DE60013256T2 - Eichvorrichtung für einen optischen scanner - Google Patents

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optical
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Mack Schermer
Hans Bengtsson
Marcus Weber
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GEN SCANNING Inc
General Scanning Inc
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    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
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    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
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    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4785Standardising light scatter apparatus; Standards therefor

Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft allgemein optische Abtastsysteme und insbesondere Mechanismen zum Kalibrieren der Abtastsysteme.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Optische Abtastsysteme richten im Wesentlichen durch eine eingebaute Lichtquelle erzeugtes Licht auf eine Probe und messen das von der Probe emittierte oder reflektierte Licht. Nachstehend werden Scanner in Zusammenhang mit in der Fluoreszenzbildgebung verwendeten Laserrastermikroskopen erläutert. Der Mechanismus der Erfindung ist jedoch nicht auf die Verwendung als Teil eines Laserrastermikroskops oder als Teil eines Fluoreszenzbildgebungssystems beschränkt.
  • Ein Fluoreszenzbildgebungssystem untersucht Fluoreszenz von chemisch markierten biologischen Proben wie z. B. Zellen, Proteinen, Genen und DNS-Sequenzen. Die Proben können Mikromatrizen sein, die Tausende von Experimenten auf einem einzigen Objektträger aus Glas enthalten können. Jedes Experiment besteht aus einem Punkt aus beispielsweise "Ziel"-DNS, die chemisch an eine Oberfläche des Objektträgers gebunden ist. Mit einem Fluorophor markierte "Sonden"-DNS oder alternativ -RNS wird in die Oberfläche des Objektträgers eingebracht, so dass die Hybridisierung mit der Ziel-DNS möglich ist. Anschließend wird die Probe mit Licht einer gewünschten Wellenlänge optisch abgetastet, so dass der Fluorophor in den jeweiligen Experimenten Licht emittiert.
  • Bei einer bestimmten Probe emittiert jedes Experiment eine Lichtmenge, die der zugehörigen Fluordichte entspricht. Die Fluordichte eines Experiments hängt von der Ähnlichkeit der speziellen Ziel-DNS und der Sonden-DNS ab, da die komplementären Moleküle eine größere Bin dungswahrscheinlichkeit aufweisen als beziehungslose Moleküle. Ein Detektor misst die Stärke des von jedem in der Probe enthaltenen Experiment emittierten Lichts, und das System kann dann die relativen Ähnlichkeitsgrade zwischen der Ziel-DNS und der Sonden-DNS bestimmen.
  • Die zur Probe gehörenden Messungen hängen nicht nur von den Fluordichten der Experimente ab, sondern auch von der Empfindlichkeit des Systems. Die Empfindlichkeit des Systems hängt wiederum von der Leistung des einfallenden Anregungsstrahls und dem Verstärkungsfaktor des Detektors ab. Die Fluoreszenzbildgebungssysteme haben relativ große einstellbare Empfindlichkeitsbereiche, um die umfassenden Fluordichtebereiche abzudecken. Es ist beispielsweise üblich, dass die Systeme einen Dynamikbereich von vier Größenordnungen haben, der über weitere vier Größenordnungen einstellbar ist. Die Empfindlichkeit wird durch Einstellen der Leistung des einfallenden Anregungsstrahls oder des Verstärkungsfaktors des Detektors oder beides eingestellt.
  • Bei Systemen mit solchen großen Einstellbereichen ist es schwierig, die Wiederholgenauigkeit aufrechtzuerhalten. Bei Anwendungen, bei denen Daten von einer Probenmessung zur nächsten oder von einem System zum nächsten verglichen werden, sind folglich die Genauigkeit der Empfindlichkeitseinstellung des Systems und der Gesamtkalibrierung des Systems wichtig. Änderungen der einfallenden Leistung oder des Verstärkungsfaktors des Detektors gegenüber dem, was bei einer bestimmten Empfindlichkeitseinstellung erwartet wird, beeinflussen nachteilig die Normalisierung der Daten, es sei denn, die Änderungen können quantifiziert werden.
  • Das System steuert die Leistung des einfallenden Anregungsstrahls, der typischerweise von einem Laser erzeugt wird, indem es ein variables Dämpfungsglied im Strahlweg enthält. Das Dämpfungsglied ist durch eine Index-zu-Dämpfung-Transferkurve gekennzeichnet. Es ist jedoch nicht ungewöhnlich, dass es eine relativ große Diskrepanz zwischen dem Prozentsatz der Dämpfung bei den jeweiligen Indexeinstellungen und der Transferkurve gibt. Demgemäß gibt es oft eine Diskrepanz bei der erwarteten Leistung des einfallenden Anregungsstrahls bezüglich der Einstellung des Dämpfungsglieds. Ferner können die Betriebseigenschaften des Lasers im Laufe der Zeit schwanken, so dass es eine Verringerung der Nennleistung des Anregungsstrahls vor der Dämpfung gibt. Daher ist es wünschenswert, den jeder Einstellung des variablen Dämpfungsglieds zugeordneten Leistungspegel genau und regelmäßig zu charakterisieren oder kalibrieren.
