DE3706252C2 - - Google Patents
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
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- H01L27/1443—Devices controlled by radiation with at least one potential jump or surface barrier
Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterfotosensor
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Halbleiterfotosensoren dieser Art sind aus "Si-Fotodetektoren
und IR-Lumineszenzdioden", Datenbuch 1985/86, Siemens AG, S.
315 bis 319 und 323 bis 329 und aus "Optoelektronik kurz und
bündig", W. Schmidt, O. Feustel, Vogel-Verlag, Würzburg 1975,
S. 203 bis 206 bekannt. In diesen Druckschriften sind
Halbleiterfotosensoren beschrieben, bei denen ein
Fotosensorbereich und ein zugehöriger Verstärker integriert
ausgebildet sind.
In Halbleiterfotosensoren nach dem Stand der
Technik werden als Lichtmeßgeber häufig fotoleitfähige Elemente
benutzt.
Die Leitfähigkeit des fotoleitfähigen Elements
ändert sich mit der Beleuchtung, wobei die Änderung in
einen Strom oder eine Spannung zur Signalaufbereitung
umgesetzt wird.
Das fotoleitfähige Element hat jedoch geringe Empfindlich
keit, so daß sich eine Meßgrenze von 0,1 bis 1 Lux ergibt.
Da eine verhältnismäßig große Lichtaufnahmefläche erfor
derlich ist, ist es wegen der geringen Empfindlichkeit
bzw. des niedrigen Nutzsignal/Störsignal-Verhältnisses
oder Störabstands S/N schwierig, die Beleuchtungsstärke
auf einer kleinen Punktfläche wie auf einigen hundert µ2
zu messen.
Aus "Halbleiter-Schaltungstechnik", U. Tietze, Ch. Schenk,
Springer-Verlag (1980), 5. Auflage, Seiten 207 bis 208 ist es
bekannt, einen Operationsverstärker mit einer Diode oder
einem Transistor gegenzukoppeln und auf diese Weise einen
Logarithmierer zu erhalten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen
Halbleiterfotosensor gemäß dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1 derart weiterzubilden, daß ein
Halbleiterfotosensor geschaffen wird, der sich durch hohe
Meßempfindlichkeit auszeichnet und kompakt aufbaubar ist.
Diese Aufgabe wird mit den im kennzeichnenden Teil des
Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Demnach wird erfindungsgemäß der vom Fotosensorbereich
erzeugte Strom über eine zu einem logarithmischen Verstärker
gehörige logarithmische Diode geleitet, welche auf demselben
Halbleitersubstrat untergebracht ist, auf dem sich auch der
Fotosensorbereich befindet. Dies ergibt eine deutliche
Verbesserung der Empfindlichkeit und ermöglicht folglich auch
die Meßbarkeit äußerst geringer Beleuchtungsstärken mit sehr
kleinen Fotosensorflächen. Der erfindungsgemäße
Halbleiterfotosensor ist somit bei hoher Empfindlichkeit
kompakt aufbaubar.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbei
spielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläu
tert.
Fig. 1 ist ein Anordnungsschema, das als erstes Ausfüh
rungsbeispiel einen Fotosensor für einen Belichtungsmesser
zeigt.
Fig. 2 ist ein Blockschaltbild einer Treiberschaltung des
Belichtungsmessers mit dem Fotosensor gemäß dem ersten
Ausführungsbeispiel.
Fig. 3 ist ein Anordnungsschema, das als zweites Ausfüh
rungsbeispiel einen Fotosensor für einen Belichtungsmesser
zeigt.
Fig. 4 ist ein Blockschaltbild einer Treiberschaltung des
Belichtungsmessers mit dem Fotosensor gemäß dem zweiten
Ausführungsbeispiel.
Fig. 5 ist ein Blockschaltbild einer Treiberschaltung
eines Belichtungsmessers.
Fig. 6 ist ein Anordnungsschema eines Halbleiterfotosen
sors gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel.
Fig. 7 ist ein Blockschaltbild einer Signalverarbeitungs
schaltung des Halbleiterfotosensors gemäß dem dritten
Ausführungsbeispiel.
Fig. 8 ist ein Anordnungsschema eines Halbleiterfotosen
sors gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel.
Fig. 9 ist ein Blockschaltbild einer Signalverarbeitungs
schaltung des Halbleiterfotosensors gemäß dem vierten
Ausführungsbeispiel.
Es wird zunächst ein Belichtungsmesser mit dem Halbleiter
fotosensor gemäß einem Ausführungsbeispiel als Lichtstär
kenmeßvorrichtung beschrieben.
Die Fig. 1 ist ein Anordnungsschema eines Fotosensors des
Belichtungsmessers gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel.
Die Fig. 2 ist ein Blockschaltbild einer Treiberschaltung
des Belichtungsmessers mit dem Fotosensor gemäß dem ersten
Ausführungsbeispiel.
Die Fig. 1 zeigt ein Halbleitersubstrat 1, einen auf dem
Halbleitersubstrat 1 ausgebildeten Halbleiterfotosensor
bzw. eine Fotodiode 2, eine logarithmische Diode 4 und
einen Operationsverstärker 3. Die logarithmische Diode 4 ist
zwischen den invertierenden Eingang und den Ausgang des
Operationsverstärkers geschaltet, um einen logarithmischen
Verstärker 16 zu bilden. Die Fotodiode 2 ist mit den
Eingängen des Operationsverstärkers 3 verbunden.
Gemäß Fig. 2 wird ein durch das Beleuchten der Fotodiode 2
erzeugter Fotostrom durch die logarithmische Diode 4 in
eine Spannung umgesetzt und an den logarithmischen Ver
stärker 16 angelegt. Der Ausgangspegel des Verstärkers
wird mittels einer Bezugsspannungsquelle 10 eingestellt.
Da die Fotodiode und die Verarbeitungsschaltung auf dem
gleichen Halbleitersubstrat ausgebildet sind, wird der
durch die Beleuchtung entstehende Fotostrom nicht abgelei
tet, sondern über die logarithmische Diode 4 geführt.
Infolgedessen wird die Empfindlichkeit verbessert, so daß
Beleuchtungsstärken in der Größenordnung von 0,001 Lux
gemessen werden können. Da die Fläche des Fotosensors
nicht groß sein muß, sind einige hundert µm2 ausreichend.
Das Ausgangssignal des logarithmischen Verstärkers 16 wird
in einem A/D-Wandler 5 in ein digitales Signal umgesetzt,
welches von einer Zentraleinheit (CPU) 6 aufbereitet wird,
wonach des Ergebnis einem Decodierer 7 zugeführt wird. Der
Ausgang des Decodierers 7 ist mit einer Treiberstufe 8
verbunden, die eine Anzeigevorrichtung 9 für die Anzeige
der Lichtstärke des einfallenden Lichts steuert.
Die Fig. 3 ist ein Anordnungsschema eines Fotosensors
eines Belichtungsmessers gemäß einem zweiten Ausführungs
beispiel. Die Fig. 4 ist ein Blockschaltbild einer Trei
berschaltung des Belichtungsmessers mit dem Fotosensor
gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel.
Bei dem zweiten Ausführungsbeispiel sind zwei Fotosensoren
gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel vorgesehen. Gleiche
Elemente wie die in den Fig. 1 und 2 gezeigten sind mit
den gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
Nach Fig. 3 sind an dem Halbleitersubstrat 1 nebeneinander
Fotodioden 11 und 12 angeordnet. Mit 13 ist ein Multi
plexer bezeichnet, während mit 14 ein Decodierer bezeich
net ist.
Gemäß der Darstellung in Fig. 4 werden die durch das
Beleuchten der Fotodioden 11 und 12 erzeugten Fotoströme
dem Multiplexer 13 über logarithmische Verstärker 16 1 und
16 2 zugeführt, die jeweils logarithmische Dioden 4 1 und 4 2
und Operationsverstärker 3 1 und 3 2 enthalten. Der Multiplexer
13 wird durch ein Kanalwählsignal aus dem Decodierer 14 so
gesteuert, daß ein benötigter Kanal angewählt wird. Das
Kanalwählsignal wird über den Decodierer 14 durch ein
Steuersignal aus der Zentraleinheit 6 gesteuert. Die üb
rige Funktion ist die gleiche wie die in Verbindung mit
dem ersten Ausführungsbeispiel beschriebene, so daß daher
die Erläuterung weggelassen ist. Es können irgendeine
beliebige Anzahl von Fotosensoren und beliebige Formen der
Fotosensoren gewählt werden.
Mit dem Belichtungsmesser mit dem Fotosensor gemäß diesem
zweiten Ausführungsbeispiel können Beleuchtungsstärken an
zwei Punkten gemessen werden. Da die zusätzliche Fotodiode
und die Signalverarbeitungsschaltung auf dem gleichen
Halbleitersubstrat ausgebildet sind, kann der Belichtungs
messer kompakt aufgebaut werden. Der Belichtungsmesser
kann als Auswertungs- und Lichtstärkemeßvorrichtung einer
Kamera verwendet werden.
Es wird nun eine andere Anwendung des in Fig. 1 gezeigten
Fotosensors beschrieben. Die Fig. 5 ist ein Blockschalt
bild einer Treiberschaltung eines Belichtungsmessers. Die
grundlegende Gestaltung ist die gleiche wie diejenige der
in Fig. 2 gezeigten Treiberschaltung des Belichtungsmes
sers. Es werden daher nur die Unterschiede erläutert.
Nach Fig. 5 wird ein durch Umsetzung in dem A/D-Wandler 5
erzeugtes digitales Signal der Zentraleinheit 6 zugeführt.
Andererseits wird der Zentraleinheit 6 aus einer Eingabe
vorrichtung 15 ein einen Ev-Wert darstellendes Spannungs
signal zugeführt und mit dem der Lichtstärke des einfal
lenden Lichts entsprechenden Signal aus dem A/D-Wandler 5
verglichen, wonach ein Differenzsignal dem Decodierer 7
zugeführt wird.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wird als Fotosensor der
Halbleiterfotosensor verwendet, in welchem der Fotosensor
und die Signalverarbeitungsschaltung auf dem gleichen
Halbleitersubstrat ausgebildet sind, so daß niedrige Be
leuchtungsstärken erfaßt werden können und der Fotosensor
kleine Fläche haben kann. Daher kann ein auf eine kleine
Fläche fallendes Lichtsignal erfaßt werden. Wenn mehrere
Fotosensoren vorgesehen sind, können die zusätzlichen
Fotodioden und Signalverarbeitungsschaltungen auf dem
gleichen Halbleitersubstrat ausgebildet werden, so daß
damit eine kompakte Lichtstärkemeßvorrichtung aufgebaut
werden kann.
Die Fig. 6 ist ein Anordnungsschema eines Halbleiterfoto
sensors gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel. Die Fig. 7
ist ein Blockschaltbild einer Signalverarbeitungsschal
tung des Fotosensors gemäß dem dritten Ausführungsbei
spiel.
In der Fig. 6 ist mit 601 ein Halbleitersubstrat bezeich
net, während mit 602 ein auf dem Halbleitersubstrat ausge
bildeter Fotosensor bezeichnet ist. Der Fotosensor kann
als Fotodiode oder als Fototransistor gestaltet sein. Der
Fotosensor 602 hat fünf Fotosensorbereiche 603 bis 607.
Diese Fotosensorbereiche sind jeweils mit logarithmischen
Verstärkern 614 1 bis 614 5 verbunden, welche gemäß Fig. 7
jeweils Operationsverstärker 608 1 bis 608 5 und logarithmische
Dioden 609 1 bis 609 5 enthalten. Die durch die Beleuchtung
in den Fotosensorbereichen 603 bis 607 erzeugten Foto
ströme werden durch die logarithmischen Dioden 609 1 bis
609 5 der Strom/Spannung-Umsetzung unterzogen. Die Aus
gangssignale der logarithmischen Verstärker 614 1 bis 614 5
werden einem Multiplexer 610 zugeführt, in dem durch ein
Signal aus einem Decodierer 612 ein Kanal gewählt wird.
Das Ausgangssignal des gewählten logarithmischen Verstär
kers wird einem Pufferverstärker 611 zugeführt. Mit 613
ist eine Diode für das Kompensieren eines Dunkelstroms der
logarithmischen Diode bezeichnet, während mit 615 eine
Bezugsstromquelle für das Einstellen eines Ausgangsspan
nungspegels bezeichnet ist. Da bei diesem Ausführungsbei
spiel der Fotosensor in fünf Fotosensorbereiche unterteilt
ist, können die auf die Fotosensorbereiche fallenden
Lichtsignale gesondert erfaßt werden, wobei die Signaler
fassungsgenauigkeit verbessert ist.
Die Anzahl der Unterteilungen und die Form des Fotosensors
können beliebig gewählt werden.
Die Fig. 8 ist ein Anordnungsschema eines Halbleiterfoto
sensors gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel. Die Fig.
9 ist ein Blockschaltbild einer Signalverarbeitungsschal
tung bei diesem Ausführungsbeispiel.
In der Fig. 8 ist mit 620 ein Halbleitersubstrat bezeich
net, während mit 621 und 622 auf dem Halbleitersubstrat
ausgebildete Fotosensorbereiche bezeichnet sind, die von
einander isoliert an verschiedenen Flächen des Halbleiter
substrats 620 engeordnet sind. Gemäß Fig. 9 sind die
Fotosensorbereiche 621 und 622 mit den Eingängen von
Operationsverstärkern 623 1 und 623 2 verbunden, an die Widerstän
de 624 1 und 624 2 zur Strom/Spannung-Umsetzung angeschlos
sen sind. Die durch die Beleuchtung in den Fotosensorbe
reichen 621 und 622 erzeugten Fotoströme werden mittels
der Widerstände 624 1 und 624 2 in Spannungen umgesetzt. Die
Ausgangssignale der Rechenverstärker 623 1 und 623 2 werden
einem Differenz-Rechenverstärker 625 zugeführt, der eine
Differenz zwischen den Ausgangsspannungen der Rechenver
stärker 623 1 und 623 2 verstärkt.
Bei diesem Ausführungsbeispiel sind die beiden Fotosensor
bereiche voneinander getrennt angeordnet, so daß Lichtsi
gnale an verschiedenen Stellen erfaßt werden können. Die
Signalverarbeitungsschaltung sowie der Differenz-Rechen
verstärker 625 wird zwischen den beiden Fotosensorberei
chen angeordnet, um die Packungs- bzw. Bauelementedichte
zu verbessern.
Die Anzahl und Form der Fotosensorbereiche können beliebig
gewählt werden.
Bei den in den Fig. 6 bis 9 gezeigten Ausführungsbeispie
len ist ein Fotosensor in mehrere Bereiche unterteilt oder
es sind mehrere Fotosensorbereiche voneinander getrennt
engeordnet, so daß jeder Fotosensorbereich des optische
bzw. Lichtsignal erfaßt, um eine Messung mit hoher Emp
findlichkeit zu erreichen. Da die Fotosensorbereiche und
die Signelverarbeitungsschaltung hierfür auf ein und dem
selben Halbleitersubstrat ausgebildet sind, wird eine
gesteigerte Bauelementedichte erreicht und ein preiswerter
und kompakter Halbleiterfotosensor geschaffen.
Claims (5)
1. Halbleiterfotosensor mit zumindest einem Fotosensorbereich
(2; 11, 12; 603 bis 607) für das Umsetzen von Lichtsignalen
in elektrische Signale und einer Signalverarbeitungsschaltung
(16; 614) zum Aufbereiten der elektrischen Signale, wobei der
Fotosensorbereich und die Signalverarbeitungsschaltung auf
einem einzigen Halbleitersubstrat (1; 601) ausgebildet sind,
dadurch gekennzeichnet, daß eine logarithmische Diode (4;
609) auf dem Halbleitersubstrat (1; 601) vorgesehen ist, über
die der vom Fotosensorbereich (2; 11, 12; 603 bis 607)
erzeugte Fotostrom fließt und die einen Bestandteil eines
logarithmischen Verstärkers (16; 614) zur Abgabe von der
Beleuchtung entsprechenden elektrischen Signalen bildet.
2. Halbleiterfotosensor nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der logarithmische Verstärker (16; 614)
einen Operationsverstärker (3; 608) aufweist, der mit der
logarithmischen Diode (4; 609) gegengekoppelt ist.
3. Halbleiterfotosensor nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Einstellung des Ausgangspegels des
Operartionsverstärkers (3; 608) eine Bezugsspannungsquelle
(10) an einen Eingangsanschluß des Operationsverstärkers
angeschlossen ist.
4. Halbleiterfotosensor nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Multiplexer (13;
610), dem die Ausgangssignale mehrerer logarithmischer
Verstärker (16; 614) zugeführt werden, und eine
Decodiereinrichtung (14; 612) zur Steuerung des Multiplexers
vorgesehen sind.
5. Halbleiterfotosensor nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß fünf
Fotosensorbereiche (2; 11, 12; 603 bis 607) vorgesehen sind,
wobei einer der Bereiche (603) von den anderen vier Bereichen
(604 bis 607) umgeben ist.
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Date | Code | Title | Description |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: TIEDTKE, H., DIPL.-ING. BUEHLING, G., DIPL.-CHEM. |
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D2 | Grant after examination | ||
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