成する。この時、アナログ試験用パス接続リレー回路
APTRのリレーR15,R16をオフし、リレーR1
3,R14をオンしてCH盤側アナログ試験用パスCHTE
STを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置200a,200b
はデジタル試験信号を試験パスNE TESTを介してCOD
ECに入力する。CODECはデジタル信号をアナログ
信号に変換し、該アナログ信号をアナログ試験用パスCH
TESTを介して加入者回線試験装置200a,200b
に戻して試験を行なう。尚、CODECは図1における
符号復号部111aに対応し、又、アナログ試験用パス
接続リレー回路APTRとデジタル試験用パス接続リレ
ー回路DPTRを一体にしたものは図1における試験パ
ス生成部112aに対応している。
は、リレーR25,R26をオフし、リレーR21,R
22をオンしてCH盤側デジタル試験用パスNE TESTを
形成する。この時、アナログ試験用パス接続リレー回路
APTRのリレーR15,R16をオフし、リレーR1
3,R14をオンしてCH盤側アナログ試験用パスCHTE
STを形成しておく。 かかる状態で、加入者回線試験装置200a,200b
はデジタル試験信号を試験パスNE TESTを介してCOD
ECに入力する。CODECはデジタル信号をアナログ
信号に変換し、該アナログ信号をアナログ試験用パスCH
TESTを介して加入者回線試験装置200a,200b
に戻して試験を行なう。尚、CODECは図1における
符号復号部111aに対応し、又、アナログ試験用パス
接続リレー回路APTRとデジタル試験用パス接続リレ
ー回路DPTRを一体にしたものは図1における試験パ
ス生成部112aに対応している。
【0032】(c) 加入者回線試験装置 図4は加入者回線試験装置の実施例構成図である。20
1は情報入力部であり、試験する加入者回路(CH
盤)の識別番号、試験パス(図3におけるアナログ試
験パスCH TEST, SUB TEST , デジタル試験パスNE TES
T, FE TEST)を特定する情報、シグナリングビットを
用いた試験モード(オンフック時の動作試験、発呼時の
動作試験、着呼時の動作試験、通話終了時の動作試験の
別)等を入力する。202は特定された加入者回路(C
H盤)に対して試験パス特定情報を送出する通信部、2
03は加入者回線を試験するアナログ試験器500a,
500a′を接続する接続部であり、第1、第2のジャ
ック203a,203bを有している。
1は情報入力部であり、試験する加入者回路(CH
盤)の識別番号、試験パス(図3におけるアナログ試
験パスCH TEST, SUB TEST , デジタル試験パスNE TES
T, FE TEST)を特定する情報、シグナリングビットを
用いた試験モード(オンフック時の動作試験、発呼時の
動作試験、着呼時の動作試験、通話終了時の動作試験の
別)等を入力する。202は特定された加入者回路(C
H盤)に対して試験パス特定情報を送出する通信部、2
03は加入者回線を試験するアナログ試験器500a,
500a′を接続する接続部であり、第1、第2のジャ
ック203a,203bを有している。
【0033】204は試験器500a,500a′から
の試験信号を特定された加入者回路(CH盤)の試験パ
スに入力し、試験パスを介して到来する信号を試験器5
00aあるいは500a′に入力する試験装置側の試験
パス形成部であり、リレー回路で構成されている。20
5は試験装置全体を制御する制御部、206は試験して
いる加入者回路の識別番号、試験状態、受信したシグナ
リングビットの内容を等を表示する表示部である。尚、
シグナリングビットは前述のようにA,B2ビットで構
成されており、”1”はLEDを点灯、”0”は消
灯、”1/0交番”は点滅で表示する。207は符号復
号部であり、ジャック203bを介してアナログ試験器
500a′から入力されたアナログ信号をデジタルに変
換すると共にシグナリングビットを挿入して出力する。
又、試験パス形成部204を介して入力されたデジタル
の応答信号よりシグナリングビットを抽出すると共に、
デジタル信号をアナログ信号に変換してアナログ試験器
500a′に入力する。この符号復号部207を設ける
ことにより、試験器としてはアナログ試験器を用いるだ
けで良い。
の試験信号を特定された加入者回路(CH盤)の試験パ
スに入力し、試験パスを介して到来する信号を試験器5
00aあるいは500a′に入力する試験装置側の試験
パス形成部であり、リレー回路で構成されている。20
5は試験装置全体を制御する制御部、206は試験して
いる加入者回路の識別番号、試験状態、受信したシグナ
リングビットの内容を等を表示する表示部である。尚、
シグナリングビットは前述のようにA,B2ビットで構
成されており、”1”はLEDを点灯、”0”は消
灯、”1/0交番”は点滅で表示する。207は符号復
号部であり、ジャック203bを介してアナログ試験器
500a′から入力されたアナログ信号をデジタルに変
換すると共にシグナリングビットを挿入して出力する。
又、試験パス形成部204を介して入力されたデジタル
の応答信号よりシグナリングビットを抽出すると共に、
デジタル信号をアナログ信号に変換してアナログ試験器
500a′に入力する。この符号復号部207を設ける
ことにより、試験器としてはアナログ試験器を用いるだ
けで良い。
【0034】208は制御部205からの指示に従って
デジタル信号に挿入するシグナリングビットを生成する
シグナリングビット生成部、209はシグナリングビッ
トを検出して制御部205に入力するシグナリングビッ
ト検出部である。制御部205は、情報入力部201
から各種情報が入力されると、特定された加入者回路
(CH盤)に通信部202を介して試験要求を送出し、
加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パス
形成部204により試験パスを形成させ、ついで、通
信部202より試験パス特定情報を加入者回路に送出し
て通信システム側の試験パスを生成させる。又、制御部
205はシグナリングビットを用いた動作確認試験モ
ードに基づいてシグナリングビット生成部208に所定
のシグナリングビットを生成させ、シグナリングビッ
ト検出部209により検出されたシグナリングビットの
内容や試験中の加入者回路番号、試験状態等を表示部に
入力して表示する。
デジタル信号に挿入するシグナリングビットを生成する
シグナリングビット生成部、209はシグナリングビッ
トを検出して制御部205に入力するシグナリングビッ
ト検出部である。制御部205は、情報入力部201
から各種情報が入力されると、特定された加入者回路
(CH盤)に通信部202を介して試験要求を送出し、
加入者回路からの試験許可応答を確認後に、試験パス
形成部204により試験パスを形成させ、ついで、通
信部202より試験パス特定情報を加入者回路に送出し
て通信システム側の試験パスを生成させる。又、制御部
205はシグナリングビットを用いた動作確認試験モ
ードに基づいてシグナリングビット生成部208に所定
のシグナリングビットを生成させ、シグナリングビッ
ト検出部209により検出されたシグナリングビットの
内容や試験中の加入者回路番号、試験状態等を表示部に
入力して表示する。
【0035】図5は本発明の加入者回線試験装置の別の