  • Der Verstärkungsfaktor des Detektors hängt zum großen Teil vom Verstärkungsfaktor der enthaltenen photometrischen Vorrichtung ab. Im Allgemeinen ist die Vorrichtung eine Fotovervielfacherröhre, oder PMT (photo-multiplier tube), die eine hohe Empfindlichkeit und einen verstellbaren Verstärkungsfaktor aufweist. Der Verstärkungsfaktor des Detektors wird durch Verstellen einer Gleichspannung eingestellt, die der Bezug für die Spannungsversorgung der PMT ist. Die Transferfunktion des Referenzspannung-zu-PMT-Verstärkungsfaktors ist jedoch stark nicht linear und die Operationen der einzelnen PMT's schwanken typischerweise gegenüber der Transferkurve. Ferner schwanken die Operationen der PMTs mit unterschiedlichen Wellenlängen, und daher schwanken sie zwischen Kanälen bei einem Mehrkanalsystem. Folglich sind die PMT-Indexeinstellungen nur Rohschätzungen des PMT-Verstärkungsfaktors. Daher ist es wünschenswert, die Operationen des Detektors bei den verschiedenen PMT-Indexeinstellungen genau zu charakterisieren oder kalibrieren.
  • Bestimmte bekannte frühere Systeme kalibrieren die Systemempfindlichkeit durch Einfügen eines oder mehrerer Referenzpunkte mit bekannter Fluoreszenz in eine Probe oder in das Blickfeld des Systems. Diese Systeme messen das von den Referenzpunkten emittierte Fluoreszenzlicht und das von den Experimenten emittierte Licht in derselben Messoperation und verwenden die den Referenzpunkten zugeordneten Daten zum Quantifizieren der Empfindlichkeit des Systems.
  • Die Referenzpunkte können mit Fluoreszenzfarben oder Festkörperfluoreszenz hergestellt werden. Die mit Fluoreszenzfarben hergestellten Punkte sind anfällig für "Fotobleichen", und daher können die diese Punkte verwendenden Systeme ungenaue Kalibriermessungen aufgrund schadhafter Punkte durchführen, oder sie können außer Stande sein, Kalibriermessungen für eine bestimmte Probe durchzuführen. Die Emissionscharakteristiken der aus Festkörper-Fluoreszenzmaterial hergestellten Referenzpunkte schwanken mit den Änderungen der Umgebungsbedingungen wie z. B. Temperaturänderungen. Folglich müssen die sie benutzenden Systeme die Änderungen der Umgebungsbedingungen ausgleichen, wodurch das System komplexer wird.
  • Das dem Stand der Technik entsprechende Dokument US 5,108,176 offenbart ein System zum Kalibrieren der Empfindlichkeit eines optischen Scanners. Das System umfasst optische Mittel zum Erzeugen eines einfallenden Strahls bekannter Leistung und zum Richten dieses Strahls auf eine Probe, einen Detektor zum Messen der Leistung des von der Probe emittierten oder reflektierten Lichts; und einen diffusen Reflektor zum Zurückleiten des einfallenden Strahls aus der Position der Probe zum Detektor. Durch dieses herkömmliche System wird jedoch die Leistung eines einfallenden Anregungsstrahls an der Position der Probe nicht direkt gesteuert und eingestellt. Deshalb ist das System vom Stand der Technik nicht zum Kalibrieren von z. B. einem Fluoreszenz-Bildgebungssystem verwendbar, weil eine Fluoreszenzfarbe als Probe äußerst anfällig für Fotobleichen und nicht umkehrbare Fotoverschlechterungswirkungen ist.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Ein erfindungsgemäßes System umfasst optische Mittel zum Erzeugen eines eingehenden Anregungsstrahls bekannter optischer Leistung und Richten des Strahls in Richtung einer Probe, einen Detektor zum Messen der optischen Leistung des aus der Richtung der Probe gerichteten Lichtes, einen diffusen Reflektor mit bekannten Reflexionseigenschaften, der so angeordnet ist, dass er den eingehenden Anregungsstrahl während der Kalibrieroperationen von der Richtung der Probe zurück zum Detektor leitet, und einen Leistungsmesser, der zum Messen der optischen Leistung des eingehenden Anregungsstrahls an einer geeigneten Stelle positioniert ist, wo der Strahl während der Messoperationen auf die Probe trifft.
  • Der Leistungsmesser wird zur Erstellung einer Nachschlagetabelle verwendet, die die Leistung des einfallenden Anregungsstrahls zu den Einstellungen eines variablen optischen Dämpfungsglieds in Beziehung setzt. Der im Weg des einfallenden Anregungsstrahls befindliche Leistungsmesser wird durch den Strahl beleuchtet, wenn die Probe nicht am Platze ist. Der Messer enthält eine Siliziumfotodiode, die ein zur Stärke des einfallenden Lichts proportionales Signal erzeugt. Ein A/D-Wandler erzeugt dann einen dem Signal entsprechenden digitalen Wert. Das System variiert die Einstellungen des optischen Dämpfungsglieds und erzeugt die Nachschlagetabelle auf der Grundlage der zugehörigen digitalen Werte. Das System verwendet dann die Tabelle zum Auswählen der geeigneten Einstellung für das Dämpfungsglied, um einen Anregungsstrahl mit einer vorgeschriebenen optischen Leistung an die Probe zu liefern.
