DE4237608A1 - Integrierte Halbleiteranordnung mit Standardelementen - Google Patents

Integrierte Halbleiteranordnung mit Standardelementen

Info

Publication number
DE4237608A1
DE4237608A1 DE4237608A DE4237608A DE4237608A1 DE 4237608 A1 DE4237608 A1 DE 4237608A1 DE 4237608 A DE4237608 A DE 4237608A DE 4237608 A DE4237608 A DE 4237608A DE 4237608 A1 DE4237608 A1 DE 4237608A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement
integrated semiconductor
semiconductor
monolithically integrated
photodiodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE4237608A
Other languages
English (en)
Inventor
Peter Dr Mischel
Ulrich Wicke
Jasbeer-Singh Suri
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Conti Temic Microelectronic GmbH
Original Assignee
Temic Telefunken Microelectronic GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Temic Telefunken Microelectronic GmbH filed Critical Temic Telefunken Microelectronic GmbH
Priority to DE4237608A priority Critical patent/DE4237608A1/de
Publication of DE4237608A1 publication Critical patent/DE4237608A1/de
Priority to US08/361,701 priority patent/US5523611A/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/1443Devices controlled by radiation with at least one potential jump or surface barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/0203Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0207Geometrical layout of the components, e.g. computer aided design; custom LSI, semi-custom LSI, standard cell technique

