DE2604471A1 - Interferenzspektrometer - Google Patents
InterferenzspektrometerInfo
- Publication number
- DE2604471A1 DE2604471A1 DE19762604471 DE2604471A DE2604471A1 DE 2604471 A1 DE2604471 A1 DE 2604471A1 DE 19762604471 DE19762604471 DE 19762604471 DE 2604471 A DE2604471 A DE 2604471A DE 2604471 A1 DE2604471 A1 DE 2604471A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- wollaston
- polarizer
- analyzer
- interference
- prism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 7
- 241000446313 Lamella Species 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 10
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N sodium nitrate Chemical compound [Na+].[O-][N+]([O-])=O VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- RCTYPNKXASFOBE-UHFFFAOYSA-M chloromercury Chemical compound [Hg]Cl RCTYPNKXASFOBE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 235000010344 sodium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000004317 sodium nitrate Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Interferenzspektrometer mit
einem Doppelbrechungs-Strahlenteiler und einer die beiden Strahlenteile zusammenfassenden Optik zur Erzeugung
von Interferenzstreifen.
Bei einer bekannten Vorrichtung (DT-OS 24 05.369.8), die durch die Erfindung weiterentwickelt wird, wird für die
lichtstarke Interferenzspektrometrie ein mit Translation
arbeitendes Verdoppelungsinterferometer verwandt, das mit einem in seiner Fokalebene Interferenzstreifen erzeugenden
Objektiv kombiniert ist. Diese Vorrichtung erlaubt auch die Durchführung von Korrelationen oder Ableitungen
von Spektren oder die Korrelation der Ableitungen. Eine Vorrichtung nach DT-OS 24 05 369 ist dadurch
gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler ein Sagnac-Interferometer mit einem translatorisch verschiebbaren Spiegel
ist.
609835/0913
Bei einer solchen Vorrichtung erfolgt die Untersuchung der Interferenzstreifen,indem ein periodisches Gitter
mit parallel zu den Interferenzstreifen verlaufenden
Linien und der Teilung ρ in die Ebene der Interferenzstreifen gebracht wird. Dieses Gitter kann periodisch
mit der Frequenz f rechtwinklig zur Richtung der Interferenzstreifen vibrieren. Wenn die Teilung ρ gleich dem
i F
Streifenabstand i = ist, wird der von dem Gitter ausgehende Lichtfluß mit der Frequenz f moduliert, und zwar nur für die Wellenlänge A- , für die gilt: ^-= = p. Die Spektralanalyse einer Quelle oder die Änderung der Absorption eines Körpers als Funktion der Wellenlänge erhält man, indem man nacheinander die den verschiedenen in der Quelle enthaltenen Wellenlängen entsprechenden Interferenzstreifenabstände gleich der Teilung ρ des Gitters macht. Dies kann dadurch erfolgen, daß man insbesondere die Strahlenteilung T des Interferometers verändert (transversale Translation), oder daß man durch Verwendung eines Zoom die Brennweite F des Objektivs ändert.
Streifenabstand i = ist, wird der von dem Gitter ausgehende Lichtfluß mit der Frequenz f moduliert, und zwar nur für die Wellenlänge A- , für die gilt: ^-= = p. Die Spektralanalyse einer Quelle oder die Änderung der Absorption eines Körpers als Funktion der Wellenlänge erhält man, indem man nacheinander die den verschiedenen in der Quelle enthaltenen Wellenlängen entsprechenden Interferenzstreifenabstände gleich der Teilung ρ des Gitters macht. Dies kann dadurch erfolgen, daß man insbesondere die Strahlenteilung T des Interferometers verändert (transversale Translation), oder daß man durch Verwendung eines Zoom die Brennweite F des Objektivs ändert.
Die Helligkeitsänderungen in der Brennebene repräsentieren bei dieser Vorrichtung die Fourier-Transformierte
der Spektralverteilung der Quelle. Nun ist es bekannt, daß es zur Erzeugung der Korrelationsfunktion der beiden
Spektren ausreicht, das Produkt ihrer Fourier-Transformierten
zu bilden. Dieses Produkt erhält man auf ganz einfache Art mit der Vorrichtung der DT-OS 24 05 369,
indem man das periodische Gitter mit der Teilung ρ durch ein Gitter ersetzt, das die Fourier-Transformierte des
Spektrums der untersuchten Substanz darstellt. Die bekannte Vorrichtung gestattet auch eine Empfindlichkextserhöhung
60S835/0913
des Detektionsverfahrens durch Korrelation, indem nicht
nur die Korrelation der Spektren durchgeführt wird, sondern auch die Korrelation der Ableitungen der Spektren.
Auf diese Weise ermöglicht die bekannte Vorrichtung eine sehr zuverlässige Technik, insbesondere wenn es sich bei
dem charakteristischen Spektrum des Stoffes um ein Spektrum Von Emissions- oder Absorptionsbändern handelt.
