DE541336C - Einrichtung zum Intensitaetsvergleich zweier Spektrallinien, insbesondere von photographierten Spektren - Google Patents

Einrichtung zum Intensitaetsvergleich zweier Spektrallinien, insbesondere von photographierten Spektren

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DE541336C
DE541336C DE1930541336D DE541336DD DE541336C DE 541336 C DE541336 C DE 541336C DE 1930541336 D DE1930541336 D DE 1930541336D DE 541336D D DE541336D D DE 541336DD DE 541336 C DE541336 C DE 541336C
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spectral lines
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DE1930541336D
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/40Measuring the intensity of spectral lines by determining density of a photograph of the spectrum; Spectrography

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

  • Einrichtung zum Intensitätsvergleich zweier Spektrallinien, insbesondere von photographierten Spektren Für die Zwecke der quantitativen chemischen Emissionsspektralanalyse gewinnt neuerdings der photometrische Vergleich der Intensität von Spektrallinien Bedeutung. Die Intensitätsmessung von Spektrallinien konnte bisher mit lichtelektrischen oder therinoelektrischen Verfahren durchgeführt werden, und zwar entweder direkt oder unter Vermittlung der photographischen Platte. Die hierbei notwendigen empfindlichen Galvanometer, Einfadenelektrometer usw. machen die Verwendung in einem technischen Betrieb schwierig und teuer. Die Verwendung eines Hartmannschen Mikrophotometers hat den Nachteil, daß die zu vergleichenden Linien hintereinander gemessen werden müssen, während die Analyse nur den direkten Vergleich der Intensität zweier Linien erfordert.
  • Die vorliegende Erfindung bezweckt. unter `'erineidung der genannten Nachteile, eine direkte Vergleichung zweier Spektrallinien durch Schwärzungsvergleich durchzuführen.
  • Erfindungsgemäß werden hierzu erstens die optischen Bilder der zu vergleichenden Linien in ihre gegenseitige Verlängerung gebracht. Hierzu kann man zwei planparallele Platten ver«-enden, die sich um eine der Erstreckung der Spektrallinien parallele Achse um entgegengesetzte gleiche Winkelbeträge drehen lassen. Durch diese Vorrichtung wird das Spektrum seiner Länge nach in eine obere und untere Hälfte zerlegt, die durch die entgegengesetzte Drehung der Platten aneinander vorbei bewegt werden. Da die Versetzung der Lichtstrahlen mit der Drehung der Platten zunimmt, kann man zwei nicht allzuentfernte Spektrallinien in ihre gegenseitige Verlängerung bringen.
  • Die Trennungslinie der beiden Spektren kann man durch Vorsetzen einer I-Ielmholtzschen Doppelplatte verbessern. Diese durch Zusammenkitten zweier Glasplatten unter einem Winkel entstehende Vorrichtung wirkt ebenfalls durch Versetzen des Lichtstrahls. Die Trennungslinie - der Helmholtz-Platte schneidet das Spektrum ebenfalls in zwei Teile, nur bleibt ein Teil in der Nähe der Trennungslinien unsichtbar.
  • Durch Drehen um die optische Achse kann «-eiter die Helmholtz-Platte auch dazu benutzt werden, die obere und die untere Hälfte des Spektrums gegeneinander zu verschieben und so nicht zu weit voneinander liegende Linien in die gegenseitige Verlängerung zu bringen. Die Trennungslinie der beiden Spektrenhälften stellt sich dabei schief.
  • Setzt man diese Vorrichtung an das Okularende, z. B. eines Glanschen Spektralphotometers, so kann man zwei nahe beieinander liegende Spektrallinien mittels des Analysators auf gleiche Helligkeit bringen und so ihr Intensitätsverhältnis bestimmen. In dieser Forin ist die Anwendung der Erfindung jedoch nur im sichtbaren Gebiet ausführbar und auch hier nur, solange die verschiedene Farbe der Spektrallinien nicht beim Photometrieren stört. In dem weitaus wichtigeren ultravioletten Teil des Spektrums muß man die photographische Platte zu Hilfe nehmen. Der zweite Hauptgedanke der vorliegenden Erfindung ist nun, alle Spektrallinien ihrer Länge nach in einer bestimmten Funktion zu schwächen, so daß man im allgemeinen auf zwei oder mehreren Spektrallinien Stellen hat, die auf verschiedenen Linien gleich intensiv erscheinen oder auf der photographischen Platte gleich geschwärzt sind. Als Funktion ist für die photographische Platte besonders die logarithmische geeignet. Eine Schwächung in dieser Funktion kann durch einen Rauchkeil mit gleichmäßigem Steigungswinkel oder einen rotierenden Sektor erreicht werden, bei dem der Ausschnitt in einer logarithmischen Funktion zunimmt, Einrichtungen, die zu diesen Zweck bereits verwendet wurden.
