DE4414108A1 - Reflektor - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft einen Reflektor, welcher für ein Lichtquellenmaterial eines Flüssigkristall-Video-Projektors verwendet wird.

Ein Reflektor, welcher für ein Lichtquellenmaterial eines Flüssigkristall-Video-Projektors verwendet wird, reflek­ tiert beispielsweise durch eine Metallhalogenidlampe vom Kurzbogentyp erzeugtes Strahlungslicht mit einem hohen Wir­ kungsgrad, wandelt es in parallele Lichtstrahlen um und leitet sie zu einer Flüssigkristall-Anzeige.

Bei einer Farbprojektion werden mittels eines Reflektors reflektierte parallele Lichtstrahlen durch einen dichroi­ tischen Spiegel in Rot, Blau und Grün zerlegt und jeweils zu einer Flüssigkristall-Anzeige geleitet. Ein auf der Flüssigkristall-Anzeige ausgebildetes Bild wird einer Pro­ jektionslinse zugeführt, deren Durchgangslicht auf einen Bildschirm projiziert wird.

Ein derartiger Reflektor besteht aus lichtdurchlässigem, hitzebeständigem Glas und weist eine im wesentlichen para­ bolische Innenform auf, um parallele Lichtstrahlen zu er­ halten. In einer Fokusposition des Reflektors ist eine punktartige Lichtquelle angeordnet.

Durch einen aufgedampften, dielektrischen, vielschichtigen Film auf der Oberfläche des Paraboloides wird aus­ schließlich sichtbare Strahlung reflektiert und in Richtung auf die Flüssigkristall-Anzeige projiziert, während weder Infrarotstrahlen noch ultraviolette Strahlen in Richtung auf die Flüssigkristall-Anzeige projiziert werden, weil sie durch den Reflektor nicht reflektiert werden, sondern durch ihn hindurch gehen.

Fig. 1 zeigt ein Beispiel eines Kenndiagramms eines spek­ tralen Durchlasses, bei welchem Strahlungslicht aus einer Lichtquelle in einen Reflektor senkrecht eingefallen ist, auf welchem ein vielschichtiger Film aus Titandioxid (TiO₂) und Siliziumdioxid (SiO₂) aufgedampft ist. In der Darstellung sind über der Abszisse Strahlungswel­ lenlängen aus der Lichtquelle und über der Ordinate der Durchlaßgrad durch den Reflektor aufgetragen.

Daraus wird ersichtlich, daß Licht mit einer Wellenlänge von ca. 450 nm bis ca. 700 nm nahezu vollständig reflek­ tiert wird und einen Durchlaßgrad von fast 0% aufweist, und daß Licht außerhalb dieses Wellenlängenbereichs nicht reflektiert wird und durchgeht. Wenn eine Wellenlänge, wel­ che auf einer Kurzwellenseite einen spektralen Durchlaßgrad von 20% aufweist, mit λ₁, und eine Wellenlänge, welche auf einer Langwellenseite einen spektralen Durch­ laßgrad von 50% aufweist, mit Λ₂ bezeichnet werden, liegen λ₁ bei ca. 420 nm und λ₂ bei ca. 760 nm. Eine Reflexions-Wellenlängenbreite (λ₂ - λ₁) liegt dabei bei ca. 340 nm.

Der Grund dafür, daß hierbei auf der Kurzwellenseite eine Wellenlänge mit einem spektralen Durchlaßgrad von 20% und auf der Langwellenseite eine Wellenlänge mit einem spektra­ len Durchlaßgrad von 50% als Norm genommen werden, liegt darin, daß die Tatsache eine Rolle spielt, daß einfallendes Licht teilweise vom Reflektor absorbiert wird, und daß die­ se Absorption bei Licht im Kurzwellenbereich stärker auf­ tritt als bei Licht im Langwellenbereich.

Um ein gutes Projektionsbild bei einem derartigen Flüssig­ kristall-Video-Projektor zu erhalten, ist es erforderlich, daß die Fläche eines Bildschirms auf gleichmäßige Weise bestrahlt wird, und daß keine Farbschattierung auftritt.