Für den Übergang von der Korrelation der Spektren zur Korrelation der Ableitungen genügt es, in der Gitterebene eine parabolische Transmissionsmaske anzuordnen.
Als Strahlenteilerinterferometer wird bei der Vorrichtung
nach DT-OS 24 05 369 vorzugsweise ein Sagnac-Interferometer verwandt, das im Bereich des sichtbaren Lichtes
veränderbare Auflösungen bis hin zu etwa 5.000 ermöglicht.
Die Arbeiten der Erfinder haben bestätigt, daß man für zahlreiche Analyseanwendungen, insbesondere auf industriellem
Gebiet (Fluoreszenz der Bestandteile, Absorption, atomische Absorption) lediglich geringe Auflösungen in
der Größenordnung von einigen Hunderterstellen benötigt.
Der erhöhte Preis und die relative Kompliziertheit der spektrometrischen Vorrichtung nach DT-OS 24 05 369 rechtfertigen
nicht die Anwendung dieser Vorrichtung für industrielle Untersüchungsarbeiten,für die eine geringe
Auflösung bei weitem ausreicht.
Die Erfindung bezieht sich auf Vorrichtungen der Art,wie
sie in der DT-OS 24 05 .369 beschrieben sind, jedoch speziell für geringe Auflösungen. In der genannten Vorrichtung
ist die Auflösung R = -A— ( Δ Λ ist das aufge-
2 ft τ löste Spektralintervall) gleich R = —-i—. Die Weiter-
809835/0913
entwicklung nach der vorliegenden Erfindung beruht auf der Feststellung, daß man unter Beibehaltung eines großen
Wertes für den Winkelndes Interferenz feldes, d.h. unter
Beibehaltung der Lichtstärke, die für derartige Vorrichtungen unerläßlich ist, für Arbeiten mit derartig geringen
Auflösungen, die Teilung oder Verdopplung T verringern kann. Wenn man nur schwache Teilungen benötigt, kann man
Interferometer verwenden, die gegenüber dem Sagnac-Ferometer einfacher und kompakter sind, insbesondere Polarisationsinter
ferometer .
Auf der Suche nach einem Interferometer, das im Ultraviolettbereich
und im nahen Infrarotbereich transparent ist, hat man zunächst an Quarzbestandtexlen, uniaxialen
a —2 Kristallen mit der Doppelbrechung Δ η = 10 festgehalten,
jedoch erlaubt die schwache Doppelbrechung von Quarz nicht die Verwendung eines Savart-Polarisationsinterferometers
bei der Verfolgung des durch die Erfindung angestrebten Ziels: ein Savart-Interferometer müßte eine Dicke von
30 cm haben um eine Auflösung von 500 zu erzielen.
Bei seinen Untersuchungen hat Prat ein Savart-Interferometer mit Spatanteilen verwandt. Ein derartiges Interferenz
spektrometer ist sehr teuer und entspricht auch in anderer Hinsicht nicht den Zielen der vorliegenden Erfindung
.
Die Arbeiten, die schließlich zur Erfindung geführt haben, haben gezeigt, daß das angestrebte Ziel erreicht werden
kann, indem man als Bauteil zur Strahlungsteilung durch Doppelbrechung ein oder mehrere Wollaston-Prismen aus
Materialien verwendet, die sich für dieKonstruktion der-
609835/0913
artiger Prismen eignen und die als Funktion ihrer Doppelbrechungseigenschaften
und ihrer Transparenz in einem großen Wellenbereich ausgewählt werden, beispielsweise
Quarz, Spat, Natriumnitrat, Quecksilberchlorid und andere.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zeichnet sich dadurch aus, daß der Strahlenteiler aus mindestens einem Wollaston-Prisma
oder einem modifizierten Wollaston-Prisma besteht, das entlang der Achse des optischen Systems angeordnet
ist.
Nach einem anderen Merkmal der Erfindung ist vorgesehen, daß der Strahlenteiler aus zwei Wollaston-Prismen besteht,
die in gegenseitigem Abstand d entlang der Strahlenachse derart angeordnet sind, daß ihre jeweiligen Kontaktflächen
entgegengesetzt zueinander zur Achse des Systems geneigt sind, und daß ihre Achsen so angeordnet sind, daß die
optische Mittelachse des Ausgangsprismas des ersten Wollastons rechtwinklig zur optischen Mittelachse des
Eingangs des zweiten Wollastons verläuft.