  • Bisher benutzte man solche Vorrichtungen, um mittels des Schwellenwertes photographischer Platten aus der äuge der so entstehenden und nach eine Seite allmählich verlaufenden Spektrallinien Schlüsse auf ihre Intensität zu ziehen. Die Genauigkeit des Verfahrens war gering.
  • Das Merkmal der vorliegenden Erfindung ist nun, daß gleiche Schwärzungen oder Intensitäten verglichen werden. Zu diesem Zweck läßt man z. B. beim logarithmischen Sektor die logarithmische Kurve von einer Mittellinie sich symmetrisch nach beiden Seiten erstrecken. Das Bild eines solchen Sektors gibt Fig. r der Zeichnung. Um die Mitte der Linien zu markieren, wird da, wo die Mittellinie der beiden Kurven ist, ein Faden o. dgl. vor dem Spalt des Spektrographen in an sich bekannter Weise angebracht. Trägt man die Schwärzung S einer auf diese Weise entstandenen Spektrallinie gegen ihre Länge L auf, so entsteht ein Schaubild nach Fig. 3. 21 bedeutet die durch den Faden ausgesparte Mitte.
  • Betrachtet man nun ein solches Spektrum mit Hilfe einer Helmholtzschen Doppelplatte, am besten so, wie es in Fig. 7 dargestellt ist, indem man mit dem Objektiv 0 von der Platte Pl in der oberen Trennungskante des Prismas H ein reelles Bild entwirft, das durch die Lupe L betrachtet wird, so werden aus den Bildern der Linien Stücke ausgeschnitten, die der doppelten Versetzung der Strahlen durch die Platte entsprechen. Durch Drehen der Helmholtzschen Platte H, z. B. auch unter Zuhilfenahme zweier weiterer Glasplatten, wie oben beschrieben, können längs der Trennungskante dip Linien aneinander vorbeigeschoben werden, so lange, bis z. B. die Linie A gemäß Fig. 6 in die Verlängerung der Linie B gebracht ist.
  • Das Schwärzungsbild wird dann durch die Fig. 5, und zwar A und B für zwei nicht gleich intensive Linien A und B gegeben. P bezeichnet das Stück, das durch das Zwillingsprisma aus dem Bild herausgeschnitten wird.
  • Verschiebt man nun die Platte PL gegen das Zwillingsprisma H (Fig. 7), so kommen an der Trennungslinie verschieden geschwärzte Teile der Linien A und B aneinander. Es gibt dann eine Stellung, wo an der Trennungslinie gleiche Schwärzungen von A und B zu sehen sind. Diese Stellung ist in Fig. 5 durch die gestrichelte Linie g-g angedeutet. Sie ist mit dem Auge leicht zu erkennen. Notiert- man sich an der Mikroriieterschraube Mi (Fig. 7) diese Stellung und verschiebt nach links, bis die markierte Mitte links an der Trennungslinie des Prismas erscheint, so hat man eine Strecke gemessen, die ein Maß für die Intensität der Linie A bedeutet, bei Verschiebung nach rechts erhält man die entsprechende Strecke für B. War die Kurve des Sektors logarithmisch und lagen die Meßpunkte im geradlinigen Teil der Schwärzungskurve der photographischen Platte, so stellt die Differenz der beiden Meßstrecken den Logarithmus des Intensitätsverhältnisses der Linien A und B dar. Aus dem Intensitätsverhältnis der Linien läßt sich nach bekannten Verfahren die quantitative Analyse durchführen.
  • Es ist nicht notwendig, zwei symmetrische Kurven am Sektor zu verwenden, man kann auch auf der einen Seite einen logarithmischen und auf der anderen Seite einen gewöhnlichen Sektor gemäß Fig. a verwenden. Das Schaubild der Linien sieht dann wie Fig.4 aus. Der Unterschied ist nur, daß die Schwärzung der einen Linienhälfte sich beim Verschieben der Platte gegen das Zwillingsprisma nicht verändert. je nach dem Schwärzungsabfall, den man zu erzielen wünscht, kann man auch andere Funktionen als die logarithmische verwenden. Statt des Zwillingsprismas kann man auch andere Einrichtungen, z. B. den Hüfnerrhombus, verwenden. Im sichtbaren Teil des Spektrums lassen sich Doppelrauchkeile verwenden, und man kann die Helmholtzsche Doppelplatte direkt im Spektroskop befestigen.
  • Diese neue Art der Photometrierung benötigt nicht mehr Zeit, als die Aufnahme eines Spektrums nebst Betrachtung der- Platte sonst erfordert. Die Genauigkeit kommt an die einer guten absoluten Schwärzungsmessung heran und übertrifft die bisher in der quantitativen Emissionsspektralanalyse üblichen Verfahren. Die Messung ist leicht durchzuführen, der Apparat einfach und billig herzustellen und gegen Einwirkungen von außen unempfindlich. Er eignet sich im Gegensatz zu thermoelektrischer und lichtelektrischer Photoinetrierung gut für den technischen Betrieb.