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine monolithisch integrierte Halbleiteranordnung mit einer Reihe von Standardelemen­ ten, die anhand einer oder mehrerer Leitbahnebenen zu unterschiedlichen Schaltungsanordnungen verbunden wer­ den können.
Derartige Anordnungen finden insbesondere im Bereich der kundenspezifischen integrierten Schaltkreise Verwendung und sind z. B. aus der EP-PS 20 116 bekannt. Dort wird eine Anordnung mit einer Vielzahl von vorge­ fertigten Basiszellen auf einem Halbleiterchip be­ schrieben. Die Basiszellen enthalten jeweils Transisto­ ren, Dioden, Widerstände und weitere Bauteile. Die An­ ordnung der vorgefertigten Basiszellen wird in großen Stückzahlen hergestellt, ohne daß dabei Schaltungen auf dem Halbleiterchip ausgebildet werden. Die Ausgestal­ tung von Schaltungsanordnungen erfolgt anschließend an­ hand der Leitbahnebenen. Da für diesen Prozeßschritt je nach Komplexität der Schaltungsanordnung nur wenige Masken erforderlich sind, kann die Produktion in klei­ nen Stückzahlen und nach Kundenwünschen erfolgen. Da­ durch können Kleinserien kundenspezifischer Schaltkrei­ se kostengünstig hergestellt werden.
Aus der DE-PS 40 06 504 ist eine monolithische Schal­ tungsanordnung zur Detektion, Verstärkung und Verarbei­ tung von Lichtsignalen bekannt. Nachteilig bei dieser bekannten monolithischen Schaltungsanordnung ist je­ doch, daß sie für eine kostengünstige Produktion in Kleinserien nicht geeignet ist. Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Halbleiteranordnung anzugeben, die eine kostengünstige Entwicklung und Produktion von Schaltungsanordnungen mit integriertem Lichtempfänger in Kleinserien ermöglicht.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine integrierte Halb­ leiteranordnung mit den im Anspruch 1 aufgeführten Merkmalen. Die weitere Ausgestaltung der Erfindung er­ folgt gemäß den Merkmalen der abhängigen Ansprüche.
Im folgenden sei ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Figur erläutert.
Die Figur zeigt eine Ausführungsform der erfindungsge­ mäßen Halbleiteranordnung. Auf dem Halbleiterchip 1 sind eine Anzahl von Basiszellen 2, eine Anzahl von Ausgangstransistoren 3 und eine Anzahl von Kapazitäten 5 angeordnet. Alle Basiszellen sind identisch aufgebaut und enthalten jeweils die gleiche Anzahl von Bauelemen­ ten, npn- und pnp-Transistoren und Widerstände. Die An­ zahl, Auswahl und Anordnung der Bauelemente erfolgt derart, daß mit einer Basiszelle 2 ein kompletter Funk­ tionsblock der Schaltungsanordnung realisiert werden kann. Dies geschieht, falls erforderlich unter Mitein­ beziehung der Ausgangstransistoren 3 und/oder der Kapa­ zitäten 5. Die mit einer Basiszelle 2 realisierbaren Funktionsblöcke umfassen einen Operationsverstärker mit Frequenzgangkompensation, verschiedene Verstärker, ei­ nen Integrator, einen Komparator und einen Schmitt- Trigger. Es sind natürlich auch weitere, evtl. auch die Basiszellen 2 übergreifende, vom Benutzer frei defi­ nierbare Funktionseinheiten gestaltbar. Die Ausgangs­ transistoren 3 sind vorzugsweise zum Treiben von Lasten am Ausgang der Schaltung vorgesehen. Erfindungsgemäß sind in der Halbleiteranordnung 1 auch eine Anzahl von Fotodioden 4 integriert. Vorteilhafterweise ist nicht eine große Fotodiode, sondern eine Anzahl von in Reihen und Spalten angeordneten Fotodioden 4 vorgesehen. Die Fotodioden 4 lassen sich wie auch die Basiszellen 2 und die übrigen Standardelemente untereinander sowie mit den übrigen Standardelementen nach Kundenbedürfnissen verschalten. Durch die Anordnung der Fotodioden 4 in Reihen und Spalten zu einem Array können aufgrund der Verschaltung durch die Leitbahnebenen unterschiedliche Detektoren entstehen. So lassen sich z. B. alle Foto­ dioden zu einem großen, lichtempfindlichen Detektor zu­ sammenschalten. Durch das Parallelverschalten von Foto­ diodenzellen und Auswerteschaltungen lassen sich z. B. mehrkanalige Detektoreinrichtungen auf einfache Weise herstellen. Ein anderes Beispiel sieht vor, vier be­ nachbarte Fotodioden zu einem Quadrantendetektor zu verschalten. Weiterhin ist es möglich, einzelne oder mehrere Fotodioden mit einer Leitbahnschicht teilweise oder vollständig abzudecken.
Im Ausführungsbeispiel nach der Figur ist zwischen zwei Reihen von Basiszellen 2 eine Reihe der Kapazitäten 5 angeordnet, um optimalen Zugriff darauf zu haben. Vor­ teilhafterweise sind die Basiszellen 2 der zweiten Rei­ he gespiegelte Abbilder der Basiszellen 2 der ersten Reihe, so daß jeweils die gleichen Bereiche der Basis­ zellen 2 den Kapazitäten 5 zugewandt sind.
In dem für die Ausgangstransistoren 3 vorgesehenen Be­ reich sind eine Reihe von Anschlußpads 6 vorgesehen, durch die der externe Anschluß der noch zu gestaltenden Schaltungsanordnung erfolgen kann.
Das Herstellen einer Schaltung geschieht nun aus­ schließlich über die Leitbahnebenen auf den vorgefer­ tigten Wafern. Beim Entwurf stehen einzelne Funktions­ blöcke als Bibliothekselemente zur Verfügung und können vom Entwickler abgerufen werden. Durch diese Maßnahmen kann die zur Erstellung von optischen Sensoren benötig­ te Zeit deutlich reduziert werden.
Kundenspezifische Schaltkreise mit integrierten Foto­ dioden lassen sich mit einem solchen Konzept bereits in Kleinserien kostengünstig und kurzfristig herstellen.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, die Halbleiteranordnungen bei deren Herstel­ lung derart auf einem Halbleiterwafer zu plazieren, daß jeweils vier Halbleiteranordnungen zu einem Block zu­ sammengefaßt werden. Dabei wird die Anzahl Fotodioden­ reihen und Fotodiodenspalten jeweils verdoppelt. Durch Spiegelungen der Halbleiteranordnung sollen im Vierer­ block immer die Fotodioden aneinandergrenzen. Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn die Ausgangstransistoren am Rande des Viererblocks liegen. Auf dem Wafer werden be­ nachbarte Anordnungen durch Leitbahnen zu einer einzi­ gen Schaltungs- bzw. Detektoranordnung verbunden. Wer­ den zum Beispiel zwei Anordnungen verbunden, so ent­ steht eine großflächigere Anordnung mit der doppelten Anzahl von Standardelementen 2 bis 6. Anwendungen, die eine größere Anzahl von Standardelementen oder eine an­ dere räumliche Anordnung der Fotodiodenzellen erfor­ dern, können nun durch Zusammenlegung mehrerer Halblei­ teranordnungen auf dem Wafer realisiert werden, ohne die vorgefertigten Wafer in ihrer Struktur zu ändern.
Dadurch wird das Konzept der kundenspezifischen Schalt­ kreise mit integrierten Fotodioden extrem flexibel.