Ein anderes Merkmal der Erfindung sieht vor, daß der Strahlenteiler aus zwei gleichen Wollaston-Prismen
besteht, die derart angeordnet sind, daß das Ausgangsprisma des ersten Wollastons und das Eingangsprisma des
zweiten Wollastons parallel liegen, und daß ihre diagonal verlaufenden Kontaktflächen parallelliegen, und daß eines
der Prismen zur Veränderung der Verläufe der Teilstrahlen entlang der Achse des Systems verschiebbar ist, so
daß die Funktions-Wellenlänge des Gerätes variiert.
Es wurde festgestellt, daß bei Vorhandensein des oder der
609835/0913
Wollanston-Prismen zwischen einem Polarisator und einem Analysator folgendes zu beobachten ist:
Mit einem Wollaston-Prisma erhält man geradlinige Interferenzstreifen, die, wie bekannt,
in einer Ebene im Inneren des Wollaston-Prismas verlaufen, welche unter einem bestimmten Winkel
zur Achse des Systems schräggestellt ist. Mach der Erfindung kann man das Bild dieser Interferenzstreifen
unter Zuhilfenahme eines Objektivs mit variabler Brennweite von neuem auf einem Gitter abbilden. Ein derartiger Aufbau hat jedoch
zwei Nachteile:einerseits die Schrägstellung der Streifenebene und andererseits bedingt
die Tatsache, daß die Interferenzstreifen in endlichem Abstand liegen, daß der Winkel H
1 ' unter dem man die Quelle sieht, unter
V R bleibt.
Mit zwei Wollaston-Prismen von unterschiedlicher Dicke oder einem modifizierten Wollaston-Prisma
kann man die Abbildungsebene reell und rechtwinklig
zur optischen Achse des Systems machen. Bei diesem Aufbau ist der Winkel ^f noch auf
Ψ - —T=TfT begrenzt. Für geringe Auflösungen und
für die Probleme der Korrelation von Spektren oder der Korrelation von Ableitungen von Spektren
ist es aufgrund dieser beiden Prismen jedoch möglich, bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung
auf das Objektiv zu verzichten.
Mit zwei Wollaston-Prismen gleicher Abmessungen
609835/0913
260U71
erhalt man ein unendliches Interferenzstreifensystem . mit großer Lichtstärke. Die veränderbare Strahlenteilung
ist durch Längsverschiebung eines der beiden Prismen möglich. Die beiden auf diese
Weise in einer Vorrichtung nach DT-OS 24 05 einander zugeordneten Wollaston-Prismen bewirken
eine erhebliche Verbilligung und eine Herabsetzung des Platzbedarfs der Vorrichtung, die
viel kompakter gehalten werden kann. Die genannte Vorrichtung bewirkt einerseits eine Verdopplung
oder Strahlenteilung T = 24n (
+ d), wobei Δ η der Wert der Doppelbrechung der Prismenbestandteile und η ihr
normaler Brechungsindex ist (unter der Voraussetzung, daß die Prismenwinkel 45° betragen),
und andererseits eine vollständig gleiche Aufteilung der Flüsse der beiden interferierenden
Strahlenbündel, und dies (im Falle von Quarz) • über einen sehr ausgedehnten Wellenlängenbereich
von ca. 0,2 μ bis 4 μ. Für Quarz (Doppelbrechung = 10~2, nQ = 1,54) erhält man für e = 40 mm und
d = 40 mm, T = 1,32 mm einen Feldwinkel von
— 1 2 *Υ Τ 10 rad und eine Auflösung von R = -+■
= 530.
(J. = 0,5 μ).
Man kann daher für geringe Auflösungen vorteilhafterweise das Sagnac-Interferometer nach der DT-OS 24 05
durch eine Vorrichtung mit zwei Wollaston-Interferometern ersetzen, während der Aufbau im übrigen unverändert bleibt,
Die Modulation erhält man·, indem man den Analysator oder den Polarisator mit im wesentlichen konstanter Geschwindigkeit
dreht. Diese Drehung führt dazu, daß alternativ
609835/0913
auf dem festen Gitter ein System von Interferenzstreifen gebildet wird, wenn der Analysator A und der Polarisator
P parallel sind, oder ein Komplementärsystern, wenn A und P
rechtwinklig zueinander stehen. Das Ergebnis ist ein Aufbau, der insbesondere einfach ist.
Die DT-OS 24 05 369 befaßt sich ferner mit dem Studium schnell ablaufender Vorgänge,für die sie vorsieht, die
Interferenzen auf zwei komplementären Gittern zu bilden, hinter denen Fotovervielfacher angeordnet sind, deren
Stromdifferenz ermittelt wird. Die Erfindung gestattet
ebenfalls die Untersuchung schnell ablaufender Vorgänge, indem sie vorsieht, daß auf einem gleichen Gitter, hinter
dem ein einziger Fotovervielfacher angeordnet ist, alternativ zwei komplementäre InterferenzStreifensysteme
einer hohen Frequenz abgebildet werden, die den Megahertzbereich langsam durchläuft. Zu diesem Zweck kann man zwischem
dem Polarisator (erstes Prisma) und dem Analysator (zweites Prisma) eine Pockels-Zelle anordnen. Komplementäre
Untersuchungen haben gezeigt, daß das Interferogramm in zahlreichen Fällen, insbesondere im Bereich des sichtbaren
Lichtes und im UV-Bereich, wenn es sich um die Absorption von Gas handelt, einen Mittelbereich mit einer
Zehnerzahl von Interferenzstreifen enthält und einen
auf die Nähe einer charakteristischen Gangdifferenz des
Gases zentrierten Bereich, der ebenfalls eine Zehnerzahl von Interferenzstreifen enthält.