  • Das optische Abtastsystem kalibriert den Verstärkungsfaktor eines Detektors durch Richten eines Strahls bekannter Stärke auf den Detektor. Die photometrische Vorrichtung im Detektor erzeugt ein zur Stärke des Strahls proportionales Signal, und ein A/D-Wandler erzeugt einen dem Signal entsprechenden digitalen Wert. Das System variiert den Verstärkungsfaktor der photometrischen Vorrichtung und erzeugt bei den verschiedenen Verstärkungsfaktor-Einstellungen die zugehörigen digitalen Werte. Dann erzeugt es eine Nachschlagetabelle, die die Verstärkungsfaktor-Einstellungen zum tatsächlichen Verstärkungsfaktor des Detektors in Beziehung setzt, d. h. zum Verhältnis der bekannten einfallenden Leistung zu den digitalen Messwerten. Danach verwendet das System die Tabelle zum Auswählen der geeigneten Verstärkungsfaktor-Einstellung zur Datenerfassung und/oder zum Normalisieren der Daten.
  • Insbesondere enthält das System im Weg des eingehenden Anregungsstrahls das variable optische Dämpfungsglied, eine den gedämpften Strahl auf die Größe eines Bildpunkts fokussierende Objektivlinse und einen Strahlteiler, der den eingehenden Anregungsstrahl durch die Linse in Richtung der Probe richtet. Der Leistungsmesser sitzt unterhalb der Probe, wobei der aktive Bereich der Fotodiode mit dem Weg des fokussierten Strahls übereinstimmt. Während der Kalibrierung ist die Probe nicht vorhanden, und der fokussierte einfallende Anregungsstrahl trifft auf den aktiven Bereich der Fotodiode. Wie erläutert erzeugt der Leistungsmesser die digitalen Werte, die die einfallende optische Leistung bei den verschiedenen Einstellungen des Dämpfungsglieds repräsentieren.
  • Der Strahlteiler unterscheidet vorzugsweise aufgrund der räumlichen Eigenschaften des Lichts zwischen dem von der Probe emittierten Fluoreszenzlicht und dem von der Probe reflektierten Laserlicht. Der Strahlteiler enthält z. B. im Weg des eingehenden Anregungsstrahls einen Spiegel, der den eingehenden Strahl zur Probe umleitet. Wenn die Probe am Platze ist, reflektiert die Oberfläche der Probe den einfallenden Anregungsstrahl teilweise als einen Strahl kleinen Durchmessers, und die Fluorophore in der Probe emittieren Licht in einem sphärischen Muster. Das reflektierte Anregungslicht wandert denselben Weg wie der eingehende Strahl von der Probe zurück und wird vom Spiegel zur Lichtquelle zurückgeleitet. Das aus Strahlen relativ großen Durchmessers bestehende emittierte Fluoreszenzlicht wandert dagegen ganz oder teilweise am Spiegel vorbei und somit zum Detektor.
  • Für die Kalibrierung des Verstärkungsfaktors des Detektors verwendet das System einen diffusen Reflektor an Stelle der Probe. Der diffuse Reflektor reflektiert den fokussierten Anregungsstrahl in einem diffusen Muster, so dass ein Teil des reflektierten Lichts durch den Strahlteiler fällt. Ein Neutralfilter mit bekannten Eigenschaften ist zwischen dem Strahlteiler und dem Detektor positioniert, um das reflektierte Licht um einen vorgegebenen Prozentsatz zu dämpfen und die Stärke des Lichts so zu verringern, dass sie innerhalb des linearen Betriebsbereichs des Detektors liegt. Dann erzeugt der Detektor die verschiedenen den verschiedenen PMT-Verstärkungsfaktor-Einstellungen zugeordneten digitalen Werte.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
  • Die unten stehende Beschreibung der Erfindung bezieht sich auf die beiliegenden Zeichnungen; es zeigen:
  • 1 ein Funktionsblockschaltbild eines Systems zum Kalibrieren der Leistung im Anregungsstrahl;
  • 2 ein Funktionsblockschaltbild des Systems von 1 mit einer Probe am Platze; und
  • 3 ein Funktionsblockschaltbild des Systems von 1, das zum Kalibrieren des Verstärkungsfaktors des Detektors modifiziert ist.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG EINER BEISPIELHAFTEN AUSFÜHRUNGSFORM
  • Wie aus 1 ersichtlich ist, enthält ein erfindungsgemäß aufgebautes Fluoreszenz-Bildgebungssystem 10 einen Laser 12, der einen kollimierten Anregungsstrahls auf ein variables optisches Dämpfungsglied 14 richtet. Das variable optische Dämpfungsglied 14 im System 10 ist ein Graukeil-Neutralfilter, der auf einem Schrittmotor 16 angebracht ist, so dass zu jeder gegebenen Zeit jede Indexeinstellung des Schrittmotors 16 einem eindeutigen Dämpfungsfaktor zugeordnet ist. Der gedämpfte Strahl geht vom Dämpfungsglied 14 zu einem Strahlteiler 18, der den eingehenden Strahl in Richtung einer Probe 22 umleitet, die auf der Zeichnung durch gestrichelte Linien dargestellt ist. Eine Objektivlinse 20 fokussiert den Strahl auf einen Durchmesser von Bildpunktgröße, und während der Messoperationen wird die Probe 22 so bewegt, dass der fokussierte Strahl nacheinander jeden Bildpunkt in einem Abtastbereich beleuchtet.