構成図である。図4の例では試験装置としてアナログ試
験装置を用意するだけで良い。しかし、アナログ試験器
500a、デジタル試験器500a′の両方を用いる場
合には、図5に示すように符号復号部やシグナリングビ
ット生成部、シグナリング検出部は不要になる。
構成図である。図4の例では試験装置としてアナログ試
験装置を用意するだけで良い。しかし、アナログ試験器
500a、デジタル試験器500a′の両方を用いる場
合には、図5に示すように符号復号部やシグナリングビ
ット生成部、シグナリング検出部は不要になる。
【0036】(d) 全体の試験パス 図6は全体の試験パスの説明図であり、測定器としてア
ナログ測定器500aとデジタル測定器500a′を接
続した例である。アナログ測定器500aからは2本の
アナログ試験線がジャック203aを介して信号パス形
成部204に入力され、デジタル測定器500a′から
は2本のデジタル信号線がジャック203bを介して信
号パス形成部204に入力されている。2本のアナログ
試験線は信号パス形成部204において、各CH盤対応
に設けられたリレー接点rl1,rl2(図では1つのC
H盤のリレー接点のみ示す)の共通端子cに接続され、
同様に、2本のデジタル試験線は各CH盤対応に設けら
れたリレー接点rl3,rl4(図では1つのCH盤のリ
レー接点のみ示す)の共通端子cに接続されている。リ
レー接点rl1,rl2のa端子はCH盤の加入者側アナ
ログ試験用パスSUB TESTに接続され、リレー接点r
l1,rl2のb端子はCH盤側アナログ試験用パスCH T
ESTに接続されている。又、リレー接点rl3,rl4の
a端子はCH盤側デジタル試験用パスNE TESTに接続さ
れ、リレー接点rl3,rl4のb端子は高次群側デジタ
ル試験用パスFE TESTに接続されている。
ナログ測定器500aとデジタル測定器500a′を接
続した例である。アナログ測定器500aからは2本の
アナログ試験線がジャック203aを介して信号パス形
成部204に入力され、デジタル測定器500a′から
は2本のデジタル信号線がジャック203bを介して信
号パス形成部204に入力されている。2本のアナログ
試験線は信号パス形成部204において、各CH盤対応
に設けられたリレー接点rl1,rl2(図では1つのC
H盤のリレー接点のみ示す)の共通端子cに接続され、
同様に、2本のデジタル試験線は各CH盤対応に設けら
れたリレー接点rl3,rl4(図では1つのCH盤のリ
レー接点のみ示す)の共通端子cに接続されている。リ
レー接点rl1,rl2のa端子はCH盤の加入者側アナ
ログ試験用パスSUB TESTに接続され、リレー接点r
l1,rl2のb端子はCH盤側アナログ試験用パスCH T
ESTに接続されている。又、リレー接点rl3,rl4の
a端子はCH盤側デジタル試験用パスNE TESTに接続さ
れ、リレー接点rl3,rl4のb端子は高次群側デジタ
ル試験用パスFE TESTに接続されている。
【0037】TIP/RING線に交換機又は加入者端末が接
続されている場合において、情報入力部201から交換
機側あるいは加入者側のアナログ試験を行なうための信
号パス特定情報が入力されると、制御部205は信号パ
ス形成部204のリレー制御回路204aを制御してリ
レー接点rl1,rl2をa端子側に接続する。又、制御
部205は通信部202を介してCH盤のCPUに信号
パス特定情報を入力し、CPUの制御でリレーR15,
R16をオフし、リレーR11,R12をオンして加入
者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。これによ
り、アナログ試験器500aからの2本のアナログ信号
線は交換機あるいは加入者端末と接続され、アナログ試
験が可能となる。
続されている場合において、情報入力部201から交換
機側あるいは加入者側のアナログ試験を行なうための信
号パス特定情報が入力されると、制御部205は信号パ
ス形成部204のリレー制御回路204aを制御してリ
レー接点rl1,rl2をa端子側に接続する。又、制御
部205は通信部202を介してCH盤のCPUに信号
パス特定情報を入力し、CPUの制御でリレーR15,
R16をオフし、リレーR11,R12をオンして加入
者側アナログ試験用パスSUB TESTを形成する。これによ
り、アナログ試験器500aからの2本のアナログ信号
線は交換機あるいは加入者端末と接続され、アナログ試
験が可能となる。
【0038】又、情報入力部201からアナログ回路
側の試験を行なうための信号パス特定情報が入力される
と、制御部205は信号パス形成部204のリレー制御
回路204aを制御してリレー接点rl1,rl2をb端
子側に接続すると共に、リレー接点rl3,rl4をa端
子側に接続する。又、制御部205は通信部202を介
してCH盤のCPUに信号パス特定情報を入力し、該C
PUの制御でリレーR15,R16をオフし、リレーR
13,R14をオンしてCH盤側アナログ試験用パスCH
TESTを形成し、かつ、リレーR25,R26をオフ
し、リレーR21,R22をオンしてCH盤側デジタル
試験パス用パスNE TESTを形成する。これにより、アナ
ログ試験器500aの2本の試験線はアナログ回路AN
C(図3の”W/4W,TX AMP等)を介してCO
DECに入力され、ここでAD変換され、AD変換によ
り得られたデジタル信号がデジタル測定器500a′に
入力されてアナログ回路側の試験ができるようになる。
尚、上記の経路と逆順にデジタル測定器500a′から
デジタル試験信号を送出してアナログ試験器500aに
入力すれば、デジタル試験ができる。
側の試験を行なうための信号パス特定情報が入力される
と、制御部205は信号パス形成部204のリレー制御
回路204aを制御してリレー接点rl1,rl2をb端
子側に接続すると共に、リレー接点rl3,rl4をa端
子側に接続する。又、制御部205は通信部202を介
してCH盤のCPUに信号パス特定情報を入力し、該C
PUの制御でリレーR15,R16をオフし、リレーR
13,R14をオンしてCH盤側アナログ試験用パスCH
TESTを形成し、かつ、リレーR25,R26をオフ
し、リレーR21,R22をオンしてCH盤側デジタル
試験パス用パスNE TESTを形成する。これにより、アナ
ログ試験器500aの2本の試験線はアナログ回路AN
C(図3の”W/4W,TX AMP等)を介してCO
DECに入力され、ここでAD変換され、AD変換によ
り得られたデジタル信号がデジタル測定器500a′に
入力されてアナログ回路側の試験ができるようになる。
尚、上記の経路と逆順にデジタル測定器500a′から
デジタル試験信号を送出してアナログ試験器500aに
入力すれば、デジタル試験ができる。
【0039】更に、情報入力部201からデジタル伝
送路側のデジタル試験を行なうための信号パス特定情報
が入力されると、制御部205は信号パス形成部204
のリレー制御回路204aを制御してリレー接点r
l3,rl4をb端子側に接続する。又、制御部205は
通信部202を介してCH盤のCPUに信号パス特定情
報を入力し、該CPUの制御でリレーR25,R26を
オフし、リレーR23,R24をオンしてデジタル伝送
路側のデジタル試験用パスFE TESTを形成する。かかる
状態で、デジタル試験器500a′からデジタル試験信
号を試験パスFE TESTを介してデジタル伝送路側に送っ