Dies führt zu einem optischen Korrelator mit Strahlenteiler- Interferometer unter Beibehaltung der großen Lichtstärke
des Spektrometers nach DT-OS 24 05 369, wobei jedoch nur einige Interferenzstreifen in der Nähe des
charakteristischen Gangunterschiedes der untersuchten Substanz erzeugt werden.
609835/0913
Im folgenden werden einige Ausführungsbeispiele der Erfindung unter Bezugnahme auf die Figuren näher erläutert.
Fig. 1 zeigt die Wirkung eines einzigen Wollaston-Prismas.
Fig. 2 zeigt einen Strahlenteiler nach der Erfindung mit zwei unterschiedlichen Wollaston-Prismen.
Fig. 3 zeigt einen Strahlenteiler nach der Erfindung mit zwei Wollaston-Prismen gleicher Abmessungen.
Fig. 4 zeigt ein erfindungsgemäßes System zur Untersuchung schnellablaufender Phänomene, und
Fig. 5, 6 und 7 zeigen verschiedene Anordnungen, in denen man nur einige Interferenzstreifen in der Nähe der charakteristischen
Gangdifferenz der betrachteten Substanz speichert.
Nach Fig. 1 trifft ein Lichtstrahl S auf das Wollaston-Prisma 1, dessen Prismenwinkel θ beträgt, und liefert geradlinige
Interferenzstreifen 2, in der unter dem Winkel ß zur optischen Achse des Einfallsstrahles S geneigten Ebene7T".
Das Bild der Interferenzstreifen 2 wird auf dem Gitter 7
der Einrichtung durch ein optisches System 6 mit variablem Fokus abgebildet.
Gemäß Fig. 2 trifft der Strahl S hintereinander auf zwei Wollaston-Prismen 1 und 3 mit unterschiedlichen Abmessungen.
Die Ebene 4, in der die Interferenzstreifen 5 erzeugt werden, verläuft rechtwinklig zur optischen Achse
des Systems und die Interferenzstreifen kann man unmittel-
- 10 -
609835/0913
bar mit (nicht dargestellten) Lichtempfängern aufnehmen, unter Fortlassung des Objektivs der DT-PS 2 405 369.
Die beiden Prismen nach Fig. 3 erzeugen die Interferenzstreifen auf dem nicht dargestellten festen Gitter und
ihre Wirkungsweise ist dieselbe wie in der DT-OS 2 405
In Fig. 4 erkennt man die Quelle S, den Polarisator P, die Pockels-Zelle 8, das erste Wollaston-Prisma 9, das
zweite Prisma 10, den Analysator 8, das Objektiv 11, das einzige Gitter 12 und den einzigen Fotoempfänger 13.
Diese Elemente liegen in der angegebenen Reihenfolge im Strahlengang hintereinander. Bei diesem Aufbau wird durch
die veränderbare Doppelbrechung der Pockels-Zelle die Richtung des Polarisators umgeschaltet.
Man erkennt, daß die erfindungsgemäße Vorrichtung es ermöglicht,
wahlweise Interferenzstreifen zu liefern, die im Falle großer Auflösungen vorzugsweise im Unendlichen
liegen, oder Interferenzstreifen in endlicher Entfernung für weniger große Auflösungen.
In Fig. 5 erkennt man die Quelle S, den Polarisator P, eine doppelbrechende Lamelle 14, zwei gleiche Wollaston-Prismen,
deren Prismenwinkel so berechnet ist, daß man die benötigte Anzahl an Interferenzstreifen enthält,
einen Analysator A und ein Objektiv 17 sowie ein festes Gitter 18 und einen einzigen Fotovervielfacher 19.
Unter Berücksichtigung der geringen Anzahl der benötigten Interferenzstreifen eignen sich auch andere Aufbauten,
wie sie in Fig. 6 abgebildet sind. Dieser Aufbau enthält
609835/0913
- 11 -
COPY..,
einen Polarisator P, einen doppelbrechenden Keil 20 und einen Analysator A, der einem einzelnen Wollaston-Prisma
mit sehr kleinem Prismenwinkel θ entspricht.