  • Wenn die Probe 22 am Platze ist, emittieren die Fluorophore in den darin enthaltenen Experimenten Fluoreszenzlicht in einem sphärischen Muster, und eine Oberfläche der Probe reflektiert und streut einen Teil des Lichts vom fokussierten einfallenden Anregungsstrahl, wie aus 2 ersichtlich ist. Die Linse 20 sammelt Teile des Fluoreszenzlichts und des reflektierten und gestreuten Lichts und richtet das gesammelte Licht auf den Strahlteiler 18. Der Strahlteiler 18 lässt das gesammelte emittierte Licht in Richtung des Detektors 34 durch und leitet das reflektierte und gestreute Licht um oder weist es zurück, wie durch die gestrichelten Linien dargestellt. Ein zwischen dem Strahlteiler 18 und dem Detektor 34 positionierter Bandpassfilter 32 lässt das emittierte Licht zum Detektor durch und weist jegliches durch den Strahlteiler 18 fallendes Anregungslicht zurück. Der Strahlteiler wird nachstehend unter Bezugnahme auf 3 detaillierter erläutert.
  • Der Detektor 34 erzeugt einen der Stärke des von einem bestimmten Experiment emittierten Lichts entsprechenden digitalen Wert. Dann bildet ein Systemprozessor 36 den digitalen Wert in einen Grad der Ähnlichkeit zwischen der zugeordneten Ziel-DNS und der Sonden-DNS ab. Die Operationen des Detektors werden ebenfalls nachstehend unter Bezugnahme auf 3 detaillierter erläutert.
  • Wie aus 1 ersichtlich ist, ist die Probe 22 zum Kalibrieren nicht am Platze. Der Anregungsstrahl beleuchtet stattdessen einen im Strahlweg positionierten Leistungsmesser 24. Der Leistungsmesser 24 besteht im Wesentlichen aus einer Fotodiode 26 und einem A/D-Wandler 28. Der sich hinter seinen Brennpunkt hinaus ausbreitende Anregungsstrahl trifft auf einen aktiven Bereich 25 der Fotodiode 26. Als Reaktion erzeugt die Fotodiode einen zur einfallenden optischen Leistung proportionalen Strom. Der A/D-Wandler 28 wandelt den Strom in einen entsprechenden digitalen Wert um und stellt den digitalen Wert dem Systemprozessor 36 bereit.
  • Die Fotodiode 26 kann auf einem Substratabtast-Mikroskoptisch 31 (3) positioniert sein, der die Probe während der Messoperationen aufnimmt, so das der aktive Bereich 25 von der Probe bedeckt ist, wenn die Probe am Platze ist. Alternativ kann die Fotodiode 26 an einem Ende des Mikroskoptisches und außerhalb des normalen Messbereichs positioniert sein. Der Mikroskop tisch wird dann während der Kalibrierung über den Messbereich hinaus bewegt, um die Fotodiode in den Weg des Anregungsstrahls zu bringen.
  • Das System misst die optische Leistung des einfallenden Anregungsstrahls bei jeder Einstellung des variablen optischen Dämpfungsglieds 14. Demgemäß schaltet der Motor 16 schrittweise durch seine verschiedenen Indexeinstellungen und der Leistungsmesser 24 erzeugt zugeordnete digitale Werte. Der Systemprozessor 36 erzeugt auf der Grundlage der digitalen Werte eine Nachschlagetabelle, die die einfallende optische Leistung zu den Einstellungen des Dämpfungsglieds in Beziehung setzt. Ein Benutzer kann dann die an eine Probe zu liefernde gewünschte optische Leistung vorgeben und das System betreibt das variable optische Dämpfungsglied 14 mit der entsprechenden Einstellung. Die Kalibrierung der einfallenden optischen Leistung auf diese Weise erlaubt einem Benutzer, den Leistungspegel auf unmittelbar unter den Fotobleichungspegel einzustellen und somit die Datenerfassung ohne Beschädigung der Probe zu maximieren.
  • Beim System 10 ist die Fotodiode 26 eine Siliziumfotodiode, die über ungefähr neun Dekaden Dynamikbereich und über anwendbare Wellenlängen hinweg eine lineare Leistung-zu-Strom-Transferkurve aufweist. Ferner ist die Siliziumfotodiode sowohl über die Zeit als auch über die Temperatur stabil. Folglich sind die Operationen der Siliziumfotodiode in derselben Vorrichtung und zwischen einzelnen Vorrichtungen wiederholgenau.
  • Die Kalibrierung der einfallenden Leistung bei den verschiedenen Einstellungen des Dämpfungsglieds wird vorzugsweise regelmäßig durchgeführt, um Veränderungen der Operationen des Dämpfungsglieds 14 und/oder des Lasers 12 im Laufe der Zeit auszugleichen. Gaslaser verlieren z. B. typischerweise im Laufe der Zeit Leistung, und daher nimmt die Leistung im einfallenden Anregungsstrahl mit jeder Einstellung des Dämpfungsglieds ab. Aufgrund der Verringerung der Nennleistung kann das System auch vorhersagen, wann der Laser ausfallen wird. Der Laser kann dann ausgetauscht werden, um einen Ausfall während der Messoperationen zu vermeiden.
  • Die oben erläuterten Operationen zur Kalibrierung des einfallenden Strahls werden vorzugsweise bei einem System angewendet, bei dem die Leistung im einfallenden Strahl über das abge tastete Feld hinweg konstant bleibt, wie z. B. einem System mit feststehender Optik und einer sich bewegenden Probe. Die Leistung in einem abgetasteten Strahl variiert dagegen über das abgetastete Feld hinweg wie der Einfallswinkel variiert, und daher liefert ein Leistungsmesswert an einem Punkt im abgetasteten Feld weniger genaue Kalibrierungsinformationen. Alternativ kann der Leistungsmesser eine Mehrzahl über das Abtastfeld beabstandeter Siliziumdioden 26 verwenden, um die einfallende optische Leistung bei verschiedenen zugehörigen Einfallswinkeln zu kalibrieren.
  • Das System 10 kann mehrere Kanäle haben und daher eine Mehrzahl Laser 12 enthalten, die Licht mit unterschiedlichen Wellenlängen erzeugen. Das System kalibriert dann die Leistung gegenüber der Einstellung des Dämpfungsglieds für jeden Kanal getrennt, da die Reaktion von Dämpfung und Fotodiode bei unterschiedlichen Wellenlängen abweichen kann.
  • Wie aus 3 ersichtlich ist, kalibriert das System den Verstärkungsfaktor des Detektors durch Richten reflektierter Strahlen mit bekannten Stärken auf den Detektor 34. Der Detektor enthält eine PMT 38, die zu den Stärken der Strahlen proportionale Signale erzeugt, und einen A/D-Wandler 40, der den Signalen entsprechende digitale Werte erzeugt. Während der Kalibrieroperationen wird die PMT bei ihren verschiedenen Verstärkungsfaktor-Einstellungen betrieben, und der Systemprozessor 36 erzeugt eine Nachschlagetabelle, die die Verstärkungsfaktor-Einstellung der PMT zum Verstärkungsfaktor des Detektors in Beziehung setzt, d. h. zum Verhältnis der Leistung des einfallenden Strahls zu den digitalen Werten.
  • Zum Richten der Strahlen auf den Detektor 34 ist ein diffuser Reflektor 30 mit bekannten Eigenschaften im Weg des fokussierten einfallenden Anregungsstrahls platziert. Der Reflektor 30 reflektiert den fokussierten Strahl in einem diffusen Muster. Die Linse 20 sammelt einen Teil des reflektierten Strahls, und der Strahlteiler 18 lässt das gesamte reflektierte Licht oder einen Teil davon durch. Ein Neutralfilter 33, der den Platz des Bandpassfilters 32 (1) einnimmt, dämpft das reflektierte Licht um einen vorgegebenen Prozentsatz, bevor er das Licht zum Detektor 34 durchlässt. Die Stärke des reflektierten Lichts, die ein Vielfaches derjenigen des emittierten Lichts beträgt, wird folglich so verringert, dass sie innerhalb des linearen Betriebsbereichs des Detektors liegt. Der Neutralfilter 33 hat genau gesteuerte Durchlässigkeitseigenschaften und folglich ist die Stärke des den Detektor erreichenden Strahls bekannt.
  • Der diffuse Reflektor 30 kann sich z. B. auf einem Ende 31a eines Substratabtast-Mikroskoptisches 31 befinden, der die Probe während der Messoperationen aufnimmt. Der Mikroskoptisch 31 wird während der Kalibrieroperationen über das Ende des normalen Messbereichs hinaus verfahren, um den Reflektor 30 im Weg des fokussierten Strahls zu positionieren. Alternativ kann der diffuse Reflektor 30 auf einem Probensubstrat angebracht sein, das zum Kalibrieren abgetastet wird.
  • Bei dem in 3 dargestellten System unterscheidet der Strahlteiler 18 zwischen dem reflektierten Anregungsstrahl und der emittierten Fluoreszenz vorzugsweise aufgrund der räumlichen Eigenschaften des Lichts statt aufgrund der unterschiedlichen Wellenlängen des Lichts. Wie in der Zeichnung dargestellt enthält der Strahlteiler 18 einen Spiegel 18a kleinen Durchmessers, der im Weg des eingehenden Anregungsstrahls positioniert ist. Der Spiegel richtet den eingehenden Strahl durch die Fokussierlinse 20 und in Richtung der Probe 22. Wenn die Probe am Platze ist, emittiert die Probe Fluoreszenzlicht in einem sphärischen Muster und reflektiert einen Teil des fokussierten Strahls als Strahl kleinen Durchmessers. Der reflektierte Anregungsstrahl wird entlang des Wegs des eingehenden Anregungsstrahls zurück gerichtet, und der Spiegel 18a befindet sich somit im Rückweg. Der Spiegel 18a leitet den reflektierten Strahl zum Laser 12 zurück, während das meiste gesammelte emittierte Licht, das aus Strahlen größeren Durchmessers besteht, vom Spiegel 18a durchgelassen wird. Während der Kalibrieroperationen wird der einfallende Anregungsstrahl in einem diffusen Muster und somit als Strahlen großen Durchmessers, die zum großen Teil vom Spiegel 18a durchgelassen werden, reflektiert.
  • Alternativ kann der Strahlteiler einen Spiegel großen Durchmessers (nicht gezeigt) mit einem Loch darin enthalten. Der Spiegel reflektiert die emittierte Fluoreszenz zum Detektor und lässt den fokussierten Anregungsstrahl und seine Reflexion durch das Loch treten.
  • Der geometrische Strahlteiler arbeitet am besten bei Systemen, die einfallende Anregungsstrahlen kleineren Durchmessers und emittierte Strahlen größeren Durchmessers haben, wie z. B. bei einem System mit feststehender Optik und einer sich bewegenden Probe oder einem System mit einer abgetasteten Objektivlinse, die einen relativ großen Teil des emittierten Lichts sammelt.
  • Um den Detektor über einen weiteren Bereich zu kalibrieren, können mehrere unterschiedliche Neutralfilter benutzt werden, um das reflektierte Licht um verschiedene gesteuerte Prozentsätze zu dämpfen. Dann kann das Filter 33 in ein Filterrad (nicht gezeigt) eingefügt werden, das während der Kalibrieroperationen vom System gedreht wird, um die verschiedenen Neutralfilter zu geeigneten Zeiten in den Weg des reflektierten Strahls zu bringen. Das Filterrad kann auch das Bandpassfilter 32 (1) enthalten, das während der Messoperationen in Position gedreht wird.
  • Während der Kalibrieroperationen variiert das System den Verstärkungsfaktor der PMT 38 und der Systemprozessor 36 verwendet die zugehörigen Detektor-Messwerte zum Erzeugen einer Nachschlagetabelle, die PMT-Verstärkungsfaktor-Einstellungen zum Verstärkungsfaktor des Detektors in Beziehung setzt. Die Kalibrieroperationen werden vorzugsweise regelmäßig durchgeführt, so dass das System Veränderungen der PMT-Operationen im Laufe der Zeit ausgleichen kann. Bei Mehrkanalsystemen wird der Verstärkungsfaktor der PMT für jeden Kanal getrennt kalibriert, d. h. für jede der unterschiedlichen Wellenlängen.
  • Das als Reaktion auf den einfallenden Anregungsstrahl während der Messoperationen erzeugte emittierte Licht ist von der Wellenlänge des Anregungsstrahls um nur 20 bis 40 nm getrennt. Folglich sind die Operationen der PMT während der Kalibrierung mit dem reflektierten Anregungsstrahl ausreichend nahe bei denen während der Messoperationen, so dass die Nachschlagetabelle genaue Kalibrierinformationen liefert. Ferner erlaubt die Verwendung des reflektierten Laserlichts die Kalibrierung über die verschiedenen den Mehrkanalsystemen zugeordneten Wellenlängen hinweg, da die Leistung des einfallenden Strahls in jedem Kanal durch Kalibrierung bekannt ist. Dagegen müssen die für die Kalibrierung Fluoreszenzlicht verwendenden Systeme mit Schwankungen der chromatischen Verteilung der Leistung im Fluoreszenzlicht im Laufe der Zeit und mit Veränderungen der Umgebungsbedingungen kämpfen.
  • Das System kann stattdessen einen Strahlteiler verwenden, der zwischen dem reflektierten Licht und dem emittierten Licht aufgrund ihrer Wellenlängen unterscheidet, falls der Prozentsatz des vom Strahlteiler durchgelassenen Lichts für jede interessierende zurückgewiesene Wellenlänge bekannt ist. Die Dämpfung des reflektierten den Detektor erreichenden Signals würde dann auf der bekannten Dämpfung durch dem Strahlteiler 18 und dem Neutralfilter 33 basieren. Typi scherweise enthalten Strahlteiler jedoch eine Optik, die so hergestellt ist, dass sie nicht mehr als einen vorgegebenen maximalen Prozentsatz des Lichts einer bestimmten zurückgewiesenen Wellenlänge durchlässt. Der Prozentsatz des Lichts der bestimmten Wellenlänge, das tatsächlich durch die Optik tritt, wird nicht anderweitig gesteuert, und der Strahlteiler wird dann eine Variable in den Kalibrieroperationen.
  • Die oben erläuterten Kalibriermechanismen können auch zum Normalisieren der Empfindlichkeit von Instrumenten verwendet werden, die von einem bestimmten Hersteller produziert wurden. Dies würde es erlauben, von verschiedenen Instrumenten durchgeführte Experimente zu vergleichen, gleichgültig ob sich die Instrumente am selben Standort oder an verschiedenen Standorten befinden und/oder von den selben oder verschiedenen Forschergruppen verwendet werden. Zum Erreichen einer normalisierten Kalibrierung wählt der Hersteller Leistungsgrenzen. Zum Beispiel spezifiziert der Hersteller einen Arbeitsbereich für seine Instrumente, der kleiner ist als der maximale Betriebsbereich, und er schränkt die vom Benutzer durchführbaren Einstellungen auf innerhalb des gewählten Arbeitsbereichs ein. Dann stellt der Hersteller die Leistungs- und Verstärkungsfaktor-Einstellungen innerhalb des gewählten Bereichs für jedes Instrument identisch ein. Danach erhält der Benutzer die Genauigkeit der Einstellungen über die Lebensdauer der Instrumente unter Anwendung der oben besprochenen Kalibrieroperationen aufrecht, und die durch jedes dieser Instrumente abgenommenen Daten bleiben konstant.
  • Das System der 1 und 2 stellt einem Benutzer zusätzliche und leicht durchführbare Kalibrieroperationen bereit. Zum Kalibrieren der einfallenden optischen Leistung durch Verstärkungsfaktor-Einstellungen des Dämpfungsglieds betreibt der Benutzer das System ohne die Probe, und der eingebaute Leistungsmesser 24 erzeugt die entsprechenden Messwerte. Dann kalibriert das System den Verstärkungsfaktor des Detektors auf der Grundlage der kalibrierten optischen Leistung durch Bewegen des Proben-Mikroskoptisches 31 über den Messbereich hinaus, wobei es das Filterrad dreht, um den oder die entsprechenden Dämpfungsfilter 33 wie erforderlich in den Weg des reflektierten Strahls zu bringen, und Messwerte vom Detektor 24 erfasst. Es gibt daher keine besonderen vom Benutzer zu platzierenden Kalibrierungs-Untersysteme und/oder besondere Referenzpunkte, die in den Proben enthalten sein müssen.
  • Die obenstehende Beschreibung wurde auf eine bestimmte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschränkt. Es ist jedoch klar, dass innerhalb des Gültigkeitsbereichs der beiliegenden Ansprüche Variationen und Modifikationen bei der Erfindung vorgenommen werden können, wie z. B. die Verwendung unterschiedlicher Arten variabler optischer Dämpfungsglieder, Strahlteiler und/oder Reflektoren oder Aufnahme des Mechanismus zum Kalibrieren des Verstärkungsfaktors des Detektors oder des Verstärkungsfaktors des Dämpfungsglieds in das System.

Claims (23)

  1. System zum Kalibrieren der Empfindlichkeit eines optischen Scanners, wobei das System enthält: A. optische Mittel (12, 20) zum Erzeugen eines eingehenden Anregungsstrahls bekannter optischer Leistung und Richten des Strahls in Richtung einer Probe (22); B. einen Detektor (34) zum Messen der optischen Leistung des aus der Richtung der Probe (22) gerichteten Lichtes; C. einen diffusen Reflektor (30) mit bekannten Reflexionseigenschaften, der so angeordnet ist, dass er den eingehenden Anregungsstrahl während der Kalibrieroperationen von der Richtung der Probe (22) zurück zum Detektor (34) leitet; wobei das System dadurch gekennzeichnet ist, dass es ferner enthält: D. einen Leistungsmesser (24, 25, 26), der zum Messen der optischen Leistung des eingehenden Anregungsstrahls an einer geeigneten Stelle positioniert ist, wo der Strahl während der Messoperationen auf die Probe trifft.
  2. System nach Anspruch 1, das feiner ein Filter (33) zum Dämpfen des vom diffusen Reflektor (30) zum Detektor (34) gerichteten Lichtes um eine vorgegebenen Prozentsatz enthält.
  3. System nach Anspruch 1, bei dem der Detektor (34) eine Mehrzahl Einstellungen des Verstärkungsfaktors enthält und so angeordnet ist, dass ex die optische Leistung bei jeder der Verstärkungsfaktor-Einstellungen misst.
  4. System nach Anspruch 3, das feiner eine Nachschlagetabelle enthält, die die Verstärkungsfaktor-Einstellungen des Detektors (34) mit einem Verhältnis der Detektor-Leistungsmessungen und der bekannten Leistung des eingehenden Anregungsstrahls in Beziehung setzt.
  5. System nach Anspruch 1, bei dem der Reflektor (30) in einer Kalibrierprobe (22) enthalten ist, die so angeordnet ist, dass sie im System zur Kalibrierung positioniert ist.
  6. System nach Anspruch 1, das ferner einen Mikroskoptisch (31) zur Aufnahme der Probe (22) enthält, wobei der diffuse Reflektor (30) auf dem Mikroskoptisch (31) und außerhalb eines zugehörigen Abtastbereichs angeordnet ist, und das System so angeordnet ist, dass es während der Kalibrierung über den Abtastbereich zum Reflektor (30) abtastet.
  7. System nach Anspruch 1, bei dem die optischen Mittel (12, 14, 18, 20) so angeordnet sind, dass sie einen eingehenden Anregungsstrahl mit bekannter variabler optischer Leistung erzeugen.
  8. System nach Anspruch 7, das ferner eine Nachschlagetabelle enthält, die die Verstärkungsfaktor-Einstellungen des Detektors (34) zu einem Verhältnis der Detektor-Leistungsmessungen und der bekannten Leistung des eingehenden Anregungsstrahls in Beziehung setzt.
  9. System nach Anspruch 4, ferner enthaltend: a. eine Mehrzahl Filter (33) mit bekannten Dämpfungseigenschaften, um den Strahl, der zum Reflektor (30) zurückgeleitet wird, zu dämpfen; und bei dem b. die Nachschlagetabelle die gedämpfte optische Leistung in dem Verhältnis verwendet
  10. System nach Anspruch 1, bei dem die optischen Mittel (12, 20) enthalten: I. eine Lichtquelle (12) zum Erzeugen des Anregungsstrahls; II. ein variables optisches Dämpfungsglied (14) zum Dämpfen des Anregungsstrahls, um den eingehenden Anregungsstrahl zu erzeugen; und III. Richtmittel (18, 20) zum Richten des eingehenden Anregungsstrahls in Richtung der Probe (22).
  11. System nach Anspruch 10, bei dem der Leistungsmesser (24, 25, 26) eine Fotodiode (26) enthält, die im Weg des gerichteten eingehenden Anregungsstrahls positioniert ist.
  12. System nach Anspruch 11, bei dem die Richtmittel (18, 20) eine Linse (20) enthalten, die den eingehenden Anregungsstrahl auf einen Durchmesser von Bildpunktgröße fokussiert.
  13. System nach Anspruch 1, bei dem die optischen Mittel eine Objektivlinse (20) enthalten, die den eingehenden Anregungsstrahl auf einen Durchmesser von Bildpunktgröße fokussiert, und der Reflektor (30) den Strahl als einen oder mehrere Strahlen mit großen Durchmesser reflektiert.
  14. System nach Anspruch 13, bei dem die optischen Mittel einen Strahlteiler (18) enthalten, der die Strahlen mit größerem Durchmesser zum Detektor (34) und die Strahlen mit kleinerem Durchmesser vom Detektor weg richtet.
  15. System nach Anspruch 1, bei dem die optischen Mittel (12, 14, 18, 20) einen Laser (12) zum Erzeugen eines kollimierten Anregungsstrahls enthalten.
  16. System nach Anspruch 15, bei dem die optischen Mittel (12, 14, 18, 20) eine Mehrzahl Laser (12) enthalten, und der Detektor (34) so angeordnet ist, dass er Messungen ausführt, die zu dem von jedem Laser (12) erzeugten Anregungsstrahl gehören.
  17. System nach Anspruch 1, bei dem die optischen Mittel (12, 14, 18, 20) eine Mehrzahl Laser (12) enthalten, und der Detektor (34) so angeordnet ist, dass er Messungen ausführt, die zu dem von jedem Laser (12) erzeugten Licht gehören.
  18. System nach Anspruch 3, ferner enthaltend: I. eine Mehrzahl Laser (12) in den optischen Mitteln (12, 14, 18, 20); und II. eine Nachschlagetabelle, die die Verstärkungsfaktor-Einstellungen des Detektors (34) zu einem Verhältnis der Detektor-Leistungsmessungen und der bekannten Leistung des eingehenden Anregungsstrahls in Beziehung setzt.
  19. System nach Anspruch 10, bei dem der Leistungsmesser (24, 25, 26) so angeordnet ist, dass er die optische Leistung bei verschiedenen Einstellungen des Dämpfungsgliedes (14) misst.
  20. System nach Anspruch 10 oder 19, das ferner eine Nachschlagetabelle enthält, die die Einstellungen des Dämpfungsgliedes zur optischen Leistung im gedämpften Strahl in Beziehung setzt.
  21. System nach Anspruch 1, 2 oder 3, bei dem: I. das Mittel (20) zum Richten des Strahls den Strahl auf einen auf einen Durchmesser von Bildpunktgröße fokussiert; und II. der Leistungsmesser (24, 25, 26) eine Fotodiode (26) enthält, die im Weg des fokussierten Anregungsstrahls positioniert ist.
  22. System nach Anspruch 20, ferner enthaltend: I. eine Mehrzahl Lichtquellen (12) zum Erzeugen von Anregungsstrahlen mit einer Mehrzahl Wellenlängen und bei dem II. die Nachschlagetabelle die Einstellungen des Dämpfungsgliedes mit der optischen Leistung der gedämpften Strahlen jeder Wellenlänge der Mehrzahl Wellenlängen in Beziehung setzt.
  23. System nach Anspruch 1 oder 3, ferner enthaltend: I. einen Strahlteiler (18) zum Zurücksenden des zurückgeleiteten Lichtes mit vorgegebenen räumlichen Eigenschaften zum Detektor (34) und ferner zum Zurückleiten des zurückgeleiteten Lichtes, das die vorgegebenen räumlichen Eigenschaften nicht hat, weg vom Detektor (34); und bei dem II. der Reflektor (30) zumindest einen Teil des eingehenden Anregungsstrahls in einem Muster mit den vorgegebenen räumlichen Eigenschaften reflektiert.
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