Claims (3)

  1. P:1'fRIe'TIINSPRL'CFIE: i. Einrichtung zum Intensitätsvergleich von Spektrallinien, gekennzeichnet durch Mittel zur gegenseitigen Verschiebung der optischen Bilder zweier Spektrallinien in der Richtung senkrecht zu ihrer Erstreckung, so daß sich eine Spektrallinie und eine andere Linie desselben Spektrums oder Teile dieser Linien zum Zusammenstoßen bzw. zur gegenseitigen geradlinigen Verlängerung bringen lassen, z. B. durch zwei planparallele Glasplatten, welche gleichzeitig um entgegengesetzt gleiche Winkelbeträge um eine dem Verlauf der Spektrallinien parallele Achse gedreht werden können, in Verbindung mit einer Einrichtung zum unmittelbaren photometrischen Vergleich dieser Linien, beispielsweise einem Glanschen Photometer.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die optische Verschiebung der Spektrallinien durch zwei planparallele, unter einem von i8o° abweichenden Winkel zusammenstoßende Glasplatten erfolgt, welche um die zu ihrer Schnittkante senkrechte optische Achse drehbar sind, so daß durch verschieden große Drehungen die Spektrallinien eines Spektrums in beliebiger Zusammenstellung paarweise zur gegenseitigen geradlinigen Verlängerung gebracht werden können.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch i und 2, dadurch gekennzeichnet, daß durch an sich bekannte Vorrichtungen, z. B. einen rotierenden Sektor, den beiden zu vergleichenden Spektrallinien ein ähnlicher, jedoch nicht über die ganze Linienlänge konstanter, z: B Logarithmisch, hyperbolisch oder linear von der Linienlänge abhängiger, insbesondere zu beiden Seiten eines Symmetriepunktes spiegelbildlich gleicher Intensitätsverlauf erteilt wird, während durch eine andere Vorrichtung, z. B. eine Mikrometerschraube, die Spektralplatte oder die das Spektrum erzeugende Vorrichtung relativ zu der optischen Trennungslinie der zu vergleichenden Spektrallinien in der Ebene des Spektrums meßbar verschieblich angeordnet ist, so daß bei verschieden geschwärzten Linien zwei Stellen gleicher Helligkeit aufgesucht werden können und der Abstand dieser Stellen voneinander oder von den Symmetriepunkten der Schwärzung der beiden verglichenen Linien als Maß für das Intensitätsverhältnis der beiden Linien festgestellt werden kann. q.. Einrichtung nach Anspruch i bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß durch eine schmale Abblendung am Spektrographenspalt, z.B. in bekannter Weise durch einen Querfaden, der Symmetriepunkt an den zu vergleichenden Spektrallinien markiert ist.
DE1930541336D 1930-01-12 1930-01-12 Einrichtung zum Intensitaetsvergleich zweier Spektrallinien, insbesondere von photographierten Spektren Expired DE541336C (de)

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