Unter Berücksichtigung der geringen Stärke des Wollaston-Prismas
21 bilden sich die Interferenzstreifen gewissermaßen
auf der Ausgangsfläche des tJollaston-Prismas auf
dem festen Gitter 22, und das Objektiv der Fig. 5 wird überflüssig. Hinter dem Gitter 22 ist ein einziger Fotovervielfacher
23 angeordnet. Mit diesem Aufbau kann man einen Korrelator für mehrere Gase realisieren, die eine
Absorption in demselben Spektralbereich aufweisen. Für die Untersuchung der verschiedenen Gase genügt es, die
Dicke des Keiles zu verändern.
In Fig. 7 ist eine noch einfachere Ausführungsform der
Erfindung abgebildet. Sie braucht lediglich eine einzige doppelbrechende Lamelle 24 zu enthalten, vor der ein
Polarisator P und hinter der ein Analysator A angeordnet ist. Die Lamelle ist beispielsweise parallel zur Achse
eingeschnitten und ihre Dicke ist so bemessen, daß man im Brennpunkt des Objektivs 25 eine Interferenzfolge erhält,
die einer maximalen Ausleuchtung der Interferenzerscheinung in Anwesenheit des untersuchten Stoffes entspricht.
Im Brennpunkt des Objektivs 25 wird eine Blende 26 angeordnet. Auf diese Weise erhält man ein Gerät, das in Verbindung
mit einem Satz von Lamellen verschiedener Stärken auf unterschiedliche Gase abgestimmt werden kann. Bei
den Ausführungsformen der Fig. 5, 6 und 7 erfolgt die Modulation des Lichtflusses mit Hilfe einer Einrichtung,
mit der der Polarisator bzw. der Analysator derart gedreht werden können, daß sie entweder auf dem festen Gitter ein
- 12 -
609835/0913
COPY
System aus bestimmten Interferenzlinien bzw. das Komplementärsystem
bilden, wenn der Polarisator und der Analysator parallel oder rechtwinklig zueinander stehen.
Die oben beschriebene Technik kann für die Analyse durch Korrelation aller Substanzen mit periodischen Absorptionsbändern
angewandt werden. Sie kann sogar bis in den Infrarotbereich hinein durchgeführt werden, um die Vibrations-
und Rotationsbänder der Moleküle mit auszunutzen.
- 13 -
609835/0913
Claims (10)
1.J Interferenzspektrometer mit einem Doppelbrechungs-Strahlenteiler
und einer die beiden Strahlenteile zusammenfassende Optik zur Erzeugung von Interferenzstreifen,
dadurch gekennzeichnet, daß als Strahlenteilerelement mindestens ein Doppelbrechungs-Prisma
(1, 3, 6, 7, 9, 10, 15, 21, 24) auf der optischen Achse angeordnet ist und durch unterschiedliche
Ausgangswinkel eine Strahlenverdopplung bewirkt, wie z.B. ein Wollaston-Prisma, daß das Material des
Prismas unter Berücksichtigung der Doppelbrechungseigenschaften so gewählt ist, daß es für einen großen
Bereich von Wellenlängen transparent ist, und daß der Strahlenteiler zur Erzielung einer Modulation des Lichtflusses
zwischen einem Polarisator (P) und einem Analysator (A) variabler Orientierung angeordnet ist.
2. Interferenzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler aus
zwei Wollaston-Prismen ( 6, 7, 15, 16) besteht.
3. Interferenzspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlenteiler
aus zwei Wollaston-Prismen (6, 7) besteht, die in gegenseitigem Abstand d entlang der Strahlenachse
derart angeordnet sind, daß ihre jeweiligen Kontaktflächen entgegengesetzt zueinander zur Achse des Systems
geneigt sind, und daß ihre Achsen so angeordnet sind, daß die optische Mittelachse des Ausgangsprismas des
ersten Wollastons rechtwinklig zur optischen Mittelachse des Eingangs des zweiten Wollastons (7) verläuft.
609835/0913
4. Interferenzspektrometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der
Strahlenteiler aus zwei gleichen Wollaston-Prismen besteht, die derart angeordnet sind, daß das Ausgangsprisma
des ersten Wollastons (15) und das Eingangsprisma des zweiten Wollastons (16) parallel liegen,
und daß ihre diagonal verlaufenden Kontaktflächen parallelliegen, und daß eines der Prismen zur Veränderung
der Verläufe der Teilstrahlen entlang der Achse des Systems verschiebbar ist, so daß die Funktions-Wellenlänge
des Gerätes variiert.