Praktisch treten jedoch in der Diagonal-Peripherie des Bildschirms dunkle, blaue Bereiche auf. Diese Farbschattie­ rung wird in Fig. 5 zweckmäßigerweise anhand von Punkten gezeigt. Der denkbare Grund hierfür liegt im Einfallswinkel des Strahlungslichtes aus der Lichtquelle in den Reflektor. Das bedeutet, daß Lichtstrahlen, welche mit einem kleinen Einfallswinkel in der Mitte des Reflektors reflektiert wer­ den, die Mitte des Bildschirms bestrahlen, während in der Peripherie des Reflektors reflektierte Lichtstrahlen mit einem großen Einfallswinkel die Periphe­ rie des Bildschirms bestrahlen. Diese Unterschiede der Ein­ fallswinkel verursachen Reflexions-Charakteristik-Unter­ schiede zwischen einem p-polarisierten Licht und einem s-polarisierten Licht des einfallenden Lichtes, welche ver­ mutlich auf die Farbschattierung einen Einfluß haben.

Fig. 1 zeigt ein Kenndiagramm eines spektralen Durchlasses bei einem senkrechten Lichteinfall in den Reflektor (das heißt, bei einem Einfallswinkel von 0°), während Kenn­ diagramme des spektralen Durchlasses bei einem Einfallswin­ kel von 25° und einem Einfallswinkel von 50° in denselben Reflektor jeweils in Fig. 2 und Fig. 3 darge­ stellt werden.

Daraus wird ersichtlich, daß ein p-polarisiertes Licht und ein s-polarisiertes Licht bei einem Einfallswinkel von 0° keinen Reflexions-Charakteristik-Unterschied verur­ sachen. Es zeigt sich jedoch, daß ein Reflexions-Charakteri­ stik-Unterschied zwischen einem p-polarisierten Licht und einem s-polarisierten Licht desto größer wird, je größer ein Einfallswinkel wird, und daß sich darüber hinaus eine Reflexions-Wellenlängenbreite auf die Kurzwellenseite hin bewegt.

Andererseits ist eine Flüssigkristall-Anzeige in der Weise aufgebaut, daß eine Flüssigkristall-Zelle zwischen einer p-Polarisationsscheibe und einer s-Polarisationsscheibe fest eingespannt ist. Lichtstrahlen, welche durch die Mitte dieser Flüssigkristall-Anzeige hindurch gehen, werden, wie vorstehend beschrieben ist, infolge eines kleinen Refle­ xions-Charakteristik-Unterschiedes zwischen einem p-polari­ sierten Licht und einem s-polarisierten Licht in einem Zu­ stand auf einen Bildschirm projiziert, in welchem fast keine Farbschattierung auftritt.

In der Peripherie der Flüssigkristall-Anzeige tritt jedoch infolge eines großen Reflexions-Charakteristik-Unterschie­ des zwischen einem p-polarisierten Licht und einem s-polari­ sierten Licht der Lichtstrahlen, welche durch die Periphe­ rie der Flüssigkristall-Anzeige hindurch gehen, eine Farb­ schattierung auf, wie vorstehend beschrieben ist. Da diese Lichtstrahlen auf den Bildschirm projiziert werden, wird als Folge davon diese Farbschattierung ebenfalls auf den Bildschirm projiziert.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Reflektor zu schaffen, bei welchem bei einer Verwendung für ein Lichtquellenmaterial eines Flüssigkristall-Video-Projek­ tors in der Peripherie eines Bildschirms keine Farbschat­ tierung auftritt und durch welchen ein gutes Projektions­ bild erhalten werden kann.

Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß ein Reflektor, auf dessen Oberfläche ein dielektrischer, viel­ schichtiger Film aufgedampft wird, und welcher aus­ schließlich sichtbare Strahlung reflektiert, optische Ein­ genschaften und Kennwerte aufweist, bei welchen eine Wel­ lenlänge λ₁, welche einen spektralen Durchlaßgrad auf einer Kurzwellenseite (bei einem senkrechten Einfall) von 20% aufweist, bei kleiner/gleich 440 nm liegt und zu­ gleich eine Wellenlänge λ₂, welche einen spektralen Durchlaßgrad auf einer Langwellenseite (bei einem senkrech­ ten Einfall) von 50% aufweist, bei größer/gleich 820 nm liegt.

Diese Reflexions-Charakteristik wurde als Folge von Versu­ chen der Erfinder herausgefunden, in welchen durch ver­ schiedenartige Veränderungen von Aufdampfungsbedingungen des vielschichtigen Films (Schichtenanzahl, Filmdicke, Bre­ chungskoeffizient) auf einen Bildschirm projizierte Farb­ schattierungen untersucht wurden.

Die Erfinder haben nämlich herausgefunden, daß durch die Maßnahme, durch welche eine Wellenlängenbreite des mittels des Reflektors reflektierten Lichtes, das heißt, eine soge­ nannte Reflexions-Wellenlängenbreite (λ₂ - λ₁) bei größer/gleich einem bestimmen Wert liegt und durch welche zugleich dabei die Wellenlänge λ₁ sowie die Wellenlänge λ₂ in der vorstehend beschriebenen Weise bestimmt werden, der Reflexions-Charak­ teristik-Unterschied zwischen dem p-polarisierten Licht und dem s-polarisierten Licht keinen Einfluß als Farbschattie­ rung auf den Bildschirm hat.

Aufgrund der vorstehend beschriebenen Maßnahme, bei welcher die Reflexions-Wellenlängenbreite erweitert und zugleich ihr Bereich bestimmt werden, kann die auf den Bildschirm projizierte Farbschattierung vermindert werden.

Zur Erweiterung der Reflexions-Wellenlängenbreite muß übli­ cherweise die Schichtenanzahl oder die Filmdicke des viel­ schichtigen Films vergrößert werden. Wenn jedoch die Schichtenanzahl oder die Filmdicke des vielschichtigen Films vergrößert wird, erhält man im allgemeinen wegen ei­ ner Absenkung der Wärmebeständigkeit des vielschichtigen Films die erwünschte Brauchbarkeit nicht.

Die Erfinder haben jedoch bestätigt, daß beispielsweise un­ ter Verwendung einer Metallhalogenidlampe vom Kurzbogentyp mit einer Verbrauchsleistung von 250 W als Lichtquelle eine Reflexions-Wellenlängenbreite von 550 nm und somit eine ausreichende Wärmebeständigkeit erreicht werden können und daß man eine problemlose Brauchbarkeit erhält. Da als Lichtquelle eines Flüssigkristall-Video-Projektors übli­ cherweise eine Lichtquelle mit einer ungefähr gleich großen Verbrauchsleistung verwendet wird, wurde bestätigt, daß das Problem der Absenkung der Wärmbeständigkeit nicht auftritt.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand eines in der Zeich­ nung dargestellten Ausführungsbeispiels weiter beschrieben. Es zeigen:

Fig. 4 eine schematische Darstellung eines Optik-Systems;

Fig. 5 eine schematische Darstellung von Meßpunkten einer Farbschattierung sowie einer XY-Chromatizität auf einem Bildschirm;

Fig. 6 eine schematische Darstellung des Meßergebnisses einer XY-Chromatizität; und

Fig. 7 eine schematische Darstellung, welche eine Spektral-Durchlaßgrad-Charakteristik eines erfindungsgemäßen Reflektors wiedergibt.

Nachfolgend wird das Ergebnis der Versuche gezeigt, bei welchen eine Veränderung der Farbschattierung durch Veränderung der Aufdampfungsbedingungen des Reflektors un­ tersucht wurde.

Fig. 4 zeigt ein verwendetes Optik-System.

Ein Bezugszeichen 1 bezeichnet eine Lichtquelle, welche ei­ ne Metallhalogenidlampe vom Kurzbogentyp mit einer Lampen­ leistung von 250 W und einem Abstand zwischen den Elektro­ den von 5 mm ist. Innerhalb eines Kolbens sind Dy-Nd-Cs-Jo­ did (Jodid von Dysprosium-Neodym-Caesium), Quecksilber sowie Argon-Gas eingekapselt.

Die Lampe wird durch eine Stromquelle 8 versogt. Als Licht­ quelle 1 (Lampe) kann auch eine Xenon-Lampe vom Kurzbo­ gentyp, eine Halogenlampe vom Kurzbogentyp oder dergleichen verwendet werden.