て試験を行なう。尚、加入者回線試験装置が図4の場合
には、ジャック203bにアナログ試験器を接続し、符
号復号部207を信号パス形成部204に接続する。
送路側のデジタル試験を行なうための信号パス特定情報
が入力されると、制御部205は信号パス形成部204
のリレー制御回路204aを制御してリレー接点r
l3,rl4をb端子側に接続する。又、制御部205は
通信部202を介してCH盤のCPUに信号パス特定情
報を入力し、該CPUの制御でリレーR25,R26を
オフし、リレーR23,R24をオンしてデジタル伝送
路側のデジタル試験用パスFE TESTを形成する。かかる
状態で、デジタル試験器500a′からデジタル試験信
号を試験パスFE TESTを介してデジタル伝送路側に送っ
て試験を行なう。尚、加入者回線試験装置が図4の場合
には、ジャック203bにアナログ試験器を接続し、符
号復号部207を信号パス形成部204に接続する。
【0040】(e) 加入者回線試験の概略 図7、図8は加入者回線試験制御の概略を示す流れ図で
ある。情報入力部201より試験すべき加入者回路(C
H盤)の識別番号、試験パス特定情報(試験方向)等を
入力後に、試験起動を指示すると(ステップ701、7
02)、制御部205はこれら情報及び指示を読み取り
(ステップ703)、特定されたCH盤に対して通信部
202を介して試験起動要求を出す(ステップ70
4)。CH盤のCPUは試験起動要求受信時に通信中で
なければ試験可能を示す応答信号を返し、通信中でなけ
れば試験不可能を示す応答信号を返すから、制御部20
5は該応答信号を通信部202を介して受信し、試験可
能か否かを判断する(ステップ705)。
ある。情報入力部201より試験すべき加入者回路(C
H盤)の識別番号、試験パス特定情報(試験方向)等を
入力後に、試験起動を指示すると(ステップ701、7
02)、制御部205はこれら情報及び指示を読み取り
(ステップ703)、特定されたCH盤に対して通信部
202を介して試験起動要求を出す(ステップ70
4)。CH盤のCPUは試験起動要求受信時に通信中で
なければ試験可能を示す応答信号を返し、通信中でなけ
れば試験不可能を示す応答信号を返すから、制御部20
5は該応答信号を通信部202を介して受信し、試験可
能か否かを判断する(ステップ705)。
【0041】試験不可能であれば、表示部206に試験
不可能を表示する(ステップ706)。しかし、試験可
能であれば、試験パス特定データに基づいて試験パス形
成部204を制御して試験装置200側の試験パスを形
成する。又、通信部202を介して試験パス特定データ
と共に試験起動をCH盤に送り、試験パスを形成させる
(ステップ707)。CH盤から試験パスの設定後、起
動通知を受けると(ステップ708)、制御部205は
表示部206に試験状態になったことを表示し、つい
で、試験開始を行なう(ステップ 709)。以後、試
験が行なわれ、試験が終了すると、情報入力部201は
試験解除を指示し(ステップ710)、制御部205が
該指示を読み取り(ステップ711)、通信部202よ
りCH盤に対して解除指示を出す(ステップ712)。
制御部205はCH盤からの解除通知を受けると(ステ
ップ713)、試験パス形成部204の試験パスを解除
し(リレー接点を初期状態にし)、接続部203を試験
パスから切離し、表示部の表示を消灯する(ステップ7
14)。
不可能を表示する(ステップ706)。しかし、試験可
能であれば、試験パス特定データに基づいて試験パス形
成部204を制御して試験装置200側の試験パスを形
成する。又、通信部202を介して試験パス特定データ
と共に試験起動をCH盤に送り、試験パスを形成させる
(ステップ707)。CH盤から試験パスの設定後、起
動通知を受けると(ステップ708)、制御部205は
表示部206に試験状態になったことを表示し、つい
で、試験開始を行なう(ステップ 709)。以後、試
験が行なわれ、試験が終了すると、情報入力部201は
試験解除を指示し(ステップ710)、制御部205が
該指示を読み取り(ステップ711)、通信部202よ
りCH盤に対して解除指示を出す(ステップ712)。
制御部205はCH盤からの解除通知を受けると(ステ
ップ713)、試験パス形成部204の試験パスを解除
し(リレー接点を初期状態にし)、接続部203を試験
パスから切離し、表示部の表示を消灯する(ステップ7
14)。
【0042】(f) 加入者回線を試験するのに使用される
主な測定器 測定器としてはアナログ試験用測定器とデジタル試験用
測定器があり、前者には更にアナログ信号特性を測定す
るものと、シグナリング特性を測定するものがある。ア
ナログ信号特性を測定する測定器として市販されている
ものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特性
がある。 ・HP3779D:ヒューレットパッカード社製、IDLEチャネ
ルノイズや周波数応答特性等の測定に使用できる。 ・HP4945A:ヒューレットパッカード社製、Return Loss
やインパルスノイズ等の測定に使用できる。 ・Wilcom T-207:Wilcom社製、Longitudinal Blannceの
測定に使用できる。 シグナリング特性の測定器としては、Wiltron 9361B(Wi
ltron社製)があり、回線の発呼状態、着呼状態を作り出
したり、リンギング信号の出力、ダイヤルパルスの出力
等、疑似的な交換機機能、電話器機能を備えている。
主な測定器 測定器としてはアナログ試験用測定器とデジタル試験用
測定器があり、前者には更にアナログ信号特性を測定す
るものと、シグナリング特性を測定するものがある。ア
ナログ信号特性を測定する測定器として市販されている
ものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特性
がある。 ・HP3779D:ヒューレットパッカード社製、IDLEチャネ
ルノイズや周波数応答特性等の測定に使用できる。 ・HP4945A:ヒューレットパッカード社製、Return Loss
やインパルスノイズ等の測定に使用できる。 ・Wilcom T-207:Wilcom社製、Longitudinal Blannceの
測定に使用できる。 シグナリング特性の測定器としては、Wiltron 9361B(Wi
ltron社製)があり、回線の発呼状態、着呼状態を作り出
したり、リンギング信号の出力、ダイヤルパルスの出力
等、疑似的な交換機機能、電話器機能を備えている。
【0043】デジタル試験用測定器として市販されてい
るものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特
性がある。 ・MS369B:Anritsu社製、アナログ試験信号を出力して
デジタル信号で受信したり、デジタル試験信号を出力し
てアナログ信号で受信したりすることが可能な測定器で
あり、CH盤のCODECの試験に使用できる。 ・HP3787B:ヒューレットパッカード社製、64Kbit/sの
デジタル信号の入出力が可能で、エラーレート測定、デ
ジタルデータのループバック試験等、一般の電話回線で
はなく、デジタルデータ回線の試験をする場合に使用で
きる。
るものには以下のものがあり、それぞれ付記のような特
性がある。 ・MS369B:Anritsu社製、アナログ試験信号を出力して
