DE4423539A1 - Hochreiner Aluminiumleiter bei extrem niedriger Temperatur - Google Patents
Hochreiner Aluminiumleiter bei extrem niedriger TemperaturInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen hochreinen Aluminiumlei
ter, der bei einer extrem niedrigen Temperatur von 30°K oder
darunter verwendet wird, und ein Herstellungsverfahren für
diesen, wobei der Aluminiumleiter unter solchen Bedingungen
verwendet wird, wo zyklische Deformation bei extrem niedriger
Temperatur gegeben ist.
Bei Vorrichtungen und Geräten, die einen Supraleiter
verwenden, ist auf dem Supraleiter und um ihn herum ein
Leiter, der im allgemeinen als cryostatischer Stabilisator be
zeichnet wird, angeordnet, um den Supraleiter zu schützen, in
dem nämlich der elektrische Strom in den Leiter umgeleitet
wird, wenn der Zustand der Supraleitfähigkeit wieder teilweise
oder ganz im Zustand der normalen Leitfähigkeit aufgrund einer
externen thermischen, elektrischen oder magnetischen Störung
umgeleitet wird. Der Übergang vom Zustand der Supraleitfähig
keit in den Zustand der normalen Leitfähigkeit (normalerweise
als "Quenchen" bezeichnet) wird in den normalen Bereichen des
Leiters, wo der Strom fließt, begleitet von einer I²R-Wärme
entwicklung (wobei I der elektrische Strom und R der elektri
sche Widerstand des Leiters ist).
Weil der spezifische elektrische Widerstand von hoch
reinem Aluminium bei extrem niedriger Temperatur und in einem
Magnetfeld außerordentlich niedrig ist, hat es bisher Diskus
sionen darüber gegeben, daß hochreines Aluminium möglicherwei
se als ein solcher cryostatischer Stabilisator verwendet
werden kann. [F. R. Fickett, "Magnetro-resistance of Very Pure
Polycrystalline Aluminum", Phy. Rev. B. Vol. 3, Nr. 6, 1971,
S. 1941, "Superconducting Magnetic Energy Storage" Vol. 1:
Basic R 1984-85, EPRI GS-7053, veröffentlicht von Electric
Power Research Institute im November 1990.]
Die Verwendung eines cryostatischen Stabilisators aus
hochreinem Aluminium ist geplant für supraleitende Magnetener
giespeichervorrichtungen (SMES). Aber bei solchen Vorrichtun
gen, die große Mengen von elektrischer Energie speichern,
werden durch den Stromfluß im Magneten Tangentialspannungen
verursacht, und wenn sich ein elektrisches Laden und Entladen
wiederholt, sind zyklische Zugspannung und Druckspannung
wiederholt im Supraleiter und im cryostatischen Stabilisator
gegeben.
Es ist bekannt, daß eine solche zyklische Spannung, die
bei extrem niedriger Temperatur eine plastische Deformations
komponente umfaßt, einen schädlichen Einfluß auf das hochreine
Aluminium bei extrem niedriger Temperatur in Form eines
Anstiegs des spezifischen elektrischen Widerstands hat.
[Advances in Cryogenic Engineering. 22, 486-489 (1976).].
Bei diesen Anwendungen, bei denen eine zyklische Defor
mation im cryostatischen Stabilisator aus hochreinem Aluminium
entsteht, sollte deshalb die hochreine Aluminiumleiterkompo
nente angesichts eines möglichen Anstiegs des elektrischen Wi
derstands des cryostatischen Stabilisators bei Verwendung
einen relativ großen Querschnitt haben, oder der Leiter sollte
so bemessen sein, daß eine plastische Deformation des cryosta
tischen Stabilisators unter der gleichen Belastung verringert
wird, indem die konstruktive Festigkeit des Konstruktionsmate
rials des SMES erhöht wird.
Die oben beschriebenen Gegenmaßnahmen erfordern jedoch
eine große Menge von Materialien, wenn dessen Verwendung für
solche großen Konstruktionen vorgesehen ist, wie es die in der
Praxis nutzbaren SMES sind, und sind deshalb sehr kosteninten
siv.
Es ist ferner aus dem Bericht der internationalen Kon
ferenz über cryogenische Materialien, Anwendungen und Eigen
schaften, Shenyang, Volksrepublik China, 7.-10. Juni 1988, be
kannt, daß bei einem hochreinen Aluminiumleiter mit der
gleichen Reinheit wie die des erfindungsgemäßen hochreinen
Aluminiumleiters, der bei extrem niedriger Temperatur verwen
det wird, der spezifischer elektrischer Widerstand bei zykli
scher Deformation nicht niedrig genug bleibt für den Stabili
sator, wenn die zyklische Deformation zu hoch ist.