5. Interferenzspektrometer nach einem der Ansprüche 1, 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet,
daß für geringe Auflösungen ausgehend von der Quelle ein Polarisator (P), zwei Wollaston-Prismen, ein
Analysator (A), ein festes Gitter und ein fotoelektrischer Aufnehmer (13, 19, 23, 27) angeordnet sind,
■ daß eine Einrichtung zur Drehung des Polarisators (P) bzw. des Analysators (A) vorgesehen ist, so daß alternativ
auf dem Gitter ein System vorgegebener Interferenzlinien oder dessen Komplementärbild erzeugt werden,
wenn der Polarisator und der Analysator parallel oder rechtwinklig zueinander stehen.
6. Interferenzspektrometer nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet , daß die beiden Wollaston-Prismen
durch ein modifiziertes Wollaston-Prisma ersetzt sind.
7. Interferenzspektrometer nach einem der Ansprüche 1,3 oder 4, dadurch gekennzeichnet,
- 15 -
609835/0913
daß. für Untersuchungen schneller Abläufe hinter der
Quelle (S) ein Polarisator (P), eine Pockels-Zelle (8), zwei Wollaston-Prismen (9,10), ein Analysator (A),
ein festes Gitter (12) und ein einziger Fotovervielfacher angeordnet sind.
Quelle (S) ein Polarisator (P), eine Pockels-Zelle (8), zwei Wollaston-Prismen (9,10), ein Analysator (A),
ein festes Gitter (12) und ein einziger Fotovervielfacher angeordnet sind.
8. Interferenzspektrometer nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet , daß zur Gewinnung einiger Interferenzstreifen in der Nähe des charakteristischen
Gangunterschiedes des untersuchten Stoffes zwischen dem Polarisator (P) und den beiden Wollaston-Prismen
eine doppelbrechende Lamelle (24) angeordnet
ist.
ist.
9. Interferenzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet , daß zur Gewinnung einiger Interferenzstreifen in der Nähe der charakteristischen
Gangdifferenz des untersuchten Stoffes, ausgehend
. von der Quelle (S) ein Polarisator (P), ein Keil (20), ein Analysator (A), ein Wollaston-Prisma (21),dicht
hinter dem Wollaston-Prisma ein festes Gitter (22) sowie ein fotoelektrischer Empfänger (23) und eine Einrichtung zum Drehen des Polarisators bzw. des Analysators zur alternativen Erzeugung eines Systems aus vorgegebenen Interferenzstreifen oder des Komplementärsystems auf dem festen Gitter bei parallel oder rechtwinklig zueinander stehendem Polarisator und Analysator vorgesehen sind.
hinter dem Wollaston-Prisma ein festes Gitter (22) sowie ein fotoelektrischer Empfänger (23) und eine Einrichtung zum Drehen des Polarisators bzw. des Analysators zur alternativen Erzeugung eines Systems aus vorgegebenen Interferenzstreifen oder des Komplementärsystems auf dem festen Gitter bei parallel oder rechtwinklig zueinander stehendem Polarisator und Analysator vorgesehen sind.
10. Interferenzspektrometer nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet , daß zur Gewinnung einiger Interferenzstreifen in der Nähe der charakteristi-
- 16 -
609835/0913
sehen Gangdifferenz des untersuchten Stoffes ausgehend
von der Quelle (S) ein Polarisator (P), eine doppelbrechende Lamelle (24), ein Analysator (A), ein
Objektiv (25), eine Blende (26) sowie eine Einrichtung vorgesehen sind, die den Polarisator bzw. den
Analysator derart dreht, daß alternativ auf dem festen Gitter ein System aus vorgegebenen Interferenzstreifen,
oder das Komplementärsystem, erzeugt wird, wenn der Polarisator und der Analysator parallel oder
rechtwinklig zueinander stehen.