デジタル信号で受信したり、デジタル試験信号を出力し
てアナログ信号で受信したりすることが可能な測定器で
あり、CH盤のCODECの試験に使用できる。 ・HP3787B:ヒューレットパッカード社製、64Kbit/sの
デジタル信号の入出力が可能で、エラーレート測定、デ
ジタルデータのループバック試験等、一般の電話回線で
はなく、デジタルデータ回線の試験をする場合に使用で
きる。
【0044】(f) 各種試験 交換機と交換機側DLC装置DLC(COT)間の敷設試験 図9は交換機と交換機側DLC装置DLC(COT)間の敷設試
験説明図である。尚、実際の信号パスの形成については
図6で既に説明済みであるの説明は省略する。交換機側
DLC装置100aにおけるCH盤101aの加入者回
線アナログ点Aに試験パス形成部204を接続し、ジャ
ック203aにアナログの汎用試験器500aを接続す
る。これにより、交換機90と試験器500a間が接続
されるから、この間に試験信号を流して敷設された回線
の良否を判断することで交換機90と交換機側DLC装
置100a間の敷設確認を行なう。例えば、試験装置5
00aからアクセスして交換機90に信号を送り、これ
に対して交換機から応答があれば、接続されているとみ
なし、又、交換機90からの信号レベルが規定値になっ
ているか調べる。
験説明図である。尚、実際の信号パスの形成については
図6で既に説明済みであるの説明は省略する。交換機側
DLC装置100aにおけるCH盤101aの加入者回
線アナログ点Aに試験パス形成部204を接続し、ジャ
ック203aにアナログの汎用試験器500aを接続す
る。これにより、交換機90と試験器500a間が接続
されるから、この間に試験信号を流して敷設された回線
の良否を判断することで交換機90と交換機側DLC装
置100a間の敷設確認を行なう。例えば、試験装置5
00aからアクセスして交換機90に信号を送り、これ
に対して交換機から応答があれば、接続されているとみ
なし、又、交換機90からの信号レベルが規定値になっ
ているか調べる。
【0045】DLC(COT)装置のCH盤の動作確認試験 図10は交換機側DLC装置100aにおけるCH盤1
01aの動作確認試験説明図である。CH盤101aの
加入者回線アナログ点Aとデジタル点Dの両方に同時に
試験パス形成部204を接続し、ジャック103aにア
ナログの汎用試験器500a、ジャック203bにデジ
タルの汎用試験器500a′を接続する。これにより、
アナログ試験器とデジタル試験器間がCH盤101aを
介して接続されされたことになり、アナログ試験器50
0aよりアナログ試験信号を送出し、該アナログ試験信
号をAD変換し、AD変換により得られたデジタル信号
をデジタル試験器500a′で受信することによりCH
盤の動作確認を行なう。又、逆に、デジタル試験器50
0a′よりデジタル試験信号を送出し、該デジタル試験
信号をDA変換し、DA変換により得られたアナログ信
号をアナログ試験器500a′で受信することによりC
H盤の動作確認を行なう。尚、このCH盤動作確認試験
は同様に端末側DLC装置DLC(RT)についても行なうこ
とができる。
01aの動作確認試験説明図である。CH盤101aの
加入者回線アナログ点Aとデジタル点Dの両方に同時に
試験パス形成部204を接続し、ジャック103aにア
ナログの汎用試験器500a、ジャック203bにデジ
タルの汎用試験器500a′を接続する。これにより、
アナログ試験器とデジタル試験器間がCH盤101aを
介して接続されされたことになり、アナログ試験器50
0aよりアナログ試験信号を送出し、該アナログ試験信
号をAD変換し、AD変換により得られたデジタル信号
をデジタル試験器500a′で受信することによりCH
盤の動作確認を行なう。又、逆に、デジタル試験器50
0a′よりデジタル試験信号を送出し、該デジタル試験
信号をDA変換し、DA変換により得られたアナログ信
号をアナログ試験器500a′で受信することによりC
H盤の動作確認を行なう。尚、このCH盤動作確認試験
は同様に端末側DLC装置DLC(RT)についても行なうこ
とができる。
【0046】交換機と端末側DLC装置DLC(RT)間の
敷設確認試験 図11は交換機と端末側DLC装置DLC(RT)間の敷設確
認試験の説明図である。 端末側DLC装置100bに
おけるCH盤101aの加入者回線アナログ点Aに試験
パス形成部204を接続し、ジャック203aにアナロ
グの汎用試験器500bを接続する。これにより、試験
器500bと交換機90が接続されるから、この間に試
験信号を流して敷設された回線の良否を判断し、交換機
90と端末側DLC装置100b間の敷設確認を行な
う。例えば、試験装置200bからアクセスして交換機
90に信号を送り、これに対して交換機から応答があれ
ば、接続されているとみなし、又、交換機90からの信
号レベルが規定値になっているか調べる。
敷設確認試験 図11は交換機と端末側DLC装置DLC(RT)間の敷設確
認試験の説明図である。 端末側DLC装置100bに
おけるCH盤101aの加入者回線アナログ点Aに試験
パス形成部204を接続し、ジャック203aにアナロ
グの汎用試験器500bを接続する。これにより、試験
器500bと交換機90が接続されるから、この間に試
験信号を流して敷設された回線の良否を判断し、交換機
90と端末側DLC装置100b間の敷設確認を行な
う。例えば、試験装置200bからアクセスして交換機
90に信号を送り、これに対して交換機から応答があれ
ば、接続されているとみなし、又、交換機90からの信
号レベルが規定値になっているか調べる。
【0047】端末側DLC装置DLC(RT)と加入者端末
間の敷設確認試験 図12は端末側DLC装置DLC(RT)と加入者端末間の敷
設確認試験の説明図である。端末側DLC装置100b
におけるCH盤101aの加入者回線アナログ点Aに試
験パス形成部204を接続し、ジャック203aにアナ
ログの汎用試験器500bを接続する。これにより、加
入者端末91と試験器500b間が接続されるから、こ
の間に試験信号を流して敷設された回線の良否を判断す
ることで加入者端末91と端末側DLC装置100b間
の敷設確認を行なう。例えば、試験装置500bからア
クセスして加入者端末91に信号を送り、これに対して
加入者端末から応答があれば、接続されているとみな
し、又、加入者端末91からの信号レベルが規定値にな
っているか調べる。
間の敷設確認試験 図12は端末側DLC装置DLC(RT)と加入者端末間の敷
設確認試験の説明図である。端末側DLC装置100b
におけるCH盤101aの加入者回線アナログ点Aに試
験パス形成部204を接続し、ジャック203aにアナ
ログの汎用試験器500bを接続する。これにより、加
入者端末91と試験器500b間が接続されるから、こ
の間に試験信号を流して敷設された回線の良否を判断す
ることで加入者端末91と端末側DLC装置100b間
の敷設確認を行なう。例えば、試験装置500bからア
クセスして加入者端末91に信号を送り、これに対して
加入者端末から応答があれば、接続されているとみな
し、又、加入者端末91からの信号レベルが規定値にな
っているか調べる。
【0048】 障害切り分け試験 図13は障害切り分け試験の説明図である。図中、a,
b,e,f,dは障害切り分けの区間を示す。区間a,
b,f,d区間の試験については、既に図9〜図12で
説明した方法により試験を行なう。区間eの敷設試験に
際しては、交換機側DLC装置100a,端末側DLC
装置100bにおけるCH盤101a,101aのデジ
タルアクセスD点に同時に加入者回線試験装置200
a,200bの試験パス形成部204,204を接続す
る。又、加入者回線試験装置200a,200bのジャ
ック203b,203bにそれぞれデジタル試験器50
0a′、500b′を接続する。これにより、交換機側
及び端末側のデジタル試験装置500a′,500b′
間がデジタル伝送路400を介して接続されるから、こ
の間に一方からデジタル信号を送り、他方で該デジタル
信号を受信したかでデジタル伝送路の敷設試験を行なう
ことができる。
b,e,f,dは障害切り分けの区間を示す。区間a,
b,f,d区間の試験については、既に図9〜図12で
説明した方法により試験を行なう。区間eの敷設試験に
際しては、交換機側DLC装置100a,端末側DLC
装置100bにおけるCH盤101a,101aのデジ
タルアクセスD点に同時に加入者回線試験装置200
a,200bの試験パス形成部204,204を接続す
る。又、加入者回線試験装置200a,200bのジャ
ック203b,203bにそれぞれデジタル試験器50
0a′、500b′を接続する。これにより、交換機側
及び端末側のデジタル試験装置500a′,500b′
間がデジタル伝送路400を介して接続されるから、こ
の間に一方からデジタル信号を送り、他方で該デジタル
信号を受信したかでデジタル伝送路の敷設試験を行なう
ことができる。
【0049】(g) シグナリングビットを用いた試験 シグナリングビットを用いた試験は、試験器を加入者回
線試験装置を介してCH盤のデジタルアクセス点Dに接
続し、ついで、試験器から特定のシグナリングビットを
試験信号に挿入し送出し、送信シグナリングビットに対
する応答シグナリングビットを試験器でモニターするこ
とで電話回線が正常であるかどうかを判定することが基
本である。尚、デジタル試験器を使用しない図4の構成
では、制御部205が情報入力部201から入力された
シグナリングビット試験の種別に基づいてシグナリング
ビット生成部208を制御し、該シグナリングビット生
成部より所定のシグナリングビットを発生させ、符号復
号部207で該シグナリングビットをデジタル信号に挿
入して送信し、又、シグナリングビット検出部209が
応答シグナリングビットを検出して制御部に入力し、表
示部206に表示する。以下、オンフック時、発呼時、
着呼時、通話終了時のシグナリングビットを用いた確認
動作を説明する。尚、図14〜図17では加入者回線試
験装置を省略している。
線試験装置を介してCH盤のデジタルアクセス点Dに接
続し、ついで、試験器から特定のシグナリングビットを
試験信号に挿入し送出し、送信シグナリングビットに対
する応答シグナリングビットを試験器でモニターするこ
とで電話回線が正常であるかどうかを判定することが基
本である。尚、デジタル試験器を使用しない図4の構成
では、制御部205が情報入力部201から入力された
シグナリングビット試験の種別に基づいてシグナリング
ビット生成部208を制御し、該シグナリングビット生
成部より所定のシグナリングビットを発生させ、符号復
号部207で該シグナリングビットをデジタル信号に挿
入して送信し、又、シグナリングビット検出部209が
応答シグナリングビットを検出して制御部に入力し、表
示部206に表示する。以下、オンフック時、発呼時、
着呼時、通話終了時のシグナリングビットを用いた確認
動作を説明する。尚、図14〜図17では加入者回線試
験装置を省略している。
【0050】・オンフック時(加入者が通話していない
状態)の動作確認 図14はオンフック時(加入者が通話していない状態)
の動作確認試験の説明図である。 電話器91をオンフック状態にしておく。 かかるオンフック状態において試験器500a′より
IDLEコード(1,1)を端末側DLC装置のCH盤
(RT)101aに送出する。正常時、端末側DLC装置の
CH盤(RT)101aはIDLEコードを受信すれば、電
話91に対してノーマルバッテリー値を印加し、又、交
換機側DLC装置のCH盤(COT)101aに対してオン
フックコード(0,0)を送信する。 そこで、試験器500a′では、CH盤(RT)から送ら
れてくるシグナリングビットをモニターし、オンフック
コードになっているかどうかでオンフック時の動作が正
常であるかを確認する。
状態)の動作確認 図14はオンフック時(加入者が通話していない状態)
の動作確認試験の説明図である。 電話器91をオンフック状態にしておく。 かかるオンフック状態において試験器500a′より
IDLEコード(1,1)を端末側DLC装置のCH盤
(RT)101aに送出する。正常時、端末側DLC装置の
CH盤(RT)101aはIDLEコードを受信すれば、電
話91に対してノーマルバッテリー値を印加し、又、交
換機側DLC装置のCH盤(COT)101aに対してオン
フックコード(0,0)を送信する。 そこで、試験器500a′では、CH盤(RT)から送ら
れてくるシグナリングビットをモニターし、オンフック
コードになっているかどうかでオンフック時の動作が正
常であるかを確認する。
【0051】・発呼時の動作確認 図15は発呼時の動作確認試験の説明図である。 試験器500b′より交換機側のCH盤(COT)に対し
てオフフックコード(1,0)を送信する。 交換機側のCH盤(COT)ではオフフックコードを検出
すると、電話器と同じ負荷を交換機90に見せる。これ
により、バッテリー値が変化し交換機90はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、ダイヤルパルス発生器500b″よりダイヤ
ルパルスを送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、CH盤(COT)はCH
盤(RT)に対してIDLEコード(1,1)を送出す
る。そこで、試験器500b′はCH盤(COT)から送
信されるシグナリングビットをモニターし、IDLEコ
ードになっているかどうかで発呼時における交換機90
及びCH盤(COT)の動作が正常であるかを確認できる。
てオフフックコード(1,0)を送信する。 交換機側のCH盤(COT)ではオフフックコードを検出
すると、電話器と同じ負荷を交換機90に見せる。これ
により、バッテリー値が変化し交換機90はオフフック
状態になったことを認識する。 ついで、ダイヤルパルス発生器500b″よりダイヤ
ルパルスを送出する。 ダイヤルパルスの送出終了後、CH盤(COT)はCH
盤(RT)に対してIDLEコード(1,1)を送出す
る。そこで、試験器500b′はCH盤(COT)から送
信されるシグナリングビットをモニターし、IDLEコ
ードになっているかどうかで発呼時における交換機90
及びCH盤(COT)の動作が正常であるかを確認できる。
【0052】・着呼時の動作確認 図16は着呼時の動作確認試験の説明図である。 試験器500a′よりCH盤(RT)に対してRINGING
コード(Aビットは”1”、Bビットは”1/0交
番”)を送信する。 CH盤(RT)はRINGINGコードを検出すると、電話機
91に対してリンギング信号を送って、呼び出し音を鳴
らす。 送受話器を上げてオフフックすると、バッテリー値が
変化する。 CH盤(RT)はバッテリー値が変化したことを検出し
てオフフック状態になったことを認識し、CH盤(CO
T)に対してオフフックコード(1,0)を送信する。
そこで、試験器500a′はCH盤(RT)から送信され
たシグナリングビットをモニターし、オフフックコード
になっているかどうかで着呼時における電話器やCH盤
(RT)の動作が正常であるかを確認できる。
コード(Aビットは”1”、Bビットは”1/0交
番”)を送信する。 CH盤(RT)はRINGINGコードを検出すると、電話機
91に対してリンギング信号を送って、呼び出し音を鳴
らす。 送受話器を上げてオフフックすると、バッテリー値が
変化する。 CH盤(RT)はバッテリー値が変化したことを検出し
てオフフック状態になったことを認識し、CH盤(CO
T)に対してオフフックコード(1,0)を送信する。
そこで、試験器500a′はCH盤(RT)から送信され
たシグナリングビットをモニターし、オフフックコード
になっているかどうかで着呼時における電話器やCH盤
(RT)の動作が正常であるかを確認できる。
【0053】・通話終了時の動作確認 図17は通話終了時の動作確認試験説明図である。 電話器をオフフック状態にしておく。 ついで、電話器をオンフックする。 オンフックになると、バッテリー値がノーマルバッテ
リー値に変化する。CH盤(RT)はノーマルバッテリー
値を検出すると、CH盤(COT)に対してオンフックコ
ード(1,0)を送信する。そこで、試験器500a′
はCH盤(RT)から送信されたシグナリングビットをモ
ニターし、オンフックコードになっているかどうかで通
話終了時における電話器やCH盤(RT)の動作が正常であ
るかを確認できる。以上、本発明を実施例により説明し
たが、本発明は請求の範囲に記載した本発明の主旨に従
い種々の変形が可能であり、本発明はこれらを排除する
ものではない。
リー値に変化する。CH盤(RT)はノーマルバッテリー
値を検出すると、CH盤(COT)に対してオンフックコ
ード(1,0)を送信する。そこで、試験器500a′
はCH盤(RT)から送信されたシグナリングビットをモ
ニターし、オンフックコードになっているかどうかで通
話終了時における電話器やCH盤(RT)の動作が正常であ
るかを確認できる。以上、本発明を実施例により説明し
たが、本発明は請求の範囲に記載した本発明の主旨に従
い種々の変形が可能であり、本発明はこれらを排除する
ものではない。
【0054】
【発明の効果】以上本発明によれば、通信制御装置(D
LC装置)間にケーブルが敷設されていない場合におい
ても、DLC(COT)装置やDLC(RT)装置において試験が可能
で、このため敷設時から各区間で回線試験行なえ、しか
も、障害外切り分けを詳細に行なえ、従って、加入者回
線の障害に対する信頼性を向上できる。又、本発明によ
れば、試験パスを自動的に形成するため、従来のように
試験対象が代わる毎に試験器の接続を変える必要がな
く、保守作業を容易に行なえるようになった。又、本発
明によれば、符号復号部、シグナリングビット生成部、
シグナリングビット検出部を加入者回線試験装置に組み
込むことにより、アナログ試験器のみでアナログ及びデ
ジタルの試験ができ、しかも、交換機やCH盤のシグナ
リングビット検出機能や送出機能の試験ができる。
LC装置)間にケーブルが敷設されていない場合におい
ても、DLC(COT)装置やDLC(RT)装置において試験が可能
で、このため敷設時から各区間で回線試験行なえ、しか
も、障害外切り分けを詳細に行なえ、従って、加入者回
線の障害に対する信頼性を向上できる。又、本発明によ
れば、試験パスを自動的に形成するため、従来のように
試験対象が代わる毎に試験器の接続を変える必要がな
く、保守作業を容易に行なえるようになった。又、本発
明によれば、符号復号部、シグナリングビット生成部、
シグナリングビット検出部を加入者回線試験装置に組み
込むことにより、アナログ試験器のみでアナログ及びデ
ジタルの試験ができ、しかも、交換機やCH盤のシグナ
リングビット検出機能や送出機能の試験ができる。
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】加入者回線試験装置を含む通信システムの全体
構成図である。
構成図である。
【図3】本発明のCH盤の構成図である。
【図4】本発明の加入者回線試験装置の構成図である。
【図5】本発明の加入者回線試験装置の別の構成図であ
る。
る。
【図6】全体の試験パスの説明図である。
【図7】加入者回線試験の概略を示す流れ図(その1)
である。
である。
【図8】加入者回線試験の概略を示す流れ図(その2)
である。
である。
【図9】交換機と交換機側DLC装置間の敷設試験説明
図である。
図である。
【図10】DLC装置のCH盤の動作確認試験説明図で
ある。
ある。
【図11】交換機と端末側DLC装置間の敷設試験説明
図である。
図である。
【図12】端末側DLC装置と加入者端末間の敷設確認
試験説明図である。
試験説明図である。
【図13】障害切り分け試験の説明図である。
【図14】シグナリングビットを用いたオンフック時の
動作確認試験説明図である。
動作確認試験説明図である。
【図15】シグナリングビットを用いた発呼時の動作確
認試験説明図である。
認試験説明図である。
【図16】シグナリングビットを用いた着呼時の動作確
認試験説明図である。
認試験説明図である。
【図17】シグナリングビットを用いた通話終了時の動
作確認試験説明図である。
作確認試験説明図である。
【図18】DLC装置を用いた通信システムの構成図で
ある。
ある。
【図19】フレーム構成図である。
【図20】CH盤の構成図である。
【図21】オンフック時の動作説明図である。
【図22】発呼時の動作説明図である。
【図23】着呼時の動作説明図である。
【図24】通話終了時の動作説明図である。
100・・通信制御装置(DLC装置) 101a〜101n・・加入者回路(CH盤) 102・・多重分離部 111a〜111n・・符号・復号部(CODEC) 112a〜112n・・試験パス生成部 200・・加入者回線試験装置 201・・情報入力部 202・・通信部 203・・接続部 204・・試験パス形成部 205・・制御部 206・・表示部 300a〜300n・・加入者回線 400・・デジタル伝送路
Claims (10)
- 【請求項1】 複数の加入者回線より入力される各アナ
ログ信号をAD変換し、AD変換により得られたデジタ
ル信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、デジ
タル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、分
離されたデジタル信号をDA変換して加入者回線に送出
する通信制御装置を備えた通信システムにおける加入者
回線試験装置において、 各加入者回線に対応して前記通信制御装置内に設けら
れ、前記AD変換、DA変換を行う符号・復号部と通信
システム側の試験パスを確立する試験パス生成部とを有
する加入者回路の識別情報と試験パスを特定する情報を
入力する情報入力部と、 該特定された加入者回路に試験パス特定情報を送出する
通信部と、 加入者回線を試験する試験器を接続する接続部と、 試験器からの試験信号を前記特定された加入者回路の試
験パスに入力し、試験パスを介して到来する信号を試験
器に入力するための試験装置側の試験パスを形成する試
験パス形成部を備えた加入者回線試験装置。 - 【請求項2】 通信部を介して前記特定された加入者回
路に試験要求を送出し、加入者回路からの試験許可応答
を確認後に、試験パス形成部に試験パスを形成させると
共に、通信部より前記試験パス特定情報を加入者回路に
送出して通信システム側の試験パスを生成させる制御部
を備えた請求項1記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項3】 試験している加入者回路の識別情報、試
験状態を表示する表示部を備えた請求項1又は請求項2
記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項4】 前記通信制御装置における各加入者回線
が交換機あるいは各端末に接続されている場合、前記試
験パス特定情報に基づいて加入者回路の試験パス生成部
は、試験パス形成部より入力されたアナログの試験信号
を加入者回線を介して交換機あるいは端末に入力し、交
換機あるいは端末からの応答信号を加入者回線を介して
試験パス形成部に入力するように通信システム側の試験
パスを生成する請求項1記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項5】 前記試験パス特定情報に基づいて加入者
回路の試験パス生成部は、試験パス形成部より入力され
たアナログの試験信号を符号・復号部に入力し、符号・
復号部より出力されるデジタル信号を試験パス形成部に
入力し、又、試験パス形成部より入力されたデジタルの
試験信号を符号・復号部に入力し、符号・復号部より出
力されるアナログ信号を試験パス形成部に入力するよう
に通信システム側の試験パスを生成する請求項1記載の
加入者回線試験装置。 - 【請求項6】 端末側の通信制御装置と交換機側の通信
制御装置がデジタル伝送路を介して相互にデータ伝送可
能に接続されている場合、一方の通信制御装置のパス生
成部は前記試験パス特定情報に基づいて試験パス形成部
より入力されたデジタルの試験信号をデジタル伝送路に
送出し、他方の通信制御装置のパス生成部は試験パス特
定情報に基づいてデジタル伝送路より入力されたデジタ
ルの試験信号をパス形成部に入力するように試験パスを
生成する請求項1記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項7】 端末側の通信制御装置と交換機側の通信
制御装置がデジタル伝送路を介して相互にデータ伝送可
能に接続され、かつ、交換機側の通信制御装置における
各加入者回線が交換機に接続されている場合、端末側の
通信制御装置のパス生成部は試験パス特定情報に基づい
て、試験パス形成部より入力されたアナログの試験信号
を符号・復号部に入力し、符号・復号部から出力される
デジタル信号をデジタル伝送路、交換機側の通信制御装
置を介して交換機に送り、交換機側の通信制御装置、デ
ジタル伝送路を介して受信した交換機からの応答信号を
パス形成部に入力するように試験パスを生成する請求項
1記載の加入者回線試験装置。 - 【請求項8】 前記接続部は、アナログ試験器を接続す
る接続部と、デジタルの試験器を接続する接続を備え、 試験パス形成部は応答信号がアナログの場合には該応答
信号をアナログ試験器に入力し、応答信号がデジタルの
場合には該応答信号をデジタル試験器に入力するように
試験装置側の試験パスを形成する請求項1記載の加入者
回線試験装置。 - 【請求項9】 複数の加入者回線より入力される各アナ
ログ信号をAD変換し、AD変換により得られたデジタ
ル信号を時分割多重してデジタル伝送路に送出し、デジ
タル伝送路から入力された時分割多重信号を分離し、分
離されたデジタル信号をDA変換して加入者回線に送出
する通信制御装置を備えた通信システムにおける加入者
回線試験装置において、 各加入者回線に対応して前記通信制御装置内に設けら
れ、前記AD変換、DA変換を行う符号・復号部と通信
システム側の試験パスを確立する試験パス生成部とを有
する加入者回路の識別情報と試験パスを特定する情報を
入力する情報入力部と、 該特定された加入者回路に試験パス特定情報を送出する
通信部と、 加入者回線を試験するアナログ試験器を接続する第1、
第2接続部と、 第2の接続部から入力されたアナログの試験信号をデジ
タルに変換すると共に、前記試験パスを介して到来する
デジタルの応答信号をアナログに変換する符号・復号部
と、 第1の接続部から入力されたアナログ試験信号あるいは
符号・復号部から出力されたデジタルの試験信号を前記
特定された加入者回路の試験パスに入力し、試験パスを
介して到来する応答信号がアナログの場合には該応答信
号を第1の接続端子を介してアナログ試験器に入力し、
応答信号がデジタルの場合には該応答信号を前記符号・
復号部及び第2の接続部を介してアナログ試験器に入力
するように試験装置側の試験パスを形成する試験パス形
成部を備えた加入者回線試験装置。 - 【請求項10】 デジタル試験信号に挿入するシグナリ
ングビットを生成するシグナリングビット生成部と、 デジタルの応答信号に含まれるシグナリングビットを検
出するシグナリングビット検出部と、 試験している加入者回路の識別情報や検出されたシグナ
リングビットの内容を表示する表示部と、 情報入力部から指示された、シグナリングを用いた動作
確認試験の種別に基づいて前記シグナリングビット生成
部に所定のシグナリングビットを生成させ、前記シグナ
リングビット検出部により検出されたシグナリングビッ
トの内容を表示部に入力して表示させる制御部を有する
請求項9記載の加入者回線試験装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23267693A JP3286418B2 (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 加入者回線試験装置 |
US08/205,418 US5559854A (en) | 1993-09-20 | 1994-03-03 | Subscriber's line testing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23267693A JP3286418B2 (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 加入者回線試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0795288A true JPH0795288A (ja) | 1995-04-07 |
JP3286418B2 JP3286418B2 (ja) | 2002-05-27 |
Family
ID=16943052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23267693A Expired - Fee Related JP3286418B2 (ja) | 1993-09-20 | 1993-09-20 | 加入者回線試験装置 |
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Country | Link |
---|---|