Die Lichtquelle 1 ist in einer Fokusposition eines Reflek­ tors 2 angeordnet. In die Mitte 2a des Reflektors 2 fällt aus der Lichtquelle 1 Licht mit einem kleinen Einfallswin­ kel ein, dessen reflektiertes Licht sich in parallele Lichtstrahlen umwandelt. In eine Peripherie 2b des Reflek­ tors 2 fällt andererseits aus der Lichtquelle 1 Licht mit einem großen Einfallswinkel ein, dessen reflektiertes Licht sich in parallele Lichtstrahlen umwandelt.

Diese parallelen Lichtstrahlen gehen durch eine Sammellinse 3, eine Blende oder einen Öffnungsrahmen 4, der eine vier­ eckige Öffnung mit einem Diagonalabstand von ca. 80 mm hat sowie eine Flüssigkristallscheibe 5 hindurch, die jeden be­ kannten Sandwich-Aufbau haben kann. Sie fallen anschließend in eine Projektionslinse 6 ein, und Ausfallslicht aus der Projektionslinse 6 wird auf einen Bildschirm 7 projiziert. Der Bildschirm 7 weist beispielsweise eine Größe von 810 × 610 mm auf.

Der Reflektor 2 besteht aus lichtdurchlässigem, hitze­ beständigem Glas, wie Borsilikatglas oder dergleichen, und ist ein Drehparaboloid mit einer Maximalaußenabmessung von 120 mm ⌀ mit einem F-Wert eines Paraboloides von 15.

Auf eine Oberfläche des Paraboloides ist ein dielektri­ scher, vielschichtiger Film aufgedampft. Bei dem Ausführungsbeispiel wurden als Material mit einem kleinen Brechungskoeffizienten Siliziumdioxid und als Material mit einem großen Brechungskoeffizienten Titandioxid verwendet, wobei jeweils durch Aufdampfen in Vakuum vom Elektronen­ strahltyp eine Schichtenanzahl von 46 ausgebildet wurde.

Genauer gesagt hat der vielschichtige Film einen Aufbau mit einer zweifach wechselnden Schichtung. Bei einem unteren Aufbau wechseln hierbei Siliziumdioxidschichten mit einer Dicke von etwa 80 nm mit Titandioxidschichten mit einer Dicke von etwa 50 nm ab. Ein oben liegender Aufbau aus wechselnden Schichten ist oben auf dem unteren Aufbau aus wechselnden Schichten angeordnet oder ausgebildet. Er be­ steht aus Schichten aus Siliziumdioxid mit einer Dicke von etwa 110 nm, die sich mit Titandioxidschichten mit einer Dicke von etwa 70 nm abwechseln. Jede dieser Schichten kann in der Dicke unterschiedlich sein, solange der vielschich­ tige Film sichtbare Strahlung innerhalb eines Wellenlängen­ bandes zwischen den üblichen Wellenlängen von 430 und 830 nm reflektiert.

In Fig. 7 ist eine Spektral-Durchlaßgrad-Charakteristik mit­ tels des bei diesem Ausführungsbeispiel angewendeten Re­ flektors veranschaulicht. Es liegen eine Wellenlänge λ₁, welche einen spektralen Durchlaßgrad auf einer Kurzwellenseite (bei einem senkrechten Einfall) von 20% aufweist, bei 430 nm, eine Wellenlänge λ₂, welche einen spektralen Durchlaßgrad auf einer Langwellenseite (bei einem senkrechten Einfall) von 50% aufweist, bei 830 nm und eine Reflexions-Wellenlängenbreite bei 400 nm.

Als Vergleichsbeispiel 1 wurde ein Versuch unter Verwendung eines Reflektors mit einer Wellenlänge λ₁ von 430 nm und einer Wellenlänge λ₂ von 750 nm durchgeführt. Dieser Reflektor weist eine Wellenlänge λ₂ auf, wel­ che sich außerhalb eines erfindungsgemäß bestimmten Wel­ lenlängenbereiches befindet, wobei die Reflexions-Wel­ lenlängenbreite bei 320 nm liegt.

Als Vergleichsbeispiel 2 wurde ein Versuch unter Verwendung eines Reflektors mit einer Wellenlänge λ₁ von 500 nm und einer Wellenlänge λ₂ von 830 nm durchgeführt. Dieser Reflektor weist eine Wellenlänge λ₁ auf, wel­ che sich ebenfalls außerhalb eines erfindungsgemäß be­ stimmten Wellenlängenbereiches befindet, wobei die Refle­ xions-Wellenlängenbreite bei 330 nm liegt.

Unter Verwendung der vorgenannten drei Reflektoren wurden auf den Bildschirm projizierte Farbschattierungen unter­ sucht.

Meßpunkte der Farbschattierung sind zwei Punkte, welche von beiden oberen Ecken des Bildschirms innenseitig jeweils 20 mm entfernt sind, wie in Fig. 5 veranschaulicht ist. Ferner wurde zur quantitativen Darstellung der Farbschattierung eine XY-Chromatizität dieser zwei Meßpunkte gemessen.

Das Ergebnis ist in Fig. 6 wiedergegeben. Es erweist sich, daß Koordinaten der XY-Chromatizität bei den zwei Meßpunk­ ten, welche unter Verwendung des erfindungsgemäßen Reflek­ tors gemessen wurden, sich einander weitgehend nähern, während Koordinaten der unter Verwendung der Reflektoren der Vergleichsbeispiele gemessenen XY-Chromatizität von einander weitgehend entfernt sind.

Ein quantitativer Wert der Farbschattierung wird aufgrund eines Abstandes zwischen den Koordinaten der XY-Chromati­ zität der zwei Meßpunkte (X₁, Y₁) und (X₂, Y₂) dargestellt. Das bedeutet, daß eine desto geringere Farbschattierung auftritt, je kürzer ein nach der folgenden Formel zu berechnender Abstand (CD) ist:

Anhand von Tabelle 1 werden berechnete Werte des CDs sowie das Ergebnis einer visuellen Kontrolle des Bildschirms beim Ausführungsbeispiel, beim Vergleichsbeispiel 1 und beim Vergleichsbeispiel 2 dargestellt. In Tabelle 1 wird das Er­ gebnis der visuellen Kontrolle in der Weise dargestellt, daß die Fälle, in welchen "keine Farbschattierung auf dem Bildschirm erkennbar" ist, mit O und die Fälle, in welchen "eine offensichtliche Farbschattierung in vier peripheren Ecken des Bildschirms erkennbar" ist, mit X bezeichnet werden.

Tabelle 1

Daraus wird quantitativ ersichtlich, daß das Ausführungs­ beispiel, bei welchem die Wellenlänge λ₁ bei klei­ ner/gleich 440 nm, die Wellenlänge λ₂ bei größer/ gleich 820 nm liegen und die Reflexions-Wellenlängenbreite (λ₂ - λ₁) groß ist, einen kleinen CD-Wert und eine geringe Farbschattierung aufweist. Hierbei bestätigte sich auch bei der visuellen Kontrolle, daß keine Farbschat­ tierung auftritt.

Andererseits wurde bestätigt, daß die Vergleichsbeispiele dagegen, bei welchen die Wellenlänge λ₁ bzw. die Wellenlänge λ₂ außerhalb des erfindungsgemäß be­ stimmten Wellenlängenbereichs liegt und die Reflexions-Wel­ lenlängenbreite klein ist, jeweils einen großen CD-Wert und eine große Farbschattierung aufweisen. Ferner wurde auch bei der visuellen Kontrolle bestätigt, daß eine Farbschat­ tierung auftritt.

Der Grund dafür, daß erfindungsgemäß die Charakteristik aufgrund eines Durchlaßgrades bei einem senkrechten Einfall in den Reflektor bestimmt wird, liegt darin, daß eine Messung einer Durchlaßlichtmenge beim senkrechten Einfall auf einfachere und zugleich genauere Weise durchgeführt werden kann als bei einem schrägen Einfall. Es ist deshalb nicht unbedingt erforderlich, daß sich die Norm des Durch­ laßgrades auf einen senkrechten Einfall bezieht.

Wirkung der Erfindung

Wie vorstehend erläutert wurde, kann man aufgrund der er­ findungsgemäßen Maßnahme, durch welche bei einem Reflektor eine Wellenlänge λ₁, welche einen spektralen Durch­ laßgrad auf einer Kurzwellenseite (bei einem senkrechten Einfall) von 20% aufweist, bei kleiner/gleich 440 nm liegt und eine Wellenlänge λ₂, welche einen spektralen Durchlaßgrad auf einer Langwellenseite (bei einem senkrech­ ten Einfall) von 50% aufweist, bei größer/gleich 820 nm liegt, bei Anwendung für ein Lichtquellenmaterial eines Flüssigkristall-Video-Projektors ein gutes Projektionsbild erhalten, ohne daß in der Peripherie des Bildschirms eine Farbschattierung auftritt.

Claims (6)

1. Reflektor mit einer runden reflektierenden Parapoloberfläche, auf welcher ein dielektrischer vielschichtiger Film in der Weise aufgebracht ist, daß ausschließlich sichtbare Strahlung reflektiert wird, die von einer Lichtquelle abgestrahlt wird, welche in einem Brennpunkt der reflektierenden Oberfläche angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der dielektrische vielschichtige Film einen Aufbau aus abwechselnden Siliziumdioxidschichten und Titandioxidschichten aufweist, so daß ein Spektral- Durchlaßgrad von 20% für die sichtbare Strahlung mit einer Wellenlänge von gleich oder kleiner ca. 430 nm im Kurzwellenbereich und ein Spektraldurchlaßgrad von 50% für die sichtbare Strahlung mit einer Wellenlänge von gleich oder größer ca. 830 nm im Langwellenbereich vorliegen.

2. Reflektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufbau mit wechselnden Schichten einen unteren Aufbau umfaßt, bei welchem Siliziumdioxidschichten mit jeweils einer Dicke von etwa 80 nm mit Titandioxid­ schichten mit jeweils einer Dicke von etwa 50 nm ab­ wechseln sowie einen obenliegenden Aufbau aus wech­ selnden Schichten, welcher auf der Oberseite des unteren Aufbaus aus wechselnden Schichten liegt, wobei beim oberen Aufbau Siliziumdioxidschichten mit jeweils einer Dicke von etwa 110 nm mit Titandioxidschichten mit einer Dicke von etwa jeweils 70 nm abwechseln.

3. Reflektor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufbau aus wechselnden Schichten 46 Schichten aus Siliziumdioxid und Titandioxid aufweist.

4. Optische Vorrichtung mit einer Lichtquelle zur Erzeugung von sichtbarer Strahlung, einem Reflektor, welcher eine runde reflektierende Parapoloberfläche aufweist, auf welcher ein dielektrischer vielschichtiger Film zum Reflektieren von sichtbarer Strahlung aufgebracht ist, die von der Lichtquelle erzeugt wird, wobei die Lichtquelle in einem Brennpunkt der reflektierenden Parapoloberfläche angeordnet ist, sowie mit einer
Flüssigkristallanzeige, auf welche die vom Reflektor reflektierte sichtbare Strahlung umgewandelt und in parallele Strahlen ausgerichtet wird, dadurch gekennzeichnet, daß ausschließlich sichtbare Strahlung reflektiert wird, die von der Lichtquelle abgestrahlt wird, wobei der dielektrische vielschichtige Film einen Aufbau aus abwechselnden Siliziumdioxidschichten und Titandioxidschichten aufweist, so daß ein Spektral- Durchlaßgrad von 20% für die sichtbare Strahlung vor­ liegt, welche eine Wellenlänge gleich oder kleiner ca. 430 nm im Kurzwellenbereich und einen Spektral- Durchlaßgrad von 50% für die sichtbare Strahlung auf­ weist, welche eine Wellenlänge von gleich oder größer etwa 830 nm im Langwellenbereich aufweist.

5. Optische Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufbau mit wechselnden Schichten einen unteren Aufbau umfaßt, bei welchem Siliziumdioxidschichten mit jeweils einer Dicke von etwa 80 nm mit Titandioxid­ schichten mit jeweils einer Dicke von etwa 50 nm ab­ wechseln sowie einen obenliegenden Aufbau aus wech­ selnden Schichten, welcher auf der Oberseite des unteren Aufbaus aus wechselnden Schichten liegt, wobei beim oberen Aufbau Siliziumdioxidschichten mit jeweils einer Dicke von etwa 110 nm mit Titandioxidschichten mit einer Dicke von etwa jeweils 70 nm abwechseln.

6. Optische Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufbau aus wechselnden Schichten 46 Schichten aus Siliziumdioxid und Titandioxid aufweist.