609835/0913
Leerseite
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7702902A FR2340540A2 (fr) | 1976-02-05 | 1977-02-02 | Dispositif pour la spectrometrie interferentielle a modulation selective |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7504264A FR2300998A2 (fr) | 1975-02-11 | 1975-02-11 | Dispositif pour la spectrometrie interferentielle a modulation selective |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2604471A1 true DE2604471A1 (de) | 1976-08-26 |
DE2604471C2 DE2604471C2 (de) | 1986-07-24 |
Family
ID=9151077
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2604471A Expired DE2604471C2 (de) | 1975-02-11 | 1976-02-05 | Interferometrische Einrichtung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4320973A (de) |
DE (1) | DE2604471C2 (de) |
FR (1) | FR2300998A2 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3521834A1 (de) * | 1984-06-22 | 1986-01-02 | Société Anonyme Elf France, Paris | Interferometrisches gasspuergeraet |
DE3612733A1 (de) * | 1985-04-25 | 1986-10-30 | Elf France, Courbevoie | Interferometrischer gasspuerer |
DE3825683C1 (de) * | 1988-07-28 | 1989-12-28 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2506961A1 (fr) * | 1981-05-27 | 1982-12-03 | Centre Nat Etd Spatiales | Dispositif de spectroscopie et son application a l'observation de la terre depuis un satellite a defilement |
FR2595820B1 (fr) * | 1986-03-13 | 1990-01-05 | Bertin & Cie | Dispositif a fibres optiques pour la detection a distance d'une grandeur physique, en particulier de la temperature |
JPS62251627A (ja) * | 1986-04-25 | 1987-11-02 | Hitachi Ltd | 偏光干渉計 |
DE3812334A1 (de) * | 1988-04-14 | 1989-10-26 | Hartmann & Braun Ag | Interferometrische einrichtung |
FR2641074B1 (de) * | 1988-12-23 | 1991-02-22 | Elf Aquitaine | |
ES2061011T3 (es) * | 1989-03-03 | 1994-12-01 | Buehler Ag Geb | Interferometro de polarizacion. |
US5225926A (en) * | 1991-09-04 | 1993-07-06 | International Business Machines Corporation | Durable optical elements fabricated from free standing polycrystalline diamond and non-hydrogenated amorphous diamond like carbon (dlc) thin films |
GB9314302D0 (en) * | 1993-07-10 | 1993-08-25 | Univ Court Of The University O | Improved spectrometer |
GB2294778B (en) * | 1993-07-10 | 1997-10-22 | Siemens Plc | Fourier transform spectrometer with birefringent component between polarisers |
US5469259A (en) * | 1994-01-03 | 1995-11-21 | International Business Machines Corporation | Inspection interferometer with scanning autofocus, and phase angle control features |
AU4934896A (en) * | 1995-03-21 | 1996-10-08 | Sci-Tec Instruments Inc. | Optical correlation gas analyzer |
GB2305257B (en) * | 1995-09-12 | 1999-08-18 | Siemens Plc | Improvements in or relating to spectrometers |
GB9614363D0 (en) * | 1996-07-09 | 1996-09-04 | Council Cent Lab Res Councils | Optical pulse autocorrelator |
DK78096A (da) * | 1996-07-12 | 1998-01-13 | Foss Electric As | Interferometer |
US5703684A (en) * | 1996-09-23 | 1997-12-30 | International Business Machines Corporation | Apparatus for optical differential measurement of glide height above a magnetic disk |
US5926266A (en) * | 1996-09-23 | 1999-07-20 | International Business Machines Corporation | Optical apparatus for rapid defect analysis |
US5784163A (en) * | 1996-09-23 | 1998-07-21 | International Business Machines Corporation | Optical differential profile measurement apparatus and process |
AUPO790997A0 (en) | 1997-07-16 | 1997-08-07 | Australian National University, The | Modulated solid state spectrometer |
US7253896B1 (en) | 1999-12-02 | 2007-08-07 | Bah Holdings Llc | Filter |
GB0005069D0 (en) * | 2000-03-02 | 2000-04-26 | Ecolotrol | A controlled interference spectrometer |
US6618142B1 (en) | 2001-06-26 | 2003-09-09 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Compact birefringent spectrometer |
GB0215248D0 (en) * | 2002-07-02 | 2002-08-14 | Qinetiq Ltd | Imaging apparatus |
US10048192B2 (en) * | 2014-12-18 | 2018-08-14 | Palo Alto Research Center Incorporated | Obtaining spectral information from moving objects |
US10302494B2 (en) | 2014-12-18 | 2019-05-28 | Palo Alto Research Center Incorporated | Obtaining spectral information from a moving object |
JP2017125834A (ja) * | 2015-11-11 | 2017-07-20 | 富士電機株式会社 | 分光装置及び分光方法 |
CN108885092B (zh) * | 2016-03-29 | 2020-09-22 | 应用材料公司 | 用于基板应力和变形测量的计量系统 |
CN106289527B (zh) * | 2016-08-03 | 2017-12-12 | 南京理工大学 | 一种基于偏振干涉的高光谱成像装置及其成像方法 |
CN107941329B (zh) * | 2017-10-13 | 2019-12-27 | 华东师范大学 | 一种高阶干涉仪 |
CN109781260B (zh) * | 2019-02-19 | 2020-04-28 | 西安交通大学 | 超紧凑型快照式偏振光谱成像探测装置及探测方法 |