Claims (8)

1. Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung (1) mit einer Reihe von Standardelementen (2-6), die anhand einer oder mehrerer Leitbahnebenen miteinander zu un­ terschiedlichen Schaltungsanordnungen verbunden werden können, bestehend aus
  • - einer Anzahl von Basiszellen (2) mit npn- und pnp- Transistoren und mit Widerständen,
  • - einer Anzahl großflächiger Kapazitäten (5),
  • - einer Anzahl von Ausgangstransistoren (3)
  • - und einer Anzahl von in Reihen und Spalten ange­ ordneten Fotodioden (4).
2. Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung (1) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Basis­ zellen die Anzahl großflächiger Kapazitäten (5) um­ geben.
3. Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung (1) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Basiszellen (2) in der Hauptsache der Signalverarbei­ tung dienen.
4. Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeich­ net, daß vorzugsweise innerhalb einer Basiszelle (2) ein Funktionsblock der Schaltungsanordnung mit Hilfe einer oder mehrerer Leitbahnebenen realisiert ist.
5. Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeich­ net, daß ein Funktionsblock der zu bildenden Schal­ tungsanordnung basiszellenübergreifend und unter Mit­ einbeziehung weiterer Standardelemente gebildet wird.
6. Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung (1) nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Funktionsblock beispielsweise ein Verstärker, ein Inte­ grator, ein Komparator oder ein Schmitt-Trigger ist.
7. Anordnung von monolithisch integrierten Halb­ leiteranordnungen (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 6 auf einem Halbleiterwafer, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei auf dem Halbleiterwafer benachbarte Halbleiteranordnungen (1) durch die Leitbahnebenen der­ art miteinander verbunden werden, daß eine einzige Halbleiteranordnung mit vergrößerter Fläche und einer vielfachen Anzahl von Standardelementen entsteht.
8. Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiteranordnungen (1) sich auf dem Wafer in Viererblöcken wiederholen, wobei die in Reihen und Spalten angeordneten Fotodioden der einzelnen Halblei­ teranordnungen eines Viererblocks aneinandergrenzen und wobei die Ausgangstransistoren der einzelnen Halblei­ teranordnungen am Rand des Viererblocks liegen.
DE4237608A 1992-11-06 1992-11-06 Integrierte Halbleiteranordnung mit Standardelementen Ceased DE4237608A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4237608A DE4237608A1 (de) 1992-11-06 1992-11-06 Integrierte Halbleiteranordnung mit Standardelementen
US08/361,701 US5523611A (en) 1992-11-06 1994-12-22 Integrated semiconductor array combination with standard elements

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4237608A DE4237608A1 (de) 1992-11-06 1992-11-06 Integrierte Halbleiteranordnung mit Standardelementen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4237608A1 true DE4237608A1 (de) 1994-05-11

Family

ID=6472326

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4237608A Ceased DE4237608A1 (de) 1992-11-06 1992-11-06 Integrierte Halbleiteranordnung mit Standardelementen

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5523611A (de)
DE (1) DE4237608A1 (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5796387A (en) * 1994-08-16 1998-08-18 Smith Engineering Positioning system using infrared radiation
US6118169A (en) * 1998-12-01 2000-09-12 Agilent Technologies Method for increasing power supply bypassing while decreasing chip layer density variations
US7770144B2 (en) * 2003-05-28 2010-08-03 Eric Dellinger Modular array defined by standard cell logic
US6871110B1 (en) * 2003-09-05 2005-03-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method and system for efficiently coordinating orders with product materials progressing through a manufacturing flow

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1025296A1 (ru) * 1981-12-11 1984-12-30 Prokofev A E Полупроводниковый прибор дл преобразовани светового излучени в электрический сигнал
DE3635137A1 (de) * 1985-10-17 1987-04-23 Nissan Motor Halbleiter-lichtdetektorschaltung
EP0233526A2 (de) * 1986-02-03 1987-08-26 Honeywell Inc. Strahlungsmessapparat
DE3802065C2 (de) * 1987-07-22 1990-04-12 Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo, Jp
DE4015597A1 (de) * 1989-05-24 1990-11-29 Nissan Motor Photosensorzelle
EP0443332A1 (de) * 1990-01-23 1991-08-28 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Optisches Gate-Array
DE3706252C2 (de) * 1986-02-28 1992-04-16 Canon K.K., Tokio/Tokyo, Jp

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4994887A (en) * 1987-11-13 1991-02-19 Texas Instruments Incorporated High voltage merged bipolar/CMOS technology
US5162887A (en) * 1988-10-31 1992-11-10 Texas Instruments Incorporated Buried junction photodiode
US5055716A (en) * 1990-05-15 1991-10-08 Siarc Basic cell for bicmos gate array

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1025296A1 (ru) * 1981-12-11 1984-12-30 Prokofev A E Полупроводниковый прибор дл преобразовани светового излучени в электрический сигнал
DE3635137A1 (de) * 1985-10-17 1987-04-23 Nissan Motor Halbleiter-lichtdetektorschaltung
EP0233526A2 (de) * 1986-02-03 1987-08-26 Honeywell Inc. Strahlungsmessapparat
DE3706252C2 (de) * 1986-02-28 1992-04-16 Canon K.K., Tokio/Tokyo, Jp
DE3802065C2 (de) * 1987-07-22 1990-04-12 Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo, Jp
DE4015597A1 (de) * 1989-05-24 1990-11-29 Nissan Motor Photosensorzelle
EP0443332A1 (de) * 1990-01-23 1991-08-28 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Optisches Gate-Array

Non-Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
AUBERT,Ph. *
AUDET,S.A. *
et.al.: Monolithic Optical Position Encoder with On-Chip Photodiodes. In: IEEE Journalof Solid-State Circuits, Vol.23,No.2,April 1988, S.465-473 *
FORREST,St.R.: Optoelectronic Integrated Circuits,In: Proceedings of the IEEE,Vol.75,No.11,Nov.1987,S.1488-1496 *
SCHOONEFELD: High-Purity Silicon Radi-ation-Sensor Array. In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A275,1989,S.564-573 *
SELLER,P.: A Silicon Pixel Detector with Routing for External VLSI Readout. In: Nuclear Instruments an Methods in Physics Research, A275, 1989, S.564-573 *
STREIBL,N.: Optoelectronic array inter- connections, 24,1992,S.405-414 *
THOMAS,S.L. *
ZÜRL,K. *

Also Published As

Publication number Publication date
US5523611A (en) 1996-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7972907B2 (en) Via configurable architecture for customization of analog circuitry in a semiconductor device
DE2735742C2 (de)
DE69205078T2 (de) Verbindungstechnik für elektronische Vorrichtungen.
DE2609731A1 (de) Festkoerper-bilderfassungsvorrichtung
DE3941926A1 (de) Struktur fuer eine leseverstaerkeranordnung in einer halbleiterspeichereinrichtung
DE60114534T2 (de) Kondensatorarray-d/a-wandler mit einem temperaturmessgerät-decoder sowie kondensatorray
DE19509179A1 (de) Beschleunigungssensor, der ein piezoelektrisches Element verwendet
DE1524838A1 (de) Informationsspeicher
DE3425377C2 (de) Pyroelektrischer Detektor
DE112004001975T5 (de) Verfahren und Anordnung zur Verbindung von Teststrukturen oder Leitungsarrays zur Überwachung der Herstellung integrierter Schaltungen
DE19801557A1 (de) Halbleitereinrichtung mit Kontakt-Prüfschaltung
DE3436138C2 (de)
DE4237608A1 (de) Integrierte Halbleiteranordnung mit Standardelementen
DE10126610B4 (de) Speichermodul und Verfahren zum Testen eines Halbleiterchips
DE4320313A1 (de) CCD-Abbildner Bildwiedergabevorrichtung mit einer Teststruktur
DE3643994A1 (de) Spannungsvervielfacherschaltung
DE3345147C2 (de) Festkörper-Bildaufnahmewandler
DE10242054B3 (de) Teststruktur
DE10340714B3 (de) Teststruktur für ein Single-sided Buried Strap-DRAM-Speicherzellenfeld
DE2831787C2 (de) Mit Hilfe eines Elektronen- oder Laserstrahls prüfbare integrierte Schaltungsanordnung
DE10214885C1 (de) Verfahren und Teststruktur zur Bestimmung von Widerstandwerten an mehreren zusammengeschalteten Widerständen in einer integrierten Schaltung
DE3612101A1 (de) Fotoelektrische wandlervorrichtung
DE4307578A1 (de) Widerstandsleiter
DE2936492A1 (de) Analog-digital-wandler zur bewertung des ausgangssignals eines optoelektronischen sensorelements
DE10303963B4 (de) Integrierte Schaltungsanordnung

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8131 Rejection