Eine Aufgabe der Erfindung besteht darin, einen hoch
reinen Aluminiumleiter bereitzustellen, der bei extrem niedri
ger Temperatur mit einer Reinheit von 99,9 bis 99,9999 Gew.-%,
vorzugsweise 99,99 bis 99,9999 Gew.-%, verwendet wird, durch
die der Anstieg seines elektrischen Widerstands klein gehalten
wird unter solchen Bedingungen, wo eine zyklische Deformation
bei extrem niedriger Temperatur gegeben ist. Dabei bedeuten
die Wörter "extrem niedrige Temperatur" einen Temperaturbe
reich von 30°K oder darunter.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein
Herstellungsverfahren für den Aluminiumleiter bereitzustellen.
Die Erfinder haben gründliche Studien über die Entwick
lung des hochreinen Aluminiumleiters durchgeführt, bei dem ein
Anstieg des elektrischen Widerstands bei extrem niedriger
Temperatur klein gehalten wird, auch nachdem eine zyklische
Deformation bei extrem niedriger Temperatur gegeben ist.
Die Erfinder haben außerdem festgestellt, daß, wenn die
Kristallstruktur des hochreinen Aluminiumleiters so verändert
wird, daß sie besteht aus: (i) einem Einkristall, der eine
spezifische Kristallachse von <111< oder <100< oder in einem
Winkelbereich, der nicht größer ist als 10° relativ zu der
<111<- oder <100<-Achse in Längsrichtung des Aluminiumleiters,
hat, oder (ii) einem Vielkristall, bei dem die meisten Kri
stallkörner entsprechende spezifische Kristallachsen, nämlich
die <111<- und/oder <100<-Achse und/oder Achsen innerhalb
eines Winkelbereichs, der nicht größer ist als 10° relativ zu
der <111<- oder <100<-Achse in Längsrichtung des Aluminiumlei
ters, haben und eine spezifische Kristallkorngröße, nämlich
die mittlere Kristallkorngröße zwischen 0,01 mm und 3,0 mm,
haben, der Anstieg des elektrischen Widerstands des Aluminium
leiters bei extrem niedriger Temperatur klein gehalten werden
kann, auch nachdem zyklische Deformation in Längsrichtung bei
extrem niedriger Temperatur gegeben ist.
Die Erfindung betrifft hochreines Aluminium mit einer
Reinheit von 99,9 bis 99,9999 Gew.-%, vorzugsweise 99,99 bis
99,9999 Gew.-%. Erfindungsgemäß drückt sich die Reinheit von
hochreinem Aluminium in Gewichtsprozenten aus, die ermittelt
werden, indem von 100 die Menge der metallischen und halbme
tallischen Elemente, die außer dem Element Aluminium in
Aluminium enthalten sind und die z. B. mittels GDMS
(Glühentladungsmassenspektroskopie) gemessen werden. Solche
Gaskomponenten, die als Sauerstoff-, Wasserstoff- oder Chlor
atome in Aluminium enthalten sind, werden nicht abgezogen.
Hochreines Aluminium mit einem Reinheitsgrad von weni
ger als 99,9 Gew.-% ist unzweckmäßig als cryostatischer
Stabilisator für Vorrichtungen, z. B. SMES, die Supraleiter
verwenden, weil auch bei extrem niedriger Temperatur ihr
elektrischer Widerstand nicht niedrig genug für den Stabilisa
tor ist.
Ein reiner Einkristall kann mit dem Verfahren des Kri
stallwachstums durch Reckglühen erzeugt werden. Das Bridgemen-
Verfahren, das Chalmers-Verfahren oder das Czochralski-Verfah
ren, das einen orientierten Impfkristall verwendet, kann zur
Herstellung eines Aluminiumleiters angewendet werden, der aus
einem praktisch reinen Einkristall besteht, der eine <111<-
oder <100<-Achse oder Kristallachsen in einem Winkelbereich
von höchstens 10° relativ zur <111<- oder <100<-Achse in
Längsrichtung des Aluminiumleiters hat. Ein sehr langsames,
spezielles Stranggußverfahren kann verwendet werden zur
Herstellung eines Aluminiumleiters, der aus dem praktisch
reinen Einkristall besteht.
Ein bündelartiger Vielkristall aus einem Kornbündel,
von denen jedes ziemlich säulenförmig ist und fast so lang ist
wie die Länge des Aluminiumleiters in Längsrichtung des
Leiters, hat die gleichen Auswirkungen wie die des praktisch
reinen Einkristalls und hat eine spezifische und effektive
Orientierung, die oben erwähnt worden ist. Ein sehr langsames,
besonderes Stranggußverfahren kann außerdem verwendet werden
zur Erzeugung eines solchen Vielkristallbündels.
Ein Vielkristall, der aus sehr groben Kristallkörnern
besteht, von denen jedes (i) so lang ist wie der Durchmesser
des Aluminiumleiters in Querrichtung des Leiters und (ii)
hintereinander in Längsrichtung des Leiters angeordnet ist und
bei dem die meisten Körner eine <111<- und/oder <100<-Achse
und/oder Kristallachsen in einem Winkelbereich von höchstens
10° relativ zur <111<- bzw. <100<-Achse in Längsrichtung des
Leiters haben, kann so arbeiten, wie der Einkristall, der oben
als hochreiner Aluminiumleiter zur Verwendung bei extrem
niedriger Temperatur erfindungsgemäß erwähnt worden ist.
Ferner arbeitet ein Aluminiumleiter, der aus einem
Vielkristall besteht, bei dem die meisten Kristallkörner eine
<111<- und/oder <100<-Achse und/oder Kristallachsen in einem
Winkelbereich von höchstens 10° in bezug auf die <111<- bzw.
<100<-Achse in Längsrichtung des Aluminiumleiters haben und
eine mittlere Korngröße zwischen 0,01 mm und 3,0 mm, vorzugs
weise 0,01 bis 2,0 mm, haben, ebenfalls wirksam als hochreines
Aluminium, wenn es bei extrem niedriger Temperatur erfindungs
gemäß verwendet wird. Eine Strangpreßkristallstruktur oder ei
ne rekristallisierte Struktur ist für einen solchen Vielkri
stall zweckmäßig. Erfindungsgemäß kann eine solche Strangpreß
kristallstruktur oder rekristallisierte Struktur erreicht
werden durch Extrusion von hochreinem Aluminium bei 150°C bis
350°C und bei einem Flächenreduktionsverhältnis von 1/10 bis
1/150, vorzugsweise von 1/20 bis 1/100, optionales Abkühlen
auf Raumtemperatur, nachfolgendes Erwärmen auf einen Tempera
turbereich von 250°C bis 530°C und Halten der Temperatur für
eine Dauer von 10 Minuten bis 120 Minuten.
Wie aus den Tabellen 1 und 2 hervorgeht, die hier ent
halten sind, hat nach einer 3000fachen zyklischen Deformation
bei extrem niedriger Temperatur das erfindungsgemäße hochreine
Aluminium einen niedrigeren elektrischen Widerstand in flüssi
gem Helium als das Aluminium, das in den Vergleichbeispielen
verwendet wird, und hat deshalb ausgezeichnete Eigenschaften
als cryostatischer Stabilisator, der bei extrem niedriger
Temperatur verwendet wird.
Ein hochreiner Aluminiumrundstab mit einer Reinheit von
99,999 Gew.-% wurde bei 280°C mit einer Warmstrangpresse
(einer 1500-t-Strangpresse von NIHON TEKKO) von einem Anfangs
durchmesser von 155 mm auf 25 mm gepreßt. Nachdem der Rundstab
in ein 210 mm langes Probestück geschnitten war, wurde das
Probestück schnell auf 450°C erwärmt und bei dieser Temperatur
für die Dauer von 10 Minuten gehalten. Ein 10 mm langes Stück
wurde aus einem der Endabschnitte des 210 mm langen Probe
stücks herausgeschnitten, und die Schnittfläche wurde bearbei
tet und poliert. Nachdem die polierte Oberflächenschicht des
Stücks durch chemisches Ätzen beseitigt war und bestätigt war,
daß das Probestück aus einem Kornformkristall besteht, wurde
die <111<-Polfigur mittels Röntgentopographie (Schulz-Reflexi
onsverfahren) gemessen. Im Ergebnis wurde eine <100<-Struktur
in dieser Polfigur festgestellt, und es wurde bestätigt, daß
die mittlere Korngröße 0,4 mm nach dem Flächenmittelverfahren
der geätzten Oberfläche betrug. Die restlichen 200 mm des 210 mm
langen Probestücks wurden zu einem Proberundstab mit einem
Durchmesser von 10 mm und einer Länge von 200 mm abgedreht.
Der Proberundstab wurde bei 250°C für die Dauer von zwei
Stunden geglüht, und die Restspannung in der Oberfläche des
Proberundstabs, die durch das Drehen verursacht wurde, wurde
beseitigt. Ferner wurde die Probe mittels Spannvorrichtung in
flüssiges Helium getaucht, und ihr elektrischer Widerstand
wurde bei 4,2°K, also einer extrem niedrigen Temperatur,
mittels des Wirbelstromabklingverfahrens gemessen.
Außerdem wurde die oben genannte 200-mm-Probe einer
3000fachen, 0,1%igen zyklischen Spannungsdeformation und
Druckdeformation unterzogen, wobei die Temperatur bei 4,2°K
gehalten wurde, und danach wurde ihr elektrischer Widerstand
im flüssigen Helium nach dem Wirbelstromabklingverfahren so
gemessen, wie oben beschrieben. Die Ergebnisse sind in Tabelle
1 dargestellt.
Es wurden die gleichen Vorgänge wie in Beispiel 1
durchgeführt, außer daß die Reinheit 99,9995 Gew.-% statt
99,999 Gew.-% betrug und die Rekristallisationswärmebehandlung
bei 300°C für die Dauer von 60 Minuten statt bei 450°C für die
Dauer von 10 Minuten stattfand. Die Ergebnisse sind in Tabelle
1 dargestellt.
Ein praktisch reiner Einkristallrundstab aus hochreinem
Aluminium mit einer Reinheit von 99,999 Gew.-%, mit einem
Durchmesser von 20 mm und mit einer Länge von 250 mm wurde
nach dem Chalmers-Verfahren so hergestellt, daß er eine <100<-
Kristallachse in Längsrichtung des Rundstabs hat.
Der Rundstab wurde abgetrennt und zu einem Proberund
stab mit einem Durchmesser von 10 mm und einer Länge von 200 mm
gedreht. Der Proberundstab wurde bei 200°C für die Dauer
von zwei Stunden geglüht, und die Restspannung in der Oberflä
che des Proberundstabs, die durch das Trennen und Drehen
verursacht wurde, wurde entfernt.
Durch Ätzen des Einkristallproberundstabs wurde bestä
tigt, daß diese Wärmebehandlung nicht dazu geführt hat, daß
neue rekristallisierte Körner auf der Oberfläche des Rundstabs
aufgetreten sind.
Der Proberundstab wurde mit Spanneinrichtungen in flüs
siges Helium eingetaucht, und sein elektrischer Widerstand
wurde bei 4,2°K, also einer extrem niedrigen Temperatur, mit
dem Wirbelstromabklingverfahren gemessen.
Außerdem wurde der Proberundstab einer 0,1%igen Span
nungsdeformation und Druckdeformation bis zur elektrischen Wi
derstandssättigung (500 Zyklen zyklische Deformation) unterzo
gen, wobei die Temperatur bei 4,2°K gehalten wurde, danach
wurde sein elektrischer Widerstand in dem flüssigen Helium ge
messen, wie oben bereits beschrieben. Die Ergebnisse sind in
Tabelle 2 dargestellt.
Es wurden die gleichen Vorgänge wie in Beispiel 3 aus
geführt, außer daß die Kristallachse auf <111< statt <100< in
Längsrichtung des Rundstabs orientiert wurde. Die Ergebnisse
sind in Tabelle 2 dargestellt.
Es wurden die gleichen Vorgänge wie in Beispiel 3
durchgeführt, außer daß die Kristallachse, die um 6° von <100<
abwich, also nicht <100< betrug, in Längsrichtung des Rundsta
bes orientiert wurde. Die Ergebnisse sind in Tabelle 2 darge
stellt.
Es wurden die gleichen Vorgänge wie in Beispiel 3
durchgeführt, außer daß die Kristallachse, die um 6° von <111<
abwich, also nicht <100< betrug, in Längsrichtung des Rund
stabs orientiert wurde. Die Ergebnisse sind in Tabelle 2
dargestellt.
Es wurden die gleichen Schritte wie in Beispiel 3
durchgeführt, außer daß die Kristallachse, die <110<, und
nicht <100< betrug, wobei 3000 Zyklen zyklischer Deformation
gegeben waren, und nicht 500 Zyklen, in Längsrichtung des
Rundstabs orientiert wurde. Die Ergebnisse sind in Tabelle 2
dargestellt.
Es wurden die gleichen Vorgänge wie in Beispiel 3
durchgeführt, außer daß die Kristallachse, die um 6° von <110<
abwich, also nicht <100< betrug, wobei 3000 Zyklen zyklischer
Deformation gegeben waren, und nicht 500 Zyklen, in Längsrich
tung des Rundstabs orientiert wurde. Die Ergebnisse sind in
Tabelle 2 dargestellt.
Es wurden die gleichen Vorgänge wie in Beispiel 3
durchgeführt, außer daß die Kristallachse, die um 15° von
<100< abwich, also nicht <100< betrug, wobei 3000 Zyklen
zyklischer Deformationen gegeben waren, und nicht 500 Zyklen,
in Längsrichtung des Rundstabs orientiert wurde. Die Ergeb
nisse sind in Tabelle 2 dargestellt.
Es wurden die gleichen Vorgänge wie in Beispiel 3
durchgeführt, außer daß die Kristallachse, die um 15° von
<111< abwich, und nicht <100< betrug, wobei 3000 Zyklen
zyklischer Deformation gegeben waren, und nicht 500 Zyklen, in
Längsrichtung des Rundstabs orientiert wurde. Die Ergebnisse
sind in Tabelle 2 dargestellt.
Claims (9)
1. Hochreiner Aluminiumleiter, der bei extrem niedriger
Temperatur von 30°K oder darunter verwendet wird, mit einer
Reinheit von 99,9 bis 99,9999 Gew.-%, wobei der Aluminiumlei
ter aus einem Einkristall oder einem Vielkristall besteht;
wobei der Einkristall eine spezifische Kristallachse von <100< oder <111< aufweist, die im wesentlichen in Längs richtung des Aluminiumleiters orientiert ist;
wobei der Vielkristall aus Kristallkörnern besteht, von denen die meisten spezifische Kristallachsen von <111< und/oder <100< aufweisen, die im wesentlichen in Längsrichtung des Aluminiumleiters orientiert sind.
wobei der Einkristall eine spezifische Kristallachse von <100< oder <111< aufweist, die im wesentlichen in Längs richtung des Aluminiumleiters orientiert ist;
wobei der Vielkristall aus Kristallkörnern besteht, von denen die meisten spezifische Kristallachsen von <111< und/oder <100< aufweisen, die im wesentlichen in Längsrichtung des Aluminiumleiters orientiert sind.
2. Hochreiner Aluminiumleiter nach Anspruch 1, bei dem
die Reinheit des Aluminiumleiters 99,99 bis 99,9999 Gew.-% be
trägt.
3. Hochreiner Aluminiumleiter nach Anspruch 1 oder 2,
bei dem der Aluminiumleiter aus einem reinen Einkristall oder
einem praktisch reinen Einkristall besteht, der eine spezifi
sche Kristallachse von <111< oder <100< oder in einem Winkel
bereich von höchstens 10° relativ zu der <111<- oder <100<-
Achse in Längsrichtung des Aluminiumleiters hat.
4. Hochreiner Aluminiumleiter nach Anspruch 1, bei dem
die meisten der Kristallkörner jeweilige spezifische Kristall
achsen von <111< und/oder <100< oder in einem Winkelbereich
von höchstens 10° relativ zu <111< oder <100< in Längsrichtung
des Aluminiumleiters und eine spezifische Korngröße haben,
nämlich die mittlere Korngröße zwischen 0,01 mm und 0,3 mm.
5. Hochreiner Aluminiumleiter nach Anspruch 4, bei dem
die Reinheit des Aluminiumleiters 99,995 bis 99,9999 Gew.-%
und die mittlere Korngröße 0,01 bis 2,0 mm beträgt.
6. Hochreiner Aluminiumleiter nach einem der Ansprüche
1 bis 5 zur Verwendung unter Bedingungen, wo eine zyklische
Deformation gegeben ist.
7. Hochreiner Aluminiumleiter nach einem der Ansprüche
1 bis 6 zur Verwendung mit einem Supraleiter, um die Möglich
keit des Quenchens herabzusetzen.
8. Hochreiner Aluminiumleiter nach einem der Ansprüche
1 bis 7, der als Komponente einer supraleitenden Magnetener
giespeichervorrichtung verwendet wird.
9. Verfahren zur Herstellung eines hochreinen, bei ex
trem niedriger Temperatur verwendbaren Aluminiumleiters nach
einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei hochreines Aluminiummate
rial mit einer Reinheit von 99,9 bis 99,9999 Gew.-% in einem
Extrusionsverfahren bei einem Flächenreduktionsverhältnis von
1/10 bis 1/150 bei 150°C bis 350°C verarbeitet wird, so daß
dem bearbeiteten Aluminiummaterial eine Kristallstruktur
verliehen wird, und zwar durch optionales Abkühlen auf Raum
temperatur, anschließendes Erwärmen auf einen Temperaturbe
reich von 250°C bis 530°C und Halten der Temperatur für eine
Dauer von 10 Minuten bis 120 Minuten.
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