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US5956370A (en) * | 1996-01-17 | 1999-09-21 | Lsi Logic Corporation | Wrap-back test system and method |
US5781544A (en) * | 1996-01-17 | 1998-07-14 | Lsi Logic Corporation | Method for interleaving network traffic over serial lines |
US5781038A (en) * | 1996-02-05 | 1998-07-14 | Lsi Logic Corporation | High speed phase locked loop test method and means |
US5896426A (en) * | 1996-02-05 | 1999-04-20 | Lsi Logic Corporation | Programmable synchronization character |
US6341142B2 (en) | 1997-12-16 | 2002-01-22 | Lsi Logic Corporation | Serial data transceiver including elements which facilitate functional testing requiring access to only the serial data ports, and an associated test method |
US6208621B1 (en) | 1997-12-16 | 2001-03-27 | Lsi Logic Corporation | Apparatus and method for testing the ability of a pair of serial data transceivers to transmit serial data at one frequency and to receive serial data at another frequency |
US6331999B1 (en) | 1998-01-15 | 2001-12-18 | Lsi Logic Corporation | Serial data transceiver architecture and test method for measuring the amount of jitter within a serial data stream |
JPH11242609A (ja) * | 1998-02-25 | 1999-09-07 | Fujitsu Ltd | バックワイヤリングボード及びその集合装置 |
US6292468B1 (en) * | 1998-12-31 | 2001-09-18 | Qwest Communications International Inc. | Method for qualifying a loop for DSL service |
US6380971B1 (en) * | 1999-05-28 | 2002-04-30 | Qwest Communications International Inc. | VDSL video/data set top test equipment |
US6201853B1 (en) * | 1999-07-13 | 2001-03-13 | Communications Manufacturing Company | Telephone technician's remote assist apparatus and method |
US6463126B1 (en) | 1999-11-06 | 2002-10-08 | Qwest Communications International Inc. | Method for qualifying a loop for DSL service |
US6553098B1 (en) * | 2000-04-11 | 2003-04-22 | Verizon Laboratories Inc. | Apparatus and method for assessing leakage from cable networks |
US7116637B2 (en) * | 2000-09-06 | 2006-10-03 | Verso Technologies, Inc. | System and method for diagnosing a POTS port |
US6895089B2 (en) | 2001-12-14 | 2005-05-17 | Adc Dsl Systems, Inc. | Pots splitter with line impedance matching |
US6853724B2 (en) | 2001-12-14 | 2005-02-08 | Adc Dsl Systems, Inc. | Cascade low-pass filter to improve xDSL band attenuation for POTS splitter |
US6618469B2 (en) * | 2002-02-05 | 2003-09-09 | Adc Dsl Systems, Inc. | Circuits and methods for testing POTS service |
US20030198341A1 (en) * | 2002-04-23 | 2003-10-23 | Adc Dsl Systems, Inc. | Integrated POTS/MLT card |
DE102005050341B4 (de) * | 2005-10-20 | 2010-03-04 | Nokia Siemens Networks Gmbh & Co.Kg | Verfahren und Einrichtung zur Überprüfung eines Teilnehmeranschlusses |
US8737573B2 (en) | 2011-05-09 | 2014-05-27 | Intelligent Decisions, Inc. | Systems, methods, and devices for testing communication lines |
Family Cites Families (1)
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---|---|---|---|---|
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-
1993
- 1993-09-20 JP JP23267693A patent/JP3286418B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-03-03 US US08/205,418 patent/US5559854A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5559854A (en) | 1996-09-24 |
JP3286418B2 (ja) | 2002-05-27 |
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