CN112596144A (zh) * | 2020-12-15 | 2021-04-02 | 山东大学 | 基于溴化亚汞晶体的偏振棱镜/偏振分光棱镜 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3146294A (en) * | 1959-02-13 | 1964-08-25 | American Optical Corp | Interference microscope optical systems |
DE2122940B2 (de) * | 1970-06-17 | 1973-08-16 | Hewlett Packard Co, PaIo Alto, Calif (V St A ) | Verfahren und vorrichtung zum analysieren des optischen spektrums eines lichtstrahls |
DE2401973A1 (de) * | 1973-01-16 | 1974-07-25 | American Optical Corp | Doppelbrechende vorrichtung fuer polarisierende interferenzapparate |
DE2405369A1 (de) * | 1973-02-06 | 1974-08-29 | Anvar | Verfahren zur untersuchung einer strahlung durch interferenzspektrometrie |
US3849001A (en) * | 1971-06-18 | 1974-11-19 | Hitachi Ltd | Polarization interference correlation spectrometer |
-
1975
- 1975-02-11 FR FR7504264A patent/FR2300998A2/fr active Granted
-
1976
- 1976-02-05 DE DE2604471A patent/DE2604471C2/de not_active Expired
-
1979
- 1979-12-11 US US06/102,335 patent/US4320973A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3146294A (en) * | 1959-02-13 | 1964-08-25 | American Optical Corp | Interference microscope optical systems |
DE2122940B2 (de) * | 1970-06-17 | 1973-08-16 | Hewlett Packard Co, PaIo Alto, Calif (V St A ) | Verfahren und vorrichtung zum analysieren des optischen spektrums eines lichtstrahls |
US3849001A (en) * | 1971-06-18 | 1974-11-19 | Hitachi Ltd | Polarization interference correlation spectrometer |
DE2401973A1 (de) * | 1973-01-16 | 1974-07-25 | American Optical Corp | Doppelbrechende vorrichtung fuer polarisierende interferenzapparate |
DE2405369A1 (de) * | 1973-02-06 | 1974-08-29 | Anvar | Verfahren zur untersuchung einer strahlung durch interferenzspektrometrie |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3521834A1 (de) * | 1984-06-22 | 1986-01-02 | Société Anonyme Elf France, Paris | Interferometrisches gasspuergeraet |
DE3612733A1 (de) * | 1985-04-25 | 1986-10-30 | Elf France, Courbevoie | Interferometrischer gasspuerer |
DE3825683C1 (de) * | 1988-07-28 | 1989-12-28 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De | |
US5013153A (en) * | 1988-07-28 | 1991-05-07 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik | Interferometric gas component measuring apparatus for small gas molecules |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2604471C2 (de) | 1986-07-24 |
FR2300998A2 (fr) | 1976-09-10 |
FR2300998B2 (de) | 1977-12-02 |
US4320973A (en) | 1982-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2604471A1 (de) | Interferenzspektrometer | |
EP0600334B1 (de) | Verfahren zur Bestimmung von Stoffen und/oder deren Eigenschaften und Gerät hierfür | |
DE69404128T2 (de) | Abbildungsverfahren und -apparat | |
EP0195039B1 (de) | Messanordnung zur analyse elektromagnetischer strahlung | |
DE2552541A1 (de) | Gleichzeitige durchlaessigkeit periodischer spektralkomponenten durch vielfach interferometrische geraete | |
DE2130974A1 (de) | Vorrichtung zur Messung des Dichroismus | |
DE2420060A1 (de) | Spektralphotometrisches verfahren und mehrweg-spektralphotometer zur durchfuehrung desselben | |
DE2415049A1 (de) | Mehrkanalanalysator zur optischen messung von bei der chromatographie von fluessigkeiten erhaltenen fraktionen | |
DE1026555B (de) | Verfahren und Vorrichtung fuer die spektrochemische Analyse | |
DE19601873C2 (de) | Gasanalysator | |
DE69713286T2 (de) | Submikron-auflösendes abbildungssystem mit abstimmbarem akusto-optischem filter | |
DE10141958A1 (de) | Röntgen-Diffraktometer | |
EP3411680A1 (de) | Miniaturspektrometer und verfahren zum schalten eines miniaturspektrometers zwischen abbildungsmodus und spektrometermodus | |
DE2539183C2 (de) | Optisches Meßinstrument | |
DE19636711B4 (de) | Verbesserungen an oder bezüglich Spektrometern | |
DE1472207B2 (de) | Vorrichtung zur Messung des zirkulären Dichroismus | |
DE3926090C2 (de) | Zweistrahlphotometer | |
DE2948590C2 (de) | Vorrichtung zur Absorptionsmessung von Gasgemischen | |
DE2405369C2 (de) | Vorrichtung zur Strahlungsanalyse durch Interferenzspektrometrie | |
DE2417427A1 (de) | Fluoreszenz-spektralphotometer | |
DE2338305C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der linearen Doppelbrechung eines Materials | |
DE2212498A1 (de) | Raman-Spektrometer | |
DE2529999A1 (de) | Optisches instrument zur messung der konzentration von verunreinigungsgasen auf langen und kurzen geometrischen wegen | |
DE2526454A1 (de) | Spektrometer und verfahren zur untersuchung der spektralen lichtzusammensetzung | |
DE69332492T2 (de) | Verfahren und Vorrichtungen zur spektralen Abbildung mittels Fabry-Perot-Interferometern |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition |